Raport privind microscoapele electronice

n cadrul ultimelor dou sptmni am avut ocazia s intrm n contact cu dou tipuri
de microscoape din cadrul Facultii de Biologie: microscopul cu baleiaj SEM (figura din
stnga) i microscopul electronic de transmisie (TEM figura din dreapta)

Cercettorii au creat din aproape n aproape tiina fizicii, plecnd de la legile

geometrice ale reflexiei i refraciei, au fost inventate numeroase instrumente pentru a mri
capacitatea de vedere a ochiului liber, cu alte cuvinte, pentru a-l ajuta s vad ceea ce este
prea mic sau prea departe. Aceast tiin a evoluat mult i continu s se dezvolte, dar scopul
ei, vast i ambiios, rmne acelai: studierea fenomenelor naturale i definirea legilor care le
guverneaz.
Microscopia electronic a aprut din necesitatea depirii limitelor din microscopia optic,
fiind cunoscut faptul c puterea de separaie a microscoapelor este invers proporional cu
lungimea de und a radiaiei utilizate. Conceptul care st la baza microscopului electronic
este ipoteza fizicianului francez Louis de Broglie care afirm c orice particul n micare are
i o comportare ondulatorie, fiind stabilit i legtura dintre lungimea de und asociat i
impulsul al particulei unde reprezint lungimea de und a undei asociate particulei n micare,
desemneaz constanta lui Planck, iar impulsul particulei.
Microscopia eu electroni poate fi mprit n dou mari categorii: de transmisie, n
cazul specimenelor aproape bidimensionale (cu grosimi mai mici sau comparabile cu drumul
liber mediu al electronilor accelerai - zeci de nm) sau de investigare a suprafeei n cazul
celor tridimensionale (cnd dimensiunile depesc drumul liber mediu pe toate axele). n

prima categorie se ncadreaz: Microscopul Electronic eu Transmisie (TEM - Transmission

Electron Mieroseope) si Microscopul Electronic eu Transmisie de nalta Rezoluie (HRTEM High- Resolution Transmission Electron Microscopy) iar n cea de-a doua: Microscopul
Electronic cu Scanare (SEM - Scanning Electron Microscope), Microscopul Electronic cu
Scanare n Mediu (ESEM - Environmental SEM) , Microscopul Electronic cu Reflexie
(REM- Reflection Electron Microscope), Microscopul cu Electroni de Energie Joas (LEEM
- Low-Energy Electron Microscope) i Microscopul Electronic de Energie Joas cu
Polarizare a Spinului (SPLEEM - Spin-Polarized Low-Energy Electron Microscopv). Exist
ns i o combinaie a celor dou sub forma Microscopului Electronic de Transmisie de
Scanare (STEM - Scanning Transmission Electron Microscope), O diferen major ntre cele
dou metode este rezoluia care ar putea fi teoretic atinsa: 0,5 Angstromi n cazul unui TEM
la o mrire de 50 de milioane de ori i cu o corecie de sfericitate suficient fa de 0,4 nm n
cazul unui SEM la o mrire de 2 milioane de ori.

Performantele atinse in domeniul microscopiei cu electroni

TEM. Folosete un fascicul de electroni accelerai (la energii de 40 - 400 keV) i

focalizat de o serie de lentile magnetice care este transmis prin specimen. La ieirea din
acesta, fasciculul de electroni care conine informaii legate de materialul analizat este
magnificat de lentila obiectiv si este proiectat pe un ecran fluorescent. Imaginea format poate
fi direct nregistrat pe un film fotografic sau poate fi captat printr-un sistem optic de ctre o
camer digital i transmis mai departe pe ecranul unui computer. Rezoluia TEM-ului are o
limit fundamental dat de aberaiile de sfericitate, dar n noile generaii de microscoape,
aceasta aproape a fost eliminat.
Modurile principale de formare a imaginii in cazul TEM-ului sunt: diferena de
luminozitate ( se bazeaz pe diferena de numr atomic i densitate ntre diferitele poriuni ale
probei care va duce la un comportament modelat de legea lui Beer, adic unele poriuni vor
permite o transmisie mai ridicat dect altele i vor aprea mai luminoase), contrast dat de
difracie (cristalinitatea probei poate fi investigat prin difracia electronilor pe planele
cristaline), pierdere de energie a electronilor sau EELS (Electron Energy Loss Speetroseopy)
care d o informatic referitoare la compoziia chimica deoarece fasciculul transmis trece
printr-un spectrometru de energie i astfel se pot observa tranziiile interatomiee care apar n
urma interactiunilor electron-electron) i contrast de faz (informaia este extras din
imaginea de interferena a fasciculului produs de trecerea prin reeaua cristalin a
materialelor analizate i astfel imaginea final poate fi produs doar dup o prelucrare a
datelor obtinute - n cazul HRTEM-ului (High Resolution TEM).

Schema componenetelor unui microscop electronic de transmisie

SEM. Microscopul electronic de baleiaj (termen derivat din lb. francez) sau
microscopul electronic scanning (termen derivat din lb. englez) (fig. 4) permite obinerea
unor imagini tridimensionale ale specimenului. Prin intermediul unui astfel de aparat se pot
studia suprafeele obiectelor biologice, fr a se obine ns informaii despre modul de
organizare n profunzime (referitoare la structurile lor interne).

Componentele principale ale SEM-ului: coloana, camera, sistemul de vidare

n timp ce n microscopia electronic de transmisie (TEM) imaginea se formeaz datorit

electronilor transmii (care pot trece prin preparat), n microscopia electronic scanning
(SEM) imaginea se obine prin detectarea i msurarea fluxurilor electronice dispersate sau
emise (electroni secundari) de pe suprafaa specimenului. Deci, cu ct suprafaa specimenului
va dispersa (reflecta) n mai mare msur electronii fasciculului cu att imaginea obinut va
fi mai bun.
Proprietile reflectorizante ale suprafeelor specimenelor sunt amplificate prin
acoperirea lor cu un strat subire de metal greu (aur, platin, aliaj aur-platina etc.). Acest lucru
nseamn pregtirea probei: se fixeaz pe suport metalic cu un adeziv special (pasta de Argint
coloidal, scoci de grafit), apoi se acoper cu 1-2 straturi de aur, prin metalizare la un aparat de
pulverizare catodic, utilizndu-se metalizarea conic. Acest proces de ncrcare electronic

dureaz ntre 2 min si 15 min. Ca principiu, imaginile obinute sunt n electroni secundari i
creeaz imaginea suprafeelor (rezoluia baleiat a aparatului - const n transformarea acestor
imagini n pixeli a imaginii pe calculator). Dup introducerea probei metalizate, pe suprafaa
acesteia este proiectat un fascicul foarte ngust de electroni care parcurge ntr-un mod ordonat
ntreaga sa suprafa (baleiere, scanare). Detectorul de electroni dispersai (reflectai) sau
secundari (emii din specimen n urma coliziunii cu electronii fasciculului primar) msoar
punctiform proprietile acestora traducndu-le ntr-un semnal luminos pe ecranul unui
monitor. Imaginea specimenului pe ecran se reconstituie pe baza semnalelor ( imaginilor)
punctiforme datorate electronilor dispersai sau secundari detectai.
Microscoapele de baleiaj permit diferene mari ntre planurile de focalizare, deci
faciliteaz examinarea suprafeelor unor obiecte relativ mari. Deoarece cantitatea electronilor
dispersai este dependent i de unghiul dintre suprafaa specimenului i fasciculul de
electroni, imaginea obinut va fi mai luminat sau mai umbrit. Se amplific astfel aparena
de tridimensionalitate spaialitate.
Microscoapele electronice de baleiaj sunt mai mici i mai puin costisitoare n
comparaie

cu

microscoapele

electronice de transmisie. Microscoapele de baleiaj (cele

uzuale) nu au o rezoluie foarte mare ci doar de aproximativ 10nm;

mrirea efectiv

(obinut n aparat) este de pn la 20.000 de ori.

n concluzie, microscopia electronic de baleiaj poate fi utilizat n mod curent pentru
investigarea celulelor ntregi, a esuturilor, a fragmentelor de organe (de exemplu, a
fragmentelor de frunze, rdcini etc.) sau chiar a unor organisme de dimensiuni adecvate
(unele insecte, de exemplu).
n ultimul timp, s-a reuit o mbuntire substanial a rezoluiei n microscopia
electronic de baleiaj
instrumente

care

reducndu-se mult diferena fa de TEM. Au fost produse

permit

o rezoluie de 0,5-1 nm, deci, o vizualizare direct,

tridimensional, a unor detalii de nivel molecular. Acest nou domeniu al SEM poart, numele
de

microscopie electronic scanning de nalt rezoluie (HRSEM - engl. High-Resolution

Scanning Electron Microscopy ). Aceste performane au fost obinute prin utilizarea

electronilor slab accelarai, care reduc producerea de sarcini electrice n specimen precum i
capacitatea de penetrare a specimenului, chiar dac. acesta este foarte subire. Spre deosebire
de TEM unde fasciculul de electroni emergent conine ntreaga imagine a specimenului
analizat, n cazul SEM-ului, la un anumit moment de timp, fasciculul emergent poate sa
conin doar o informatic local (un pixel) din imagine. Pentru a putea reproduce imaginea
ntreag, este nevoie ca fasciculul de electroni s baleieze pe ntreaga suprafa a
specimenului.

n ceea ce privete probele studiate n timpul laboratoarelor, acestea au fost luate de la

plante sau fire de pr de la diferite animale i om:

Proba 1: Pr de cine

Proba 2: Pr uman

Proba 3: Pr de capr

Proba 4: Pr de oaie

Proba 5: Pr (nu am aflat proveniena)

Proba 6: Pr de iepure

Proba 7: Pr de pisic

Proba 8: Polen