Lentile. Instrumente optice.

Microscopie
electronic

- Refracia pe o suprafa sferic

- Formarea imaginii unui obiect liniar
- Imagini cu rol de obiecte
- Semnificaia unui obiect virtual i a unei imagini virtuale
- Lentile
- Lentile subiri convergente
- Pimul i cel de-al doilea focar al unei lentile
- Lentile subiri divergente
- Diverse tipuri de lentile divergente i convergente
- Convergena lentilelor i dioptria (inversul distanei focale =
convergena)
Convergena = C, C se msoar n dioptrii
- Metode grafice de formare a imaginii n lentile
O raz paralel pe axa optic dup refracia prin lentil
trece prin cel de-al doilea focar al unei lentile C sau pare c
provine din cel de-al doilea focar al unei lentile divergente.

O raz care trece prin centrul unei lentile nu este deviat apreciabil din
cauza faptului c cele 2 suprafee ale lentile prin care trece raza central
sunt aproape paralele n cazul n care lentila este subire.
O raz care trece prin primul focar sau care este ndreptat ctre
acesta este paralel cu axa optic.
Aberaiiile lentilelor
Abaterile unei imagini efective fa de prediciile teoriei se numesc
aberaii. Aberaiile produse de variaia indicelui de refracie cu lungimea de
und se numesc aberaii cromatice.
Aberaia sferic
Razele care pornesc dintr-un obiect punctiform aflat pe o ax optic nu
converg ctre o imagine punctiform. n loc de aceasta, razele converg spre
un cerc de raz minim numit cerc de difuzie minim.
Astigmatismul
Astigmatismul reprezint producerea unei imagini de forma unei linii
pentru un obiect punctual din afara axei optice. n cazul acestei aberaii
razele care pornesc de la un obiect punctiform converg la o anumit distan
fa de lentil ctre o linie n planul definit de axa optic i obiectul
punctiform i la o anumit distan fa de lentil, ctre o linie
perpendicular pe plan
Punctele obiect situate ntr-un plan dau n general imaginea aflat ntr-
un plan, ci pe o suprafat curb, efectul se numete curbura cmpului.
Imaginea unei linii drepte care nu trece prin ax poate fi curbat i drept
urmare, imaginea unui ptrat cu axa trecnd prin centru ce seamn cu un
butoia (laturi curbate spre exterior). Acest efect (distorsiune) este rezultatul
variaiei mrimii transversale cu distana fa de ax.
Este imposibil ca aberaiile s fie eliminate cu o singur lentil, dar
ntr-o lentil compus din cteva elemente, aberaiile unui element pot s
anihileze parial pe cele ale unui alt element.
Este imposibil s se elimine toate aberaiile, dar este posibil s se
decid care anume sunt mai suprtoate pentru o anumit ..........

Lupa
M = mrimea unghiular (grosisment)
y /f 25
M= = ( f n cm )
U y /25 f

y
u= cm
25

Microscopie
- Microscopie optic (M.O.)
- Microscopie electronic (M.E.)
Diferite tehnici pentru investigarea suprafeei probelor
Microscoape

SNOM
AFM
STM
TEM
SEM
 MO

!!!SUBIECT EXAMEN: Microscopul

Mrimile caracteristice unui microscop sunt:

- Puterea de mrime
- Mrimea liniar transversal
- Puterea de separaie
- Adcimea cmpului
Puterea de mrire mrirea puternic egal

Unghiul prin care se vede imaginea obiectului prin

microscop.
(mrimea obiectului)

Teoria formrii imaginii prin microscop arat c distana minim dintre

2 puncte obiect care nu mai pot fi vzute distinct cu ajutorul microscopului
este lumint de fenomenul de difracie care are loc la trecerea fascicolului de
lumin prin deschiderea lentilei obiectiv.
Aceast distan este dat de:
0,61
( abminim ) = lsin um

um valoarea maxim a unghiului pe care l formeaz pe axa optic razele

care pornesc de la obiect i ptrund n lentila obiectiv.
Rezoluia nu depinde de distanele focale ale obiectului i ocularului.
Nu poate fi mrit prin creterea puterii.

Adncimea cmpului microscopului

Adncimea cmpului microscopului are o valoare mic i din acest
motiv exist ntotdeauna un plan bine determinat n care trebuie s se afle
obiectul microscopic studiat pentru ca imaginea lui n microscop s fie clar.
 Se pot observa clar numai punctele obiectului aflate ntr-un plan bine
determinat sau n imediata nvecintate.

Elemente de microcopie electric

Folosete electricitatea pentru a obine imagini microscopice ale unor
obiecte.
Electronii sunt ncrcai electric cu sarcin negativ (face ca acetia
s fie controlai).
-are o mrime de aproximativ 1000ori
-permite vizualizarea pe obiecte separate la o distan de 0,2
micrometri (0,0002mm).
-utilizeaz radiaii luminoase cu lungime de und mic.
S-a descoperit c electronii accelerai se comport n vid la fel ca i
radiaiile luminoase. Acetia se deplaseaz n linie dreapt i au lungimea de
5
und de 10 ori mai mici ca a luminii.

S-a descoperit faptul c un ansamblu de cmpuri electrice i

magnetice are acelai efect ca i lentilele i oglinzile asupra luminii vizibile.
Se pot obine rezoluii de 0,1 nm i mriri de peste 1 milion de ori.

uacc =80 kv , v=150000 km/sec (1,5 * 108 m/s)

uacc = 300kv, v=230000 km/sec (2,3 * 108 m/s)

Pentru a mri viteza electronilor se folosesc tensiuni de accelerare.

I = 1 pA (picoamper) = 1012 A
19
Electonul = 1,6 * 10 C

N=6* 106 electroni/sec - interacioneaz cu proba

1 KeV, =39 nm
 10 KeV, =12nm
100 KeV , =3,7 nm
1 MeV , = 0,87 nm
10 Mev , = 0,12 nm

eV= electron Volt

Emisia termoelectronic
Emisia electronic este o modalitate de a obine electroni din diverse
materiale. n condiii normale de timp i fr aciunea unor factori externi,
electronii nu pot prsi metalele datorit faptului c sunt reinui n interiorul
acestora de fore de tip culumbial, care decurg din strictura metalic.
Metalele = noduri ale reelei care se mic liber
Pentru ca electronii s poat prsi un conductor metalic este necesar
ca s aib o energie cinetic suficient pentru a putea efectua lucrul
mecanic (Lm) contra acestor fore care tind s i rein n conductor. Lm de
extracie/ de ieire el elecronului dintr-un conductor este dat de relaia:
We = Ev
e sarcina electronului
V adncimea gropii de potenial corespunztoare conductorului.
Pentru ca electronul s poat iei trebuie ca:

mv 2
>eV
2

m- masa electronului
v- viteza electronului
e- energia cinetic a electronului

nseamn c electronul trebuie s aib o vitez mai mare dect

valoarea:
 1/ 2

V=
2 eV
( )
m = 2 eV
m

Energia cinetic a electronului din metale depinde de temperatura

conform relaiei Voltzmann.
2
mV 3
= = kT
2 2

23 1
K= 1,381* 10 K J

T= temperatura materialului respectiv

Procesul de emisie al electronului cu creterea T se numte emisie

termoelectric i are loc dac:
2 eV
T 3 K ( )
Un alt fenomen ntlnit la microscopia electronic este emisia
electronic secundar. Aceasta este generat de bombardarea solidelor cu
particule ncrcate sau neutre: electroni, protoni, neutroni, ioni, atomi.
Are loc cnd particulele respective au o energie cinetic cel puin egal
cu valoarea Lm de extracie al electronului.
n urma acestui bombardament, spre exemplu un flux produs de
electronul produs de un filament nclzit, solidul prezint o emisie de
electroni secundari. Electronul care bombardeaz materialul respectiv se
numete electron primar.
Dac se msoar curentul electric corespunztor electronilor primari i
curentul electric corespunztor electronilor secundari din raportul acestora
se determin coeficientul de emisie secundar.