Universitatea Politehnic Bucureti

Facultatea de Electronic, Telecomunicaii i Tehnologia Informaiei

Laboratorul 5

Influena solicitrilor i a mediului ambiant

asupra ratei defectrilor componentelor electronice

Student: Radu Mihaela

Grupa: 441B

1. Scopul lucrrii

Studiul influenei solicitrilor i a mediului ambiant asupra ratei defectrilor componentelor

electronice.

2. Noiuni teoretice

Rata (intensitatea) defectorilor este modelat folosind legea lui Arrhenius i depinde de:
- solicitrile electrice;
- solicitrile mecanice;
- solicitrile termice.
S-a stabilit urmtoarea relaie general, care aproximeaz n bune condiii legtura dintre rata
defectrilor pentru o componenta i nivelul de solicitare:

unde:
r - rata de defectare care nu este sensibil la temperatur sau alte solicitri;
Ai = coeficieni de tip Arrhenius, care evideniaz suprapunerea efectelor temperaturii i altor
solicitri;
n cazul elementelor sensibile la temperatur i solicitri electrice, se obine o bun aproximaie
cu rezultatele experimentale considernd m = 2 i:

unde: 0 = rata de defectare sensibil la temperatur, dar nu este sensibil la alte solicitri;
1 ,2 = coeficieni care evideniaz contribuia solicitrilor electrice;
K = raportul dintre solicitarea electric de lucru i solicitarea electric maxim prescris, iar
n >1.
innd cont de relaia (2), relaia (1) devine:

Relaia (2) reprezint un model matematic general, care are n vedere similitudinea
comportrii componentelor electronice n timp i sub influena temperaturii i solicitrii
electrice.

Qa = energia de activare a mecanismului de defectare;

k = constanta Boltzmann = 1,38 10-23 J/K
2.1. Rata defectrilor pentru rezistoare
Rezultatele din exploatare au evideniat faptul c, dei legea lui Arrhenius este considerat
aplicabil n cazul rezistoarelor, se obin rezultate bune dac se folosete un model
matematic ce aproximeaz log-liniar aceast lege, potrivit cruia rata de defectare a
rezistoarelor se dubleaz pentru fiecare cretere a temperaturii mediului ambiant cu o
anumit valoare R (caracteristica tipului de rezistor).
Exemplu: pentru rezistoarele cu pelicul de carbon, pe baza datelor experimentale rezult:
i n = 2, ceea
ce conduce la:

Pd = putere disipat de rezistor n condiii reale de lucru,

Pmax = putere disipat maxim prevzut n specificaii pentru acest tip de rezistor.
K = raport ntre solicitarea electric de lucru i solicitarea electric maxim prescris
(pentru rezistor).
Pe baza relaiei (4) a fost trasat familia de curbe care dau dependena ratei de defectare a
rezistoarelor cu pelicula de carbon n funcie de solicitrile electrice i termice.

n Fig.1 s-a reprezentat prin linie ntrerupt limita condiiilor maxime de lucru, care se
extinde de la intersecia curbei pentru Pd/Pmax = 0 cu ordonata de 165 C. Rezult c la
solicitarea electric maxim a rezistorului (Pd = Pmax) temperatura de lucru se va reduce
la 70 C, la solicitare nul. Asemntor se pot trasa familii de curbe de solicitare i pentru
alte categorii de rezistoare; aceste curbe sunt date n cataloagele i normativele specializate
fiind utilizate n calculele de fiabilitate previzional. Expresia general, n cazul prediciei
(conform MIL-HDBK-217, pg.32) care se
recomand n cazul rezistoarelor, este :

unde:
p rata de defectare n condiii preconizate de funcionare pentru componenta
analizat;
b rata de defectare de baz (cunoscut), din standard;
E factorul de ajustare referitor la mediu, care ine cont de influena mediului, alta
dect temperatura (se refer la condiiile de operare, cum ar fi: vibraia, umiditatea
etc.);
T factorul de corecie de temperatur, din standard;
Q factorul de corecie n calitate (este folosit pentru a lua n considerare gradul de
control al fabricaiei sub care componenta a fost fabricat i testat nainte de a fi
expediat);
P factori de putere, din standard;
S factori de stres, din standard;
Factorul de temperatur ( T ) se calculeaz dup urmtoarea formul:

unde:
Ea=0,2 (vezi MIL-HDBK-217);
Ea=0,08 (vezi MIL-HDBK-217).
T Temperatura carcasei rezistorului. Poate fi aproximat ca fiind temperatura
ambiant a componentei pentru puteri disipate mici.

2.2. Rata defectrilor pentru condensatoare

n cazul condensatoarelor rata defectrilor se calculeaz dup urmtoarea formul
(conform MIL-HDBK-217, pg.35) :

unde:
p rata de defectare n condiii preconizate de funcionare pentru componenta analizat;
b rata de defectare de baz (cunoscut), din standard;
E factorul de ajustare referitor la mediu, care ine cont de influena mediului, alta
dect temperatura (se refer la condiiile de operare, cum ar fi: vibraia, umiditatea etc.);
T factorul de corecie de temperatur, din standard;
Q factorul de corecie n calitate (este folosit pentru a lua n considerare gradul de
control al fabricaiei sub care componenta a fost fabricat i testat nainte de a fi
expediat);
SR factori modelare componenta rezistiv (series rezistence factor); SR = 1.
V factori de solicitare tensiune (voltage stress factor), din standard;
Aproximaia matematic log-liniar pentru relaia lui Arrhenius prezint de asemenea
interes n gama de temperaturi, potrivit creia rata de defectare se dubleaz la fiecare
cretere a temperaturii mediului ambiant cu o anumit valoare C , caracteristic
fiecrui tip de condensator. De aceea, pentru determinarea curbelor care dau variaia ratei
defectrilor condensatoarelor, n funcie de solicitri, se poate utiliza o relaie de forma:
unde:
C rata de defectare a condensatorului n condiii de solicitare;
C - creterea temperaturii mediului ambiant pentru care se dubleaz rata de
defectare a condensatorului;

2.3. Rata defectrilor pentru tranzistoare

n cazul tranzistoarelor de tip NPN i PNP (frecvena < 200MHz), rata defectrilor se
calculeaz dup urmtoarea formul (conform MIL-HDBK-217, pg.169):

unde:
p rata de defectare n condiii preconizate de funcionare pentru componenta
analizat;
b rata de defectare de baz (cunoscut), din standard;
T factorul de corecie de temperatur, din standard;
A factorul ce depinde de domeniul de aplicare a tranzistorului (ca amplificator
liniar);
R factorul de putere nominal, din standard;
S factori de stres, din standard;
Q factorul de corecie n calitate (este folosit pentru a lua n considerare gradul de
control al fabricaiei sub care componenta a fost fabricat i testat nainte de a fi
expediat);
E factorul de ajustare referitor la mediu, care ine cont de influena mediului, alta dect
temperatura (se refer la condiiile de operare, cum ar fi: vibraia, umiditatea
etc.);

Funcia de fiabilitate pentru componentele electronice se calculeaz cu relaia:

 Media timpului de bun funcionare pentru componentele electronice se calculeaz
cu relaia:

Desfasurarea lucrarii:

b T k S Q E P p MTBF
0.0037 0.95 0.5 1,231 0.3 4 0.763 1.98088E-06 504825
0.0037 1.4 0.5 1,231 0.3 12 0.763 8.75759E-06 114186.6
0.0037 1.6 0.5 1,231 0.3 23 0.763 1.91833E-05 52128.67

1. Rezistoare
a) Media timpului de buna functionare MTBF

b) Functia de fiabilitate R

t(ore) R
20(C) 60(C) 80(C)
0 1 1 1
100 0.999801931 0.999124624 0.998083508
200 0.999603902 0.998250014 0.99617069
300 0.999405911 0.99737617 0.994261537
400 0.99920796 0.99650309 0.992356043
500 0.999010048 0.995630775 0.990454202
600 0.998812175 0.994759224 0.988556004
700 0.998614342 0.993888436 0.986661445
800 0.998416547 0.993018409 0.984770517
900 0.998218792 0.992149145 0.982883213
1000 0.998021076 0.991280641 0.980999525

c) Reprezentarea grafica a functiei de fiabilitate R

2. Condensatoare
a) Media timpului de buna functionare MTBF

b T C V SR E Q p MTBF
0.00051 0.91 0.94 1.4 2 1 0.01 1.22151E-11 8.19E+10
0.00051 1.85 0.94 1.4 2 7 0.01 1.7383E-10 5.75E+09
0.00051 2.48 0.94 1.4 2 15 0.01 4.99343E-10 2E+09

b) Functia de fiabilitate R

t(ore
) R
20(C) 60(C) 80(C)
1.0000000000E+0 1.0000000000E+0 1.0000000000E+0
0 0 0 0
100 9.9999999878E-01 9.9999998262E-01 9.9999995007E-01
200 9.9999999756E-01 9.9999996523E-01 9.9999990013E-01
300 9.9999999634E-01 9.9999994785E-01 9.9999985020E-01
400 9.9999999511E-01 9.9999993047E-01 9.9999980026E-01
500 9.9999999389E-01 9.9999991308E-01 9.9999975033E-01
600 9.9999999267E-01 9.9999989570E-01 9.9999970039E-01
700 9.9999999145E-01 9.9999987832E-01 9.9999965046E-01
800 9.9999999023E-01 9.9999986094E-01 9.9999960053E-01
 900 9.9999998901E-01 9.9999984355E-01 9.9999955059E-01
1000 9.9999998778E-01 9.9999982617E-01 9.9999950066E-01

c) Reprezentarea grafica a functiei de fiabilitate R

3. Tranzistoare
a) Media timpului de buna functionare MTBF

b T A R S Q E p MTBF
0.00074 1 1.5 0.77 0.16 0.7 1 9.57264E-11 1.04E+10
0.00074 2.1 1.5 0.77 0.16 0.7 9 1.80923E-09 5.53E+08
0.00074 3 1.5 0.77 0.16 0.7 29 8.3282E-09 1.2E+08

b) Functia de fiabilitate R

t(ore
) R
20(C) 60(C) 80(C)
0 1 1 1
 100 0.99999999 0.999999983 0.99999995
200 0.999999981 0.999999965 0.9999999
300 0.999999971 0.999999948 0.99999985
400 0.999999962 0.99999993 0.9999998
500 0.999999952 0.999999913 0.99999975
600 0.999999943 0.999999896 0.9999997
700 0.999999933 0.999999878 0.99999965
800 0.999999923 0.999999861 0.999999601
900 0.999999914 0.999999844 0.999999551
1000 0.999999904 0.999999826 0.999999501

c) Reprezentarea grafica a functiei de fiabilitate R