LUCRAREA NR.

M AT E R I A L E D I E L E C T R I C E S O L I D E

Scopul lucrării
Scopul acestei lucrări este determinarea permitivităţii complexe relative a
materialelor dielectrice solide uzuale şi analiza comportării acesteia în frecvenţă.

I. Introducere teoretică
Dielectricii sunt materiale care se caracterizează prin stări de polarizaţie
cu funcţie de utilizare. Prin stare de polarizaţie electrică se înţelege starea
materiei caracterizată prin momentul electric al unităţii de volum diferit de zero.
Starea de polarizaţie poate fi temporară dacă depinde de intensitatea locală a
câmpului electric în care este situat dielectricul şi poate fi de deplasare
(electronică sau ionică) sau de orientare dipolară. Starea de polarizaţie
permanentă nu depinde de intensitatea locală a câmpului electric şi poate fi
spontană (piroelectrică) sau piezoelectrică.
Indiferent de mecanismul de polarizare, în domeniul liniar, interacţiunea
unui dielectric izotrop cu câmpul electric este caracterizată de permitivitatea
complexă relativă:
D
     j  (1)
0 E

unde D este inducţia electrică

E este intensitatea câmpului electric:
1
0   109 F / m , permitivitatea vidului.
36
Dacă un material dielectric cu permitivitatea complexă relativă , se
introduce între armăturile unui condensator având în vid capacitatea C o în
aproximaţia că liniile de câmp se închid în întregime prin material (efectele de
margine sunt neglijabile), admitanţa la bornele condensatorului astfel format are
expresia:
Y  jC 0  j   j C 0  C 0  jC 0 (2)
Deci, condensatorul cu materialul dielectric între armături este echivalent
cu un condensator fără pierderi, Ce = ,Co, având şi o rezistenţă de pierderi în
1
paralel cu condensatorul, de valoare R e  C
0

Schema echivalentă şi diagrama fazorială sunt date în Figura 1.

—————————————————————————————————————
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF
LUCRAREA NR. 1 MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
—————————————————————————————————————

Figura 1. Schema echivalentă şi diagrama fazorială pentru

un condensator cu dielectric între armături

Din schema echivalentă se observă că partea reală a permitivitaţii

complexe relative caracterizează dielectricul din punct de vedere al
proprietăţilor sale de a se polariza (indiferent de mecanismul de polarizare) şi
are ca efect creşterea de ' ori a capacitaţii condensatorului la aceleaşi
dimensiuni geometrice, capacitatea condensatorului obţinut fiind :
Ce = 'Co (3)
Partea imaginară a permitivitaţii complexe relative '', caracterizează
dielectricul din punct de vedere al pierderilor de energie în material, pierderi
modelate prin rezistenţa
1
Re  (4)
 C 0

În diagrama fazorială din Figura 1, unghiul  este unghiul dintre

tensiunea U aplicată condensatorului şi curentul I care îl străbate.
Complementarul unghiului de fazaj  se numeşte unghi de pierderi şi se notează
cu .
Se defineşte tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric, ca
fiind raportul:
Pa U  IR IR 1 C 0 
tg        (5)
Pr U  IC IC C e R e   C 0  

unde: Pa: puterea activă la bornele condensatorului

Pr: puterea reactivă la bornele condensatorului
Inversul tangentei unghiului de pierderi se numeşte factor de calitate al
materialului dielectric şi se notează cu
1 
Q   CR  r (6)
tg r
Permitivitatea complexă relativă poate fi pusă şi sub forma:
  
  1  j   1  j  tg   (7)
  

—————————————————————————————————————
LABORATORUL DE MATERIALE -2- CATEDRA TEF
LUCRAREA NR. 1 MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
—————————————————————————————————————
În acest caz, partea imaginară ne dă o informaţie completă asupra
pierderilor totale (pierderi prin polarizare, pierderi prin conducţie electrică,
pierderi prin ionizare) în dielectric. Din punct de vedere al utilizatorului de
componente, pentru materialul dielectric aceşti doi parametri ' şi tg sunt
esenţiali.
Datorită structurii fizice şi fenomenelor comlexe ce se petrec în dielectric
când asupra acestuia se aplică un câmp electric, permitivitatea dielectrică reală '
şi tangenta unghiului de pierderi tg sunt dependente puternic de frecvenţă şi
temperatură.
În Tabelul 1 sunt caracterizate câteva materiale studiate în lucrarea de faţă
(măsurate la  = 20 ºC si f = 50 Hz), iar în Figura 2 şi Figura 3 este prezentată
dependenţa cu frecvenţa pentru ' si tg la temperatura constantă de = 20 ºC
pentru 2 materiale dielectrice uzuale: polietilentereftalat şi policarbonat.
Tabelul 1
Material Tip de polarizare ' tg
Polietilentereftala polarizare de orien- 3 (45)·10-3
t tare
Polimetacrilat de 3,5
" 0,020,08
metil (plexiglas)
Policarbonat " 3 (812)·10-4
Hârtie de 6,6
" (67)·10-3
conden-sator
polarizare de depla-
Mică muscovit sare electronică şi 6,57 3·10-4
ionică
Politetrafluretilenă polarizare de depla-
1,92,2 (14)·10-4
(teflon) sare electronică

Figura 2. Dependenţa de frecvenţă a lui ' si

Figura 3. Dependenţa de frecvenţă a lui ' si
tg pentru polietilentereftalat la tg pentru policarbonat la
temperatura de 200C temperatura de 200C

—————————————————————————————————————
LABORATORUL DE MATERIALE -3- CATEDRA TEF
LUCRAREA NR. 1 MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
—————————————————————————————————————
II. Metoda de masură
Măsurarea permitivităţii complexe a unui material dielectric se face prin
compararea proprietăţior condensatorului cu dielectricul introdus între armături
şi ale aceluiaşi condensator considerat fără dielectric.
Măsuratorile se vor face cu ajutorul unui aparat numit "Q-metru" a cărui
schemă principială este prezentată în Figura 4. Aparatul este format dintr-un
generator de tensiune cu impedanţă internă neglijabilă, un condensator variabil
CV având ca dielectric aerul (deci un factor de calitate mare şi tg mic) şi un
voltmetru electronic care în mod normal măsoară tensiunea pe condensator
(putând fi comutat pe generator când aparatul trebuie calibrat). Semnalul
sinusoidal generat are amplitudine constantă şi frecvenţă variabilă.

Figura 4. Schema principială a Q-metrului

Conectând la bornele Lx ale aparatului o bobină etalon (din trusa

aparatului de măsură) a cărei schemă echivalentă serie este L, r, voltmetrul va
indica tensiunea Uc de pe condensator:
Ug 1
UC  
 
2 C V (8)
1
r 2   L  
 C V 
1
La rezonanţă, L  şi tensiunea pe condensator va fi:
C V
Ug L
U C0    Ug  QL  Ug (9)
rC V r
L
unde Q L  este factorul de calitate al bobinei.
r
Prin menţinerea tensiunii Ug constantă (verificarea se face prin operaţia de
calibrare) tensiunea pe condensator va fi proporţională cu factorul de calitate al
bobinei, voltmetrul fiind etalonat pentru a indica direct factorul de calitate.
Citirea factorului de calitate se face atunci când circuitul este adus la
rezonanţă prin modificarea frecvenţei sau a capacităţii variabile C v, rezonanţa
observându-se când indicaţia instrumentului de măsură este maximă

—————————————————————————————————————
LABORATORUL DE MATERIALE -4- CATEDRA TEF
LUCRAREA NR. 1 MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
—————————————————————————————————————
Observaţie: Indicaţia maximă a instrumentului este aproximativ la rezonanţă,
eroarea fiind cu atât mai mică cu cât Q este mai mare).
Măsurarea permitivităţii complexe a unui material dielectric se face cu
ajutorul unui condensator auxiliar între armăturile căruia se pune dielectricul
respectiv (condensator ce se va conecta la bornele C x ale Q-metrului) şi a unei
bobine din trusa aparatului de măsură ce se conectează la bornele L x (necesară la
realizarea circuitului rezonant).
Etapele de măsură sunt:
a) Se conectează la bornele L x ale Q-metrului bobina corespunzătoare frecvenţei
la care trebuie să se facă măsurătoarea (vezi Figura 5), aducându-se circuitul la
rezonanţă prin modificarea capacităţii condensatorului variabil şi notându-se
valoarea acestuia Cv0.
Observaţie: Pentru măsurarea materialelor care nu se scot dintre armăturile
condensatorului se notează şi valoarea factorului de calitate Q0.

Figura 5. Etapele de măsură.

b) Se conectează la bornele Cx ale Q-metrului condensatorul auxiliar Caux cu

dielectricul între armături şi, fără a schimba frecvenţa, se aduce circuitul la
rezonanţă prin modificarea capacităţii condensatorului variabil notându-se
factorul de calitate Q1 şi capacitatea Cv1.
Observaţie: Este necesar ca pentru măsurătoarea de la punctul a), bobina să fie
astfel aleasă astfel încât valoarea obţinută pentru Cv0 să aibă o valoare cât mai
mare, pentru a fi posibilă măsurătoarea de la punctul b).
c) (Observaţie: Această măsurătoare se face numai dacă modul de lucru permite
scoaterea dielectricului dintre armături). Se scoate dielectricul condensatorului
Caux, fixând apoi distanţa între armături la aceeaşi valoare cu grosimea

—————————————————————————————————————
LABORATORUL DE MATERIALE -5- CATEDRA TEF
LUCRAREA NR. 1 MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
—————————————————————————————————————
dielectricului. Se aduce circuitul la rezonanţă prin modificarea valorii
condensatorului variabil Cv, notându-se factorul de calitate Q2 şi Cv2.
Observaţie: Valoarea Q2 este aproximativ egală cu Q0.

Din măsurătorile efectuate se obţine:

C aux C V0  C V1
   (10)
C aux 0 C V0  C V2

Cunoscând că factorul de calitate echivalent a unui circuit LC la rezonanţă

(cu factorul de calitate QL, respectiv QC) este:
QL  QC
Q (11)
QL  QC
se obtine:
C V0  1 1 
 tg C     (12)
aux
C V0  C V1  Q1 Q 2 

Pentru măsurătorile la care nu se scoate dielectricul dintre armături,

Q 2  Q 0 şi rezultă:
C V0  1 1 
 tg C     (13)
aux
C V0  C V1  Q1 Q 0 

Deoarece condensatorul fără dielectric are pierderi neglijabile faţă de cel

cu dielectric, tangenta unghiului de pierderi a condensatorului se poate aproxima
cu cea a materialului:
 tg  C aux
 tg 

III. Desfăşurarea lucrării

A. Se măsoară partea reală a permitivităţii reale şi tangenta unghiului de pierderi
pentru următoarele materiale: politetrafluoretilena (teflon), polimetacrilat de
metil (plexiglas), stratificat pe bază de hârtie (pertinax), stratificat pe bază de
sticlă (sticlotextolit).
Măsurătorile se efectuează la două frecvenţe, indicate în Tabelul 2. Din
setul de bobine etalon ale Q-metrului se alege bobina corespunzătoare frecvenţei
de măsură astfel încât capacitatea de acord Cv0 să aibă valoare cât mai mare
pentru a putea fi posibilă măsurarea la conectarea condensatorului auxiliar.
Materialele se pun, pe rând, într-un dispozitiv ce formează condensatorul
auxiliar şi, deoarece dielectricul este detaşabil, se urmăresc etapele de măsură
prezentate (a, b, c).
a) Se conectează bobina etalon la Q-metru, se fixează frecvenţa specificată, se
face acordul prin modificarea condensatorului Cv, se notează Cv0.
b) Se conectează, în continuare, condensatorul auxiliar cu dielectric, se reface
acordul prin modoficarea condensatorului variabil, se notează C v1 şi factorul de
calitate Q1.
—————————————————————————————————————
LABORATORUL DE MATERIALE -6- CATEDRA TEF
LUCRAREA NR. 1 MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
—————————————————————————————————————
c) Se scoate dielectricul dintre armături, fixând distanţa între armături egală cu
grosimea dielectricului scos. Se reface acordul, notând Cv2 si Q2.
Valorile menţionate se vor trece în Tabelul 2 care va fi completat cu
valorile calculate.
Tabelul 2.
Materialul Teflon Sticlotextolit Pertinax Plexiglas
f [MHz] 0.165 1 0.165 1 0.165 1 0.165 1
Cv0 [pF]
Cv1 [pF]
Q1
Cv2 [pF]
Q2
r
 r
tg

Se repetă măsurătorile pentru fiecare material.

Observaţie: Prima măsurătoare a este aceeaşi pentru toate materialele la aceeaşi

frecvenţă, dacă se păstrază aceeaşi bobină.

B. Se măsoară partea reală a permitivităţii complexe şi tangenta unghiului de

pierderi pentru următoarele folii dielectrice: polietilentereftalat (mylar), teflon şi
mică.
Măsurătorile se efectuează la frecvenţele specificate în Tabelul 3.

Modul de lucru este următorul:

1. Folosind o bobină etalon corespunzătoare se realizează acordul circuitului
prin modificarea valorii capacităţii condensatorului variabil la frecvenţa indicată
în Tabelul 3. Se notează Qo, Cv0.
2. Se conectează succesiv condensatoarele auxiliare (câte unul pentru fiecare
material dielectric) şi se reface acordul prin modificarea valorii capacităţii
condensatorului variabil. Se notează Q1 şi Cv1.
3. Valoarea condensatorului Cauxo se calculează funcţie de dimensiunile peliculei
de dielectric, având aceeaşi valoare pentru toate frecvenţele.
Rezultatele măsurătorilor şi ale calculelor se trec în Tabelul 3.

Tabelul 3
f [MHz] 0.2 0.3 0.5 1 2 5 10
Bobina nr. 3 4 5 6 7 9 11
Q0
Cv0 [pF]
Cv1 [pF]
—————————————————————————————————————
LABORATORUL DE MATERIALE -7- CATEDRA TEF
LUCRAREA NR. 1 MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
—————————————————————————————————————
Q1

D = 12 mmg = 50 mTeflon D = 12 mmg = 80 mPolicarbonat D = 15 mmg = 50 mMică

Ca0
 r
 r
tg

Cv1 [pF]
Q1
Ca0
r
 r
tg

Cv1 [pF]
Q1
Ca0
r
 r
tg

Conţinutul referatului

 scopul lucrării;
 valorile măsurate şi valorile calculate (Tabelul 2 şi Tabelul 3), formulele de
calcul fiind date la punctul II.;
 reprezentarea grafică   f   , tg   f   pentru materialele măsurate la
punctul III.B.;
 concluzii şi observaţii personale privind fenomenul fizic analizat.

Întrebări şi probleme
—————————————————————————————————————
LABORATORUL DE MATERIALE -8- CATEDRA TEF
LUCRAREA NR. 1 MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
—————————————————————————————————————

1. Cum comentaţi comportarea materialelor măsurate la punctul III.A. la cele 2

frecvenţe?
2. De ce credeţi că alura caracteristicii de frecvenţă pentru ', respectiv tg
pentru polietilentereftalat (mylar) ridicată în laborator diferă de cea teoretică
dată în Figura 2?
3. Să se deducă formula de calcul a tangentei unghiului de pierderi echivalente
a două condensatoare legate în paralel şi în serie când se cunoaşte capacitatea
şi tangenta unghiului de pierderi pentru fiecare condensator.
4. Să se calculeze permitivitatea complexă echivalentă a unui dielectric format
din două straturi de materiale diferite, când se cunoaşte permitivitatea
complexă a fiecăruia (vezi Figura 6).

Figura 6.
5. Să se calculeze rezistenţa echivalentă de pierderi serie şi paralel, pentru
fiecare condensator auxiliar folosit la două din frecvenţele pentru care s-au
făcut măsurătorile.

—————————————————————————————————————
LABORATORUL DE MATERIALE -9- CATEDRA TEF