LUCRAREA NR.

1
__________________________________________________________________________________________1

MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE

1.1 Scopul lucrrii
Lucrarea permite determinarea permitivitii relative complexe i analiza comportrii
acesteia n frecven (100Mhz- 1Ghz), pentru materiale dielectrice cu polarizare temporar,
folosite frecvent n industria electronic, fie ca material dielectric pentru condensatoare, fie ca
suport de cablaj imprimat.

1.2 Noiuni teoretice

Dielectricii sunt materiale izolatoare, care se caracterizeaz prin stri de polarizaie
cu funcii de utilizare; prin stare de polarizaie electric se nelege starea materiei
caracterizat prin momentul electric al unitii de volum diferit de zero. Starea de polarizaie
poate fi temporar, dac depinde de intensitatea local a cmpului electric n care este situat
dielectricul i poate fi de deplasare (electronic sau ionic) sau de orientare dipolar.
Indiferent de mecanismul de polarizare, n domeniul liniar, interaciunea unui dielectric
izotrop cu cmpul electric este caracterizat de permitivitatea relativ complex (rel. 1.1 ):

D
j r
0 E r

(1.1)

unde: D este inducia electric,

E este intensitatea cmpului electric, iar
0

1
10 9 F / m , permitivitatea vidului.
36

Dac un material dielectric cu permitivitatea complex relativ r, se introduce ntre

armturile unui condensator care are n vid capacitatea Co, n aproximaia c liniile de cmp se
nchid n ntregime prin material (efectele de margine sunt neglijabile), admitana la bornele
condensatorului astfel format are expresia:

Y j r C0 j r j r C0 rC0 j rC0

(1.2)

Schema echivalent a condensatorului cu material dielectric i diagrama fazorial

sunt date n Fig. 1-1.
Din schema echivalent se observ c partea real a permitivitii complexe relative
caracterizeaz dielectricul din punct de vedere al proprietilor sale de a se polariza (indiferent

LUCRAREA NR. 1
2__________________________________________________________________________________________

de mecanismul de polarizare) i are ca efect creterea de 'r ori a capacitii condensatorului la

aceleai dimensiuni geometrice, capacitatea condensatorului obinut fiind :
Ce = ' r Co

(1.3)

Fig. 1-1. Schema echivalent i diagrama fazorial pentru un condensator cu dielectric ntre armturi.

Partea imaginar a permitivitii complexe relative ''r, caracterizeaz dielectricul din

punct de vedere al pierderilor de energie n material, pierderi modelate prin rezistena
Re

1
rC0

(1.4)

n diagrama fazorial din Fig. 1-1, unghiul este unghiul dintre tensiunea U aplicat
condensatorului i curentul I care l strbate. Complementarul unghiului de fazaj se numete
unghi de pierderi i se noteaz cu .
Se definete tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric, ca fiind raportul:
tg

Pa
U I R
I
C
1

R
r 0 r
Pr
U I C
I C Ce Re rC0 r

(1.5)

unde: Pa = puterea activ la bornele condensatorului,

Pr = puterea reactiv la bornele condensatorului.
Inversul tangentei unghiului de pierderi se numete factor de calitate al materialului
dielectric i se noteaz cu
Q

CR r
tg
r

(1.6)

Permitivitatea complex relativ poate fi pus i sub forma:

"
r r' 1 j r' r' 1 j tg
r

(1.7)

n acest caz, partea imaginar ne d o informaie complet asupra pierderilor totale

(pierderi prin polarizare, pierderi prin conducie electric, pierderi prin ionizare) n dielectric.

LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________3

Din punct de vedere al utilizatorului de componente, pentru materialul dielectric aceti doi
parametri 'r i tg sunt eseniali.
Datorit structurii fizice i fenomenelor complexe ce se petrec n dielectric, cnd
asupra acestuia se aplic un cmp electric, permitivitatea dielectric real 'r i tangenta
unghiului de pierderi tg sunt dependente puternic de frecven i temperatur.
n Tabelul 1-1 sunt date caracteristicile tipice ale ctorva materiale studiate n lucrare
(msurate la = 20 C si f = 50 Hz), iar n Fig. 1-2 i 1-3 este prezentat dependena de
frecven a permitivitii, 'r , si a tangentei unghiului de pierderi, tg, la temperatura
constant de = 20 C, pentru 2 materiale dielectrice uzuale: polietilentereftalat (mylar) i
policarbonat.
Tabelul 1-1
Material
Tip de polarizare
Polietilentereftalat (mylar)
polarizare de orientare
Polimetacrilat
de
metil "
(plexiglas)
Policarbonat (pertinax)
"
Hrtie de conden-sator
"
Politetrafluretilen
polarizare de deplasare
(teflon)
electronic

Fig. 1-2. Dependena de frecven a lui r'

i tg pentru polietilentereftalat
la temperatura de 200C.

'r
3
3,5

tg
(45)10-3
0,020,08

3
6,6
1,92,2

(812)10-4
(67)10-3
(14)10-4

Fig. 1-3. Dependena de frecven a lui r'

i tg pentru policarbonat la
Temperatura de200C.

1.3 Aparatura utilizat

Aparatul de msur i control cu ajutorul cruia se execut msurarea permitivitii
complexe relative a materialelor dielectrice este analizorul RF de impedan/material, model
E 4991A. Acesta este folosit pentru msurarea impedanei, a permitivitii complexe relative a
materialelor dielectrice i a permeabilitii magnetice relative a materialelor magnetice.

LUCRAREA NR. 1
4__________________________________________________________________________________________

Lucrarea se ocup de msurarea permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice

solide ntr-o gam larg de frecvene.
n scopul msurrii permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice,
mpreun cu analizorul de impedan se folosesc urmtoarele accesorii: capul de test E4991A,
dispozitivul de fixare a materialelor dielectrice 16453A, suportul de fixare, tastatura, penseta,
mouse-ul, proba standard de material dielectric i probele de material dielectric solid de
msurat, Fig. 1- 4. Opional, se folosete un display, care se conecteaz la panoul din spate al
analizorului.

Fig. 1-4. Analizorul E4991A i accesoriile folosite la msurarea permitivitii.

a)

b)

Fig. 1-5. a) dispozitivul de fixare a materialului dielectric 16453A; b) condensatorul echivalent.

Analizorul E 4991A msoar, calculeaz i vizualizeaz valoarea permitivitii

complexe relative a materialului dielectric solid si a tangentei unghiului de pierderi din
valoarea capaciti condensatorului echivalent. Condensatorul echivalent, Ce este realizat fizic
din: electrozii superior si inferior ai dispozitivului pentru test, 16453A i materialul testat
(MUT - Material Under Test) MUT se poziioneaz ntre electrozii dispozitivului de fixare
pentru test, 16453A, aa cum este prezentat n Fig. 1-5.
Partea real a permitivitii complexe relative se determin cu relaia:

LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________5

'r

Ce gCe

C0 0 S

(1.8)

unde: S = Si - suprafaa electrodului inferior, cu diametrul de 7mm,

g - grosimea materialului dielectric;
Partea imaginar a permitivitii complexe relative este dat de relaia:

'' r

1
g

ReC0 0 SRe

(1.9)

iar, tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric rezult din raportul celor dou
mrimi
tg

r
r

(1.10)

1.4 Desfurarea lucrrii

Modul de executare n detaliu a fiecrui pas din schema logic de msur este descris
n ANEXA 1 din acest capitol.

1.5 Mod de lucru i prelucrarea rezultatelor

Se msoar permitivitatea complex, partea real i imaginar ale acesteia i tangenta
unghiului

de

pierderi,

pentru

urmtoarele

materiale:

politetrafluoretilena

(teflon),

polimetacrilat de metil (plexiglas), stratificat pe baz de hrtie (pertinax), stratificat pe baz de

sticl (sticlotextolit) i a oxidului de aluminiu (alumina) n gama de frecvene de la 100 MHz
la 1GHz.
Materialele se fixeaz, pe rnd, n dispozitivul de fixare a probei de test 16453A (Fig.
1-5) i se parcurge algoritmul din ANEXA 1. Calibrarea analizorului se execut o singur
dat. Valorile msurate ( r , r ,tg) la diferite valori ale frecvenei de lucru, se trec n
Tabelul 1-2. Ultima linie din tabel se completeaz cu valorile factorului de calitate, care se
calculeaz cu relaia (1.6).
Se va reprezenta, n trei grafice separate, evoluia r , r si tg pentru cele cinci
materiale msurate, teflon, sticlotextolit, pertinax i plexiglas i se va comenta modul n care
se modific parametrii menionai n gama de frecven.
Tabelul 1-2.
F [MHz]

100

200

300

400

500

600

700

800

900

1000

LUCRAREA NR. 1
6__________________________________________________________________________________________

g=1mmAlumina g= 2,1mmPlexiglas g= 0,95mmPertinax g= 1mmSticlotextolit g= 3mmTeflon

F [MHz]

100

200

300

400

500

600

700

800

900

1000

tg
Q

r
r
tg
Q

r
r
tg
Q

r
r
tg
Q

r
r
tg
Q

Se msoar r1 , r 2 ale probelor din plexiglas i sticlotextolit la frecvenele date n

Tabelul 1-3 i rezultatele se trec n tabel. Se realizeaz din cele dou probe un sandwich care
se introduce ntre electrozii dispozitivului de fixare i se msoar valorile r e care se nscriu
n tabel, pentru trei valori ale frecvenei.
Tabelul 1-3.
f[MHz]
Material

r1 , r 2 , re

Pertinax
(g1 = 0,95mm)
Sticlotextolit
(g2 = 1mm)
Sandwich pertinax + steclotextolit
( g1+2 = 1,95mm)

re msurat

Sandwich pertinax + steclotextolit

re calculat

r1

r 2

100

500

800

LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________7

re ms - re calc =

Sandwich pertinax + steclotextolit

Se calculeaz re cu relaia urmtoare:

re'

g1 g 2
g1 g 2

r' 1 r' 2

(1.11)

unde: valorile lui g1 i g2 se n mm.

Se compar rezultatele obinute prin msurtori cu cele calculate i se justific
eventualele diferene.

1.6 Coninutul referatului

1. scopul lucrrii;
2. valorile msurate i valorile calculate (Tabelele 1-2 i 1-3); se folosete formula
(1.6) pentru calculul factorului de calitate Q;
3. reprezentarea

grafic

r f , r f , tg r f

pentru

materialele

msurate; fiecare grafic va fi comentat.

4. determinarea re att prin msurare ct i prin calcul (Tabelul 1-3); se vor
comenta rezultatele;
5. concluzii i observaii personale privind fenomenul fizic analizat.

1.7 ntrebri i probleme

1. Comentai comportarea materialelor msurate n domeniul de frecven utilizat.
2. S se deduc formula de calcul a tangentei unghiului de pierderi echivalente a
dou condensatoare legate n paralel i n serie cnd se cunoate capacitatea i tangenta
unghiului de pierderi pentru fiecare condensator.
3. S se calculeze permitivitatea complex echivalent a unui dielectric format din
dou straturi de materiale diferite, cnd se cunoate permitivitatea complex a fiecruia (vezi
Fig. 1-6).

Fig. 1-6.

LUCRAREA NR. 1
8__________________________________________________________________________________________

4. Dac 1 = 2.1, 2 = 3.5 si g1 = (1/4)g2, s se determine echivalent pentru

structura din Fig. 1-7.

Fig 1-7.

5. Determinai valoarea prii reale a permitivitii complexe relative 'r1 a unei

probe de mic cu grosimea de 0,1mm cu ajutorul unei probe de teflon cu grosime de 0.8mm i
'r2 = 2.1 i 'rechivalent= 2.23.
6. ntre armturile condensatorului plan - paralel cu capacitatea n vid de
C 0 = 100pF, se introduce un dielectric avnd permitivitatea relativ complex cu termenii

r =5 si ''r =5 10 4 ; s se calculeze admitana i elementele schemei echivalente paralel

pentru condensatorul astfel obinut, la frecvena de 1MHz.
7. Pentru acelai condensator cu dielectricul ntre armturi, s se calculeze factorul
de calitate Q i tangenta unghiului de pierderi tg, la frecvena de 1MHz .
8. ntre armturile unui condensator plan - paralel cu capacitatea n vid C 0 = 68 pF,
se introduce un dielectric avnd permitivitatea relativ complex cu termenii r =3,5 i ''r
=4 10 4 ;
a) s se calculeze admitana i elementele schemei echivalente paralel pentru
condensatorul astfel obinut, la frecvenele de 500 kHz i 5 MHz; comentai rezultatele.
b) s se calculeze factorul de calitate Q i tangenta unghiului de pierderi tg, la
frecvenele de 500 kHz i 5 MHz; comentai rezultatele.

LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________9

ANEXA 1
Executarea msurrii permitivitii complexe relative a materialelor
dielectrice cu Analizorul RF de impedan / materiale , Model 4991A,
Agilent
Pasul 1. Pregtirea analizorului pentru msurtori
Conectarea i deconectarea analizorului se execut cu butonul

, plasat dreapta -

jos. Simultan cu cuplarea analizorului se activeaz i softul acestuia.

Observaie: Pe durata neutilizrii se recomand ca aparatul s fie deconectat de la
reea, pentru evitarea ocurilor tensiunii reelei.
Iniializarea

softului

aparatului.

Analizorul

folosete

Windows

2000

Professional. n fereastra de dialog, pe linia user name se tasteaz agt_instr n loc de

Administrator i apoi, fr password se apas butonul OK. n etapa aceasta
analizorul este pregtit pentru msurtori de impedan i de material.
Pasul 2. Selectarea modului de msurare
Pe display apare fereastra de msurare, aa cum este prezentat n Fig. 1.
Trace 1 - E4991A Impedance/Material Analyzer
Trace Meas/Format Scale Display Marker Stimulus Trigger
Utility Save/Recal System

Fig. 1. Imaginea ferestrei de msurare.

Pentru msurarea permitivitii se procedeaz astfel:

1. n meniul System se apas caseta Preset pentru iniializarea analizorului.
2. n meniul Utility se apas caseta Utility....

LUCRAREA NR. 1
10_________________________________________________________________________________________

3. Se apas caseta Material Option Menu.

4. Se selecteaz Permittivity n csua Material Type.
La sfritul pasului 2 analizorul este pregtit pentru efectuarea msurtorii
permitivitii materialului.

Pasul 3. Se selecteaz condiiile de msurare

Setarea parametrilor de msur i a formatului desfurrii se execut pentru r,
r, tan n felul urmtor:
1. n meniul Display se activeaz caseta Display....
2. Se selecteaz 3 Scalar din csua Num of Traces;
3. n meniul Meas/Format se activeaz caseta Meas/Format... i se atribuie
fiecrei desfurri un parametru;
4. Astfel, cnd desfurarea Trace 1 este activ apare
(* marca) pe display i selecteaz r` n csua Meas Parameter;
5. n csua Format se selecteaz Lin Y-Axis sau Log Y-Axis;
6. Similar se procedeaz pentru desfurrile 2 i 3 pentru r" i respectiv tan.
Setarea punctelor de msur, a parametrilor de baleiaj
Se parcurg urmtoarele etape:
1. n meniul Stimulus se activeaz butonul Sweep Setup;
2. n csua Number of Points se introduce numrul de puncte necesare
msurtorilor, pentru asigurarea preciziei dorite. Exemplu: pentru 201 puncte, se tasteaz [2]
[0] [1] si [Enter];
3. n csua Sweep Parameter se selecteaz Frequency;
4. n csua Sweep Type se selecteaz Linear pentru scala linear de frecvene
sau Log, pentru scala logaritmic de frecvene;
Setarea sursei i a nivelului oscilatorului se execut n felul urmtor:
1. n meniul Stimulusse activeaz Source
2. n csua Osc Unit se selecteaz Voltage
3. n csua Osc Level se introduce nivelul de 100 mV, se tasteaz [1] [0] [0] [m]
si [Enter].
Setarea gamei de frecven se execut n felul urmtor:
1. n meniul Stimulus se activeaz Start/Stop....
2. Cu csua Start se introduce frecvena de start, 1 MHz, pentru aceasta, se
tasteaz [1] [M] i [Enter].

LUCRAREA NR. 1
_________________________________________________________________________________________11

3. Cu csua Stop se introduce frecvena de stop, 1 GHz, se tasteaz [1][G] i

[Enter].
La sfritul pasului 3 analizorul este pregtit pentru conectarea dispozitivului de
fixare 16453A
Pentru protecia antistatic a analizorului, operaiunile de la pasul 4 la pasul 10
se execut cu brara ESD conectat la mn.

Pasul 4. Conectarea dispozitivului de fixare 16453A

Aceast activitate se execut numai de personalul didactic din cadrul laboratorului
Conectarea dispozitivului 16453A se realizeaz astfel:
1. Se fixeaz dispozitivul 16453A pe capul de test, cu uruburile prizonier ale
suportului de fixare;
2. Se cupleaz dispozitivul 16453A la mufa N 7-mm rotind piulia conectorului n
sensul invers acelor de ceasornic;
3. Piulia se strnge cu cheia dinamometric, n sensul invers acelor de ceasornic
pn la obinerea cuplului de 1,36 Nm, marcat pe cheie i semnalizat prin rabaterea braului
cheii.
Dup pasul 4 analizorul este pregtit pentru calibrare.

Pasul 5. Introducerea grosimii probei standard de material

1. n meniul Stimulus se apas Cal/Comp....
2. Se apas butonul Cal Kit Menu.
3. n csua Thickness se introduce valoarea grosimii probei standard de material.
Exemplu: dac grosimea probei standard de material este de 0.75 mm, se tasteaz [0] [.] [7]
[5] [m] i [Enter].
Observaie: Proba standard de material este realizat din teflon i are permitivitatea
relativ r = 2,1. De aceea, iniial analizorul E4991A are setat valoarea r n csua Real n
bara de comenzi Cal Kit de 2,1000 i valoarea pierderilor n csua r Loss
r= 0,0000.

Pasul 6. Calibrarea analizorului

Calibrarea se realizeaz n planul suprafeelor de contact ale dispozitivului de fixare
pentru test 16453A. Calibrarea este obligatorie i se execut n scopul nlturrii erorilor
introduse de elementele de circuit din schema echivalent a capului de msur, Fig. 2.

LUCRAREA NR. 1
12_________________________________________________________________________________________

Fig. 2 Schema echivalent a dispozitivului de fixare 16453A.

Calibrarea se execut astfel:

1. n meniul Stimulus se tasteaz Cal/Comp....
2. n csua Fixture Type se confirm tipul dispozitivului de fixare pentru test
16453.
3. Se apas butonul Cal Menu.
4. n csua Cal Type se selecteaz punctele de msur cerute de datele de
calibrare.
Observaie: Pe durata calibrrii apare mesajul Wait-Measuring Cal Standard la
stnga barei de calibrare.
5. Pentru calibrarea n gol se trage n sus butonul de partea superioar a
dispozitivului 16453A, pentru deprtarea electrozilor. n aceast poziie, se apas butonul
Meas Open i se ateapt aproximativ 10 sec pn la apariia bifei la stnga Meas
Open;
6. Pentru calibrarea n scurtcircuit electrozii dispozitivului de fixare sunt n contact,
(electrodul superior este eliberat). Se apas butonul Meas Short i se realizeaz calibrarea
n gol care se finalizeaz la apariia bifei la stnga Meas Short;
7. Cu brara ESD conectat la mn i folosind penseta se introduce proba de
material etalon n dispozitivul de fixare. Se activeaz butonul Meas Load i se msoar
proba de material etalon, care se finalizeaz la apariia bifei n stnga Meas Load.
8. Se apas butonul Done i analizorul calculeaz datele de calibrare i le salveaz
n memoria intern. Dup finalizarea pasului 6, analizorul este pregtit pentru introducerea
grosimii MUT.

Pasul 7. Introducerea grosimii probei de msur (MUT)

LUCRAREA NR. 1
_________________________________________________________________________________________13

Grosimea probei se msoar cu ublerul i se introduce n programul de msurare

astfel:
1. n meniul Utility se activeaz Utility... .
2. Se activeaz butonul Material Option Menu.
3. n csua Thickness se introduce grosimea probei. De exemplu pentru grosimea
de 1 mm, se tasteaz [1] [m] i [Enter].

Pasul 8. Conectarea probei de msur (MUT)

Se execut prin introducerea probei ntre electrozii dispozitivului de test. Se verific
contactul electrozilor, dispozitivul de fixare i (numai dac este cazul) se regleaz presiunea
electrodului superior cu rozeta Pressure Adjustment. Cu parcurgerea pailor 7 i 8
analizorul este pregtit pentru msurarea i analiza rezultatelor.

Pasul 9. Msurarea i analiza rezultatelor

Odat introdus grosimea probei de msurat n csua i cu materialul fixat ntre
electrozi, dup activarea Autoscale all, rezultatele msurtorilor se afieaz pe ecran.
Explorarea rezultatelor se realizeaz cu bara de comenzi Marker, pentru determinarea
valorilor specifice de interes. Folosind Marker Fctn (function), bara de comenzi arat
analiza care se efectueaz cu ajutorul markerilor activai. Pentru afiarea rapid a rezultatelor,
din Scale, se activeaz autoscalarea cu autoscale i autoscale all.
n Fig. 3 se prezint o imagine a ecranului cu unele rezultate ale msurtorilor
privind permitivitatea, (r [U], r [mU] si tg ), n intervalul de frecvene 1MHz 1GHz.

Fig. 3. Display-ul cu rezultatele msurtorilor.

Pasul 10. Modificarea condiiilor de baleiere

LUCRAREA NR. 1
14_________________________________________________________________________________________

Cnd punctele de msur la calibrare sunt definite de utilizator, msurtoarea se

pornete cu pasul 6. Cnd calibrarea nu este necesar msurtoarea se pornete cu pasul 9.
Dac se msoar i alte probe cu aceeai grosime, msurtoarea se pornete de la pasul 8.
Dac probele au grosimi diverse msurtoarea se pornete de la pasul 7.

Pasul 11. Deconectarea analizorului

Pentru deconectarea analizorului se procedeaz n felul urmtor:
1. Se scoate proba de material, cu ajutorul pensetei dintre armturile dispozitivului
de fixare 16453A, prin ridicarea electrodului superior.
2. Se pune proba etalon, n cutia sa de plastic, n trusa dispozitivului de fixare
16453A i probele de material n cutia de depozitare ale acestora.
3. Se pune penseta n locaul ei din trusa aceluiai dispozitiv. Se scoate mnua de
protecie, brara de la mn prin slbirea ncheietorii brarei.
4. n meniul System se apas caseta Preset pentru resetarea analizorului.
5. Se decupleaz soft-ul analizorului cu Ctrl+Alt+Delete i Shut Down.
6. Dup nchiderea soft-ului se decupleaz butonul

, plasat dreapta jos, pe

panoul analizorului.
7. Se decupleaz tensiunea de alimentare de la panoul d for a laboratorului.
Atenie! n caz de neutilizare analizorul nu se ine sub tensiune. Pericol de defectare, ca
urmare a ocurilor din reeaua electric.