LUCRAREA NR.

1
___________________________________________________________________________________________

MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE

1.1 Scopul lucrării

Lucrarea are ca scop determinarea permitivităţii relative complexe şi analiza
dependenței de frecvenţă a acesteia pentru materiale dielectrice cu polarizare temporară
folosite frecvent în industria electronică, fie ca material dielectric pentru condensatoare, fie ca
suport de cablaj imprimat.

1.2 Noţiuni teoretice

Dielectricii sunt materiale izolatoare care se caracterizează prin stări de polarizaţie cu
funcţii de utilizare. Prin stare de polarizaţie electrică se înţelege starea materiei caracterizată
prin moment electric al unităţii de volum diferit de zero. Starea de polarizaţie poate fi
temporară, dacă depinde de intensitatea locală a câmpului electric în care este situat
materialul și dispare odată ce câmpul electric este înlăturat sau permanentă, caz în care
polarizația rămâne „înghețată” în material atunci când câmpul electric extern este înlăturat.
Materialele dielectrice, studiate în această lucrare de laborator, sunt din prima categorie și,
deci, prezintă polarizație temporară. Acest tip de polarizație poate fi de deplasare (electronică
sau ionică) sau de orientare dipolară. Indiferent de mecanismul de polarizare, interacţiunea
dintre un dielectric izotrop și câmpul electric este caracterizată, în domeniul liniar, de
permitivitatea relativă complexă, definită astfel:

D
r    r  j r (1.1)
0 E

unde E și D sunt, respectiv, intensitatea câmpului electric și inducţia electrică, iar  0 este
1
permitivitatea vidului, având valoarea  0   10 9 F / m .
36
Dacă un material dielectric cu permitivitatea relativă complexă  r se introduce între
armăturile unui condensator care are în vid capacitatea C 0, în aproximaţia că liniile de câmp
se închid în întregime prin material (adică efectele de margine sunt neglijabile), admitanţa la
bornele condensatorului astfel format are expresia:

Y  j  r C0  j  r  j r  C0   rC0  j r C0 (1.2)

În conformitate cu rezultatul din relația (1.2), se poate observa că, din punct de
vedere electric, condensatorul considerat mai sus având între armături un material dielectric
 LUCRAREA NR. 1
2 __________________________________________________________________________________________

cu permitivitatea relativă complexă  r este echivalent cu o grupare paralel formată dintr-un

condensator echivalent Ce și o rezistență echivalentă Re. Schema echivalentă şi diagrama
fazorială ale condensatorului considerat sunt prezentate în Fig. 1-1.

Fig. 1-1 Schema echivalentă şi diagrama fazorială pentru un condensator cu dielectric între armături.

Din schema echivalentă se observă că partea reală 'r a permitivităţii relative

complexe caracterizează dielectricul din punct de vedere al proprietăţilor sale de a se polariza
(indiferent de mecanismul de polarizare) şi are ca efect creşterea de 'r ori a capacităţii
condensatorului la aceleaşi dimensiuni geometrice, capacitatea condensatorului echivalent
obţinut fiind:

Ce   r C0 (1.3)

Partea imaginară "r a permitivităţii complexe relative caracterizează dielectricul din

punct de vedere al pierderilor de energie în materialul dielectric (pierderi prin polarizare,
pierderi prin conducţie electrică, pierderi prin ionizare), aceste pierderi fiind înglobate în
rezistenţa echivalentă:

1
Re  (1.4)
 rC0

care, din acest motiv, mai este numită și rezistență de pierderi.

În diagrama fazorială din Fig. 1-1,  este unghiul de fază dintre fazorul tensiune U și
fazorul curent I, reprezentând defazajul dintre tensiunea aplicată la bornele condensatorului şi
curentul care îl străbate. Complementarul unghiului de fază se numeşte unghi de pierderi şi se
notează cu .
Se defineşte tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric ca fiind raportul:

Pa U  I R I 1  C  
tg     R   r 0  r (1.5)
Pr U  IC I C Ce Re  rC0  r
LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________ 3
unde Pa și Pr sunt, respectiv, puterea activă și puterea reactivă la bornele condensatorului.
Inversul tangentei unghiului de pierderi, notat cu Q , se numeşte factor de calitate al
materialului dielectric şi este definit de relația:

1 
Q   Re C e  r (1.6)
tg   r

Permitivitatea relativă complexă poate fi exprimată şi sub forma:

  r 
 r   r 1  j    r 1  j  tg   (1.7)
  r 

În acest caz, partea reală a permitivității relative complexe și tangenta unghiului de

pierderi ne dau o informaţie completă asupra capacității materialului dielectric de a se polariza
sub acțiunea câmpului electric, precum și asupra pierderilor totale ale materialului. Din punct
de vedere al utilizatorului de componente electronice, pentru materialul dielectric aceşti doi
parametri, 'r şi tg , sunt esenţiali.
Datorită structurii fizice a materialului dielectric şi fenomenelor complexe ce au loc în
acesta atunci când este supus unui câmp electric, permitivitatea dielectrică reală 'r şi tangenta
unghiului de pierderi tg depind puternic de frecvenţă şi temperatură. În Tabelul 1-1 sunt
prezentate caracteristicile tipice (măsurate la T = 20 ºC și f = 50 Hz) ale câtorva materiale
dielectrice (dintre care o parte sunt analizate cadrul lucrării de laborator), iar în Fig. 1-2 şi 1-3
sunt ilustrate dependenţele de frecvenţă ale permitivităţii 'r si tangentei unghiului de pierderi
tg pentru polietilentereftalat (mylar) şi policarbonat la temperatura constantă T = 20 ºC.
Tabelul 1-1

Material Tip de polarizare 'r tg

Polietilentereftalat (mylar) polarizare de orientare 3 (45)·10-3
Polimetacrilat de metil (plexiglas) " 3,5 0,020,08
Policarbonat (pertinax) " 3 (812)·10-4
Hârtie de condensator " 6,6 (67)·10-3
polarizare de deplasare
Politetrafluoretilenă (teflon) 1,92,2 (14)·10-4
electronică

Fig. 1-2 Dependenţa de frecvenţă a lui Fig. 1-3 Dependenţa de frecvenţă a lui
'r şi tg pentru polietilentereftalat (T = 20 ºC). 'r şi tg pentru policarbonat (T = 20 ºC).
 LUCRAREA NR. 1
4 __________________________________________________________________________________________

1.3 Aparatura utilizată

Aparatul de măsură şi control cu ajutorul căruia se execută măsurarea permitivităţii
relative complexe a materialelor dielectrice solide este analizorul RF de impedanţă/material,
model Agilent E4991A. Cu ajutorul acestui instrument de măsură pot fi măsurate într-o gamă
largă de frecvenţe (până la 3 GHz) fie impedanţa, fie permitivitatea relativă complexă a
materialelor dielectrice, fie permeabilitatea relativă a materialelor magnetice.
În scopul măsurării permitivităţii relative complexe a materialelor dielectrice,
împreună cu analizorul de impedanţă se folosesc următoarele accesorii (a se vedea Fig. 1-4):
(i) capul de test E4991A,
(ii) dispozitivul de fixare a materialelor dielectrice 16453A,
(iii) suportul de fixare,
(iv) penseta pentru manipularea probelor de material,
(v) proba etalon de material dielectric,
(vi) probele de material dielectric solid de măsurat (MUT – Material Under Test),
(vii) tastatura și mouse-ul și, opţional, un display care se conectează la panoul din
spate al analizorului.
Capul de test E4991A, suportul de fixare și dispozitivul de fixare a materialelor
dielectrice 16453A sunt deja asamblate și conectate la instrumentul de măsură.

Fig. 1-4 Analizorul Agilent E4991A şi accesoriile folosite la măsurarea permitivităţii relative complexe.
LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________ 5

(a) (b)
Fig. 1-5 (a) Dispozitivul de fixare a materialului dielectric 16453A; (b) Condensatorul echivalent.

Analizorul E4991A măsoară capacitatea condensatorului echivalent Ce (a se vedea

Fig. 1-5), iar permitivitatea relativă complexă a materialului dielectric solid și tangenta
unghiului de pierderi se calculează în baza acestei capacități Ce și a unei calibrări preliminare.
Condensatorul echivalent este realizat fizic din electrozii superior și inferior ai dispozitivului
pentru test 16453A şi materialul dielectric testat care se poziţionează între cei doi electrozi,
aşa cum este prezentat în Fig. 1-5.
Partea reală a permitivităţii relative complexe se determină cu relaţia:

C e gC e
 r   (1.8)
C0  0 S

unde S = Si este suprafaţa electrodului inferior cu diametrul de 7 mm, iar g este grosimea
probei de material dielectric.
Partea imaginară a permitivităţii complexe relative este dată de relaţia:

1 g
 r   (1.9)
Re C 0  0 SRe

iar tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric rezultă din raportul celor două
mărimi, conform relației (1.5).

1.4 Desfăşurarea lucrării

Modul de executare în detaliu a fiecărui pas din schema logică de măsură este descris
în ANEXA 1 de la sfârșitul acestui capitol.

1.5 Mod de lucru şi prelucrarea rezultatelor

Se măsoară părțile reală şi imaginară a permitivității relative complexe şi tangenta
unghiului de pierderi pentru următoarele materiale dielectrice solide: politetrafluoretilena
(teflon), stratificat pe bază de sticlă (sticlotextolit), stratificat pe bază de hârtie (pertinax),
 LUCRAREA NR. 1
6 __________________________________________________________________________________________
polimetacrilat de metil (plexiglas) şi a oxidului de aluminiu (alumină) în gama de frecvenţe de
la 100 MHz la 1GHz.
În acest scop, se efectuează – o singură dată, la începutul măsurătorilor – calibrarea
analizorului după cum este descris în ANEXA 1.
După efectuarea calibrării, probele de material se introduc, pe rând, cu ajutorul
pensetei în dispozitivul de fixare a probei de test 16453A (Fig. 1-5) şi se parcurge algoritmul
din ANEXA 1. Valorile măsurate (  r ,  r , tgδ ) la diferite valori ale frecvenţei de lucru, se
trec în Tabelul 1-2. Ultima linie din fiecare secțiune a tabelului se completează cu valorile
factorului de calitate, care se calculează cu relaţia (1.6).

Tabelul 1-2

f [MHz] 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
 r
g = 3 mm

 r
Teflon

tgδ
Q

 r
Sticlotextolit
g = 1 mm

 r
tgδ
Q

 r
g = 0,95 mm

 r
Pertinax

tgδ
Q

 r
g = 2,1 mm
Plexiglas

 r
tgδ
Q

 r
g = 1 mm

 r
Alumină

tgδ
Q
LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________ 7
Se vor reprezenta pe trei grafice separate, dependențele de frecvență ale mărimilor
 r ,  r si tgδ pentru cele cinci materiale analizate: teflon, sticlotextolit, pertinax, plexiglas şi
alumină și se va comenta modul în care se modifică parametrii menţionaţi în gama de
frecvenţă.
Se măsoară partea reală a permitivității relative complexe a probelor din pertinax
(  r1 ) şi sticlotextolit (  r 2 ) la frecvenţele specificate în Tabelul 1-3 şi rezultatele se trec în
tabel.
Se realizează din cele două probe un sandwich care se introduce între electrozii
dispozitivului de fixare şi se măsoară valorile  re
 pentru cele trei valori ale frecvenţei,

înscriindu-se rezultatele în tabel.

Tabelul 1-3

f [MHz]
Proba de material 100 500 800
 r1 ,  r 2 ,  re

Pertinax
 r1
(g1 = 0,95 mm)
Sticlotextolit
 r 2
(g2 = 1 mm)
Sandwich pertinax + sticlotextolit
 re
 măsurat
( g1+2 = 1,95 mm)
Sandwich pertinax + sticlotextolit
 re
 calculat
( g1+2 = 1,95 mm)

Eroarea absolută  re
 măs. -  re
 calc.

Se calculează  re
 cu relaţia următoare:

g1  g 2
 
 re (1.10)
g1 g 2

 r1  r 2

unde g1 şi g2 sunt grosimile în mm ale celor două probe de material folosite.

Se compară rezultatele obţinute prin măsurători cu cele calculate, calculându-se
eroarea absolută și completând-o în tabel. Se justifică eventualele diferenţe.

1.6 Conţinutul referatului

1. Scopul lucrării.
2. Valorile măsurate şi valorile calculate (Tabelele 1-2 şi 1-3). Se foloseşte formula
(1.6) pentru calculul factorului de calitate Q.
 LUCRAREA NR. 1
8 __________________________________________________________________________________________

3. Reprezentările grafice  r  f  f ,  r  f  f , tg r  f  f  pentru cele cinci

probe de material dielectric analizate. Se va comenta comportarea mărimilor măsurate în
domeniul de frecvenţă utilizat pentru fiecare probă de material.
4. Determinarea  re
 atât prin măsurare, cât şi prin calcul (Tabelul 1-3). Se vor

comenta rezultatele.
5. Concluzii şi observaţii personale privind fenomenul fizic analizat.

1.7 Întrebări şi probleme

1. Să se deducă formula de calcul a tangentei unghiului de pierderi echivalente a
două condensatoare legate în paralel şi în serie atunci când se cunoaşte capacitatea şi tangenta
unghiului de pierderi pentru fiecare condensator în parte.
2. Să se calculeze permitivitatea relativă complexă echivalentă (  re
 şi  re
 ) a unui

dielectric format din două straturi de materiale diferite (vezi Fig. 1-6) atunci când se cunoaşte
permitivitatea relativă complexă a fiecăruia (  r1 ,  r1 ,  r 2 şi  r2 ).

Fig. 1-6

3. Dacă  r1 = 2,1,  r 2 = 3,5 si g1 = (1/4)∙g2, să se determine  re

 pentru structura

prezentată în Fig. 1-7.

Fig 1-7
4. Determinaţi valoarea părţii reale a permitivităţii relative complexe 'r1 a unei
probe din mică având grosimea de 0,1 mm dacă se cunoaște permitivitatea echivalentă
're = 2,23 a unui sandwich format din proba menționată împreună cu o probă de teflon cu
grosime de 0,8 mm şi 'r2 = 2,1.
5. Între armăturile plane și paralele ale unui condensator cu capacitatea în vid
C0 = 68 pF se introduce un material dielectric având permitivitatea relativă complexă definită
de  r = 3,5 şi  r = 4·10 4 .
LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________ 9

a) Să se calculeze modulul admitanţei ( Y ) şi elementele schemei echivalente

paralel (Ce și Re) pentru condensatorul astfel obţinut la frecvenţele de 500 kHz şi 5 MHz.
Comentaţi rezultatele.
b) Să se calculeze factorul de calitate Q şi tangenta unghiului de pierderi tgδ ale
materialului dielectric la frecvenţele de 500 kHz şi 5 MHz. Comentaţi rezultatele.
 LUCRAREA NR. 1
10 _________________________________________________________________________________________

ANEXA 1
Execuția măsurării permitivităţii relative complexe a materialelor
dielectrice cu analizorul RF de impedanţă/materiale Agilent, model E4991A

Pasul 1. Pregătirea analizorului pentru măsurători

Conectarea şi deconectarea analizorului se execută cu butonul plasat în partea

din dreapta-jos a panoului frontal. Simultan cu cuplarea analizorului se activează şi sistemul
de operare al acestuia care este “Windows 2000 Professional”.
Observaţie: Pe durata neutilizării se recomandă ca aparatul să fie deconectat de la
reţea, pentru evitarea şocurilor tensiunii reţelei.
În fereastra de dialog care apare după inițializarea sistemului de operare, se introduce
numele de utilizator „agt_instr” în loc de „Administrator” şi apoi, lăsând necompletat
câmpul „password” se apasă butonul „OK”.
În etapa aceasta analizorul este pregătit pentru măsurători de impedanţă şi de
material.

Pasul 2. Selectarea modului de măsurare

Pe display va apărea fereastra de măsurare, aşa cum este prezentată în Fig. 1.

Trace 1 - E4991A Impedance/Material Analyzer –

Trace Meas/Format Scale Display Marker Stimulus Trigger Utility Save/Recal System

Fig. 1 Imaginea ferestrei de măsurare.

LUCRAREA NR. 1
_________________________________________________________________________________________ 11

Pentru măsurarea permitivităţii se procedează astfel:

1. În meniul “System” se apasă caseta “Preset” pentru iniţializarea analizorului.
2. În meniul “Utility” se apasă caseta “Utility...”.
3. Se apasă caseta “Material Option Menu”.
4. Se selectează “Permittivity” în căsuţa “Material Type”.
La sfârşitul pasului 2 analizorul este pregătit pentru efectuarea măsurătorii
permitivităţii materialului.

Pasul 3. Se selectează condiţiile de măsurare

Setarea parametrilor de măsură şi a formatului desfăşurării se execută pentru ε’r,
ε”r, tanδε în felul următor:
1. În meniul “Display” se activează caseta “Display...”.
2. Se selectează “3 Scalar” din căsuţa “Num of Traces”;
3. În meniul “Meas/Format” se activează caseta “Meas/Format...” şi se atribuie
fiecărui grafic un parametru; Se vor selecta parametrii εr', εr" şi tanδε.
4. Astfel, când graficul “Trace 1” este activ apare simbolul (*) pe display şi se
selectează εr' în căsuţa “Meas Parameter”;
5. În căsuţa “Format” se selectează “Lin Y-Axis” sau “Log Y-Axis”;
6. Similar se procedează pentru graficele 2 şi 3 pentru εr" şi respectiv tanδε.

Setarea punctelor de măsură, a parametrilor de baleiaj

Se parcurg următoarele etape:
1. În meniul “Stimulus” se activează butonul “Sweep Setup”;
2. În căsuţa “Number of Points” se introduce numărul de puncte necesare
măsurătorilor, pentru asigurarea preciziei dorite.
Exemplu: pentru 201 puncte, se tastează [2] [0] [1] si [Enter];
Atenție! Un număr mare de puncte înseamnă o precizie de măsură mai bună, dar și
un timp de baleiere mai lung.
3. În căsuţa “Sweep Parameter” se selectează “Frequency”;
4. În căsuţa “Sweep Type” se selectează “Linear” pentru scala lineară de
frecvenţe sau “Log” pentru scala logaritmică de frecvenţe;
Setarea sursei şi a nivelului oscilatorului se execută în felul următor:
1. În meniul “Stimulus” se activează “Source”;
2. În căsuţa “Osc Unit” se selectează “Voltage”;
 LUCRAREA NR. 1
12 _________________________________________________________________________________________
3. În căsuţa “Osc Level” se introduce nivelul de 100 mV, se tastează [1] [0] [0]
[m] și [Enter].
Setarea gamei de frecvenţă se execută în felul următor:
1. În meniul “Stimulus” se activează “Start/Stop...”.
2. Cu căsuţa “Start” se introduce frecvenţa de start, 1 MHz, pentru aceasta se
tastează [1] [M] şi [Enter].
3. Cu căsuţa “Stop” se introduce frecvenţa de stop, 1 GHz, se tastează [1] [G] şi
[Enter].
La sfârşitul pasului 3 analizorul este pregătit pentru conectarea dispozitivului de
fixare 16453A.

Pentru protecţia antistatică a analizorului, operaţiunile de la pasul 4 la pasul 10

se execută cu brăţara ESD conectată la mână.

Pasul 4. Conectarea dispozitivului de fixare 16453A

Această activitate se execută numai de personalul didactic din cadrul laboratorului

Conectarea dispozitivului 16453A se realizează astfel:
1. Se fixează dispozitivul 16453A pe capul de test cu şuruburile prizonier ale
suportului de fixare;
2. Se cuplează dispozitivul 16453A la mufa N 7-mm rotind piuliţa conectorului în
sensul invers acelor de ceasornic;
3. Piuliţa se strânge cu cheia dinamometrică, în sensul invers acelor de ceasornic
până la obţinerea cuplului de 1,36 Nm, marcat pe cheie şi semnalizat prin rabaterea braţului
cheii.
După pasul 4 analizorul este pregătit pentru calibrare.

Pasul 5. Introducerea grosimii probei etalon de material

1. În meniul “Stimulus” se apasă “Cal/Comp...”.
2. Se apasă butonul “Cal Kit Menu”.
3. În căsuţa “Thickness” se introduce valoarea grosimii probei etalon de material.
Exemplu: dacă grosimea probei standard de material este de 0,8 mm, se tastează
[0] [.] [8] [m] şi [Enter].
LUCRAREA NR. 1
_________________________________________________________________________________________ 13
Observaţie: Proba etalon de material este realizată din teflon şi are permitivitatea
relativă ε’r = 2,1. De aceea, iniţial analizorul E4991A are setată valoarea ε’r în căsuţa “Real”
în bara de comenzi “Cal Kit” de 2,1000 şi valoarea pierderilor în căsuţa “εr Loss”
ε”r = 0,0000 (teflonul având pierderi foarte mici, neglijabile pentru scopul calibrării).

Pasul 6. Calibrarea analizorului

Calibrarea este obligatorie şi se efectuează în scopul înlăturării erorilor introduse de
elementele de circuit din schema echivalentă a capului de măsură și a dispozitivului de fixare
pentru test 16453A (Fig. 2).

Fig. 2 Schema echivalentă a dispozitivului de fixare 16453A.

Calibrarea se execută astfel:

1. În meniul “Stimulus” se tastează ”Cal/Comp...”.
2. În căsuţa “Fixture Type” se confirmă tipul dispozitivului de fixare pentru test
“16453”.
3. Se apasă butonul “Cal Menu”.
4. În căsuţa “Cal Type” se selectează punctele de măsură cerute de datele de
calibrare.
Observaţie: Pe durata calibrării apare mesajul “Wait-Measuring Cal Standard”
la stânga barei de calibrare.
5. Pentru calibrarea în gol se trage în sus butonul de partea superioară a
dispozitivului 16453A, pentru depărtarea electrozilor. În această poziţie, se apasă butonul
“Meas Open” şi se aşteaptă aproximativ 10 sec până la apariţia bifei √ la stânga “Meas
Open”;
 LUCRAREA NR. 1
14 _________________________________________________________________________________________
6. Pentru calibrarea în scurtcircuit electrozii dispozitivului de fixare sunt în
contact, (electrodul superior este eliberat). Se apasă butonul “Meas Short” şi se realizează
calibrarea în gol care se finalizează la apariţia bifei √ la stânga “Meas Short”;
7. Cu brăţara ESD conectată la mână şi folosind penseta se introduce proba de
material etalon în dispozitivul de fixare. Se activează butonul “Meas Load” şi se măsoară
proba de material etalon, care se finalizează la apariţia bifei √ în stânga “Meas Load”.
8. Se apasă butonul “Done” şi analizorul calculează datele de calibrare şi le
salvează în memoria internă.
După finalizarea pasului 6, analizorul este pregătit pentru introducerea grosimii
probei de material de măsurat (MUT).

Pasul 7. Introducerea grosimii probei de material de măsurat (MUT)

Grosimea probei de material se măsoară cu şublerul şi se introduce în programul de
măsurare astfel:
1. În meniul “Utility” se activează “Utility...” .
2. Se activează butonul “Material Option Menu”.
3. În căsuţa “Thickness” se introduce grosimea probei.
Exemplu: pentru grosimea de 1 mm, se tastează [1] [m] şi [Enter].

Pasul 8. Conectarea probei de material de măsurat (MUT)

Se execută prin introducerea probei între electrozii dispozitivului de test. Se verifică
contactul electrozilor, dispozitivul de fixare şi (numai dacă este cazul) se reglează presiunea
electrodului superior cu rozeta „Pressure Adjustment”.
Cu parcurgerea paşilor 7 şi 8 analizorul este pregătit pentru măsurarea şi analiza
rezultatelor.

Pasul 9. Măsurarea şi analiza rezultatelor

Odată introdusă grosimea probei de măsurat şi cu materialul fixat între electrozi,
după activarea “Autoscale all”, rezultatele măsurătorilor se vor afişa pe ecran. Explorarea
rezultatelor se realizează cu bara de comenzi “Marker”, pentru determinarea valorilor
specifice de interes. Folosind “Marker Fctn (function)”, bara de comenzi arată analiza care
LUCRAREA NR. 1
_________________________________________________________________________________________ 15
se efectuează cu ajutorul markerilor activaţi. Pentru afişarea rapidă a rezultatelor, din “Scale”,
se activează autoscalarea cu “Autoscale” şi “Autoscale all”.
În Fig. 3 se prezintă o imagine a ecranului cu unele rezultate ale măsurătorilor
privind permitivitatea, (ε’r [U], ε’’r [mU] si tg ) în intervalul de frecvenţe 1 MHz - 1 GHz.

Fig. 3 Display-ul cu rezultatele măsurătorilor.

Pasul 10. Modificarea condiţiilor de măsură

Când punctele de măsură la calibrare sunt definite de utilizator, măsurătoarea se
porneşte cu pasul 6. Când calibrarea nu este necesară măsurătoarea se porneşte cu pasul 9.
Dacă se măsoară şi alte probe cu aceeaşi grosime, măsurătoarea se porneşte de la pasul 8.
Dacă probele au grosimi diverse măsurătoarea se porneşte de la pasul 7.

Pasul 11. Deconectarea analizorului

Pentru deconectarea analizorului se procedează în felul următor:
1. Se scoate proba de material cu ajutorul pensetei dintre armăturile dispozitivului
de fixare 16453A, prin ridicarea electrodului superior.
2. Se pune proba etalon în cutia sa de plastic, în trusa dispozitivului de fixare
16453A, iar probele de material în cutia de depozitare a acestora.
3. Se pune penseta în locaşul ei din trusa aceluiaşi dispozitiv. Se scoate mănuşa
de protecţie, brăţara de la mână prin slăbirea încheietorii brăţarei.
 LUCRAREA NR. 1
16 _________________________________________________________________________________________
4. În meniul “System” se apasă caseta “Preset” pentru resetarea analizorului.
5. Se decuplează soft-ul analizorului cu „Ctrl+Alt+Delete” şi „Shut Down”.
6. După închiderea soft-ului se decuplează butonul , plasat în partea dreapta-
jos, pe panoul analizorului.
7. Se decuplează tensiunea de alimentare de la panoul de forţă a laboratorului.

ATENŢIE! În caz de neutilizare, analizorul nu se ţine sub tensiune.

Pericol de defectare, ca urmare a şocurilor din reţeaua electrică.