Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
2.3.1 Motivare
într-un sens, inutil, deoarece multe din intrarile sale nu vor fi apelate
niciodata. Aceasta observatie sugereaza ca poate fi mai eficient sa
prelucram direct simptomele actual obtinute în timpul testarii mai
degraba decât a trata toate simptomele posibile care pot fi generate de un
model de defect dat. Procesul implicat în cele 2 situatii este diferit ca
natura. Constructia unui dictionar de defect este un calcul apriori sau o
analiza cauza-efect care determina efectele (simptomele) pentru toate
cauzele posibile . Metoda propusa este un calcul posterior sau o analiza
efect-cauza, care determina doar acele cauze compatibile cu efectul
obtinut.
Acest tip de analiza bazat pe calculul raspunsului obtinut a fost
folosit de Breur pentru circuite combinationale. Principalul dezavantaj a
tehnicii lor rezulta din utilizarea unei metode algebrice care cere
rezolvarea unui foarte mare sistem de ecuatii Booleane.
În metoda data o cauza nu e numai un defect ci si o situatie de
defect în circuit, unde printr-o situatie de defect întelegem ca unele linii
sunt defecte, altele sunt normale. Identificarea liniilor normale este un
concept utilizat implicit sau explicit în multe din realizarile anterioare
referitoare la localizarea defectelor în circuite combinationale. O
diferenta majora este ca în toate realizarile anterioare o linie se afirma ca
este normala prin demonstrarea explicita ca defectele nu sunt prezente în
aceea linie, bazata pe faptul ca testele care detecteaza aceste defecte trec
(asa încât nici o eroare nu este observata la iesiri); în metoda data se
determina implicit starea unei linii deducând valorile liniei în timpul
aplicarii testului. Suntem interesati în primul rând de identificarea
liniilor normale (acelea pentru care valorile de 1 si 0 pot fi deduse), si
apoi procedam la localizarea liniilor care nu pot fi dovedite a fi normale.
O consecinta importanta a acestui concept este ca nu se cere
enumerarea defectelor deoarece este folosita o analiza de defect
neexplicita. Nici o metoda bazata pe enumerarea defectelor nu poate fi
eficienta în cazul defectelor multiple.
Un alt element cheie a metodei prezentate este ca nu se presupune
explicit multiplicitatea defectului si nu se foloseste a analiza a explicita a
relatiei de mascare dintre defecte; mai degraba, multiplicitatea defectului
si aceste relatii sunt implicit determinate ca un rezultat al deductiei
valorilor liniilor interne.
Diagnoza 131
a b c l
1 1 1 1
0 u u 1
u 0 u 1
u u 0 1
2.3.4.1 Strategia
(b) (c )
A B A B C D
t1 0 1 t1 1
t2 1 1 t2 0
t3 0 0 t3 1
(d) (e)
A B C D A B C D
t1 1 1 1 t1 1 1 1
t2 0 t2 1 0
t3 1 t3 1
(f) (g)
A B C D A B C D
t1 1 1 1 t1 0 1 1 1
t2 1 0 0 t2 1 1 0 0
t3 1 t3 1
(h) (i)
A B C D A B C D
t1 0 1 1 1 t1 0 1 1 1
t2 1 1 0 0 t2 1 1 0 0
t3 0 1 t3 0 1 1
Diagnoza 139
(j) (k)
A B C D A B C D
t1 0 1 1 1 t1 4 1 1 0
t2 1 1 0 0 t2 4 2 3 0
t3 0 1 1 1 t3 5 7 6 0
(a) (b)
A B C D E F G H I J K L M
t1 0 1 1 0 0 1 1 1 0 1
t2 1 1 0 1 1 0
t3 1 0 1 1 1 0
t4 1 1 1 1 1 1 1 1 0 0 1 0
t5 0 0 1 0 0 1
(c )
(a)
A B C D E F G H I J K L M
t1 0 1 1 0 1 1 0 0 0
t2 1 1 1 1 1 1 1 0 1
t3 1 0 1 1 0 0 0 0 0
t4 1 1 1 1 1 1 1 0 1
t5 0 0 1 0 0 0 0 0 0
(b)
142 Fiabilitate si Diagnoza
A B C D E F G H I J K L M
st n n 1 n x n n x x x n 0 n
(c)
P M P P M P
A l t v O N A l t v O N
S D I S D I
1 M 1 1 I 15 L 5 1 I 20
2 M 2 0 I 6 16 J 1 1 I
3 M 3 1 I 17 I 1 1 I 22
4 M 4 0 I 8 18 J 3 1 I 24
5 M 5 1 I 19 I 3 1 I
6 L 2 0 I 20 J 5 1 I
7 K 2 0 I 21 I 5 1 I
8 L 4 0 I 22 I 2 1 V 26
9 K 4 0 I 10 23 I 4 1 V 27
10 K 1 0 V 13 24 J 2 1 V 28
11 K 3 0 V 14 25 J 4 1 V
12 K 5 0 V 15 26 J 2 0 I
13 L 1 1 I 16 27 J 4 0 I
14 L 1 1 I 18 28 L 2 1 F
procedure DEDUCEREVAL ()
146 Fiabilitate si Diagnoza
M;t3
L=1 L=0,K=1
X M;t2
L=1 K=2
Diagnoza 147
1 2
A B C D E F G H I J K L M
t1 0 0 1 0 0 0
t2 1 1 1
t3 1 1 1
t4 1 1 1 1 0 1
t5 0 0 0 0 0
(a)
A B C
D E F G H I J K L M
t1 0 1 01 1 1 1 0 1 0 0 0
t2 1 1 10 0 0 1 1 1
t3 1 1 11 1 1 1 0 1 1
t4 1 1 11 1 1 1 0 1 1 0 1
t5 0 1 01 1 1 1 0 1 0 0 0
(b)
A B C D E F G H I J K L M
t1 0 0 1 0 0 0
t2 1 1 1 1 1
t3 1 1 1 1 0 1
t4 1 1 1 1 0 1
t5 0 0 0 0 0
148 Fiabilitate si Diagnoza
(c)
A B C D E F G H I J K L M
Y1 n 1 n n 1 n 1 n n 1 n n n
Y2 n x x n 1 x 1 x x x n 0 n
(d)
Figura B_III-48.(a) Valori deduse înaintea primului punct de decizie.
(b),(c) Cele doua solutii (d) Diagnoza defectelor
Starea unei linii se reprezinta fie prin simbolurile 0,1 sau n pentru
a indica situatia de defect blocat-la 0,1 sau situatia de linie normala.
Notam starea unei linii cu sl. O situatie de defect defineste stare tuturor
liniilor din circuitul N printr-un vector F= [ sl ]. Simbolurile de 0 si 1 în F
definesc defecte corespunzatoare. Fie NF reteaua obtinuta din N în
prezenta situatiei de defect F. Daca fiecare element din F este n atunci NF
reprezinta realizarea fara defecte a lui N; ne vom referi în acest caz la
situatia lipsita de defect si o vom nota cu ϕ. Fie ZF functia booleana a lui
NF. Raspunsul retelei NF la testul T se noteaza cu ZF(T). Doua situatii de
defect F1 si F2 se spune ca sunt echivalente sub testul T daca ZF1(T) =
ZF2(T) . Din experimentul definit de testul T si raspunsul R* putem
identifica o situatie actuala de defect în reteaua N* doar în cadrul unei
clase de situatii de defect echivalente sub testul T, si anume { F :
ZF(T)=R*} . Scopul nostru nu este de a enumera toti membrii acestei
150 Fiabilitate si Diagnoza
Din pacate nu toate valorile reale pot fi deduse din primele implicatii.
O alta observatie importanta este ca anumite linii sunt identificate
ca normale doar referitor la prima solutie. Aceasta arata ca o linie
identificata ca normala într-o solutie nu înseamna neaparat ca ea este
normala în circuit. Liniile identificate ca normale în ambele solutii sunt
linii normale în circuit. Se observa de asemenea ca liniile normale
formeaza întotdeauna cai complete în circuit, unde o cale completa
defineste o legatura între o intrare si o iesire primara.
În cazul în care procesul de deductii nu reuseste sa genereze nici
un set consistent de valori reale înseamna ca nu exista nici un defect de
tip blocat-la care inserat în circuit poate genera raspunsul procesat.
Raspunsul poate fi generat în acest caz de un defect functional (de
exemplu o poarta invertoare functioneaza ca o poarta de transmisie). Este
important de notat ca procesul de deductie are capabilitatea de a
identifica existenta unui defect de tip neblocat.
(a)
A B C D E F G
t1 0 0 1 0 1 1 1
t2 1 1 1 1 1 0 0
t3 0 1 1 1 0 0 1
t4 1 0 1 1 0 0 1
t5 1 1 0 1 1 0 1
t6 1 1 0 0 1 1 0
t7 1 1 0 1 0 1 0
(b)