Sunteți pe pagina 1din 30

2.

CONTROLUL STATISTIC AL CALITĂŢII

Presupune efectuarea unui control asupra unor eşantioane


reprezentative, ce pot fi extrase din loturi de produse sau din fluxul
tehnologic.
În primul caz, se face controlul statistic al calităţii loturilor de
produse, iar în al doilea caz se realizează controlul statistic al calităţii
procesului tehnologic.
Activitatea de control statistic e încununată de succes dacă
eşantioanele prelevate sunt reprezentative.

2.1. Controlul statistic al calităţii loturilor de produse

2.1.1. Prezentare generală

Activitatea de control statistic al calităţii loturilor de produse se


finalizează cu formularea unei decizii ferme ce lot acceptat sau respins
(La sau Lr).
Formularea celor două decizii presupune simultan două riscuri:
- α – riscul furnizorului (probabilitatea de a respinge un lot
format în majoritate din exemplare corespunzătoare din punct de vedere
calitativ);
- β – riscul beneficiarului (probabilitatea de a accepta un lot
ce e format din exemplare care în majoritate sunt necorespunzătoare din
punct de vedere calitativ).
Activitatea de control statistic al calităţii asupra laturilor se
desfăşoară după planuri de control statistic ce înglobează criterii obiective
ce permit formularea unei decizii ferme în condiţia diminuării la minim a
valorii celor două riscuri.
Parcurgerea planului de control presupune efectuarea unor
determinări experimentale asupra exemplarelor unui eşantion prelevat din
lot (N –> n).
Planurile de control se clasifică în funcţie de natura datelor
experimentale în:
- planuri de control pe bază de atribute;
- planuri de control pe bază de măsurare.
Planurile de control pe bază de atribute presupun folosirea unor
date experimentale xi ce constituie variabile aleatoare discrete (pot lua
numai anumite valori), iar exemplarele sunt clasificate în corespunzătoare
şi necorespunzătoare.
Planurile de control pe bază de măsurare constau în obţinerea, în
urma unor determinări experimentale, a unor variabile aleatoare cu
caracter continuu, folosindu-se valorile parametrilor statistici ai datelor
experimentale.

2.1.2. Noţiuni utilizate în controlul statistic al loturilor de


produse

N – volumul lotului – numărul de unităţi statistice din lot. Se


preferă folosirea unor loturi de dimensiune medie sau mare.

Ne – nivel de exigenţă – activitatea de control statistic de calitate se


desfăşoară pe trei nivele de exigenţă: START
- control normal (C.N.)
- control sever (C.S.)
C.S. C.N. C.R.
- control redus (C.R.)

Activitatea de control statistic al calităţii debutează cu un control


cu exigenţă normală. În funcţie de rezultatele obţinute se poate schimba
nivelul de exigenţă (în sever sau redus), iar în funcţie de rezultatele
acestui control, se poate impune revenirea la control normal. Activitatea
de control statistic al calităţii se desfăşoară astfel încât este interzisă
trecerea directă de la control sever la control redus sau invers, aceste
treceri realizându-se numai prin intermediul unui control normal.

Nc – nivel de control – dimensionează elementele planurilor de


control.
Se folosesc cinci nivele de control (I – II – III – IV – V), volumul
eşantionului crescând de la nivelele de control inferioare la cele
superioare.
În aceste condiţii se consideră că nivelele de control inferioare sunt
economice, dar prezintă riscul formulării unor decizii incorecte, în timp
ce pentru nivelele superioare, folosindu-se eşantioane cu volum mare,
activitatea de control este costisitoare, dar este eliminat riscul deciziilor
eronate.

Lc – litera de cod – reprezintă un simbol literal din alfabet, folosind


majuscule de la A la Q. Reflectă volumul populaţiei N şi nivelul de
control adoptat Nc.

NCA – nivelul de calitate acceptat – este o mărime ce guvernează


întreaga noţiune de control statistic. Folosirea noţiunii pleacă de la
accepţiunea furnizorului că în lot există şi exemplare defecte.
Dacă în lotul N există D defecte, raportul lor (D/N) reprezintă
fracţia defectivă conţinută în lot. Calitatea globală (C) reprezintă mărimea
complementară fracţiei defective:
D
C =1− .
N
În cazul loturilor cu volum mare, este greu de identificat valoarea
D. În acest caz, controlul sever presupune că din lotul N se extrage un
eşantion n, care este controlat, constatându-se un număr de exemplare
defecte d şi calculându-se fracţiunea defectivă p proprie eşantionului:
d
p= .
n
Dacă eşantionul este reprezentativ, atunci p estimează valoarea
raportului D/N. Valoarea fracţiei p poate să aibă cel mult o valoare limită
de calitate acceptată (NCA). Alte abrevieri întâlnite pentru NCA sunt
LQA şi AQL.

2.1.3. Determinarea valorii NCA

Se poate face prin mai multe metode:

2.1.3.1. Metoda comparării cheltuielilor unitare

c  n 
NCA = 100 ⋅  u ⋅ 1 −  , unde:
 c p  N 
cu – cheltuieli unitare înregistrate în condiţiile desfăşurării
activităţii de control al calităţii;
cp – cheltuieli de penalizare (care se înregistrează pentru fiecare
exemplar din lut în absenţa controlului de calitate).

2.1.3.2. Determinarea NCA pe baza fişei „p”

Fişa „p” reprezintă fişa procentului de produse defecte – o


modalitate obiectivă de a stabili nivelul de calitate acceptat pentru o
anumită categorie de loturi.
Se parcurg următoarele etape:
- stabilirea numărului de loturi controlate: k = 10(100).
- stabilirea volumului eşantionului (n = 100).
- stabilirea numărului de exemplare defecte din fiecare
eşantion (di).
- stabilirea fracţiei defective a fiecărui eşantion:
di d
pi = = i .
n 100
- stabilirea fracţiei defective medii:
1 k
p = ⋅ ∑ pi .
k i =1
- stabilirea limitelor de control statistic pentru fracţia
defectivă medie p .
p ⋅ (1 − p) p ⋅ (1 − p)
LCSi = p − 3 ⋅ LCSs = p + 3 ⋅
n n
Nomograma Varnum pentru determinarea limitelor.

0
p

p ⋅ (1 − p )
3
n
Dreapta ce uneşte volumul eşantionului cu fracţia defectivă
întretaie semicercul de jos într-un punct care dă valoarea radicalului.
- construirea diagramei de control statistic pentru fracţia
defectivă medie. p

LCSs

LCSi

k (numărul de ordine al
eşantionului sau lotului)

Dacă valorile fracţiilor defective se înscriu în câmpul delimitat de


cele două limite, valoarea fracţiei defective medii p poate fi folosită
pentru stabilirea NCA:
NCA = 80% ⋅ p .
Folosirea unui NCA egal cu 0,8 ⋅ p constituie modalitatea de
stimulare a furnizorului în menţinerea unei activităţi productive sub
control.
Planurile de control se rezolvă numai pentru valorile NCA tabelate.
Valoarea obţinută pe baza fişei „p” este convertită cu ajutorul unor
tabele astfel încât să poată fi utilizată în activitatea de control.

2.1.3.3. Determinarea NCA prin metoda curbelor caracteristice


operative (CCO)

Curbele se obţin prin reprezentarea grafică a probabilităţii de


acceptare Pa în funcţie de valoarea fracţiei defective P obţinută în lot.
Pa

100%

NCII
NCI

P
Curbe caracteristice operative (CCO)

Curbele caracteristice operative sunt trasate pentru diferite nivele


de control (NCI > NCII).
Probabilitatea de acceptare Pa se calculează ca valoare a funcţiei
teoretice de repartiţie a unei repartiţii binomiale:
n! n – volumul eşantionului
Pa = ⋅ p k ⋅ (1 − p) n −k
k!⋅(n − k )! p – fracţia defectivă
Pa k – numărul de exemplare
α - riscul defecte regăsite în eşantion
100 furnizorului
95

P1 = NCA (acceptat)
P2 = NCT (tolerat)

β - riscul
10 beneficiarului

P1 P2 P
P1 reprezintă valoarea fracţiei defective corespunzătoare unei
probabilităţi de acceptare de 95%. Planurile de control statistic se rezolvă
pentru nivelele de calitate acceptate obţinute prin metoda curbelor
caracteristice operative.

2.1.4. Tipuri de defecte şi valorile NCA corespunzătoare

Un exemplar sau produs este considerat defect atunci când cel


puţin dintr-un punct de vedere nu satisface exigenţele consumatorului.
În funcţie de repercusiunile ce la au asupra consumatorului, se
disting mai multe tipuri de defecte pentru care se adoptă nivelul de
calitate acceptat corespunzător.

Nr.
Tipul defectului Caracterizare NCA (%)
crt.
- afectează integritatea consumatorului
1 Defecte critice - produsul prezintă funcţionalitate redusă 0,1 – 0,4%
- nu pot fi eliminate
Defecte majore
2 - e afectată funcţionalitatea produsului 0,4 – 1,5%
(principale)
3 Defecte secundare - funcţionalitatea e foarte puţin afectată 1,5 – 4%
- produsul are funcţionalitate perfectă, dar e afectat
4 Defecte minore 4 – 10%
modul de prezentare

În cazul unor produse ce pot fi caracterizate simultan prin mai


multe caracteristici de calitate, se foloseşte un nivel de calitate acceptat
total, care însumează contribuţiile tuturor tipurilor de defecte.

NCA total = NCA C2 + NCA 2P + NCA S2 + NCA 2m


critic principal secundar minor

Suma ce apare argumentează faptul că toate tipurile de defecte au o


contribuţie la NCA total. Pătratul şi extragerea radicalului sugerează o
contribuţie prin diminuarea efectului global, deoarece în unele cazuri mai
mulţi indicatori generează acelaşi tip de defect.

2.2. Planuri de control

2.2.1. Elementele planurilor de control

Sunt specifice fiecărui tip de plan de control, fiind tabelate în


funcţie de litera de cod LC şi de nivelul de calitate acceptat NCA.
Rezultatele determinărilor experimentale obţinute la controlul
eşantionului se compară cu elementele planului de control în scopul
formulării deciziilor.
2.2.2. Planuri de control pe bază de atribute (C1)

Se rezolvă conform STAS 3160-72 (în Franţa – X06-022).


Particularităţile planurilor de control pe bază de atribute sunt:
- se folosesc trei nivele de control de bază (N.C.b.) – I, II, III
– şi patru nivele speciale (N.C.s.) – S1, S2, S3, S4 –, stabilite de comun
acord între furnizor şi beneficiar (cel mai utilizat este nivelul II).
- pentru litera de cod se foloseşte tabela I anexa nr. 4.

Elementele planului de control, în funcţie de LC şi NCA sunt:


- n – volumul eşantionului.
- A – numărul de acceptare (numărul maxim de exemplare
defecte din eşantion pentru care lotul se declară admis).
- R – numărul de respingere (numărul minim de exemplare
defecte din eşantion pentru care lotul se declară respins).

Clasificarea planurilor de control pe bază de atribute se face în


funcţie de numărul de eşantioane controlate:
- eşantionare simplă (C1,1) – decizia se formulează după
controlul unui singur eşantion.
- eşantionare dublă (C1,2) – decizia este formulată după
controlul a cel mult două eşantioane.
- eşantionare multiplă (C1,7) – decizia este formulată după
controlul a cel mult şapte eşantioane.

2.2.2.1. Controlul normal pe bază de atribute

a. Schema unui plan de control normal prin eşantionare simplă

Nr.
Obiective Tabele utilizate Rezultate
etapă
1 Identificarea Lc (pe baza N, Nc) I, anexa 4 Lc = …
n=…
Extragerea elementelor planului de A=…
2 II A, anexa 4
control (Lc, NCA) R=…
R=A+1
Din lotul N se extrage eşantionul n şi se
3 – k=…
determină k
Formularea deciziei – k se compară cu A k ≤ A => lot acceptat
4 –
şi R. k ≥ R => lot respins
b. Schema unui plan de control normal prin eşantionare dublă

Nr.
Obiective Tabele utilizate Rezultate
etapă
1 Identificarea Lc (N, Nc) I, anexa 4 Lc = …
n 1 = n2
Extragerea elementelor planului de A1 = …; R1 = …
2 III A, anexa 4
control (Lc, NCA) A2 = …; R2 = …
R2 = A2 + 1
Din lotul N se extrage eşantionul n1 şi
3 – k1 = …
se determină k1
k1 ≤ A1 => lot acceptat
4 k1 se compară cu A1 şi R1 – k1 ≥ R1 => lot respins
A1 < k1 < R1 => controlul
continuă
Din lotul N se extrage eşantionul n2 şi k2 = …
5 –
se determină k2 k = k1 + k2
Formularea deciziei – k se compară cu k ≤ A2 => lot acceptat
6 –
A2 şi R2. k ≥ R2 => lot respins
c. Schema unui plan de control normal prin eşantionare multiplă

Nr.
Obiective Tabele utilizate Rezultate
etapă
1 Identificarea Lc (N, Nc) I, anexa 4 Lc = …
n 1 = n2 = … = n7
A1 = …; R1 = …
Extragerea elementelor planului de A2 = …; R2 = …
2 IV A, anexa 4
control (Lc, NCA) … …
A7 = …; R7 = …
R7 = A7 + 1
Din lotul N se extrage eşantionul n1 şi
3 – k1 = …
se determină k1
k1 ≤ A1 => lot acceptat
4 k1 se compară cu A1 şi R1 – k1 ≥ R1 => lot respins
A1 < k1 < R1 => controlul
continuă
Din lotul N se extrage eşantionul n2 şi k2 = …
5 –
se determină k2 k = k1 + k2
k ≤ A2 => lot acceptat
6 k se compară cu A2 şi R2. – k ≥ R2 => lot respins
A2 < k < R2 => controlul
continuă
…………………………………………
k7 = …
Din lotul N se extrage eşantionul n7 şi 7
*
se determină k7

k* = ∑ k i
i =1
k* ≤ A7 => lot acceptat
** k* se compară cu A7 şi R7. –
k* ≥ R7 => lot respins

2.2.2.2. Controlul sever pe bază de atribute

Trecerea de la controlul normal (CN) la controlul sever (CS) se


face atunci când prin control normal, două loturi din cinci succesive au
fost declarate respinse.
Dacă zece loturi succesive sunt declarate respinse prin controlul
sever, activitatea de control se întrerupe şi este înştiinţat furnizorul sau
serviciul de producţie.
Revenirea de la control sever la normal se face atunci când cinci
loturi succesive au fost declarate admise prin control sever.

Consideraţii asupra controlului sever:


1. Datele sunt luate din următoarele tabele:
- eşantionare simplă – tabela II B, anexa 4;
- eşantionare dublă – tabela III B, anexa 4;
- eşantionare multiplă – tabela IV B, anexa 4.
2. Volumul eşantionului este identic cu cel din cazul controlului
normal, dar numerele de acceptare şi de respingere sunt mai mici.
3. Criteriile de formulare a deciziilor sunt identice cu cele de la
controlul
prin eşantionare simplă.

2.2.2.3. Controlul redus pe bază de atribute

Trecerea de la control normal la control redus se face în


următoarele situaţii:
- zece loturi succesive au fost declarate admise prin control
normal;
- numărul total de exemplare defecte (k) din toate
eşantioanele controlate este mai mic decât valoarea k tabelată;
- în urma avizului forului conducător (serviciul producţie).

a. Schema unui plan de control cu exigenţă redusă prin eşantionare


simplă

Nr. Tabele
Obiective Rezultate
etapă utilizate
1 Identificarea Lc (N, Nc) I, anexa 4 Lc = …
n=…
Extragerea elementelor planului de A=…
2 II , anexa 4
control (Lc, NCA) R=…
R≠A+1
Din lotul N se extrage eşantionul n şi se
3 – k=…
determină k
k ≤ A => lot acceptat
k ≥ R => lot respins – se trece
Formularea deciziei – k se compară cu A la control normal
4 –
şi R. A < k < R => lot acceptat şi
următoarele controale sunt de
exigenţă normală
b. Schema unui plan de control cu exigenţă redusă prin eşantionare
dublă

Nr. Tabele
Obiective Rezultate
etapă utilizate
1 Identificarea Lc (N, Nc) I, anexa 4 Lc = …
n 1 = n2
Extragerea elementelor planului de A1 = …; R1 = …
2 III, anexa 4
control (Lc, NCA) A2 = …; R2 = …
i = 1,2; Ri ≠ Ai + 1
Din lotul N se extrage eşantionul n1 şi
3 – k1 = …
se determină k1
k1 ≤ A1 => lot acceptat
4 k1 se compară cu A1 şi R1 – k1 ≥ R1 => lot respins
A1 < k1 < R1 => controlul continuă
Din lotul N se extrage eşantionul n2 şi k2 = …
5 –
se determină k2 k = k1 + k2
k ≤ A2 => lot acceptat
k ≥ R2 => lot respins – se trece la
Formularea deciziei – k se compară cu control normal
6 –
A2 şi R2. A2 < k2 < R2 => lot acceptat şi
controlul continuă cu exigenţă
normală
c. Schema unui plan de control redus prin eşantionare multiplă

Nr. Tabele
Obiective Rezultate
etapă utilizate
1 Identificarea Lc (N, Nc) I, anexa 4 Lc = …
n 1 = n2 = … = n7
A1 = …; R1 = …
Extragerea elementelor planului de A2 = …; R2 = …
2 IV C, anexa 4
control (Lc, NCA) … …
A7 = …; R7 = …
Ri ≠ Ai + 1; i = 1 –> 7
Din lotul N se extrage eşantionul n1 şi
3 – k1 = …
se determină k1
k1 ≤ A1 => lot acceptat
4 k1 se compară cu A1 şi R1 – k1 ≥ R1 => lot respins
A1 < k1 < R1 => controlul continuă
Din lotul N se extrage eşantionul n2 şi k2 = …
5 –
se determină k2 k = k1 + k2
k ≤ A2 => lot acceptat
6 k se compară cu A2 şi R2. – k ≥ R2 => lot respins
A2 < k < R2 => controlul continuă
…………………………………………
k7 = …
Din lotul N se extrage eşantionul n7 şi 7
*
se determină k7

k* = k i ∑i =1
k* ≤ A7 => lot acceptat
k* ≥ R7 => lot respins – se trece la
** k* se compară cu A7 şi R7. – control normal
A7 < k* < R7 => lot respins şi
controlul continuă cu exigenţă
normală

Consideraţii generale:
În rezolvarea planurilor de control, trebuie să se ţină cont de toate
semnele convenţionale ce apar în tabelele planurilor de control din care se
extrag literele de cod.
Semnificaţia acestor semne convenţionale este menţionată în
subsol.
Reglarea planurilor de control multiple:
A1 ≠ R1 = Nu se formulează decizia pentru lot
A2 ≠ R2 = acceptat La, chiar şi pentru loturile
ale căror eşantioane nu au
exemplare defecte.

2.2.3. Planuri de control pe bază de măsurare

Se rezolvă conform STAS 8820-72, echivalent cu X06-023


în Franţa şi cu MLD-108 în SUA.
Particularităţile acestor planuri de control sunt:
- nivelele de control folosite sunt în număr de cinci (I, II, III,
IV, V, cel mai folosit nivel fiind cel cu numărul IV).
- litera de cod Lc se extrage din tabela A2 anexa 5.
- se foloseşte numai eşantionare simplă, iar cu valorile xi ale
caracteristicilor de calitate se calculează parametrii statistici ce permit
clasificarea planurilor de control pe bază de măsurare.

Elementele planurilor de control pe bază de măsurare sunt:


- n – volumul eşantionului;
- k – coeficient de acceptare;
- M – procent maxim de produse defecte;
- p – procent estimat de produse defecte.

Reglarea planurilor de control pe bază de măsurare presupune


următoarele etape:
- din lotul N se extrage eşantionul n şi se determină valorile
xi ale caracteristicilor de calitate. Pe baza valorilor xi se determină
parametrii statistici ai unei repartiţii normale.
- pe baza acestora se determină Qi şi Qs, reprezentând indicii
de calitate inferior, respectiv superior. Aceste mărimi caracterizează
dispunerea valorilor xi în câmpul de toleranţă.
Pentru formularea deciziilor, Qi şi Qs se compară cu k sau se
determină procentele estimate de produse defecte pi şi ps, apoi se
compară cu M.
Valorile Qi şi Qs se calculează cu relaţiile matematice ale fiecărui
tip de plan de control.

Clasificarea planurilor de control pe bază de măsurare se poate face


în după diferite criterii:
a. După nivelul de exigenţă:
- control sever (C.S.);
- control normal (C.N.);
- control redus (C.R.).

b. După numărul limitelor de toleranţă (Ti – toleranţa inferioară –


şi/sau Ts – toleranţa superioară) impuse variabilelor:
- cu o limită de toleranţă;
- cu două limite de toleranţă.

c. După natura parametrilor statistici utilizaţi ( x , s, R şi σ), se


diferenţiază planurile de control de tip:
- C2 - foloseşte parametrii ( x , s);
- C3 - foloseşte parametrii ( x , R );
- C4 - foloseşte parametrii ( x , σ).

2.2.3.1. Planuri de control de tip C2


Clasificare:
- C2A1 – cu o singură limită de toleranţă Ti sau Ts, cu decizie
pe k.
- C2A2 – cu o singură limită de toleranţă Ti sau Ts, cu decizie
pe M.
- C2B1 – cu două limite de toleranţă Ti şi Ts, cu o valoare
globală pentru NCA.
- C2B2 – cu două limite de toleranţă Ti şi Ts, cu o valori
individuale pentru NCA.

a. Schema unui plan de control normal şi sever de tip C2A1.


Pentru control normal se foloseşte tabela B1 anexa 5 pentru NCA în
partea de sus, iar pentru control sever se foloseşte tabela B1 anexa 5
pentru NCA în partea de jos.
Nr.
Obiective Tabele utilizate Rezultate
etapă
1 Identificarea Lc (pe baza N, Nc) A5, anexa 5 Lc = …
Din lotul N se extrage eşantionul n şi se xi = …
determină Qi sau Qs
2 – x=…
x − Ti T −x s=…
Qi = ; Qs = s
s s Qi sau Qs
Extragerea elementelor planului de n=…
3 B1, anexa 5
control (Lc, NCA) k=…
Formularea deciziei – Qi sau Qs se Qi(Qs) ≥ k => lot acceptat
4 –
compară cu k. Qi(Qs) < k => lot respins

În cazul controlului redus, elementele planului de control se extrag


din tabela B2 anexa 5.

b. Schema unui plan normal şi server de tip C2A2.

Pentru control normal se foloseşte tabela B3 anexa 5 pentru NCA în


partea de sus, iar pentru control sever se foloseşte tabela B3 anexa 5
pentru NCA în partea de jos.
Nr.
Obiective Tabele utilizate Rezultate
etapă
1 Identificarea Lc (pe baza N, Nc) A2, anexa 5 Lc = …
Extragerea elementelor planului de n=…
2 B3, anexa 5
control (Lc, NCA) M=…
xi = …
Din lotul N se extrage eşantionul n şi se x=…
3 –
determină Qi sau Qs s=…
Qi sau Qs
Se extrag procentele estimate de produse
defecte: pi = …
4 B5, anexa 5
(n, Qi) => pi ps = …
(n, Qs) => ps
Formularea deciziei – pi sau ps se pi(ps) ≤ M => lot acceptat
5 –
compară cu M. pi(ps) > M => lot respins

În cazul controlului redus, planul de control de tip C2 foloseşte


elementele planului de control extrase din tabela B4 anexa 5.

c. Schema unui plan de control normal şi sever de tip C2B1.

Elementele planului de control se extrag din tabela B3 anexa 5,


NCA în partea de sus pentru control normal, respectiv în partea de jos
pentru control sever.

Nr.
Obiective Tabele utilizate Rezultate
etapă
1 Identificarea Lc (pe baza N, Nc) A2, anexa 5 Lc = …
Extragerea elementelor planului de n=…
2 B3, anexa 5
control (Lc, NCA) M=…
xi = …
Din lotul N se extrage eşantionul n şi se
3 – x = …; s = …
determină Qi şi Qs
Qi = …; Qs = …
Se extrag procentele estimate de produse
pi = …; ps = …
defecte:
4 B5, anexa 5
(n, Qi) => pi
p = pi + ps
(n, Qs) => ps
Formularea deciziei – p se compară cu p ≤ M => lot acceptat
5 –
M. p > M => lot respins

În cazul controlului redus, planul de control de tip C2 foloseşte


elementele planului de control extrase don tabela B4 anexa 5.

d. Schema unui plan de control normal şi sever de tip C2B2.

Elementele planului de control se extrag din tabela B3 anexa 5,


NCA în partea de sus pentru control normal, respectiv în partea de jos
pentru control sever.
Nr.
Obiective Tabele utilizate Rezultate
etapă
1 Identificarea Lc (pe baza N, Nc) A2, anexa 5 Lc = …
Extragerea elementelor planului de n=…
2 B3, anexa 5
control (Lc, NCA) Mi = …; Ms = …
xi = …
Din lotul N se extrage eşantionul n şi se
3 – x = …; s = …
determină Qi şi Qs
Qi = …; Qs = …
Se extrag procentele estimate de produse
pi = …; ps = …
defecte:
4 B5, anexa 5
(n, Qi) => pi
p = pi + ps
(n, Qs) => ps
Lotul este acceptat dacă:
Formularea deciziei – pi se compară cu pi ≤ Mi, ps ≤ Ms şi
5 Mi, ps se compară cu Ms, iar p se – p ≤ max(Mi;Ms).
compară cu cel mai mare dintre Mi şi Ms. Lotul este respins dacă cel puţin una
din inecuaţii nu este satisfăcută.

În cazul controlului redus, planul de control de tip C2 foloseşte


elementele planului de control extrase don tabela B4 anexa 5.
Orice plan de control pe bază de măsurare se întrerupe şi lotul este
respins în cazul în care valorile lui Qi şi/sau Qs sunt negative.

2.2.3.2. Schemele planurilor de control de tip C3

Rezolvarea planurilor de control de tip C3 presupune extragerea din


lotul N a unor eşantioane de volum n, pentru care se calculează parametri
− − −
statistici x şi R . Pentru calculul lui R valorile xi ale caracterului de
calitate (i =1→n) sunt grupate în subşiruri de cinci valori şi se calculează
amplitudinea pentru fiecare subşir. Valorile obţinute sunt mediate.

Clasificare:

- planuri de control tip C3A1 – se pune bază pe o singură limită de


toleranţă (Ti sau Ts), cu decizie pe coeficientul de acceptare K. În
cazul controlului normal (CN) elementele se extrag din tabelul C1
anexa 5. La controlul sever (CS) elementele se extrag din tabelul
C1 anexa 5 pentru valorilr NCA plasate la subsol. Pentru cotrol
redus (CR) se foloseşte tabelul C2 anexa 5.

- planuri de control de tip C3A2 – cu o singură limită de toleranţă


şi decizie pe M:
- CN → C3 anexa 5 (pentru valori NCA plasate sus)
- CS → C3 anexa 5 (pentru valori NCA plasate jos)
- CR → C4 anexa 5
- planuri de control de tip C3B1 – două limite de toleranţă (Ti şi
Ts) şi o valoare globală NCA, cu decizie pe procentul maxim de
produse defecte M.
Elementele planului de control se iau din: CN, CS (C3 anexa 5, sus
CN şi jos CS) şi CR (C4 anexa 5).

- planuri de control de tip C3B2 – două limite de toleranţă (Ti şi


Ts) şi valori individuale NCA şi decizie pe M – elementele planului
de control identice cu C3B1.

Calculul valorilor indicilor de calitate

a. Dacă decizia se formulează pe K atunci indicii de calitate se


calculează:
− −
x − Ti Ts − x
Qi = −
şi Qs = −
R R

b. Dacă decizia se formulează pe M iar indicii de calitate se


calculează:
− −
x − Ti Ts − x
Qi = C −
şi Qs = C −
R R
“C” este factor proporţional ce se extrage din tabelul cu elementele
planului de control. Pentru toate planurile de control pentru care decizia
se formulează pe M, procentele estimate de produsele defecte (pi şi ps) se
extrag din tabelul C5 anexa 5.
- în funcţie de n şi Qi se extrage pi
- în funcţie de n şi Qs se extrage ps
Orice plan de control se întrerupe şi se formulează decizia de lot
respins (Lr) dacă un indice de calitate este mai mic decât zero. În cazul
planurilor de control de tip C3 formularea deciziilor respectă aceleaşi
criterii ca la cele de tip C2.

2.2.3.3. Planuri de control tip C4

Pentru rezolvarea acestor planuri de control din lotul N se extrage


eşantionul n, iar din determinările experimentale asupra exemplarelor se
obţin valorile xi ale caracteristicii de calitate. Pentru rezolvarea planurilor

de control se folosesc parametri statistici x şi abaterea mediei pătratică a
populaţiei σ. Un asemenea plan de control se poate practica în condiţiile
în care se cunosc foarte bine procesul analitic şi abaterea σ ce îl
caracterizează.
Clasificare:

- planuri de control tip C4A1 – cu o singură limită de toleranţă (Ti


sau Ts) şi decizie pe K. Elementele se extrag din :
- tabelul D1 anexa 5 (NCA sus pentru CN şi NCA jos pentru CS)
- tabelul D2 anexa 5 pentru CR

- planuri de control de tip C4A2 cu o singură limită de toleranţă


(Ti sau Ts) şi decizie pe M. Elementele se extrag din:
- tabelul D3 anexa 5 (NCA sus pentru CN şi NCA jos pentru CS)
- tabelul D4 anexa 5 pentru CR

- planuri de control tip C4B1 cu două limite de toleranţă (Ti şi Ts)


şi decizie pe M. Elementele planului de control se extrag din:
- tabelul D3 anexa 5 (NCA sus pentru CN şi NCA jos pentru CS)
- tabelul D4 anexa 5 pentru CR
Procentele estimate de produsele defecte se extrag din tabelul D5
anexa 5 doar în funcţie de indicii de calitate (pi funcţie de Qi şi ps funcţie
de Qs)

Calculul valorilor Qi şi Qs

a) Decizie pe K
− −
x − Ti Ts − x
Qi = şi Qs =
σ σ

b) Decizie pe M
− −
x − Ti Ts − x
Qi = V şi Qs = V
σ σ
“V” este coeficient de proporţionalitate care este oferit de tabelul
cu elementul planului de control. Orice plan de control se întrerupe şi
lotul se respinge pentru valori Qi sau Qs mai mici decât zero. Formularea
deciziilor se face pe baza criteriilor folosite la rezolvarea planurilor de
control de tip C2 şi C3

Exigenţa controlului statistic al calităţii lotului de produse pe bază


de măsurări (CS, CN, CR)

Activitatea de control debutează printr-un control cu exigenţă


normală. În funcţie de rezultatul obţinut după controlul unui număr m de
loturi se poate schimba nivelul de exigenţă. În acest scop se calculează
calitatea medie a producţiei în funcţie de pi, ps sau p= pi,+ps
− 1 m − 1 m
p(i ) = ∑ p(i )
m i =1
p( s ) = ∑ p( s )
m i =1
− 1 m
p= ∑ p( j )
m j =1
Dacă valoarea calităţii medii a producţiei devine mai mare decât
− − −
NCA rezultă că p i , p s , p sunt mai mari decât NCA pentru un anumit
număr T de loturi controlate şi se impune trecerea de la CN la CS.
Valorile lui T sunt tabelate în funcţie de tipul planului de control
astfel:

C 2 ( x, s ) 
→ B6 anexa5
− −
C 3 ( x, R ) 
→ C 6 anexa5

C 4 ( x, σ ) 
→ D6 anexa5
Revenirea de la CS la CN se face atunci când calitatea medie a
producţiei calculată în condiţii CS devine mai mică decât NCA.
Trecerea de la CN la CR se face atunci când pentru un anumit
număr de loturi calitatea medie a producţiei nu depăşeşte o anumită
valoare limită.
Pentru schimbarea nivelului de exigenţă de la CN la CR se folosesc
elemente conţinute în tabele:

B7 anexa5 
→ C 2 ( x, s )
− −
C 7 anexa5 
→ C 3 ( x, R)

→ C 4 ( x, σ )
D7 anexa5 
Revenirea de la CN la CR se face în una din următoarele situaţii:
- un lot a fost respins
- calitatea medie a producţiei devine mai mare decât NCA
- activitatea de furnizare a loturilor devine lentă inconstantă.

2.2.4. Consideraţii asupra controlului statistic al calităţii loturilor


de producţie

Controlul statistic presupune parcurgerea următoarelor etape:


- Definirea lotului
- Extragerea eşantionului, transport, depozitare
- Efectuarea determinărilor experimentale; fiecare exemplar din
eşantion este controlat rezultând valorile xi (i = 1→n) pentru
caracteristica de calitate urmărită.
- Interpretarea statistică a valorilor xi

Activitatea globală de control al calităţii poate fi rezumată în mai


multe consideraţii specifice:

1. Alegerea unităţii statistice care se controlează (N → n).


Unitatea statistică se defineşte în funcţie de modul de prezentare al
lotului, cea mai comodă definiţie făcându-se atunci când lotul este format
din bucăţi.
În cazul loturilor livrate în vrac unitatea statistică se stabileşte în
funcţie de starea fizică, de modul de prezentare şi de modul de
repartizare al defectelor pe produs.
În cazul controlului chimic sau biochimic unitatea statistică trebuie
astfel aleasă încât să conţină impuritatea în cantitate decelabilă.
2. Alegerea tipului planului de control.
Planul de control care se aplică trebuie ales astfel încât să ofere cu
obiectivitate o siguranţă foarte mare în a depista loturile corespunzătoare
de cele necorespunzătoare.
Din acest punct de vedere planurile de control pe bază de măsurare
oferă o siguranţă mai mare faţă de planurile de control pe bază de atribute
la acelaşi volum al eşantionului (pentru acelaşi nivel de siguranţă în cazul
planurilor de control pe bază de măsurare se folosesc eşantioane mai
mici, controlul fiind mai economic).
Dezavantaje pentru planuri de control pe bază de măsurare (PCM):
- planurile de control pe bază de măsurare se practică pentru un
singur indicator de calitate
- folosesc un volum mare de aparatură, reactivi, timp şi personal.
3. Alegerea nivelului de eşantionare.
În cazul controlului pe bază de atribute (PCA) eşantionarea poate fi
simplă, dublă sau multiplă.
Cea mai neeconomică este eşantionarea simplă care presupune
folosirea unor eşantioane de volum mare.
Prin comparaţie, în cazul eşantionării duble volumul total al
eşantioanelor controlate poate fi cu 30% mai mic decât volumul folosit la
eşantionarea simplă, iar în cazul eşantionării multiple volumul total poate
fi cu 30-50% mai mic decât la eşantionarea simplă.
Practicarea eşantionării duble sau multiple se poate face atunci
când toate exemplarele lotului sunt accesibile, iar prelevarea
eşantioanelor următoare nu ridică nici un fel de impediment.
Practicarea eşantionării duble (ED) şi eşantionării multiple (EM)
sunt preferate pentru că volumul total al eşantioanelor controlate
afectează direct aspectul economic al activităţii de control; cheltuielile
cele mai mari se înregistrează în cazul unor eşantioane mari.
4. Alegerea volumului lotului (N).
Volumul lotului afectează direct aspectul economic al activităţii de
control. Volumul eşantionului creşte proporţional cu N până la o anumită
dimensiune a lotului, după care creşterea lui N nu mai înregistrează
aceeaşi proporţie.
Folosirea unor loturi de volum mare afectează simultan două
aspecte:
- aspectul economic
- aspectul stimulativ; furnizorul e interesat ca printr-o activitate de
control cât mai redusă să declare acceptat un volum cât mai mare
de produse. Aspectul stimulativ trebuie folosit cu discernământ
pentru a nu lăsa furnizorului şansa ca în loturile foarte mari să
plaseze în zone inaccesibile exemplare necorespunzătoare.
5. Stabilirea valorii nivelului de calitate acceptat (NCA).
În activitatea de control sunt declarate loturi admise cele care au o
fracţie defectivă p mai mică decât o valoare critică pcr. În funcţie de pcr se
stabileşte nivelul de calitate acceptat (NCA). La stabilirea valorii lui
trebuie să se ţină cont de:
- posibilităţile concrete (obiective) ale producătorului de a livra
loturi cu o fracţie defectivă mică
- îndepărtarea exemplarelor defecte din lot este imposibilă şi
ineficientă
- beneficiarul e în foarte multe cazuri producător şi că activitatea
lui productivă e generatoare de loturi care conţin exemplare
defecte.
6. Stabilirea preciziei activităţii de control.
Precizia e un criteriu pe baza căruia loturile sunt declarate admise
sau respinse. Se poate lucra cu o precizie mare când cheltuielile aferente
controlului sunt mici iar penalizările înregistrate sunt mari.
Se poate lucra cu o precizie mică când cheltuielile aferente
controlului sunt mari iar penalizările în lipsa controlului sunt mici.
Precizia activităţii de control e o funcţie γ a cărei valoare se
stabileşte pe criterii pur contabile, asigurând eficienţă şi obiectivitate în
activitatea de control de calitate.
7. Prelevarea eşantionului.
Eşantioanele prelevate din loturile de produse trebuie să fie
reprezentative; procentul de exemplare defecte din eşantioane trebuie să
fie aproximativ egal cu procentul de exemplare defecte din lot.
Pentru a preleva eşantioane reprezentative se respectă următoarele
două principii:
- prelevarea trebuie să fie aleatoare, orice exemplar al lotului
trebuie să aibă aceeaşi şansă de a deveni exemplar al eşantionului
asigurându-se astfel o prelevare obiectivă lipsită de subiectivism.
- în cazul loturilor formate din mai multe subloturi, fiecare sublot
trebuie să aibă o contribuţie la volumul eşantionului egală cu
proporţia pe care o reprezintă în lot..
8. Controlul exemplarelor eşantionului.
Exemplarele eşantionului trebuie controlate astfel încât rezultatele
să nu ofere o imagine denaturată asupra lotului. Pentru aceasta trebuie
respectate următoarele trei principii:
- toate exemplarele eşantionului sunt controlate în aceleaşi condiţii
- în activitatea de control se va utiliza numai aparatură etalonată în
cadrul unor laboratoare abilitate de Institutul de Metrologie.
- în cazul controlului organoleptic calitatea exemplareloi
eşantionului va fi apreciată prin comparare cu etaloane.

2.2.5. Controlul statistic al calităţii procesului tehnologic

Controlul statistic al calităţii procesului tehnologic presupune


prelevarea cu o anumită ritmicitate a unor eşantioane de volum stabilit,
controlul exemplarelor acestor eşantioane şi compararea rezultatelor
obţinute cu cele ce descriu starea normală a procesului tehnologic.
Starea normală a procesului tehnologic se stabileşte în etapa
intitulată “Analiza statistică a procesului tehnologic” care este o etapă de
cunoaştere a procesului tehnologic şi presupune parcurgerea mai multor
faze:
1. Faza determinării cantitative
De pe fluxul tehnologic este prelevat un eşantion de volum mare şi
controlat bucată cu bucată obţinând valorile xi ale caracteristicii de
calitate.
Volumul lui n nu se stabileşte prin metode statistice, ci se alege în
funcţie de volumul producţiei obţinute într-un anumit interval de timp.
2. Faza întocmirii repartiţiei empirice
Pentru valorile xi ale caracteristicii de calitate se întocmeşte
repartiţia empirică (RE)
Nr. curent xi Frecvenţa
fa fr frc
1 x1 a1 a1/n a1/n
2 x2 a2 a2/n (a1+a2)/n
. . . .
. . . .
. . . .
. . . .
m xm am am/n 1
Dacă RE a valorii xi anticipează o repartiţie teoretică normală, se
parcurg şi următoarele etape.

3. Verificarea stabilităţii statice a procesului tehnologic (PT).


Un proces tehnologic este stabil din punct de vedere static atunci
când eşantioanele prelevate sunt formate din valori xi care respectă o
repartiţie teoretică normală (RTN).
Verificarea normalităţii repartiţiei datelor se face pe baza diagramei
Henry (reţeaua de probabilitate).
Folosind repartiţia empirică anterioară şi o scală semilogaritmică se
reprezintă grafic pentru fiecare valoare xi frecvenţa relativă cumulată (frc).
Dacă punctele se distribuie aproximativ pe o dreaptă, valorile xi ale
caracteristicii de calitate respectă o RTN deci avem un proces stabil din
punct de vedere static.
f rc

Fd
F Fds
dx max

Fdi

0 xi
x min x max
Cea mai mică valoare xi care corespunde din punct de vedere al
calităţii şi cea mai mare valoare xi corespunzătoare, definesc câmpul de
împrăştiere al valorilor xi. Pe baza lor se poate stabili valorea fracţiei
defective a procesului tehnologic sau procentul de produse a căror
caracteristici de calitate depăşesc câmpul de împrăştiere.
Pentru valoarea xmin corespunde o valoare a frecvenţei relative
cumulate numită fracţie defectivă inferioară (Fdi), numeric egală cu
probabilitatea ca valorile xi ale caracteristicilor de calitate să fie mai mici
decât valoarea minimă.
Pentru valoarea xmax corespunde o valoare a frecvenţei relative
cumulate numită fracţie defectivă superioară (Fds) egală cu probabilitatea
ca valorile xi ale caracteristicilor de calitate să fie mai mici sau egale cu
valoarea maximă.
Fds=100-Fd xmax ; Fdt=Fdi+Fds
Fds este probabilitatea ca valorile xi să fie mai mari decât valoarea
maximă.

4. Verificarea stabilităţii dinamice a procesului tehnologic.


Stabilitatea dinamică a procesului tehnologic se verifică pe baza
rezultatelor obţinute în urma controlului efectuat asupra unui anumit
număr de eşantioane de volum egal prelevate cu o anumită ritmicitate.
1 2 3 ………….. 13
Valorile xi ale x1 x1,1 x2,1 x3,1 ………….. x13,1
exemplarelor x2 x1,2 x2,2 x3,2 ………….. x13,2
eşantionului x3 x1,3 x2,3 x3,3 ………….. x13,3
x4 x1,4 x2,4 x3,4 ………….. x13,4
x5 x1,5 x2,5 x3,5 ………….. x13,5
x

x1 x2 x3 ………….. x13
R R1 R2 R3 ………….. R13

Pe baza parametrilor eşantionului se stabilesc valorile:

1 13 − 1 13
m = ∑ xi şi R = ∑ Ri
13 i =1 13 i =1


Valorile m şi R se folosesc pentru a stabili limitele de control
statistic pentru cei doi parametri.

Pentru valoarea medie x :

- limita de control statistic superioară LCSS = m+B⋅ R

- limita de control statistic inferioară LCSI = m-B⋅ R

Pentru valoarea R :

- limita de control statistic superioară LCSS = D⋅ R

- limita de control statistic inferioară LCSI = C⋅ R
Parametrii B,C,D sunt mărimi tabelate, dependente de volumul
eşantionului prelevat, valorile lor fiind calculate pentru un nivel de
încredere de 98%.
Cu ajutorul limitelor de control statistic se întocmeşte diagrama de
control statistic.
L C SS
(m )

L C SI
(m )
L
C SS (R )

num ãrul esantionulu


Valorile parametrilor fiecărui eşantion sunt reprezentate grafic.
Dacă valorile mediilor aritmetice şi ale amplitudinii eşantioanelor
se înscriu între limitele de control statistic stabilite, se consideră că
procesul tehnologic este stabil din punct de vedere dinamic.
În aceste condiţii diagrama de control statistic (DCS) devine
instrument de lucru care caracterizează starea normală a procesului
tehnologic.
Aici se încheie analiza statistică a procesului tehnologic care
permite efectuarea unor precizări referitoare la stabilitatea statică şi
dinamică a procesului tehnologic şi a fracţiei defective totale.

2.2.6. Caracterizarea procesului tehnologic

Orice proces tehnologic este caracterizat din trei puncte de vedere:


1. Din punct de vedere al fracţiei defective totale
2. Din punct de vedere al stabilităţii statice sau al reglajului
3. Din punct de vedere al stabilităţii dinamice sau preciziei

2.2.6.1. Fracţia defectivă totală

Orice proces tehnologic se caracterizează printr-un câmp de


toleranţă definit de valorile Ti şi Ts care se stabilesc în funcţie de valorile
xmin şi xmax identificate în etapa verificării stabilităţii statice unde xmin
devine Ti şi xmax devine Ts.
Câmpul de toleranţă e caracterizat prin valoarea centrală
1
Tc = (Ti + Ts )
2
x
Tc Ts i
Ti

Eşantioane de volum n prelevate de pe fluxul tehnologic sunt


caracterizate prin valori xi (i = 1→n) care descriu un câmp de împrăştiere
ce reprezintă domeniul în care se plasează valorile xi ale caracteristicii de
calitate.
Câmpul de împrăştiere (I) este caracterizat prin valoarea centrală:
x min + x max
xc =
2
În condiţii ideale câmpul de împrăştiere are aceeaşi amplitudine cu

câmpul de toleranţă R(I)≡R(T) iar valorile lor centrale sunt identice x c ≡ Tc .
Sub influenţa unor factori perturbatori câmpul de împrăştiere se
poate deplasa spre Ts astfel încât xmax > Ts şi xc > Tc
Ti Tc Ts

x min x max
xc

x min xc x max

În aceste condiţii unele exemplare ale eşantioanelor sunt


caracterizate prin valori xi ce depăşesc Ts constituind un procent de
produse defecte.
În alte situaţii câmpul de împrăştiere poate fi deplasat înspre Ti
(xmin<Ti şi xc<Tc). În acest caz procentul de produse defecte se datorează
exemplarelor a căror valoare xi<Ti.
În unele situaţii câmpul de împrăştiere se deplasează în ambele
sensuri înregistrând un procent total de produse defecte datorat
exemplarelor ale căror valori xmin<Ti şi xmax>Ts.

Ti Tc Ts

x min x max

Fracţia defectivă totală se poate calcula pe baza diagramei Henry


sau pe baza graficului funcţiei de frecvenţă.
f
(x)

S1
S2

Ti m Ts x
i

Fracţia defectivă totală se calculează prin însumarea suprafeţelor S1


şi S2 :
- S1 - probabilitatea ce valorile xi să fie mai mici decât Ti
- S2 - probabilitatea ce valorile xi să fie mai mari decât Ts

2.2.6.2. Stabilitatea statică (reglajul)

Stabilitatea statică se caracterizează cu ajutorul valorilor


parametrilor statici de tendinţă. Un proces tehnologic este stabil din punct
de vedere static dacă eşantioane succesive sunt caracterizate prin valori xi
ce se înscriu în câmpul de toleranţă şi respectă o repartiţie teoretică
normală (RTN). În acest caz:

xj
= ct
n
unde:
n - volumul eşantionului

x j - mediile aritmetice pentru m eşantioane succesive prelevate (j =
1→ n ).
Caracterizarea reglajului procesului tehnologic se poate face şi prin
intermediul celorlalţi parametri de tendinţă sau a coeficientului de reglaj
definit ca raportul valorilor centrale ale câmpului de toleranţa şi
împrăştiere.
Tc
kr =
xc
Reglajul descrie poziţia câmpului de împrăştiere în comparaţie cu
poziţia câmpului de toleranţă.
2.2.6.3. Stabilitatea dinamică (precizia)

Stabilitatea dinamică este caracterizată cu ajutorul parametrilor


statici de împrăştiere. Eşantioane succesive trebuie să aibă parametri
statici de împrăştiere identici.
sj
= ct
n
sj – abaterile standard ale eşantioanelor succesive m (j = 1→ m ).
Pentru caracterizarea preciziei se pot folosi şi ceilalţi parametrii
statici de împrăştiere sau coeficientul de precizie.
T
kp =
6s
Precizia descrie dimensiunea câmpului de împrăştiere.

Procesele tehnologice pot fi clasificate în funcţie de reglajul şi


precizia care le caracterizează.

A. Proces tehnologic stabil ca reglaj şi precizie.


xi
LCSS
(m)

m Ts

xc
LCSI
(m)
LCSS Ti
(R)

numãrul esantionului numãrul esantionului

Un proces tehnologic stabil ca reglaj şi precizie oferă o succesiune


de eşantioane a căror parametrii statici se înscriu între limitele de control
statistic ale diagramei de control statistic.

În acest caz fracţia defectivă totală se poate calcula cu ajutorul


graficului de frecvenţă.
f
(x)
Fdt = S1+S2

S1 = 0,5 - φ(z1)

S2 = 0,5 - φ(z2)

S1
S2 xi − x x − xi
z1 = z2 =
s s
Ti m Ts x
i

Dacă z1 = z2 = z, atunci Fdt = 1 – 2 φ(z)

Pentru un proces tehnologic stabil ca reglaj şi precizie, apare o


fracţie defectivă proprie lui Fd, datorată erorilor aleatoare.
 x − xc   x c − x min 
Fd = 1 − 2φ  max  = 1 − 2φ  
 s   s 
Valoarea fracţiei defective e cu atât mai mică cu cât abaterea medie
pătratică a eşantioanelor e mai mică sau cu cât câmpul de împrăştiere e
mai mare.
T
Fracţia defectivă proprie poate prezenta cazurile (pentru k p = ):
6s
a. 7s < R(T) ⇒ Fd ≤ 0,05% ⇒ avem un proces tehnologic foarte
bine reglat şi foarte precis
b. 5s < R(T) < 7s ⇒ Fd ≤ 1,24% ⇒ avem un proces tehnologic bine
reglat şi precis (poate fi uşor labilizat din punct de vedere al reglajului).
c. 5s > R(T) ⇒ Fd > 1,24% ⇒ avem un proces tehnologic ce trebuie
controlat din punct de vedere al factorilor perturbatori care afectează
precizia.

B. Proces tehnologic stabil ca precizie şi instabil ca reglaj.


În acest caz procesul tehnologic furnizează eşantioane succesive a
căror amplitudine e mai mică decât limita de control statistic a
amplitudinii, dar în unele cazuri mediile aritmetice depăşesc limitele
xi

LCSS
(m)

m Ts

xc
LCSI
(m)
LCSS (R) Ti

numãrul esantionului numãrul esantionului


controlului statistic superior.

Fdt – fracţia defectivă totală - se poate calcula prin una din


metodele amintite. Dacă valoarea ei nu e prea mare activitatea productivă
poate continua acordând o atenţie deosebită factorilor care afectează
reglajul.

C. Proces tehnologic instabil ca precizie şi stabil (instabil) ca


xi

xi

LCSS
(m)

xc

LCSI
(m)
LCSS (R)

numãrul esantionului numãrul esantionului

Proces tehnologic instabil ca precizie si stabil ca reglaj


reglaj.

În acest caz eşantioane succesive au aceeaşi valoare centrală dar


amplitudinile lor sunt diferite, unele depăşind limita de control statistic
superioară a acestui parametru.

D. Proces tehnologic instabil ca precizie şi reglaj.


xi
xi
LCSS
(m)

LCSI
(m)
LCSS
(R)

numãrul esantionului numãrul esantionului

Proces tehnologic instabil ca precizie si reglaj


În acest caz se înregistrează valori mari ale fracţiei defective
datorată unui număr mare de factori perturbatori ce afectează procesul
tehnologic. Se impune oprirea activităţii productive, eliminarea tuturor
factorilor perturbatori, iar la reluarea activităţii productive se parcurge din
nou etapa “analiza statistică a procesului tehnologic”.

2.2.6.4. Controlul statistic propriu-zis al calităţii proceselor


tehnologice

Controlul statistic propriu-zis presupune prelevarea cu o anumită


ritmicitate a unor eşantioane de volum egal, controlul acestor eşantioane
şi compararea rezultatelor obţinute cu cele ce descriu stare normală a
procesului tehnologic. Volumele eşantioanelor şi ritmicitatea acestora se
stabilesc în funcţie de volumul activităţii productive.
Controlul statistic propriu-zis poate fi:
- control statistic pe bază de măsurare
- control statistic prin verificare la corespunzător-necorespunzător
- control statistic pe baza numărului de defecte.
Pentru fiecare din ele se practică o analiză statistică proprie pentru
a defini starea normală a procesului tehnologic.

S-ar putea să vă placă și