Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Capitolul 8
Redundanţa fiabilistă.
Toleranţa la defectări
155
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
(i) Mr (e)
IIj IIIk Mr
Ii IIIk :
IIj :
IIIk
Mr
Fig. 8.1
156
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
R I R Iix ( 1 FIix )
i 1 i 1
157
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
FM 1 R M 1 ( 1 FMr ) 0 ,
r 1
158
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
RM = 1 – FM 1
Aceasta conduce la stabilirea următoarelor inegalităţi:
(i) (e)
I II III M
b)
Fig. 8.2
cât numărul acestora M este mai mare (coincidenţa evenimentelor
aleatoare). Această proprietate se pune şi mai bine în evidenţă prin
graful corespunzător, redat în figura 8.2a). Tot de aici se observă că
fiecare grup, determinat prin defectare multiplă ( II, III, ..., M) şi evaluat
prin relaţiile de calcul determinate anterior:
159
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
a) b) c)
R1 R1 b1
I bc
f1
Cm f2
R2 Cm b2
R2
EA
d) e) Ac
Fig. 8.3
161
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
162
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
163
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
164
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
165
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
a) θ b)
S2
2
1
(i) (e)
c)
θ 2
Fig. 8.4
166
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
R = R 1 + R θ · R 2 – R 1 · R θ ·R 2
168
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
a)
bb
Ab fb
bc
(θi)
fr
Ar
br
Lb
Ab Lb Lr
(i) (e)
Csc Lr
(θi) Csc Ar (θe) Ar
(θ)
b) c)
Fig. 8.5
R = RLb + RCsc · RAr · RLr – RLb · RCsc · RAr · RLr > RLb,
169
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
170
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
a) b)
1
1
2 (i) (e)
2
S
: l S
: (SSD)
l :
D
: :
L
L
1 (SSD)
(i) (e)
c) 2
3
Fig. 8.6
172
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
RGV,
răspunsul în sistem ar fi fals (periculos). De aceea, structurile de
comandă ale acestor luminosemnale (elemente de ieşire din instalaţia de
reglare a circulaţiei) sunt astfel proiectate şi realizate încât, la
producerea uneia sau mai multor defectări, să fie posibilă numai glisarea
V G R,
ceea ce conduce la răspuns eronat (fără pericol - § 1.2.3).
În figura 8.7, prin intermediul unei diagrame de spaţiu, este redat
modul de glisare a indicaţiilor (stărilor funcţionale) la un anumit
luminosemnal care este prevazut cu 4 unităţi luminoase: verde – V,
galben – G, roşu de baza – R b şi roşu de rezervă – R r .
173
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
v=1
iV V WV=1
v=1/0
g=1
iG G WG=1
g=1/0 rRb=1
Rb
iRb WRb=1
rRb=1/0
rRr=1
Rr
WRr=1
LSn
LSn-1 rRr=1/0
rRb=1
Rb
iRb WRb=1
rRb=1/0
rRr=1
Rr
WRr=1
LSn-1
LSn-2
rRr=1/0
Fig. 8.7
174
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
175
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
V 1.1
G 2.2
1.2
Rb
1.3 2.3 3.3
Rb Rb Rb Rb
Rr 1.4 2.4 3.4 4.4
Fig. 8.8
176
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
LS n (V G R b R r ) LS n - 1 ( R b R r )
LS n - 2 ( R b R r ) LS n - 3 ( R b R r ) etc.
SS1 SS2
UB1 UB2
M1 M2
SSV
v1 v2
UA1 UA2
P1 (ev) P2
(i)
(e)
Fig. 8.9
Mf1
a) (e)
(i)
Mf2 C
(ev)
(i) (ev)
b)
1 2 C
Fig. 8.10
180
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
181
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
Μf1
(i) S (e
Μf2 S )
D Date
182
Μf3
C1 v1
e
C2 Fiabilitatev2funcţionalǎ
Stop în electronicǎ
183
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
START S-a
identificat un Da
STOP
defect
(B.1)
Test A Nu
Test N
S-a
Da
identificat un STOP S-a
defect identificat un Da
(A.1) STOP
Nu defect
(N.1)
Nu
Test B
STOP –
Sistemul nu are
defecte
Fig. 8.12
184
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
A.2 A.3
(A.1)
S-a
identificat Da
Test A.1.2
un defect
Nu
S-a
identificat Da STOP – Sistemul
Test A.1.1 este defect
un defect
Nu
S-a
identificat Da
un defect A.3
Nu
STOP – Sistemul
A.2 este defect
Fig. 8.13
185
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
186
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
(SSb) (SSr)
(SSaux)
on - line off - line
(Cd) (Ct)
SSvc
UA1 UA2
P1 P2
Sc
(i)
(e)
SSc
Fig. 8.14
V RV(L)
IV
(+) (-)
IG
Sv
RV(k)
G RG(L)
(R) Sg
Fig. 8.15
190
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
191
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
SSv+
a) SSc SSr b)
SSc SSr
(i)
b (e)
v c
c) r
Fig. 8.16
Raux = 0 : Rsist = R = Rb ,
192
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
Xa Ya Za Xa Ya Ya Xa
D1 D2 D1 D2
D3 D4 D3 D4
D3 D2
D5 D6
193
8 Redundanţa fiabilistă / toleranţa la defectări
2
(radiani) .
6 3
194
Fiabilitate funcţionalǎ în electronicǎ
SSc int
UB1 UB2
Sc int
M1 M2
SSV
v1 v2
UA1 UA2
P1 Sc ext P2
SSc ext
(i) (e)
Fig. 8.18
197
viMf
22 2
198