Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
este:
banda permisa
- W< 0 pentru electronii
Nivelele energetice ale unei benzi sunt foarte dense astfel nct caracterul lor discret
este puternic estompat.
Ocuparea nivelelor energetice de electroni se face succesiv ncepnd cu nivelele
inferioare. Pe msura ocuprii nivelelor unei benzi se trece spre banda de deasupra. (n spiritul
fig. 2.2). Electronii de valen sunt cel mai slabi legai de atomi datorit poziiei lor periferice
i ocup ultimele benzi.
Electronii au posibilitatea s-i modifice energia (sa treac de pe un nivel energetic pe
altul) n anumite condiii. Astfel dac electronului i se comunic energie el poate trece pe un
nivel energetic superior cu condiia ca acest nivel energetic s fie neocupat iar energia
furnizat s fie suficient pentru saltul energetic considerat Saltul energetic invers ns este un
proces spontan, natural fiind condiionat doar de existena unui nivel energetic inferior
neocupat. Salturile energetice se pot realiza i ntre nivele ocupnd benzi permise diferite cu
condiia ca energia furnizat s depeasc energia benzii interzise. Aceast energie poate fi
furnizat fie de ageni fizici externi, cmp electric, flux luminos, sau chiar de reeaua intern
(reeaua avnd energia de vibraie direct proporional cu temperatura materialului).
Pentru ca un corp solid s permit fenomene de conducie electric, este necesar s
existe cel puin o band permis incomplet ocupat de electroni.
Dac o band permis este ocupat integral, cmpul electric nu poate comunica o
energie net ansamblului de electroni i ca urmare nu poate aprea curent electric. Evident pot
aprea situaii de excepie n cazul unor cmpuri electrice intense cnd pot aprea treceri ale
electronilor dintr-o band permis, iniial total ocupat, n alt band permis, ceea ce
reprezint strpungerea materialului.
Pentru studiul conduciei
n corpul solid intereseaz doar
dou din benzile permise (fig.
w
2.3).
0
(2.1.)
p e n tr u S i
1, 1 2 e V
(2.2.)
Wi =
p e n tr u G e
0, 67 eV
La temperatura de 0K electronii de valen ocup integral banda de valen, ceea ce
face ca n acest context semiconductorul sa se comporte ca un izolator perfect.
La temperaturi diferite de 0K unii electroni din banda de valen pot trece n banda de
conducie datorit energiei primite de la reea (energia furnizat electronului fiind superioar
energiei Wi). n felul acesta apar dou benzi permise parial ocupate, banda de valen i
banda de conducie i ca urmare prin material pot circula cureni electrici de conducie.
Fenomenul fizic ce st la baza acestei situaii energetice este ruperea unei legturi
covalente (fig. 2.5). Electronul prsind legtura covalent nu mai este legat de atomul de la
care provine i se poate deplasa liber n interiorul reelei cristaline.
ni = A T e
2
Wi
2KT
(2.4.)
WD
Wv
+
+
+
+
Acest nivel nu aparine ntregului cristal fiind localizat doar n vecintatea atomilor de
impuritate, motiv pentru care a fost reprezentat cu linie discontinu. n structura
semiconductorului apar i perechi electron gol prin procedeul analizat la semiconductorul
intrinsec. La temperatura camerei practic electronii de pe nivelul Wd trec n totalitate n banda
de conducie
n baza celor menionate structura semiconductorului n poate fi reprezentat conform
figurii 2.8 i conine electroni de conducie (-) rezultai prin impurificare i prin perechi,
goluri (+) rezultai prin perechi, ioni pozitivi (+) ai atomului de impuritate fici n reeaua
cristalin. Avnd n vedere concentraia de purttori rezultai se poate scrie relaia:
n> p
2.5
Numrul electronilor fiind superior acetia poart denumirea de purttori majoritari iar
golurile de purttori minoritari.
Semiconductorul de tip p - se obine prin
impurificarea cu elemente trivalente (bor, indiu,
galiu, aluminiu) numite i acceptoare. Atomul de
+4
+4
+4
impuritate trivalent va substitui din reeaua
atomului de semiconductor stabilind cu atomi
+3
+4
+4
nvecinai legturi covalente (fig. 2.9).
Atomul de impuritate satisface numai trei
+4
+4
legturi covalente, o legtur covalent rmnnd
+4
nesatisfcut. Aceast legtur se poate completa cu
un electron dintr-o legtur covalent vecin care
Fig.2.9. Retea cu impuritate trivalenta
las n urma lui un gol. Acest mecanism de lansare a
golului nu a fost nsoit de apariia a unui electron de
conducie. Atomul de impuritate acceptnd un electron se transform n ion negativ fix n
reeaua cristalin (deci nu poate participa la conducie). Electronii de conducie n numr mai
mic dect golurile apar prin mecanismul cunoscut de la semiconductorul intrinsec. Legtura
covalent nesatisfcut a atomului acceptor induce un nivel energetic WA n banda de valen
(Fig. 2.10) fiind la fel ca si WD localizat doar n vecintatea atomilor de impuritate.
+ -- + - +
+
- + - +
Wc
WA
Wv
La temperatura camerei, practic nivelele acceptoare ale tuturor atomilor acceptori sunt
ocupate de electroni din banda de valen. Descompletarea benzii de valen va permite astfel
conducia curentului electric prin mecanismul specific acestei benzi. Se poate spune conform
celor analizate c banda de valen s-a ocupat cu goluri pe nivelele energetice superioare n
locul electronilor care au ocupat nivelele acceptoare.
n baza celor prezentate structura semiconductorului n extrinsec de tip p poate fi
reprezentat conform figurii 2.11 i conine goluri (+) rezultate prin impurificare i perechi,
electroni (-) rezultai prin perechi electron gol, ioni (R) negativi ai atomilor acceptori.
Se va putea scrie relaia:
p>n
(2.6.)
La semiconductorul de tip p golurile vor fi purttori majoritari i electronii purttori
minoritari.
2.3. Statistica purttorilor de sarcin
Statistica are ca scop determinarea concentraiilor de electroni i goluri n
semiconductoare aflate la echilibru termic.
Purttorii de sarcin din semiconductoare se supun statisticii Fermi - Dirac, conform
creia probabilitatea ca un electron s ocupe un nivel energetic W este:
1
f (W) =
(2.7)
W Wf
KT
1+ e
unde WF reprezint energia (nivelul) Fermi, constant la echilibru termic n tot volumul
considerat.
Energia Fermi depinde de temperatura i modul de dopare, putnd fi situat att n
interiorul benzilor permise ct i n interiorul benzilor interzise. Probabilitatea ocuprii
nivelului Fermi de un electron este 0.5 indiferent de temperatur. Golurile se supun aceleai
statistici probabilitatea ocuprii nivelului WF de un gol fiind dat de funcia 1 - f (W).
Calculul concentraiilor de electroni i goluri la echilibru termic n0,Po se face pe baza
unor expresii date de mecanica cuantic:
WC WF
kT
WF WV
kT
n 0 = NC e
(2.8.)
(2.9.)
p0 = N v e
unde Nc, Nv constante ce depind de temperatur dup legea T3/2.
Pentru un semiconductor intrinsec, nivelul Fermi se poate nota W/Fi valoarea
rezultnd prin substituirea n (2.3) a relaiilor (2.8) si (2.9):
WFi =
WC + WV kT NC
ln
+
2
2
NV
(2.10.)
(2.11)
n0 = ni e
p 0 = ni e
WFWFi
KT
(2.12)
WFi WF
KT
(2.13)
Conform acestor relaii un semiconductor de tip n are nivelul Fermi situat deasupra
mijlocului benzii interzise, iar un semiconductor de tip p are nivelul Fermi situat sub mijlocul
benzi interzise.
Relaiile prezentate sunt valabile n condiii de echilibru termic. Pentru a pstra
formalismul acestora i n condiiile de neechilibru se introduc dou nivele fictive de calcul
numite cvasinivele Fermi WFn pentru electroni i WFp pentru goluri. Concentraiile n aceste
condiii pot fi exprimate prin relaiile:
W W
(2.14)
KT
Fn
Fi
n = ni e
WFi WFp
KT
p = ni e
unde WFi reprezint la fel mijlocul benzii interzise.
(2.15)
JJG
JG
jpc = qp vp
(2.19)
Din cele dou relaii 2.18 i 2.19 poate fi exprimat densitatea curentului de cmp
total:
JG JJG JJG
JG
JG
JG 1 JG
jc = jnc + jpc = qnvn + qpvp = q ( n n + p p ) E = E
(2.20)
(2.22)
JG
F reprezint fluxul de particule, definit ca numrul de particule care traverseaz o suprafa
unitar, aezat perpendicular pe direcia de transport, n unitatea de timp.
Factorul de proporionalitate D este denumit coeficient de difuzie. Dac se consider
relaia (2.22) pentru electroni (c=n) respectiv goluri (c=p) se pot exprima expresiile densitii
curenilor de difuzie pentru cele dou tipuri de purttori.
G
JJG
j nd = ( q ) Fn = qDn n
G
JJG
j pd = ( + q ) Fp = qDpp
(2.23)
(2.24)
KT
Dn = q n
Dp = kT p
(2.25)
Densitatea de curent ntr-un semiconductor (j) este realizat att de electroni cat i de
goluri putnd fi exprimat printr-o relaie:
G JG JG
(2.26)
j = jn + jp
Avnd n vedere c fiecare termen al relaiei (2.26) este determinat att de efectul de
cmp ct i de difuzie aceti termeni pot fi exprimai avnd n vedere relaiile (2.18), (2.19),
(2.20),(2.23), (2.24) obinndu-se:
JG JJG JJG
JG
(2.27)
jn = jnc + jnd = qn n E + qDnn
(2.28)
n
cazul
unor
cmpuri electrice variabile n relaia (2.26) va apare un termen corespunztor densitii de
curent de deplasare:
JG
G JG JJG
E
(2.29)
j = jn + jp +
t
Formularea naturii tuturor componentelor curenilor n semiconductoare d
posibilitatea analizei calitative a mecanismului conduciei n semiconductoare facilitnd astfel
nelegerea funcionrii dispozitivelor electronice realizate avnd la baz aceste materiale.
Analiza efectuat privind fizica semiconductoarelor evideniaz faptul c electronii i
modific permanent i n mod natural nivelul energetic, aprnd astfel la nivelul
semiconductorului dou fenomene de generare respectiv recombinare a purttorilor de sarcin
electroni (n) sau goluri (p). Generarea reprezint fenomenul de trecere a unui electron al
reelei n banda de conducie (generarea de electroni de conducie), fie de prsire a benzii de
valen (generarea de goluri).
Deci n procesul de generare a electronilor electronul pleac de pe un nivel energetic
din banda de valen sau din banda interzis de pe nivelul creat de impuritile reelei
cristaline (fig 2.7) introduse special de constructor. Pentru procesul de generare a golurilor,
electronii din banda de valen pleac pe nivelele energetice din banda de conducie sau din
banda interzis, nivel creat de impuritile acceptoare.
Recombinarea reprezint procesul prin care un electron al reelei cristaline prsete
banda de conducie sau trece n banda de valen. n primul caz dispare un electron de
conducie iar n al doilea dispare un gol. Trebuie menionat c n acest proces nu dispar
particule fizice ci doar particule viabile ale procesului de conducie.
Ratele de desfurare a celor patru mecanisme amintite sunt denumite viteze de
generare/recombinare reprezentnd numrul de particule (electroni sau goluri) care se
genereaz/ recombin n unitatea de timp i se noteaz cu gn, gp respectiv rn, rp.
Vitezele de recombinare nete Rn, Rp se pot defini prin relaiile
Rn = rn gn
Rp = rp gp
(2.30)
(2.31)
pn n i2
R=
n 0 (p + pt ) + p0 (n + nt )
(2.32)
unde no, po - constante reprezentnd timpul de via al electronului respectiv golului, nt, pt concentraii fictive de electroni respectiv goluri considernd n semiconductor nivelul Fermi
suprapus peste un nivel energetic intermediar.
Din relaiile (2.32) rezult cteva concluzii importante:
- la echilibru termic ( pn = p0 n0 = ni2 ) viteza net de recombinare este nul (gn=rn,
gp=rp) fr ca cele patru viteze sa fie nule;
- la neechilibru n condiii de exces de purttori ( pn > n i2 ) se obine
R > 0 (rn > gn, rp > gp) adic predomin recombinarea;
- la neechilibru n condiii de lips de purttori ( pn > ni2 )se obine R<0 (rn <gn,rp <gp)
adic predomin generarea.
Rp =
p p0
(2.34)
unde n, p reprezint timpi de viteza ai purttorilor n exces, dar care nu sunt constante, deci
doar formal expresiile au o reprezentare mai simpl.
Generarea de purttori poate fi datorata i unor ageni externi radiaii luminoase sau
ali factori n acest caz vitezele de generare notndu-se cu GLn,GLp (pentru electroni respectiv
goluri).
2.5. Ecuaiile generale ale semiconductoarelor
p
1 JG
= GL Rp jp
t
q
(2.35)
(2.36)
JJG
p
p p 0 1 jp
=
q n
t
p
(2.38)