Sunteți pe pagina 1din 12

* Plan de tipul sondajului simplu

Se extrage eantionul de n produse.


Se controleaz eantionul i se gsesc d defecte.
d A
lotul se accept
d R
lotul se
respinge

* Plan de tipul sondajului dublu

Se extrage primul eantion de n1 produse.
Se gsesc d1 produse defecte.






d1A1 A1,< d1 < R1 d1R1
lotul se extrage al 2-lea eantion lotul se
se accept de n2 produse respinge





se gsesc d2 defecte
se calculeaz d=d1+d2




dA2 , lotul se accept dR2 , lotul se respinge

CAF- cursul 2
Calitatea si ramurile ei
Calitate
la t=0 in timp

Conformitate Fiabilitate Mentenanta Securitate Credibilitate
Reliability R(t) M(t) Security, safety Credibility

A). Fiabilitatea = probabilitatea ca un sistem sa-si indeplineasca functia pentru care a fost proiectat si
realizat, functionand in conditii date, pe o perioada de timp predeterminata
1. functia
2. WCD (worst case design)
3. Durata misiunii- este specificata

B). Mentenabilitatea = probabilitatea ca in cazul aparitiei unei erori sistemul sa poata fi restabilit (sa poata fi
adus in stare de functionare) intr-o durata predeterminata daca operatiunile de mentenanta sunt efectuate
in concordanta cu procedurile specificate si utilizeaza echipamente predeterminate.
Exista 2 tipuri de mentenabilitate:
1. m. corectiva (repararea)
2. m. preventiva
Cele doua alcatuiesc disponibilitatea(availability) = probabilitatea ca un sistem sa-si indeplineasca
functia pentru care a fost realizat si proiectat, functionand in conditii date, la un moment de timp prestabilit.
R(1000) -> [0...1000] h
A(1000) -> t=1000 h

C).Securitatea = probabilitatea ca un sistem sa nu conduca la stari periculoase, care sa afecteze sistemul,
echipamentele cu care actioneaza, mediul ambiant etc.
Ex: sistemele energetice nucleare
Standardele dupa care ce certifica securitatea: pentru hard (safety): ISO 27001
pentru soft (security): ISO 28001
A + B + C = Dependability (Siguranta in functionare) inglobeaza toate componentele dependente de timp

Calitatea evidentiaza gradul in care un produs/serviciu corespunde scopului pentru care a fost
realizat in conditiile respectarii unor constrangeri de ordin tehnic, tehnologic, ambiental, economic, socio-
uman etc, legate de realizarea si utilizarea produsului sau serviciului respectiv. Este capacitatea unui sistem
de a-si indeplini functia pentru care a fost proiectat si realizat.
Constrangeri legate de calitate: ISO 9000
Constrangeri legate de mediul ambiant: ISO 14000
ISO 18000 sanatate si securitate ocupationala (trebuie respectate anumite conditii pentru angajati)
ISO 22000 managementul securitatii alimentare
ISO 26000 responsabilitate sociala (discriminare, conditii de lucru pentru femei etc)
ISO 27000 managementul securitatii informationale

Standardele pot fi: obligatorii
facultative
Exemple: ISO, CEI, ETSI, UIT, ITU etc

Trasabilitate= evolutia de la nastere, de unde provine
CE = Securitate europeana
Certificari Audit
Popescu Cristina
Cursul 3

Indicatori de fiabilitate

Indicatorii de fiabilitate pot fi: - generali
- specifici

Indicatori de fiabilitate generali

In fiabilitate, variabila aleatoare este timpul.


T=timpul de functionare pana la defectare

0 T
1
t T
2

Indicatori de fiabilitate:
1. F(t)= P(T<t), functia de repartitie a timpului de functionare sau probabilitatea de defectare a
sistemului sau functia de non-fiabilitate
F(t) e [01]

2. defectarea sistemului apare dupa intervalul analizat:
R(t)=P(Tt) functia de fiabilitate sau probabilitatea de buna functionarea sistemului analizat
R(t) [0...1]
R(t) + F(t) = 1
R(t) = 1- F(t)

1
F(t)

0.5

R(t)


3. lim
At-u+
F(t+At)- F(t)
At
=
JF(t)
Jt
[ h
-1
] sau un f.i.t.=10
-9
densitatea de probabilitate a timpului de
functionare

4. z(t) = lim
At-u+
1
R(t)
-
F(t+At)- F(t)
At
=> z(t) =
(t)
R(t)
= failure rate (rata defectarii); aceeasi dimensiune ca
f(t)
z(t)


BATH TUBE

z(t)= = ct
1 2 3 t


1= regiunea defectarilor infantile/ precoce a sistemului
2= perioada de viata utila, in care valoarea defectarilor s-a stabilizat; daca apare o defectare => creste rata
defectarilor (se face mentenanta corectiva sau preventiva)
3= perioada defectarilor de uzura(de imbatranire a sistemului ); se pune problema daca sistemul trebuie
inlocuit, scos din starea de exploatare

In functie de , componentele electronice se clasifica in:
a. GRAND PUBLIC 10
-6
h
-1

b. INDUSTRIAL [10
-6
.... 10
-9
]
c. PROFESIONAL [10
-9
.... 10
-12
]
d. SPATIAL < 10
-12
h
-1


5. media timpului de buna functionare m(t)= ] t - (t)Jt

u
= ] R(t) ut

u
= timpul cat functioneaza in
medie un sistem pana la defectare
In cataloage, m se gaseste sub forma: MTTF mean time to failure
MTFF mean time to first failure
MTBF mean time between failure
In standardul romanesc, MTBF [1500...2000] h


t
1
t
m1
t
2
t
m2

m =
_ t
i
n
i=1
n


6. dispersia timpului de functionare D= ] (t - m)
2
- (t)Jt

u
=> se masoara in h
2

= |V| => se masoara in h




clopotul lui Gauss aplatizat reprezentand falimentul companiei


7. cuantila timpului de functionare t

(timpul cat poate fi garantat sistemul ca functioneaza cu o
probablitate (1-), termenul de garantie)
t
0,1
= 10 000 h - acest sistem poate fi garantat ca functioneaza 10000h cu probabilitatea de 90%

Exemplu:
Se considera: f(t) c
1

1
exp (-
1
t) + c
2

2
exp (-
2
t). Sa se determine R(t), z(t), m
F(t)= ] (t)Jt
t
u

] (t)Jt

u
= 1 => c
1,
c
2

z(t) =
(t)
R(t)

m= ] R(t) ut

u

c
1] z
1
c
-z
1
t
Jt

u
+ c
2] z
2
c
-z
2
t
Jt

u

= 1
c
1
z
1
c
-z
1
t
-z
1
|

u
+ c
2
z
2
c
-z
2
t
-z
2
|

u
= 1
c
1
+c
2
=1
F(t)= c
1

1
] c
-z
1
o
Jt
t
u
+ c
2

2
] c
-z
2
o
Jt
t
u

F(t)= c
1
z
1
c
-z
1
o
-z
1
|
t
u
+ c
2
z
2
c
-z
2
o
-2
|
t
u
= c
1
(1-c
-z
1
t
) + c
2
(1-c
-z
2
t
) = 1- c
1
c
-z
1
t


c
2
c
-z
2
t

R(t)= 1- F(t) = c
1
c
-z
1
t
-z
1
|

u
+ c
2
c
-z
2
t
-z
2
|

u
=
c
1
z
1
+
c
2
z
2



Estimarea indicatorilor generali de fiabilitate


- estimare pentru ca nu putem analiza intreaga populatie statistica
lot N - D - R(t)
extragem extrapolare
aleator
n - d=n - R*(t)
Estimarea parametrilor generali de fiabilitate se poate realiza prin:
- metode parametrice
- metode neparametrice
- punctual
- intervale de incredere : unlilaterale sau bilateral simetric
t
1
, t
2
, ....., t
m
(timpi de defectare)
- distributie exponentiala E ()
- distributie normala N(, )
- ln N (, )
- Weibull W (, , )
- Weibull W (, )

In prima etapa, pe baza momentelor de defectare, se determina distributia corespunzatoare acestor
momente, iar in continuare, pe aceasta baza se determina indicatorii de fiabilitate. La metodele
neparametrice nu mai este necesara determinarea apriori a legii de distributie a timpului de functionare,
metodele fiind astfel mai rapide si directe dar cu dezavantajul ca nu este posibila extrapolarea valorilor
indicatorilor de fiabilitate dintre momente de timp diferite de durata incercarii.

Metodele neparametrice:
Avem un esantion cu n componente la momentul t - r componente sunt defectate
1. F
`
(t) =
r (cozuri o:orobilc )
n (cozuri posibilc )
estimatie punctuala, functia de repartitie = prob de defectare in timp
2. R
`
(t) =
n- r
n
= 1- F
`
(t) functia de fiabilitate = probabilitatea de functionare
3.

`
(t, t + At)=
n(t)- n(t+st)
n (t)-st
=
Ar(At)
n At
densitatea functiei de repartitie; Ar(At) = numarul de produse
defectate in intervalul At
4. z
`
(t, t + At)=
n(t)- n(t+ At)
n (t)-At
rata defectarilor
5. m =
_ t
i
n
i=1
n

6. o= _
_
_ (t
i
-m)
2 n
i=1
n
_ dispersia
7. t

-timpul pana la care apar n defectari



Exemplu: n=100
Timpul de defectare :


Sa se calculeze R
`
(300), R
`
(2000), F
`
(300), F
`
(600),

`
(0,300),

`
(300,600), z
`
(0,300), z
`
(300,600), m, o, t

0.1
, t

0.2,
t

0.5

R
`
(300) = 1- F
`
(300) = 1 -
1u
1uu
= 0.9
R
`
(2000) nu se poate calcula decat in intervalul in care se efectueaza incercarea
F
`
(600) =
2u
1uu
= 0.2
t(h) 100 200 300 400 500 600
r 3 8 10 12 15 20

`
(0,300) =
1u
1u-Suu
= 3,3 * 10
-4
h
-1

`
(300,600) =
2u-1u
1uu-Suu
= 3,3 * 10
-4
h
-1

z
`
(0,300) =

`
(0,300) =
1u
1u-Suu
= 3,3 * 10
-4
h
-1

z
`
(300,600) =
1u
(1uu-1u)-Suu

t

0.1
= 300 h, garantarea fct 300 h cu probabilitatea de 90%
t

0.2
= 600 h, garantarea fct 600 h cu probabilitatea de 80%
t

0.5
= nu avem entitatea care guverneaza procesul de defectare

Estimarea parametrica a indicatorilor de fiabilitate

1. in prima etapa se determina legea de distributie a parametrilor de functionare
2. in a doua etapa se determina, pornind de la legea respectiva, indicatorii de fiabilitate.
Avantaj: o mai buna utilizare a datelor incercarilor de fiabilitate
3. exista 2 directii in stabilirea timpului de functionare:
legi specifice fiabilitatii: distributia alpha, gumbel, valorii extreme
selectarea unei legi de repartitie din statistica pe baza datelor privind defectarile ->
test statistic

Distributie exponential negativa E ( )
R(t) = exp (-t) , - rata defectarii
F(t) = 1 R(t) = 1 - exp (-t)
f(t)=
JF(t)
Jt
= exp (-t)
z(t)= = ct
m(t) = ] R(t) ut

u

t

=
1
z
ln
1
1-z

Distributia exponentiala este caracteristica componentelor si sistemelor electronice; este distributie
de amestec

Distributia normala N(, )
f(t) =
1
oV2n
exp-
1
2
(
t-H
o
)
2
[
Variatia tipica: clopot Gauss

Distributia ln normala ln t- N
Distributia Weibull W (, , )
R(t)= exp [
t-
q

; in practica = 0,

=
Distributia Weibull este o distributie suficient de generala, multe din celelalte distributii putand fi
privite drept cazuri particulare sau la limita ale acesteia.
z(t)
N
ln N
W ( < 1) N
ln N
W ( > 1)
E()
W ( = 1)
1 2 3 t



Cursul 4

Metode parametrice de estimare a indicatorilor generali de fiabilitate

- mai buna exploatare a datelor de fiabilitate N -> n -> t
1
, t
2
, ....t
n
.
- valorile indicatorilor
- este posibila extrapolarea valorilor
- pentru durate de timp diferite de durata incercarii
10 000 ore -> (, ) => putem calcula t atata timp cat mecanismul de defectare nu se modifica

Metodele parametrice presupun in prima etapa determinarea legii de distributie
- E()
- N(, )
- ln N (, )
- (, , )
- (, ), urmata de etapa a doua de determinare a parametrilor de fiabilitate, calculati pe baza
acestor legi.

Verificarea legii de distributie a timpului de functionare:
Ipoteza H
0
legea este normala N (, )
Ipoteza H
1
legea nu este de tip normal.
Se face ipoteza H
0
si se verifica in raport cu H
1
; avem un criteriu de decizie pentru cele 2 ipoteze: cele
mai utilizate teste:
- Kolnogorov-Smirnov K-S: testul este bazat pe criteriul K-S
- Barlow-Campo (America)
- binomial
Criteriul K-S presupune ca un esantion are momentele de defectare t
1
, t
2
, ... t
n.
. Pe baza acestora,
ordonate crescator, se poate calcula functia de repartitie F (t), valoare experimentala a functiei non-
fiabilitate. In practica se pot determina punctele t
i

F
i


F(t)
F
`
(t)
t
i

Cu metoda celor mai mici patrate se construieste dreapta F(t) iar pentru a aplica testul K-S tinem cont de
cuantila t
1-
a functiei K-S.

Teorema K-S: Ecartul maxim intre functia de distributie teoretica si experimentala este o valoare
aleatoare a carei lege de distributie depinde doar de n ( marimea esantionului) nu si de natura legii de
distributie verificata => test neparametric => poate fi aplicat oricarei functii.
ecartul maxim : sup
t
|F(t)- F (t)| < t
1-
(K-S)
Criteriul de decizie pentru acceptarea sau respingerea ipotezei este dat de cuantila 1- a distributiei
K-S, care este tabelata. Ipoteza este acceptata daca ecartul dintre functia estimata si cea teoretica este mai
mic decat cuantila functiei K-S corespunzatoare ordinului 1-. In functie de marimea riscului, se contruiesc 2
regiuni mai stanse sau mai largi.
Ipoteza se respinge daca unul din puncte cade in afara regiunii.
Testul permite doar respectarea ipotezei.
Riscul de ordin 2 neprecizat => respingerea unei ipoteze este mai semnifificativa decat acceptarea sa.
Testul este simplu si presupune o incercare de fiabilitate prelungita pana la defectarea tuturor
elementelor esantionului. Prin micsorarea cantitatii de informatie, rezultata din trunchiere si cenzurare,
puterea testului scade.

Fiabilitatea sistemelor electronice si de telecomunicatii

- ne referim la problemele analizei fiabilitatii ( determinarea fiabilitatii sistemului in functie de
fiabilitatea elementelor componente R
s
(t) = (R
i
(t) si tinand cont de structura sistemului si de
solicitarile electronice, mecanice, termice la care sistemul este supus in functionarea reala)

Analiza fiabilitatii se poate desfasura folosind: - aboradare globala
- abordare structurala
Sistem cu 2 stari: buna functionare si defectare (scurtcircuit sau intrerupere)

Ab. globala: cum se modifica iesirea in functie de intrare
x
1
y
1
... black box
x
n
y
n

x
1
, x
2
.. x
n
vectori de intrare
y
1
, y
2
.. y
n
vectori de iesire
y=f(x)

Ab. structurala = sistemul :
x
1
u
1
y
1
...
x
n
u
n
y
n

u
1
, u
2
.. u
n
vectori de stare
x
u
>y
Abordarea structurala este de preferat deoacere este optimizata structurii sistemului din punct de
vedere al fiabilitatii.
Ipoteze de lucru in analiza fiabilitatii:
1. avem sisteme cu 2 stari: buna functionare si defectare ( sistemele in stare de defectare sunt de fapt
multisisteme; defectarea poate avea loc in mai multe moduri: scurtcircuit, intrerupere, deriva etc)
2. independenta defectarilor (in care pot fi afectate si restul componentelor si se adopta pentru ca este
greu de stabilit gradul de defectare)
COMMON-MODE FAILURE (defectarile de mod comun, dependente)
R
s

independente
dependente



t
Abordarile sofisticate tin cont de defectari.

Procedura de analiza a unui sistem

Pornind de la un sistem =>
1. Modelarea functionala a sistemului => modelul functional (schema simpla sau model complex)
2. Modelarea fiabilistica => modelul de fiabilitate
3. estimarea fiabilitatii tinand cont de datele de fiabilitate (baze de date, date de catalog, incercari de
fiabilitate, etc) => se obtin indicatorii de fiabilitate

Schema bloc:
Sistem
modelare functionala
Model functional
modelare fiab
Date fiabilitate Model de fiabilitate
estimare fiabilitate
Indicatori fiabilitate sistem

Modele de fiabilitate

Exista 2 categorii:
1. modele bazate pe SUCCES:
a. diagrame bloc de fiabilitate (cel mai utilizat model) MSF(model structural de fiabilitate)
sau MLF (model logic de fiabilitate) reprezinta schematic o legatura de fiabilitate dintre
elementele componente ale unui sistem tinand cont de modul in care acestea
influenteaza starea de buna functionare a sistemului
Diagramele bloc pot fi serie, paralel, mixte sau nedecompozabile
Exemplu: amplificator cu un tranzistor


R
2
R
3
C
3

C
1
R
1
R
4
C
2



b. grafuri de fiabilitate
c. modele Markov
d. retele Petri
e. arbori de evenimente

2. modele bazate pe DEFECTARE: exista 3 categorii
a. AMDEC (analiza modurilor de defectare a efectelor si a criticitatii) / FMEA (failure mode
and effect analisys), FMECA (Failure mode effects and criticality analysis)
b. Fault tree (arbori de defectare)
c. diagrame cauza-efect = combinatie intre arbori de defectare si de evenimente






Diagrame bloc de fiabilitate
Principiul Pierce principiul verigii celei mai slabe
coponentele sistemului sunt considerate verigi, iar componenta cea mai non-fiabila = veriga cea mai
slaba.
Modelul serie: fie sistemul
E
1
E
2
E
n
- evenimentele

S= buna functionare a sistemului = E
1
r E
2
r...r E
n

Aplicam probabilitatea P(S) = P(= E
1
r E
2
r...r E
n
)
Independenta defectarilor: P(S) = _ P(E1) -
n
i=1
P(E2) - .P(En) = _ P(E
i
)
n
i=1

Indicatorii de fiabilitate: R
s
(t)= _ R
i
(t)
n
i=1

Functia de fiabilitate R
i
(t) = exp (-
i
t)
R
s
(t)= _ exp (-i
i
t)
n
i=1
= exp (-_ (i
i
t)
n
i=1
)
Pentru a calcula calcula fiabilitatea previzionala sau preliminata a unui sistem se utilizeaza relatia de
mai sus.
Media timpului de buna functionare m = = ] R
s
(t) ut

u
=
1
_ (i
i
)
n
i=1

Nota! nu sunt cele intrinseci (din catalog) ci trebuie corelate in functie de solicitarile electrice,
mecanice, termice etc la care sunt supuse sistemele si componetele lor in timpul functionarii. Exista 2
normalizari pentru a vedea aceasta influenta: MIL HBBK 217, iar in Europa RDF 2000.
Dependenta: P(S) = P(E
1
) * P(E
2
|E
1
) *.... P(E
n
|E
1
*E
2
*...* E
n
)

Modelul paralel

1
in 2 out

n

Pentru buna functionare, trebuie sa functioneze cel putin o ramura=>structura redundanta de tip n-1
Relatia logica: P(S) = P(= E
1
U E
2
U...U E
n
)
Aplicand DeMorgan S

= E1 U E2 U. . .U En

= E

1
r E

2
r...r E

n

P(S

)= P(E

1
r E

2
r...r E

n
)
Probabilitatea de defectare F
s
(t) = [ F
i
(t)
n
i=1
- produsul functiilor de non-fiabilitate

Modelul mixt
A

B

F
AUB
(t)= F
A
*F
B
F= 1 R
1 - R
AUB
= (1- R
A
)(1- R
B
)
R
AUB
= R
A
+R
B
- R
A
R
B
Daca avem 3 elemente: R
A
+R
B
+R
c
- R
A
R
B
- R
A
R
c
- R
c
R
B
+R
A
R
B
R
c

Grafuri de fiabilitate = grafuri de fluenta utilizate pentru sisteme complexe de tipul retelelor de
telecomunicatii

retea prezidentiala:


Modelele Markov sunt utile in cazul sistemelor reparabile si in general a sistemelor care evolueaza
printr-un numar mare de stari
ex: modul de defectare a componentelor model Markov
Sistemul Markov pentru 2 stari:


1 - At At 1 - At

BF D


At

Procesul de defectare este guvernat de functia de fiabilitate, fiind proces electronic, printr-un model
exponential R(t) = exp (-zt)
Procesul de reparare: functia M(t) = exp (-Ht)
rata de defectare
- rata de reparare
, = constante in intervalul [t, t + At]
Daca la momentul t se afla BF, la At se poate defecta cu probabilitatea At sau poate ramane in
stare, cu probabilitatea 1 - At.
Ne intereseaza functia de disponibilitate A(t), care leaga P(t + At) de P(t)

Retelele Petri = jetoane pentru sisteme cu mai multe stari
Arbori de evenimente = reprezentari arborescente pentru modele de fiabilitate asistate pe calculator
Popescu Cristina