Laborator 12

Se considera un sistem format din 3 module (o memorie si 2 procesoare) pentru care defectarile
sunt independente. Un procesor defect poate fi reparat cu rata μ atat timp cat sistemul este inca
functional.

- λm - rata de defectare a memoriei

- λp - rata de defectare la procesor si μ rata de reparare

Se cere:

1. Schema bloc a sistemului cu 2 procesoare, o memorie si un commutator.

2. Construiti un model Markov pentru acest sistem reparabil.

- definiti starile

- construiti graful

- scrieti ecuatiile

3. Evaluati fiabilitatea sistemului.

Definirea starilor:

0) P1, P2 functionale

1) P1 defect, P2 functional

2) P1 functional P2 defect

3) P1 si P2 defecte

Starile 1 si 2 sunt echivalente.

Modelul Markov este urmatorul:

Care este graful pentru cazul in care se considera defectarea memoriei?

Subiect 2020
1. Se considera un sistem format din 3 sumatoare conectate intr-o structura de tip TMR. Care este
complexitatea sistemului (scrieti mai intai ecuatiile sumatorului)? Care este expresia fiabilitatii
sistemului tinand cont de faptul ca rata de defectare a elementului de circuit primar este λp?
2. Un sistem are urmatoarea functie de fiabilitate:

Plecand de la Rsist determinati care este structura sistemului.

3. Se considera un sistem ce incude 2 module identice conectate in paralel. Care este fiabilitatea
unui modul daca fiabilitatea structurii este Rp = 0.9?

4. Un avion are 2 motoare care in timpul unui zbor normal (cu ambele motoare functionale) au rata
de defectare λ. Daca un motor se opreste in timpul zborului, probabilitatea ca acesta sa poata fi
repornit este c, iar timpul mediu de repornire a acestuia in cazul norocos este r. In timpul zborului
cu un singur motor probabilitatea de defectare a motorului functional creste la valoarea λd.
Cerinte: Identificare stari, model Markov, matrice caracteristica, precizare stari de succes.
 5. Se considera un sistem autotestabil care include un modul principal (MP), o rezerva activa (RA) si
o rezerva pasiva (RP). MP si RA sunt utilizate pentru detectia defectelor, iar RP va fi activata daca
iesirile MP si RA sunt diferite. Astfel, in momentul aparitiei unui defect sistemul se va reconfigura
automat in urmatorul mod:
- RP va fi activate printr-un semnal de CS;
- MP si RA vor fi dezactivate prin semnale CS;
- iesirea MP va fi deconectata de la iesirea sistemului;
- iesirea RP se va conecta automat la iesirea sistemului;
- defectul va fi semnalizat la iesire.

Cerinte: Proiectati si desenati structura sistemului autotestabil.

Model curs
1. O garantie de 2 ani este oferita pentru un receptor TV in ipoteza cu nu mai mult de 3% din
aparate vor fi returnate pentru reparatii. In ipoteza unei legi exponentiale negative,
determinati care este rata maxima de defectare care poate fi admisa.
2. Un sistem de calcul a fost proiectat pentru o rata de defectare de un defect la 5 ani. Rata de
defectare este constanta, nu exista redundanta.
a) Care este MTTF?
b) Care este probabilitatea ca sistemul sa se defecteze in primul an de functionare?

3. Construiti modelul Markov pentru sistemul din figura. Presupuneti ca toate componentele
sunt independente si ca procesoarele pot fi reparate inainte ca sistemul sa devina
nefunctional. Rata de defectare a unui processor este λp si a unei memorii este λm. Exista
cate o echipa de reparare pentru fiecare processor. Scrieti sistemul de ecuatii pentru system
si precizati care sunt starile folosite pentru calculul fiabilitatii sistemului.
4. Un sistem este format din 4 module avand fiabilitatile R1, R2, R3, R4. A fost analizat si a fost
determinata urmatoarea expresia pentru functia de fiabilitate:

Deduceti schema bloc de calcul a fiabilitatii.

Subiect A
1. Presupunem ca rata de defectare a unui motor cu reactie este de 0.001/h. Care este probabilitatea
ca mai mult de 2 motoare, din cele 4 ale unui avion, sa se defecteze in timpul unui zbor de 4h?
Presupunem defectarile independente.

2. O imprimanta are MTTF = 168 h si MTTR = 3 h.

a) Care este disponibilitatea de regim permanent?
b) Daca MTTR = 1 h, care este MTTF care poate fi admis fara descresterea disponibilitatii de
regim permanent?
3. Un calculator cu MTTF = 3000 h lucreaza continuu 500 h.
a) Calculati fiabilitatea la sfarsitul celor 500h.
b) Presupunem ca 2 astfel de calculatoare functioneaza intr-un sistem cu redundanta semiactiva. Care
este MTTF pentru acest sistem daca comutatorul este ideal si calculatorul de rezerva nu se defecteaza?
c) Care este fiabilitatea sistemului redundant?
 4. Un sistem este format din 3 module avand fiabilitatile R1, R2, R3. A fost analizat si a fost
determinat urmatoarea expresie pentru functia de fiabilitate:

Deduceti schema bloc de calcul a fiabilitatii.

Subiect B
1. Un sistem neredundant cu 50 de componente are o fiabilitate de 0.95 dupa un timp T. Sistemul a
fost reproiectat astfel incat are numai 35 de componente. Estimati fiabilitatea dupa acelasi
interval de timp pentru sistemul reproiectat. Presupunem ca toate componentele au rata de
defectare constanta si aceeasi valoare pentru toate componentele si ca defectarile sunt
independente.
2. Un copiator are o rata de defectare de 0.01/saptamana. Care este rata de reparare pentru
asigurarea unei disponibilitati de regim permanent de 95%?

3. Construiti modelul Markov pentru sistemul din figura. Presupuneti ca toate componentele sunt
independente si nu sunt reparate. Rata de defectare a unui processor este λp si a unei memorii
este λm. Scrieti sistemul de ecuatii pentru system si precizati care sunt starile folosite pentru
calculul fiabilitatii sistemului.
 4. Un sistem este format din 3 module avand fiabilitatile R2, R3, R4. A fost analizat si a fost
determinat urmatoarea expresie pentru functia de fiabilitate:

Deduceti schema bloc de calcul a fiabilitatii.

Subiect C
1. Un producator de DVD-playere determina ca aparatul este utilizat 930 h/an. Garantia oferita este
de 2 ani si MTTF este de 2500 h. Care este fractiunea de DVD-playere care se defecteaza pe durata
garantiei?
2. Presupunem ca disponibilitatea de regim permanent trebuie sa fie de cel putin 0.9. Care este
valoarea maxima a raportului λ/μ?
3. Un sistem este format din 3 module avand fiabilitatile R1, R3, R4. A fost analizat si a fost
determinat urmatoarea expresie pentru functia de fiabilitate:

Deduceti schema bloc de calcul a fiabilitatii.

DIVERSE
1. Sa se determine probabilitatea ca maim ult de 2 motoare ale unui Boeing747 sa se defecteze in
timpul unui zbor Bucuresti-Paris de 4h.
2. Un sistem, 3 module A, B, C. Functia de fiabilitate a sistemului este… care este structura
sistemului?
3. Sa se reprezinte grafic functia fiabilitatii a unui modul si fiabilitatea unei structuri TMR.
4. Un sistem neredundant alcatuit din 4 module cu urmatoarele defectari.. Pentru ce module trebuie
redundanta astfel incat procentul de sisteme defecte in perioada de garantie <=2? (???)
Complexitati
Comutator

Masurarea fiabilitatii unui sistem cu redundanta dinamica prin cresterea numarului de rezerve
1. Consideram un system cu redundanta statica tip logica majoritara 2 din 3. Notam cu R1, R2,
R3 fiabilitatile modulelor si cu Rv fiabilitatea voterului 2 din 3.
a) Desenati schema bloc a sistemului
b) Modelul serie/parallel pentru calculul fiabilitatii
c) Expresia functiei de fiabilitate
2. Functionarea unui processor este descrisa de o lege exponential negative cu rata de defectare
lambda. Care este probabilitatea ca procesorul sa se defecteze dupa T zile de la functionare?

3. Un system parallel este format din N module cu rata de defectare lambda. Aratati ca timpul
mediu de buna functionare este..

4. …
a) desenati schema bloc de fiabilitate ca o structura serie-paralel
b) care e fiabilitatea sistemului?
c) care e fiabilitatea sistemului a functie de timp daca lambda pentru fiecare modul e aceeasi?
 5. ..
a) Pentru a ajunge la sistemul de ecuatii cerut, plecam de la probabilitatile ca sist sa se afle in fiecare
din cele 3 stari la mom de timp t+.. scrise ca functii de starea sist la mom t
b) Disponibilitatea de regim permanent este data de P0(t)=P0. In regim permanent vom avea…
c) Fiabilitatea sist in functie de..
6. ..
7. O garantie de 5 ani este oferita pentru un receptor TV in ipoteza cu nu mai mult de 2% din
aparate vor fi returnate pentru reparatii. In ipoteza unei legi exponentiale negative,
determinati care este rata maxima de defectare care poate fi admisa.
8. Un sistem de calcul a fost proiectat pentru o rata de defectare de un defect la 10 ani. Rata de
defectare este constanta, nu exista redundanta.
c) Care este MTTF? //Care este timpul mediu de buna functionare?
d) Care este probabilitatea ca sistemul sa se defecteze in primii 2 ani de functionare?
9. Construiti modelul Markov pentru sist din figura. Presupuneti ca toate componentele sunt
independente si ca procesoarele pot fi reparate inainte ca sistemul sa devina nefunctional.
Rata de defectare a unui processor este λp si a unei memorii este λm. Exista cate o echipa de
reparare pentru fiecare processor. Scrieti sistemul de ecuatii pentru system si precizati care
sunt starile folosite pentru calculul fiabilitatii sistemului.
10. Se da expresia fiabilit unui sist neredundant. Sa se gaseasca modelul serie-paralel. 4 module,
R1, R2, R3, R4
SISTEME TOLERANTE LA DEFECTE
 CURS

Modalitate de notare:
Examen: 50%
Laborator: 50%
Prezenta la curs nu este obligatorie dar conteaza
Prezenta la laborator este obligatorie
ELEMENTE GENERALE DE FIABILITATE
 Fiabilitatea unui sistem - probabilitatea de bună
funcționare R(t) sau probabilitatea ca sistemul să
funcționeze corect intr-un interval de timp
0 ≤ R(t) ≤ 1
 Probabilitatea de defectare (failure)
0 ≤ F(t) ≤ 1; 1 – R(t) = F(t)
 R(t) + F(t) = 1

 Funcția de fiabilitate
 R(t) = e-λt
 Exemplu: Pentru e-λt = 0.5 = 2-1 -> t = ln2/λ
 Fiabilitatea scade la jumătate după t = ln2/λ
TIMPUL MEDIU DE BUNĂ FUNCȚIONARE
 Calculul fiabilitatii = determinarea procentului de
sisteme care rămân funcționale după un timp
 95% rămân funcționale = fiabilitate R(t) = 0.95
 Timpul mediu de buna functionare
 Mean time between failures (MTBF)

 Termenul este utilizat în principal pentru sisteme

reparabile
toper trepair toper trepair
 Pentru sisteme nereparabile:
 MTTF (mean time to failure)
REDUNDANȚA STATICĂ TRI-MODULARĂ
 Sistem format din 3 componente funcțional identice
 Structura sistemului
Voter

Sistemul funcționează când cel puțin 2 din 3 module sunt

funcționale
Care este funcția de fiabilitate a sistemului ?
FUNCȚIA DE FIABILITATE

M1 M2 M3 IEȘIRE
C C C C C – corect
D C C C D – defect
C D C C
C C D C
D D C D
C D D D
D C D D
D D D D

Functia de fiabilitate pentru TMR cu voter ideal:

FIABILITATEA STRUCTURII TMR
 În ce condiții fiabilitatea structurii este mai bună ?
 RTMR≥R:
 TMR este mai fiabilă dacă:

 TMR este mai fiabilă dacă durata funcționării este

mai scurtă decât:
e-λt=0.5=1/2=2-1

TMR

Modul

t0
STRUCTURA TMR – DETERMINAREA MTBF
 Pentru voter real
 Voterul și structura TMR trebuie să funcționeze continuu

 Mean time between failures cu voter ideal RV

 Structura TMR este utila cand perioada de

functionare a sistemului este limitata
 Structura TMR crește securitatea sistemului
 Rezultatul este corect chiar daca a aparut un defect
REDUNDANTA MODULARA TRISTATICA
 Mai multe module – fiabilitate mai scazuta pentru
perioade mai lungi de timp

 Cum putem imbunatati fiabilitatea sistemului ?

 Trebuie sa avem in considerare si pastrarea

securitatii sistemului.

 Reducem numarul de module – Cum ?

 In cazul in care avem un modul defect atunci

defectarea oricarui modul ramas duce la
oprirea sistemului
STRUCTURA TMR/SIMPLEX
 Funcția de fiabilitate

 Obținem:

 Care structură este mai bună ?

RTMR/S
ok ok

ok stop

fail fail
COMPARAREA FUNCȚIILOR DE FIABILITATE

 Timpul mediu de buna functionare

(mean time between failures)

Timpul mediu de functionare cand sistemul functioneaza cu 3

module X1, X2, X3; timpul mediu cand sistemul functioneaza cu un modul W
IMPLEMENTARE TMR
 Circuit autotestare pentru structura TMR
Voter

 Structura tolereaza defectarea unui modul

 Semnalul de control se activeaza cand exista cel putin
un modul defect.
MODELE DE FIABILITATE
 Evaluarea fiabilității sistemelor complexe implică:
 Alegerea modelului de fiabilitate potrivit care
exprimă în mod corect dependența dintre fiabilitatea
sistemului si fiabilitatea componentelor
 Alegerea metodei de analiză în concordanță cu
modelul
 Evaluarea fiabilității pe baza modelului de
fiabilitate și datele tehnice privitoare la fiabilitate

R1 R4
R3
R2 R5 Rsystem= ?
R6
 MODELUL DE FIABILITATE SERIE
 Defectarile componentelor reprezinta evenimente
independente:

 Defectarea oricarui modul duce la defectarea sistemului

 Notăm cu X timpul de funcționare a sistemului:

 Notând cu funcțiile de fiabilitate a componentelor:

 Fiabilitatea sistemului:
 Funcția de fiabilitate: cu
 MTBF este mai mic decât MTBF a oricărei componente
MODEL DE FIABILITATE PARALEL
 Sistemul poate funcționa cu cel puțin o componentă:

 Timpul de funcționare este:

 Probabilitatea de defectare este:
 EVALUAREA FIABILITĂȚII SISTEMELOR
COMPLEXE

 Să se determine expresia fiabilității următoarelor

sisteme:

R1 R2

R3 R4

R1 R2

R3 R4

R2

R1

R3
SISTEME TOLERANTE LA
DEFECTE

CURS 2
MODELE DE FIABILITATE
 Evaluarea fiabilității sistemelor complexe implică:
 Alegerea modelului de fiabilitate potrivit care
exprimă în mod corect dependența dintre fiabilitatea
sistemului si fiabilitatea componentelor
 Alegerea metodei de analiză în concordanță cu
modelul
 Evaluarea fiabilității pe baza modelului de
fiabilitate și datele tehnice privitoare la fiabilitate

R1 R4
R3
R2 R5 Rsystem= ?
R6
 MODELUL DE FIABILITATE SERIE
 Defectarile componentelor reprezinta evenimente
independente:

 Defectarea oricarui modul duce la defectarea sistemului

 Notăm cu X timpul de funcționare a sistemului:

 Notând cu funcțiile de fiabilitate a componentelor:

 Fiabilitatea sistemului:
 Funcția de fiabilitate: cu
 MTBF este mai mic decât MTBF a oricărei componente
MODEL DE FIABILITATE PARALEL
 Sistemul poate funcționa cu cel puțin o componentă:

 Timpul de funcționare este:

 Probabilitatea de defectare este:
 EVALUAREA FIABILITĂȚII SISTEMELOR
COMPLEXE

 Să se determine expresia fiabilității următoarelor

sisteme:

R1 R2

R3 R4

R1 R2

R3 R4

R2

R1

R3
REDUNDANTA
Exemple
Sistem neredundant

Sistem redundant pentru

defectul de tip scurtcircuit

Sistem redundant pentru

defectul de tip intrerupere

Sistem redundant pentru

cele doua defecte
REDUNDANTA
 Tipuri
 Statica
 rezerva este utilizata tot timpul
 Rezerva este activa

 Dinamica (de comutatie)

 Rezerva este pasiva
 Se activeaza modulul de rezerva doar in momentul in care
este nevoie de acesta (modulul de baza se defecteaza)
 Hibrida
 combinatie intre cele doua anterioare
 Localizare
 Nivel global
 La nivel local
 Selectiva
FIABILITATEA SISTEMULUI REDUNDANT
 Sistemul include un modul de rezerva activ
Variatie fiabilitate
R

pasiva
R
activa

Rezerva activa:
2
𝑅𝑅𝑆 = 1 − 1 − 𝑅
Lipsa rezerva
Rezerva pasiva:
𝑅𝑅𝑆 = 𝑅 ∙ (1 + 𝜆𝑡
STRUCTURA TMR – DETERMINAREA MTBF
 Pentru voter real
 Voterul și structura TMR trebuie să funcționeze continuu

 Mean time between failures cu voter ideal RV

 Structura TMR trebuie utilizată pentru perioade scurte de

timp.
 Structura TMR crește securitatea sistemului deoarece
 Sistemul functioneaza corect cu un modul defect
 Permite identificarea defectului
 Cand defectul este identificat sistemul este oprit si modulul
defect este inlocuit
 Curs 3
MODELAREA MARKOV
 Se definesc un numar de stari
 Se definesc tranzitiile care se fac in cazul
defectarii unui singur element
 Se deseneaza lanțul Markov

 Se scrie matricea caracteristică

 Se scrie sistemul de ecuatii diferentiale

 Se aplică transformata Laplace

 Se stabilesc conditiile initiale

 Se rezolva sistemul

 Se aplică transformata Laplace inversa pentru a

afla expresia fiabilitatii in domeniul timp
MARKOV MODEL FOR TMR/SIMPLEX
 Lanțul Markov

 Matricea caracteristică Sistemul de ecuatii

diferentiale:

Transformata Laplace:
𝑠& 𝑃1 𝑠 − 1 = −3𝜆𝑃1 (𝑠
&𝑠𝑃2 𝑠 = 3𝜆𝑃1 𝑠 − 𝜆𝑃2 (𝑠 Conditii initiale:
&𝑠𝑃3 𝑠 = 𝜆𝑃2 (𝑠 𝑝1 0 = 1, 𝑝2 0 = 0, 𝑝3 0 = 0.
TMR/SIMPLEX
 Solutiile in domeniul Laplace:
1 𝑠& 𝑃1 𝑠 − 1 = −3𝜆𝑃1 (𝑠
𝑃1 𝑠 =
𝑠 + 3𝜆 &𝑠𝑃2 𝑠 = 3𝜆𝑃1 𝑠 − 𝜆𝑃2 (𝑠
&𝑠𝑃3 𝑠 = 𝜆𝑃2 (𝑠
3𝜆 1 1.5 1.5
𝑃2 𝑠 = ∙ = −
𝑠 + 3𝜆 𝑠 + 𝜆 𝑠 + 𝜆 𝑠 + 3𝜆

3𝜆2 1 1 1 1.5 1.5

𝑃3 𝑠 = ∙ ∙ = − +
𝑠 + 3𝜆 𝑠 + 𝜆 𝑠 𝑠 𝑠 + 𝜆 𝑠 + 3𝜆

Soluțiile sistemului in domeniul timp sunt:

Soluția pentru TMR/S:
3 1
𝑅𝑇𝑀𝑅 𝑡 = 𝑒 −𝜆𝑡 − 𝑒 −3𝜆𝑡
𝑆 2 2

p1 si p2 stari de succes
SISTEM RECONFIGURABIL
SYSTEM RECONFIGURABIL
 Conditii initiale

 Determinarea fiabilitatii sistemului redundant

SYSTEM RECONFIGURABIL
 Consideram sistemul cu urmatoarea structura:
 Sistemul modeleaza variatia fiabilitatii rotilor
duble din spatele unui camion.

Rata de defectare pentru modulul 2:

λ2r cand modulul este semiactiv
λ2 cand modulul este activ (pana)

Matricea caracteristica:

−(𝜆1 + 𝜆2𝑟 0 0 0
𝜆1 −𝜆2 0 0
𝜆2𝑟 0 −𝜆1 0
0 𝜆2 𝜆1 0
SYSTEM RECONFIGURABIL
 Determinarea fiabilitatii:
 𝑅 𝑡 = 𝑝1 𝑡 + 𝑝2 𝑡 + 𝑝3 (𝑡
 𝑝𝑖 𝑡 = 𝑝𝑟𝑜𝑏 𝑠 𝑡 = 𝑖 , 𝑖 = 1,2,3,4.
 Sistem de ecuatii: Conditii initiale:

𝑑𝑝1(𝑡 𝑝1 0 = 1; 𝑝2 0 = 0;
& = − 𝜆1 + 𝜆2𝑟 𝑝1(𝑡 𝑝3 0 = 0; 𝑝4 0 = 0
𝑑𝑡
𝑑𝑝2(𝑡
& = −𝜆1 𝑝1 𝑡 − 𝜆2 𝑝2 𝑡 Laplace:
𝑑𝑡
𝑑𝑝3(𝑡 𝑠& 𝑃1 𝑠 − 1 = − 𝜆1 + 𝜆2𝑟 𝑃1 (𝑠
& = −𝜆2𝑟 𝑝1 𝑡 − 𝜆1 𝑝3 (𝑡
𝑑𝑡 &𝑠𝑃2(𝑠 = 𝜆1 𝑃1 𝑠 − 𝜆2 𝑃2 𝑠
𝑑𝑝4 (𝑡 &𝑠𝑃3(𝑠 = −𝜆2𝑟 𝑃1 𝑠 − 𝜆1 𝑃3 (𝑠
& = 𝜆2 𝑝2 𝑡 + 𝜆1 𝑝3 𝑡 &𝑠𝑃4 𝑠 = 𝜆2 𝑃2 𝑠 + 𝜆1 𝑃3 𝑠
𝑑𝑡
SYSTEM RECONFIGURABIL
 System in domeniul Laplace
𝑠& 𝑃1 𝑠 − 1 = − 𝜆1 + 𝜆2𝑟 𝑃1 (𝑠
&𝑠𝑃2(𝑠 = 𝜆1 𝑃1 𝑠 − 𝜆2 𝑃2 𝑠
&𝑠𝑃3(𝑠 = −𝜆2𝑟 𝑃1 𝑠 − 𝜆1 𝑃3 (𝑠
&𝑠𝑃4 𝑠 = 𝜆2 𝑃2 𝑠 + 𝜆1 𝑃3 𝑠

 Solutii in domeniul Laplace

1 1
&𝑃1 𝑠 = &𝑃1 𝑠 =
𝑠 + 𝜆1 + 𝜆2𝑟 𝑠 + 𝜆1 + 𝜆2𝑟
1 𝜆1 1
&𝑃2 𝑠 = 𝜆1 𝑃1(𝑠 ∙ &𝑃2 𝑠 = ∙
𝑠 + 𝜆2 𝑠 + 𝜆1 + 𝜆2𝑟 𝑠 + 𝜆2
1 𝜆2𝑟 1
&𝑃3 𝑠 = 𝜆2𝑟 𝑃1 (𝑠 ∙ &𝑃3 𝑠 = ∙
𝑠 + 𝜆1 𝑠 + 𝜆1 + 𝜆2𝑟 𝑠 + 𝜆1
SYSTEM RECONFIGURABIL
 Solutiile in domeniul Laplace:
1
𝑃1 𝑠 =
𝑠 + 𝜆1 + 𝜆2𝑟
𝜆1 1 1
𝑃2 𝑠 = −
𝜆2 − 𝜆1 − 𝜆2𝑟 𝑠 + 𝜆1 + 𝜆2𝑟 𝑠 + 𝜆2
−1 1
𝑃3 𝑠 = +
𝑠 + 𝜆1 + 𝜆2𝑟 𝑠 + 𝜆1
 Aplicand transformata Laplace inversa obtinem:
𝑝1 𝑡 = 𝑒 − 𝜆1+𝜆2𝑟 𝑡
𝜆1
𝑝2 𝑡 = (𝑒 − 𝜆1+𝜆2𝑟 𝑡 − 𝑒 −𝜆2 𝑡
𝜆2 − 𝜆1 − 𝜆2𝑟
𝑝3 𝑡 = −𝑒 − 𝜆1+𝜆2𝑟 𝑡 + 𝑒 −𝜆1𝑡

 Fiabilitatea:
𝜆1
𝑅 𝑡 = 𝑒 −𝜆1 𝑡 + ∙ (𝑒 − 𝜆1+𝜆2𝑟 𝑡 − 𝑒 −𝜆2 𝑡
𝜆2 − (𝜆1 + 𝜆2𝑟
SISTEME TOLERANTE LA
DEFECTE

CURS 4
FIABILITATEA STRUCTURII TMR
 În ce condiții fiabilitatea structurii este mai bună ?
 RTMR≥R:
 TMR este mai fiabilă dacă:

 TMR este mai fiabilă dacă durata funcționării este

mai scurtă decât:
e-λt=0.5=1/2=2-1

TMR

Modul

t0
SYSTEME CU LOGICA MAJORITARA (

 Functii logice pentru voter

Termeni:
Termeni:

 System cu logica 2/3 cu 1 voter sau cu 3 votere

 Structura cu un voter structura cu 3 votere

1 1 V

2 V 2 V

2n-1 2n-1 V
SISTEME CU REDUNDANTA STATICA DE TIP
LOGICA MAJORITARA

 Sistemele includ 2n-1 module functional identice

 1 voter (n din N=2n-1)

Rsystem in functie Rsystem in functie

de λt de R

R
SISTEME CU REDUNDANTA STATICA DE TIP
LOGICA MAJORITARA
Sistemele includ 𝑁 = 2𝑛 − 1 module M1
M1 V
functional identice.
M2
• 1 voter 𝑛 din 𝑁 M2 V V

• N votere
Mn Mn V

M1 M2 M3 V1 V2 V3 System
C C C C C C C
D C C C C C C
C D C C C C C
-----------
D C C D C C C
D C C C D C C

𝑅𝑠𝑦𝑠𝑡𝑒𝑚 = ?
SISTEME CU VOTER MULTIPLU
 Defecte singulare
Functia de fiabilitate pentru
M1 M2 M3 V1 V2 V3 System un sistem cu 3 module si 3 votere
C C C C C C C
D C C C C C C
C D C C C C C 3 module functionale 1 modul defect
C C D C C C C 3 votere functionale 3 votere functionale
C C C D C C C
C C C C D C C
C C C C C D C
`
3 module functionale
 Defecte duble 1 voter defect

M1 M2 M3 V1 V2 V3 System
1 modul defect
D C C D C C C
V
1 voter defect
D C C C D C C 1
D C C C C D C
C D C D C C C
2 V
C D C C D C C
C D C C C D C
C C D D C C C V
C C D C D C C 3
C C D C C D C
EXEMPLU
 Fie un system cu model de fiabilitate serie format din
k elemente cu fiabilitati diferite
1’ Sistem neredundant
1 V 2 3 K

1”
 Cu un singur voter pentru fiecare element din cele k:
 Model de fiabilitate:
1
1 1’ 2 2’ k k’

2 V
1’ 1’’ V1 2’ 2’ V2 k’ 2’ Vk

1 1” 2 2” k k”
2n-1

Pentru fiecare subsistem 2/3 minim 2 module trebuie sa fie functionale

 Functie de fiabilitate pentru subsistem 2/3 cu un voter:

 EXEMPLU
 Model de fiabilitate cu voter multiplu:
Modul Modul Voter Modul Voter Modul Voter Voter

 Functia de fiabilitate pentru voter multiplu:

K-1 VK-1 K VK

K-1’ V’K-1 K’ V’K

Pentru module K-1” V”K-1 K” V”K

identice:
𝑅𝑆𝑌𝑆𝑇𝐸𝑀 = 3𝑅2 𝑡 − 2𝑅3 (𝑡 ∙ 3 ∙ 𝑅 ∙ 𝑅𝑉 2
− 2 ∙ 𝑅 ∙ 𝑅𝑉 3 𝑘−1
∙ 3𝑅𝑣2 𝑡 − 2𝑅𝑣3 (𝑡
 EXEMPLU
 Sa se construiasca un sistem ce include un procesor
si o memorie cu model de fiabilitate in logica
majoritara 2 din 3 si voter in configuratie multipla
 Structura sistem

Un singur voter Voter multiplu

Memorie M1 M2 M3 M1 M2 M3

VP VM VM1 VM2 VM3

Procesor

P1 P2 P3
VP1 VP2 VP3

P1 P2 P3

Pentru module identice:

𝑅𝑆𝑌𝑆𝑇𝐸𝑀 = 3𝑅2 𝑡 − 2𝑅3 (𝑡 ∙ 3 ∙ 𝑅 ∙ 𝑅𝑉 2
− 2 ∙ 𝑅 ∙ 𝑅𝑉 3 𝑘−1
∙ 3𝑅𝑣2 𝑡 − 2𝑅𝑣3 (𝑡
FUNCTIA DE FIABILITATE
 Voter simplu:
𝑅𝑃𝐶 = 𝑅𝐶𝑃𝑈 (𝑇𝑀𝑅 ·𝑅𝑀𝐸𝑀 (𝑇𝑀𝑅
2 3
𝑅𝐶𝑃𝑈 𝑇𝑀𝑅 = (3 ∙ 𝑅𝐶𝑃𝑈 − 2 ∙ 𝑅𝐶𝑃𝑈 𝑅𝑉𝑃

2
𝑅𝑀𝐸𝑀 𝑇𝑀𝑅 = 3 ∙ 𝑅𝑀𝐸𝑀 3
− 2 ∙ 𝑅𝑀𝐸𝑀 𝑅𝑉𝑀
 Voter multiplu:
 Fiabilitatea unui subsistem (CPU sau MEM)
2 3
𝑅𝑃𝐶 = 3𝑅𝐶𝑃𝑈 𝑡 − 2𝑅𝐶𝑃𝑈 𝑡 ·
2 3
∙ 3 ∙ 𝑅𝑉_𝐶𝑃𝑈 𝑡 ∙ 𝑅𝑀𝐸𝑀 𝑡 − 2 ∙ 𝑅𝑉_𝐶𝑃𝑈 𝑡 ∙ 𝑅𝑀𝐸𝑀 𝑡 ∙
2 3
∙ (3𝑅𝑀𝐸𝑀 𝑡 − 2𝑅𝑀𝐸𝑀 𝑡
 Intrebari ?
SISTEME TOLERANTE LA
DEFECTE
 SISTEME AUTOTESTABILE
 Toate defectarile sunt detectate in timpul functionarii
normale si imediat ce apar
 Sistemul autotestabil include un circuit de control
 Toate semnalele de intrare sa fie observabile la iesirea sa
 Orice defectare sa fie detectata in timpul functionarii

Tipuri de sisteme
autotestabile
SISTEME AUTOTESTABILE

Iesire sistem
Intrare Sistem
autotestabil Iesire auxiliara

Aux Corecta (0) Eronata Corecta (1)

Modul Sist. pornit Syst. oprit
Corecta Stare 1 2 3
Eronata 4 5 6

Iesire
MF
Intrare
STOP
MR X

comparator
 Aux 0 (OK) Err 1
SISTEME Modul ON OFF
Corecta 1 2 3
AUTOTESTABILE
Eronata 4 5 6
 Stari:
 1: iesire corecta, aux corect, nu se semnalizeaza eroare
 MF functional, MC functional
 2: iesire corecta, aux eronat
 MF functional, MC defect
 3: iesire corecta, aux corect, se semnalizeaza eroare ?
 MF functional, MC functional, sistem oprit degeaba
 4: iesire incorecta, aux corect, nu se semnalizeaza eroare
– stare periculoasa – eroare nedetectata
 5: iesire incorecta, aux incorect
 MF defect, MC defect, stare periculoasa
 6: iesire incorecta, aux corect, se semnalizeaza eroare
 MF defect, MC functional, sistem oprit
STRUCTURI CU REDUNDANTA DINAMICA
 Se considera sistemul cu rezerva
MF Model de fiabilitate
intrare λF iesire λF
λC λC
MR λR
αλR, λR

 c – probabilitatea de detectare a unui defect in modulul

functional
 factor de acoperire c=1 si rezerva activa
 Clasificare a tipului de rezerva:
 Activa: λR= λF, consum normal, timp raspuns mic.
 Semi-activa: αλR < λF, λR = 0, consum redus, t. r. mediu.
 Pasiva: αλ = 0, fara consum, timp de raspuns mare.
 MODELUL MARKOV PENTRU REZERVA
SEMIACTIVA

 Se construieste modelul Markov pentru cat mai

putine stari:
 S1: MF si MR ambele functioneaza corect
 S2: MF defect si MR corect
 S3: MF corect si MR defect
 S4: MF si MR defecte Comutator real (c<1)
In cazul aparitiei unui defect
Comutator ideal (c=1) -λR sistmul nu se reconfigureaza
cu probabilitate de 100 %
S2 S2
λF λR c·λF λR

S1 S4 S1
αλR=ϒR S4
λF λF
αλR
-(λF+ ϒR)
S3 S3

-λF (1-c)·λF

𝑅 = 𝑃 𝑆𝑡 = 𝑆1 + 𝑃(𝑆𝑡 = 𝑆2) + 𝑃(𝑆𝑡 = 𝑆3)

REZOLVAREA SISTEMULUI
 Matricea caracteristica (comutator real)

Se aplica Laplace (P1(0)=1)

Notam fiabilitatea rezervei
in stare semiactiva:
REZOLVAREA SISTEMULUI

 Calculul probabilitatilor de stare in domeniul timp

REZOLVAREA SISTEMULUI
 Functia de fiabilitate a sistemului va fi:
 Pentru rezerva semiactiva:

 Pentru rezerva activa:

 Pentru rezerva pasiva:

 The end
CURS 6 – SISTEME HIBRIDE
TMR si rezerve
STRUCTURI REDUNDANTE HIBRIDE
 TMR cu o rezervă activă Failure(S4)
TMR
-4λ
V

Rezerva

P1(0) = 1; P2(0) = 0, …

MTBF = R(s) | s=0

STRUCTURI REDUNDANTE HIBRIDE
 Sistem cu rezerva pasiva

= Rrp(s)
TMR/SIMPLEX
 Lanțul Markov

 Matricea caracteristică

Soluțiile sistemului sunt:

Soluția pentru TMR/S:

SYSTEME HIBRIDE
 Graficele variatiei fiabilitatii MTBF:
TMR = 5/6
TMR(RA) =13/12
TMR(RP) =7/6
TMR/S = 4/3

 TMR cu rezerva pasiva prezinta cea mai buna

fiabilitate
TMR/SIMPLEX
 Functie de fiabilitate pentru TMR/S MTBF:
TMR = 5/6
TMR(RA) =13/12
TMR(RP) =7/6
TMR/S = 4/3

 Se constata faptul ca TMR/S are timpul mediu cel

mai bun
SISTEM RECONFIGURABIL CU 2 REZERVE
Stare Stare Stare MR1 Stare
MF MR2

0 0 0 0
1 1 0 0
2 0 1 0

3 0 0 1

4 1 1 0

5 1 0 1

6 0 1 1

7 1 1 1

𝑅′𝐶 = 𝑅12/8; 𝑅 = 𝑒 −𝜆𝑡

R(c=1) = 1-(1-R)3
SISTEM RECONFIGURABIL CU 2 REZERVE

 Lant Markov Sistem de ecuatii Laplace

𝑠𝑃0 𝑠 − 1 = −3𝜆𝑃0 (𝑠)

𝑠𝑃0 𝑠 − 0 = 𝑐𝜆𝑃0 𝑠 − 2𝜆𝑃1 (𝑠)
𝑠𝑃2 𝑠 = 𝜆𝑃0 𝑠 − 2𝜆𝑃2 (𝑠)
𝑠𝑃3 𝑠 = 𝜆𝑃0 𝑠 − 2𝜆𝑃3 (𝑠)
𝑠𝑃4 𝑠 = 𝑐𝜆𝑃1 𝑠 + 𝑐𝜆𝑃2 𝑠 − 𝜆𝑃4 𝑠
𝑠𝑃5 𝑠 = 𝜆𝑃1 𝑠 + 𝑐𝜆𝑃3 𝑠 − 𝜆𝑃5 𝑠
𝑠𝑃6 𝑠 = 𝜆𝑃2 𝑠 + 𝜆𝑃3 𝑠 − 𝜆𝑃6 𝑠
SYSTEM RECONFIGURABIL CU 2 REZERVE
𝑃0 (𝑠) = 1/(𝑠 + 3𝜆) -> 𝑃0 𝑡 = 𝑒 −3𝜆𝑡
𝜆 1 1
𝑃1 𝑠 = 𝑐 ∙ = 𝑐( − ) -> 𝑃1 𝑡 = 𝑐 · (𝑒 −2𝜆𝑡 + 𝑒 −3𝜆𝑡 )
𝑠+3𝜆 𝑠+2𝜆 𝑠+2𝜆 𝑠+3𝜆
𝜆 1 1
𝑃2 𝑠 = 𝑠+3𝜆 𝑠+2𝜆
=𝑠+2𝜆 − 𝑠+3𝜆

𝑃3 (𝑠) = 𝑃2 (𝑠)
1 1
𝑃4 𝑠 = (𝑐 2 +𝑐)( − )
2 ∙ (𝑠 + 3𝜆) 𝑠 + 2𝜆
1 1 1
𝑃5 𝑠 = 2𝑐[ − + ]
2∙ 𝑠+𝜆 𝑠 + 2𝜆 2 ∙ 𝑠 + 3𝜆
1 1 1
𝑃6 𝑠 = 2[ − + ]
2∙ 𝑠+𝜆 𝑠 + 2𝜆 2 ∙ 𝑠 + 3𝜆
𝑅𝑆𝑌𝑆𝑇,2𝑅𝑎 = 𝑃1 𝑡 + 𝑃2 𝑡 +𝑃3 𝑡 +𝑃4 𝑡 + 𝑃5 𝑡 +𝑃6 𝑡

𝑐 2 + 3𝑐 + 2 −𝜆𝑡 𝑐 2 + 𝑐 −3𝜆𝑡
𝑅𝑆𝑌𝑆𝑇,2𝑅𝑎 = 𝑅𝐶′ 𝑡 ∙𝑒 2
− 𝑐 + 2𝑐 ∙ 𝑒 −2𝜆𝑡
+ ∙𝑒
2 2
STRUCTURI REDUNDANTE HIBRIDE
 Implementare TMR
SISTEME TOLERANTE LA
DEFECTE

CURS 7
SISTEME REDUNDANTE PRIN CODARE
 Consideram un automat pe n biti
Registru de stare
Intrari Iesiri

primare CLC primare

Intrari Iesiri
secundare secundare

Registru de
Yt stare Yt+1

CBB

 Dorim ca acest automat sa tolereze aparitia unui

numar de p erori
 Pentru aceasta adaugam k circuite combinationale
si k registre
CORECTIA ERORILOR
AUTOMAT
 Valoarea lui k
 numarul 2k sa fie mai mare
decat numarul de erori
n posibile p.
 Pentru corectia erorilor
singulare (n+k posibilitati):

 Corectia erorilor singulare si

duble:
k
 Corectia erorilor de p biti
 CORECTIA ERORILOR - EXEMPLE
 Pentru n=4 biti:
 k=3 biti de codare pentru corectia erorilor singulare
 k = m + 1, unde 2m = n
 k=4 biti de codare pentru detectia erorilor duble
 k=m+2
 k=6 biti de codare pentru corectia erorilor duble
 Blocurile, trebuiesc resintetizate
 Fiabilitatea sistemului neredundant (automat):

unde Ri (t) fiabilitate Mi si Ci

M-CBB si C-CLC
 Fiabilitatea sistemului redundant cu corectia
erorilor singulare:
EXEMPLU
 Numarator binar pe 4 biti
Cx = 0.5
Cx = 2.5
Cx = 4
Cx = 4.5

 Pentru corectia unui bit se calculeaza sindromul:

eroare y1 y2 y3 y4 p1 p2 p3
S1 1 1 0 1 1 0 0
S2 1 0 1 1 0 1 0
S3 0 1 1 1 0 0 1
DETECTIA ERORILOR DUBLE
 Verificam valoarea sindromului pentru erorile duble
in cele 3 cazuri posibile (sindromul trebuie ≠ 0):

eroare p1p2 p2p3 p1p3 y1p1 y1y2 y1y3 y2p1

S1 1 0 1 0 0 1 0
S2 1 1 0 1 1 0 0
S3 0 1 1 0 1 1 1

 O iesire (y) si o iesire a circuitului ce redundant (p) afectat

de eroare – sindrom diferit de 0
 Doua iesiri automat (y) afectate de eroare
 Sindrom diferit de 0
 Doua iesiri a circuitului redundant (p) afectate de eroare
 Sindrom diferit de 0
CONCLUZII
 Adaugarea a 3 biti de control
 poate corecta erorile singulare
 poate detecta erorile duble

eroare y1 y2 y3 y4 p1 p2 p3
S1 1 1 0 1 1 0 0
S2 1 0 1 1 0 1 0
S3 0 1 1 1 0 0 1

 Pentru corectarea erorilor duble 6 biti de control

trebuie adaugati
SISTEME TOLERANTE LA
DEFECTE
CURS 8
STRUCTURI REDUNDANTE HIBRIDE
 Module detectie erori si reconfigurare TMR
Module Detectie Circuite de reconfigurare

Voter

Memorare

Circuite de detectie si memorare erori

STRUCTURI REDUNDANTE HIBRIDE
 TMR cu module de rezerva
TMR Va fi proiectat

IN1

IN2

IN3
Rezerve
(RI)

i = 1,5

(BDC)
Va fi proiectat

τ = τRI + τV + τXOR (element intarziere)

 STRUCTURA BDC 𝑐 = 0 OK
Mi clk
BLOC DE DETECTIE SI COMANDA 𝑐 = 1 eroare

stare Stare urma/comanda τ

Ci = 0 (Mi) Ci = 1 (/Mi) V
A Nici un modul operational inainte B/100 (IN1) A/000
B Un modul operational C/010 (IN2) B/000
C 2 module functioneaza corect D/001 (IN3) C/000
D 3 module functioneza corect D/000 D/000

i=1 Codificare stari

St. urmatoare i=2 i=3, 4 i=5 y1 y4
A = 1000
B = 0100
C = 0010
D = 0001

iesire
COMPLEXITATE
 Comparator: XOR (2.5) + CBB (8)

Celula i 1 2 3 4 5
Comparator + bistabil 10.5 10.5 10.5 10.5 10.5
Logica de comanda (stare 0 9 10.5 14.5 1.5
urmatoare Y)
Logica combinationala 1.5 3 4.5 3 1.5
pentru reteaua de
interconectare (iesire V)
Total 12 22.5 28.5 28 13.5
RETEA DE INTERCONECTARE

V*
Celula 1

Celula 2

Celula 3 V

Celula 4

Celula 5
 STRUCTURI REDUNDANTE HIBRIDE
 Functia de fiabilitate a structurii hibride

Module de detectie functionale

Module de
detectie
defecte
SISTEME TOLERANTE LA
DEFECTE

CURS 9
SISTEME AUTOTESTABILE

Iesire sistem
Intrare Sistem
autotestabil Iesire auxiliara (1 eroare
0 fara eroare)

Stari sistem:

\ aux Corecta=0 Eronata Corecta=1

iesire \ Syst:Pornit Syst:Oprit
Corecta 1 2 3
Eronata 4 5 6
SISTEME AUTOTESTABILE
iesire\ aux Corecta (0) Eronata Corecta(1)
system \ Pornit Oprit
Corecta 1 2 3
Eronata 4 5 6

 1: iesire corecta, aux corect, nu se semnalizeaza eroare

 MF functional, MC functional, sistem complet functional
 2: iesire corecta, aux eronat
 MF functional, MC defect, stare norocoasa
 3: iesire corecta, aux corect, se semnalizeaza eroare
 MF functional, MC functional, sistem oprit degeaba
 4: iesire incorecta, aux corect, nu se semnalizeaza eroare –
stare periculoasa – eroare nedetectata
 5: iesire incorecta, aux incorect
 MF defect, MC defect, stare periculoasa
 6: iesire incorecta, aux corect, se semnalizeaza eroare
 MF defect, MC functional, sistem oprit in mod corect
INDICATORI DE FIABILITATE

 Fiabilitate: R(t) = Pr(stare = 1)

Iesire corecta si iesire auxiliara corecta
 Disponibilitate: A(t) = Pr (1 sau 4) sistem pornit
Iesire AUX corecta care este 0 (eroare nedetectabila)
 Securitate: S(t) = Pr (1 sau 6)
Fara eroare sau eroare detectata si iesire aux corecta
 Credibilitate: C(t) = Pr (iesiri corecte si sistem pornit)
Pr (sistem disponibil)
C(t) = Pr (1)/Pr(1 sau 4) = Fiabilitate / Disponibilitate
VALORI MAXIME
R max = Pr (1 sau 2)

iesire principala corecta si sistem pornit

A max = Pr (1 sau 4 sau 2 sau 5) = 1 – Pr (3 sau 6)

sistem pornit indiferent de corectitudinea iesirii

S max = Pr [(1 sau 2) sau (5 sau 6)] = 1 – Pr (3 sau 4)

C max = Fiabilitate / Disponibilitate = R max / A max =

= Pr (1 sau 2) / Pr (1 sau 4 sau 2 sau 5)

 EXEMPLU
Iesire
MF
Intrare
STOP
MR X

COMP

 MR si MF module identice MF MR COMP STARE

 COMP comparator C C C 1
D C C 6 (oprit)
Iesire\ Corect Eronat Corect
Aux Pornit Oprit 1 C D C 3 (oprit)

Corecta 1 2 3 C C D 2
Eronata 4 5 6 D D C 5
C D D 2
D C/D D 5
INDICATORI DE FIABILITATE
Valori minime
 R= RMF · RMR· RCOMP (stare 1)

 A= RMF · RMR· RCOMP (stare 4 imposibila)

 S=RMR· RCOMP [RMF + (1 – RMF)]

 C=R/A = 1

Valori maxime
 R max = RMF · RMR· RCOMP + RMF · RMR · (1 - RCOMP )

 A max = 1- RCOMP· [RMF (1 - RMR ) + RMR (1 - RMF )]

 S max = 1 - RMF · (1 - RMR)· RCOMP

 C max = R max/A max < 1

SISTEM AUTOTESTABIL REDUNDANT (SAR)
OUT1 MUX
MF1
STOP1
MR1 X
STOP OUT
Intrare

MR2 X STOP2

OUT2
MF2

 RSAR = RMUX · {RCOMP1· RCOMP2· [R4 + 4R3 · (1 – R ) + 2 R2 (1

– R) 2] + RCOMP1· (1 – RCOMP2)· R3·+ (1 – RCOMP1)· RCOMP2 · R3

 ASAR = RMUX · {RCOMP1· RCOMP2· (R2 + R2) + RCOMP1· (1 –

RCOMP2)· R2·+ (1 – RCOMP1)· RCOMP2 · R2
SISTEM AUTOTESTABIL REDUNDANT
 T = {RCOMP1· RCOMP2· [R4 + 4R3 · (1 – R ) + 2 R2 (1 – R) 2] +
RCOMP1· (1 – RCOMP2)· R3·+ (1 – RCOMP1)· RCOMP2 · R3 }

 RSAR = RMUX · T

 ASAR = RMUX · { RCOMP1· RCOMP2· 2 R2 + RCOMP1· (1 – RCOMP2)·

R2·+ (1 – RCOMP1)· RCOMP2 · R2 }

 SSAR = RMUX· { T + RCOMP1· RCOMP2· [2 R2 (1 – R) 2 + 2 R2 (1 –

R) 2]}

 CSAR = RSAR / ASAR

SISTEME TOLERANTE LA
DEFECTE
 SISTEME AUTOTESTABILE REDUNDANTE
MF1 iesire
MF
iesire
MF2 V
intrare intrare MR1
MF3
STOP
MR2 V X
STOP
MR X COMP
MR3
COMP

MF1 MF1
iesire iesire
MF2 V MR1 X V

MF3 MF2
intrare

intrare MR2 X
MR1
STOP
STOP MF3 V
MR2 V X

MR3 X
MR3
SISTEME AUTOTESTABILE REDUNDANTE
 Structura TMR
MF1

intrare iesire
MF2 V

MF3

STOP
X

 Fiabilitatea sistemului

Toate modulele trebuie sa functioneze

,

COMPARATOARE AUTOTESTABILE
 Self checking checker (SCC)
x1 z1
 Two rail checker (TRC) x2
y1 CA z2
 Iesiri valide
y2
 (0 1) ieșire corectă = 0
 (1 0) ieșire corectă = 1
x1 x2 y1 y2 z1z2
 Ieșiri invalide
0 1 0 1 01
 (0 0), (1 1) ieșiri incorecte
0 1 1 0 10
1 0 0 1 10
1 0 1 0 01
- - - - 00/11
01 – egalitate intre cele două intrări corecte
10 – inegalitate
Celelalte ieșiri unde (z1 = z2) sunt indiferente
TWO RAIL CHECKER
SINTEZA IESIRILOR
z1
y1y2\x1x2 00 01 11 10 x1
00
y2
01 1 1 0 z1
11 1 1 1
10 0 1 1
x2
y1
z2
y1y2\x1x2 00 01 11 10 x2
00 y2
01 0 1 1 z2
11 1 1 1
10 1 1 0
x1
y1
COMPARATOARE CU 3 INTRARI

COMP1

B A C
D
COMP2

 A – submultimea codurilor corecte pentru intrare

 B – submultimea codurilor incorecte pentru intrare
 C – coduri corecte la iesire
 D – coduri incorecte la iesire
SISTEME TOLERANTE LA
DEFECTE
CURS 11
SUMATOARE AUTO-TESTABILE

 Cum poate fi transformat un sumator liniar intr-

o structura autotestabilă fără dublarea structurii
a s = a ⊕ b ⊕ cin a
b
b sumator cin
cin cout = a·b + cin

(a ⊕ b)
a
b
Circuit cin

aditional s
cout
y1 y2

a b cin s cout y1 y2 No error

0 0 0 0 0 1 0
0 0 1 1 0 0 1 Error
0 1 0 1 0 0 1
0 1 1 0 1 0 1
=8
1 0 0 1 0 0 1
1 0 1 0 1 0 1
1 1 0 0 1 0 1 =7
1 1 1 1 1 1 0
 UN ALT EXEMPLU DE AUTOTESTARE
VECTORI DE TEST
 Se consideră două circuite care îndeplinesc aceeași funcție
Circuit 1 Circuit 2 Circuit autotestabil
x1 1 x1 1 6
4
x2 2 x 3 4
3
MF

5 8
z MR
5
x3 3 z
7
x2 2

 Presupunem ca exista numai defecte singulare de tip blocaj în

circuitul 1 sau 2
 MF și MR sunt defecte
 Se determină vectorii de test (VT) care asigură
evidențierea defectului și propagarea acestuia la ieșire
 CLASE DE ECHIVALENTA – ANALIZA VT
 Circuit 1 – defecte de tip blocaj la 0 (b0) sau la 1 (b1)
C1 = {1b0, 2b0, 4b0} vector test (VT) = (x1x2x3=110) Schemă
C2 = {3b1, 4b1, 5b1} – VT = 000, 010, 100 x1 1
Clase de
echivalenta C3 = {1b1} – VT = 010 x2 2 4

C1-6 C4 = {2b1} – VT = 100

C5 = {3b0} – VT = 001, 011, 101 5
C6 = {5b0} – VT = 001, 011, 101, 110, 111 x3 3 z

1 VT din 8 MR
detecteaza MR\MF 1b0 1b1 2b0 2b1 3b0 3b1 4b0 4b1 5b0 5b1 MF
defectul 1b0 1/8 0 1/8 0 0 0 1/8 0 1/8 0
blocaj la 0 pe Nici un VT nu
1b1 1/8 0 0 0 1/8 0 1/8 0 1/8
conexiunea 1 Detecteaza 5b1
2b0 1/8 0 0 0 1/8 0 1/8 0
VT = 110 si 1b0 simultan
2b1 1/8 0 1/8 0 1/8 0 1/8
3b0 3/8 0 0 0 3/8 0
3b1 3/8 0 3/8 0 3/8
4b0 1/8 0 1/8 0
4b1 3/8 0 3/8
5b0 5/8 0
5b1 3/8

VT = 000, 010, 100 VT = 001, 011, 101, 110, 111

- Dacă ∩VT ≠ 0 atunci defectele sunt concurente

- Blocajul la 0 a conexiunii 5 (5b0) este 1/8 deoarece un singur VT = 110
detecteaza 5b0 pentru MF si 1b0 pentru MR.
AUTOTESTARE
Nr perechi de defecte singulare:

58
29
12 1
Nr vectori 0 1 2 3 4 5 6 7

 100 defecte posibile (1b0, 1b1, 2b0, 2b1, 3b0, 3b1, … ,5b1)
 In 58 de situatii defectele nu au nici un VT comun
 în acest caz semnalul STOP va avea semnificatie corectă
 58 % din cazuri pot identifica cu exactitate defectul
 29 de situatii defectele au un VT comun
 Semnalul STOP se comporta la fel pentru ambele defecte
 Exemplu 2b0 si 1b0 au acelasi vector unic de test 110
 Primul 1 activeaza defectul si celalalt il propaga prin AND
ANALIZA CIRCUIT 2
circuit
- 256 defecte posibile (16 x 16)
Clase de echivalenta: x1 1 6
C1 = {1b1, 4b1, 6b1} vector test (VT) = (x1x2x3=010) x 3 4
3

C2 = {2b1, 4b1, 7b1} – VT = 100

5
C3 = {3b1, 8b1} – VT = 000, 010, 100
8
z

C4 = {1b0, 2b0} – VT = 110

7
C5 = {4b0} – VT = 001, 011 x2
C6 = {6b0, 7b0, 8b0} – VT = 001, 011, 101, 110, 111
C7 = {5b0} – VT = 001, 101
C8 = {3b0} – VT = 001, 011, 101
0 1 2 3 4 5 6 7
Circ 1 58/100 29 0 12 0 1 0 0
MF si MR 58% 29% 12% 1%
Circ 2 158/256 60 18 11 0 9 0 0
MF si MR 67% 22% 7% 5% 3.5%
Circ 1 – MF 97/160 45 4 11 0 3 0 0
Circ 2 - MR 60% 28% 2.5% 7% 2%

Daca se utilizeaza circuitul 2 pentru MF si MR atunci probabilitatea de

identificare corecta a defectului este mai mare (67% fata de 58%)
SISTEME TOLERANTE LA
DEFECTE
,
UTILIZAREA CODURILOR CU RESTURI PENTRU
VERIFICAREA OPERATIILOR ARITMETICE

 Reprezentarea binara a unui nr intreg pe b biti

Ex:
 Se consideră codul cu resturi mod 3:

i 0 1 2 3 4 5
2i 1 2 4 8 16 32
R(2i) 1 2 1 2 1 2
Rest echivalent -1 -1 -1
UTILIZAREA CODURILOR CU RESTURI PENTRU
VERIFICAREA OPERATIILOR ARITMETICE

 Codul cu resturi va fi:

Considerand ca în clasa de resturi mod 3:

 Alegem o codificare de tipul one hot a resturilor posibile:

Resturi posibile: 0, 1, 2 (cod -1)

Rest 2 = Rest -1
UTILIZAREA CODURILOR CU RESTURI PENTRU
VERIFICAREA OPERATIILOR ARITMETICE

 Calculul iterativ al restului modulo 3 (a valorilor )

C0 C1 C2
0 … Cb-3 Cb-2 Cb-1

Indice
bit curent
Ri+1 curent se calculează
în funcție de Ri anterior și ci+1 curenta

Indice par Indice impar

bit curent bit curent

0 – LSB 0
b – MSB

Analizând ecuațiile se constată faptul că R poate fi implementat cu MUX-uri

UTILIZAREA CODURILOR CU RESTURI PENTRU
VERIFICAREA OPERATIILOR ARITMETICE

Schema de calcul iterativ pentru rest modulo 3

Ecuatii in functie de Ri-1 si ci

 Evaluarea complexitatii de implementare

 Aproximativ 3 x Ri·pe bit; 1 x MUX2:1 pe Ri
( selectia este bitul ci )
 Implementarile (R0 R1 R2) de la ci si ci+1 au aceeași
complexitate:
 Nr exact de MUX-uri = 3· (b - 2) · MUX 2:1 + MUX 2:1 + 2·AND

Ri si Ri+1 R0
IMPLEMENTARE CODURI CU RESTURI

 Complexitate
 CPx MUX = 3
 CPx AND 2IN =1.5 (include 2 tranzistoare pe intrări și
unul pe ieșire)
 Approximativ: Cpx = 9 · b
 Complexitatea este:
 CPx = 9 (b – 2) + 3 + 3 = 9 (b – 2) + 6
 Timp de propagare
 Approx: 2· b ( timpul de propagare prin MUX = 2 )
 Timp de propagare: 2· (b – 1)
 Pentru rangul 1 se considera timpul maxim de
propagare tpMUX
;
UTILIZAREA CODURILOR CU RESTURI PENTRU
VERIFICAREA OPERATIILOR ARITMETICE

 Implementarea codurilor cu resturi în baza 4

 Numărul N se scrie ca:

cifre:

 Restul va fi:

 Numărul de cifre în baza 4 este b/2 unde b nr de biți

 b cifre în baza 2
, RESTUL MODULO 3 IN BAZA 4
,

 Schema de calcul pentru restul modulo 3

in codificarea 1 din 3 (R = 100)

Sumator modulo 3 din resturi modulo 3

Implementare SCH 1
Complexitate:

Cifre
binare
IMPLEMENTAREA UNUI SUMATOR DE
RESTURI MODULO 3
 Ecuațiile care permit calcularea resturilor sunt:
a b
s
SUM

s
 Complexitate
 9 NAND cu 2 intrari și 3 NAND cu 3 intrari
 CPx(SUM) = 13.5
 Sunt necesare b/2 – 1 sumatoare pentru cel b/2 – 1
 Timp de propagare = 2.5 (XOR) (SCH1)
 Timp de propagare = 1 +1.5 = 2.5 (SUMATOR)
 tp = log2(b) * 2.5 (serie – paralel)
 Tpserie = (b/2 – 1) * 2.5
TIMP DE PROPAGARE SI COMPLEXITATE
Timp de propagare
b 8 16 32 64
serie 7.5 10 12.5 15
paralel
serie 7.5 17.5 37.5 77.5

Complexitate
b 8 16 32 64
serie 62.5 137.5
paralel
serie 62.5 137.5

SP = b/2 * 5.5 + (b/2 – 1) * 13.5

S = b/2 * 5.5 + (b/2 -1) * 13.5
STD – Laborator 1

Problema 1.

Presupunem că rata de defectare a unui motor cu reactie este 𝜆 0.001/ℎ. Care este probabilitatea
ca mai mult de 2 motoare din cele 4 ale unui avion sa se defecteze in timpul unui zbor de 4 ore.
Observatie: Defectarile sunt evenimente independente.

𝑅 𝑒

𝑃 1 𝑅 𝑡 4∙𝑅 𝑡 ∙ 1 𝑅 𝑡

Problema 2.

Un sistem este format din 3 module A, B, și C cu ratele de defectare RA, RB, și RC. Pentru acest sistem s‐
a determinat următoarea expresie de fiabilitate:

𝑅 𝑅 ∙𝑅 𝑅 ∙𝑅 𝑅 ∙𝑅 ∙𝑅

Care este modelul de fiabilitate al sistemului ? Desenati schema bloc.

Observatie: Pentru modelul de fiabilitate serie 𝑅 𝑅 ∙ 𝑅 iar pentru modelul de fiabilitate paralel
𝑅 𝑅 𝑅 𝑅 𝑅 . Cele doua structuri sunt urmatoarele:
𝑅 𝑅 𝑅
𝑅 𝑅 𝑅 𝑅 𝑅
𝑅
𝑅 𝑅 𝑅

Problema 3.

Se consideră un sistem format din 3 module funcțional identice, fiecare având funcția de fiabilitate
𝑅 𝑒 . Conditia de buna functionare este ca cel putin 2 dintre cele 3 module sa functioneze corect.

𝑅 𝑡 3𝑅 𝑡 2𝑅 𝑡

‐ Să se reprezinte grafic 𝑅 si 𝑅 pentru λt = lt de la 0 la 3 cu pas de 0.001.

Notam cu 𝑇 si 𝑇 timpul de funcționare a sistemului in varianta neredundantă și respectiv redundanta

pentru care fiabilitatea sistemului are valoarea 𝑅 .

Să se determine valoarea raportului 𝐼 dacă fiabilitatea sistemului trebuie sa fie mai mare decat
𝑅 0.95, 0.99, 0.999.
 𝑗 𝑓𝑖𝑛𝑑 𝑅 𝑅 )
𝜆𝑇 log 𝑅 𝜆𝑇 𝑙𝑡 𝑗 1 𝑙𝑡 𝑗 1 1 /2

𝑅
𝑉
𝑅

𝑅 𝑡 𝑅 3𝑅 𝑡 1 𝑅 𝑡
𝑇𝑇
STD – Laborator 2

Problema 1.

Un sistem neredundant este alcatuit din 4 module care au urmatoarele rate de defectare:

𝜆 0.01/𝑎𝑛 si costul 𝐶 110 𝑅𝑂𝑁

Model de fiabilitate sistem neredundant
𝜆 0.03/𝑎𝑛 si 𝐶 55 𝑅𝑂𝑁 RA RB RC RD

𝜆 0.05/𝑎𝑛 si 𝐶 70 𝑅𝑂𝑁

𝜆 0.04/𝑎𝑛 si 𝐶 60 𝑅𝑂𝑁

Garantia acestui sistem este de 1 an. Se doreste reproiectarea sistemului astfel incat sa avem un
procent de sisteme reparate in perioada de garantie mai mic decat 8%.

Observatii:

‐ Se pot adauga cel mult 2 module redundante.

‐ Este necesara determinarea solutiei de cost minim.

Indicatii pentru rezolvare:

‐ Se calculeaza 𝑅 𝑅 𝑅 𝑅 𝑅
‐ Se adauga module redundante pentru modulele cu fiabilitatea cea mai mica pana cand Rsyst
> 0.92. Se scunoaste ca 𝑅 1 1 𝑅 unde k este numarul de module in paralel.

Problema 2.

Consideram un sistem neredundant care este un sumator elementar complet. Se doreste construirea
unui sistem redundant in logica majoritara 2 din 3 bazat pe acest sumator.

a
y
b Sumator
cout
cin 𝑅∑

Cerinte:

1. Sa se deseneze schema bloc functionala a sistemului redundant

2. Sa se determine modelul de fiabilitate de tip serie‐paralel pentru sistemul redundant si functia de

fiabilitate a acestuia.

3. Sa se evalueze complexitatea la implementare a sistemului redundant.

4. Să se reprezinte grafic funcția de fiabilitate a structurii TMR cu 3 sumatoare.

Indicatii pentru rezolvare:

 1. Structura TMR bazată pe logică majoritară 2/3 este următoarea:

𝑅∑

𝑎, 𝑏, 𝑐 ] 𝑅∑
𝑉 𝑦
𝑅∑
𝑉 𝑐

𝑅 𝑡 3𝑅∑ 𝑡 2𝑅∑ 𝑡 ∙𝑅

Structura include doua votere (cate unul pentru fiecare dintre iesirile y si cout). Cele 3 intrări a, b și cin
ale celor 3 sumatoare din structura TMR se conectează impreună.

Ecuațiile sumatorului complet pe 1 bit sunt:

𝑦 𝑎⊕𝑏⊕𝑐

𝑐 𝑎∙𝑏 𝑐 ∙ 𝑎 𝑏

Complexitate:

O intrare a unei porti are complexitatea 0.5 iar complexitatea unei porti este data de numărul de
intrări. Complexitatea portilor 𝑋𝑂𝑅 si 𝑋𝑂𝑅 este 2.5.

Fiabilitatea sumatorului 𝑅∑ se calculează în funcție de complexitatea 𝐶𝑝𝑥 astfel:

𝑅∑ 𝑅 unde 𝑅 este fiabilitatea modulului de bază care variază cu 𝜆𝑡.

Cpx (y) = 5; Cpx (Cout) = 4 implică Cpx (∑ )=9

Cpx (V) = 4.5

Fiabilitatile sumatorului si voterului relativ la fiabilitatea elementului de baza vor fi:

.
𝑅∑ 𝑅 ;𝑅 𝑅

Pentru aflarea fiabilitatii sistemului se inlocuiesc aceste expresii in expresia fiabilitatii structurii TMR
ce include 3 sumatoare si 2 votere.

Pentru vizualizarea evolutiei fiabilitatii se traseaza urmatoarele grafice:

 𝑅 cu voter real pentru 𝜆𝑡 0. .3 cu pas de 0.001

 𝑅 cu voter ideal (RV = 1) pentru 𝜆𝑡 0. .0.1 cu pas de 0.001
STD – Laborator 3

Problema 1. Reprezentarea functiei de fiabilitate cunoscand complexitatea modulului de baza (m)

Analiza complexitatii de implementare a voterelor 𝑛 din 2𝑛 1. Functiile de iesire ale voterelor sunt
urmatoarele:

𝑛 2: 𝑧 𝑥 𝑥 𝑥 𝑥 𝑥 𝑥 (𝐶 =3 termeni) CPx = 4.5

𝑛 3: 𝑧 𝑥 𝑥 𝑥 ⋯ 𝑥 𝑥 𝑥 (𝐶 = termeni) CPx = 15 + 4.5 + 1.5 + 1 = 22

𝑛 4: 𝑧 𝑥 𝑥 𝑥 𝑥 ⋯ 𝑥 𝑥 𝑥 𝑥

Cerinte:

1. Determinati complexitatea voterelor in functie de rang 2, 3, 4, 5 utilizand numai porti cu

maxim 3 intrari.
2. Determinati expresiile fiabilitatilor sistemelor cu logica majoritara si reprezentati grafic
aceste functii pentru complexitatea modulului de baza 𝑚 100.
𝑅 / ∑ 𝐶 𝑅𝐹 ,𝑁 2𝑛 1
Se reprezinta grafic:
𝑅 𝑅 ∙𝑅 / unde 𝑅 1 sau 𝑅 𝑅

Problema 2. Determinarea complexitatii sistemului cand modulul de baza este un sumator

Consideram ca modulul principal este un sumator binar elementar pentru care avem urmatoarele
expresii:

𝑠 𝑎⊕𝑏⊕𝑐

𝑐 𝑎𝑏 𝑐 𝑎 𝑏

1. Determinati complexitatea sistemului 𝑚 ?

2. Care este functia de fiabilitate pentru un sistem cu logica majoritara 2, 3, 4, 5 ?

Problema 3. Modulul de baza este un numarator cu autotestare (m = ?)

Evaluati complexitatea 𝑚 ? a unui numarator sincron pe 4 biti cu autotestare.

Etape rezolvare:

Modul principal (numarator):

‐ scrierea ecutiilor iesirilor pentru cele 4 ranguri:

𝑦 𝑦

𝑦 𝑦 ⊕𝑦

𝑦 𝑦 ⊕𝑦 𝑦
 𝑦 𝑦 ⊕𝑦 𝑦 𝑦

Obs: Numaratorul include CLC care implementeaza 𝑦 ,𝑦 ,𝑦 ,𝑦 si bistabile pentru fiecare

rang. Pentru un bistabil Cpx = 8.

Modul de testare

‐ Scrierea expresiilor celor 3 biti de paritate pentru corectia erorilor:

𝑝 𝑦 ⊕𝑦 ⊕𝑦

𝑝 𝑦 ⊕𝑦 ⊕𝑦 (1)

𝑝 𝑦 ⊕𝑦 ⊕𝑦

‐ Se utilizeaza sindromul:

𝑠 𝑝 ⊕ 𝑒𝑥𝑝𝑟𝑒𝑠𝑖𝑎 𝑝 , 𝑖 1,3

𝑠 𝑝 ⊕ 𝑦 ⊕ 𝑦 ⊕ 𝑦 ,𝑖 1,3; 𝑘, 𝑙, 𝑚 au valorile din expresiile (1)

‐ Se determina complexitatea sistemului cu autotestare.

STD – Laborator 4

Problema 1.

Consideram un sistem pentru care este cunoscuta fiabilitatea 𝑅 𝑡 si rata de defectare 𝜆 .

‐ vrem sa descompunem acest sistem in 𝑘 subsisteme care se constituie intr‐un modul serie. Care
este numarul de module astfel incat fiabilitatea 𝑅 𝑚𝑎𝑥.

𝑅 𝑡 ∏ 𝑅 𝑡 care pentru sisteme echifiabile este: 𝑅 𝑡 𝑅 𝑡

R R R R

K elemente

𝑅 /

𝑅 𝑡 𝑅 ∙ 𝑅 𝑡 𝐶 𝑅 𝑡 1 𝑅 𝑡 𝐶 𝑅 𝑡 1 𝑅 𝑡 (1)

/
unde 𝑅 𝑡 𝑅 𝑡 (2)

‐> se inlocuieste (2) in (1) si se obtine 𝑅 𝑡 ca functie de fiabilitatea structurii serie 𝑅 𝑡 .

Pentru voter rata de defectare este 𝜆 si fiabilitatea este: 𝑅 𝑡 𝑅 𝑡

Complexitatea voterului este de 𝑚 ori mai mica decat a modulului principal.

/ / /
𝑅 𝑡 𝑅 ∙ ∑ 𝐶 𝑅 𝑡 1 𝑅 𝑡 (3)

1. Care este valoarea lui 𝒌 pentru care 𝑹𝑺𝑹 maxim ?

Calcul pentru m = 20; 50; 200; 500 si k =?

Valoarea lui k pentru care 𝑅 este maxim se determina pentru 𝑅 = 0.8.

for k=1:100 ‐> R_SR = expresia (3) ‐> if R_SR > R_SR_max then k_max = k

2. Sa se reprezinte grafic variatia 𝑹𝑺𝑹 in functie de 𝑅 pentru 𝑅 0.5: 0.01: 1

Daca utilizam structura redundanta si pentru votere vom avea:

/
𝑅 𝑡 ∑ 𝐶 𝑅 𝑡 1 𝑅 𝑡 ∙∑ 𝐶 𝑅 𝑅 1 𝑅 𝑅 ∙∑ 𝐶 𝑅 𝑡 1

𝑅 𝑡
STD – Laborator 5

Problema 1.

Sa se construiasca un sistem cu redundanta dinamica si o rezerva bazat pe un sumator complet de un

bit.
a
𝑆 𝑎 ⊕ 𝑏 ⊕ 𝑐𝑖
b Sumator
ci 𝑐𝑜𝑢𝑡 𝑎 𝑏 𝑐𝑖 𝑎 ⊕ 𝑏

Structura sistemului:

𝛴
in out

λF
a
b 𝛴
cin s

a cout
b 𝛴 Pentru comutator λc, Rc
cin
λR, ϒR

Functia de fiabilitate:

𝑐𝜆 𝑐𝜆 ϒ
𝑅 𝑅 𝑡 𝑒 𝑒 𝑒
𝜆 𝜆 ϒ 𝜆 𝜆 ϒ

Pentru sistemul nostru modulele sunt de acelasi tip:

𝜆 𝜆 𝜆 𝑅 𝑡 𝑒

𝑐 1 ‐>𝑅 𝑡 𝑅 𝑡 𝑒 𝑒

10
ϒ

Pentru 𝑅 : comutatorul se implementeaza cu doua MUX‐uri de complexitate 3.

𝑅 𝑅 𝑅 stiind ca Σ are complexitate 4.

Din ecuatia MUX‐ului ‐> 𝑧 𝑥 𝑆̅ 𝑥 𝑆 care are complexitate 3.5 dar se poate optimiza la cpx = 3.

𝑅 𝑡 𝑅 2𝑅 𝑅 (pentru c = 1 ‐> 1 + c = 2) (rezerva activa)

∗𝑅 𝑡 𝑅 𝑅 10𝑅 10𝑅 (rezerva semiactiva) coeficient 10∙c∙R

𝑅 𝑡 𝑅 1 ln 𝑅 ; 𝑐 1
 1 𝑐𝜆𝑡 1 𝑐 𝜆𝑡 1 𝑐𝑙𝑛 𝑒 1 𝑙𝑛 𝑅

Cerinte:

1. (Laborator 4) Reprezentati grafic functia de fiabilitate 𝑅 pentru sistemul care include 𝑘 module
3/5 cu voter multiplu.

2. Reprezentati grafic functiile: 𝑅 ,𝑅 ,𝑅 stiind ca: 𝜆𝑡 0: 0.01: 3.

Laborator 6.

Marirea fiabilitatii unui sistem cu redundanta dinamica prin cresterea numarului de reserve.

λF, c λF, c

λC
λR1, c λR
λ’C

λR2

/ /
𝑅 𝑅 ; 𝑅′ 𝑅 ;𝑅 𝑒

𝑅 , 𝑅 𝑡 ∙ 1 𝑐 𝑒 𝑐𝑒 ,𝜆 𝜆 𝜆 rezerva activa

Pentru evaluarea 𝑅 , trebuie o evaluare mai complexa utilizand model Markov.

In table starea modulelor se noteaza (0 – functional, 1‐ defect)

Stare Stare Stare Stare

MF MR1 MR2
0 0 0 0
1 1 0 0
2 0 1 0
3 0 0 1
4 1 1 0
5 1 0 1
6 0 1 1
7 1 1 1

(1‐c)λ

(1‐c)λ
cλ
4 λ
1
cλ λ λ
(1‐c)λ
cλ
λ λ 7
0 5
2 λ
λ λ
cλ
λ 6
3
(1‐c)λ
 𝑐 3𝑐 2 𝑐 𝑐
𝑅 , 𝑅 𝑡 ∙𝑒 𝑐 2𝑐 ∙ 𝑒 ∙𝑒
2 2

Cerinte:

1. Sa se reprezinte grafic diferenta dintre 𝑅 , 𝑠𝑖 𝑅 , pentru c = 0.8; 0.9; 0.95; 0.99 si

𝜆𝑡 0: 0.01: 2
2. Pentru c = 0.95 sa se calculeze 𝐼 𝑇2/𝑇1 pentru 𝑅 =0.9; 0.95; 0.99.
T1 si T2 sunt timpii de functionare ai sistemelor SYST,1Ra si SYST,2Ra pana fiabilitatea scade la
𝑅 .
Laborator 6.

Fiabilitatea unui sistem cu numar variabil de rezerve.

λF, c λF, c

λC
λR1, c λR
λ’C

λR2

/ /
𝑅 𝑅 ; 𝑅′ 𝑅 ;𝑅 𝑒 ;𝜆 𝜆 𝜆

𝑅 , 𝑅 𝑡 ∙ 1 𝑐 𝑒 𝑐𝑒 ,

𝑐 3𝑐 2 𝑐 𝑐
𝑅 , 𝑅 𝑡 ∙𝑒 𝑐 2𝑐 ∙ 𝑒 ∙𝑒
2 2
𝑇2, 𝑅𝑎
𝐼
𝑇1, 𝑅𝑎
R IT
T2Ra
T1Ra 𝜆𝑇 ln 𝑅
Rlim

0.6 1
c
Pentru comutatoare ideale avem:
𝑅 𝑡 𝑅 𝑡 1
𝑗 𝑓𝑖𝑛𝑑 𝑅 𝑅 → 𝑠𝑒 𝑎𝑙𝑒𝑔𝑒 𝑗 1
𝑇, 𝑙𝑡 𝑗 1 𝑙𝑡 𝑗 1 1 /2
Cerinte:
1. Sa se reprezinte 𝐼 pentru 𝐹 0.01; 0.05; 0.1; 0.2 4 𝑔𝑟𝑎𝑓𝑖𝑐𝑒 si 𝑐 0.6: 0.05: 1
(𝑎𝑥𝑎 𝑂𝑥

/
2. Sa se reprezinte 𝐼 pentru comutatoare reale 𝑅 𝑅 ;𝑅 𝑅 .

𝑧 𝑥 𝑠 𝑠 𝑥 𝑠 𝑠 𝑥 𝑠

𝑧 𝑥 𝑠 𝑠 ∙ 𝑥 𝑠 𝑠 ∙𝑥 𝑠 complexitate 6.5 dar se poate optimiza la complexitate 6

• TMR cu rezerva activa

• TMR cu rezerva pasiva

• TMR normal

• TMR/simplex
 Laborator 12

Se considera un sistem format din 3 module (o memorie si 2 procesoare) pentru care

defectarile sunt independente. Un processor defect poate fi reparat cu rata μ atat timp cat
sistemul este inca functional.

- λM – rata de defectare a memoriei

- λP – rata de defectare la processor si μ rata de reparare

Se cere:

1) Schema bloc a sistemului cu 2 procesoare, o memorie si un comutator

2) Construiti un model Markov pentru acest system reparabil

- definiti starile
- construiti graful
- scrieti ecuatiile

3) Evaluati fiabilitatea sistemului

Deifnirea starilor:

0) P1, P2 functionale
1) P1 defect, P2 functional
2) P1 functional P2 defect
3) P1 si P2 defecte

Starile 1 si 2 sunt echivalente

Modelul Markov este urmatorul:

μ
2λP λP
0 1-2 3

Care este graful pentru cazul in care se considera defectarea memoriei ?

μ
2λP λP +λM
0 1-2 3

λM