1. Difracţia electronilor în cristale.

Difracţia electronilor
Definiţie: difracţia este un fenomen de interferenţă cauzat de împrăştierea elastică şi
coerentă (undele coerente sunt undele între care există relaţii constante în timp - diferenţa de fază,
amplitudinea) a radiaţiei pe un număr de obiecte situate la distanţe comparabile cu lungimea de
undă a radiaţiei. Formal, putem trata difracţia electronilor la fel ca difracţia razelor X, dar,
practic, există diferenţe:
● electronii au lungimi de undă mult mai mici;
● electronii interacţionează mult mai puternic cu atomii din probă prin intermediul
potenţialului coulombian şi sunt împrăştiaţi multiplu - difracţia este dinamică.
Difracţia electronilor stă la baza:
● formării tuturor imaginilor în TEM;
● analizelor structurale (cristalografice);
● caracterizării defectelor de structură.

Difracţia electronilor în cristale

Fie P1 şi P2 două plane de atomi, pe care sunt figuraţi 2 atomi, C şi B. Planele de atomi
sunt separate prin distanţa d şi fie WI frontul de undă plană incident şi WD frontul de undă plană
difractat, dacă atomii împrăştie în fază. Definim vectorii de propagare sau vectorii de undă k
astfel:
● kI, vectorul de undă incident, normal pe WI;
● kD, vectorul de undă difractat, normal pe WD;
● K  kD  kI .
1
Împrăştierea fiind elastică, avem: k I  k D   k .

K 
 
 2  2  sin 
Din geometria vectorilor de propagare, rezultă: sin     sau K  .
kI 
Diferenţa de drum optic dintre razele R1 şi R2 este AC  CD  2  d  sin  . Condiţia de
interferenţă constructivă a razelor R1 şi R2 este ca diferenţa de drum optic să fie egală cu un
număr întreg de λ, adică 2  d  sin  B  n   , legea lui Bragg, valabilă pentru θ = θB, unde θB este
unghiul Bragg de incidenţă la care undele electronice interferă constructiv pe planele cristaline.

1
 2  sin  B
Dacă θ = θB, avem K  sau 2  sin  B    K .


Pentru n = 1, legea Bragg devine: 2  sin  B  .
d
1
La unghiul Bragg, mărimea vectorului K are o valoare particulară KB: K B  .
d
Definim KB = g, unde g este un vector al reţelei reciproce, asociat setului de plane
1
cristaline, şi avem: g  .
d
Pentru setul de plane cristaline paralele, separate prin distanţa d, orientat în condiţia de
difracţie Bragg (θ = θB), spoturile de difracţie rezultante, notate G, 2G, 3G etc. sunt puncte în
reţeaua reciprocă. Vectorul g, din origine (O) la primul spot de difracţie (G), este normal la
planele cristaline care difractă. În practică, în figurile de difracţie de electroni avem o serie de
reflexii Bragg, dispuse periodic pe o linie şi care formează un şir sistematic de reflexii în spaţiul
reciproc: -G, O, G, 2G, 3G, ..., cu vectorii de difracţie corespunzători: -g, 0, g, 2g, 3g, .... Atenţie!
- şi 0 este un vector de difracţie, corespunde fasciculului direct.

Descrierea geometrică Bragg a difracţiei ca o „reflexie” la un unghi θ = θB

a unei unde plane incidente pe planele atomice separate cu distanţa d.
Diferenţa de drum dintre undele reflectate este AB + BC.

Spaţiul reciproc oferă o descriere fizică a geometriei difracţiei.

Concept: cristalul are două reţele, ambele fiind construcţii geometrice:
● reţeaua reală, descrie aranjamentul celulelor elementare de atomi în cristal (probă);
● reţeaua reciprocă, descrisa de un aranjament de puncte, unic determinat pentru un
anumit cristal, fiecare punct fiind asociat cu un set particular de plane cristaline din reţeaua reală.
Definiţia matematică a reţelei reciproce: fie rn un vector al reţelei cristaline,
rn  n1  a  n2  b  n3  c , unde a, b, c sunt vectori de translaţie ai celulei unitate în spaţiul real,
iar n1, n2, n3 sunt întregi.
Similar, orice vector r* al reţelei reciproce se defineşte ca: r*  m1  a * m2  b * m3  c * ,
unde a*, b*, c* sunt vectori de translaţie ai celulei unitate în spaţiul reciproc, iar m1, m2, m3 sunt
întregi.
Vectorii reţelei reciproce sunt definiţi prin relaţiile:
● a * b  a * c  b * c  b * a  c * a  c * b  0 ;
● a * a  1, b * b  1, c * c  1 .

2
 1 bc
Deoarece volumul celulei unitate Vc  a  b  c , avem: a*   şi similar pentru b*
a Vc
şi c*. De aici, rezultă că:
● a* normal pe planul b × c (şi similar prin permutări circulare);
● b* normal pe planul c × a;
● c* normal pe planul a × b;
Dacă g este vector al reţelei reciproce, avem: g hkl  h  a * k  b * l  c * , unde h, k, l sunt
întregi şi definesc planul ABC care difractă sau planul (hkl) din spaţiul real.
Conform definiţiei vectorilor reţelei reciproce, ghkl este normal pe planul (hkl), deci
ghkl || n.
1
Pe de altă parte, avem g hkl  , relaţie care leagă distanţa dintre setul de plane
d hkl
cristaline paralele (hkl) sau distanţa interplanară dhkl de mărimea vectorului de difracţie.

Definiţia indicilor Miller - planul cristalin ABC are indicii Miller (hkl).
Vectorii OA, OB, OC au lungimi a/h, b/k, c/l.
Vectorul ON este normala n la planul (hkl).

Construcţia Ewald
Este o construcţie geometrică în spaţiul reciproc. Sfera Ewald are raza 1/λ şi trece prin
1
originea (O) reţelei reciproce, astfel că avem: k I  k D  , unde kI este vectorul de undă

incident, orientat paralel cu direcţia de propagare a fasciculului incident, iar kD este vectorul de
undă difractat, poate lua orice poziţie pe suprafaţa sferei Ewald.
Dacă sfera Ewald intersectează exact un punct al reţelei reciproce, legea Bragg este
satisfăcută pentru setul de plane cristaline corespunzatoare acelui punct, care vor difracta puternic
şi punctul va fi excitat.
Dacă sfera Ewald trece în aproprierea unui nod din reţeaua reciprocă, definim un vector s
în spaţiul reciproc astfel: K  g  s , unde s este numit eroare de excitare. Existenţa lui s
relaxează condiţia Bragg de difracţie şi explică de ce în diagrama de difracţie avem spoturi.

3
 Amplitudinea fascicolului difractat
Amplitudinea unui fascicol difractat de către o celulă unitate a structurii cristaline se
obţine însumând contribuţiile tuturor atomilor celulei şi ţinând cont de factorii de împrăştiere
e 2 ik r e 2 ik r
atomici: Acel    f i    e  2 i K ri
sau Acel   F   , unde sumarea se face peste
r i r
toţi atomii i din celula unitate, iar fi(θ) este factorul de împrăştiere atomic corespunzător atomului
i situat în poziţia ri. Deoarece sumăm peste toţi atomii din celula unitate, definim suma F(θ) ca
factorul de structură al celulei unitate. F(θ) depinde de natura atomilor, de poziţia lor în celula
unitate şi de direcţia de propagare a fasciculului de electroni.
În cazul unui maxim de difracţie hkl, K = g şi factorul de structură se poate scrie:
Fhkl   f i    e 2 ihui  k vi l wi  , unde ui, vi, wi sunt coordonatele fracţionare ale atomului i în
i
celula unitate. Aceasta este o relaţie generală care se aplică tuturor reţelelor cristaline. Din
calculul factorului de structură pentru diferite structuri cristaline, aflăm regulile de selecţie
impuse de acea structură şi care determină care sunt fasciculele difractate permise sau, altfel spus,
modul de aranjare a maximelor de difracţie (spoturi sau cercuri) în difractograme.
Calculul amplitudinii fasciculelor difractate pentru un obiect cristalin paralelipipedic, de
dimensiuni finite A, B, C, se face prin sumarea contribuţiilor tuturor celulelor cristaline conţinute
Fg sin   A  u  sin   B  v  sin   C  w
în acel volum:  g     , unde Fg este factorul de
Vc  u  v  w
structură, Vc este volumul celulei unitate, iar u, v, w sunt dimensiunile celulei unitate.
Amplitudinea fasciculelor difractate este proporţională cu transformata Fourier a formei
tridimensionale a fascicolului difractat.
Daca asociem fiecărui nod din reţeaua reciprocă o astfel de distribuţie de intensitate, este
suficient ca sfera Ewald să intersecteze, nu nodul, ci distribuţia de intensitate pentru ca să
satisfacem legea Bragg. Deci, în spaţiul reciproc, nodurile unei folii subţiri (cum avem în TEM)
nu sunt puncte matematice, ci au o forma alungită ca a unor tije orientate perpendicular pe planul
foliei.
Diagramele de difracţie se prezintă pentru probele monocristaline ca o reţea
bidimensională de spoturi dispuse simetric în jurul spotului central (vector de difracţie 0), iar
pentru cele policristaline sub forma unor cercuri concentrice în jurul spotului central. Din

4
măsurarea distanţelor dintre spoturi sau a diametrelor cercurilor de difracţie se pot determina
distantele interplanare şi, deci, se poate identifica structura cristalină.

Distribuţia de intensitate difractată în lungul unei direcţii carteziene.