Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Cap6Incercari de Fiabilitate
Cap6Incercari de Fiabilitate
NCERCRI DE FIABILITATE
6.1 CLASIFICARE
57
Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un eantion de
dispozitive la care se nregistreaz un numr r de defeciuni;
Determinarea intervalului de timp n care se afl valoarea MTBF pentru
ntreaga populaie de dispozitive, acceptndu-se un nivel de risc (sau
un nivel de ncredere p = 1 -
a) ncercri cenzurate fr nlocuire dispozitivele defectate nu se nlocuiesc.
O ncercare efectuat asupra unui eantion alctuit din N0 dipozitive este
cenzurat la nivelul r dac se ncheie n momentul tr de apariie a celei de a r a
defeciuni, numrul r N0 fiind ales nainte de nceperea ncercrii.
N
N0
N0 r . . .
r+1
r
r-1
...
3
2
1
t1 t2 t3 tr-1 tr t
r
T t i N0 r t r
i 1
N0*
N0* -1
...
r
...
3, N0*+3
2, N0*+2, N0*+r-1
1, N0*+1,N0*+r-2
58
Limitele intervalului n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga
populaie de dispozitive
Relaiile prezentate n continuare sunt aplicabile n cazul n care
dispozitivele se afl n perioada vieii utile, atunci cnd acioneaz legea
exponenial.
2T
m1c
, limita inferioar;
2 2r ,
2
2T
m 2c
, limita superioar,
2 2r ,1
2
2T
m1n
2
2r , , limita inferioar;
2T
m 2n
2
2r ,1 , limita superioar.
Scopuri:
Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un eantion de
dispozitive la care, pe durata t*, se nregistreaz un numr r de defeciuni;
Determinarea intervalului de timp n care se afl valoarea MTBF pentru
ntreaga populaie de dispozitive, acceptndu-se un nivel de risc (sau
un nivel de ncredere p = 1 -
N
N0
N0 r . . .
r+1
r
r-1
...
3
2
1
59
t1 t2 t3 tr-1 tr t* t
r
T t i N0 r t *
i 1
b) ncercri trunchiate cu nlocuire dispozitivele defectate se nlocuiesc
imediat dup producerea defeciunii.
N0*
N0* -1
...
...
3, N0*+3
2, N0*+2, N0*+r-1, N0+r
1, N0*+1,N0*+r-2
2T
m1c
, limita inferioar;
2 2r 2,
2
2T
m 2c
, limita superioar,
2 2r ,1
2
2T
m1n
2
2r 2,
60
, limita inferioar;
2T
m 2n
2
2r ,1 , limita superioar.
Scop:
Se urmrete verificarea nivelului de fiabilitate al unor dispozitive pe baza MTBF.
1 1 1 1
ln b M Ms ln a M Ms
i T r i T
Ms Ms Ms Ms
ln ln ln ln
Mi Mi Mi Mi
care reprezint, la limit, ecuaiile a dou drepte ce delimiteaz trei domenii n planul
graficului:
A + BT < r< C + BT.
1 1
ln b ln a
i C
A Mi Ms
Unde Ms , B M .
ln M ln s
Mi ln s Mi
Mi
La limit, rezult valorile de referin pentru timpul cumulat de func ionare
corespunztor numrului r de dispozitive defectate:
1 A
Tsup r ;
B B
1 C
Tinf r .
B B
62
Condiiile de acceptare sau respingere a dispozitivelor devin:
1 A
- dac T Tsup r , dispozitivele sunt acceptate;
B B
O reprezentare grafic a desfurrii unui astfel de test poate avea una din
formele prezentate n figura urmtoare.
T Dispozitivele se
accept Test 1 C
(ipoteza H0 este neconcludent Tinf r
valabil) B B
Dispozitivele
sunt respinse
(este valabil ipoteza H1)
1 A
Tsup r 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 r
B B
63