www.referat.

ro

MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE

I.Scopul lucrrii
Scopul acestei lucrri este insusire a metodei de determinarea permitivitii
complexe relative a materialelor dielectrice solide uzuale cu analizatorul RF de
impedanta/material, model E4991a i analiza comportrii acesteia n frecven.
II.Introducere teoretic
Dielectricii sunt materiale care se caracterizeaz prin stri de polarizaie cu
funcie de utilizare. Prin stare de polarizaie electric se nelege starea materiei
caracterizat prin momentul electric al unitii de volum diferit de zero. Starea de
polarizaie poate fi temporar dac depinde de intensitatea local a cmpului electric n
care este situat dielectricul i poate fi de deplasare (electronic sau ionic) sau de
orientare dipolar. Starea de polarizaie permanent nu depinde de intensitatea local a
cmpului electric i poate fi spontan (piroelectric) sau piezoelectric.
Indiferent de mecanismul de polarizare, n domeniul liniar, interaciunea unui
dielectric izotrop cu cmpul electric este caracterizat de permitivitatea complex
relativ:

unde

D
j
0 E

(1)

D este inducia electric

E este intensitatea cmpului electric:

1
109 F / m, permitivitatea vidului.
36

Dac un material dielectric cu permitivitatea complex relativ , se introduce ntre

armturile unui condensator avnd n vid capacitatea Co n aproximaia c liniile de cmp
se nchid n ntregime prin material (efectele de margine sunt neglijabile), admitana la
bornele condensatorului astfel format are expresia:

Y jC 0 j j C 0 C 0 jC 0

(2)

Figura 1. Schema echivalent i diagrama fazorial pentru

un condensator cu dielectric ntre armturi
Capacitatea condensatorului obinut fiind :
Ce = 'Co

(3)

Partea imaginar a permitivitaii complexe relative '', caracterizeaz dielectricul

din punct de vedere al pierderilor de energie n material, pierderi modelate prin rezistena
1
Re
(4)
C 0
Se definete tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric, ca fiind raportul:
C 0
Pa
U IR
IR
1
tg

Pr
U IC
I C C e R e C 0

(5)

Inversul tangentei unghiului de pierderi se numete factor de calitate al

materialului dielectric i se noteaz cu

1
CR r
tg
r

(6)

Permitivitatea complex relativ poate fi pus i sub forma:

1 j 1 j tg

Tabelul 1
Material
Polietilentereftalat
Polimetacrilat
de
metil (plexiglas)
Policarbonat
Hrtie de condensator
Mic muscovit
Politetrafluretilen
(teflon)

(7)

Tip de polarizare
polarizare de orien-tare

'

tg

(45)10-3

"

3,5

0,020,08

"

(812)10-4

"

6,6

(67)10-3

6,57

310-4

1,92,2

(14)10-4

polarizare de deplasare electronic i

ionic
polarizare de deplasare electronic

Figura 2. Dependena de frecven a lui ' si

Figura 3. Dependena de frecven a lui ' si
tg pentru polietilentereftalat la
tg pentru policarbonat la
0
temperatura de 20 C
temperatura de 200C
III. Desfurarea lucrrii
B.Se masoara permitivitateaa complexa, partile reala si imaginara ale acesteia si
tangenta unghiului de pierderi, pentru urmatoarele materiale: teflon, plexilas, pertinax,
sticlotextolit, in gama de frecventa de la 1 MHz- GHz. Materialele se fixeaza, pe rand, in
dispozitivul 16453A si se parcurge algoritmul din figura 7. Calibrarea analizorului se
executa o singura data.
Valorile masurate se trec in tabelul4, ultima linie din tabel se completeaza cu
valorile factorului de calitate, care se calculeaza cu relatia(6).
Tabel 4
Materialul Teflon
Sticlotextolit
Pertinax
Plexiglas
Gama de
frecventa
100MHz 200MHz 100MHz 200MHz 100MHz 200MHz 100MHz 200MHz
r
2,019
2,006
4,71
4,52
5,13
4,6
2,75
2,75
r
0,69
0,41
0,092
0,091
0,311
0,271
0,019
0,014
tg
0,31
0,212
0,019
0,02
0,06
0,058
0,006
0,005
Q
2.92
4.89
51.19
49.67
16.49
16.97
144.73
196.42

tg

C. Se masoara r , r si tg pentru aceleasi materiale la diferite valori ale

frecventei, date in tabelul de mai jos.

Pertinax Sticlotextolit
g=0.95mm g=0.95mm

Teflon
g=3.1mm

f(MHz)

200

300

400

500

600

700

800

900

r
r

1.89

1.94

2.00

2.08

2.16

2.27

2.38

2.61

0.50

1.59

3.28

3.64

6.11

7.12

9.41

14.38

tg

0.16

0.92

1.67

1.82

2.91

3.17

4.16

6.04

6.25

1.08

0.59

0.54

0.34

0.31

0.24

0.16

r
r

4.56

4.62

4.60

4.58

4.57

4.56

4.56

4.55

97.70

94.88

93.91

93.31

90.92

90.22

90.7

90.47

tg

20.85

20.43

20.34

20.36

19.87

19.80

19.87

19.88

0.047

0.048

0.049

0.049

0.050

0.050

0.050

0.050

r
r

4.96

4.80

4.87

4.74

4.71

4.67

4.65

4.61

308.3

298.6

292.3

287.2

281.4

278.3

276.6

271.1

tg

61.54

61.33

60.81

59.45

59.71

59.46

59.43

59.20

Plexiglas
g=2.1mm

0.016

0.016

0.016

0.016

0.016

0.016

0.016

0.016

r
r

2.75

2.74

2.74

2.73

2.73

2.73

2.72

2.72

18.19

14.19

15.26

15.11

13.94

13.09

13.23

13.34

tg

6.49

6.47

5.40

5.60

5.40

5.08

4.74

4.78

0.156

0.154

0.185

0.178

0.185

0.196

0.210

0.210

D.Se masoara r1 , r 2 al probelor de plexiglas si pertinax la frecventele date in

tabelul 6 si rezultatele se trec in tabel. Se realizeaza din cele 2 probe un sandwich care se
introduce intre electrozii dispozitivului de fixare si se masoara valorile la cele 3 valori ale
frevventei.
Tabel 6.
Mate r 100
rial
Perti r1 5.1
nax
3
g1=0.
95m
m
Plexi
r 2 2.7
glas
5
g2=2.
1mm
3.0
Sand rmas
wich
7
Perti
nax+
Plexi
glas(g
1+2=
3.05)
2.8
Sand rcalc
wich
9
Perti
nax+
Plexi
glas
0.1
Sand rmas
wich - 8
Perti
rcalc
nax+

500 800
4.7
4

4.6
5

2.7
3

2.7
2

3.0
0

2.9
8

2.9
9

2.9
7

0.0
1

0.0
1

f(MHz)

Plexiglas

Powered by http://www.referat.ro/
cel mai tare site cu referate