Laborator 3-4 “Fizica Solidului”, anul 3

Determinarea parametrilor celulei cristaline

pe baza difracţiei razelor X

1. Introducere teoretică

1.1. Natura radiaţiei X

Investigarea structurilor cristaline s-a putut face odată cu descoperirea fenomenului de difracţie a
radiaţiei X pe reţelele atomice (fenomen descoperit de Bragg în 1912 şi dezvoltat ulterior de Max von
Laue). Prin acest fenomen s-a putut pune în evidenţă structura atomică periodică a cristalelor. Mai târziu
s-a descoperit şi difracţia electronilor şi neutronilor pe reţelele atomice.
Radiaţia X ocupă acea regiune a spectrului electromagnetic cuprinsă între ultraviolet şi razele
gamma (lungimi de undă între 10 Å şi 0,1 Å). Lungimile de undă folosite în mod curent pentru
experimentele de difracţie sunt situate în intervalul (0,5 -2,5)Å, valorile lor fiind apropiate de cele ale
distanţelor interatomice. Energiile fotonilor radiaţiei sunt în domeniul 10-50 keV.
O sursă de raze X constă dintr-un tub vidat în care sunt emişi electroni de la un filament de
wolfram încălzit (catod), acceleraţi (la o tensiune de câţiva zeci de kV) şi trimişi spre o ţintă de metal
(Cu, Mo). Interacţia dintre electroni şi ţintă duce la emisia de raze X, o parte din energia cinetică a
electronilor fiind convertită în această radiaţie.
Procesul de frânare a electronilor acceleraţi conduce la apariţia radiaţiei X cu un spectru
continuu (radiaţia albă sau “bremsstrahlung”) iar cel de excitare a electronilor din atomii ţintei de metal
duce la apariţia radiaţiei X caracteristice (numai cu anumite lungimi de undă).
Radiaţia caracteristică are lungimea de undă specifică ţintei. Dacă ţinta este din cupru, lungimea de undă
a liniei intense (linia Kα1) este de 1,541 Å.

1.2. Legea lui Bragg. Difracţia razelor X.

Un fascicul de raze X incident pe planele unei reţele cristaline, poate fi transmis sau reflectat de
către electronii atomilor respectivi. În general, undele reflectate interferă distructiv, cu excepţia unor
anumite direcţii pentru care aceste unde sunt în fază şi interferă constructiv, ducând la apariţia
fenomenului de difracţie.
Direcţiile posibile de difracţie depind de mărimea şi forma celulei elementare iar intensităţile
undelor difractate depind de tipul atomilor şi aranjamentul lor în reţeaua cristalină. Considerăm un set
de plane atomice paralele ale unei reţele cristaline, aşezate la distanţa d. (fig. 1). Razele incidente cad sub
unghiul θpe planele reţelei. Interferenţa constructivă a razelor împrăştiate de planele succesive are loc
atunci când diferenţa de drum este un număr întreg n de lungimi de undă λ .
Diferenţa de drum dintre razele A şi B
(fig. 1) este extra-distanţa parcursă de B, adică
d1 + d2 = 2d ⋅sinθ . Astfel, condiţia de
interferenţă constructivă este dată de relaţia:

2d ⋅sinθ = nλ (1)

unde d este distanţa dintre plane, θ este unghiul

.
de reflexie iar n = 1,2,3,… Fig. 1. Reflexia razelor X pe planele reţelei
cristaline
1
 Relaţia de mai sus este cunoscută sub numele de legea lui Bragg. Ea este o consecinţă a
periodicităţii reţelei cristaline. Fenomenul de difracţie a radiaţiei X nu are loc pentru orice valori ale
unghiului θ. Pentru satisfacerea relaţiei lui Bragg trebuie să se modifice fie lungimea de undă λ, fie
unghiul θ . Metodele experimentale folosite pentru analizarea structurilor cristaline sunt concepute astfel
încât să realizeze aceste modificări.
Una dintre metodele experimentale de difracţie este metoda Laue, în care monocristalul este
menţinut fix iar fasciculul de raze X are o distribuţie continuă a lungimilor de undă ( θ -fixat, λ - variabil).
Această metodă este folosită pentru determinări ale orientării şi simetriei monocristalelor.
O altă metodă este cea a cristalului rotitor, în care fasciculul de raze X este monocromatic iar
monocristalul este rotit în jurul unei axe fixe (θ -variabil, λ -fixat).
O a treia metodă, care se va studia în cele ce urmează, este metoda pulberilor (Debye-Scherrer).
În această metodă proba cristalină este sub formă de pulbere fină (conţine monocristale mici sau
cristalite, ce pot avea toate orientările posibile) iar radiaţia X este monocromatică. Dimensiunea ideală a
cristalitelor este între 5μm şi 10 μm.
În fig. 2 sunt indicate schematizat principalele componente ale unei instalaţii de difracţie
(difractometru) a razelor X prin metoda pulberilor.

Fig. 2. Schema generală a unui difractometru de

raze X, prin metoda pulberilor.

Fasciculul provenit de la o sursă de raze X (cu ţintă de Cu) este filtrat şi direcţionat spre un tub
capilar cu pereţi subţiri în care se află proba cristalină sub formă de pulbere fină. Radiaţia X este
difractată de către cristalitele din probă ale căror plane sunt orientate sub un unghi de incidenţă θce
satisface relaţia lui Bragg. Fasciculul difractat este preluat de către un detector (de exemplu, o diodă
semiconductoare din Ge), procesat electronic şi convertit într-un semnal digital iar apoi este trimis spre
un computer.
Semnalul este proporţional cu intensitatea medie a fasciculului difractat de planele probei sub
formă de pulbere. Pe computer se poate vizualiza variaţia intensităţii fasciculului difractat în funcţie de
unghiul de difracţie. Maximele care apar corespund unor reflexii ale razelor X pe anumite familii de
plane cu indici Miller (hkl).

2. Determinarea parametrilor celulei cristaline, prin difracţia razelor X, cu programul Powder Cell.

Orice structură cristalină care este examinată prin difracţia razelor X prezintă o anumită variaţie
a intensităţii fasciculului difractat în funcţie de unghiul de difracţie 2θ. In programul Powder Cell,

folosind meniul “Diffraction” (vezi Anexa), se poate vizualiza graficul I=f(2θ) (numit powder pattern)
pentru o structură cristalină existentă în baza de date.
 Folosind acest powder pattern, se pot determina distanţele dhkl dintre planele de tipul (hkl),
indicii Miller (vezi Anexa) asociaţi diferitelor plane ale reţelei cristaline şi constantele reţelei cristaline.
Pentru aflarea distanţelor dhkl se foloseşte relaţia lui Bragg:

(2)

Pentru n =1vom avea:

(3)

unde λ = λCu =1,5401Å iar unghiurile θ hkl se determină din graficul I = f(2θ).
În cazul sistemului cristalin cubic, legătura dintre constanta de reţea şi distanţele dintre planele de indici
Miller (hkl) este dată de expresia:

(4)
unde:
= 1,2,3,4,5,6,8,9,10,.... (pentru reţeaua cubică simplă);

= 2,4,6,8,10,12,.... (pentru reţeaua cubică cu volum centrat);

= 3,4,8,11,12,16... (pentru reţeaua cubică cu feţe centrate).

Pentru un anumit tip de reţea cubică, după determinarea setului de distanţe , acestea se aleg

astfel încât înmulţite cu să dea o valoare constantă (conform relaţiei 4). Aceasta este

constanta reţelei cristaline.

3. Modul de lucru

Folosind programul Powder Cell se vor examina, pe baza difracţiei razelor X prin metoda
pulberilor, celulele cristaline corespunzătoare nichelului şi clorurii de cesiu.

∙ Se încarcă fişierul corespunzător (Ni.cel sau CsCl.cel);

∙ Se activează meniul de difracţie a razelor X (vezi Anexa);

∙ Din graficul I = f (2θ )se citesc valorile unghiurilor θ hkl, corespunzătoare planelor de tipul (hkl) pe care
s-au produs reflexii (la care apar maxime ale intensităţii fasciculului difractat);

∙ Se calculează distanţele cu relaţia (3);

∙ Se găsesc sumele , ţinându-se cont de tipul reţelei cubice studiate;

∙ Se aleg valorile calculate pentru distanţele hkl d, astfel încât înmulţite cu valorile să dea
produsul constant. Această valoare este egală cu pătratul constantei de reţea pentru structura cristalină
studiată (conform relaţiei (4);

∙ Se calculează valoarea medie experimentală a constantei reţelei cristaline ( aexp).

Rezultatele de mai sus se introduc în tabelul 1.

Tab. 1

Nr.crt θ hkl aexp aexp

(Å) (h k l) const.
(grade)

1.

2.

3.

4.

5.

6.

7.

8.