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probab ca un sist sa isi indepl fct de baza in cond de fct cunoscute, intr-un interval
de timp dat; R(t)=P(T>t);Fct de nefiabilit (de repartitie a timpilor de fct) F(t)= P(T≤
t);Prop fct de fiabilitate: 1.R(t) este strict descrescatoare cu val maxima=1 pt t=0;
2.R(t)->0 pt t->∞ ; 3.R(t)+F(t)=1 (piesa fie functionala, fie defecta);Model mathematic
∫ ¿ ¿e la -∞ la t) f(t)*dt; R(t)= 1-F(t)=1-integrala => f(t)=dR(t)/dt=-
fct fiab: F(t)=
dF(t)/dt; prob defectarii intr-un interv de timp: ∫ ¿ ¿ e la 0 la t) f(t1)*dt -∫ f
(t2)*dt=R(t1)-R(t2); Intensitatea de defectare(rata caderilor) z(t)-rap dintre
probabilit defectari in intervalul t1 t2 si marimea intervalului t1 t2 cu cond sa nu se fi
produs inainte de t1; Z(t)=(R(t1)-R(t2)/t1-t2)*1/R(t1); intensitatea instantanee:
Z*(t)=lim(Δt->0)R(t)-R(t+Δt)/(R(t)*Δt)= -d*ln*R(t)/dt; lnR(t)=- ∫ ¿ ¿la
t)Z(t)*dt=>R(t)=e^(- ∫ ¿ ¿ 0 la t)Z(t)*dt); F(t)=1-R(t);
Legi de repartitie: 1.exponentiala- e caracterizata pin faptul ca intensitatea de
defectare e proportional cu marimea intervalul; Z(t)= λ =ct; R(t)=e^(- ∫ ¿ ¿0 la ∞ ) λ
*dt)=e^(-λ*t); F(t)=1-e^(-λ*t); f(t)=dF(t)/dt=λ*e^(-λ*t); Z(t)=f(t)/R(t)=(λ*e^(-λ*t))/
e^(-λ*t)); MTBF=m= ∫ ¿ ¿0 la∞ ) R(t)*dt=∫ e^(- λ *t)*dt=>m=1/λ=>Z(t)=1/m; Pt
repartitia exp fct de fiabil este strict descresc, fara pct de inflexiune. Rep
exponentiala e valabila pt produse care nu sufera procese de uzura sau imbatranire
(sist electronice, sist mecanice de complexitate mare.
Det indicatorilor de fiabilitate prin incercari simuland conditiile de fct ale automob;