6.

NCERCRI DE FIABILITATE
6.1 CLASIFICARE
6.1.1 Dup scopul urmrit
De investigare
Pentru determinarea indicatorilor de fiabilitate
De omologare
6.1.2 Dup importana dispozitivelor supuse ncercrii
Standuri simple
ncercri asupra dispozitivelor simple N0 mare
Nivel de ncredere ridicat
ncercri asupra dispozitivelor cu
standuri mai complexe
grad mijlociu de complexitate (subansambluri)
N0 mai mic
standuri complexe
ncercri asupra dispozitivelor complexe
N0 mic
Nivel de ncredere sczut
6.1.3 Dup condiiile n care are loc funcionarea dispozitivelor
Condiii de funcionare n cazul automobilelor:
- clim temperatura i presiunea atmosferice, umiditate, precipitaii, vnt;
- ncrcare ncrcarea automobilului, intensitatea traficului, declivitatea
drumului
- mediu ambiant starea drumului, densitatea prafului atmosferic;
- materiale utilizate combustibili, lubrifiani, lichid de rcire etc;
- utilizator nivel de calificare, stil de conducere, calitatea i frecvena
operaiilor de mentenan.
n condiii normale
Accelerate condiiile de funcionare se nspresc n scopul grbirii
apariiei defeciunilor; aceasta nu trebuie s afecteze natura fenomenelor
ci numai intensitatea lor
6.1.4 Dup procedura utilizat
ncercri cenzurate se derulaz pn la producerea unui numr de
defeciuni stabilit iniial;
Trunchiate se deruleaz o perioad de timp stabilit iniial;
Secveniale la producerea fiecrei defeciuni se compar timpul total de
funcionare cu dou valori limit corespunztoare nivelurilor acceptabil,
respectiv neacceptabil ale fiabilitii dispozitivelor ncercate; dac timpul
total de funcionare se situeaz ntre cele dou valori de referin, testul
de consider neconcludent i se continu pn la producerea urmtoarei
defeciuni, cnd procedura se repet.
26.04.2013
6.2 NCERCRI CENZURATE
Caracteristica ncercrilor cenzurate:
Se derulaz pn la producerea unui numr de defeciuni, r, stabilit
iniial.
r < N0.
Scopuri:
57

 Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un eantion de

dispozitive la care se nregistreaz un numr r de defeciuni;
Determinarea intervalului de timp n care se afl valoarea MTBF pentru
ntreaga populaie de dispozitive, acceptndu-se un nivel de risc (sau
un nivel de ncredere p = 1 -
a) ncercri cenzurate fr nlocuire dispozitivele defectate nu se nlocuiesc.
O ncercare efectuat asupra unui eantion alctuit din N0 dipozitive este
cenzurat la nivelul r dac se ncheie n momentul tr de apariie a celei de a r a
defeciuni, numrul r N0 fiind ales nainte de nceperea ncercrii.
N
N0
N0 r . . .
r+1
r
r-1
...
3
2
1
t1

t2

t3

tr-1

tr

Timpul total de bun funcionare:

r

T t i N0 r t r
i 1

b) ncercri cenzurate cu nlocuire dispozitivele defectate se nlocuiesc

imediat dup producerea defeciunii i se urmre te evolu ia noilor dispozitive.
N
N0*
N0* -1
...
r
...
3, N0*+3
2, N0*+2, N0*+r-1
1, N0*+1,N0*+r-2
t1
t2 t 3
...
tr-2 tr-1 tr
t
S-a notat cu N numrul de dispozitive din care a fost alctuit iniial eantionul.
Timpul total de bun funcionare:
*
0

T = N0* tr
Relaiile urmtoare sunt valabile pentru oricare din cele dou tipuri de ncercri
cenzurate.
Valoarea aproximativ a MTBF pentru eantion:

T
r

58

Limitele intervalului n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga

populaie de dispozitive
Relaiile prezentate n continuare sunt aplicabile n cazul n care
dispozitivele se afl n perioada vieii utile, atunci cnd acioneaz legea
exponenial.
a) cazul intervalului centrat:
m1c

2T

2 2r ,
2

m 2c

, limita inferioar;

2T

, limita superioar,

2 2r ,1
2

unde este pragul de semnificaie; nivelul de ncredere este p = 1 -

b) cazul intervalului necentrat:
m1n

m 2n

2T

2r ,

, limita inferioar;

2T

2r ,1

, limita superioar.

6.3 NCERCRI TRUNCHIATE

Caracteristica ncercrilor trunchiate:
Se deruleaz pn la un moment, t*, fixat a priori.
Scopuri:
Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un eantion de
dispozitive la care, pe durata t*, se nregistreaz un numr r de defeciuni;
Determinarea intervalului de timp n care se afl valoarea MTBF pentru
ntreaga populaie de dispozitive, acceptndu-se un nivel de risc (sau
un nivel de ncredere p = 1 -
a) ncercri trunchiate fr nlocuire dispozitivele defectate nu se
nlocuiesc.
N
N0
N0 r . . .
r+1
r
r-1
...
3
2
1
59

t1

t2

t3

tr-1

tr

t*

Timpul total de bun funcionare:

T t i N0 r t *

i 1
b) ncercri trunchiate cu nlocuire dispozitivele defectate se nlocuiesc
imediat dup producerea defeciunii.
N
N0*
N0* -1
...
...
3, N0*+3
2, N0*+2, N0*+r-1, N0+r
1, N0*+1,N0*+r-2
0
t1
t2 t 3
Timpul total de bun funcionare:

...

tr-2 tr-1 tr t*

T = N0* t*
Relaiile urmtoare sunt valabile pentru oricare din cele dou tipuri de ncercri
trunchiate.
Valoarea aproximativ a MTBF pentru eantion:

T
r

, unde r este numrul de dispozitive defectate n

timpul experimentului.

Limitele intervalului n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga

populaie de dispozitive
Relaiile prezentate n continuare sunt aplicabile n cazul n care
dispozitivele se afl n perioada vieii utile, atunci cnd acioneaz legea
exponenial.
a) cazul intervalului centrat:
m1c

m 2c

2T

2 2r 2,
2

, limita inferioar;

2T

, limita superioar,

2 2r ,1
2

unde este pragul de semnificaie; nivelul de ncredere este p = 1 -

b) cazul intervalului necentrat:
m1n

2T

2r 2,
60

, limita inferioar;

m 2n

2T

2r ,1

, limita superioar.

Dac o ncercare cenzurat la nivel r dureaz prea mult, ea se poate

transforma ntr-o ncercare trunchiat la momentul t*.
09.05.2012
6.4 NCERCRI SECVENIALE
Scop:
Se urmrete verificarea nivelului de fiabilitate al unor dispozitive pe baza MTBF.
Caracteristica ncercrilor secveniale:
n cazul ncercrilor secveniale se adopt iniial dou valori de referin
pentru MTBF una inferioar, respectiv una superioar. La apariia fiecrui defect se
compar timpul cumulat de funcionare nregistrat la eantionul studiat pentru
dispozitivele care s-au defectat cu valorile corespunztoare momentului respectiv
calculate pe baza celor dou limite ale MTBF alese iniial. Dac timpul cumulat de
bun funcionare nregistrat experimental este mai mare dect cel calculat
corespunztor valorii superioare a MTBF, atunci produsele sunt acceptate; dac el
este mai mic dect timpul calculat pentru valoarea inferioar a MTBF, produsele sunt
declarate necorespunztoare. n cazul n care valoarea obinut experimental se afl
ntre cele calculate, rezultatul este considerat neconcludent, iar testul se continu
pn la producerea defeciunii urmtoare, cnd analiza se reia n acelai mod.
Se iau n consideraie riscul productorului i al beneficiarului:
- reprezint probabilitatea de respingere a unui dispozitiv corespunztor
(riscul productorului);
- este probabilitatea de acceptare a unui dispozitiv corespunztor;
- este probabilitatea de acceptare a unui dispozitiv necorespunztor
(riscul beneficiarului);
- 1 este probabilitatea de respingere a unui dispozitiv necorespunztor.
Se definesc:
- Mi limita inferioar a MTBF;
- Ms limita superioar a MTBF.
Dac MTBF = m Ms, dispozitivele sunt declarate corespunztoare.
Dac MTBF = m Mi, dispozitivele sunt declarate necorespunztoare.
Se formuleaz ipotezele:
H0 ipoteza potrivit creia m Ms, n care caz dispozitivele sunt acceptate;
H1 ipoteza potrivit creia m Mi, n care caz dispozitivele se resping.
Se noteaz: a 1 1

1 .
1

Probabilitatea de producere a r defeciuni atunci cnd dispozitivele se afl n

perioada vieii utile se determin cu ajutorul legii Poisson pentru cazul legii
exponeniale:
1 T
Pr

r! m

T
m

, n care:
61

T este timpul cumulat de funcionare pentru cele r dispozitive care s-au defectat;
m MTBF.
Pentru situaiile corespunztoare celor dou valori de referin ale MTBF rezult:
r

1 T

Pri
r ! M i
Pri M s

Prs M i

T
Mi

1
1

Mi Ms

1 T

Prs
r ! M s

T
Ms

Acest raport se compar cu mrimile a i b definite anterior.

Pri
a , se respinge H0 i se accept H1 (dispozitivele se resping).
Dac
Prs
Pri
b , se respinge H1 i se accept H0 (dispozitivele sunt acceptate).
Dac
Prs
Pri
a , se continu testul.
Dac b
Prs
Condiia de continuare a testului se mai poate scrie i sub forma:
M
b s
Mi

1
1

M
M
s
e i

a.

Prin logaritmare se obine:

Ms 1
1
T ln a , sau

M i M i M s
1
1
M
1
1
T r ln s ln a
T , relaie ce poate fi scris i sub
ln b

Mi
Mi Ms
Mi Ms
ln b r ln

forma:
1
1
1
1

M Ms
M Ms
ln b
ln a
i
T r
i
T
Ms
Ms
Ms
Ms
ln
ln
ln
ln
Mi
Mi
Mi
Mi

care reprezint, la limit, ecuaiile a dou drepte ce delimiteaz trei domenii n planul
graficului:
A + BT < r< C + BT.
Unde

1
1

ln b
Mi Ms
A
Ms , B
M
ln
ln s
Mi
Mi

i C

ln a
M .
ln s
Mi

La limit, rezult valorile de referin pentru timpul cumulat de func ionare

corespunztor numrului r de dispozitive defectate:
1
A
r ;
B
B
1
C
r .
B
B

Tsup
Tinf

62

Condiiile de acceptare sau respingere a dispozitivelor devin:

- dac

T Tsup

1
A
, dispozitivele sunt acceptate;
r
B
B

- dac

T Tinf

1
C , dispozitivele se resping.
r
B
B

O reprezentare grafic a desfurrii unui astfel de test poate avea una din
formele prezentate n figura urmtoare.
T

Dispozitivele se
accept
(ipoteza H0 este
valabil)

Test
neconcludent

Tinf

Dispozitivele
sunt respinse
(este valabil ipoteza H1)

Tsup

1
A
r
B
B

1 2 3

4 5

6 7

63

8 9 10 11 12

1
C
r
B
B