Lucrare de laborator

DIFRACIA DE RAZE X

1. Scopul lucrrii

Lucrarea de laborator are ca scop familiarizarea studenilor cu aspectele teoretice ce

stau la baza difraciei, principiul de funcionare, modalitatea de utilizare a difractometrului de
raze X, observarea reflexiei Bragg a razelor X pe un cristal (ex. NaCl) i indici Miller.

2. Aspecte generale

A. Reeaua cristalin

Structura corpului solid poate fi:

- Cristalin (atomii, ionii, moleculele au micri de vibra ie n jurul nodurilor re elei;

caracterizat de ordine la mare distan);
- Amorf (particulele care au o form neomogen; nu exist ordine la mare distan).

Reeaua cristalin este o repetare regulat pe trei direcii necoplanare din spaiu a
unor puncte echivalente numite noduri ale reelei de unde vecintatea atomic observat este
aceeai.

Structur cristalin = Reea + Baz

Celula elementar: este cea mai mic unitate care prin repetare genereaz ntreaga reea.

Celul primitiv: are un singur nod pe celul

Figura 1. Imagine n care sunt reprezentate celula primitiv i celula elementar dintr-un
sistem cubic.
 Pentru a caracteriza celula elementar n cazul 3D, sunt necesari 6 parametrii:
muchiile a, b, c, precum si unghiurile , , . Astfel, cristalele au fost mpr ite n 7 sisteme
cristalografice primitive:

Sistemul cubic: a=b=c, ===90;

Sistemul tetragonal (ptratic): a=bc, ===90;

Sistemul ortorombic (ortogonal): abc, ===90;

Sistemul monoclinic: abc, ==90, 90;

Sistemul triclinic: abc, ;

Sistemul trigonal (romboedric): a=b=c, ==90;

Sistemul hexagonal: a=bc, ==90, =120.

Vectorii i planele n reeaua cristalin sunt descrii de cele trei valori de forma (h,k,l)
cunoscui sub numele de indici Miller (Figura 2).
 Figura 2. Imagine n care sunt reprezentate planele cristaline ntr-un sistem cubic.

B. Difracia de raze X

Radiaiile electromagnetice sunt produse prin oscilaia/acceleraia unei sarcini

electrice. Undele electromagnetice au o component electric i una magnetic dispuse
perpendicular una fa de cealalt. n ordinea descresctoare a frecvenei, spectrul undelor
electromagnetice se compune din: radiaii gama, radiaii x, radiaii ultraviolete, lumin
vizibil, radiaii infraroii, microunde i unde radio (Figura 3).

Figura 3. Spectrul electromagnetic.

Natura ondulatorie a razelor X a fost stabilit de Max von Laue n anul 1912. n 1913
W. L. Bragg i H. W. Bragg au interpretat difracia razelor X ca o reflexie pe planele
cristaline (reflexie sau difracie Bragg). Un cristal este alctuit dintr-un set de plane paralele,
echidistante cu distana interplanar d (Figura 4) asupra crora cad o serie de raze incidente.
Cnd se trimite un fascicul plan paralel de raze X pe o prob cristalin, aceasta este difractat
de atomi, ceea ce nseamn c electronii probei cristaline i mresc vibraiile prin absorbirea
unor pri din radiaiile incidente i apoi radiaiile sunt mprtiate, parial sau total, cu
frecvena radiaiei incidente. Unghiul sub care este difractat o und ntr-un cristal este
influenat de structura cristalin a materialului, adic de distana interplanar a cristalului (d)
i de lungimea de und a radiaiei (). Direciile normale pe frontul de und incident,
respectiv reflectat ndeplinesc condiia: unghiul de inciden este egal cu unghiul de reflexie.

Figura 4. Reflexia razelor X pe plane cristaline.

Interferena constructiv a radiaiei reflectate pe plane succesive se realizeaz n cazul
n care diferena de drum () este egal cu produsul unui numr ntreg (n) i lungimi de und
().

= n; n = 1,2,3 (1)

Din Figura 4 se observ c pentru plane adiacente, diferen a de drum 1 dintre razele
incidente este egal cu diferena de drum 2 dintre razele reflectate:

= 1 + 2 = 2dsin (2)

Din (1) i (2) se obine legea Bragg (condiia de difracie pe cristale):

2dsin = n (3)

Cunoscndu-se distanele interplanare (d) se poate calcula:

- Sistem cubic
a
d= 2 2 2
h +k +l

sin =
2 a h + k 2 +l 2
2
 - Sistem tetragonal

1
d=

h + k 2 l2
2

2
+ 2
a c

sin =
2
h2 + k 2 l 2
a2
+ 2
c
- Sistem hexagonal

1
d=

4 h2 +hk + k 2 l 2
3

a2
+ 2
c

sin =
2
h2 + kh+k 2 l 2
a2
+ 2
c
Unde : a, b, c = constantele reelei, iar h,k,l = indicii Miller
Dimensiunea medie a cristalitelor se estimeaza pornind de la ecuaia lui Scherrer:
Dcristalit = K/B cos
unde Dcristalit reprezint lungimea medie a domeniilor de coeren luat n direcia normal
la planul reelei care corespunde liniei de difracie luate n considerare, B este lrgimea la
seminlime, este lungimea de und a razelor X, este unghiul Bragg, i K o constant ce
depinde forma cristalitelor.
Difracia de raze X este o tehnic analitic non-distructiv versatil folosit la
identificarea i determinarea cantitativ a diferiilor compui cristalini, cunoscui sub numele
de faz, compui care sunt prezeni n materialele solide i n pulberi. Identificarea fazelor
se face comparnd difractograma obinut pentru o prob necunoscut cu una din
difractogramele de referin cuprinse ntr-o baz de date internaional recunoscut.
Difracia razelor X de ctre cristale st la baza utilizrii acestora n studierea
structurii cristaline a diferitelor materiale. Deoarece razele X au lungimi de und de
ordinul distanelor dintre atomi, la trecerea acestora prin cristal are loc un fenomen de
difracie (n locul unui singur fascicul incident obinndu-se mai multe fascicule ale cror
unghiuri de difracie depind de structura cristalin).
Sistemul de difracie Smart Lab de la Rigaku aflat n dotarea laboratorului are n
componen urmtoarele elemente de baz (Figura 5):
- Consol - reprezint incinta de lucru;
- Goniometru - reprezint componenta principal a difractometrului (Figura 5b);
 - Tub de raze X (cu anod rotativ de Cu1; tensiunea i curentul nominal al tubului
sunt 20 45 kV, respectiv 10 200 mA) este montat pe unul din braele
goniometrului;
- Chiller - are rolul de a menine tubul de raze X la o temperatur optim;
- Module optice pentru razele X incidente si difractate pe prob
- Suport pentru prob poate fi schimbat n funcie de tipul acesteia i de tipul
msurtorilor ce urmeaz a fi efectuate;
- Detector

a)

b)

Figura 5. a) Sistemul de difracie SmartLab de la Rigaku i b) camera cu goniometru pentru

difracie.

1 Lungimi de und raze X:Cu: K1=1.540598 , K2=1.544426 i

K1=1.39217
Radiaiile X se produc cnd electronii cu vitez mare se ciocnesc cu o int de metal. O mare
parte din energia electronilor se transform n cldur, iar restul se transform n raze X,
producnd modificri n atomii intei, ca rezultat al impactului.

3. Modul de lucru

Studenii vor participa la efectuarea unei analize demonstrative pe o prob NaCl cu

ajutorul difractometrului SmartLab Rigaku.
n acest experiment se va verifica legea Bragg prin studiul difraciei razelor X pe o
pulbere de NaCl. n acest caz structura cristalin este una cubic si planele cristaline paralele
cu feele cubului (celula elementar a reelei) sunt separate prin distana d = 282.01 pm.

n acest tip de experiment suportul probei este fix, iar braele goniometrului cu tubul
de raze X i optica de ieire i detectorul se rotesc cuplat, astfel nct unghiul format de ele cu
suprafaa probei s fie acelai. Numele metodei Bragg-Brentano - 2 vine de la faptul c
acest unghi este chiar unghiul de incident (Figura 6). Unghiul de mprtiere dintre vectorii
de und ai fotonilor X incideni i mprtiai este 2. Aceast metod este utilizat n cazul
pulberilor. Adncimea de ptrundere a radiaiei X utilizate (Cu K1, , =1.540598 ) la
incidena normal este n intervalul 1 15 m pentru majoritatea materialelor cristaline
anorganice.

Figura 6. Geometria Bragg-Brentano - 2.

Configuraia unui experiment de difracie de raze X n geometria Bragg-Brentano -
2 se face parcurgnd paii urmtori:
- n meniul Task selectm Package Measurement/Phase ID and Structural Analysis
from Powder/General (Bragg-Brenano focusing) measurement;
- Setm Optic Aligment (BB) part condition;
- Se plaseaz proba de analizat pe suportul de probe, ntr-o poziie central;
- Setm Sample Aligment (BB) part condition;
- Setm General measurement (BB) part conditions (20-90 deg, tubul de raze X la
45 kV i curentul electric n tubul de raze X la 200mA).