Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
RADIOFRECVENTA
INCALZIREA DIELECTRICILOR IN
CAMP DE RADIOFRECVENTA
Cuprins :
1.1.Introducere
1.2. Domeniile de utilizare ale nclzirii n radiofrecven........................................
1.3. Puterea necesar nclzirii unui dielectric..
1.3.1. Cazul materialelor dielectrice omogene...
1.4. Frecvena tensiunii de alimentare...
1.5. Timpul de nclzire.
1.6. Echipamentul pentru nclzirea n radiofrecven...
1.6.1. Aplicatoare..
1.6.2. Surse de radiofrecven...
1.6.3. Adaptoare de sarcin..
1.6.4. Proprietati dielectrice..........................................................................................
1.6.5. Factori care afecteaz proprietile dielectrice ale materialelor...
1.6.6. Determinarea proprietilor dielectrice n regim de radiofrecven.
1.7. Procesarea alimentelor cu ajutorul cureilor de nalt frecven.
1.8. Echipamente de procesare cu ajutorul nclzirii n cmp de radiofrecven..
1.8.1.Schema instalatiei experimentale pentru determinarea parametrilor electrofizici
Pagina
3
5
5
6
11
12
12
12
17
17
18
20
20
22
23
ai produselor vegetale.
1.9. Procesarea semifabricatelor de lemn n cmp de radiofrecven
1.10. Simularea procesului de nclzire in
radiofrecvena .............................................................
1.11. Simulari privind incalzirea unui semifabricat de lemn utilizand FEM
Concluzii
Bibliografie
24
30
34
37
40
41
Microunde:
433 MHz.
IC
I
2
d
R
IR
u
U
IC
a)
b)
IR
c)
U2
R
tg
deci:
I R I C tg
i
P U I C tg
C I C I C
1
U
C U
C 1
0 r A
d
unde : A reprezint aria suprafeei electrozilor; d distana dintre electrozi.
C
Rezult c:
P 2 0 r f
U2 A
tg
d
Dar E
U
d
U2
V tg
d2
este intensitatea cmpului electric exterior, astfel nct puterea specific (pe
P
2 0 r f E 2 tg .
V
Concluzii:
1. Puterea specific disipat n materialul dielectric este direct proporional cu frecvena,
ptratul intensitii cmpului electric (E2) i cu factorul de pierderi (
r tg "g
);
r1 ; tg 1 ;U1
r 2 ; tg 2 ;U 2
d
2
U
U
I
CC
I
U
CC
2 2
Presupunnd
I C1 I C 2
U1
U
2
1
1 ,
C 2 C 2
U 1 C2
U 2 C1
U 1 r 2 d1
E1 r 2
sau
U 2 r1 d 2
E2 r1
pv 2 r 2
E tg 1 r 1
1
E 2 tg 2 r 2
tg 1
r 2
r 1 tg 2
pv 1 r 2 tg 1
pv 2 r 1 tg 2
U1
d
d
r 2 1 U 1 r 2 1 U 2 .
U2
d2
d2
U
d2
d1
iar n prezena stratului de aer : U U 1 U 2 U 2 1 r 2 d 2
d2
d1
Rezult: E 20 E 2 1 r 2 ,
d2
E 20
E2
1
E 20
0.8
1 r2
r2 1
r2 2
0.6
0.4
0.2
r2 10
U
d1
d2
0
0.2 0.4
0.6
0.8
d1 .
d2
1.2 1.4
d1
d2
Fig. 1.4 Efectul stratului de aer asupra intensitii cmpului electric n dielectricul de
grosime d2.
Concluzii :
- puterea disipat n materialul dielectric se poate modifica, la U = ct. (tensiunea de
alimentare constant) prin modificarea distanei dintre electrozi, respectiv a grosimii stratului de
aer (aceasta este o metod foarte comod de reglare a puterii n instalaiile capacitive);
-
E str
2
E
E1 r 2
r 1 ; E1 E a E 2 a
E2 r 1
r2
Deci, valoarea maxim a densitii de putere care poate fi disipat n dielectric este:
pv max 2 0 r 2 f
-
Estr2
Estr2
tg
tg
0
2
r2
2 r 2
dac ambele straturi sunt dielectrice, materialul avnd constanta dielectric r mai
mare se nclzete mai ncet (se pot realiza astfel nclziri selective, concentrnduse puterea dezvoltat n anumite zone ale produsului nclzit).
10
r tg
rtg ,0 0 1
nclzire imposibil !)
unde
c
,
t
c
t
c
2 0 r f ( tg ) E 2
un generator de radiofrecven;
1.6.1. Aplicatoare
Aplicatoarele i probele de cmp electric s-au gsit locul ntr-o gam larg de aplicaii n
industrie, medicin i instrumente tiinifice i cercetare. Unul dintre scopurile acestui subcapitol
este acela de a studia ceea ce au acestea n comun i de a crea o mai bun nelegere a subiectului,
n scopul de a ajuta desigeri n aplicaiile specifice, lucru pentru care s-au prezentat tehnologiile
de RF existente i utilizate, insistndu-se pe doua instalaii particulare utilizate, iar n cadrul
Anexelor fiind prezentate alte instalaii similare[15].
Tehnologia de radiofrecven (RF) la frecvena de 13,56 MHz sau 27,12 MHz este, n
general, mai mult utilizat n industrie dect procesarea utiliznd energie de microunde (MU) la
frecvena de 915 MHz sau de 2450 MHz. Cu toate acestea, tehnologia de RF este cunoscut de
12
R
F
=
3
GENERATOR
4
ADAPTOR
5
APLICATOR
13
Acest tip de aplicator este utilizat pentru produsele de form volumetric, de dimensiuni mari i
de dimensiuni de acelai ordin de mrime.
Aplicator cu electrozii de tip Stray field
Sistemul este utilizat pe scar larg pentru prelucrarea materialelor de forma substraturi subiri (de
pana la 10 mm).
A
B
C
8
GRF
GRF
3
GRF
7
5
1
2
Fig. 1.6 Instalaie de nclzire cu aplicator cu electrozi plai
1 material; 2-band transportoare perforat (permite evacuarea umezelii); 3 electrozi (cel
inferior este perforat pentru a permite evacuarea aerului umed); 4- sistem de evacuare a aerului
umed; 5 - bobin (mpreun cu sistemul de electrozi (3) formeaz un circuit oscilant pe frecvena
de lucru); 6- generator de radiofrecven; 7- incinta cuptorului; 8-redresor.
Exemplu:
15
GRF
4
Acest tip de aplicator utilizeaz 2 serii de electrozi tubulari sau din bar, amplasai
de-o parte i de alta a produsului (sub form de band sau fire) care trebuie nclzit. Electrozii
amplasai de aceeai parte sunt legai n paralel.
Distana dintre electrozi este reglabil (se poate modifica puterea transmis). Se asigur
densiti de putere ntre 30 100 kW/m 2. Liniile de cmp electric sunt nclinate (nu
perpendicular), fa de direcia de micare.
c) Aplicator n cmp distribuit
3
2
1
GRF
4
Fig. 1.9 Aplicator cu cmp distribuit
- electrozii sunt n form de tub, vergea sau inel;
- se amplaseaz n acelai plan, de o parte a corpului de nclzit;
16
RF
2
3
LG
CP
1
5
RG
17
* - permitivitate complex;
- constanta dielectric;
18
0 f
f - frecvena [Hz];
- conductivitatea electric a materialului [S/m];
- 0 permitivitatea vidului
0
1
8.8541878176203 10 -12 Fm -1
2
0c
1
Energie pierdut
Q Energie absorbit
Absorbia de putere
Pd 2 f 0 ' 'E 2
Rata la care cldura este absorbit ntr-un material poate fi exprimat ca o densitate de
putere i este dat de urmtoarea ecuaia fundamental care descrie nclzirea dielectric.
Adncimea de ptrundere
Adncimea de ptrundere Dp este definit ca fiind adncimea la care fluxul de energie n
material a sczut la (0,368) din valoarea sa de la suprafa, cam n acelai fel cum lum n
considerare la un curent adncimea suprafeei.
DP
2 2
(1 )
s
1 j
Dependena de temperatur
Variaia proprietilor dielectrice cu schimbrile de temperatur depinde de mecanismul
specific de nclzire al materialelor. n cele mai multe cazuri proprietile dielectrice s-au dovedit
a crete odat cu creterea temperaturii, datorit relaxrii dielectrice
Dependena de densitate
Densitatea este un alt aspect important care trebuie luat n considerare n msurarea
proprietilor dielectrice ale pulberilor, densitatea masei de pulberii poate provoca variaii
semnificative ale proprietilor dielectrice. [16] [17]
'
C d
o A
21Q
RC
o A R
Proprietile dielectrice ale materialelor pot varia foarte mult, nu numai n raport cu
compoziia acestora, dar, de asemenea, cu frecventa, temperatura i densitatea.
Adncimea de ptrundere este un parametru important, deoarece ofer un bun indicator al
uniformitii de nclzire n volumul unei probe.
Alegerea tehnicii potrivite de determinare a proprietilor dielectrice depinde de muli
factori, cum ar fi frecvena la care trebuiesc msurate proprietile, natura materialului, aplicaia,
temperatura, precizia msurtorii, dimensiunile materialului etc. care limiteaz posibilitile
alegerilor tehnicilor i montajelor experimentale posibile.
n ceea ce privete metodele de determinare a proprietilor dielectrice, putem
formula urmtoarele concluzii: metoda cu condensator plan paralel este cea mai potrivit pentru
msurarea materialelor cu pierderi medii sau mici la frecvene de sub 1 GHz .
este n continu
dezvoltare. nclzirea rapid i eficiena energetic nalt reprezint avantajele majore ale utilizrii
lor n procesarea alimentelor. Alte avantaje sunt: economia de spaiu, posibilitatea de control a
procesului, nclzirea selectiv i pstrarea calitii nutritive a alimentelor [20].
Pentru a nelege mecanismul nclzirii cu cureni de nalt frecven este necesar s se
neleag proprietile dielectrice ale alimentelor.
22
si
in care:
Q1 si C1 sunt factorul de calitate si capacitatea electrica a conturului fara de condensatorul
msurtor in momentul de rezonanta;
Q2 si C2 factorul de calitate si capacitatea electrica a conturului cu condensatorul
msurtor fara de product in momentul de rezonanta;
Q3 si C3 factorul de calitate si capacitatea electrica a conturului cu condensatorul
msurtor cu product in momentul de rezonanta;
C0
24
dW
= (W). [57]
d
a)
26
b)
Fig. 1.13. Corelatia dintre frecventa campului electromagnetic si tg (a), e` (b) a
produselor vegetale (seminte de floarea soarelui).
O mare importanta, pentru materia prima agricola prezinta cunostintele despre corelatia
intre umiditatea lor si tg si e`. Aceasta corelatie este aratata in figura de mai jos.
a)
27
b)
Fig. 1.14. Corelatia dintre umiditatea si tg (a), e` (b) a produselor vegetale (caise)
28
Fig. 1.15. Instalaia de laborator pentru cercetarea cineticii procesului de uscare a caiselor.
Cercetrile s-au realizat cu ajutorul instalaiei de laborator [48, 50, 51, 52], destinat uscrii
caiselor prin diverse procedee de aplicare a energiei: convecie i combinat cu aplicarea UHF.
Instalaia include camera de uscare (1), generatorul curenilor de inalt frecven (6), caloriferul
electric (7), alimentatorul cu agent termic (4, 5) i aparatajul de msurare. Celula de lucru (2), sub
form de condensator coaxial incrcat cu caise, s-a suspendat de balan (3) prin intermediul unei
suspensii speciale. [13]
Cu ajutorul unui sistem de reglare automat temperatura agentului termic s-a meninut
constant. Viteza agentului termic in perioada efecturii experimentelor s-a meninut constant
(0,65 m/s), fiind determinat din condiia de antrenare minim a particulelor. Aceast vitez s-a
fixat cu micromanometrul MMH (11).
Tensiunea de inalt frecven a condensatorului coaxial s-a msurat cu voltmetrul tip C196
(10), cu clasa de precizie de 0,2.
29
30
Fig. 1.16. Linia tehnologica pentru uscarea prunelor fara sambure: 1 masina de spalat; 2
transportor de inspectare; 3 transportor; 4 masina de inlaturare a coditelor; 5 blansator; 6
Uscator cu banda; 7 vibrator; 8 masina de inlaturare a samburilor; 9 uscator UHF; 10
masina de ambalare.
32
33
Figura 1.23. Variaia temperaturii n raport cu timpul la diferite tensiuni pentru semifabricatul din
lemn de stejar
Figura 1.24. Variaia umiditii n raport cu timpul la diferite tensiuni pentru semifabricatul din
lemn de stejar
partea
experimentala s-au folosit probe de semifabricat din lemn de stejar cu dimensiunile L=90[mm],
l=10[mm] i h=5[mm] cu o umiditate iniial de aproximativ 50%.
Determinarea umiditii iniiale si finale de-a lungul fiecrui proces experimental s-a fcut
prin msurri periodice i repetate, folosindu-se un umidometru de tip Testo 616, iar pentru
msurarea cmpului de temperatur s-a folosit o camer termic Fluke 32i. [35]
Tensiunea Timpul
anodic UA
[s]
[V]
1610
1600
1690
1600
1820
1600
Temperatur
a
Umiditate
a
59,3
63
65,8
16
12
10
Figura 1.25. Distribuia temperaturii pentru proba de stejar nainte de nclzire [35]
Figura 1.26. Distribuia temperaturii pentru proba de stejar la tensiunea de 1610 [V] [35]
Figura 1.27. Distribuia temperaturii pentru proba de stejar la tensiunea de 1690 [V] [35]
Figura 1.28. Distribuia temperaturii pentru proba de stejar la tensiunea de 1820 [V] [35]
38
39
40
r tg "g
);
41
Bibliografie
[1]. S. Alfonzetti, N. Salermo A Non-Standard Family of Boundary Elements for the Hybrid
FEM-BEM Method, IEEE Transactions on Magnetics, vol. 45, no. 3, march 2009, pp. 13121315;
[2]. L. Bandici Modelarea Numeric a Cmpului Electromagnetic i Termic Cuplat n
Instalaiile de nclzire n Cmp de Microunde, Ed. Mediamira, Cluj-Napoca, Romnia,
2005;
[3]. E.C. Beldeanu Produse Forestiere i Studiul Lemnului, Ed. Universitii Transilvania,
[4]. C.A. Brebbia Boundary elements x, Vol. 2, Heat Transfer, Fluid Flow and Electrical
Applications, Computational Mechanical Publications;
[5]. A. Bossavit, C. Verite The TRIFOU Code: Solving the 3D Eddy Currents Problem by
Using H as State Variable, IEEE Transactions on Magnetics, vol. 19, no. 6, 1983, pp. 24652470;
[6]. S. Coman, T. Leuca, O. Coman, M.I. Laza (Bulc) - Statistical Optimization of Dielectric's
Material Placement Inside a Microwave Applicator Using Response
Surface Method,
42
de
A. Hobincu,
45
fenomenelor
de