1 STUDIUL DIFRACȚIEI ÎN LUMINA LASER

1.1. SCOPUL LUCRĂRII

Scopul lucrări este de a studia experimental fenomenul de difracţie a luminii
utilizând reţeaua de difracţie. În experiment se foloseşte ca sursă de lumină un laser și
se va determina constanta rețelei de difracție. Deoarece fenomenul este observat prin
imaginea de interferenţă dată de lumina difractată este necesar să se cunoască şi
fenomenul de interferenţă.

1.2. DIFRACŢIA UNDELOR

Fenomenul de difracţie a luminii apare atunci când în calea undelor de lumină se
interpun obstacole opace sau deschideri cu dimensiuni de ordinul de mărime al
lungimii de undă a luminii. Fenomenul de difracţie nu se poate explica în cadrul
opticii geometrice ale cărei legi, dacă ar fi riguros satisfăcute, ar duce la delimitarea
netă a domeniilor de "umbră" de domeniile "de lumină" dincolo de ecrane şi nu la
obţinerea unei distribuţii complexe a intensităţii luminii.

b a b
δ1
δ2
α α α α

Ecran
F

Figura 1.1 Mersul razelor de lumina într-o rețea de difracție și focalizarea

acestora pe un ecran
Explicarea acestui fenomen precum şi a diferitelor sale proprietăţi se face pe baza
principiului Huygens - Fresnel care afirmă că perturbaţia care se propagă în exteriorul
unei suprafeţe închise ce conţine sursa de perturbaţie este identică cu cea care se
obţine suprimând sursa şi înlocuind-o la un moment t prin surse convenabil
repartizate pe toată suprafaţa închisă.
Se disting două cazuri particulare de difracţie: difracţia în lumină divergentă
(difracţie Fresnel) şi difracţie în lumină paralelă (difracţie Fraunhoffer).
 Vom prezenta pe scurt difracţia Fraunhoffer prin două fante liniare plane şi
echidistante (figura 1.1). Fie b lărgimea fantelor şi a lărgimea peretelui opac dintre
ele, atunci suma a  b  d reprezintă constanta rețelei. Considerăm un fascicul
paralel de lumină monocromatică care are incidenţa normală pe planul fantelor.
Se poate demonstra că amplitudinea oscilaţiilor vectorului luminos în planul focal
al lentilei L este data de expresia
 b 
sin   sin  
E  E0    (1.1)
b
 sin 

unde E0 este amplitudinea oscilaţiilor în planul fantelor.
Amplitudinea rezultantă în urma interferenţei undelor luminoase care provin de la
cele două fante vecine este,
 a  b
E  E  E  2 E  cos   2 E  cos ;   sin  . (1.2)
2 2 2

2 
Intensitatea undei luminoase în F este
2
  b  
 sin     2  a  b 
I   I 0      cos   sin   . (1.3)
 b  sin     
  
Ip

Difracţia pe o fantă

a) b) k
Figura 1.2 Spectrul de difracție pentru diferite rețele de difracție.
Imaginea de difracţie corespunzătoare lui (1.3) este reprezentată în figura 1.2a.
Curba punctată corespunde imaginii de difracţie pe o fantă, pentru care condiţia de
maxim este:
 1  b  sin k  k  , (1.4)
unde reprezintă ordinul de difracție.
În figura 1.2b este reprezentată intensitatea luminii pentru o rețea de difracție cu
N  5 fante, iar cu cât numărul de fante crește maximele principale devin din ce în
ce mai bine conturate.
Această imagine modulează imaginea de interferenţă datorată fasciculelor
provenită de la cele două fante pentru care condiţia de maxim este
 2   a  b   sin  k  k  . (1.5)
Deoarece a  b  b , pentru acelaşi N , peste un maxim de difracţie se suprapun
mai multe maxime şi minime de interferenţă.
În cazul utilizării unei reţele cu N f fante plane paralele şi echidistante între
poziţia franjelor luminoase principale se vor găsi N f  1 minime, franjele luminoase
de acelaşi ordin dar de lungimi de undă diferite fiind separate între ele.

1.3. ARANJAMENTUL EXPERIMENTAL

Montajul experimental este reprezentat în figura 1.3.
RD
E

Ls
ym

SL SR D

Figura 1.3 Montaj experimental pentru studiul difracției luminii

Montajul experimental este alcătuit din: suport pentru laser ( SL ), laser
semiconductor ( Ls ), suport pentru reţea ( SR ) şi reţea de difracţie ( RD ) şi un ecran
( E ) cu hârtie milimetrică.
Se trimite fascicolul laser perpendicular pe reţeaua de difracţie şi se observă
imaginea de difracţie –interferenţă de pe ecran. Cu ajutorul unei rigle milimetrice se
măsoară distanţa dintre planul reţelei şi planul ecranului D . Cu aceeaşi riglă sau
folosind diviziunile hârtiei milimetrice de pe ecran se măsoară distanţele de la
mijlocul maximului central ( k  0 ) la mijlocul maximelor de ordin superior (
k  1, 2, 3,... ) xk .
Folosind aceste date se poate calcula mai întâi unghiul sub care are loc formarea
unui maxim de difracție
  xk 
 k   arctg   . (1.6)
D
Constanta rețelei se poate determina din (1.5)
k
d . (1.7)
sin( k )

1.4. MODUL DE LUCRU

Pentru aflarea constantei rețelei se procedează cum urmează:
1. Se conectează laserul (Atenție! Deși LASER-ul este unul obișnuit de mică putere, a
nu se uita direct în fasciculul laser! Pericol de afectare ireversibilă a retinei!).
2. Se observă maximele de difracție obținute pe ecran (hârtie milimetrică) și se măsoară
distanța D dintre ecran și rețeaua de difracție.
3. Se marchează pe hârtia milimetrică poziția maximelor de difracție.

4. Se măsoară distanțele xk de la maximul central ( k  0 ) până la maximele secundare

de diferite ordine (maximele secundare din stânga se notează prin valori negative,
k  1,  2,.... ).
5. Se întocmește tabelul de mai jos și se calculează pe rând  și d cu ajutorul relațiilor
(1.6) și (1.7) se consideră lungimea de undă a radiației   637 nm .

Nr. Crt. k xk (mm) (rad) d (m) d (m)

1.
2.
…….
n.

6. Se calculează valoarea medie a constantei de rețea d și după efectuarea calculului

erorilor rezultatul se scrie sub forma d  d  d .