Catedra Tehnologie Electronic i Fiabilitate Laborator de Calitate - Fiabilitate LUCRARE DE LABORATOR

Influena solicitrilor i a mediului ambiant asupra ratei defectrilor componentelor electronice 1. Scopul lucrrii
Studiul influenei solicitrilor i a mediului ambiant asupra ratei defectrilor componentelor electronice.

2. Noiuni teoretice
Rata (intensitatea) defectrilor este modelat folosind legea lui Arrhenius i depinde de: - solicitrile electrice; - solicitrile mecanice; - solicitrile termice. S-a stabilit urmtoarea relaie general, care aproximeaz n bune condiii legtura dintre rata defectrilor pentru o componenta i nivelul de solicitare:

= r + ( A i ) exp( )
i =1

B T

(1)

unde:

r - rata de defectare care nu este sensibil la temperatur sau alte solicitri;

Ai = coeficieni de tip Arrhenius, care evideniaz suprapunerea efectelor temperaturii i altor solicitri;

n cazul elementelor sensibile la temperatur i solicitri electrice, se obine o bun aproximaie cu rezultatele experimentale considernd m = 2 i:

A
i =0

= 0 + 1 K + 2 K n

(2)

unde: solicitri;

0=

rata de defectare sensibil la temperatur, dar nu este sensibil la alte

1 , 2 = coeficieni care evideniaz contribuia solicitrilor electrice;

K = raportul dintre solicitarea electric de lucru i solicitarea electric maxim prescris, iar n > 1.

innd cont de relaia (2), relaia (1) devine:

= r + ( 0 + 1K + 2 K n ) exp( )

B T

(3)

Relaia (2) reprezint un model matematic general, care are n vedere similitudinea comportrii componentelor electronice n timp i sub influena temperaturii i solicitrii electrice. Q B= a k Qa = energia de activare a mecanismului de defectare; k = constanta Boltzmann = 1,38 10-23 J/K

2.1. Rata defectrilor pentru rezistoare

Rezultatele din exploatare au evideniat faptul c, dei legea lui Arrhenius este considerat aplicabil n cazul rezistoarelor, se obin rezultate bune dac se folosete un model matematic ce aproximeaz log-liniar aceast lege, potrivit cruia rata de defectare a rezistoarelor se dubleaz pentru fiecare cretere a temperaturii mediului ambiant cu o anumit valoare R (caracteristica tipului de rezistor). Exemplu: pentru rezistoarele cu pelicul de carbon, pe baza datelor experimentale rezult:
R = 27,5 grade C ; n = 2, ceea ce conduce la:

r = 0,2 10-9 ore-1 ; 0 = 1 = 0 ; 2 = 4,8 10 9 ore 1

30 27 , 5

R = 0,2 + 4,8 K 2
2

(4)

K=

Pd ; Pd = putere disipat de rezistor n condiii reale de lucru, P max

Pmax = putere disipat maxim prevzut n specificaii pentru acest tip de rezistor. K = raport ntre solicitarea electric de lucru i solicitarea electric maxim prescris (pentru rezistor). Pe baza relaiei (4) a fost trasat familia de curbe care dau dependena ratei de defectare a rezistoarelor cu pelicula de carbon n funcie de solicitrile electrice i termice.

R
Pd/Pmax 1,0 0,8
0,6 0,4 0,2 0,0 5 3
2

Limita condiiilor maxime de funcionare

0,7 0,3 0,2

20

40

Temperatura ambiant (C) 60 80 100 120 140 160 180

Fig.1 Variaia ratei de defectare a rezistoarelor cu pelicul de carbon n funcie de solicitrile electrice i termice
2

n Fig.1 s-a reprezentat prin linie ntrerupt limita condiiilor maxime de lucru, care se extinde de la intersecia curbei pentru Pd/Pmax = 0 cu ordonata de 165 C. Rezult c la solicitarea electric maxim a rezistorului (Pd = Pmax) temperatura de lucru se va reduce la 70 C, la solicitare nul. Asemntor se pot trasa familii de curbe de solicitare i pentru alte categorii de rezistoare; aceste curbe sunt date n cataloagele i normativele specializate fiind utilizate n calculele de fiabilitate previzional. Expresia general, n cazul prediciei (conform MIL-HDBK-217, pg.32) care se recomand n cazul rezistoarelor, este :

p = b T P S Q E 10 6 defectari / ore
unde:

(5)

p rata de defectare n condiii preconizate de funcionare pentru componenta analizat; b rata de defectare de baz (cunoscut), din standard; E factorul de ajustare referitor la mediu, care ine cont de influena mediului, alta dect temperatura (se refer la condiiile de operare, cum ar fi: vibraia, umiditatea etc.); T factorul de corecie de temperatur, din standard; Q factorul de corecie n calitate (este folosit pentru a lua n considerare gradul de control al fabricaiei sub care componenta a fost fabricat i testat nainte de a fi expediat); P factori de putere, din standard; S factori de stres, din standard; Factorul de temperatur ( T ) se calculeaz dup urmtoarea formul:

T = exp

Ea 5 8,617 10

1 1 T + 273 298

(6)

unde: Ea=0,2 (vezi MIL-HDBK-217); Ea=0,08 (vezi MIL-HDBK-217). T Temperatura carcasei rezistorului. Poate fi aproximat ca fiind temperatura ambiant a componentei pentru puteri disipate mici.

2.2. Rata defectrilor pentru condensatoare

n cazul condensatoarelor rata defectrilor se calculeaz dup urmtoarea formul (conform MIL-HDBK-217, pg.35) :

p = b T C V SR Q E 10 6 defectari / ore
unde:

(7)

p rata de defectare n condiii preconizate de funcionare pentru componenta analizat; b rata de defectare de baz (cunoscut), din standard;
3

E factorul de ajustare referitor la mediu, care ine cont de influena mediului, alta dect temperatura (se refer la condiiile de operare, cum ar fi: vibraia, umiditatea etc.); T factorul de corecie de temperatur, din standard; Q factorul de corecie n calitate (este folosit pentru a lua n considerare gradul de control al fabricaiei sub care componenta a fost fabricat i testat nainte de a fi expediat); SR factori modelare componenta rezistiv (series rezistence factor); SR = 1. V factori de solicitare tensiune (voltage stress factor), din standard; Aproximaia matematic log-liniar pentru relaia lui Arrhenius prezint de asemenea interes n gama de temperaturi, potrivit creia rata de defectare se dubleaz la fiecare cretere a temperaturii mediului ambiant cu o anumit valoare C , caracteristic fiecrui tip de condensator. De aceea, pentru determinarea curbelor care dau variaia ratei defectrilor condensatoarelor, n funcie de solicitri, se poate utiliza o relaie de forma:

C = r + ( Ai )2
i =0

30 C

(8)

unde: C rata de defectare a condensatorului n condiii de solicitare; C - creterea temperaturii mediului ambiant pentru care se dubleaz rata de defectare a condensatorului;

2.3. Rata defectrilor pentru tranzistoare

n cazul tranzistoarelor de tip NPN i PNP (frecvena < 200MHz), rata defectrilor se calculeaz dup urmtoarea formul (conform MIL-HDBK-217, pg.169):

p = b T A R S Q E 10 6 defectari / ore
unde:

(9)

p rata de defectare n condiii preconizate de funcionare pentru componenta analizat; b rata de defectare de baz (cunoscut), din standard; T factorul de corecie de temperatur, din standard; A factorul ce depinde de domeniul de aplicare a tranzistorului (ca amplificator liniar); R factorul de putere nominal, din standard; S factori de stres, din standard; Q factorul de corecie n calitate (este folosit pentru a lua n considerare gradul de control al fabricaiei sub care componenta a fost fabricat i testat nainte de a fi expediat); E factorul de ajustare referitor la mediu, care ine cont de influena mediului, alta dect temperatura (se refer la condiiile de operare, cum ar fi: vibraia, umiditatea etc.);
4

Valori ale coeficientului de corecie Km pentru diferite condiii de utilizare a componentelor electronice Condiii de utilizare a componentei ncperi amenajate i laboratoare Instalaii staionare, la sol Aparatura montat pe nave n compartimente protejate Aparatura dispus pe platforme de cale ferat Aparatura alpin Aparatura de bord montat pe avioane Aparatura de bord montat pe rachete moderne puternice Km 1 16 28 50 90 120 500

Funcia de fiabilitate pentru componentele electronice se calculeaz cu relaia:

R=e

pt

(10)

Media timpului de bun funcionare pentru componentele electronice se calculeaz cu relaia:

1 1 = MTBF= Rata de defectare p

3. Desfurarea lucrrii

(11)

Se va analiza fiabilitatea unui sistem cu n componente (ca n figura de mai jos), n urmtoarele condiii de lucru: conditii de laborator, condiii de mediu naval i mediu aerian. R = rezistor cu pelicula de carbon; C = condensator ceramic; T = tranzistor cu siliciu. - temperatura mediului ambiant: 20-22 C (se variaz funcie de mediul considerat); - Km = 1; K = 0,5; - legturi unidirecionale; - timp de lucru: 1000 ore, 10000 ore, 100000 ore, etc.

R C T R R

R C

-Se vor trasa graficele funciei de fiabilitate pentru componentele circuitului, n condiiile de funcionare date mai sus; -S se comenteze rezultatele; -S se mbunteasc performanele de fiabilitate ale amplificatorului din sistem micornd nivelul solicitrilor electrice.

4. Chestiuni asupra desfurrii lucrrii

Se vor accesa www.sqconline.com (seciunea MIL-HDBK-217) i/sau bazele de date (RDF 93) puse la dispoziie n laboratorul de fiabilitate. Standardul MIL-HDBK-217: Predicia fiabilitii componentelor electronice prezint modele de predicie a ratelor de defectare a componentelor, care au fost obinute dintr-o colectare a datelor pe scar larg i activiti de analiz, moduri de defectare i fizica studiilor de defectare. Conceptul de baz, care subliniaz predicia de fiabilitate, este c defectarea (cderea) sistemului este o reflectare a defectrii prilor. n consecin, ratele de defectare ale prilor sunt aplicabile n cadrul unei serii de modele de fiabilitate astfel c rata de defectare a sistemului este dat de suma ratelor de defectare a prilor individuale. Se va calcula MTBF pentru rezistoare, condensatoare i tranzistor variind temperatura mediului ambiant (n pagina sqconline.com).