1 STUDIUL DIFRACIEI N LUMINA LASER

1.1. SCOPUL LUCRRII

Scopul lucrri este de a studia experimental fenomenul de difracie a luminii
utiliznd reeaua de difracie. n experiment se folosete ca surs de lumin un laser i
se va determina constanta reelei de difracie. Deoarece fenomenul este observat prin
imaginea de interferen dat de lumina difractat este necesar s se cunoasc i
fenomenul de interferen.

1.2. DIFRACIA UNDELOR

Fenomenul de difracie a luminii apare atunci cnd n calea undelor de lumin se
interpun obstacole opace sau deschideri cu dimensiuni de ordinul de mrime al
lungimii de und a luminii. Fenomenul de difracie nu se poate explica n cadrul
opticii geometrice ale crei legi, dac ar fi riguros satisfcute, ar duce la delimitarea
net a domeniilor de "umbr" de domeniile "de lumin" dincolo de ecrane i nu la
obinerea unei distribuii complexe a intensitii luminii.

b a b
1
2

Ecran
F

Figura 1.1 Mersul razelor de lumina ntr-o reea de difracie i focalizarea

acestora pe un ecran
Explicarea acestui fenomen precum i a diferitelor sale proprieti se face pe baza
principiului Huygens - Fresnel care afirm c perturbaia care se propag n exteriorul
unei suprafee nchise ce conine sursa de perturbaie este identic cu cea care se
obine suprimnd sursa i nlocuind-o la un moment t prin surse convenabil
repartizate pe toat suprafaa nchis.
Se disting dou cazuri particulare de difracie: difracia n lumin divergent
(difracie Fresnel) i difracie n lumin paralel (difracie Fraunhoffer).
 Vom prezenta pe scurt difracia Fraunhoffer prin dou fante liniare plane i
echidistante (figura 1.1). Fie b lrgimea fantelor i a lrgimea peretelui opac dintre
ele, atunci suma a b d reprezint constanta reelei. Considerm un fascicul
paralel de lumin monocromatic care are incidena normal pe planul fantelor.
Se poate demonstra c amplitudinea oscilaiilor vectorului luminos n planul focal
al lentilei L este data de expresia
b
sin sin
E E0 (1.1)
b
sin

unde E0 este amplitudinea oscilaiilor n planul fantelor.
Amplitudinea rezultant n urma interferenei undelor luminoase care provin de la
cele dou fante vecine este,
a b
E E E 2 E cos 2 E cos ; sin . (1.2)
2 2 2

2
Intensitatea undei luminoase n F este
2
b
sin 2 a b
I I 0 cos sin . (1.3)
b sin

Ip

Difracia pe o fant

a) b) k
Figura 1.2 Spectrul de difracie pentru diferite reele de difracie.
Imaginea de difracie corespunztoare lui (1.3) este reprezentat n figura 1.2a.
Curba punctat corespunde imaginii de difracie pe o fant, pentru care condiia de
maxim este:
 1 b sin k k , (1.4)
unde reprezint ordinul de difracie.
n figura 1.2b este reprezentat intensitatea luminii pentru o reea de difracie cu
N 5 fante, iar cu ct numrul de fante crete maximele principale devin din ce n
ce mai bine conturate.
Aceast imagine moduleaz imaginea de interferen datorat fasciculelor
provenit de la cele dou fante pentru care condiia de maxim este
2 a b sin k k . (1.5)
Deoarece a b b , pentru acelai N , peste un maxim de difracie se suprapun
mai multe maxime i minime de interferen.
n cazul utilizrii unei reele cu N f fante plane paralele i echidistante ntre
poziia franjelor luminoase principale se vor gsi N f 1 minime, franjele luminoase
de acelai ordin dar de lungimi de und diferite fiind separate ntre ele.

1.3. ARANJAMENTUL EXPERIMENTAL

Montajul experimental este reprezentat n figura 1.3.
RD
E

Ls
ym

SL SR D

Figura 1.3 Montaj experimental pentru studiul difraciei luminii

Montajul experimental este alctuit din: suport pentru laser ( SL ), laser
semiconductor ( Ls ), suport pentru reea ( SR ) i reea de difracie ( RD ) i un ecran
( E ) cu hrtie milimetric.
Se trimite fascicolul laser perpendicular pe reeaua de difracie i se observ
imaginea de difracie interferen de pe ecran. Cu ajutorul unei rigle milimetrice se
msoar distana dintre planul reelei i planul ecranului D . Cu aceeai rigl sau
folosind diviziunile hrtiei milimetrice de pe ecran se msoar distanele de la
mijlocul maximului central ( k 0 ) la mijlocul maximelor de ordin superior (
k 1, 2, 3,... ) xk .
Folosind aceste date se poate calcula mai nti unghiul sub care are loc formarea
unui maxim de difracie
 xk
k arctg . (1.6)
D
Constanta reelei se poate determina din (1.5)
k
d . (1.7)
sin( k )

1.4. MODUL DE LUCRU

Pentru aflarea constantei reelei se procedeaz cum urmeaz:
1. Se conecteaz laserul (Atenie! Dei LASER-ul este unul obinuit de mic putere, a
nu se uita direct n fasciculul laser! Pericol de afectare ireversibil a retinei!).
2. Se observ maximele de difracie obinute pe ecran (hrtie milimetric) i se msoar
distana D dintre ecran i reeaua de difracie.
3. Se marcheaz pe hrtia milimetric poziia maximelor de difracie.

4. Se msoar distanele xk de la maximul central ( k 0 ) pn la maximele secundare

de diferite ordine (maximele secundare din stnga se noteaz prin valori negative,
k 1, 2,.... ).
5. Se ntocmete tabelul de mai jos i se calculeaz pe rnd i d cu ajutorul relaiilor
(1.6) i (1.7) se consider lungimea de und a radiaiei 637 nm .

Nr. Crt. k xk (mm) (rad) d (m) d (m)

1.
2.
.
n.

6. Se calculeaz valoarea medie a constantei de reea d i dup efectuarea calculului

erorilor rezultatul se scrie sub forma d d d .