ANEXA LUCRAREA NR.

2
M ATE R I A L E F E R O E L E C T R I C E
I.

Scopul anexei

Scopul acestei lucrri este prezentarea pe larg a elementelor teoretice i a

aparatelor utilizate n cadrul lucrrii de determinarea dependenei de frecven
i temperatur a permitivitii complexe relative i studiul efectului piezoelectric
pentru materiale ceramice feroelectrice.
II. Noiuni teoretice
2.1

Permitivitatea

Materialele cu polarizare spontan sunt materiale care se caracterizeaz

prin existena unui moment electric nenul al unitii de volum n absena unui
cmp electric exterior. Celula elementar a unui asemenea material prezint
moment dipolar spontan printr-unul din urmtoarele mecanisme:
- polarizarea de deplasare a electronilor atomici;
- polarizarea de deplasare a ionilor celulei elementare.
Vectorul polarizaie spontan
se caracterizeaz prin simetria limit de
tip m care conine urmtoarele elemente de simetrie:
- o ax de rotaie de ordinul care conine dreapta suport a vectorului
- o infinitate de plane de oglindire care conin aceast dreapt.
Pentru ca ntr-un material s existe polarizaie spontan este necesar ca
simetria structural a materialului s constituie, conform principiului lui
Neumann, un subgrup al clasei de simetrie limit m; din cele 32 de clase de
simetrie cristalin existente n natur, numai 10 ndeplinesc aceast condiie i
anume: 1, 2, 3, 4, 6, m, mm, 3m, 4mm, 6mm.
Starea feroelectric reprezint o stare de ordine a materiei, rezultat
spontan din tendina ctre stabilitate care corespunde unui minim al energiei
libere totale a materialului. Din acest motiv temperatura influeneaz starea de
polarizaie spontan prin efectul perturbator. n consecin exist o temperatur
limit, numit temperatur Curie TC, la care agitaia termic distruge starea de
ordine dielectric, materialul pierznd polarizarea sa spontan.
Prefixul fero nu are legtur cu materialul fier, dar reprezint o analogie cu
fenomenul de feromagnetism care se va studia la materiale magnetice. n
anumite materiale, dipolii electrici nu sunt distribuii aleator, ci interacioneaz
unul cu altul, astfel c se pot alinia, unul dup altul, chiar n absena unui cmp
electric aplicat. Va rezulta, prin urmare, o polarizare spontan i o constant
dielectric r mare. Asemenea proprieti sunt foarte utile la realizarea

LABORATORUL DE MATERIALE
CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

condensatoarelor dar, la fel ca n cazul feromagnetismului, nu sunt multe

materiale care au aceste proprieti.
Dup modul n care are loc tranziia de faz la temperatura Curie T C
materialele feroelectrice se mpart n dou categorii:
- materiale cu tranziie de faz de ordinul I caracterizate prin anularea
cu salt a polarizaiei spontane la TC (Figura 1a);
- materiale cu tranziie de faz de ordinul II caracterizate prin scderea
monoton i continu a polarizaiei spontane la TC (Figura 1b).
Structura materialelor feroelectrice poate fi monocristalin sau
policristalin. Indiferent de structura cristalin se constat c n aceste materiale
ordinea dielectric spontan se caracterizeaz prin formarea de domenii
dielectrice n interiorul crora momentele electrice ale celulelor elementare sunt
orientate n aceeai direcie i sens, dar diferite domenii pot avea orientri
diferite. Drept rezultat polarizaia macroscopic prezentat de material este n
general mai mic dect valoarea corespunztoare orientrii homoparalel a
tuturor momentelor dipolare elementare, putnd fi i nul.

Figura 1. Materiale feroelectrice de spea I i II.

Principalele caracteristici ale materialelor feroelectrice sunt dependena de

tip histerezis a induciei electrice de intensitatea cmpului electric aplicat i
dependena permitivitii complexe relative de intensitatea cmpului electric, de
frecven i temperatur.
2.2

Piezoelectricitatea
Materialele feroelectrice care prezint la nivel macroscopic polarizaie
remanent nenul se caracterizeaz prin efect piezoelectric direct i invers, care
const n interaciunea dintre mrimile electrice (intensitatea cmpului electric
i inducia electric ) i mrimile mecanice (tensiunea mecanic
i
deformaia mecanic relativ ). n domeniul liniar, de semnal mic, n regim
armonic (cnd mrimile cauz mecanice i electrice variaz sinusoidal n timp)
efectul piezoelectric poate fi descris cantitativ prin urmtorul sistem de ecuaii:

LABORATORUL DE MATERIALE
-2CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

[D]=0[T][E]+[d][T]

(1)

[S]=[dt][E]+[s ][T]
unde
[E] este reprezentarea n complex simplificat a vectorului cmp electric;
[T] - reprezentarea n complex simplificat a tensorului tensiune mecanic;
[D] - reprezentarea n complex simplificat a vectorului inducie electric;
[S] - reprezentarea n complex simplificat a tensorului deformaie elastic.
Factorii de proporionalitate sunt parametri de material.
Rezonatoarele piezoelectrice (rezonatoare cu cuar i rezonatoare ceramice) fac
parte din categoria dispozitivelor piezoelectrice funcionale alturi de filtrele
piezoelectrice, liniile de ntrziere piezoelectrice i transformatoarele
piezoelectrice. Din punct de vedere al domeniului frecvenelor de lucru,
rezonatoarele piezoelectrice se ncadreaz n dispozitivele piezoelectrice
neliniare, dispozitive care funcioneaz n aproprierea rezonanei elastice unde
amplitudinea undei staionare de natur elastic are amplitudine mare;
amplitudine care scade puternic n afara rezonanei.
Rezonatoarele piezoelectrice sunt dispozitive la care impedana electric de
intrare este puternic dependent de frecven, motiv pentru care sunt utilizate ca
circuite rezonante cu factori de calitate mari i foarte mari (103 103).
Funcionarea rezonatoarelor piezoelectrice se bazeaz pe efectul piezoelectric i
fenomenul de rezonan elastic, caracteristic materialelor cu structur cristalin.
Materialele cu structur cristalin sunt materiale solide, anizotrope,
monocristaline (cuarul, sarea Seignette) sau materiale ceramice policristaline
(titanatul de bariu, titanatul de plumb) i care sunt denumite materiale
piezoelectrice.
Rezonatoarele piezoelectrice prezint avantajul unei mari stabiliti a frecvenei
de oscilaie datorit excelentei combinaii ntre proprietile piezoelectrice i
cele mecanice, termice i chimice ale materialelor monocristaline sau
policristaline cu proprieti piezoelectrice.
Oscilaiile (vibraiile) mecanice care apar n materialele piezoelectrice se
manifest n interiorul cristalului sub forma undelor elastice (mecanice) de
volum sau la suprafaa cristalului sub forma undelor elastice de suprafa.
n schemele electrice rezonatorul piezoelectric este reprezentat prin simbolul:

i este prezent n aproape toate componentele structurale ale sistemelor de

calcul, sistemelor de radiorecepie i a aparaturii de msur, control i urmrire
automat.

LABORATORUL DE MATERIALE
-3CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

a)
b)
c)
Figura 2: a) fr stimuli; b) compresia determin apariia unei tensiuni electrice;
c) aplicarea unei tensiuni electrice determin modificarea (mrirea)
dimensiunilor geometrice (tensiunea mecanic: = F/S)
Proprietile elastice ale unui material anizotrop sunt, deci, descrise de un tensor
de ordinul doi n spaiul hexadimensional avnd 36 de componente:
s11
s
21

s12

s13

s14

s15

s 22

s 23

s 24

s 25

s 26

s 31

s 32

s 33

s 34

s 35

s 36

s 41
s 51

s 42

s 43

s 44

s 45

s 52

s 53

s 54

s 55

s 46

s 61

s 62

s 63

s 64

s 65

s16

(2)

s 56

s 66

Primul indice reprezint direcia deformaiei elastice, iar cel de-al doilea direcia
deformaiei elastice relative.

a)
b)
Figura 3: PZT a) cristal nepolarizat; b)cristal polarizat
Din relaia de definiie a coeficientului de complian rezult c s ij este n
general o mrime complex, dat fiind faptul c Sn nu este n faz cu Tm :

LABORATORUL DE MATERIALE
-4CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

smn = s'mn - js''mn

(3)

Componenta imaginar s''mn caracterizeaz pierderile de putere activ de

natur elastic datorate frecrilor interne ale materialului. Practic aceste pierderi
sunt evaluate cu ajutorul factorului de calitate mecanic Qm definit de relaia:
Qm

s' mn
s' ' mn

(4)

Proprietile electrice ale materialelor anizotrope sunt caracterizate de

coeficientul tensorial de permitivitate dielectric absolut care este un tensor de
ordinul doi n spaiul tridimensional, avnd 9 componente:
11 12
21 22
31 32

13
23

(5)

33

Primul indice reprezint direcia cmpului electric, iar al doilea indic

direcia induciei electrice.

Figura 4: Ciclul de histerezis al materialelor feroelectrice i deplasarea

domeniilor Weiss pentru diferite puncte ale histerezisului
n general coeficienii ij sunt mrimi complexe, deoarece inducia
electric Di produs de cmpul electric Ej este defazat fa de acesta datorit
pierderilor de energie de natur dielectric:
ij = 'ij - j''ij

(6)

Factorul de calitate electric Qe care caracterizeaz acest tip de pierderi

este definit cu ajutorul urmtoarei formule:

LABORATORUL DE MATERIALE
-5CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Qe

' ij

(7)

' ' ij

n sfrit, coeficientul piezoelectric care caracterizeaz proprietile

piezoelectrice ale materialelor anizotrope conine 18 elemente i are urmtoarea
configuraie matriceal:
d 11 d 12
d d 21 d 22
d 31 d 32

d 13
d 23

d 14
d 24

d 15
d 25

d 16
d 26

d 33

d 34

d 35

d 36

(8)

Un parametru important care caracterizeaz sintetic materialele din punct

de vedere piezoelectric este coeficientul de cuplaj piezoelectric K. Ptratul su
reprezint fraciunea din energia electric, respectiv mecanic de excitare care se
transform n energie mecanic, respectiv electric, fiind nmagazinat n
traductorul piezoelectric.
Lucrarea de fa i propune determinarea parametrilor de material
caracteristici ceramicelor piezoelectrice de tip PZT care conin titanai i
zirconai de plumb n diferite concentraii i se obin prin sinterizare. Din punct
de vedere al proprietilor electroelastice, ceramicele de tip PZT prezint o
simetrie de tip m, determinat de existena unei axe polare pe direcia x 3, fiind
caracterizate de urmtoarele configuraii ale matricilor de material:
'11
' 0
0

0
'11
0

0
0
' 33

s'11
s'
12
s'
S' 013

0
d 0
d 31

0
0

0
0

0
d 15

d 15
0

d 31

d 33

0
0
0

s'13
s'13
s' 33
0

0
0
0
s' 44

0
0
0
0

0
0
0
0

0
0

0
0

0
0

s' 44
0

2 s'11 s'12

s'12
s'11
s'13
0

(9)

LABORATORUL DE MATERIALE
-6CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Figura 5: Domeniile Wiess pentru cristal PZT a) cristal nepolarizat domenii

Weiss aleatoare; b) cristal polarizat; c) dup polarizare polarizaia remanent
exist i dup ce cmpul electric nu mai acioneaz asupra probei.
Efectul piezoelectric produce sarcin electric (DC), nu un curent de DC. Toate
materialele feroelectrice prezint i proprieti piezoelectrice, dar reciproca nu
este valabil.
Materialele feroelectrice sunt foarte utile pentru diferite dispozitive i sunt
folosite n mai multe moduri diferite de azi. Dac un material feroelectric este
utilizat n regiunea sa liniar, peste temperatura Currie face un condensator
foarte bun, cu constanta dielectric foarte ridicat. Acestea sunt adesea folosite
la camerele ca o modalitate de a alimenta bliul: o baterie nmagazineaz ncet
sarcina electric pe un condensator, care, atunci cnd este conectat la un bec,
apare o supracretere de curent,obinndu-se astfel bliul. Iniial, bateria ncarc
condensatorul (material feroelectric) i apoi, odat ncrcat, acesta este conectat
la bec.
III.

Metoda de msur i parametrii determinai

3.1 Determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe

relative
Se utilizeaz plachete din material feroelectric ceramic de tip PZT (soluie
solid de titanat- zirconat de plumb) de lungime l, lime a i grosime b, avnd
armturile depuse pe suprafeele mari (al). Schema electric echivalent a
probei este compus dintr-un condensator plan C S0 i un rezistor R0 , n paralel
conform Figurii 6:

LABORATORUL DE MATERIALE
-7CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Figura 6. Schema echivalent a unei probe de material ceramic de tip PZT.

Valorile condensatorului plan C S0 i a rezistorul R0 se msoar cu ajutorul

Analizorului de Reea E 5061A, ntr-o gam de frecvene date, la temperatura
ambiant, aa cum este prezentat n Capitolul IV.
Schema de msur din Figura 7 evideniaz c, proba de material ceramic
de tip PZT este un uniport cuplat prinr-un cablu coaxial la Portul 1
(radiofrecven) RF al Analizorului de Reea E 5061A.
T
1
Analizor de
reea
E 5061 A

Port 1

U
CS0

a
b

R0

Figura 7 Schema de msur a a unei probe de material ceramic de tip PZT.

n planul T de referin al uniportului pentru tensiunea U i curentul I

echivalent semnalului RF aplicat, impedana echivalent a probei materialului de
tip PTZ este dat de relaia:
Z S R0 j

1
C0S

(10)

unde: 2f , iar f este frecvena semnalului (radiofrecven) RF al

analizorului de reea.
Pentru a determina valoarea capacitii C S0 i a rezistor R0 din schema
echivalent a probei, analizorul de reea determin parametrul S11 care se egal cu
factorul de reflexie la sarcin definit de relaia:
S

b
a

(11)

unde:
a este este unda direct a semnalului (radiofrecven) RF;
b este reflectat a semnalului de (radiofrecven) RF.
Dup determinarea factorului de reflexie, avnd n vedere legtura dintre
acest factor i impedana echivalent a probei materialului de tip PTZ dat de
relaia:

LABORATORUL DE MATERIALE
-8CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

ZS
1
ZS Z0 Z0
z 1
S

n
(12)
ZS Z0 ZS
zn 1
1
Z0

unde: Z0 = 50 este impedana caracteristic a cablului coaxial de

legtur i a conectorul (radiofrecven) RF al analizorului de reea,
z r jx este impedana normalizat a impedanei echivalente a
probei materialului de tip PTZ, cu ajutorul diagramei Smith, din Figura 8,
determinm valoarile condensatorului plan C S0 i a rezistorului R0.
n

Figura 8 Diagrama Smith

Diagrama Smith, pe baza relaiei 12, prezint legtura dintre factorul de reflexie
S cu impedana de sarcin normalizat a analizorului de reea. Impedana
normalizat este determinat cu ajutorul cercurilor R constant i a liniilor curbe
X constant . n semicercul superior al diagramei Smith, liniile X constant au un
caracter inductiv i n semicercul inferior al diagramei, liniile X constant au un
caracter capacitiv .
Diametrul diagramei Smith este strabtut doar de cercurile R constant , iar liniile
X constant sunt tangente la acest diametru. Aceasta arat c impedana cu
valorile pe acest diametru are un caracter rezistiv n urmtoarele limite:
S 1, Z S , sarcin n gol,
S 0, Z S Z 0 50, sarcin adaptat ,

(13)

S 1, Z S 0, sarcin n scurtcircuit

LABORATORUL DE MATERIALE
-9CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Pe baza datelor obinute pentru impedana normalizat cu ajutorul diagramei

Smith analizorul va afia pe ecran valorile condensatorului plan C S0 i a
rezistorului R0.
Se determin permitivitatea relativ real ', permitivitatea relativ imaginar ''
i tangenta unghiului de pierderi tg cu relaiile:

C S0 b
;
al 0

C S0 b
;
al 0 Q e

tg

1
Qe

(14)

unde 0 este permitivitatea electric absolut a vidului:0=8,85610-12 F/m

3.2 Determinarea dependenei de temperatur a permitivitii complexe
relative
Se determin variaia cu temperatura a capacitii C S0 i a conductanei
G0 = 1/R0 cu ajutorul montajului din Figura 9.
6

R
4
3

~ 220V/50Hz

~130V/50Hz

Figura 9. Montajul folosit pentru determinarea dependenei de

temperatur a permitivitii.

Cuptorul (1) este nclzit cu o rezisten (3) aflat n pereii cuptorului.

Rezistena de nclzire este alimentat de la reea prin intermediul unui
autotransformator (4). Temperatura din interiorul cuptorului se determin cu
ajutorul termometru (5). Cuptorul gliseaz pe in astfel nct s poat fi
introdus proba (2) care este fixat cu ajutorul a dou tije de ceramic refractar
care apas elastic asupra probei. Prin aceste tije trec dou fire de conexiune,
fiecare fiind n contact cu cte o armtur a probei. Cele dou fire sunt conectate
la o punte RLC ( 6) care msoar elementele C S0 i G0 ale probei.
Se determin variaia lui C S0 i G0 n intervalul de temperaturi
20300C.
Se calculeaz parametrii de material cu urmtoarele relaii:
bC S0
'
;
al 0

tg

G0
0 C S0

' '
'

(15)

unde 0 este frecvena unghiular a semnalului de lucru al punii: 0=104 rad/s.

Temperatura Curie corespunde maximului curbei '(T), reprezentnd
temperatura la care dispare ordinea dielectric n material.

LABORATORUL DE MATERIALE
- 10 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Conform teoriei fenomenologice a feroelectricitii pentru materialele

feroelectrice cu tranziie de faz de ordinul II dependena permitivitii relative
reale de temperatur este de tipul:
'

1
4 0 A 0 TC T

pentru T<TC

(16)

'

1
2 0 A 0 T TC

pentru T>TC

(17)

unde A0 este o constant fenomenologic.

Conform acestei teorii graficul
celor dou drepte ale lui

1
'

1
f (T )
'

arat ca n Figura 10, pantele

pentru T<TC i T>TC avnd raportul:

Figura 10. Dependena

tg 2
2
tg1

(18)

1
f (T ) pentru materiale feroelectrice.
'

3.3 Determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici

Metoda de determinare a proprietilor materialelor piezoelectrice este o
metod dinamic de rezonan. Ea se bazeaz pe faptul c prin aplicarea unui
cmp electric sinusoidal de frecven f punctele materiale ale unei probe
piezoelectrice vor oscila elastic forat cu aceeai frecven f. Amplitudinea
oscilaiilor elastice este maxim dac nu exist fore elastice externe care s le
atenueze. Unda elastic determinat de oscilaiile elastice se propag fie pe o
direcie paralel cu direcia de oscilaie, n acest caz unda elastic numindu-se
und longitudinal, fie pe o direcie perpendicular, corespunztor obinndu-se
o und elastic transversal.
Lungimea de und care caracterizeaz propagarea undei elastice este
dat de relaia:
vf
(19)
f

LABORATORUL DE MATERIALE
- 11 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

unde: vf este viteza de propagare a undei elastice n materialul piezoelectric, iar f

frecvena oscilaiei elastice.
n cazul cnd dimensiunea probei pe direcia de propagare a undei elastice
este un multiplu al jumtii lungimii de und, n proba piezoelectric se
stabilete un regim de und elastic staionar, determinnd fenomenul de
rezonan elastic. n acest caz oscilaiile sunt maxime, singurul fenomen care
limiteaz amplitudinea lor fiind frecarea intern. Deci, rezonatorul piezoelectric
este un dispozitiv electronic care funcioneaz la frecvena electric
corespunztoare regimului de und staionar. El este construit dintr-o structur
de form i dimensiuni oarecare, confecionat din material piezoelectric i dou
armturi metalice pe care aplicnd o tensiune electric de frecven dorit se
induce n structur un cmp electric corespunztor de comand care va genera
oscilaii i unde elastice. Modul fundamental de vibraie la rezonan este
caracterizat de frecvena fs dat de urmtoarea relaie:
fs

vf vf

2l

(20)

Indiferent de forma constructiv i tipul de material piezoelectric, schema

electric echivalent, general valabil, a unui rezonator piezoelectric n regiunea
rezonanei fundamentale este prezentat n Figura 11.

Figura 11. Schema echivalent a unui rezonator piezoelectric.

Elementele din schema echivalent au urmtoarele semnificaii:

C S0

este capacitatea electric prezentat de rezonator dac se mpiedic,

printr-o metod oarecare (de exemplu ncastrare), oscilaia elastic;
R0 este rezistena echivalent a pierderilor de putere activ de natur
dielectric;
reactana L-C modeleaz electric rezonana elastic; inductana L este
determinat de masa rezonatorului, iar C de coeficientul de elasticitate;
R este o rezisten care atenueaz oscilaia electric a circuitului serie L-C,
fiind determinat de pierderile de putere activ de natur elastic,
datorate vscozitii interne a materialului piezoelectric.
Circuitul serie R-L-C este activ numai n apropierea rezonanei elastice, n
orice alt domeniu de frecven el fiind pasiv, prezentnd o impedan mult mai
mare dect circuitul derivaie C S0 -R0: pentru frecvene mult mai mici dect f s
impedana mare este determinat de C, iar pentru frecvene superioare lui f s
impedana mare este determinat de L. Dependena admitanei de intrare a unui

LABORATORUL DE MATERIALE
- 12 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

rezonator piezoelectric de frecvena electric este caracterizat de un grup de

ase frecvene cu urmtoarele semnificaii:
fs - frecvena de rezonan serie a circuitului L-C;
fp - frecvena de rezonan derivaie a circuitului (L-C)- C S0 ;
fm - frecvena la care modulul admitanei este maxim;
fn - frecvena la care modulul admitanei este minim;
fr i fa - frecvenele la care susceptana este nul.
n cazul rezonatoarelor piezoelectrice cu pierderi de natur dielectric i
elastic neglijabile cele trei perechi de frecvene coincid:
fm = fn = fs
fr = fa = fp
La rezonatoarele piezoelectrice realizate din materiale ceramice
piezoelectrice cu coeficient de cuplaj piezoelectric mare i cu factori de calitate
electrici i elastici de valori medii, dei aceste frecvene sunt foarte apropiate, nu
mai pot fi neglijate pierderile elastice care separ frecvenele f s i fp de fn i fm
astfel:
f p fs

fn fm
4
1 2
Qm

(21)

unde Qm este factorul de calitate elastic.

Diferena ntre aceste dou frecvene este mai mic de 1% dac este
ndeplinit condiia urmtoare:
Q 2m f p f s
fs

100

(22)

Caracteristica de frecven a modulului admitanei de intrare a unui

rezonator piezoelectric ceramic este prezentat n Figura 12.

Figura 12. Caracteristica de frecven a modulului admitanei de

intrare a unui rezonator piezoelectric ceramic

LABORATORUL DE MATERIALE
- 13 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Pentru determinarea caracteristicii de frecven a rezonatorului piezoelectric

ceramic vom utiliza Analizorul de Reea E 5061A. Schema de legtur
simplificat a rezonatorului la analizor este prezentat n Figura 13.
Analizor de reea
E 5061 A
Port 1

a1
b1

S11

Port 2

S21

a2
b2

S
1

2
2

Figura 13 Schema de legtur a a rezonatorului piezoelectric ceramic cu

Analizorul de Reea E 5061A

Analizorul de reea determin caracteristica de frecven pornind de la

msurarea termenului S11, care este factorul de reflexie la intrarea rezonatorului
la portul 1 i a termenului S21 ,care este coeficientul de transfer al semnalului
transmis de rezonator de la portul 1 la portul 2. Termenii S11 i S21 aparin
matricei de repartiie [S] a diportului echivalent rezonatorului piezoelectric
ceramic ( figura 9) i se determin cu relaia:

din aceast relaie rezult :

b S a S a
1
11 1
12 2
b S a S a
2
21 1
22 2
b
S
1 a2 0
11 a
1
b
S
1
12
a
2

(23)
(24)

a 0
1

unde : S11 este factorul de reflexie la intrare, cnd la ieire exist sarcin
de adaptare ;
S12 este coeficientul de transfer al semnalului transmis de
rezonator de la portul 1 la portul 2, cnd la intrare exist adaptare;
a1 i a2 reprezint unda incident a semnalului analizorului;
b1 i b2 reprezint unda reflectat de rezonator a semnalului
analizorului;
Similar se definesc i parametri S21 i S22 respectiv:

LABORATORUL DE MATERIALE
- 14 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

S 21

b2
a1 a 2 0

S 22

b2
a2

a1 0

(25)
unde : S22 este factorul de reflexie la ieire, cnd la intrare este adaptare ;
S21 este coeficientul de transfer al semnalului transmis de
Rezonatorul piezoelectric ceramic este un diport echivalent reciproc i n
acest caz:
S12 S 21
(26)
Analizorul msoar termenii S ai elementului msurat i calculeaz
parametri matricei de impedan [Z] i de admitan [Y]. n acest fel, se
determin capacitatea electric prezentat de rezonatorul piezoelectric la
frecvena f<<fs este C T0 C S0 C , inductana L contribuind cu o reactan
neglijabil.
Capacitatea electric prezentat de rezonator la frecvena f>>fs este C S0 .
Indicele superior T exprim faptul c la f<<f s exist oscilaii elastice, iar
tensiunile elastice sunt nule (T = 0), iar S exprim faptul c la f>>f s oscilaiile
elastice sunt complet suprimate (S = 0), avnd o situaie echivalent cu
ncastrarea complet a rezonatorului. Acest fapt se explic prin ineria
materialului datorit creia punctele materiale nu mai pot urmri comanda
electric la aceste frecvene.
innd seama de faptul c rezonatoarele au o form de disc cu raza a i
grosimea b, conform Figurii 14, rezult pentru coeficienii de permitivitate
dielectric absolut i relativ urmtoarele expresii:
T
' 33

C T0 b

T
'33
r

a 2

T
'33
;
0

'S33

C S0 b
;
a 2

(27)

'S33
;
0

(28)

'S33r

b
2a
Figura 14. Forma de disc

LABORATORUL DE MATERIALE
- 15 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

a rezonatorului

unde 0 este permitivitatea absolut a vidului.

Elementele schemei echivalente se pot determina folosind urmtoarele
relaii:
f
C C T0 n
f m

1
;
4 f m2 C
2

R0

Qe
2f 0 C 0

(29)

unde Qe este factorul de calitate electric al rezonatorului determinat la o

frecven f0<<fm.
Rezonatoarele piezoelectrice ceramice sub form de disc vibreaz sub
aciunea unei tensiuni electrice aplicate pe armturi (care genereaz cmpul
electric E3) pe cele dou direcii principale ale sale:
- de-a lungul razei discului, deci perpendicular pe axa x 3 i cu simetrie
cilindric;
START
- de-a lungul axei x3 (modul longitudinal).
Ambele moduri sunt caracterizate de un fenomen de rezonan elastic,
conform Figurii 12.
1. DETERMINAREA
CONDIIILOR
f nr frecvenele
Fie f mr iPASUL
caracteristice
moduluiDE
deMSUR
vibraie radial i Z rm
Iniializarea E 5061 H
modulul impedanei
intrare a Srezonatorului la frecvena f mr .
Selectareade
parametrilor
formatului
datelor planar caracteristic modului de vibraie
Coeficientul Selectarea
de cuplaj
piezoelectric
Specificarea
gamei de
radial KP poate
fi determinat
dinfrecvene
urmtoarea relaie:
Specificarea numrului de puncte de msur
Specificarea nivelului
K 2P puterii f n f m
Specificarea bandei IF2 2,51

1 KP

fm

(30)

Coeficientul de cuplaj transversal K31 se obine astfel:

unde E este

PASUL 2. CALIBRAEA
1
1 E 2
Specificarea kitului de
calibrare

K 31 K P
2
Selectarea tipului de calibrare

Msurarea datelor de calibrare

coeficientul
Poisson
la cmp electric constant.
Corectarea erorilor
de calibrare
Salvarea datelor de calibrare

(31)

IV Scurt prezentare a aparatelor de msurare

4.1 Analizorul de reea E 5061A

PASUL 3. CONECTAREA PROBEI DE MASUR

Pentru Conectarea
executarea
msurtorilor cu analizorul de reea E 5061A se
probei
procedeaz aa
cum este
Ajustarea
scaleiprezentat n schema logic din Figura 15.

PASUL 4. ANALIZA REZULTATELOR MSURTORILOR

Analiza se execut cu ajutorul markerilor i a funciilor acestora.

PASUL 5. EXTRAGEREA REZULTATELOR MSURTORILOR

Depozitarea rezultatelor msurtorilor pe hardisc i pe dischete.

LABORATORUL DE MATERIALE
- 16 CATEDRA TEF
STOP

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Figura 15 Schema logic de msur cu analizorul de reea E 5061A

4.1.1 Cuplarea Analizorului de reea E5061A/E5062A.

nainte de cuplare, analizorul este legat la reeaua de 220 V AC/ 50Hz la priz
Shuko prin cablul de reea cu trei fire. Analizorul se utilizeaz doar n locuri cu
protecie antistatic (ESD), Figura 16, amenajate n felul urmtor: covor
antistatic sub aparat i pe pardoseal, legate printr-un fir la bara de mpmntare
a reelei, brar de mn legat la pmnt printr-o rezisten 1M, legtur
suplimentar a aparatului la bara de mpmntare a reelei printr-un cablul la
borna

de pe panoul frontal.

LABORATORUL DE MATERIALE
- 17 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Figura 16 Loc de lucru cu protecie antistatic

La analizor se cupleaz la bornele corespunztoare de pe panoul din spate:
mouse, tastaur i monitor suplimentar, pentru a uura lucru la aparat.
Cuplarea tensiunii de alimentare se face cu ajutorul comutatorului Power, de
pe panoul din spate al aparatului, pe poziia ON ( | ) i cu butonul
Standby (

apsat, respectiv de pe poziia

pe

4.1.2 Executarea Pasului 1. Determinarea condiiilor de msur

a) Iniializarea E5061A. Dup cuplarea tensiunii, pe ecranul analizorului, pe
baza software-lui Windows 2000 Professional apare o imagine grafic cu
dou bare de meniu. Pe bara de meniu, din partea superioar a ecranului, se
deplaseaz sgeata, cu mouse-ul, pe Instr. state , iar n cadrul etichetei
aprute pe ecran se apas Preset care asigur iniializarea datelor.
b) Selectarea parametrilor S. Pe bara de meniu din partea superioar a
ecranului se deplaseaz sgeata cu mouse-ul pe Response i n cadrul
etichetei aprute pe ecran se apas pe Meas , iar n bara de meniu din dreapta
ecranului se apas :
pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe
relative pe: S11;
pentru determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici pe:
S21.
c) Selectarea formatului datelor. Pe bara de meniu din partea superioar a
ecranului se deplaseaz sgeata cu mouse-ul pe Response i n cadrul
etichetei aprute pe ecran se apas pe Format , iar n bara de meniu din
dreapta ecranului se apas :

LABORATORUL DE MATERIALE
- 18 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe

relative pe Smith i R +jX;
pentru determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici pe
Log Mag.
d) Specificarea gamei de frecven. Pe bara de meniu din partea superioar a
ecranului se deplaseaz sgeata cu mouse-ul pe Stimulus i n cadrul
etichetei aprute pe ecran se apas pe Start , iar frecvena iniial se stabilete
n felul urmtor:
pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe
relative, cu ajutorul tastaturii se tasteaz [3][0][0][k] i [Enter] sau cu
sgeile din csua de meniu a frecvenei, din partea superioar a
ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 300 kHz.
Not: Frecvena de 300kHz este i limita inferioar a gamei de lucru a
analizorului i apare la iniializarea aparatului;
pentru determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici cu
ajutorul tastaturii se tasteaz [4][.][8][M] i [Enter] sau cu sgeile din
csua de meniu a frecvenei, din partea superioar a ecranului, cu
mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 4.8 MHz.
n cazul frecvenei finale se apas pe Stop i se procedeaz n felul urmtor:
pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe
relative, cu ajutorul tastaturii se tasteaz [4][0][M] i [Enter] sau cu
sgeile din csua de meniu a frecvenei, din partea superioar a
ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 40 MHz.
pentru determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici cu
ajutorul tastaturii se tasteaz [5][.][2][M] i [Enter] sau cu sgeile din
csua de meniu a frecvenei, din partea superioar a ecranului, cu
mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 5.2 MHz.

e) Specificarea numrului de puncte de msur. Analizorul, la iniializare

(4.1.2 a), stabilete un numr de 201 de puncte de msur care asigur o
precizie de determinare a rezultatelor ridicat. Aceste puncte de msur se
verific prin deplasarea sgeii, cu mouse-ul, pe bara de meniu superioar, pe
Stimulus i n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas pe Sweep Setup ,
iar n bara de meniu din dreapta va apare: Points 201.
Dac dorim s modificm numrul de puncte, apasm pe bara de meniu din
dreapta Points i tastm, de exemplu: [4] [0] [1] [x 1] i [Enter], pentru 401
puncte de msur. De asemenea, cu sgeile din csua de meniu a punctelor de

LABORATORUL DE MATERIALE
- 19 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

msur, din partea superioar a ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilesc

cele 401 puncte.
f) Specificarea nivelului puteri sursei de semnal. Analizorul, la iniializare
(4.1.2 a), stabilete un nivel al puteri semnalului de radiofrecven de 0 dBm.
Aceast putere se verific deplasnd sgeata cu mouse-ul pe Stimulus i n
cadrul etichetei aprute pe ecran se apas pe Sweep Setup , iar n bara de
meniu din dreapta va apare: Power 0 dBm.
Dac dorim s modificm puterea, apasm pe bara de meniu din dreapta Power
- Power Ranges i tastm, de exemplu: [-] [5] [x 1] [d] i [Enter], pentru o
putere de -5dBm. De asemenea, cu sgeile din csua de meniu a puterii, din
partea superioar a ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete puterea la:
-5dBm.
g) Specificarea bandei IF a receptorului. Analizorul, la iniializare (4.1.2 a),
stabilete banda IF a receptorului la 30 kHz. Aceast band IF a receptorului se
verific deplasnd sgeata cu mouse-ul pe Response i n cadrul etichetei
aprute pe ecran se apas pe Avg. , iar n bara de meniu din dreapta va apare:
IF Bandwidth 30 kHz.
Modificarea bandei IF a receptorului, dup ce am intrat n csua IF
Bandwidth , se execut n felul urmtor:
pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe
relative, cu ajutorul tastaturii se tasteaz [1][0][0][H] i [Enter] sau cu
sgeile din csua de meniu a frecvenei, din partea superioar a
ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 100 Hz.
pentru determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici cu
ajutorul tastaturii se tasteaz [1][0][H] i [Enter] sau cu sgeile din
csua de meniu a frecvenei, din partea superioar a ecranului, cu
mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 10Hz. Asemenea se
procedeaz i pentru frecvenele IF de: 30Hz, 100Hz, 1Khz.

4.1.3 Executarea pasului 2.

Not: Calibrarea se execut numai de profesorii conductori de laborator,
odat sau de dou ori pe semestru.
Pe bara de meniu din partea superioar a ecranului se deplaseaz sgeata cu
mouse-ul pe Response i n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas pe
Cal , iar n bara de meniu din dreapta ecranului se apas urmtoarele :

LABORATORUL DE MATERIALE
- 20 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

a) Specificarea kitului de calibrare: Kit 85032F. Se apas pe Cal Kit 85032F.

b) Selectarea tipului de calibrare. Se apas pe Calibration - 1-Port Cal.
c) Msurarea datelor de calibrare. Conectm sarcina n gol ( OPEN standard)
la portul de test 1 aa cum este artat n Figura 17 i executm calibrarea n gol
prin apasarea pe csua Port 1 Open, care se termin cnd apare bifa n
stnga csuei.

Figura 17 Calibrarea Analizorului de reea

n acelai fel cnd se va face calibrarea cu sarcina n scurtcircuit i de 50 .
respectiv SHORT/LOAD standard la portul 1 de test.
d) Corectarea erorilor de calibrare. Pentru calculul factorilor i corectarea
erorilor de calibrare se apas pe butonul DONE . Respectiv : -1-Port Cal
Done
e) Salvarea datelor de calibrare. Se selecteaz datele ce dorim s le salvm
(calculate pe baza datelor de calibrare msurate), respectiv:
[Save/Recall] - Save Type - State & Cal
Dup care aceste date se salveaz pe disk a analizorului
E5061A/E5062A. Simbolul X care este un numr asigniat filei
salvate.
n final vom apsa [Save/Recall] - Save State - State 0X
n acelai mod se execut calibrarea i la portul de test 2 pentru OPEN/ SHORT/
LOAD standard.
3. Quick Start Guide
4.1.4 Executarea pasului 3. Conectarea probei de msur (Device Under
Test -DUT)
a) Conectarea DUT la E5061A/E5062A. Conectarea se execut aa cum
este prezentat n Figura 18.

LABORATORUL DE MATERIALE
- 21 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Figura 18 Conectarea DUT

b) Ajustarea scalei de msur. Alegem cea mai apropiat scal de msur
prin autoscalare, Figura 19. Pe bara de meniu din partea superioar a ecranului
se deplaseaz sgeata cu mouse-ul pe Response i n cadrul etichetei aprute
pe ecran se apas pe Scale , iar n bara de meniu din dreapta ecranului se
apas Auto Scale All

Figura 19 Ajustarea scalei verticale de msur

Ajustarea scalei analizorului pe axa y, pentru amplitudinea semnalului, se
execut folosind butoanele Scale/Div, Reference Position i Reference
Value, cu ajutorul crora se modific valoarea cu tastatura sau sgeile, n
cadrul csuei de meniu din partea superioar a ecranului. Aceast operaiune se
face pn cnd obinem precizia dorit de msurare.
4.1.5 Executarea pasului 4. Analiza rezultatelor msurtorilor
Aceast seciune descrie cum putem folosi funcia markerului, pentru a citi
parametri importani n urma msurtorilor efectuate.

LABORATORUL DE MATERIALE
- 22 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Dup executarea msurtorilor n formatul dorit, n bara de meniu din partea

superioar a ecranului activm meniul Mkr/ Analysis i n eticheta care se
deschide pe Marker. Astfel, pentru:
4.1.5.1 Determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe
relative. Activm n meniul din dreapta 8 markeri: Marker 1, Marker
2,...,More Marker, ..., Marker 8, Figura 20s. n dreptul fiecrui marker
stabilim, n ordine, frecvenele de msur din tabelul 1 al lucrrii fie cu tastatura
( exemplu [1] [M] pentru 1MHz ), fie cu sgeile brut i fin din csua de meniu
a markerului. Formatul ales pentru rezultatele acestei determinri este Smith,
R+jX care deschide o etichet n stnga ecranului cu urmtoarele valori:
prima este frecvena n kHz sau MHz, a doua este rezistena n , a treia este
reactana n , iar ultima este capacitatea sau inductana corespunztoare
reactanei la frecvena dat i calculat cu ajutorul diagramei Smith. Pentru ca
citirile s fie uor de interpretat IF Bandwidth trebuie s fie pe 100Hz
(4.1.2 g).
Dup citirea rezultatelor, interpretarea i dup caz salvarea lor, n vederea
trecerii la urmtoarele msurtori, n bara de meniu din dreapta ecranului se
activeaz Clear Marker Menu , All Markers i n bara de meniu din
partea superioar a ecranului activm Response i prin Format pe Log
Mag
4.1.5.2 Determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici.
Activm n aceeai ordine, din meniul din dreapta Marker 1 i cu ajutorul
mouse-ului deplasm markerul pe frecvenele stabilite n lucrare pentru
determinarea caracteristici de frecven a modulului admitanei de intrare a
rezonatorului piezoelectric ceramic i a filtrelor ceramice. n eticheta din stnga
ecranului apar n ordine frecvena n MHz i amplitudinea n dB. De asemenea,
se poate activa meniul Marker Search ( din eticheta meniului Mkr/
Analysis i cu Min, Max sau Peak Value markerul se deplaseaz pe
caracteristica de frecven a rezonatorului i filtrelor ceramice i n etichita din
stnga ecranului citim valorile minime, maxime sau de vrf a caracteristicilor de
frecven .
Pentru ca citirile s fie uor de interpretat IF Bandwidth trebuie s fie pe
10Hz ( 4.1.2 g) i ulterior pe : 30Hz, 100Hz, 1Khz.

LABORATORUL DE MATERIALE
- 23 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Figura 20 Analiza rezultatelor msurtorilor

4.1.6 Executarea pasului 5. Extragerea rezultatelor msurtorilor (Save)
Putem salva datele msurtorilor i pe hard disk-ul analizorului i pe floppy disk
ntrnd n meniul de pe bara superioar Instr State, iar n eticheta deschis pe
Save. n funcie de formatul dorit pentru salvarea datelor se procedeaz n
felul urmtor:
4.1.6.1 Salvarea datelor desfurrii - Trace Data(in CSV format)
n formatul CSV (extension: .csv), dac salvm datele sub form de text le
putem interpreta n Microsoft Excel.
a) Folosim una din metode:
[Save/Recall] - Save Trace Data
4.1.6.2 Salvarea imaginii de pe ecran
Putem salva imaginea ecranului n format: Windows bitmap file (extension:
.bmp), Portable Network Graphics format (extension: .png).
Step 1. Prodedm n felul urmtor:
[System] - Dump Screen Image
4.1.7 Decuplarea analizorului E5061A. Se fac urmtorii pai:
Se tasteaz Ctrl + Alt + Del i Shut Down pentru decuplarea software,
apoi cu butonul Standby (

se revine de pe poziia

pe

i comutatorului Power, de pe panoul din spate al aparatului, de pe

poziia ON
( | ) pe OFF ( 0).
4.2 Puntea RLC de precizie E 4980A

LABORATORUL DE MATERIALE
- 24 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Pentru executarea msurtorilor cu puntea RLC de precizie E 4980A se

procedeaz aa cum este prezentat n schema logic din Figura 21.
START

Setarea condiiilor de msurare

ale punii RLC E 4980A.

Parametri de impedan
Tipurile de circuit serie/paralel
Nivelul semnalului

Conectarea dispozitivului de
fixare la puntea RLC.

Configuraie cu 4 terminale
Msurarea contactelor

Setarea funciei de corecie.

Funcia de corelaie

Conectarea DUT la dispozitivul

de fixare.

Executarea msurtorilor.

Compensarea elementelor parazite ale

circuitului de conectare ale probelor R,
L, C

Exemple caracteristice

STOP

Figura 21 Schema logic de lucru cu puntea R,L,C

4.2.1 Cuplarea punii R, L, C,
nainte de cuplare, Puntea R, L, C este legat la reeaua de 220 V AC/ 50Hz la
priz Shuko prin cablul de reea cu trei fire. Puntea se utilizeaz doar n locuri cu
protecie antistatic (ESD), Figura 16, amenajate n felul urmtor: covoare
antistatice sub aparat i pe pardoseal, legate printr-un fir la bara de
mpmntare a reelei, brar de mn legat la pmnt printr-o rezisten
1M, legtur suplimentar a aparatului la bara de mpmntare a reelei printrun cablul la borna

de pe panoul frontal. De asemenea, ca o msur de

LABORATORUL DE MATERIALE
- 25 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

protecie nu se atinge cu mna partea conductoare a cletilor ( rou i negru) ai

capului de msur.
Se apas butonul Standby ( ) i dup o perioad de circa 1min. v-a
apare pe display imaginea din figura 22.

Figura 22 Display, pentru afiarea datelor de msur, al punii R, L, C

4.2.2 Setarea condiiilor de msur
4.2.2.1 Parametrii de impedan, ce se msoar cu puntea R, L, C, se vor
determina din schema echivalent a probei de material ceramic de tip PZT ,
Figura 1. Acetia sunt capacitatea C S0 n paralel cu rezistena R0 . Pentru
selectarea acestor parametrii se apas butonul MEAS SETUP i cu ajutorul
tastelor cursorului cu sgei din drepta display-ului ne deplasm cu markerul, pe
display, pe FUNC. n acel moment va apare n dreapta ecranului un meniu cu
parametri R, L, C, figura 23.

Figura 23 Meniu cu parametrii de msur al punii R, L, C

Vom alege cu ajutorul butoanelor soft din dreapta ecranului CP - ... respectiv
CP - RP i pe ecranul display-ului va apare FUNC CP - RP.

LABORATORUL DE MATERIALE
- 26 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

4.2.2.2 Frecvena de lucru se alege prin deplasarea cu tastele cursorului pe

FREQ i cu tastele numerice se selecteaz frecvena de lucru cifric, ntre
20Hz i 2MHz i se adaug unitile de msur apsnd pe butonul din dreptul
unitii de msur ( Hz, kHz, MHz). Un alt mod de alegere al frecvenei este cu
ajutorul sgeilor, care apar n dreapta ecranului prin apsarea butoanelor
corespunztoare sau , pentru creterea frecvenei i sau pentru
descreterea ei. n vederea determinrii dependenei de temperatur a
permitivitii complexe relative frecvena este 1kHz ( frecvena iniial de lucru
a punii).
4.2.2.3 Nivelul tensiunii de test se alege prin deplasarea cu tastele cursorului a
markerului pe LEVEL. Tensiunea trebuie s fie 1V i se folosesc aceleai
taste numerice i butoane c i pentru alegerea frecvenei, difer unitile de
msur (mV, V ).
4.2.2.4 Medierea rezultatelor dup mai multe
msurtori. n acest scop deplasm cu ajutorul tastelor
cursorului pe AVG i tastele numerice stabilim un numr de
16 msurtori i apsm butonul din dreptul x 1 afiat n
meniul din dreapta display-ului.
Ceilali parametri de msur afiai pe display, rmn aa cum
sunt iniializai la cuplarea aparatului.
4.2.3 Conectarea capului de msur la proba de test.
Capul de msur se conecteaz la armturile probei de material ceramic PTZ cu
ajutorul cletilor rou i negru urmrindu-se s avem un contact ct mai bun.
4.2.4 Setarea funciilor de corecie
Not : Setarea funciilor de corecie se execut numai de ctre profesorii,
care conduc orele de laborator, odat sau de dou ori pe semestru.
Funciile de corecie se aplic n condiiile n care sarcina capului de msur este
n scurt, n gol i sarcin respectiv (OPEN, SHORT, i LOAD).
4.2.5 Msurarea componentelor se face apsnd pe butonul MEAS
DISPLAY i se citesc rezultatele obinute
4.2.6 Decuplarea punii se face apsnd tasta PRESET i butonul
Standby (

LABORATORUL DE MATERIALE
- 27 CATEDRA TEF

ANEXA LUCRAREA NR. 2

MATERIALE FEROELECTRICE

Bibliografie
1. O. Iancu- Materiale i componente electronice, Ed. UPB, Bucureti, 1988
2. P. chiopu, S. Vasilescu Teoria i proiecterea componentelor pasive, Ed.
UPB, Bucureti, 1976
3. I. S. Jeludev Cristale electrice, Bucureti, Editura Tehnic, 1973
4. O. Iancu, P. chiopu, S. Vasilescu Dispozitive dielectrice i magnetice,
Editura UPB, Bucureti, 1976
5. G. Rulea Bazele teoretice i experimentale ale tehnicii microundelor,
Bucureti, Editura tiinific i Enciclopedic, 1989
6. *** Agilent E5061A/E5062A ENA Series RF Network Analyzers
Users Guide, Third Edition, Firmware revisions, Agilent Technologies,
June 2006
7. *** Agilent E4980A Precision LCR Meter, Users Guide, Third Edition,
Firmware Revisions, Agilent Technologies, November 2006

LABORATORUL DE MATERIALE
- 28 CATEDRA TEF