LUCRAREA NR.

1
_________________________________________________________________________________________

MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE

1.1 Scopul lucrării

Lucrarea are ca scop determinarea permitivităţii relative complexe şi analiza

dependenței de frecvenţă a acesteia pentru materiale dielectrice cu polarizare temporară
folosite frecvent în industria electronică, fie ca material dielectric pentru condensatoare, fie ca
suport de cablaj imprimat.

1.2 Noţiuni teoretice

Dielectricii sunt materiale izolatoare care se caracterizează prin stări de polarizaţie cu

funcţii de utilizare. Prin stare de polarizaţie electrică se înţelege starea materiei caracterizată
prin moment electric al unităţii de volum diferit de zero. Starea de polarizaţie poate fi
temporară, dacă depinde de intensitatea locală a câmpului electric aplicat materialului și
dispare odată ce câmpul electric este înlăturat, sau permanentă, caz în care polarizația rămâne
„înghețată” în material atunci când câmpul electric extern este înlăturat.
Materialele dielectrice studiate în această lucrare de laborator fac parte din prima
categorie și, deci, prezintă polarizație temporară. Acest tip de polarizație poate fi de deplasare
(electronică sau ionică) sau de orientare dipolară. Indiferent de mecanismul de polarizare,
interacţiunea dintre un dielectric izotrop și câmpul electric este caracterizată, în domeniul
liniar, de permitivitatea relativă complexă, definită astfel:

D
εr = = ε r′ − jε r′′ (1.1)
ε0 E

unde E și D sunt, respectiv, reprezentările fazoriale ale intensității și inducției câmpului electric,
1
iar ε 0 este permitivitatea vidului, având valoarea ε 0 = ⋅ 10 −9 F / m ≅ 8,85·10-12 F / m.
36π
Semnul minus din relația (1.1) are semnificația unui defazaj negativ între D și E, adică
inducția electrică este defazată în urma intensității câmpului electric ca urmare a răspunsului
întarziat al materialului la stimulul electric. Evident, acest răspuns al materialului depinde de
natura materialului și de frecvența de variație a câmpului electric.
Dacă un material dielectric cu permitivitatea relativă complexă ε r se introduce între
armăturile unui condensator care are în vid capacitatea C 0, în aproximaţia că liniile de câmp
 LUCRAREA NR. 1
2 ________________________________________________________________________________________
se închid în întregime prin material (adică efectele de margine sunt neglijabile), admitanţa la
bornele condensatorului astfel format are expresia:

Y = jωε r C0 = jω (ε r′ − jε r′′) C0 = ωε r′′C0 + jωε r′C0 (1.2)

În conformitate cu rezultatul din relația (1.2), se poate observa că, din punct de
vedere electric, condensatorul considerat mai sus având între armături un material dielectric
cu permitivitatea relativă complexă ε r este echivalent cu o grupare paralel formată dintr-un
condensator echivalent Ce și o rezistență echivalentă Re. Schema echivalentă şi diagrama
fazorială ale condensatorului considerat sunt prezentate în Fig. 1-1.

Fig. 1-1 Schema echivalentă şi diagrama fazorială pentru un condensator cu dielectric între armături.

Din schema echivalentă se observă că partea reală ε'r a permitivităţii relative

complexe caracterizează dielectricul din punct de vedere al proprietăţilor sale de a se polariza
(indiferent de mecanismul de polarizare) şi are ca efect creşterea de ε'r ori a capacităţii
condensatorului la aceleaşi dimensiuni geometrice, capacitatea condensatorului echivalent
obţinut fiind:

Ce = ε r′C0 (1.3)

Partea imaginară ε"r a permitivităţii complexe relative caracterizează dielectricul din

punct de vedere al pierderilor de energie în materialul dielectric (pierderi prin polarizare,
pierderi prin conducţie electrică, pierderi prin ionizare), aceste pierderi fiind înglobate în
rezistenţa echivalentă:

1
Re = (1.4)
ωε r′′C0

care, din acest motiv, mai este numită și rezistență de pierderi.

În diagrama fazorială din Fig. 1-1, ϕ este unghiul de fază dintre fazorul tensiune U și
fazorul curent I, reprezentând defazajul dintre tensiunea aplicată la bornele condensatorului şi
LUCRAREA NR. 1
________________________________________________________________________________________ 3
curentul care îl străbate. Complementul unghiului de fază se numeşte unghi de pierderi şi se
notează cu δ.
Se defineşte tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric ca fiind raportul:

Pa U ⋅ I R I 1 ωε ′′C ε ′′
tgδ ε = = = R = = r 0 = r (1.5)
Pr U ⋅ I C I C ωCe Re ωε r′C0 ε r′

unde Pa și Pr sunt, respectiv, puterea activă și puterea reactivă la bornele condensatorului.

Inversul tangentei unghiului de pierderi, notat cu Qε , se numeşte factor de calitate al
materialului dielectric şi este definit de relația:

1 ε′
Qε = = ωRe C e = r (1.6)
tgδ ε ε r′′

Permitivitatea relativă complexă poate fi exprimată şi sub forma:

 ε r′′ 
ε r = ε r′ 1 − j  = ε r′ (1 − j ⋅ tgδ ε ) (1.7)
 ε r′ 

În acest caz, partea reală a permitivității relative complexe și tangenta unghiului de

pierderi ne dau o informaţie completă asupra capacității materialului dielectric de a se polariza
sub acțiunea câmpului electric, precum și asupra pierderilor totale ale materialului. Din punct
de vedere al utilizatorului de componente electronice, pentru materialul dielectric aceşti doi
parametri, ε'r şi tgδε , sunt esenţiali. În Tabelul 1-1 sunt prezentate valorile tipice ale acestor
doi parametri (determinate la T = 20 ºC și f = 50 Hz) pentru câteva materiale dielectrice
(dintre care o parte vor fi analizate în detaliu în cadrul lucrării de laborator).
Tabelul 1-1

Materialul dielectric Tipul de polarizare ε'r tgδε

polarizare de deplasare
Dioxidul de siliciu (SiO2 ) 4 3·10-4
electronică și ionică
polarizare de deplasare
Oxidul de aluminiu (Al2O3 ; Alumină) 10 (1 ... 9)·10-4
electronică și ionică
polarizare de deplasare
Politetrafluoretilenă (PTFE; Teflon) 1,9 ... 2,2 (1 ... 4)·10-4
electronică
Polietilentereftalat (PET; Mylar) polarizare de orientare 3 (4 ... 5)·10-3
Polimetacrilat de metil (PMMA; Plexiglas) " 3,5 0,02 ... 0,08
Policarbonat (PC) " 3 (8 ... 12)· 10-4
Hârtia de condensator " 6,6 (6 ... 7)·10-3
 LUCRAREA NR. 1
4 ________________________________________________________________________________________
Datorită structurii fizice particulare a materialului dielectric şi a fenomenelor complexe
ce au loc în material atunci când acesta este supus unui câmp electric, permitivitatea dielectrică
reală ε'r şi tangenta unghiului de pierderi tgδε depind puternic atât de frecvenţă, cât şi de tempe-
ratură. Ca exemplu, în Fig. 1-2 şi Fig. 1-3 sunt ilustrate dependenţele de frecvenţă a permi-
tivităţii ε'r și a tangentei unghiului de pierderi tgδε pentru polietilentereftalat (PET; Mylar) şi
policarbonat (PC) la temperatură constantă T = 20 ºC.

Fig. 1-2 Dependenţa de frecvenţă a lui Fig. 1-3 Dependenţa de frecvenţă a lui
ε'r şi tgδε pentru polietilentereftalat (T = 20 ºC). ε'r şi tgδε pentru policarbonat (T = 20 ºC).

1.3 Aparatura utilizată

Aparatul de măsură şi control cu ajutorul căruia se va măsura permitivitatea relativă

complexă a materialelor dielectrice solide studiate este analizorul RF de impedanţă/material,
model Agilent E4991A. Cu ajutorul acestui instrument de măsură pot fi măsurate într-o gamă
largă de frecvenţe fie impedanţa (până la 3 GHz), fie permitivitatea relativă complexă a
materialelor dielectrice (până la 1 GHz), fie permeabilitatea relativă a materialelor magnetice
(până la 1 GHz).
În scopul măsurării permitivităţii relative complexe a materialelor dielectrice,
împreună cu analizorul de impedanţă se folosesc următoarele accesorii (a se vedea Fig. 1-4):
(i) capul de test E4991A,
(ii) dispozitivul de fixare a materialelor dielectrice 16453A,
(iii) suportul de fixare,
(iv) penseta pentru manipularea probelor de material,
(v) proba etalon de material dielectric,
(vi) probele de material dielectric solid de măsurat (MUT – Material Under Test),
(vii) tastatura și mouse-ul și, opţional, un display care se conectează la panoul din
spate al analizorului.
LUCRAREA NR. 1
________________________________________________________________________________________ 5

Fig. 1-4 Analizorul de materiale Agilent E4991A şi accesoriile folosite

la măsurarea permitivităţii relative complexe.

(a) (b)

Fig. 1-5 (a) Dispozitivul Agilent 16453A de fixare a materialului dielectric;

(b) Condensatorul echivalent

Capul de testare, suportul de fixare și dispozitivul Agilent 16453A de fixare a probei

de material dielectric sunt deja asamblate și conectate la instrumentul de măsură.
Analizorul de materiale Agilent E4991A măsoară impedanța (sau admitanța)
condensatorului echivalent Ce (a se vedea Fig. 1-5). Condensatorul echivalent este realizat
fizic din electrozii superior și inferior ai dispozitivului pentru test Agilent 16453A şi
materialul dielectric testat care se poziţionează între cei doi electrozi, aşa cum este prezentat
în Fig. 1-5. Utilizând o procedură de calibrare preliminară a aparatului, permitivitatea relativă
complexă a materialului dielectric solid se calculează în baza acestei impedanțe (sau
admitanțe) cunoscând grosimea materialului dielectric plasat între armăturile condesatorului.
 LUCRAREA NR. 1
6 ________________________________________________________________________________________
Partea reală a permitivităţii relative complexe se determină cu relaţia:

C e gCe
ε r′ = = (1.8)
C0 ε 0 S

unde S = Si este suprafaţa electrodului inferior cu diametrul de 7 mm, iar g este grosimea
probei de material dielectric.
Partea imaginară a permitivităţii complexe relative este dată de relaţia:

1 g
ε r′′ = = (1.9)
ωRe C 0 ωε 0 SRe

iar tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric rezultă din raportul celor două
mărimi, conform relației (1.5).

1.4 Desfăşurarea lucrării

Modul de execuție în detaliu a fiecărui pas din schema logică de măsură este descris
în ANEXA 1 de la sfârșitul acestui capitol.

1.5 Mod de lucru şi prelucrarea rezultatelor

Se vor măsura în gama de frecvenţe de la 100 MHz la 1GHz părțile reală şi

imaginară a permitivității relative complexe şi tangenta unghiului de pierderi pentru
următoarele materiale dielectrice solide:
• politetrafluoretilenă (PTFE; Teflon);
• sticlotextolit (FR4; material compozit stratificat pe bază de fibră de sticlă și
răsini epoxidice; utilizat în special ca suport pentru cablaje imprimate (PCB));
• pertinax (FR2; material compozit stratificat pe bază de hârtie și răsini fenol-
formaldehidice; utilizat ca suport pentru cablaje imprimate (PCB), dar mai rar
decât FR4);
• polimetacrilat de metil (PMMA; Plexiglas);
• oxid de aluminiu (Al2O3; Alumină).
În acest scop, se efectuează – o singură dată, înainte de începerea măsurătorilor –
calibrarea analizorului, urmând procedura descrisă în ANEXA 1.
După efectuarea calibrării, probele de material se introduc pe rând, cu ajutorul
pensetei, în dispozitivul Agilent 16453A de fixare pentru proba de test (Fig. 1-4 și 1-5) şi se
LUCRAREA NR. 1
________________________________________________________________________________________ 7

parcurg etapele descrise în ANEXA 1. Valorile pentru ε r′ , ε r′′ și tgδ măsurate la diferite
valori ale frecvenţei de lucru se trec în Tabelul 1-2. Ultima linie din fiecare secțiune a
tabelului se completează cu valorile factorului de calitate, care se calculează cu relaţia (1.6).

Tabelul 1-2

f [MHz] 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
ε r′
g = 3,13 mm

ε r′′
Teflon

tgδ
Q

ε r′
Sticlotextolit
g = 1 mm

ε r′′
tgδ
Q

ε r′
g = 0,88 mm
Pertinax

ε r′′
tgδ
Q

ε r′
g = 1,95 mm
Plexiglas

ε r′′
tgδ
Q

ε r′
g = 1 mm
Alumină

ε r′′
tgδ
Q

Se vor reprezenta grafic dependențele de frecvență ale mărimilor ε r′ , ε r′′ si tgδ pentru
cele cinci materiale analizate: teflon, sticlotextolit, pertinax, plexiglas şi alumină și se va
comenta modul în care se modifică parametrii menţionaţi în funcție de frecvenţă.
Se măsoară partea reală a permitivității relative complexe a probelor din pertinax
( ε r′1 ) şi sticlotextolit ( ε r′ 2 ) la frecvenţele specificate în Tabelul 1-3 şi rezultatele se trec în
acest tabel.
 LUCRAREA NR. 1
8 ________________________________________________________________________________________
Se realizează din cele două probe un sandwich care se introduce între electrozii
′ pentru cele trei valori ale frecvenţei,
dispozitivului de fixare şi se măsoară valorile ε re

înscriindu-se rezultatele în tabel.

Tabelul 1-3

f [MHz]
Proba de material 100 500 800
ε r′1 , ε r′ 2 , ε re′
Pertinax
ε r′1
(g1 = 0,88 mm)
Sticlotextolit
ε r′ 2
(g2 = 1 mm)
Sandwich pertinax + sticlotextolit
ε re′ măsurat
( g1+2 = 1,88 mm)
Sandwich pertinax + sticlotextolit
ε re′ calculat
( g1+2 = 1,88 mm)

Eroarea absolută ε re′ măs. - ε re′ calc.

ε re′ măs. - ε re′ calc.

Eroarea relativă (%) x 100
ε re′ calc.

Se calculează ε re
′ calculat cu relaţia următoare:

g1 + g 2
ε re′ = (1.10)
g1 g 2
+
ε r′1 ε r′ 2

unde g1 şi g2 sunt grosimile în mm ale celor două probe de material folosite.

Se compară rezultatele obţinute prin măsurători cu cele calculate, calculându-se
eroarea absolută și cea relativă și completându-le în tabel. Se vor comenta rezultatele obținute.

1.6 Conţinutul referatului

1. Scopul lucrării.
2. Valorile măsurate şi valorile calculate (Tabelele 1-2 şi 1-3). Se foloseşte formula
(1.6) pentru calculul factorului de calitate Q.
3. Reprezentările grafice ε r′ = f ( f ), ε r′′ = f ( f ), tgδ r = f ( f ) pentru cele 5 probe
de material dielectric analizate. Se va comenta comportarea mărimilor măsurate în domeniul
de frecvenţă utilizat pentru fiecare probă de material.
′ atât prin măsurare, cât şi prin calcul (Tabelul 1-3). Se vor
4. Determinarea ε re
comenta rezultatele.
LUCRAREA NR. 1
________________________________________________________________________________________ 9
5. Concluzii şi observaţii personale privind fenomenul fizic analizat.

1.7 Întrebări şi probleme

1. Să se deducă formula de calcul a tangentei unghiului de pierderi echivalente a

două condensatoare legate în paralel şi în serie atunci când se cunoaşte capacitatea şi tangenta
unghiului de pierderi pentru fiecare condensator în parte.
2. Să se calculeze permitivitatea relativă complexă echivalentă ( ε re
′ şi ε re
′′ ) a unui

dielectric format din două straturi de materiale diferite (vezi Fig. 1-6) atunci când se cunoaşte
permitivitatea relativă complexă a fiecăruia ( ε r′1 , ε r′′1 , ε r′ 2 şi ε r′′2 ).

Fig. 1-6
3. Dacă ε r′1 = 2,1, ε r′ 2 = 3,5 si g1 = (1/4)∙g2, să se determine ε re
′ pentru structura

prezentată în Fig. 1-7.

Fig 1-7
4. Determinaţi valoarea părţii reale a permitivităţii relative complexe ε'r1 a unei
probe din mică având grosimea de 0,1 mm dacă se cunoaște permitivitatea echivalentă
ε're = 2,23 a unui sandwich format din proba menționată împreună cu o probă de teflon cu
grosime de 0,8 mm şi ε'r2 = 2,1.
5. Între armăturile plane și paralele ale unui condensator cu capacitatea în vid
C0 = 68 pF se introduce un material dielectric având permitivitatea relativă complexă definită
de ε r′ = 3,5 şi ε r′′ = 4·10 −4 .

a) Să se calculeze modulul admitanţei ( Y ) şi elementele schemei echivalente

paralel (Ce și Re) pentru condensatorul astfel obţinut la frecvenţele de 500 kHz şi 5 MHz.
Comentaţi rezultatele.
b) Să se calculeze factorul de calitate Q şi tangenta unghiului de pierderi tgδ ale
materialului dielectric la frecvenţele de 500 kHz şi 5 MHz. Comentaţi rezultatele.
 LUCRAREA NR. 1
10 _______________________________________________________________________________________
LUCRAREA NR. 1
_______________________________________________________________________________________ 11

ANEXA 1
Procedura de măsurare a permitivităţii relative complexe a materialelor
dielectrice cu analizorul RF de impedanţă/materiale Agilent, model E4991A

Pasul 1. Pregătirea analizorului pentru măsurători

Pornirea și oprirea analizorului se face din butonul plasat în partea din

stânga-jos a panoului frontal. Odată cu pornirea analizorului se activează şi sistemul de
operare al acestuia care este “Windows 2000 Professional”.
Observaţie: Pe durata neutilizării, se recomandă ca aparatul să fie deconectat de la
reţea pentru evitarea şocurilor de tensiune.

În fereastra de dialog ce apare după inițializarea sistemului de operare, se introduce

numele de utilizator „agt_instr” în loc de „Administrator” şi apoi, lăsând necompletat
câmpul „password”, se apasă butonul „OK”.

Pasul 2. Selectarea modului de măsurare

După pornire, analizorul va afișa pe ecran imaginea din Fig. A-1, în care este ilustrat
de asemenea și meniul comenzilor.

Trace 1 - E4991A RF Impedance/Material Analyzer

Trace Meas/Format Scale Display Marker Stimulus Trigger Utility Save/Recal System

Fig. A-1 Meniul și imaginea inițială de pe ecranul analizorul.

 LUCRAREA NR. 1
12 _______________________________________________________________________________________
Pentru măsurarea permitivităţii se procedează astfel:
1. În meniul “System” se apasă butonul “Preset” pentru iniţializarea analizorului.
2. În meniul “Utility” se apasă butonul “Utility...”.
3. Se apasă butonul “Material Option Menu”.
4. Se selectează “Permittivity” în caseta “Material Type”.
La sfârşitul pasului 2, analizorul este pregătit pentru măsurarea permitivităţii relative
complexe a materialelor dielectrice.

Pasul 3. Se selectează condiţiile de măsurare

Setarea parametrilor de măsură şi a formatului afișării

Pentru selectarea parametrilor de măsură ε’r, ε”r, tanδε se procedează în felul următor:
1. În meniul “Display” se selectează “Display...”.
2. Se selectează “3 Scalar” în caseta “Num of Traces”.
3. În meniul “Meas/Format” se selectează “Meas/Format...”
4. Se atribuie fiecărui grafic câte un parametru. În acest scop, se selectează pe
rând fiecare din cele 3 grafice, selectând în meniul “Trace” graficul corespunzător sau făcând
click pe eticheta numerică a graficului afișată în dreapta-sus sau pe eticheta graficului din
legenda afișată pe ecran.
Selecția unui anumit grafic ca grafic activ este marcată pe ecran cu simbolul (*) în
dreptul etichetei graficului și prin schimbarea culorii de afișare a legendei.
5. Astfel, când graficul “Trace 1” este activ, se selectează εr' în caseta “Meas
Parameter”.
6. În caseta “Format” se selectează “Lin Y-Axis”.
7. Se repetă pașii 5 și 6 pentru graficele 2 şi 3, selectând de data aceasta parametrii
εr", respectiv tanδε.

Setarea punctelor de măsură și a parametrilor de baleiaj

Se parcurg următoarele etape:
1. În meniul “Stimulus” se selectează “Sweep Setup...”.
2. În caseta “Number of Points” se introduce numărul de puncte necesare
măsurătorilor, pentru asigurarea preciziei dorite.
Se vor utiliza 298 de puncte. Pentru a introduce valoarea, se tastează [2] [9] [8]
și [Enter].
LUCRAREA NR. 1
_______________________________________________________________________________________ 13

Atenție! Un număr mare de puncte înseamnă o precizie de măsură mai bună,

dar și un timp de baleiere mai lung.

3. În caseta “Point Average” se introduce valoarea 10. Pentru aceasta se tastează

[1] [0] și [Enter].
4. În caseta “Sweep Parameter” se selectează “Frequency”.
5. În caseta “Sweep Type” se selectează “Linear” pentru scala lineară de
frecvenţe sau “Log” pentru scala logaritmică de frecvenţe.

Setarea sursei şi a nivelului oscilatorului se execută în felul următor:

1. În meniul “Stimulus” se activează “Source...”.
2. În caseta “Osc Unit” se selectează “Voltage”.
3. În caseta “Osc Level” se introduce nivelul de tensiune al oscilatorului. Se va
fixa valoarea de 28 mV. Pentru aceasta, se tastează [2] [8] [m] și [Enter].

Setarea gamei de frecvenţă se face în felul următor:

1. În meniul “Stimulus” se activează “Start/Stop...”.
2. În caseta “Start” se introduce frecvenţa de început, 10 MHz. Pentru aceasta, se
tastează [1] [0] [M] şi [Enter].
3. În caseta “Stop” se introduce frecvenţa de sfârșit, 1 GHz. Pentru aceasta, se
tastează [1] [G] şi [Enter].
La sfârşitul pasului 3, analizorul este pregătit pentru conectarea dispozitivului de
fixare Agilent 16453A.

Pentru protecţia antistatică a analizorului, operaţiunile de la pasul 4 la pasul 10

se execută cu brăţara ESD conectată la mână.

Pasul 4. Conectarea dispozitivului de fixare a probei Agilent 16453A

Această activitate se execută numai de personalul didactic din cadrul laboratorului

Conectarea dispozitivului Agilent 16453A se realizează astfel:

1. Se fixează dispozitivul Agilent 16453A pe capul de testare cu şuruburile
suportului de fixare.
2. Se cuplează dispozitivul Agilent 16453A la mufa de 7 mm, rotind piuliţa
conectorului în sensul invers acelor de ceasornic.
 LUCRAREA NR. 1
14 _______________________________________________________________________________________
3. Piuliţa se strânge cu cheia dinamometrică, în sensul invers acelor de ceasornic
până la obţinerea cuplului de 1,36 Nm, marcat pe cheie şi semnalizat prin rabaterea braţului
cheii.
După pasul 4, analizorul este pregătit pentru calibrare.

Pasul 5. Introducerea parametrilor probei etalon de material

1. În meniul “Stimulus” se selectează “Cal/Comp...”.

2. Se apasă butonul “Cal Kit Menu”.
Observaţie: Proba etalon de material este din PTFE (Teflon) şi are permitivitatea
relativă ε’r = 2,1. De aceea, valoarea implicită a parametrului ε’r din caseta “εr Real” este de
2,100, iar cea a parametrului ε’’r din caseta “εr Loss” este 0,000 (teflonul fiind un material
dielectric cu pierderi foarte mici). Cu toate acestea, în scopul calibrării corecte a analizorului
și pentru a se evita ca, din cauza perturbațiilor, valoarea părții imaginare a permitivității
relative să rezulte negativă la materialele cu pierderi mici, valoarea parametrului ε’’r pentru
proba etalon se va fixa la o valoare nenulă.

3. În caseta “εr Loss” se introduce valoarea 0,001, tastându-se pentru aceasta [1]
[m] și [Enter].
4. În caseta “Thickness” se introduce valoarea grosimii probei etalon de material.
Proba etalon folosită are grosimea de 0,76 mm, de aceea se va tasta [0] [.] [7] [6]
[m] şi [Enter].

Pasul 6. Calibrarea analizorului

Calibrarea este obligatorie şi se efectuează în scopul eliminării erorilor datorate

elementelor de circuit parazite din schema echivalentă a capului de testare și a dispozitivului
Agilent 16453A de fixare a probei de material (Fig. A-2).

Fig. A-2 Schema echivalentă a dispozitivului Agilent 16453A de fixare a probei de material.
LUCRAREA NR. 1
_______________________________________________________________________________________ 15
Calibrarea se execută astfel:
1. În meniul “Stimulus” se tastează ”Cal/Comp...”.
2. În caseta “Fixture Type” se confirmă tipul dispozitivului de fixare: “16453”.
3. Se apasă butonul “Cal Menu”.
4. În caseta “Cal Type” se selectează “Fixed Freq & Pwr”.
Observaţie: Pe durata calibrării apare mesajul “Wait-Measuring Cal Standard”
în capătul din stânga al barei de status din partea de jos a ecranului.

Calibrarea presupune 3 măsurători: cu electrozii în scurtcircuit (Meas Short),

cu electrozii în gol (Meas Open) și cu sarcină, adică cu proba etalon între electrozi (Meas
Load). Nu contează ordinea acestor măsurători, așa încât, pentru eficiență, se va începe cu
măsurătoarea în scurtcircuit, electrozii fiind inițial în această stare.
5. Pentru calibrarea în scurtcircuit, electrozii dispozitivului de fixare trebuie să fie
în contact (Fig. A-3 (a)). Se apasă butonul “Meas Short” pentru efectuarea calibrării în
scurtcircuit. La finalizarea acestui pas, care va dura aprox. 20 sec., va apărea o bifă √ în
stânga butonului “Meas Short”.
Tijă

Piuliță de reglaj al
presiunii de strângere
între electrozi

Buton de
oprire

Electrod superior

Electrod inferior

(a) (b)

Fig. A-3 (a) Dispozitivul Agilent 16453A de fixare a probei de material în starea Short. Dacă este necesar,
se trage ușor în sus de tijă și se elibereaza butonul de oprire, după care se lasă ușor tija în jos
pentru ca electrodul superior să vină în contact cu cel inferior.
(b) Dispozitivul Agilent 16453A de fixare a probei de material în starea Open. Pentru a ajunge în
această stare, se trage în sus de tija superioară până la capătul cursei și se apasă butonul de oprire
pentru fixarea în această poziție.

6. Pentru calibrarea în gol, se trage în sus până la capăt tija din partea superioară a
dispozitivului Agilent 16453A pentru a se depărta electrozii și se apasă butonul de oprire
pentru a fixa electrodul superior și tija în această poziție (Fig. A-3 (b)). Se apasă butonul
“Meas Open” şi se aşteaptă aprox. 20 sec. până la apariţia bifei √ în stânga butonului “Meas
Open”.
 LUCRAREA NR. 1
16 _______________________________________________________________________________________
7. Cu brăţara ESD conectată la mână şi folosind penseta din dotare, se
introduce cu grijă proba de material etalon între electrozii dispozitivului de fixare și se așează
pe electrodul inferior. Apoi se trage ușor în sus de tija superioară a dispozitivului până la
eliberarea butonului de oprire și se coboară încet tija până când electrodul superior se așează
pe proba etalon. Se apasă apoi tija în jos, exercitând presiune pentru circa 10 sec., astfel
încât contactul mecanic dintre electrodul superior și proba etalon să se stabilizeze. Se
activează butonul “Meas Load” şi se aşteaptă aprox. 20 sec. până la apariţia bifei √ în stânga
butonului “Meas Load”.

ATENȚIE! Atunci când introduceți proba de material în dispozitivul de fixare

asigurați-vă că proba vine în contact doar cu cei doi electrozi.
De asemenea, aveți grijă să nu solicitați mecanic electrodul superior prin
mișcarea în plan orizontal a probei de material atunci când aceasta este prinsă între
electrozi. Atunci când este necesar să repoziționați proba, înainte de a face această operație,
ridicați puțin electrodul superior folosindu-vă de tijă, reașezați proba și apoi coborâți din nou
electrodul. La sfârșitul reglajului, nu uitați să exercitați presiune prin apăsarea pe tijă pentru
circa 10 sec. pentru stabilizarea contactului mecanic dintre electrodul superior și proba etalon.

ATENȚIE! Nu manevrați piulița de reglaj “Pressure Adjustment” pentru

modificarea presiunii de strângere exercitate de electrodul superior la prinderea probei
(vezi Fig. A-3). Acest reglaj este deja făcut (piulița de reglaj fiind poziționată la aprox. 3 mm
de limita inferioară a cursei) și trebuie să rămână neschimbat pe tot parcursul măsurătorilor
care se vor face de aici înainte pentru a nu se introduce erori suplimentare.

8. Calibrarea se încheie prin apăsarea butonului “Done” ceea ce presupune

calculul intern al coeficienților de calibrare şi salvarea acestora în memoria internă a
analizorului spre a fi folosiți la măsurătorile subsecvente.
După finalizarea pasului 6, analizorul este pregătit pentru începerea măsurătorilor
propriu-zise.

Pasul 7. Introducerea grosimii probei de material de măsurat (MUT)

Notă: Grosimile probelor de material ce urmează a fi analizate au fost determinate cu

ajutorul şublerului și sunt specificate în cutia de depozitare a probelor, precum și în Tabelul 1-2.

Grosimea probei de măsurat se introduce în programul de măsurare astfel:

1. În meniul “Utility” se selectează “Utility...”.
LUCRAREA NR. 1
_______________________________________________________________________________________ 17
2. Se apasă butonul “Material Option Menu”.
3. În caseta “Thickness” se introduce grosimea probei.
Exemple: - pentru grosimea de 1 mm, se tastează [1] [m] şi [Enter];
- pentru grosimea de 0,76 mm sau 760 µm, se tastează [7] [6] [0] [u] şi [Enter].

Pasul 8. Introducerea probei de material de măsurat (MUT)

Proba de material de măsurat se va introduce între electrozii dispozitivului de test

urmând aceeași procedură ca în cazul probei etalon (vezi pasul 6, punctul 7 și
atenționările respective).
După parcurgerea paşilor 7 şi 8, analizorul este pregătit pentru măsurare şi analiza
rezultatelor.

Pasul 9. Măsurarea şi analiza rezultatelor

Odată introdusă grosimea probei de măsurat şi cu materialul fixat între electrozi,

după activarea “Autoscale all” din meniul “Scale”, rezultatele măsurătorii se vor afişa pe
ecran. În Fig. A-4 se prezintă ca exemplu ceea ce se afișează pe ecranul analizorului la
măsurarea permitivității în intervalul de frecvenţe 1 MHz - 1 GHz.

Fig. A-4 Ecranul anlizorului cu rezultatele măsurătorii.

 LUCRAREA NR. 1
18 _______________________________________________________________________________________
La unitățile de măsură ale mărimilor afișate în figura de mai sus, simbolul [U] are
semnificația de unitate generică (cele 3 mărimi fiind adimensionale), iar simbolul [m] (sau
[u], după caz) reprezintă submultiplul unității, mai exact 10-3 unități (respectiv 10-6 unități).
Pentru obținerea unor măsurători mai precise și mai puțin afectate de zgomot se
recomandă utilizarea unei medieri pe mai multe scanări succesive în gama de frecvență și
schimbarea setării din meniul “Trigger” astfel încât măsurătoarea să se oprească după un
număr de scanări, valorile memorate nemaimodificându-se și putând fi extrase mai ușor spre a
fi transcrise în Tabelul 1-2. Pașii de urmat în acest scop sunt următorii:
1. În meniul “Meas/Format” se selectează “Meas/Format...”.
2. Se apasă pe butonul “Sweep Average”, activându-se astfel medierea pe mai
multe scanări succesive.
3. Se introduce în caseta “Swp Agv Count” valoarea 5 ce reprezintă numărul de
scanări pe care se face medierea. În acest scop, se tastează [5] și [Enter].
4. În meniul “Trigger” se selectează “Trigger Setup...”.
5. Se apasă butonul “Single” pentru a iniția o măsurătoare unică (compusă din
cele 5 scanări succesive, valorile finale fiind media a 5 valori la toate frecvențele din gama de
frecvențe), după care analizorul va intra în starea “Hold” (nu mai măsoară). Pentru o nouă
măsurătoare, se va apăsa din nou butonul “Single”.

Explorarea rezultatelor la frecvențele de interes din gama de frecvențe de

măsură se poate face în două feluri:

A. cu ajutorul unui marker;

B. cu ajutorul comenzii “List Values” din meniul “Display” care schimbă afișarea
rezultatelor pe ecran din afișare sub formă de grafice în afișare sub formă de tabel.

A. Explorarea rezultatelor măsurătorii folosind markeri:

1. În meniul “Marker” se selectează “Marker...”. Markerul va fi afișat pe

graficele de pe ecran sub forma unui triunghi, iar valoarea parametrului de pe graficul activ
(cel însemnat cu (*)) la frecvența markerului este afișată pe ecran în partea din dreapta-sus.
2. În caseta “Stimulus” se va introduce valoarea de interes a frecvenței la care se
dorește vizualizarea valorii permitivității. Markerul se va repoziționa pe grafic la acea
frecvență, iar valoarea parametrului de pe graficul activ va fi actualizată.
Observație: Markerul poate fi deplasat și cu ajutorul mouse-ului, dar este de preferat
să se introducă valoarea exactă a frecvenței în caseta “Stimulus”.
LUCRAREA NR. 1
_______________________________________________________________________________________ 19
B. Explorarea rezultatelor măsurătorii folosind comanda “List Values” din
meniul “Display”:

1. În meniul “Display” se selectează “Display...”.

2. Se apasă pe butonul “List Values: [OFF]”. Se trece astfel la afișarea
rezultatelor sub formă de tabel.
3. Se navighează în tabel (cu ajutorul mouse-ului sau al tastaturii) până la
frecvențele de interes, pentru obținerea valorilor mărimilor măsurate.
4. Prin apăsarea din nou a aceluiași buton (“List Values: [ON]”) se revine la
afișarea sub formă de grafice.
Observație: Numărul de rânduri din acest tabel corespunde cu numărul de puncte de
măsură selectat la pasul 3. Este important ca acest număr de puncte de măsură să nu fie
modificat. În caz contrar, valorile exacte de frecvență menționate în capul Tabelului 1-2 nu se
vor regăsi în tabelul afișat pe ecranul analizorului.

Pasul 10. Modificarea condiţiilor de măsură

Dacă opțiunea selectată în caseta “Cal Type” din meniul de calibrare este “Fixed
Freq & Pwr”, atunci la modificarea condițiilor de măsură se vor relua procedurile începând
cu pasul 9. Dacă a fost selectată opțiunea “User Freq & Pwr”, atunci reluarea procedurilor
se face începând cu pasul 6 (Calibrarea). Dacă a fost selectată opțiunea “Fixed Freq &
User Pwr”, atunci procedurile se reiau de la pasul 6 (Calibrarea) dacă s-a modificat nivelul
oscilatorului, sau de la pasul 9 dacă s-au modificat alte condiții de măsură.

Pasul 11. Măsurarea unei noi probe de material (MUT)

Pentru măsurarea unei noi probe de material, repetați procedurile începând cu

pasul 8 dacă noua probă are aceeași grosime cu cea precedentă. Dacă grosimile diferă, reluați
procedurile de la pasul 7.

Pasul 12. Deconectarea analizorului

Pentru deconectarea analizorului se procedează în felul următor:

1. Se scoate proba de material cu ajutorul pensetei dintre armăturile dispozitivului
de fixare 16453A, prin ridicarea electrodului superior.
2. Se pun proba etalon și probele de material de măsurat în cutia de depozitare a
acestora.
 LUCRAREA NR. 1
20 _______________________________________________________________________________________
3. Se pune penseta în locaşul ei din aceeași cutie de depozitare. Se scoate mănuşa
de protecţie, brăţara de la mână prin slăbirea încheietorii brăţarei.
4. În meniul “System” se apasă caseta “Preset” pentru resetarea analizorului.
5. Se decuplează soft-ul analizorului tastând „Ctrl+Alt+Delete” şi selectând
„Shut Down”.
6. După închiderea soft-ului, se decuplează butonul plasat pe panoul frontal

al analizorului, în partea din stânga-jos,.

7. Se decuplează tensiunea de alimentare de la tabloul electric al laboratorului
(această operație se face la plecarea din laborator).

ATENŢIE! În caz de neutilizare, analizorul nu se ţine sub tensiune.

Pericol de defectare, ca urmare a şocurilor din reţeaua electrică.