6.

NCERCRI DE FIABILITATE
6.1 CLASIFICARE 6.1.1 Dup scopul urmrit De investigare Pentru determinarea indicatorilor de fiabilitate De omologare 6.1.2 Dup importa !a "ispo#iti$%lor supus% & c%rcrii Standuri simple ncercri asupra dispozitivelor simple N0 mare Nivel de ncredere ridicat ncercri asupra dispozitivelor cu standuri mai complexe grad mijlociu de complexitate (subansambluri) N0 mai mic standuri complexe ncercri asupra dispozitivelor complexe N0 mic Nivel de ncredere sczut 6.1.' Dup co "i!iil% & car% ar% loc (u c!io ar%a "ispo#iti$%lor ondi!ii de func!ionare n cazul automobilelor" - clim # temperatura $i presiunea atmosferice% umiditate% precipita!ii% v&nt' - ncrcare # ncrcarea automobilului% intensitatea traficului% declivitatea drumului - mediu ambiant # starea drumului% densitatea prafului atmosferic' - materiale utilizate # combustibili% lubrifian!i% lic(id de rcire etc' - utilizator # nivel de calificare% stil de conducere% calitatea $i frecven!a opera!iilor de mentenan!) n condi!ii normale *ccelerate # condi!iile de func!ionare se nspresc n scopul grbirii apari!iei defec!iunilor' aceasta nu trebuie s afecteze natura fenomenelor ci numai intensitatea lor 6.1.) Dup proc%"ura utili#at ncercri cenzurate # se derulaz p&n la producerea unui numr de defec!iuni stabilit ini!ial' +runc(iate # se deruleaz o perioad de timp stabilit ini!ial' Secven!iale # la producerea fiecrei defec!iuni se compar timpul total de func!ionare cu dou valori limit corespunztoare nivelurilor ,acceptabil-% respectiv ,neacceptabil- ale fiabilit!ii dispozitivelor ncercate' dac timpul total de func!ionare se situeaz ntre cele dou valori de referin!% testul de consider neconcludent $i se continu p&n la producerea urmtoarei defec!iuni% c&nd procedura se repet) 26.*).2*1' 6.2 NCERCRI CEN+,RATE Caract%ristica & c%rcrilor c% #urat%S% "%rula# p. la pro"uc%r%a u ui iniial. r . N/) Scopuri57 umr "% "%(%c!iu i/ 0 r1/ stabilit

 Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un eantion de dispozitive la care se nregistreaz un numr r de defec!iuni' Determinarea intervalului de timp n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga populaie de dispozitive% accept&ndu0se un nivel de risc (sau un nivel de ncredere p = 1 0 ). a) c%rcri c% #urat% (r & locuir% # dispozitivele defectate nu se nlocuiesc) 2 ncercare efectuat asupra unui e$antion alctuit din N/ dipozitive este cenzurat la nivelul ,r- dac se nc(eie n momentul tr de apari!ie a celei de a r # a defec!iuni% numrul r N/ fiind ales nainte de nceperea ncercrii) N N0 N0 # r . . . r+1 r r-1 ... 3 4 1 t1 t4 t3 tr-1 tr t

Timpul total de bun funcionare:

T = t i + ( N/ r ) t r
i =1 r

b) c%rcri c% #urat% cu & locuir% # dispozitivele defectate se nlocuiesc imediat dup producerea defec!iunii i se urmrete evolu ia noilor dispozitive) N N0* N0* -1 ... r ... 3% N0*53 4% N0*+4% N0*5r01 1% N0*+1%N/65r04 t1 t4 t 3 ... tr-2 tr-1 tr t S0a notat cu N numrul de dispozitive din care a fost alctuit ini!ial e$antionul) Timpul total de bun funcionare:
* 0

T = N0* tr 7ela!iile urmtoare sunt valabile pentru oricare din cele dou tipuri de ncercri cenzurate) Valoarea aproximativ a MTBF pentru eantion:
=
T r

58

Limitele intervalului n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga populaie de dispo itive !elaiile pre entate n continuare sunt aplicabile n ca ul n care dispo itivele se afl n perioada vieii utile" atunci c#nd acionea legea exponenial$ a) cazul intervalului centrat"
m1c = 4T 4 4r % 4 4T

% limita inferioar'

m4c =

4 4r %1 4

% limita superioar%

unde este pragul de semnifica!ie' nivelul de ncredere este p 8 1 0 . b) cazul intervalului necentrat"
m1n = 4T

( 4r % )
4T

% limita inferioar'

m 4n =

( 4r %1 )

% limita superioar)

6.' NCERCRI TR,NC2IATE Caract%ristica & c%rcrilor tru c3iat%Se deruleaz p&n la un moment% 0t%&% fixat a priori) Scopuri Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un %4a tio de dispozitive la care% pe durata t*, se nregistreaz un numr r de defec!iuni' Determinarea intervalului de timp n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga populaie de dispozitive% accept&ndu0se un nivel de risc (sau un nivel de ncredere p = 1 0 ) a) c%rcri tru c3iat% (r & locuir% # dispozitivele defectate nu se nlocuiesc) N N0 N0 # r . . . r+1 r r-1 ... 3 4 1 59

t1

t4

t3

tr-1

tr

t*

Timpul total de bun funcionare:

i =1 b) c%rcri tru c3iat% cu & locuir% # dispozitivele defectate se nlocuiesc imediat dup producerea defec!iunii)
N N0* N0* -1 ... ... 3% N0*53 4% N0*+4% N0*5r01% N0+r 1% N0*+1%N/65r04 / t1 t4 t 3 Timpul total de bun funcionare: T = N0* t* 7ela!iile urmtoare sunt valabile pentru oricare din cele dou tipuri de ncercri trunc(iate) Valoarea aproximativ a MTBF pentru eantion:
=
T r

T = t i + ( N/ r ) t 6

...

tr-2 tr-1 tr t*

" unde r este numrul de dispo itive defectate n timpul experimentului$

Limitele intervalului n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga populaie de dispo itive !elaiile pre entate n continuare sunt aplicabile n ca ul n care dispo itivele se afl n perioada vieii utile" atunci c#nd acionea legea exponenial$ a) cazul intervalului centrat"
m1c = 4T

4 4r + 4% 4
4T

% limita inferioar'

m4c =

4 4r %1 4

% limita superioar%

unde este pragul de semnifica!ie' nivelul de ncredere este p 8 1 0 . b) cazul intervalului necentrat"
m1n = 4T

( 4r + 4% )
60

% limita inferioar'

m 4n =

4T

( 4r %1 )

% limita superioar)

Dac o ncercare cenzurat la nivel 0r1 dureaz prea mult% ea se poate transforma ntr0o ncercare trunc(iat la momentul 0t%&) *5.*6.2*12 6.) NCERCRI SEC7EN8IALE ScopSe urmre$te verificarea nivelului de fiabilitate al unor dispozitive pe baza 9+:;) Caract%ristica & c%rcrilor s%c$% !ial%n cazul ncercrilor secven!iale se adopt ini!ial dou valori de referin! pentru 9+:; # una inferioar% respectiv una superioar) <a apari!ia fiecrui defect se compar timpul cumulat de func!ionare nregistrat la e$antionul studiat pentru dispozitivele care s0au defectat cu valorile corespunztoare momentului respectiv calculate pe baza celor dou limite ale 9+:; alese ini!ial) Dac timpul cumulat de bun func!ionare nregistrat experimental este mai mare dec&t cel calculat corespunztor valorii superioare a 9+:;% atunci produsele sunt acceptate' dac el este mai mic dec&t timpul calculat pentru valoarea inferioar a 9+:;% produsele sunt declarate necorespunztoare) n cazul n care valoarea ob!inut experimental se afl ntre cele calculate% rezultatul este considerat neconcludent% iar testul se continu p&n la producerea defec!iunii urmtoare% c&nd analiza se reia n acela$i mod) Se iau n considera!ie riscul productorului $i al beneficiarului" - reprezint probabilitatea de respingere a unui dispozitiv corespunztor (riscul productorului)' - 1 este probabilitatea de acceptare a unui dispozitiv corespunztor' - este probabilitatea de acceptare a unui dispozitiv necorespunztor (riscul bene iciarului)' - 1 este probabilitatea de respingere a unui dispozitiv necorespunztor) Se definesc" - Mi # limita inferioar a MTBF' - Ms # limita superioar a MTBF! Dac MTBF = m > Ms, dispozitivele sunt declarate corespunztoare) Dac MTBF = m < Mi, dispozitivele sunt declarate necorespunztoare) Se formuleaz ipotezele" =/ # ipoteza potrivit creia m Ms, n care caz dispozitivele sunt acceptate' =1 # ipoteza potrivit creia m Mi, n care caz dispozitivele se resping) Se noteaz" a = 1 > 1 $i
b=

<1 1

Probabilitatea de producere a r defec!iuni atunci c&nd dispozitivele se afl n p%rioa"a $i%!ii util% se determin cu ajutorul legii Poisson pentru cazul legii exponen!iale"
1 T Pr = e m r> m
r T

% n care" 61

T este timpul cumulat de func!ionare pentru cele r dispozitive care s0au defectat' m # MTBF) Pentru situa!iile corespunztoare celor dou valori de referin! ale MTBF rezult"
1 T "ri = r> Mi "ri M s = "rs Mi Mi ' e

1 T "rs = r> Ms

Ms ' e

1 1 r M M T i s ) e

*cest raport se compar cu mrimile a $i b definite anterior) "ri > a % se respinge =/ $i se accept =1 (dispozitivele se resping)) Dac "rs "ri < b % se respinge =1 $i se accept =/ (dispozitivele sunt acceptate)) Dac "rs "ri < a % se continu testul) Dac b < "rs ondi!ia de continuare a testului se mai poate scrie $i sub forma"
Ms b< M i
r M M T s i e < a) 1 1

Prin logaritmare se ob!ine"

Ms 1 1 T < ln a % sau M i M i Ms 1 1 Ms 1 1 ln b + M M T < r ln M < ln a + M M s i s i i ln b < r ln

T % rela!ie ce poate fi scris $i sub

forma"
1 1 1 1 M Ms M Ms ln b ln a + i T < r < + i T Ms Ms Ms Ms ln ln ln ln Mi Mi Mi Mi

care reprezint% la limit% ecua!iile a dou drepte ce delimiteaz trei domenii n planul graficului" # + BT $ r$ % + BT! ?nde
& & ln b Mi Ms #= Ms , B = M ln ln s Mi Mi
1 # r ; B B 1 % = r . B B

i % =

ln a M ) ln s Mi

<a limit% rezult valorile de referin pentru timpul cumulat de func ionare corespunztor numrului r de dispozitive defectate"
Tsup = Tinf

62

ondi!iile de acceptare sau respingere a dispozitivelor devin" 0 dac 0 dac

T > Tsup = & # r % dispozitivele sunt acceptate' B B & % % dispozitivele se resping) r B B

T < Tinf =

2 reprezentare grafic a desf$urrii unui astfel de test poate avea una din formele prezentate n figura urmtoare) T
Dispo#iti$%l% s% acc%pt 9ipot%#a 2* %st% $ala:il;

T%st %co clu"% t

Tinf =

Dispo#iti$%l% su t r%spi s% 9%st% $ala:il ipot%#a 21;

1 % r B B

Tsup =

1 # r B B

1 4 3

@ A

B C

D E 1/ 11 14

63