DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

PRINCIPII GENERALE ALE METALOGRAFIEI

CANTITATIVE

n decursul anilor, oamenii au nvat din observaii macroscopice s asocieze o structur fin de
rupere cu o rezisten superioar i o duritate mare a materialelor. Odat cu inventarea
microscopului lucrurile s-au dezvoltat cu o rapiditate extrem.

Este foarte important de neles c, n cutarea unor parametri structurali n vederea msurrii lor
i utilizrii la stabilirea relaiilor dintre structur i proprieti trebuie impuse anumite limite n
ceea ce privete efortul depus, pentru c altfel determinrile realizate vor avea un scop difuz fr
nelegere concret . Astfel, metodele cantitative trebuiesc limitate la determinarea unor factori
de structur care pot fi observai cu ochiul liber, sau cu ajutorul microscoapelor optice sau
electronice. Se exclud caracteristicile atomice sau subatomice cu excepia ctorva aspecte locale
ale cristalinitii cum ar fi : simetria cristalelor, orientarea cristalin, imperfeciuni cristaline.

Metalografia cantitativ se realizeaz deci prin analiza de imagine - contrast. Odat definite
aceste limite metalografia cantitativ poate fi utilizat la evidenierea mecanismelor optice i
electronice de msurare a unor factori pn la punctul n care aceti factori trebuiesc nelei n
vederea dezvoltrii performanelor tehnicilor de msurare. Acest lucru presupune utilizarea att
de metode de msurare manuale ct i mai ales automate, precum i cu ajutorul relaiilor din
statistica matematic.

Metalografia cantitativ se aplic cel mai adesea pe suprafee plane datorit opacitii majoritii
materialelor.

Principii ale statisticii matematice aplicabile metalografiei cantitative.

n metalografia cantitativ se utilizeaz frecvent determinri de: repartiie dup dimensiuni a

unor particule, segmente sau arii de gruni, fapt ce determin necesitatea cunoaterii teoriei
matematice a funciilor de repartiie i aplicarea corect a acestora.

n urma determinrilor din cadrul unui experiment rezult mrimi fizice care pot lua valori

ntmpltoare. Aceste mrimi se numesc variabile aleatorii (X Y Z etc.) iar corespondena dintre
toate valorile posibile x ale variabilei aleatorii X i valorile care apar de fapt n urma
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

experimentului (sau experimentelor) , ale variabilei aleatorii, poart numele de lege de

probabilitate . Variabilele aleatorii se numesc discrete atunci cnd aparin unei mulimi finite sau
numrabile i se numesc variabile aleatorii de tip continuu atunci cnd pot fi puse n
coresponden cu punctele unui segment de dreapt mrginit sau nu.

Astfel, n matematica statistic, probabilitatea reprezint un numr asociat fiecrui punct din
spaiul de referin. n cadrul metalografiei cantitative pentru termenul de probabilitate se poate
spune c:

-n cazul unui experiment repetat la infinit, proporia de valori ale experimentului ce reprezint
un punct din spaiul de referin, reprezint probabilitatea asociat acelui punct.

-De fiecare dat cnd se realizeaz un experiment numrul de posibiliti de apariie a unei valori
reprezint probabilitatea asociat acelei valori.

-Numrul mediu de posibiliti de ocupare cu valori ale unui punct din spaiul de referin, n
cazul unei singure experiene este egal cu probabilitatea acelui punct.

Termeni din statistica matematic cu utilizare n metalografia cantitativ.

Metode de determinare cantitativ a constituenilor din materialele metalice. Determinarea

fraciei volumice ocupat de un constituent metalografic.

Cele mai multe metode de evaluare a fraciei volumice ocupate de un constituent metalografic se
bazeaz pe:

-echivalena ntre volumul ocupat de acel constituent i fracia de arie intersectat de un plan
secant la volumul ocupat de acel constituent.

-raportul dintre lungimea unui segment de dreapt cuprins n spaiul ocupat de constituentul
considerat i lungimea total a liniei trasat la ntmplare n planul de observat;

-raportul dintre numrul de puncte din planul de observare incluse n constituentul respectiv i
numrul total de puncte dintr-o matrice de punctetest trasat n acest plan;
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

n cazul materialelor omogene din punct de vedere al distribuiei spaiale a constituenilor

metalografici se poate aproxima cu bune rezultate c:

-fracia volumic a unui constituent dintr-o prob metalografic este egal cu fracia de arie
ocupat de acel constituent ntr-un plan secant orientat ntmpltor n volumul probei:

% Ac = % Vc

%Ac fracia de arie a constituentului c n planul de referin %Vc fracia de volum a aceluiai
constituent n prob

-poriunea de segment aflat n interiorul unui constituent c , dintr-un segment de dreapt trasat
la ntmplare n planul de referin al unei probe metalografice este egal cu fracia de arie a
acelui constituent n planul de referin considerat:

%Lc = %Vc
%Lc = %Ac deci

unde: %Lc lungimea segmentului de dreapt cuprins n constituentul considerat.

- Probabilitatea p(%) ca un punct s cad n volumul ocupat de constituentul c este
egal cu fracia volumic a acelui constituent:p = %Vc

Noiunea de izometricitate a unui sistem de linii poate fi explicat n felul urmtor: se consider
un sistem oarecare de linii izometrice. Dac, din fiecare punct de pe plan se traseaz secante
radiale n toate direciile, atunci numrul mediu de intersecii pe unitatea de lungime a fiecrei
secante va avea o valoare statistic constant i egal cu cea obinut prin trasarea unei singure
drepte n mod aleator. Cu alte cuvinte , numrul mediu de intercepii pe unitatea de lungime de
dreapt ntr-un sistem de linii izometrice este independent de direcia dreptei secante.
Reprezentarea grafic, ntr-un sistem de coordonate polare, a numrului mediu de intersecii
poart numele de raza numrului de intersecii.

Pentru un sistem izometric de linii raza numrului de intersecii este circumferina unui cerc cu
centrul n originea sistemului de coordonate polare.

n cazul structurilor parial sau total orientate, cu alte cuvinte n cazul structurilor texturate
(structuri anizometrice) raza numrului de intercepii i schimb alura.
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

Fig. Sisteme de linii orientate dup: a - o ax; b - dou axe; c trei axe
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

n structurile reale, limitele de grunte chiar n cazul materialelor texturate sunt parial orientate.

Probabiliti geometrice n metalografia cantitativ

Pentru a se putea aplica conceptele teoriei probabilitilor la problemele legate de analiza

structural este necesar o bun nelegere a caracterului statistic al experimentelor sau
observaiilor care formeaz baza metalografiei cantitative. n general o structur este eantionat
printr-o serie de entiti geometrice. Cele mai uzuale dintre metodele utilizate sunt: eantionarea
cu un plan de test; eantionarea cu o linie de test i eantionarea cu un punct de test.
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

Tipurile de evenimente de interes n aceste cazuri pot fi: planul de test intersecteaz n
particule , linia de test intersecteaz m particule : sau punctul de test este cuprins n faza

Experimentele care stau la baza metalografiei cantitative se pot mpri n dou categorii:

-observaii n spaiu (pe structuri tridimensionale)

-observaii n plan

Observaii pe structuri tridimensionale Eantionarea cu un plan de test

Acest rezultat st la baza relaiei dintre numrul de particule observate ntr-o seciune
metalografic sau numrul de particule din volumul de prob.

Cnd particula este nlocuit cu un element de lungime (dl) a unei caracteristici liniare
tridimensionale, ca de exemplu limita unui grunte fig7c, atunci probabilitatea pr ca
planul de test s intersecteze acest element dl va fi:

pr = dz (,) / L

n care: dz (,) proiecia lui dl dup direcia de eantionare.

Aceast relaie st la baza msurtorilor lungimii totale a unei caracteristici liniare n unitatea de
volum de structur.

Eantionarea cu o linie de test

Distribuia mrimii particulelor dup diametre

Problema distribuiei mrimii particulelor din structura materialelor a fost abordat de mai muli
cercettori de-a lungul timpului [16] [17] [18] [21] , care au dezvoltat i perfecionat cteva
metode.

Toate metodele au n comun cteva caracteristici . n primul rnd n loc de a considera

determinarea experimental a distribuiei diametrelor particulelor ca o funcie continu s-au luat
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

n calcul grupe de mrime (intervale, clase) discrete. Toate particulele cu diametre ntr-un
interval oarecare au fost considerate ca avnd acelai diametru.

Particulele dintr-o structur pot avea fie toate acelai diametru (caz teoretic posibil) fie, cel mai
adesea diametre diferite.

Dac toate particulele dintr-o structur au aceeai mrime relaia de distribuie a mrimii acestora
este, evident, foarte simpl:

NV = NV Dj

n care:

NV numrul de particule din unitatea de volum;

NA numrul de seciuni rezultate din intersecia planului de test cu particulele din structur, pe
unitatea de suprafa;

Dj diametrele particulelor (fig...13)

In figura de mai jos observam intersecia planului de observare cu particulele dintr-un sistem a i
seciunile rezultate b
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

Trebuie remarcat faptul c termenul NA implic numrul de seciuni de toate mrimile n

unitatea de arie, deoarece o particul poate fi intersectat oriunde de-a lungul unui diametru
perpendicular pe planul de observare .

Dac ns se va contoriza doar una dintre mrimile posibile ale particulelor di atunci trebuie
introdus un factor restrictiv relaia anterioar devenind :

NV = NA (ij) p Dj

n care:

p este probabilitatea ca planul de test care intersecteaz particulele de diametru Dj s conduc

la obinerea unei seciuni de diametru dij ;

NA (ij) - este numrul de seciuni de diametru di obinute din particule de diametru Dj

O alt caracteristic comun a metodelor de distribuie a particulelor pe clase de dimensiuni dup

diametre este aceea a utilizrii unor coeficieni de corecie care uureaz viteza de calcul a
intervalelor.

Valorile acestor coeficieni sunt obinute din probabilitatea ca un plan de test oarecare ce
intersecteaz o particul s genereze seciuni de diferite mrimi (fig. 14)

Fig. 14 Intersecia unei particule cu un plan de test oarecare

Dac o particul de diametru D este intersectat de un plan de test n intervalul hi i
hi+1 de la centru vor rezulta seciuni cu diametre cuprinse ntre di i di-1 . Probabilitatea de
intersecie a planului cu particula n intervalul hi ; hi+1 este egal cu raportul
h i raza
dintre
particulei:
h 2 (hi-1 hi )
p= =
Dj /2 Dj
Toate metodele se bazeaz , de asemenea, pe un proces de substracie (eliminare)

succesiv i selectiv. Astfel, aa dup cum s-a artat , particulele dintr-un material au de obicei
diametre. Seciunile de acelai diametru din planul de test rezultate din intersecia cu particulele
pot proveni de la particule cu diametre diferite i acest lucru datorit distanei fa de

centrul su n care o particul este tiat de plan. (fig.15)

Fig. 15 Seciuni cu diametre egale provenind de la particule cu diametre diferite

DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

Trebuie eliminate acele seciuni cu acelai diametru dar provenind de la particule cu diametre
diferite.

Din fig...15..se poate observa c, pe coloane, se obin seciuni cu acelai diametru

d1, d2 ,etc. n timp ce diametrul real al particulelor variaz sistematic ntre D1 i D5

. Numrul total de seciuni de acelai diametru, de exemplu de diametrul d1 se poate exprima

prin relaia :

NA(1) = NA(1,1) = NA(1,2) = NA(1,3) = NA(1,4) = NA(1,5)

relaie care arat clar c numrul total de seciuni de diametru d1 consist dintr-o sum de
contribuii separate ale particulelor cu acest diametru i ale particulelor cu diametre mai mari.

Se pot scrie ecuaii similare i pentru seciunile cu celelalte diametre rezultnd:

NA(5,5)= NA(5)
NA(4,4)= NA(4)- NA(4,5)
NA(3,3)= NA(3)- NA(4,3) - NA(5,3) etc.
Dar NA(5,5) este cunoscut (pentru c D5 = d5)deci se poate calcula NV(5) Odat
cunoscutNV(5)se poate calcula valoarea luiNA(4,5).Aceast valoare se va extrage din
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

valoarea NA(4)i va rezulta numrul de particule NV(4) i tot aa mai departe pn la

particulele de dimensiunile cele mai mici. Se poate constata evident, c fiecare substracie
(eliminare) depinde de numrul de particule NV anterior calculat astfel nct n final se pot
acumula erori.

Distribuia mrimii particulelor dup coarde

Soluiile distribuiei mrimii particulelor dup diametre nu au fost totdeauna uor de obinut, de
aceea s-au cutat i alte metode de rezolvare a problemei [16] [22] . Aceste metode utilizeaz
distribuia particulelor dup lungimea coardelor rezultate din intersecia acestora cu familii de
linii de test. (fig.16)

Fig. 16 Relaii geometrice ntre mrimea unei particule i lungimea coardei rezultate din
intersecia cu o secant

Distana interlamelar

Una dintre aplicaiile foarte importante ale distribuiei dup coarde este determinarea distribuiei
distanei interlamelare.

Se consider o dreapt secant orientat ntmpltor i care intersecteaz lamelele care pot avea
sau nu distane egale ntre ele i pot fi sau nu paralele unele cu altele (fig19)

0 distana real - distana aparenta

l - lungimea interseciei Do distana ntre lamele D distana aparent

d -lungimea aparent a intercepiei

Dac VV(0) d(0) este fracia volumic ocupat de lamelele cu distana real ntre 0 i
0+d0 , atunci VV(0) este fracia de lungime a intercepiei unei secante aleator orientate
care intersecteaz aceste lamele.

Astfel , funcia de distribuie a fraciei volumice a distanei interlamelare reale poate fi calculat
din suma a doi termeni simpli cu condiia ca distribuia de fracie de lungime a intercepiilor s
fie msurat. Cel mai simplu este de lucrat cu distribuia numrului de intercepii.

Dac se cunoate curba experimental NL (l) funcie de l , atunci pantele dNL (l)/dl pot fi
msurate pentru orice valoare a lui l.

Aceste pante mpreun cu valorile corespunztoare ale numrului de intercepii NL (l) , permit o
rapid calculare a funciei de distribuie a fraciei volumice a spaiului interlamelar.
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

Mrimea de grunte

Determinarea mrimii de grunte i repartiia pe clase de dimensiuni a mrimii de grunte este

una din cele mai importante aplicaii ale metalografiei cantitative tiut fiind faptul c majoritatea
proprietilor fizico mecanice depind de aceasta.

Distribuia pe clase de dimensiuni a grunilor cristalini reprezint practic aranjarea unuia dintre
parametrii menionai ntr-o ordine cresctoare sau descresctoare i determinarea numrului de
gruni care aparin fiecrei trepte. Pentru aceasta ntregul domeniul de valori se mparte n
intervale de mrime (clase de dimensiuni) . Fiecare clas de mrime este asociat

cu o frecven fi care indic numrul de gruni ni din intervalul (clasa) i raportat la numrul
ni
total de gruniN, adic: fi =
N

Dac se micoreaz foarte mult lrgimea intervalului (j 0), n condiiile unui numr mare de
gruni atunci: i i se ajunge la o distribuie de tip continuu:

F(X) = X f(X) dX

n care : F(X) - fracia de gruni a cror mrime este mai mic dect X.

Pentru a defini variabila aleatorie X (parametrul utilizat pentru msurarea mrimii de grunte)
sunt necesari doi factori:

-numrul de dimensiuni al spaiului n care au fost efectuate msurtorile. Mrimea grunilor

tridimensionali se poate realiza fie prin volum (mai greu) fie prin intermediul ariei rezultate din
intersecia lor cu planul de test, fie unidimensional prin lungimea intercepiei liniare adic a
corzii format din intersecia gruntelui cu o linie de test, oarecare, din planul de test.

-numrul de dimensiuni utilizat la exprimarea mrimii de grunte. Atunci cnd msurtorile se

efectueaz tridimensional mrimea de grunte poate fi exprimat prin volum, aria intergranular
sau diametrul echivalent - definit ca diametrul unei sfere cu acelai volum cu al gruntelui
msurat.

Cel mai adesea se utilizeaz distribuia mrimii de grunte dup aria seciunii grunilor.

n acest caz se poate scrie:

F(A) = f(A) dA
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

n care: A aria interseciei gruntelui cu planul de test.

Valoarea medie a acestei distribuii (media aritmetic) se definete cu relaia:

x = X f(X) dX

iar varianta distribuiei (abaterea medie ptratic) se poate exprima prin diferena dintre
momentul de ordinul doi i ptratul momentului de ordinul unu, respectiv:

X2 = X2 f(X) dX - (X f(X) dX)2

Aceast distribuie normal este caracteristic pentru procesele la care variabila aleatorie ia
valori n urma repetrii de un numr mare de ori a unui experiment, de aceea de multe ori n
metalografie aceast distribuie nu este satisfctoare

Media ponderat a distribuiei

Numrul de gruni poate fi distribuit dup mrimea de grunte X a crei funcie de frecven
este f(X) . Suma tuturor mrimilor grunilor X n procente fa de suma mrimilor tuturor
grunilor poate fi exprimat prin relaia:

1
G(X) = X X f(X) dX

Distribuia mrimii de grunte n plan.

Cel mai des n practic, datorit modului de observare, se realizeaz distribuia mrimii de
grunte n dou dimensiuni dup arie sau dup diametrul (raza) unei seciuni circulare de arie
echivalent [24] [25] [26].

Se poate scrie n acest caz:

(ln A - ln )2
Ag
F(ln A)=1 lnA e
2(ln sgA )2 d (ln A)
ln sgA2 -

Dac se utilizeaz substituiile:

dA = 4A/saudA' =A

cu observaia c:
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

lnAg =2ln dAg +ln 4

ln sgA =2ln sgA dA

Metode de msurare a mrimii de grunte

Msurarea mrimii de grunte a agregatelor cristaline se realizeaz n plan , pe probe polizate,

lefuite i atacate corespunztor. Atacul metalografic este deosebit de important la materialele
care prezint macle, de exemplu, liniile de macl trebuiesc puse foarte clar n eviden pentru a
se deosebi de liniile de grunte. De asemenea, n cazul materialelor polifazice este necesar ca
atacul metalografic s evidenieze ct mai clar fiecare faz (constituent).

Msurarea mrimii de grunte trebuie s se fac la o mrire a microscopului convenabil. O

mrire prea mic ar duce la insuficienta scoatere n eviden a grunilor (sau chiar a unor
particule) de dimensiuni foarte mici iar o mrire prea mare conduce la obinerea n imagine a
unui numr insuficient de gruni.

Funcie de necesitile de moment, de precizia necesar dar i de aparatura avut la dispoziie, au

fost dezvoltate mai multe metode de determinare a mrimii de grunte, dintre acestea cele mai
importante fiind:

-metoda planimetric -Jeffries;

-metoda intercepiei - Heyn;

-metoda comparaiei;

-metoda A.S.T.M.

-metoda difraciei cu raze X

Metoda planimetric (Jeffries) are la baz trasarea unui cerc de arie cunoscut pe imaginea
structurii. Printr-o metod oarecare se numr, apoi, grunii care sunt cuprini n ntregime n
interiorul cercului (Ni), precum i grunii care sunt intersectai de cerc (Ns). La determinarea
ariei grauntilor se considera numarul total a lgrauntilor cuprinsi in intregime in interiorul cercului
atasat si jumatate din numarul grauntilor intersectat de circumferinta cercului.

Metoda comparaiei este foarte mult utilizat nc n procedeele de control industrial al calitii
produselor.

Metoda const n simpla comparaie prin suprapunere a imaginii structurii cercetate peste
imaginile din nite plane cu mrimi de grunte predeterminate (etalon). Evident metoda este
destul de aproximativ prin subiectivism, depinznd de ochiul celui care efectueaz testul.

De obicei planele de comparaie sunt ealonate dup arie A

Metoda A.S.T.M. are la baz, n seriile de plane de comparaie determinarea mrimii de

DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

grunte prin metoda Jeffries deci dup arii ( A ) . Sunt utilizate tipuri diferite de plane pentru

tipuri diferite de gruni dup cum urmeaz (la nceput seriile diferite de plane erau pentru
materiale diferite dac au fost nlocuite cu plane pentru tipuri de gruni diferii: [28]

1.Gruni neconjugai (atac slab)

2.Gruni conjugai (atac slab)

3.Gruni conjugai (atac puternic)

4.Gruni austenitici (testul Mc Quaid-Ehn)

Scrile utilizate pentru aceste clasificri sunt logaritmice iar aria grunilor este exprimat n
inch2 . Aceasta descrete cu doi sau cu puterea lui doi. Seria 3 pentru gruni conjugai cu
contrast puternic este utilizat pentru cupru i aliajele sale iar ordonarea n serie se face n scar
liniar pentru a se pstra comparaia cu scrile etalon mai vechi.

Trebuie remarcat faptul c toate planele etalon sunt bazate pe structuri cu gruni relativ
uniformi, astfel nct la structurile cu granulaie neuniform este de preferat determinarea
distribuiei mrimii grunilor n loc de mrimea propriu-zis.

Metoda difraciei cu raze X . Aceast metod se bazeaz pe constatarea c probele cu gruni de

dimensiuni submicronice produc lrgiri considerabile n distribuia intensitii fasciculelor de
difracie. Existena unei relaii ntre dimensiunea medie a cristalelor i lrgimea liniilor de
difracie a fost demonstrat pentru prima dat de Scherrer, a crui relaie este:

D = cosK

n care:

D diametrul mediu al grunilor K factorul de form al grunilor

- lungimea de und a radiaiei X utilizate

- lrgimea liniilor de difracie

Metoda difraciei cu raze X prezint o serie de avantaje precum faptul c este o metod
nedistructiv i necesit o pregtire uoar a probelor metalografice. Pe de alt parte permite
determinri rapide pentru structuri cu granulaie foarte fin (cum ar fi de exemplu cazul unor
srme sau fibre foarte subiri).

n cazul n care raportul dintre mrimea de grunte i lrgimea fascicolului de raze X depete o
anumit valoare, inelele de difracie se descompun n spoturi. Astfel, n cazul grunilor cu
diametru mediu mai mare de 10 m , prin ajustarea ariei iradiate se poate ajunge ca liniile de
difracie s devin un punct singular.
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

Principiile microscopiei optice cantitative computerizate

Microscopia optic cantitativ asistat de calculator constituie una dintre metodele cele mai
moderne de investigare a structurii materialelor cu avantaje deosebite n ceea ce privete
mijloacele de procesare, stocare i prezentare a datelor , precum i nu n ultimul rnd al preciziei
i repetabilitii acestora. Aparatura necesar analizei metalografice cantitative computerizate
cuprinde: microscopul, camera video cu sau fr adaptor optic, placa digitizoare (interfaa),
calculatorul propriu-zis cu unul sau mai multe monitoare i o imprimant (i/sau video-
imprimant) pentru tiprirea rezultatelor (date i imagini).

Imaginea structurii materialelor se formeaz n microscopul optic (sau electronic) de unde este
prelucrat de camera video. Pentru obinerea unei imagini ct mai fidele este necesar ca rezoluia
video s fie suficient de mare (raportul semnal zgomot) ct mai mare. Camera video trimite
semnalul analogic ctre placa digitizoare care are rolul de transformare a semnalului primit n
semnal binar (digital) recunoscut de calculator.

Calculatorul propriu-zis cuprinde dou componente de baz i anume Hardware i Software .

Componenta Hardware cuprinde i procesoarele iar componenta Software cuprinde programul
sau programele care , pe baza unor relaii matematice asigur prelucrarea datelor.

Aadar, analiza digital de imagine constituie definirea i procesarea unor elemente complexe
(detalii de imagine) care adesea au un grad sczut de evideniere.

Un element important al analizei de imagine l constituie manipularea imaginii astfel nct

aceasta s fie ct mai reprezentativ sau, cu alte cuvinte, s scoat n eviden ct mai exact
detaliile de interes, care vor trebui apoi cuantificate. n final analiza computerizat de imagini
extrage informaiile utile dintr-o imagine (sau mai multe), produsul final fiind un rezultat
numeric.

Operaiile de baz din analiza digital de imagine sunt:

-captarea imaginii;

-digitizarea imaginii;

-mbuntirea claritii imaginii prin modificarea luminozitii i contrastului;

-binarizarea imaginii;

-definirea i extragerea caracteristicilor (detaliilor) ce trebuiesc a fi msurate;

-msurarea caracteristicilor (detaliilor) selectate;

-stocarea sau tiprirea datelor obinute.

DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

Procesul de segmentare (binarizare) a unei imagini este cel mai important pas n analiza de
imagine deoarece aceasta cere localizarea cantitativ a frontierelor de interes (dintre faze) i
formarea unei imagini binare (negru pe alb) cu diferitele caracteristici structurale care trebuiesc
analizate.

Toate calculatoarele utilizeaz ca baz pentru msurarea detaliilor structurale, imaginile binare.
Dup stabilirea clar a frontierelor dintre faze se selecteaz caracteristicile care trebuiesc
msurate (arii, perimetre, unghiuri, forme etc.). Datele pot fi examinate direct sau stocate n
memoria calculatorului pentru prelucrare statistic ulterioar sau pot fi trimise ntr-un program
special de prezentare grafic i apoi tiprite.

Semnalul video

Un semnal video prezint mai multe caracteristici majore i anume:

-un tun electronic genereaz un fascicol electronic;

-fascicolul de electroni este deplasat orizontal de la stnga la dreapta i de sens n jos, formnd
un cmp n 1/60 secunde;

-fascicolul repet operaia dar decalat fa de prima scanare formnd un al doilea cmp.

-Cele dou cmpuri sunt intercalate rezultnd un cmp vizual ntreg (o imagine) fr s clipeasc
i care se repet la interval de 1/30 secunde.

Timpul necesar fascicolului pentru deplasarea (baleierea) pe orizontal i vertical este

determinat de viteza de scanare de 1/60 secunde (16,67 m sec) pentru un cmp complet. Sistemul
NTSC prevede 525 linii orizontale pe imaginea total rezultnd un numr de 525/2=262,5 linii
pe cmp. Dintre acestea ns nu sunt toate active. Astfel, 21 de linii nu se
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

vd deoarece fascicolul este suprimat pentru a i se permite s se ntoarc n partea de sus a

ecranului. Se deduce astfel c numrul de linii active de scanare pe un cmp este de 262,5-21
adic aproximativ 240 linii pe cmp. Pentru un monitor de 15 rezoluia vertical aproximativ
va fi deci 240/15=16 linii/inch iar aria activ a imaginii de 480 linii/cadru. Raportul dintre
nlimea i limea unei imagini TV este 3:4 aadar, limea imaginii va fi de 15x4/3 = 20 .
Dimensiunea orizontal este de 330 linii deci rezoluia orizontal va fi 330/20 = 16,5 linii/inch.
Spre comparaie, un hard copy laser are o rezoluie de 300 puncte/inch.

Formarea imaginii prin scanarea video

Pe msur ce fascicolul de electroni se deplaseaz baleiind imaginea microscopic se produc

schimbri n intensitatea semnalului datorate reflectivitilor diferite (ntunecat fa de luminos).
Cnd fascicolul electronic atinge un anumit subiect puterea (intensitatea) semnalului va fi
dependent de reflectivitatea acestui subiect. O imagine complet neagr, care nu reflect, va avea
semnal zero, n timp ce o imagine strlucitoare are un semnal de ieire puternic. Prin baleierea
ntregii imagini se obine un semnal electric analogic complet corespunztor reflectivitii
imaginii.

Convertirea (digitizarea) semnalului analogic

Semnalul electric astfel obinut de camera video este trimis la placa digitizoare. Aceasta este
calibrat astfel nct ntregului semnal analogic i se asociaz o scar alctuit din 8 bii adic 28
= 256 nivele de gri. Acest lucru nseamn c pentru culoarea alb se asociaz nivelul 255 iar
pentru culoarea neagr nivelul 0. Scara continu de nuane ntre negru i alb va fi deci mprit
n 256 de valori distincte (segmente). Fiecare segment de nuan (nivel de gri) va avea deci o
valoare discret n imaginea digitizat.

Trebuie remarcat faptul c ochiul uman poate distinge doar ntre 40 i 60 de niveluri de

gri.

Prin digitizarea unei imagini aceasta se poate descrie prin intermediul unei histograme a
nivelurilor sale de gri.

Acurateea imaginii (rezoluia)

n procesul de digitizare a unei imagini prin linii orizontale i verticale se formeaz o reea plan
de mici elemente numite picture elements sau pixeli (figura 70). Fiecare pixel dintr-o
imagine se poate identifica prin poziia sa n reea, respectiv prin numrul rndului i coloanei la
care se gsete. Prin convenie se consider pixelul din colul stnga de sus al unei imagini ca
fiind (0,0).

Deci, cnd o imagine oarecare este digitizat ea va fi tratat ca o reea de pixeli. Aceasta
nseamn c fiecare pixel este catalogat iar luminozitatea sa este msurat i cuantificat .
Aceast msurare conduce la o valoare care reprezint luminozitatea imaginii n acel punct.
Numrul total de pixeli dintr-o imagine determin rezoluia imaginii.
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

n funcie de capacitile de msurare hardware i de complexitatea unei imagini se pot utiliza

ntre 1 i 32 bii pentru stocarea valorii unui pixel.

Valoarea unui pixel dintr-o imagine care conine numai alb i negru este uor de reprezentat
printr-un singur bit : 0 = negru; 1 = alb. O imagine fotografic. ns, care conine mult mai mult
informaie necesit 24 bii pentru a reprezenta toate culorile posibile care pot aprea n imagine.
La 24 bii corespund peste 16 milioane culori, cu mult mai mult peste ceea ce poate distinge
ochiul uman.

Numrul de bii utilizai pentru stabilirea valorii unui pixel constituie adncimea unui pixel (BPP
= bits per pixel). Numrul de bii per pixel utilizai pentru reprezentarea valorii fiecrui pixel
determin clasa imaginii.

Pe de alt parte este extrem de important ca sistemul de digitizare al imaginii, camera i

monitorul s se potriveasc. Rezoluia camerei trebuie s fie de cel puin dou ori mai mare dect
cea a sistemului de digitizare (criteriul Nyquist [96]. Aceasta nseamn c, pentru ca informaia
din fiecare pixel dintr-o arie de 512x512, s fie cea real este necesar reprezentarea la o vitez
dubl respectiv 1024x1024. Dac viteza de scanare (rezoluia) este mai mic atunci apare
zgomotul pe imagine respectiv distorsiile. Aadar orice imagine analog cu o rezoluie mai
mic de 512x512 va introduce zgomot n sistem ca rezultat al rezoluiei slabe.

Alegerea camerei video

Sistemul video are sarcina principal de a converti o imagine optic ntr-un semnal electric care
este transmis digitizorului.

O camer video cuprinde un receptor, lentile, surs de alimentare amplificator i carcas. Capul
camerei (receptorul) poate fi fix sau mobil, n acest ultim caz focalizarea imaginii pe monitor
realizndu-se fr modificarea setrii microscopului.

Exist mai muli parametri care determin alegerea unei camere video pentru a fi montat ntr-un
sistem de analiz de imagine. Cei mai importani dintre acetia sunt: sensibilitatea la lumin i la
lungimea de und a luminii (senzitivitatea spectral); rezoluia exprimat prin numr de linii /
cmp sau numr de pixeli / cmp, contrastul i nivelele de gri (rspunsul spectral); decalajul
(viteza de scanare a unui cmp fr interferen de semnal); distorsia geometric (linearitatea
ntr-un cmp, repetabilitatea); petele i zgomotul pe imagine; posibilitatea de reglare automat
sau manual a semnalului de procesare (inclusiv viteza de scanare); caracteristicile constructive
(mrime, greutate, construcie compact sau cu tuburi); corecia gamma (raportul dintre mrimea
semnalului de ieire n voli i semnalul de intrare exprimat prin intensitatea luminoas);
rezistena la ocuri i vibraii; capacitatea de reducere a nceorii (opacizrii) imaginii
(ntreptrunderea culorilor a doi pixeli vecini); preul de cost.

Din punctul de vedere al liniilor verticale, sistemul american NTSC prevede 525 linii, sistemul
european PAL prevede 625 linii iar sistemul japonez 1125 linii.
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

Constructiv se deosebesc dou tipuri de camere video respectiv cu tuburi i construcie compact
(cu cipuri).

Scopul prelucrrii unei imagini metalografice n vederea analizei cantitative este acela de a
mbunti claritatea i contrastul acesteia prin nlturarea arte-factelor. Operaiile includ:
procesarea nivelurilor de gri prin modificarea histogramei acestora , modificarea domeniilor
spaiale i a domeniilor de frecven. n final trebuie s se obin o imagine care s poat fi uor
segmentat. Cele mai multe operaii presupun pe de o parte netezirea (smoothing) pentru
eliminarea zgomotului i mbuntirea contrastului limitelor de faz.

Modificarea domeniului spaial are la baz dou operaii principale respectiv netezirea i
evidenierea limitelor de faz. Toate aceste operaii se bazeaz pe operaiile de convoluie ale
domeniilor spaiale.

Netezirea imaginii se asociaz cu reducerea zgomotului.

Prin filtre specifice se elimin componente de frecven mare (zgomot de fond). Filtrul median
care presupune aplatizarea valorilor unor pixeli dintr-un careu de o dimensiune aleas (3x3, 5x5
sau 7x7 pixeli) trebuie selectat astfel nct s asigure un raport optim ntre reducerea zgomotului
i degradarea imaginii.

mbuntirea claritii imaginii prin modificarea domeniilor de frecven.

Pe lng operaiile de baz, programele moderne de analiz cantitativ de imagine permit o serie
de operaii adiacente care s conduc la obinerea unor rezultate finale cu erori minime i
repetabilitate superioar.

Orice imagine binar poate fi expandat pn cnd un singur pixel umple ntregul cmp. Toate
imaginile se pot edita prin utilizarea unui tablou digitizor (modificarea unui singur pixel). Prin
utilizarea de ctre operator a unor ferestre interactive se pot cuantifica toate particulele sau

doar cele care cad n interiorul ferestrei adoptate. De asemenea, pentru acurateea msurtorilor,
caracteristicile de interes care sunt intersectate de marginile cmpului de observaie sau al
ferestrei introduse de operator pot fi contabilizate sau excluse de la contabilizare. Ferestrele
introduse de operator pentru delimitarea ariei de studiu pot avea orice form. Calibrarea
sistemului pentru fiecare obiectiv al microscopului poate fi salvat n fiiere specifice i utilizat
ori de cte ori este nevoie la comand.

Mai mult, n ultima perioad s-a trecut la prelucrarea i cuantificarea imaginilor color. Acest
lucru permite digitizarea imaginii pe trei niveluri de culoare (rou, verde, albastru RGB). Prin
combinarea informaiei celor trei niveluri de culori n unul se obine o segmentare pe culoare a
caracteristicilor de interes cu implicaii favorabile asupra acurateii msurtorilor.

Msurtorile cantitative efectuate dup prelucrarea corespunztoare a imaginilor sunt mprite n

dou categorii mari i anume : msurtori specifice ntregului cmp observat i msurtori
specifice fiecrui obiect (caracteristic de interes)
DUTU RAZVAN FLORIN / SIM / SMMF / Gr I C

Msurtorile cantitative specifice ntregului cmp (sau mai multor cmpuri) includ: numrul total
de obiecte din cmp (cmpuri) ; fracia de arie (volumic) ocupat de o caracteristic de interes ;
aria total a caracteristicilor de interes (n pixeli sau n valori absolute rezultate n urma unei
calibrri) ; aria total a cmpului (cmpurilor) sau ferestrei analizate.

Msurtorile cantitative specifice obiectelor sunt n numr mare, dintre acestea alegndu-se cele
care sunt de interes pentru un caz anume. Dintre aceste operaii se pot aminti ; aria obiectelor ;
perimetrul ; diametrul (maxim, minim, mediu, Feret) ; centrul de greutate ; distana i unghiul
pn la cel mai apropiat vecin ; coeficientul de form eliptic ; coeficientul de form circular ;
momentul de inerie ; orientarea ; lungimea ; limea etc. Dup efectuarea acestor msurtori se
efectueaz distribuia pe clase (funcie de tipul msurtorilor efectuate).

Determinarea mrimii de grunte i incluziuni nemetalice reclam unele aspecte adiionale i

operaii mai complexe [97] [98] [99] [100] [101] . Pe baza dezvoltrii tehnicilor de analiz
automat cantitativ au aprut o serie de standarde noi (ASTM) care se ocup de problema
determinrii mrimii de grunte i incluziuni precum ASTM E112, E1122, E1245.

Msurtorile cantitative se pot efectua asupra tuturor caracteristicilor sau selectiv. Pot fi
eliminate, astfel, caracteristici pe baz de mrime, sau form. Spre exemplu n cazul fontelor
nodulare se pot cuantifica doar acele separri de grafic cu un anumit coeficient de form (> 0,7)
care s evidenieze gradul de nodulizare ( 1). Pe baza mrimii particulelor se pot separa n
fontele albe carburile primare de cele eutectice i secundare sau pe baza factorului de form se
poate determina gradul de modificare al structurii acestor fonte cu modificatori, etc.

O caracteristic important a msurtorilor cantitative n general este aceea c sunt statistice

pentru a se putea obine informaii cu erori ct mai mici. Din acest motiv analiza automat de
imagine trebuie s fie fcut pe un numr ct mai mare de cmpuri adoptate aleator sau pe o
suprafa de prob ct mai mare alctuit din mai multe cmpuri alturate. Pentru aceasta este
necesar ca microscoapele utilizate s fie dotate cu mese automate a cror deplasare pe axele de
coordonate este realizat cu ajutorul unor motorae electrice n pai, de mare precizie i eventual
i cu autofocusare comandate direct din programul de analiz disponibil.