Site 1:

Cu numai douzeci de ani in urm a fost introdus microscopul de for

atomic, care este un dispozitiv capabil s vad atomii de pe o suprafa
bucat cu bucat. Pn acum ns, microscopul nu a fost in stare s
identifice atomii ca element chimic . Acum este, ne anun un grup de
cercettori de la Universitatea din Osaka.

Principiul de functionare al microscopului de forta atomica este simplu. El consta intr-

un un virf microscopic, analizor, care se afla la capatul unei bare miscule, numita
cantilever, si care scaneaza o suprafata plina de rugozitati. Virful analizor este
deflectat de diferitele rugozitati, iar deflectia cantileverului este apoi inregistrata, de
cele mai multe ori cu ajutorul unui laser. In cazul atomilor, aceste rugozitati
masurate sunt chiar suprafetele microscopice al atomilor, de ordinul a zeci de
milionimi de milimetru, iar relieful obtinut ne da structura atomica a suprafetei. Cum
atomii diferiti au cam aceleasi dimensiuni, tehnica traditionala masoara acelasi relief
al atomilor de pe suprafata, indiferent de ce element chimic este acesta.

Site 2: STRUCTURA CHIMIC I MORFOLOGIC A GRANULELOR DE AMIDON

Microscopia de for atomic (AFM) a fost folosit pentru a investiga micro i
nanostructurile granulelor de amidon din porumb cultivat n Romnia [432, 433].
Dimensiunea, forma i morfologia de suprafa a granulelor de amidon nativ din
porumb sunt ilustrate prin astfel de imagini O selecie a imaginilor AFM ale
granulelor de amidon din porumb compactate n tablete este prezentat n Fig. 1,
iar a celor ntinse ca film subire n Fig. 7. Din imaginile AFM, topografiile 2D
(Figura 1a, 7a) i topografiile 3D (Figura 1d, 7d) precum i din imaginile de faz
(Figura 1b, 7b) i imaginile de amplitudine (Figura 1c, 7c), se poate observa
structurarea superficial a granulelor de amidon, n special prezena ieiturilor
(noduli sau particule mici rotunjite sau alungite).
Structurile de suprafa investigate prin imagistica AFM, precum nodulii ieii n
afar de pe suprafaa granulelor de amidon, au diverse dimensiuni, aflate ntr-un
spectru larg de valori, de la 30 nm la 80 nm. In mod frecvent, particule fine s-au
autoasamblat pe suprafaa granulei n aranjamente destul de puternice, formnd
iruri. Organizarea superficial a granulei de amidon este probabil constituit din
blocuri, ca elemente structurale, care au fost deja propuse pentru asocierea i
clusterizarea moleculelor elicoidale de amilopectin nuntrul granulei de amidon
i pe suprafaa acesteia. Noi sugerm c cele mai mici particule care au fost
vizualizate ar putea de asemenea s corespund clusterilor individuali ai
amilopectinei, ceea ce este n acord substanial cu modelul de cluster propus i
cu conceptul blocurilor admise in literatura de specialitate. Existena unor zone
destul de netede cu o rugozitate superficial sczut ori zone mai rugoase pe
granulele de amidon este confirmat.

Site 3:Microscopia de forta aromica (AFM) este o tehnica de reprezentare vizuala,

fiind o unealta importanta in caracterizarea materialelor, in particular in
domeniul nanostiintei.
Microscopul de forte atomica a)face parte din familia de instrumente
SPM(microscopie cu sonda de scanare), instrumente utilizate pentru a studia
proprietatile suprafetelor materialelor de ordinal unui micron pana la nivel
atomic.
Aplicatiile AFM-ului snt diverse :studiul suprafetei, nanolitografie, analiza
rugozitatii atat de-a lungul unei linii cat si a unei anumite arii din suprafata
materialului, iar in mod special posibilitatea reprezentarii grafice a datelor
masurate , de interes major fiind reprezentarea 3D b) EasyScan2 permite
vizualizarea directa a suprafetelor pana la nivelul atomic, obtinandu-se astfel
informatii utile in ce priveste dependent structurii suprafetei functie de diversele
motode de procesare . De asemenea , se poate vizualiza modul de dispunere a
dopantilor , defectele de retea , etc.
Site 4: 3.4. Microscopia de for atomic (AFM) Microscopia de for atomic este
o tehnic microscopic de investigare a materialelor n general i a filmelor
subiri n special, care ne ofer informaii despre topografia suprafeei i
rugozitatea acesteia [41]. Aproape orice suprafa solid poate fi investigat cu
aceast tehnic. Probele pot fi investigate n aer, lichid sau vid. Microscopia de
for atomic a fost inventat la IBM Zurich, n anul 1981 de ctre Gerd Binnig i
Heinrich Rohrer, cercettorii primind cinci ani mai trziu, n 1986 Premiul Nobel
pentru fizic. AFM este o tehnic complementar celorlate dou metode de
investigare microscopice prezentate anterior SEM i TEM. Caracterul
tridimensional al tehnicii AFM permite identificarea particularitilor morfologice
ale suprafeei probei. Microscopia de For Atomic este o tehnic
nondestructiv utilizat din ce n ce mai mult att n industrie, ct i n
cercetrile de fizica suprafeei. Fa de microscopia optic i electronic,
microscopia de for atomic prezint avantajul msurrii directe a dimensiunilor
pe direcia x, y, z. Principiul fizic: microscopul de for atomic este o invenie
relativ recent, care utilizeaz o prob mecanic pentru a genera imagini mrite
ale suprafeelor. Poate fi utilizat att n aer, ct i n mediul lichid sau n vid,
pentru a obine detalii tridimensionale ale probei de analizat cu o rezoluie n
domeniul angstromilor. Principiul fizic are la baz msurarea forelor (repulsive
sau atractive) dintre atomii situai n vrful senzor al probei de investigare i
atomii din suprafaa de analizat. Elemente constructive: microscopul de for
atomic este alctuit dintro prob senzor de investigare, materiale ceramice
piezoelectrice, un circuit electronic de feedback i un computer care
achiziioneaz i prezint imaginile. Microscopul este format prin adugarea a
dou materiale ceramice piezoelectrice n direciile X i Y i un computer care
capteaz eroarea de semnal dintre un integrator i mecanismul de poziionare.
Atunci cnd vrful senzor se apropie de suprafaa probei de analizat, semnalul
de ieire al circuitului de feedback crete. Amplificatorul diferenial compar
aceasta valoare crescut a semnalului de ieire cu o valoare de referin i emite
un voltaj de corecie. Acest voltaj de corecie excit materialul ceramic
piezoelectric astfel nct vrful probei de investigare se ndeprteaz de
suprafaa de analizat. n acest mod vrful senzor al probei de investigare este
meninut la o distan constant de suprafaa de analizat. Imaginea suprafeei
este obinut prin baleierea vrfului senzor deasupra suprafeei de analizat i
stocarea semnalului piezo pe cele trei direcii x, y i z n computer.
8.2 Analiza prin microscopie electronic a suprafeei materialelor metalice dup
testele de spectroscopie de impedan electric Am analizat prin microscopie
electronic starea suprafeei aliajului FeMnSi, FeMnSi+Si (PLD) i FeMnSi + HA
(PLD) pentru analiza comportamentului la coroziune dup testele de
spectroscopie de impedan electric realizate la Facultatea de Chimie din cadrul
Universitii Tehnice din Iai. Probele au fost pregtite mecanic sub form ptrat
cu latura de 1 cm iar metodologia de testare a fost descris anterior. n figura 8.4
este prezentat suprafaa materialului FeMnSi dup testul de rezisten la
coroziune n soluie Hank dup 7 zile de analiz. Se observ o corodare
generalizat a materialului, fa de starea suprafeei iniiale, pe ntreaga
suprafa cu evidenierea orientrii grunilor materialului metalic, figura 8.4 b),
pe direcii specifice.
n imaginile 8.4 c) i d) sunt prezentate informaii despre morfologia probei 3D
ct i despre variaia rugozitii la scar milimetric (0,25 mm). Chiar dac
ntreaga suprafaa este corodat se observ c aceasta a fost atacat
preferenial, figura 8.4 d), cu zone reduse care n aceast perioad i-au alterat
foarte puin integritatea. n figura 8.5 este prezentat prin microscopie
electronic starea suprafeei aliajului FeMnSi+Si (PLD) dup testele de rezisten
la coroziune n soluie Hank. Deoarece n soluii de electrolit ntre cele dou
materiale: substrat de FeMnSi i strat superficial de Si se formeaz sisteme
similare unor micro-pile pe diverse suprafee ale stratului n funcie de aderena
stratului superficial de Si la substrat, de variaia de compoziie chimic ntre
stratul de Si i substrat, de posibilii nano sau micro pori formai la depunerea
stratului de Si prin ablaie laser, nano-fisuri aprute n stratul superficial, etc.
Din analiza suprafeei materialului metalic corodat, figura 8.5 a), se observ o
corodare macroscopic generalizat cu o degradare apreciabil a suprafeei de
material metalic fa de rezultatele obinute pe probele implantate cu straturi
subiri. La nivel microscopic se observ zonal o corodare tip pitting, figura 8.5 b)-
e) cu tendine de unire a punctelor de pitting, figura 8.5 b). Pe marginea urmelor
de coroziune accentuate, pitting, se observ urmele compuilor de reacie, a
oxizilor n principal, formai n timpul procesului de coroziune care au condus
ulterior la degradarea aliajului pe baz de fier n zonele n care aceti compui s-
au format i dezvoltat. n continuare, n figura 8.6, este prezentat suprafaa
aliajului FeMnSi +HA (PLD) dup solicitarea la coroziune n soluie Hank. La nivel
macroscopic se observ de asemenea o coroziune cu caracter generalizat cu
formarea unor compui de reacie zonal i de asemenea cu arii, mai restrnse
dect n cazul depunerii cu siliciu, afectate de coroziune tip pitting.
Comportamentul la coroziune n acest caz, depunerea pe aliajul FeMnSi a unui
strat superficial de HA material ceramic pe baz de fosfat de calciu, este diferit
de cel al probei cu straturi subiri de Si, cu o suprafa mai mare neafectat de
coroziune (fr compui pe suprafa, fr coroziune tip pitting) de aproximativ
50%, figura 8.6 b). n acest caz, n figura 8.6 a) se observ o tendin de
corodare liniar pe direcia de laminare a materialului metalic, linii de coroziune
ce n unele zone s-au unit generaliznd coroziunea ariei specifice. Zonele
afectate de coroziune au un aspect clar de generalizare, figura 8.6 d), n
comparaie cu proba cu strat de siliciu depus, figura 8.5 e). Zona neafectat de
coroziune, figura 8.6 b-e), prezint meninerea stabilitii stratului superficial de
hidroxiapatit fr urme de coroziune sau de compui pe suprafa. Natura
ceramic a hidroxiapatitei reduce substanial efectul de micro-pile de pe
suprafa i menine la un nivel superior rezistena la coroziune a aliajului
FeMnSi+HA.
 Site 5: Fig. 1 Experimental setup of first Atomic Force Microscopy system from paper
Binnig, Quate and Gerber (Phys.Rev.Lett.56,930 (1986)).

Despite of the great success of the Scanning Tunneling Microscopy it was obvious that STM has
fundamental disadvantage - with STM one can investigate only the conductive or conductive layers
coated samples.

This disadvantage was overcomed due to the invention of atomic force microscope by Binnig [1].
He was first who have guessed that under interaction with sample surface macroscopic cantilever
provided with sharp tip can be bended by atomic forces to sufficiently large amount to be
measured by the common facilities. In first embodiment to measure tip displacement was
used STM (see Fig. 1) [2].

For registration of cantilever bending many methods was used, but currently mostly useful and
widely used is method invented by Amer and Meyer (see Fig. 2) [3]. According to them an atomic
force microscope includes a tip mounted on a micromachined cantilever. As the tip scans a surface
to be investigated, interatomic forces between the tip and the sample surface induce displacement
of the tip and corresponding bending of the cantilever.

A laser beam is transmitted to and reflected from the cantilever for measuring the cantilever
orientation. The reflected laser beam is detected with a position-sensitive detector, preferably a
bicell. The output of the bicell is provided to a computer for processing of the data for providing a
topographical image of the surface with atomic resolution.
Currently used position-sensitive detectors are four-sectional that allows measuring not only
longitudinal but torsion bending too.

Cantilever can be bended not only by the direct contact forces under the tip-sample surface
interaction, but also by far-ranging forces: van der Waals, magnetic, electric etc. Cantilever can
vibrate under scanning as firstly was proposed by Binnig [1]. Vibrating can proceed in direct
contact of the tip with the sample surface, without touching the surface under vibration and
with Intermittent-contact ( Semicontact) under vibration. Scanning can be many-passing,
each next pass can give additional information concerning sample under investigation.

All this abilities generate many techniques and modes of SFM operation. Below we will consider
various dc and ac Contact , Semicontact, Noncontact and Many-pass techniques and modes.

http://www.ntmdt-si.com/practical-afm/atomic-force-microscope-solver-
nano
site 6: nceputurile microscopiei Istoria utilizrii lentilelor optice se pierde
undeva n ruinele anticei ceti asiriene Nimrud, locul unde s-au descoperit cele
mai vechi lentile confecionate din cristal lefuit (D.Whitehouse, 1999). Utilizarea
lentilelor este descris i n hieroglifele Egiptului antic nc din secolul 6 i.h.
(M. Bozgan, 2009). ntr-o peter sacr de pe muntele Ida din Creta au fost
gsite lentile ce au fost datate secolul 5 i.h.; acestea sunt mai puternice i au o
calitate mai bun dect lentilele Nimrud (T. Kriss i V.M. Kriss, 1998). Filozoful
grec Aristophanes (448 380 i.h.) aminete n comedia sa Norii (424 i.h.)
despre lupele din sticl. Acestea erau utilizate la focalizarea luminii soarelui n
vederea aprinderii materialelor combustibile, tehnic ce era cunoscut i
vikingilor (O. Graydon, 1998). Plinius cel Btrn (2379 d.h.) i Seneca (4 i.h. 65
d.h.) amintesc n scrierile lor de un gravor din Pompei care utiliza o lentil, iar
Seneca utiliza pentru citit un glob de sticl umplut cu ap. mpratul Nero se
folosea de un smarald ca i lentil corectoare pentru a urmrii spectacolele de
gladiatori (T. Kriss i V.M. Kriss, 1998; M.Bozgan, 2009). Cu toate acestea,
primele lentile utilizate cert n suplinirea defi cienelor de vedere apar mult mai
trziu, ele fi ind denumite pietre pentru citit. Inventatorul acestor pietre nu
este cert, dar se cunoate c Abbas Ibn Firnas (810 887 d.h.) lefuia asemenea
pietre (T.W. Lynn, 1961), iar clugrii presbiopici foloseau la citit buci sferice de
sticl (R. Power, 2008). Clugrii i-au pus bazele acestei invenii pe teoria
matematicianului arab Alhazen (9651039 d.h.), autorul primului tratat de optic,
care abordeaz i noiuni privind rolul cristalinului ochiului n formarea imaginilor
pe retin (R. Power, 2008). Lentilele au nceput s se rspndeasc abia dup
inventarea ochelarilor, probabil n Italia, la sfritul secolului al XIII-lea. Ca
inventator al ochelarilor este creditat italianul Salvino DArmate din Florena
(12581312); se pare c acesta i-a produs n anul 1284. Veneienii erau celebrii
n acea perioad pentru artizanatul din sticl, iar odat cu deprinderea tiinei
fabricrii lentilelor au nceput s produc lupe i monocluri. Odat cu rspndirea
artei confecionrii lentilelor nu a mai fost dect un pas pn la inventarea
microscopului. Microscopia optic sau fotonic Cel mai probabil microscopia
optic ia natere n anii 1590. Perioad n care doi productori olandezi de
ochelari, Sacharias Janssen (15801638) i tatl su Hans Janssen ncep s fac
experimente cu mai multe lentile introduse ntr-un tub. Aceste tuburi sunt
considerate precursoarele microscopului compus de transmisie i telescopului (T.
C. Kriss i V. M. Kriss, 1998). Microscopul compus inventat de Sacharias Janssen
n 1595 avea ca ocular o lentil bi-convex (bombat spre exterior pe ambele
pri), iar lentila obiectiv era plan-convex (plat spre interior/bombat spre
exterior). Acest microscop avea o putere de mrire de 39 ori. Cel mai probabil
Hans Janssen la ajutat pe fi ul su Sacharias cu construirea microscopului (Zoom
Inventors and Inventions, 2010). Nici un exemplar din cele construite de cei doi
olandezi nu a supravieuit, dar o copie ce a aparinut Arhiducelui Albert de
Austria a ajuns n posesia inventatorului olandez Cornelius Drebbel (15721633),
care l-a descris. n 1610 Galileo Galilei utilizeaz telescopul ca un microscop
pentru a mrii pri ale insectelor (S. Drake, 1978), iar n 1624 realizeaz un
microscop cu ajutorul cruia Francesco Stelluti (15771652) studiaz i public n
1625 o lucrare ce conine ilustraii cu insecte. Aceast lucrare pare a fi prima la
realizarea creia s-a utilizat un microscop (S. Drake, 1978). Pentru rolul jucat n
acele vremuri Galilei poate fi considerat unul din prinii microscopiei. Termenul
de microscop este atribuit lui Giovanni Faber (1574 1629), prieten i coleg cu
Galileo la Academia din Lincei, care l-a folosit pentru a denumi invenia celui din
urm. Acest termen este format din cuvintele greceti (micron) care
nseamn mic i (skopein) care nseamn a privii, a vedea. n
realizarea lui s-a inut cont de alt termen, deja uzitat, telescop (grecescul tele
= departe i skopein = a privi, a vedea), care a fost introdus n 1611 de
matematicianul grec Demisianus, tot pentru un instrument inventat de Galileo
Galilei (Van Helden, 2003). n 1665 fi zicianul englez Robert Hooke (16351703),
cercetnd cu ajutorul unor lentile microscopice seciuni de plut, nota c n
acestea sunt prezeni nite pori sau celule. Cercetrile sale sunt sintetizate n
Micrographia: or some physiological descriptions of minute bodies made by
magnifying glasses: with observations and inquiries thereupon aprut la Londra
n anul 1667. Hooke realizeaz primul microscop compus de interes practic n
anul 1675, devenind pionierul observa- iilor microscopice de precizie (A. Buzatu,
2009). n anul 1674 Antonie Philips van Leeuwenhoek (16321723), comerciant i
om de tiin olandez, construiete un microscop simplu cu o singur lentil (A.S.
Payne, 1970). Microscopul lui Anton van Leeuwenhoek avea o lentil mic,
aproape sferic, montat ntre plci metalice i un sistem ingenios de focalizare
i rotaie. Pentru acea perioad, o astfel de lentil, destul de greu de produs,
avea o putere de mrire considerabil (de pn la 270 ori). Cu ajutorul acestui
microscop van Leeuwenhoek examineaz snge, drojdii, insecte i numeroase
obiecte fi ne. Este prima persoan ce descrie bacteriile i inventeaz noi metode
de polizare i lefuire a lentilelor. Totui, van Leeuwenhoek nu este creditat ca
inventator al microscopul. n secolul XVIII inovaiile tehnice au dus la creterea
performan- elor microscoapelor optice. Se observ c lentilele care combin
dou tipuri de sticl au efectul cromatic redus (deformare optic a imaginii
manifestat prin formarea unui spectru de imagini colorate n locul unei singure
imagini). n 1830 Joseph Jackson Lister (17861869) reduce aberaia sferic sau
efectul cromatic, artnd c mai multe lentile slabe utilizate mpreun, la
anumite distane, ofer o mrire mult mai bun, fr estomparea imaginii. El
construiete un astfel de dispozitiv care va fi prototipul adevratului microscop
compus (C.T.Kriss, V.M.Kriss; 1998). n 1872 Ernst Abbe (18401905) propune o
formul matematic denumit Condiia de sinus a lui Abbe, cu ajutorul creia
se putea obine, n cifre, rezoluia maxim posibil a microscopului optic. El afi
rm c puterea separatoare a instrumentelor optice este invers proporional cu
lungimea de und a radiaiei utilizate, iar microscoapele optice nu vor putea da
imagini clare ale unor obiecte cu dimensiuni mai mici de 0,15 m (A.Sella, 2008).
n 1903 Richard Zsigmondy (18651929) inventeaz ultramicroscopul,
instrument cu ajutorul cruia se pot studia obiecte extrem de mici. La acesta
iluminarea obiectelor se face n direcie perpendicular direciei axei optice a
instrumentului. Ultramicroscopul este utilizat n studierea micrii browniene sau
n msurarea gradului de ncrcare electric a electronilor. (R. Zsigmondy, 1925).
Pentru cercetrile sale Zsigmondy a ctigat premiul Nobel n Chimie n 1925. n
1932 Frits Zernike (18881966) inventeaz microscopul cu contrast de faz. La
acesta imaginea este format pe baza diferenei de faz indus luminii care
traverseaz medii optice diferite din preparatul microscopic (F.Zernike, 1955).
Acest microscop a permis studierea materialelor biologice incolore sau
transparente, fi ind astfel posibil analizarea a numeroase caractere morfologice
i explicarea unor fenomene fi ziologice la organsimele microscopice. Pentru
acest tip de microscop el primete premiul Nobel n fi zic n 1953. Microscopia
de fl uorescen sau cu epifl uorescen este o tehnic de microscopie optic
destinat studierii proprietilor substanelor organice sau anorganice pe baza
fenomenului de fl uorescen sau fosforescen n loc de, sau suplimentar, refl
eciei i absorbiei (K.R. Spring, 2008). Aceast microscopie necesit markeri
speciali (fl uoresceni), iar preparatul este iluminat n UV i emite lumina n
domeniul vizibil. Printre primii cercettori ce au studiat fl uorescena se nscriu
Wilhelm Conrad Roentgen (18451923) (W.C.Rntgen, 1901) i Alexander
Edmond Becquerel (18201891) (Th e Columbia Encyclopedia, 2008). Datele
furnizate de European Patent Offi ce afi rm c cel mai vechi brevet de invenie
al unui sistem de iluminare fl uorescent pentru un microscop cu lumin incident
aparine lui Winfried Kraft care produce pentru Ernst Leitz GmbH un asemenea
dispozitiv (European Patent Offi ce, 2010). Un alt tip de microscopie optic este
cea de baleiaj cu fascicul laser. Aceast microscopie are dou ramuri principale:
microscopia confocal i microscopia n cmp apropiat. Se consider c
microscopia confocal este una din cele mai importante descoperiri n domeniul
microscopiei optice. Principiul microscopiei confocale a fost patentat de Marvin
Minsky n 1957. Comparativ cu microscopia clasic, microscopia confocal
permite controlarea adncimii cmpului, elimin sau reduce informaia de fundal
a planului focal (se obine o claritate mai bun a imaginii), i are capacitatea de
a colecta seciuni optice seriale din grosimea probelor de cercetat. Microscopia
electronic Oportunitatea dezvoltrii unor microscoape electronice se nate n
1924, odat cu emiterea, de ctre fi zicianului francez Louis de Broglie (1892
1987), a teoriei c orice particul n micare are o und asociat. Astfel se pun
bazele unui nou domeniu al fi zicii: mecania undelor. Datorit lungimi de und
mai scurte a electronilor, microscopul electronic furnizeaz o rezoluie mult mai
bun dect cele optice sau fotonice (L. de Broglie, 1929). n 1927, ipoteza lui de
Broglie este verifi cat experimental de ctre fi zicienii americani Clinton J.
Davisson (1881 February 1, 1958) i Lester H. Germer (18961971) i
independent de ctre fi zicianul englez George Paget Th omson (1892 1975) (C.
Davisson, 1937; G.P. Th omson, 1937). Pentru cercetrile privind mecanica
undelor de Broglie primete n 1929 Premiul Nobel n Fizic, iar Davisson i Th
omson primesc n 1937 acelai premiu, pentru descoperirea difraciei
electronilor. Ernst Ruska (19061988) cerceteaz n perioada 19271931, la
Universitatea Tehnic Berlin, i descoper c microscoapele cu electroni, cu
lungimi de und de 1000 de ori mai mici dect cele din spectrul luminii vizibile,
pot furniza imagini mai detaliate ale unui obiect dect microscoapele cu lumin.
n 1931, Ruska reuete s construiasc prima lentil electronic, iar prin
folosirea n serie a mai multor asemenea lentile Ernst Ruska i Max Knoll (1897
1969) construiesc n 1933 primul microscop electronic (E. Ruska, 1986). Cu toate
c, din punct de vedere constructiv, microscopul electronic este mai complex
dect cel optic, prile principale ale microscopului electronic ndeplinesc
aceleai funcii ca i lentilele microscopului optic (E. Ruska, 1986) Reinhold
Rdenberg (18831961), directorul de cercetri al companiei Siemens, a
patentat pentru aceast companie n 1931 lentilele electrostatice i principiile de
baz ale microscopul electronic (T. Mulvey, 1962). n 1937 Siemens a nceput s-i
fi naneze pe Ruska i Bodo von Borries (19051956) pentru dezvoltarea de
microscoape electronice; pn n 1945 cei doi sunt implicai n producerea a circa
35 modele diferite de microscoape electronice de cercetare (E. Ruska 1986; D.H.
Kruger et al. 2000). n 1938 Manfred von Ardenne (19071997) construiete
microscopul electronic de transmisie cu baleiaj sau Scanning TEM (STEM) i
ulterior un microscop electronic universal (M von Ardenne and D Beischer, 1940).
STEM este un tip de microscop de transmisie n care un fascicul foarte subire de
electroni baleiaz proba de cercetat, iar imaginea este format cu ajutorul
electronilor mprtiai la unghiuri mari. Acest sistem a fost mbuntit
progresiv, rezoluia crescnd de la 50 nm, n 1942 la 0,79 la microscoapele
actuale. Acest tip de microscop electronic este potrivit pentru analiza chimic a
probei ntruct fasciculul incident, n urma interaciei cu proba, genereaz radiaii
X i o sum de alte semnale (electroni retromprtiai, catodoiluminiscent i
electroni Auger) care pot fi colectate i analizate. Un asemenea microscop
permite, n principiu, analiza unui singur atom sau a unei coloane de atomi din
materialul de analizat. Microscoape cu sond local Microscopul electronic de
baleiaj cu efect tunel (STM), microscopul optic de de baleiaj n cmp apropiat
(SNOM) i microscopul de for atomic (AFM) sunt cunoscute sub denumire
general de microscoape cu sond local. Un microscop cu sond de scanare
folosete o sond cu vrful extrem de fi n (uneori terminndu-se n doar civa
atomi), care trece peste o suprafa atingndu-i contururile i formele.
Microscopul optic de baleiaj n camp apropiat (SNOM) Microscopia n cmp
apropiat este o tehnic a microscopiei optice destinat investigaiilor
nanostructurale, care are la baz proprietile undelor evanescente, a cror
existen a fost demonstrat de matematicianul francez Augustin Louis Cauchy
(17891857) (undele evanescente ale unui corp au o lungime de und foarte
mic i de obicei nu prsesc suprafaa corpurilor; datorit acestei lungimii de
und mici ele conin informaia cea mai detaliat despre corp). Ideea construirii
microscopului SNOM s-a emis n 1928 i aparine lui E.H. Synge (E.H. Synge,
1928). n acest tip de microscopie distana dintre preparat i obiectiv este mai
mic dect lungimea de und a radiaiei laser utilizate. Prin aceast metod nu
mai apar artefacte de difracie i este posibil obinerea unor rezoluii la nivel
molecular. n particular, rezoluia lateral este de 20 nm i cea vertical de 25
nm (Y. Oshikane et al., 2007). Microscopul electronic de baleiaj cu efect tunel
(STM) n 1981 Gerd Binnig (1947-) i Heinrich Rohrer (1933-) inventeaz la IBM
Zurich Research Laboratory microscopul electronic de baleiaj cu efect tunel
(STM). Originea STM-ului se pare c este n profi lometrul non-contact sau
topografi ner-ul conceput nc din 1971 de Russell Young (Young R. et al, 1972).
STM permite furnizarea unor imagini tridimensionale ale suprafeelor pn la
nivel atomic. STM-ul le aduce celor doi premiul Nobel n fi zic n anul 1986 (G.
Binnig, 1986; H. Rohrer, 1986). Utiliznd acest microscop, Binning devine prima
persoan care observ un virus ieind dintr-o celul vie. Importana deosebit a
STM-ului rezid din multiplele sale aplicaii n cercetarea fundamental a
fenomenelor fi zice, chimice, biologice precum i pentru cercetarea aplicat n fi
zica semiconductorilor, microelectronic, metalurgie i bioinginerie (G. Binnig,
1986; H. Rohrer, 1986). n 1988 Tomita Eisuke, Sakuhara Toshihiko i Itaya Kingo
breveteaz microscopul electronic de baleiaj cu efect tunel electrochimic. Prin
acest tip de microscopie cei trei inventatori propun detectarea att a reaciei
electrochimice ct i a curentului care trece ntre suprafa i electrod fr
barier de potenial (curent tunnel). Microscopul cu for atomic (AFM) n 1986
acelai Gerd Binnig, laureatul cu premiului Nobel pentru STM, alturi de
Christoph Gerber de la IBM Zurich i Calvin Quate de la Universitatea Stanford
California produc prototipul unui nou tip de scanner, microscopul cu for
atomic (AFM), dnd astfel natere unei noi ramuri a microscopiei. Cu ajutorul
AFM a fost posibil, pentru prima dat, vizualizarea materiilor care nu sunt bune
conductoare de electricitate. Fa de alte sisteme de microscopie, AFM face
posibil vizualizarea imaginilor cu un contrast topografi c foarte bun i
msurarea precis a suprafeelor. Imaginile tridimensionale n AFM sunt obinute
fr o preparare costisitoare a probelor ce urmeaz a fi studiate i ofer
informaii mult mai complete dect pofi lele bidimensionale obinute din probele
tiate transversal. n 1988 Alfred Cerezo, Terence Godfrey i George Smith aplic
un sensor de detecie a poziiei la un microscop cu for atomic, fcnd astfel
posibil vizualizarea 3D la nivel atomic. n 1991 M. Nonnenmacher propune o
nou variant a microscopului cu for atomic, denumit KPFM (Kelvin probe
force microscope) sau microscopul de potenial de suprafa. Acesta permite nu
doar obinerea de imagini topografi ce, ci i de imagini ale potenialului (M.
Nonnenmacher et al., 1991). Pentru a mbuntii performanele AFM acesta a
fost combinat cu alte tipuri de microscoape cum sunt STM, SNOM i MFM.
http://www.mdeo.eu/mdeo/AD/docs/AFM_seminar_2011.pdf