Sunteți pe pagina 1din 27

Metode de caracterizare

structurala in stiinta
nanomaterialelor
Microscopia electronica prin transmisie
fundamente si aplicatii.
Partea II

Dr. Eugeniu VASILE

Introducere

Microscopia electronica prin transmisie (TEM) este un instrument foarte


puternic, destinat examinarii materialelor la inalta rezolutie.

Intr-un microscop TEM, electronii sunt indreptati, trecand printr-o serie de


lentile electromagnetice, spre o proba subtire (sub 200 nm grosime).
Electronii transmisi trec apoi prin lentile aditionale pentru a fi proiectati pe
un ecran de vizualizare sau inregistrati cu o camera digitala.

TEM poate furniza detalii microstructurale pana la nivel atomic si poate fi


utilizat pentru examinarea structurilor cristaline si defectelor cristaline.

Informatiile obtinute prin examinarea TEM sunt utilizate la determinarea


interdependentei dintre structura si proprietati pentru un domeniu
cuprinzator de materiale, domeniu ce include metale, aliaje, semiconductori,
ceramici,suporturi nanoporoase si polimeri.

Dr. Eugeniu VASILE

Interactia electronilor cu proba in TEM

Dr. Eugeniu VASILE

Probe pentru TEM


Mici, de maximum 3 mm in diametru
Subtiri, de la 5-10 nm pana la 100-500 nm, in functie de natura lor
si de tehnica de investigare.
Materiale masive: discuri subtiri, subtiate pana la perforare,
transparente pentru electroni, la marginea gaurii.
Pulberi: mojarate, dispersate intr-o suspensie, culese pe grile (de
Cu, de Mo sau Be), acoperite cu un film subtire de carbon

Dr. Eugeniu VASILE

Tipuri de informatii
TEM poate furniza cateva tipuri de informatii despre proba:
Imagini (contrast de masa-grosime si contrast de faza);
Structura (contrast de faza, difractie de electroni);
Chimie(EDX, EELS).

Imagini
Rezolutia TEM este mult mai buna decat rezolutia SEM, cele mai bune
TEM pot rezolva atomii;
Multe tipuri de structuri sunt vizibile numai cu TEM;
Pot fi obtinute din contrast informatii structurale (despre defecte, de ex.)

Dr. Eugeniu VASILE

Dr. Eugeniu VASILE

Tunul de electroni:
monoenergetic;

Condensor: iluminarea uniforma a probei, pastreaza fascicolul in centru la


schimbarea maririi;

Obiectiv: formeaza imaginea probei, determina rezolutia; daca este bine


aliniat imaginea este nedistorsionata, contururile caracterelor din imagine
sunt nete;

Proiector: mareste imaginea si formeaza imaginile de difractie; nu trebuie


sa afecteze rezolutia; daca nu este bine aliniat imaginea va fi distorsionata
iar imaginea de difractie de electroni neclara.

Dr. Eugeniu VASILE

obtinerea

unui

fascicol

de

electroni

intens,

Formarea imaginilor
Mecanisme de contrast in TEM
Contrast de masa si de grosime;
Contrast de difractie imagini TEM in camp luminos si
imagini TEM in camp intunecat;
Contrast de faza HRTEM;
Contrast de numar atomic Z HRSTEM.

Dr. Eugeniu VASILE

Contrast de grosime

Diagrama
TEM-BF

Dr. Eugeniu VASILE

SiO2 amorf

EELS map

Contrast de difractie in TEM

Supraconductor

TiAl lamelar

Dr. Eugeniu VASILE

Imagini de contrast de faza (HRTEM)

Microscopia electronica prin transmisie de inalta rezolutie (HRTEM) este


una dintre cele mai importante metode utilizate pentru caracterizarea
nanomaterialelor. Mecanismul cel mai important pentru formarea
contrastului pentru HRTEM este contrastul de faza.
Daca proba este suficient de subtire pentru HRTEM (adica mai putin de 50
nm), interactia dintre fascicolul de electroni si potentialul electrostatic al
nucleelor de atomi din proba produce modificari de faza ale unei parti din
undele asociate apartinand aceluiasi front de unda.
Formarea imaginii cu contrast de faza necesita selectarea a inca cel putin
unui fascicol (fascicol direct plus minim un fascicol difractat).
Astfel de fascicole interfera pentru a da o imagine cu o periodicitate ce este
functie de distanta interplanara corespunzatoare.
Daca fascicolul este aliniat paralel cu un ax de zona de indici (hkl) mici, se
observa franje paralele in diferite directii. Aceste franje corespund spoturilor
din difractia de electroni ce au fost selectate pentru formarea imaginii.

Dr. Eugeniu VASILE

Franjele sunt atat de asemanatoare planelor atomice incat putem gresi usor
crezand ca acestea sunt chiar plane atomice.

Franjele retelei nu sunt imagini directe ale structurii dar chiar dau informatii
asupra distantelor interplanare si orientarilor cristaline.

Interpretarea imaginii HRTEM nu este usoara, datorita faptului ca, in plus


fata de interactia fascicolului de electroni cu proba, trebuie luat in
consideratie efectul imperfectiilor lentilelor electronice asupra procesului de
formare a imaginii. Modul in care microscopul transfera undele cu diferite
modificari relative ale fazei acestora este definit prin asa-numita functie de
transfer contrast (CTF).

CTF defineste rezolutia microscopului si depinde de calitatea lentilelor


obiectiv (aberatia sferica), de tensiunea de accelerare (lungimea de unda
asociata) si de conditiile de focalizare. Totodata, aberatiile cromatice,
imprastierea energetica si focala a fascicolului, intensitatile tensiunii de
accelerare si ale curentului prin lentilele obiectiv influenteaza, de
asemenea, formarea contrastului.

Dr. Eugeniu VASILE

Contrast de faza - HRTEM

Dr. Eugeniu VASILE

Identificarea de faze din prelucrarea imaginilor de


inalta rezolutie
Nanoparticule Fe-Cr

Din compararea distantelor interplanare (si unghiurilor) masurate cu


structurile cunoscute rezulta tipul retelei cristaline si identificarea fazei.

Dr. Eugeniu VASILE

Contrast de numar atomic Z-HRSTEM


HRSTEM

HRTEM

HRSTEM

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta
materialelor
Nanoparticule de aur

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta materialelor


Nanoparticule de Fe2O3
obtinute prin metoda
hidrotermala

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta
materialelor
Nanoparticule de
magnetita (Fe3O4)

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta
materialelor
Nanoparticule de
magnetita (Fe3O4)
cu invelis de
cupru:HRTEM,
EDS, EELS

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta
Materialelor
Pulbere de hidroxiapatita

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta
materialelor
Compozit polimer montmorinollite

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta
materialelor
Nanostructuri de carbon

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta materialelor


Nanocompozite polimer-nanotuburi de carbon

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta materialelor


HOPG

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta
materialelor
Nanoparticule de fier
cu invelis de carbon

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta
materialelor
Microfire
nanostructurate ZnO

Dr. Eugeniu VASILE

TEM in stiinta materialelor


Defecte structurale in aliaje metalice

Aliaj baza cobalt

Dr. Eugeniu VASILE

Otel inoxidabil