7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

Capitolul 7
Protecţii fiabiliste
prin modul de defectare

7.1. Protecţia simplă

Din cuprinsul capitolului precedent, unde s-a analizat modul de

defectare şi proprietăţile fiabiliste remarcabile ale dedublării
elementelor, se desprinde ferm ideea folosirii eficiente a acestor
proprietăţi în vederea obţinerii unei creşteri substanţiale a fiabilităţii de
sistem / subsistem.
Astfel, dacă un element (componentă) trebuie neutralizat faţă de un
anumit mod de defectare, se poate alege o structură corespunzătoare,
serie sau derivaţie, prin care să se atingă scopul propus; în practică
aceasta se numeşte protecţie simplă (faţă de un singur mod de defectare,
prin creştere sau prin scădere de parametru), iar elementele din structura
respectivă sunt, de regulă, identice.
Aprofundând acest aspect, se vor întâlni unele situaţii specifice
care, în practică, impun rezolvări stringent necesare, mai ales în cazurile
de producere a unor răspunsuri false (§ 1.2.1).
În acest sens pot fi date ca exemplu contactele de releu, care se pot
defecta prin variaţia inadmisibilă a rezistenţei (de contact):
a. – dacă releul este comandat astfel încât un anumit contact sau
grupuri de contacte să fie stabilite, defectarea în această stare
nu se poate produce decât prin creştere de parametru [+];

130
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

b. – dacă acelaşi releu primeşte comandă pentru contact sau

grupuri de contacte întrerupte, defectarea nu poate surveni decât
prin scădere de parametru [-];
Acest comportament fiabilist, oarecum curios, se poate întâlni şi la
alte componente, cum sunt ansamblurile cinematice cu comandă
electrică, la care defectarea se poate produce prin:
a. – dispariţia sarcinii (mecanice), când mecanismul merge numai
în gol, iar rezistenţa (sau impendanţa) de intrare creşte /
defectare prin creştere [+];
b. – blocarea mecanismului (gripare mecanică), iar la intrarea
electrică, în acest caz, se produce o scădere a rezistenţei (sau
impedanţei) /defectare prin scădere [-].

Astfel de proprietăţi, în funcţie de starea pe care elementele o au

în momentul defectării sunt caracteristice şi altor elemente întâlnite în
echipamentele electrice şi electronice, utilizate în regim de comutaţie:
diode, tranzistori, tiristori, transformatori, condensatori, rezistori, filtre
electrice etc.

7.1.1. Elemente defectabile exclusiv prin creştere

parametrică

Dacă în relaţia generală

R(t) + F ─ (t) + F + (t) = 1,
stabilită anterior (§ 6.1), se anulează funcţia de nonfiabilitate pentru
defectări prin scădere de parametru:

F ─ (t) = 0; R(t) + F + (t) = 1;

rezultă imediat că sunt valabile relaţiile:

131
 Fiabilitate funcţională în electronică

F(t) = F + (t); R(t) = R + (t);

z ─ (t) = 0; z + (t) = z(t)  0;

+ = ;  ─ = 0; m + = m; m ─ = 1/  ─ = 

Semnificaţia fizică a procesului de defectare conduce la concluzia

că acele componente care satisfac relaţiile de mai sus nu se pot defecta
decât prin creşteri de parametru, ca de exemplu: mărirea rezistenţei de
trecere (conducţie) la conexiuni prin wrapare, suduri cu fludor, siguranţe
fuzibile, fişe de conductori convenţionali sau trase imprimate de
conexiune, contacte de reglete cu şurub sau cleşte etc.
Evidenţierea acestui caz particular de fiabilitate se poate observa
şi în figura 6.2 (§6.1), dacă F ─ (t) = 0. De asemenea, în reprezentările
grafice din figura 6.3 (§ 6.2), făcând  – = 0 şi  + =  , dispar valorile
semnificative intermediare din ordonate:

 
1   1 ; 1   0
 

Având la bază această proprietate, au fost elaborate şi se folosesc

în practică unele relee de siguranţă pentru sisteme de dirijare în traficul
feroviar. La aceste relee armătura mobilă, care este comandată electric
prin bobine cu excitaţie magnetică, antrenează mecanic contactele
(mobile) care sunt utilizate pentru comutaţie în circuite logice, cu
funcţiuni de protecţie (§1.2.1).
Pentru a se evita defectările prin scădere de parametru (sudura
metal – metal a pastilelor de contact), ceea ce în sistem ar provoca
apariţia de răspunsuri false, perechile de contacte se construiesc cu o
pastilă din argint, respectiv cealaltă din grafit; aceste materiale în
contact mecanic şi electric nu permit sudura între ele, prin urmare este
evitată defectarea (perechilor de contacte) prin scădere de parametru,
132
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

rămânând numai posibilitatea defectării prin creştere parametrică (a

rezistenţei de contact), defectare ce poate duce la răspuns eronat,
eliminându-se practic total răspunsul fals (§ 1.2.3).
Aceste relee (speciale de siguranţă) au o funcţionare în regim de
comutaţie bazată pe efect gravitaţional terestru, care este considerat
absolut sigur (dispariţia gravităţii terestre este imposibilă).

7.1.2. Elemente defectabile dominant prin creştere

parametrică

O altă categorie de elemente (componente) se caracterizează prin

aceea că au un mod dominant (statistic majoritar) de defectare – prin
creştere, fără ca celălalt mod complementar – prin scădere să fie nul (§
6.2 – fig.6.3):
1 1
    0 ; m   m  ;
 

R + (t) < R − (t); F + (t) > F − (t);

R + (t) + F + (t) = 1 ; R − (t) + F − (t) = 1.

Acestui tip de componente, numeroase în practică, îi corespund

rapoartele  + /  > 0,5 respectiv  _ /  < 0,5 (tabela 6.1): acumulatoare
electrice, becuri cu incandescenţă, trase de circuit imprimat, conden-
satori ceramici, conectori, contactori termobimetal, microcomutatori,
potenţiometri, relee, rezistori, termistori, tiristori, tuburi electronice
speciale etc.
O aplicaţie practică a acestei proprietăţi (  + >  − ) este folosită la
elaborarea unui tip de diodă redresoare (cu indicativul de catalog
RA220), destinată şi electroalimentării la bordul unor autovehicule
rutiere.

133
 Fiabilitate funcţională în electronică

În figura 7.1 este redată, simplificat, schema de principiu care

Ia

Uca Ac Ucc

Fig. 7.1
cuprinde:
U c a – tensiunea curentului alternativ primită de la generatorul de
bord (alternator);
Ac – bateria de acumulatoare funcţionând în regim tampon;
U c c – tensiunea curentului continuu obţinut ca efect al redresării
curentului alternativ de către dioda D;
I a – curentul electric continuu debitat pentru alimentarea circui-
telor aparatelor electrice şi electronice la bord.
Dioda D este astfel elaborată, în structura sa internă, încât
defectarea sa se produce, cu o mare probabilitate, prin întrerupere (între
bornele sale) şi nu prin scurtcircuitare. Astfel este evitată alimentarea
bateriei de acumulatoare Ac în curent alternativ / răspuns fals
(periculos), lăsând loc unui răspuns eronat (§ 1.2.3), prin aceea că
încărcarea acumulatoarelor nu se mai realizează.
Această proprietate (  + >  ─ ) poate fi accentuată prin utilizarea
unor structuri de fiabilitate în elaborări corespunzătoare. Dacă, de
exemplu, două componente de acelaşi fel (becuri, bobine, rezistori etc.)
se află conectate electric în paralel (fig.7.2), prin dedublare se obţin
două grupuri echivalente, ce corespund relaţiilor de fiabilitate:

F  F  F  F1  F2   F1  F2   F1  F2  .

134
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

[+] [─]
F1 F1+ F1− F2−

F2 F2+

Fig. 7.2

Dacă cele două elemente (componente) sunt identice:

F '  F'  F'  F2  F   2  F 

Din punct de vedere fenomenologic, un astfel de grup va asigura

îndeplinirea funcţiunii prevăzute, în condiţiile defectării prin creştere
parametrică a oricărei dintre cele două componente. Pe de altă parte,
dacă de defectează prin scădere parametrică, oricare componentă, grupul
în cauză încetează a mai fi în stare validă.

Generalizând această proprietate la un grup compus din n

elemente, conectate în derivaţie (D), se obţine dedubalrea din figura 7.3,
caracterizată prin relaţiile (§ 5.1 – 5.2):

F1 F1+

F2 F2+
▬ F1─ ▬ F2 ▪ ▪ ▪ Fn
Fn Fn+

Fig. 7.3

n n
F  F  F ; F   Fi  ; F  1    1  Fi   ,
i 1 i 1

iar dacă elementele sunt identice:

F '  F'  F' ; F'  Fn ; 
F'  1  1  F n
135
 Fiabilitate funcţională în electronică

Şi circuitele care conţin elemente de tip diport (cuadripol) sau

multiport (multipol), pot fi protejate în raport cu acest mod de defectare,
dacă prezintă două borne în circuitul analizat: tranzistori, tiristori, filtre,
circuite integrate etc. Un exemplu este redat în figura 7.4: a) cu doi
tranzistori; b) cu doi tiristori. În circuitele de ieşire, funcţiunea
îndeplinită (acţionare, alimentare, comutaţie etc.) se realizează şi în
condiţiile defectării prin creştere a rezistenţei de ieşire pentru oricare
tranzistor sau tiristor (T 1 , T 2 ).

T1 T2
T1 T2

a) b)
Fig. 7.4

Prin urmare se poate remarca existenţa următoarelor reguli şi

proprietăţi ale structurilor respective.
 Defectarea predominantă prin creştere de parametru (  + >  _ )
necesită, pentru protecţie, structuri fiabiliste derivaţie, elementele
electrice respective [+] fiind conectate în paralel.
 Structurile fiabiliste corespunzătoare [+] reprezintă cazuri
particulare ale celor generale redundante (§ 5.2): d = 2 (fig.7.2); d = n
(fig.7.3).
 Sporul de fiabilitate prin protecţie faţă de creştere parametrică
este cu atât mai mare cu cât inegalitatea  + >  _ este mai pronunţată
(deoarece  =  + +  _ ; §6.1).
 Creşterea parametrică până la valoarea de defectare se poate face
lent sau brusc (§2.2); valoarea extremă pe care o poate lua parametrul în
cauză este infinită ceea ce, în plan fizic, corespunde cu întreruperea
136
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

elementului la defectare parţială, respectiv a întregului grup la defectare

totală.
 Şi acest mod de aplicare se numeşte protecţie simplă (fiabilistă)
deoarece este avantajos faţă de un singur mod de defectare [+].

O aplicaţie eficientă a protecţiei simple prin creştere de parametru

este aceea a structurilor redundante la realizarea conexiunilor dintre
componente. Cu toate că nu reprezintă componente (piese) propriu-zise,
conexiunile (clasice sau imprimate) ca şi sudurile cu fludor, nu pot fi
neglijate în calcule riguroase de fiabilitate, cum sunt şi trebuie să fie
cele efectuate pentru echipamente de tip profesional.

Cablajul dublu imprimat constituie un mijloc eficient, atât din

punct de vedere tehnic cât şi economic, pentru a se obţine o bună
protecţie în raport cu defectarea prin creştere (  + ).
Modul de realizare este arătat în desenul din figura 7.5a), în care
s-au notat:
C 1 , C 2 – componente propriu-zise (piese);
t – terminale;
c – conexiuni prin trase imprimate;
s – suduri cu fludor.

Trasele imprimate se deteriorează, mai ales, prin corodări –

chimic, prin ruperi (şocuri şi vibraţii) – mecanic, ca şi prin contracţii şi
dilataţii – termic. Toţi cei trei factori (chimic, mecanic, termic) solicită
intens echipamentele de reglare a circulaţiei şi navigaţiei, cu
preponderenţă pe cele montate la bord (nave şi vehicule).
La sudurile cu fludor, de asemenea datorită aceloraşi solicitări şi în
plus, din cauza unui efect de cristalizare (lent în timp) în masa metalică,
rezistenţa electrică creşte progresiv până se ajunge la limita de
defectare.
137
 Fiabilitate funcţională în electronică

C1 C2
t

a)

s
c c

s c s

s c s b)

(i s c s e

s c s c)

Fig. 7.5

Variaţia parametrică pozitivă este, de regulă, rapidă la trasele

imprimate, ajungând brusc la întrerupere. Sudurile cu fludor au, în
general, o variaţie lentă sau rapidă, cu contact electric intermitent,
provocând o funcţionare / defectare cu întreruperi şi reveniri, deci
slăbiri sau intensificări pentru curenţii electrici care le parcurg.
Structura de fiabilitate (fig.7.5b) pentru legătura electrică dintre
cele două terminale t ale componentelor C 1 şi C 2 , ca şi graful
corespunzător (fig.7.5c), conduc la schema de fiabilitate derivaţie –
serie (DS - §5.3.2; fig.5.6), pentru care: s = 3; d = 2. Se mai observă că
trasele imprimate, respectiv sudurile, sunt identice între ele pe ambele
feţe ale plăcii suport.

138
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

Notând funcţiile de fiabilitate ale legăturii electrice dintre cele

două componente C 1 şi C 2 , cu R  (partea plantată / faţă) şi cu R  (partea
neplantată / spate), rezultă:

R = R = R1 = Rs  Rc  Rs = Rc  Rs2,

iar pentru conexiunea dublă (faţă şi spate):

R 2 = R  + R  - R   R  = R 1 (2 – R 1 )

Deoarece paranteza (2 – R 1 ) are valoare supraunitară, R 1 fiind o

probabilitate, rezultă că R 2 > R 1 .
Pentru a evalua eficienţa fiabilistă a acestei structuri, se recurge la
determinarea valorică a raportului R 2 / R 1 , numit factor de eficienţă
fiabilistă şi fiind notat cu  f :
R
 f  2  2  R1  1
R1

Conectarea multiplă este un alt procedeu care, aplicat, permite

ameliorarea fiabilităţii în raport cu creşterea parametrică. În general
comutatoarele, conectoarele, de tot felul, cuplele electrice, contactele de
releu etc., prin uzură mecanică dar şi prin corodare chimică, îşi măresc
rezistenţa electrică de trecere şi astfel se produc defectări prin creştere
parametrică.

În figura 7.6a) este redat cuplajul mobil electric cu ajutorul unei

perechi de fişe (banană electrică şi bucşă / pin, lamă sau picioruş şi
contact metalic elastic etc.). În acest desen s-au notat:
k – suprafeţele de contact electric metal – metal;
s – suduri cu fludor;
c – conexiuni pentru legare în paralel a celor două fişe.

139
 Fiabilitate funcţională în electronică

Dacă se notează cu R  şi R  funcţiile de fiabilitate ale fişelor

(sperioară respectiv inferioară), în conformitate cu structura de
fiabilitate (fig.7.6b) şi graful corespunzător (fig.7.6c) se obţine succesiv
(§ 5.3.3):
R = Rk  R2s ; R = Rk  Rs2 Rc2,

R 2 = R  + R  - R   R  = R k  R s 2 (1+ R c 2 - R k ∙R s 2 ∙R c 2 ) =
= R  + R  ∙R c 2 - R  2 ∙R c 2 )

 f = R 2 / R  = 1+ R c 2 - R  ∙R c 2 = 1+ R c 2 ∙( 1- R  ) > 1.

ss s

c k c a)

s s

s k s
b)
c c
s k s

(i) (e)
s k s

c c
c)
s k s

Fig. 7.6

Tot o aplicaţie eficientă a acestui mod de protecţie simplă (prin

creştere parametrică) este realizarea de componente speciale cu
terminale duble.

140
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

În echipamentele utilizate la reglarea circulaţiei/navigaţiei, un

număr relativ mare de defectări se produc datorită ruperii terminalelor la
unele componente de tip uniport cum sunt, de exemplu, condensatorii şi
rezistorii. Aceste ruperi se produc la exteriorul componentelor, sau la
interior, când au loc desprinderi ale capătului de terminal faţă de
materialul rezistiv sau capacitiv.
Toate aceste defectări apar din cauza şocurilor şi vibraţiilor (cu
intensităţi mari la bord, dar şi la sol) şi au ca efect creşterea bruscă a
rezistenţei electrice de cuplaj galvanic până la infinit - întrerupere (cu
intermitenţă sau permanent).
Rezistorul cu terminale duble, numit şi rezistorul cu 4 borne,
diferă de rezistorul uzual cu 2 borne ( R 2 – fig.7.7a) prin aceea că pe
acelaşi corp rezistiv, realizat în tehnologie uzuală se montează câte două
perechi de terminale (b 1 – b 4 şi b 2 – b 3 ), obţinându-se astfel o
componentă cu 4 terminale ( R 4 – fig.7.7c).
b1 t
b)
j
(i) (e)
t j R j t
(R2)

a) t (b1) (b2)

(b2)
b4 d)
b1

j
(i) t j R t (e)
(R4) j

(b1, b4) t j (b2, b3)

j j t
b3
b2
c) Fig. 7.7

Rezistoarele, în general, nu se defectează prin scădere de

parametru (§6.1 – tab.6.1), iar defectarea prin creştere este redusă

141
 Fiabilitate funcţională în electronică

substanţial – probabilist prin această dublare a bornelor (poz.33 –

tab.6.1); rezultă deci o proprietate fiabilistă remarcabilă a acestui tip de
componentă.
Această proprietate se poate pune în evidenţă, calitativ, prin
grafurile reprezentate în figura 7.7b) pentru rezistorul uzual şi în figura
7.7d) pentru rezistorul cu protecţie în raport cu creşterea parametrică.

Cantitativ, această protecţie se poate determina cu ajutorul

expresiilor funcţiei de fiabilitate. În acest scop s-au notat cu:
b – bornele componentelor;
j – joncţiunile interne dintre terminalele t şi corpul rezistiv R.
Întrucât fiecare joncţiune j este cuplată la câte un terminal t, se
notează cu R t j funcţia de fiabilitate a dubletului terminal – joncţiune, cu
schemă a fiabilităţii de tip serie – neredundantă (§5.1):

Rtj = Rt  Rj

În aceste condiţii, pentru rezistorul uzual cu două terminale ( R2),

expresia funcţiei de fiabilitate (fig.7.7b) este

R2  R R  Rtj2 ,

R R reprezentând funcţia de fiabilitate a elementului rezistiv propriu-zis

R, acelaşi (identic) pentru ambele tipuri de componentă.
La rezistorul cu terminale duble (fig.7.7d), considerând structura
neuniformă a acestuia (§ 5.3.3), rezultă:

R 4 = R R (R t j + R t j – R t j 2 ) 2 = R 2 (2 – R t j ) 2 > R 2

Prin urmare eficienţa fiabilistă va fi dată de relaţia

 f = R 4 / R 2 = (2 - R t j ) 2 > 1

142
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

care nu depinde de elementul comun R (caracterizat prin funcţia de

fiabilitate R R ).
Luând câteva valori semnificative pentru funcţia de fiabilitate a
dubletului terminal – joncţiune R t j , rezultă valorile corespunzătoare ale
eficienţei fiabiliste  f (tab.7.1).
Tab. 7.1
Rtj 1 0,9 0,7 0,3 0,1
f 1 1,21 1,69 2,89 3,61

Se observă că eficienţa fiabilistă creşte neliniar cu scăderea

termenului R t j : procedeul “4 borne” este mai eficient pentru elemente
cu fiabilitate slabă, cum este cazul, în primul rând, al rezistorilor.
Condensatorul cu terminale duble este realizat, de asemenea, în
tehnologia “4 borne” şi anume - condensatorul cu armături plane
(fig.7.8b), respectiv condensatorul cu armături în spirală - corp cilindric
(fig.7.8c). La extremităţile fiecărei armături se află câte o pereche de
joncţiuni cu terminalele respective: b 1 – b 3 şi b 2 – b 4 .

a) b)
t j j
b1 b4
b1 b2 t t
t b2
C2 b3
j
C4
j j
b1
c)
b3
b2 b4

Fig. 7.8

143
 Fiabilitate funcţională în electronică

Structura de fiabilitate şi graful aferent sunt la fel cu cele ale

rezistorului cu 4 borne (fig.7.7), cu singura deosebire că în locul
corpului rezistiv R apare corpul capacitiv C.
Acesta, majoritar, se defectează prin scădere de parametru
(scăderea rezistenţei de izolare a dielectricului), iar la limită apare
străpungerea (clacarea). O excepţie o constituie condensatoarele
electrolitice care, în timp, suferă reacţii chimice şi pierderi de electrolit;
în practică se spune că “se usucă”. Pentru acest motiv aceste
condensatoare, pe lângă defectări prin scădere, au şi o cotă relativ
importantă a defectărilor prin creştere (în corpul capacitiv propriu-zis).
Cu aceste precizări, relaţiile fiabiliste ce caracterizează această
componentă sunt:
Rtj = Rt  Rj ; R2 = RC  Rtj2 ;

R 4 = R 2 ∙(2-R t j ) 2 > R 2 ;

 f = R 4 / R 2 = ( 2- R t j ) 2 > 1

Notaţiile utilizate sunt aceleaşi ca în grafurile rezistorului cu 2

borne, respectiv cu 4 borne, iar R C este funcţia de fiabilitate a corpului
capacitiv propriu-zis C.
Exceptând pe acestea din urmă, celelalte concluzii calitative şi
cantitative sunt valabile ca în cazul rezistorului cu 4 borne.

O aplicaţie în care sunt folosite componente cu terminale duble

este ilustrată, simplificat, cu ajutorul schemei din figura 7.9a). La
ieşirea amplificatorului operaţional A se găseşte, cuplat la masă, grupul
rezistor – condensator care susţine o constantă de timp  = R 4 C 4 ,
imperios necesară pentru procesarea semnalului aplicat la intrarea ( i) şi
furnizat la ieşirea (e).

144
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

Cele patru conexiuni ale condensatorului ( C 4 – 4) borne asigură o

protecţie eficientă faţă de defectări prin creştere parametrică
(întrerupere), atât la joncţiuni cât şi la terminale (notate cu x), dacă se
produc următoarele defectări singulare sau duble:
- defectare singulară în oricare dintre cele patru ramuri (b):
b1  b2  b3  b4;
- defectare dublă simultan pe ramurile:
b 1  b 4 sau b 1  b 3 sau b 2  b 3 sau b 2  b 4 .

─
(i) (e) (i) (e)
A
b5 b6 b1
+
(R4) (R2)

b1 b2
b2
(C4) (C2)
a) b3 b4 b3 b)

Fig. 7.9

Prin urmare, numai defectările duble b1  b2 sau b3  b4 ,

triple b 1  b 2  b 3 sau b 1  b 2  b 4 , sau cuadruplă b 1  b 2  b 3  b 4
pot afecta buna funcţionare a grupului  = R 4 C 4 .
Alta este situaţia în ramurile superioare, unde buna funcţionare
este afectată de defectările singulare b 5  b 6 , respectiv dublă b 5  b 6 .
Aceste defectări nu pot provoca decât răspuns eronat în sistem (§1.2),
deoarece dispariţia semnalului la ieşire (e) anulează producerea unui
răspuns fals (§1.2.3).
Dacă în locul grupului R 4 C 4 s-ar găsi grupul R 2 C 2 =  = R 4 C 4 , cu
aceeaşi valoare a constantei de timp (fig.7.9b), distribuţia şi efectele

145
 Fiabilitate funcţională în electronică

defectărilor ar fi cu totul diferite. În acest caz, constanta de timp se

anulează (  = 0 / răspuns fals) pentru orice defectări (prin creştere),
singulare sau multiple: b 1  b 2  b 3 ; b 1  b 2 sau b 1  b 3 sau b 2 
b 3 ; b 1  b 2  b 3 ; semnalul nu dispare oricum la ieşire (răspuns fals).
Acest mod de analiză a defectărilor (singulare sau multiple) ca şi
influenţa lor asupra răspunsurilor la nivel macroscopic pe sistem (rol
funcţional) va fi dezvoltat în unele capitole ulterioare.

7.1.3. Elemente defectabile dominant prin scădere

parametrică

Acest mod de defectare, complementar faţă de cel care se produce

prin creştere parametrică, are o frecvenţă de apariţie ceva mai redusă în
cadrul echipamentelor electrice şi electronice.
În acest fel, dominant, se defectează o serie de componente
(tab.6.1), ca de exemplu: condensatorii electrolitici, condensatorul şi
rezistorul cu 4 borne (§7.1.2), contactorii de putere medie, diodele
semiconductoare, tranzistorii etc.
Efectul lor nu este neglijabil deoarece afectează, în primul rând,
rezistenţa de izolaţie la elemente de montaj: fire în cablu, trase de cablaj
imprimat, socluri (relee, circuite integrate, tuburi electronice speciale),
borne de reglete, fişe de conector multiplu etc.
Tuturor acestor defectări le sunt caracteristice relaţiile generale de
fiabilitate:
1 1
    0 ; m   m  ;
 

R_ (t) < R + (t); F_ (t) > F + (t);

R_(t) + F_(t) = 1; R + (t) + F + (t) = 1

146
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

 
 0.5 ;  0.5
 
Un exemplu tipic, în acest sens, poate fi dat prin grupul de două
condensatoare conectate în serie (§5.2; fig. 5.3a), la care separarea
galvanică între bornele extreme dispare numai dacă se străpung ambele
condensatoare (la limită), sau scad ambele rezistenţe de izolaţie în
dielectric sub limita totală admisibilă (protecţie simplă).
În schimb, alunecarea parametrică în sens pozitiv (la limită
întrerupere), face neutilizabil întregul grup.

[] [+]

F1 F2 F1 F1+ F2+

F2–

Fig. 7.10

Aplicând metoda dedublării, în acest caz, rezultă schema

echivalentă din figura 7.10 : primul grup se defectează numai prin
scădere [], iar cel de al doilea numai prin creştere [+], relaţiile de
calcul fiind:
F = F_  F + = F 1 _  F 2 _  F 1 + + F 2 + - F 1 + F 2 +

Dacă cele două componente sunt identice, această relaţie devine

mai simplă:
F   F  F  F2  F   2  F 

147
 Fiabilitate funcţională în electronică

[─] [+]
(S)
F1─
▬ F1 ▬ F2 ▪ ▪ ▪ F n ▬ F1+ ▬ F2+ ▪ ▪ ▪ Fn+
F2─

Fn─

Fig. 7.11

Prin generalizare se obţine efectul de dedublare din figura 7.11,

pentru un număr oarecare n elemente conectate în serie (S), rezultând
expresiile de calcul (§ 5.1 şi 5.2):

n n
F   Fi  ; F  1    1  Fi  
i 1 i 1

Pentru componente identice, aceste relaţii devin:

F'  Fn ; F'  1   1  F  n ;

F '  F'  F'  Fn  1   1  F  n

Ca şi până acum, aici şi în continuare, la scrierea relaţiilor este

omis parametrul timp, spre a se obţine expresii formale mai simple şi,
prin urmare, mai uşor de interpretat.

T1 T1

T2 T2

a) Fig. 7.12 b)
148
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

Pentru componente de tip diport sau multiport, acest mod de

protecţie simplă se aplică, de regulă, în circuitul de ieşire unde
funcţiunile de execuţie impun unele rigori specifice. În figura 7.12 este
redată maniera de realizare a acestei protecţii simple, faţă de defectări
prin scădere parametrică [ ]: a) circuit cu tranzistoare; b) circuit cu
tiristoare.

7.2. Protecţia dublă

Acest tip de protecţie, atât prin creştere [+] cât şi prin scădere [ ]
de parametru, este mai puţin utilizat deoarece are un cost, volum şi
greutate de valori relativ ridicate. Totuşi, în unele situaţii, reprezintă
singura cale de a obţine performanţe fiabiliste superioare pentru unele
circuite de execuţie sau de validare a bunei funcţionări la nivel
macroscopic de sistem.

În schemele de conectare electrică din figura 7.13 este redat modul

de protecţie pentru patru tipuri de componente reprezentative, structurile
de fiabilitate fără dedublare fiind serie-derivaţie (SD; fig. 5.4; § 5.3.1),
respectiv derivaţie – serie (DS; fig. 5.5; § 5.3.2).
Este uşor de observat că cele 8 grupuri de componente (structuri
SD şi DS), îşi păstrează proprietăţile fundamentale pentru defectări,
dependente de modul în care acestea se produc [+], [─], singulare dar şi
unele multiple.

a) Grupul de condensatori C 1 . . .C 4 reprezintă o rezolvare “totală”

a problematicii analizate anterior pentru doi condensatori
înseriaţi (§ 5.2; fig.5.3). Dintre cele două variante, este de
preferat varianta DS pentru tipurile de condensatori precizaţi la
poziţiile 10 şi 11 în tabela 6.1).
149
 Fiabilitate funcţională în electronică

b) La fel, prin cei patru rezistori sunt rezolvate problemele de

fiabilitate ale protecţiei simple, îndeosebi pentru varianta SD,
deoarece acest tip de componentă se defectează dominant prin
creştere parametrică (tab 6.1 – poz. 34 . . .37).

a) C1 C3 C1 C2

C2 C4 C3 C4

R1 R3 R1 R2
b)
R2 R4 R3 R4

D1 D3 D1 D2
c)

D2 D4 D3 D4

K1 K3 K1 K2
d)

K2 K4 K3 K4

Structuri SD Structuri DS
Fig. 7.13

150
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

c) Pentru diode este de preferat varianta DS deoarece, pentru

acestea, defectarea dominantă este prin scădere de parametru (la
limită străpungere: tab. 6.1 – poz. 20 . . . 22).
d) O problematică mai largă o ridică diferitele contacte electrice,
care intră în construcţia unor componente cu utilizări multiple:
relee uzuale sau speciale, butoane de comandă, chei de control,
comutatori, conectori mobili cu fişe etc. În funcţie de valoarea
rapoartelor  + /  şi  – /  (tab. 6.1 – poz.8; 14; 15; 18; 25; 28
. . .32), se alege o variantă sau alta (SD, DS), astfel încât
funcţia de fiabilitate să aibă valoarea cea mai mare.

Pentru calculul indicatorilor de fiabilitate este necesar să se

deducă relaţiile corespunzătoare structurilor SD şi DS – şi aplicând
metoda dedublării.
În figura 7.14 sunt redate structurile echivalente serie – derivaţie
(SD), pentru care se deduc următoarele relaţii de calcul (§ 5.3.1):

F  = (F 1  + F 2  – F 1  F 2  )  (F 3  + F 4  – F 3  F 4  )

F + = F 1 + ∙ F 2 + + F 3 + ∙F 4 + – F 1 + ∙F 2 + ∙F 3 + ∙F 4 +

(SD) [+] [─]

F1 F3 F1+ F3+ F1 F2

F2 F4 F2+ F4+ F3 F4

Fig. 7.14

Deoarece, în general, elementele sunt identice,

   
F  2 F  F2  2 F  F2  2 F  F2 2
F’ + = 2F + 2 – F + 4 = F + 2 (2 – F + 2 )

151
 Fiabilitate funcţională în electronică

rezultă că:
'
FSD 
 F'  F'  2 F  F2 2  F2 2  F2  .

Procedând în acelaşi fel, se obţin structurile echivalente derivaţie –

serie (DS) şi relaţiile de calcul corespunzătoare (fig. 7.15):

(DS) [+] [─]

F1 F2 F1+ F2+ F1 F3

F3 F4 F3+ F4+ F2 F4

Fig. 7.15

F – = F 1 – ∙F 2 – + F 3 – ∙F 4 – – F 1 – ∙F 2 – ∙F 3 – ∙F 4 –

F + = (F 1 + + F 2 + – F 1 + F 2 + ) ∙ (F 3 + + F 4 + – F 3 + F 4 + )

iar pentru elemente (componente) identice:

F'  F2 ( 2  F2 ); 

F'  2 F  F2 ; 2
'
FDS 
 F'  F'  F2  2  F2  2 F  F2   2 .
În cazul general, când numărul de elemente (componente) este
oarecare, se obţin structuri serie sau derivaţie care, la rândul lor,
formează structuri de tipul SD sau de tipul DS. De asemenea, după
situaţie, pot să apară cu necesitate structuri neuniforme, pentru tratarea
cărora sunt valabile aspectele expuse anterior (§ 5.3.3) continuate cu
cele referitor la dedublare.

În încheierea problematicii de protecţie fiabilistă prin modul de

defectare, se impun unele precizări cu caracter de generalitate.
152
7 Protecţii fiabiliste prin modul de defectare

-Protecţia simplă, după un singur mod de defectare [+ , –]

reprezintă cazuri particulare, structurile de fiabilitate reducându-se la
cele de tip serie (S) pentru defectări prin scădere de parametru, respectiv
la cele de tip derivaţie (D) pentru defectări prin creştere parametrică.
- Elementele conectate electric în serie se reprezintă în schemele
de dedublare) în derivaţie pentru modul de defectare prin scădere [–] şi
în serie pentru modul de defectare prin creştere [+].
- Elementele conectate electric în derivaţie se reprezintă (în
schemele dedublate) în serie pentru modul de defectare prin scădere [–]
şi în derivaţie pentru modul de defectare prin creştere [+].
- Rezultă că, pentru a se obţine o eficienţă fiabilistă, este necesar
ca elementele care se defectează dominant prin creştere de parametru [+]
să fie conectate electric în derivaţie,

 + /  > 0,5 ,

iar cele care se defectează dominant prin scădere de parametru [−] să fie
conectate electric în serie .
 – /  > 0,5.

 Protecţia simplă este numită (în unele lucrări de specialitate) şi

redundanţă simplă; această a doua denumire conduce, uneori, la confuzie
atunci când nu se precizează modul de defectare. De aceea, în această
lucrare, vom păstra denumirea de protecţie simplă, iar problematica
redundanţei va fi tratată în profunzime, într-un capitol consacrat
exclusiv.
 Protecţia dublă mai este numită şi redundanţă în cuadratură, de
asemenea impropriu atât în sens semantic, cât şi prin confuzia care se
poate produce cu privire la proprietăţile de redundanţă.

153
 Fiabilitate funcţională în electronică

În toate structurile de protecţie, simplă sau dublă, se remarcă unele

proprietăţi de dualitate – complementaritate, atât în schemele structurale
de fiabilitate cât şi în relaţiile de calcul respective. Acest aspect poate fi
ilustrat şi prin următoarea schemă sinoptică generală (fig. 7.16):

Conectare
Schemă electrică Schemă
fiabilistă de în serie fiabilistă de
tip derivaţie tip serie
pentru pentru
defectare defectare
prin scădere prin creştere
parametrică parametrică
[-] [+]

Conectare
Schemă electrică Schemă
fiabilistă de în paralel fiabilistă de
tip serie tip derivaţie
pentru pentru
defectare defectare
prin scădere prin creştere
parametrică parametrică
[-] Fig. 7.16 [+]

154