1

FENOMENE FIZICE IN CARE SE MANIFESTA ASPECTUL

ONDULATORIU AL MICROPARTICULELOR
Ipoteza lui de Broglie
Plecand de la teoria lui Max Planck si de la interpretarea acesteia de catre Albert Einstein,in
sensul ca lumina are un caracter dual ,manifestandu-se in unele situatii ca o unda electromagnetica iar
in altele ca un flux de particule,LOUIS DE BROGLIE a incercat sa largeasca categoria obiectelor
duale si la celelalte particule.In 1924 ,in lucrarea sa de doctorat Cercetari asupara teoriei
cuantelor el afirma urmatoarele daca in teoria luminii s-a neglijat aproape un secol aspectul
corpuscular pentru a i se atasa in exclusivitate doar aspectul de unda,oare nu s-a comis eroarea inversa
incazul substantei ?Nu s-a gresit oare neglijand aspectul de unda ,pentru a lua in considerare numai
aspectul corpuscular ? .
Pornind de la caracteristicile corpusculare ale fotonului ,louis de Broglie a emis ipoteza conform careia
unei particule aflate in miscare i se poate asocia o unda cu lungimea de unda :

h
p

unde h = 6.6251034 Js este constanta lui Planck iar p este impulsul acesteia.

Pentru contributia lui in fizica moderna,Louis de Broglie a primit premiul Nobel in anul 1929.

2
Confirmarea experimentala
Afirmatiile indraznete ale lui de Broglie si-au dobandit valoarea numai dupa validarea lor
experimentala.
In 1927 ,la laboratoarele Bell,Clinton Davisson si Lester Germer au descoperit difractia
electronilor ,dovedind astfel proprietatile ondulatorii ale particulelor .
Experimentul lor a constat in trimiterea unui fascicul de electroni accelerati sub o anumita tensiune
catre un cristal de nichel .Fasciculul ,reflectat prin difractie sub un anumit unghi este captat cu ajutorul
unui cilindru Faraday si carentul este masurat cu un galvanometru.
S-a constatat existenta unor maxime ale intensitatii fascicului de electroni in cateva directii bine
precizate.
Primul maxim s-a obtinut pentru un unghi = 50 si o tensiune de accelerare U=54.Aplicand
relatia de Broglie pentru aceste valori s-a obtinut o valoare a lungimii de unda asociate electronilor
egala cu =0.165 nm .
Daca se aplica conditia de difractie dupa Bragg,avand in vedere ca valoarea constantei retelei de
nichel este de 0,150 nm,pentru primul maxim de difractie se obtine =0.165nm.
Concordanta intre cele doua rezultate a fost o dovada a corectitudinii ipotezei lui de Broglie.

DIFRACTIA ELECTRONILOR
1. SCOPUL EXPERIMENTULUI
Scopul acestui experiment este de a determina distanta dintre planele cristalografice ale grafitului
folosind relatia dintre raza inelelor de difractie si lungimea de unda, determinate cu ajutorul conditiei
de difractie dupa Bragg si a relatiei de Broglie.
In

acord

cu

corpuscul,electronii

dualitatea
au

un

unda

comportament

dublu :de unda si de particula , pe care il vom

demonstra in functie de scopul experimentului.
(de ex., un experiment in care ne propunem sa
masuram proprietatile particulelor nu necesita
relevarea caracterului de unda ale acesteia si
vice versa) .
Din ecuatia de Broglie ,electronilor accelerati la o tensiune suficient de mare li se poate asocia o
unda a carei lungime de unda sa fie comparabila cu distanta interplanara.Pentru electonii incidenti
,cristalul actioneaza ca o retea de difractie datorita asezarii ordonate a atomilor . Distanta interplanara
va fi determinata prin masurarea diametrelor inelelor de interferenta si a tensiunii de accelerare.
2. CONSIDERATII TEORETICE
In conformitate cu relatia de Broglie ,unei particule aflata in miscare si avand impulsul p, i se poate
asocia o unda cu lungimea de .

h
p

unde h = 6.6251034 Js este constanta lui Planck.

Impulsul p poate fi calculat folosind teorema de variatie a energiei cinetice pentru particula accelerata
la tensiunea U:
Ec eU

p2
eU
2m

Astfel,lungimea de unda asociata electronului devine:

2meU

h
2meU

unde e = 1.6021019 As (Sarcina electronului ) and

m = 9.1091031 kg (masa de repaus a electronului).
Fig. 1: Reflexia Bragg
La tensiunea utilizata ,masa particulei poate fi aproximata cu masa de repaus cu o eroare de numai
0.5%.
Fasciculul de electroni cade pe policristalul de
grafit si este reflectat de atomii din nodurile retelei
.Fasciculele reflectate de atomii din plane reticulare
diferite interfera ,obtinandu-se maxime si minime de
interferenta

.Punand

conditia

de

maxim

de

interferenta ,Bragg a obtinut urmatoarea relatie :

2dsin = n,

n = 1, 2,

Fig. 2: Tubul de difractie a electronilor

unde d este distanta interplanara si este unghiul Bragg
(unghiul dintre fasciculul de electroni si planele reticulare). In
policristalul de grafit ,legatura dintre diferitele straturi cristaline
(Fig. 3) este rupta, asa ca orientarea lor este intamplatoare.
Fasciculul de electroni este deci raspandit in forma de con si
produce o figura de interferenta (inele de interferenta)pe un ecran
fluorescent. Unghiul Bragg

poate fi calculat plecand de la

raza inelelor de interferenta sau poate fi considerat ca este

jumatatea unghiului de deviatie (Fig. 2) :
= 2
Fig. 3: Reteaua cristalului de grafit.
Din Fig. 2
sin(2) = r / R
unde R = 65 mm este raza tubului de sticla.
Cum ,
sin(2) = 2sincos
si pentru ungiuri mici (cos 10o = 0.985) ,putem aproxima

5
sin(2) 2sin

sin sin(2) / 2 sin r / 2R.

Pentru unghiuri mici obtinem

sin = sin(2) 2sin sin sin / 2 sin r / 4R.
Inlocuind in conditia de difractie dupa Bragg,obtinem:
2dr / 4R = n,

n = 1, 2,

r = n(2R/d),

n = 1, 2,

Astfel,daca masuram r pentru diferite valori ale lungimii

de unda (determinate de diferite valori ale tensiunii de
acccelerare U) si apoi reprezentam raza r in functie de ,
vom obtine un grafic de forma liniara cu panta n(2R/d).
Cele doua inele se datoreaza reflexiilor electronilor de catre
planele reticulare ale caror distante interplanare sunt d1 and
d2 (Fig. 4), pentru n = 1. Astfel panta graficului este 2R/d.
3. EXPERIMENTUL
3.1. Aparatura folosita

Tub pentru difractia electronilor

Montaj pe stanga

Tub pentru difractia electronilor

Sursa de inalta tensiune , 0 10 kV

Montaj pe dreapta

Cabluri de interconectare , 30 kV (cu rezistenta 10 M)

Sursa de tensiune , 0 600 V

Vernier

6 cabluri de legatura

3.2.

Dispozitivul experimental

Fig. 1: Dispozitivul experimental asamblat

7
1. Realizati dispozitivul experimental ca in Fig. 1.
2. Conectati tubul de difractie al electronilor ca in Fig. 2.

Fig. 2: Diagrama circuitului realizat pentru a conecta tubul de difractie la sursa de curent

d.c. sursa de curent

Sursa de inalta tensiune

Fig. 3

3. Conectati sursa de inalta tensiune la anodul G3 prin rezistanta de protectie de 10 M ca in Fig. 4

Fig. 4: Diagrama schematica care arata cum este conectat tubul de difractie la sursa de tensiune
3.3. Masuri de siguranta
1. Acest dispozitiv foloseste curent relativ mare ,motiv pentru care trebuie luate mauri de siguranta .
2. Spotul stralucitor din centrul ecranului poate distruge stratul fluorescental tubului . De aceea se
recomanda reducerea intensitatii luminoase dupa fiecare citire .
3.4. Modul de lucru
1. Fixati tensiunea G1 la -50 V folosind cel de-al doilea buton al sursei.
2.

Fixati tensiunea G4 la aproape 0 V folosind cel de-al treilea buton al sursei.

3. Cresteti incet tensiunea de la sursa de inalta tensiune pana cand pe ecranul fluorescent apar inelele
de difractie. Vizibilitatea inelelor de ordine superioare depinde de intensitatea luminii din laborator
si de tensiunile aplicate la G1 and G4. Figura de difractie ar trebui sa apara cand tensiunea
aplicata este de aproximativ 4 kV.
D1 Diametrul primului inel
D2 Diametrul celui de-al IIleadoilea inel of 2nd ring

D1
D2

Fig. 4: Figura de difractie care apare pe ecranul fluorescent

4. Incepeti cu o tensiune mai mica, masurati diametrele D1 si D2 utilizand vernierul . Repetati
masuratorile pana la tensiuni de aproximativ 5 kV.
5. Calculati lungimea de unda asociata electronilor cu formula

h
2me eV

,unde me este masa

electronului, e este sarcina elementara si V este valoarea tensiunii de accelerare a electronilor .

6. Aflati razele primelor doua inele pentru diferite tensiuni aplicate .
7. Trasati graficul razelor r1 si r2 in functie de . Panta dreptelor obtinute este

2R
si , respectiv
d1

2R
,unde R este raza tubului de sticla (6.5 cm) si di reprezinta distantele interplanare in crisyalul
d2

d grafit.

4. DATELE EXPERIMENTALE
1. Fig. 5 arata rezultatele experimentale :

10

Fig. 5: Rezultate experimentale

11
2. Se poate observa ca s-au obtinut diferente fata de valorile reale (d1 = 164 pm in loc de 213 pm, d2 =
96 pm in loc de 123 pm).Aceste erori se datoreaza faptului ca masurarea diametrului inelelor este
dificila si nu foarte corecta .
3. Acest experiment implica doua importante concept in fizica moderna relatia de Broglie privind
lungimea de unda asociata unor particule in miscare si relatie de difractie dupa Bragg . Deci poate
fi folosit pentru:
- a demonstra valabilitatea ipotezei be Broglie privind caracterul ondulatoriu al microparticuleleor
aflate in miscare
-calculul constantelor unor retele cristaline.
APLICATII PRACTICE ALE DIFRACTIEI ELECTRONILOR

Microscopul electronic este un tip de microscop folosete electroni pentru a ilumina

specimenul i a crea o imagine mrit a acestuia. Microscoapele electronice au rezoluie
superioar microscoapelor cu lumin, i pot mri de mult mai multe ori imaginea. Unele
microscoape electronice ajung s mreasc de 2 milioane de ori, pe cnd cele mai bune
microscoape cu lumin mresc de 2 000 de ori.
Primul microscop electronic a fost construit n 1931 de ctre inginerii germaniErnst Ruska
i Max Knoll. Dei primitiv i nepotrivit utilizrilor practice, instrumentul era capabile s
mreasc obiectele de patru sute de ori.
Dei microscoapele electronice moderne pot mri obiectele de pn la dou milioane
de ori, toate se bazeaz pe prototipul lui Ruska. Microscopul electronic este nelipsit n multe
laboratoare. Cercettorii l folosesc pentru a examina material biologic (cum ar fi
microorganisme si celule), diferite molecule mari, probe de biopsie medical, metale i
structuri cristaline i caracteristicile diferitelor suprafee. Microscopul electronic este folosit
extensiv pentru inspecia i asigurarea calitii n industrie, inclusiv, n mod deosebit, n
fabricarea dispozitivelor semiconductoare.
Cel mai puternic microscop din lume a fost anunat la inceputul lui 2008. Transmission
electron aberration-corrected microscope, prescurtat "TEAM" atinge rezoluia de 0,5
ngstrm, in jur de 1 milion de ori mai mic dect diametrul unui fir de pr.

12

Fig 1 :Microscop electronic

Fig 2 : Imagine a unei furnici la microscopul electronic