Sunteți pe pagina 1din 4

Testarea prin iradiere a componentelor electronice

Menţinerea unei rate de succes ridicată în misiunile spaţiale necesită


limitarea potenţialului disruptiv al mediului de radiaţii. Pentru misiunile
tradiţionale problema a fost rezolvată prin proiectarea de componente speciale care
să reziste la nivelurile crescute de flux de particule. Modul în care sunt afectate de
radiaţii componentele special dezvoltate pentru spaţiu este cunoscut prin datele de
la sateliţii tradiţionali în timpul operării pe orbită şi prin testare la sol.
Obiectul prezentei lucrări îl constituie misiunile spaţiale de sateliţi mici şi
orbitele lor, pentru care utilizarea componentelor tolerante la radiaţii este prea
costisitoare. De aceea, abordarea cel mai des întâlnită implică integrarea
componentelor comerciale disponibile şi validarea utilizării acestora chiar în
timpul misiunii.
Radiaţiile nucleare (protoni, electroni, ioni grei, neutroni, radiaţie gama)
produc trei tipuri de efecte prin interacţia cu materialele navelor spaţiale:
1. Efecte de ionizare a mediului;
2. Defecte în reţelele cristaline – prin deplasarea atomilor;
3. Evenimente singulare ce perturbă operarea dispozitivelor
electronice.

Metoda de testare

Pentru monitorizarea modului de modificare al parametrilor de funcţionare


se doreşte urmărirea principalelor tipuri de efecte prezentate anterior. În acest scop
au fost evaluate metodele folosite în calificarea pentru spaţiu a componentelor
dezvoltate special pentru a fi tolerante la efectele de radiaţie şi a fost 20 elaborată o
metodă derivată de testare prin iradiere cu particule gama cu doză fixă. Am selectat
câte 5 probe pentru fiecare model de componentă testată. Componentele au fost
integrate pe 5 circuite integrate identice pentru a fi supuse iradierii.
Unul dintre acestea este circuitul de control neiradiat folosit ca referinţă de
evaluare a efectelor induse de iradiere. În timpul iradierii toate componentele
electronice au fost alimentate prin intermediul unui acumulator cu circuit de
stabilizare a tensiunii.
Fig. 1 – Camera de iradiere
Cele 4 circuite imprimate au fost stivuite unul peste celălat în direcţia
incidentă a fluxului de radiaţii. Din acest motiv a existat un gradient al dozei de
radiaţie încasate de fiecare dintre plăcile de testare. La cele două extremităţi ale
stivei au fost montate două dozimetre pentru evaluarea dozei absorbite de fiecare
componentă în parte.
Iradierea s-a făcut în trei sesiuni cu doze din ce în ce mai mari. Valorile
măsurate de dozimetre sunt prezentate în tabel după fiecare iradiere.

Tabelul 1 – Valorile citite de dozimetre

Pentru măsurarea răspunsului la radiaţia cosmică, circuitul a fost prevăzut cu


numeroase puncte de test, care să permită atât măsurarea tensiunilor existente, cât
şi introducerea de componente sau aducerea unor tensiuni independente de circuit
la anumite terminale ale componentelor studiate. Montarea terminalelor de testare
s-a făcut pentru a uşura şi pentru a reduce timpul necesar caracterizării răspunsului
probelor iradiate.
Procedura de testare pentru stabilizatoarele de tensiune prevede măsurarea
tensiunii de ieşire, în gol şi cu sarcini a căror rezistenţă va fi scăzută gradual,
pentru trasarea graficului de variaţie a tensiunii stabilizate cu creşterea curentului
pe sarcină.
Pentru inversorul de tensiune TPS60400, alimentat din 5 V, curentul maxim
este de doar 60 mA. Pentru a simula sarcina acesta, s-a montat în circuit un rezistor
cu rezistenţa de 100 Ω. Siguranţa TPS2552 a fost integrată în circuit cu un rezistor
ce asigură un curent mult mai mic decât curentul limită în timpul iradierii.
Puncte de testare adiţionale au fost adăugate pentru a permite montarea
rezistorilor de putere mică pentru a verifica funcţia de limitare a curentului după
sesiunile de iradiere. În cazul circuitelor de comunicare de niveluri logice diferite
(ADM3202, MAX232, MAX3378) au fost conectate porturile de intrare pentru a
aduce semnalele logice dorite şi a verifica simultan tranziţiile logice de pe porturile
de ieşire.

Pentru circuitele MOSFET se urmăreşte tranziţia între stările de conducţie şi


de lipsă a conducţiei comandate de tensiunea dintre terminalul poartă şi terminalul
sursă. Atât dispozitivele cu canal n, cât şi cel cu canal p au fost conectate în circuit
astfel încât polarizarea porţii să permită trecerea curentului între terminalele drenă
şi sursă în timpul iradierii. Utilizarea componentelor MOSFET de putere mare în
linie cu sarcina de pe satelit implică toleranţa la curenţi mari (de ordinul A). De
aceea, conectarea acestora în circuitul de test a fost realizată astfel încât să fie
permisă cuplarea rezistorilor de sarcină în circuit pentru trasarea caracteristicilor
ID(VDS) pentru mai multe valori ale VGS.

Pentru cel de-al treilea MOSFET se urmăreşte posibilitatea de a comanda


închiderea şi deschiderea canalului drenă-sursă la curenţi mici (<mA )caracteristici
utilizării tipice în circuitele comandă, nu în cele de alimentare.

Similar, cele trei tipuri de diode selectate pentru testare au fost integrate în
circuit astfel încât curentul direct să nu depăşească câţiva mA în timpul iradierii.
Ca şi în cazul celorlalte componente, punctele de test permit conectarea sarcinilor
de putere mare pentru caracterizarea în perioada de testare. Circuitul realizat pentru
diode permite monitorizarea capacităţii de blocare în cazul polarizării inverse,
precum şi măsurarea căderii de tensiune în polarizare directă la diferite valori ale
curentului prin circuit.
Unele dintre componentele vitale de la bordul sateliţilor le reprezintă
microcontrolerele. În cazul de faţă, fiecare circuit de test include câte un astfel de
dispozitiv pentru a-i se evalua toleranţa la defecte induse de expunerea la radiaţii.
Aranjamentul experimental permite caracterizarea următorilor parametri:
capacitatea de a comuta pinii generali de ieşire în starea de 0 sau 1 logic,
capacitatea de a citi corect stările de 0 sau 1 logic prezente la terminalele capsulei,
capacitatea de a citi tensiunile analogice şi performanţele convertorului
analogdigital la iradiere, capacitatea de comunicare prin intermediul interfeţei
seriale, stabilitatea cristalului şi a ceasului intern.
Pentru verificarea eficacităţii stocării la bord a datelor fiecare circuit testat
include şi câte un card SD de 2 GB. Cardurile au fost conectate electric la
circuitele de testare doar prin terminalele de masă şi tensiune de alimentare de 3,3
V. Ele nu au fost conectate la micro-procesorul de pe cablaj, şi pentru citirea sau
scrierea informaţiilor s-a utilizat un cititor de carduri comercial modificat pentru a
se putea conecta la cablajul de test.

Concluzii
Pentru majoritatea componentelor care nu au cedat complet până la final, se
observă diferenţierea în funcţie de doza cumulată între diversele cablaje imprimate.
Stivuirea cablajelor de test în direcţia sursei de radiaţii a condus la variaţii ale
dozelor de radiaţii încasate de acelaşi tip de componentă. Astfel, cea mai puternic
iradiată a fost placa de test numărul 1 (şi componentele de pe aceasta), fiind urmată
, în ordinea expunerii, de plăcile 2, 3 şi 4. Rezultatele caracterizării probelor
iradiate vor fi verificate prin intermediul satelitului Goliat care va include multe
dintre modelele de componete testate. În acest scop se doreşte corelarea dozei
măsurate la bord cu eventualele defecţiuni apărute în operarea subsistemelor
satelitului.

Bibliografie: Radiaţie Cosmică. Modele, Date Experimentale, Aplicaţii


Pentru Misiuni Spaţiale. – Marius Florin Trușculescu