5

SUBIECTE EXAMEN
1
2
3
4

2.1. Indicatori de fiabilitate

2.2. Modelarea uzurii echipamentelor
2.4.1. Procese de rennoire (2.40)
2.4.2. Strategii de rennoire (fr ex.)

5
6
7

3.1. Modelul funcional

3.2. Modelul logic + comparaia MF-ML (3.21)
3.2.1. Metode de analiz a fiabilitii echipamentelor descrise prin modele
logice (3.40)
8
3.2.2. Metode algebrice de analiz a fiabilitii echipamentelor descrise
prin modele logice (3.55 excl.) ???
9
3.3. Modelul proceselor Markov pt. sisteme serie (3.87)
10 3.3.Modelul proceselor Markov pt. sisteme paralel
11
12
13
14
15
16
17
18

19
20

4.3. Structuri redundante pentru implementarea toleranei la defectri

4.3.1. Structuri redundante statice de tip individual i global rezultate prin
multiplicare. Structura redundant logic ajoritar
4.3.1.2. Structuri redundante statice cu logic cvadrupl
4.3.2.1. Structuri redundante hibride.
4.3.2.2. Structuri redundante pentru interconexiunile unui echipament
5.2.1. Metode de generare a secvenelor de test pentru circuite logice
5.2.2. Strategii de elaborare a secvenelor de test pentru echipamentele
mari
5.3. Metode de derulare a testelor
5.4. Sisteme autotestabile
5.6. Probleme specifice ale tehnicilor de implementare a toleranei la
defectri
6.1.2. Principiul strategiei evolutive de rennoire
6.2. Structura sistemului evolutiv de rennoire

21 8.2., 8.3. , 8.4. ncercri cenzurate. ncercri trunchiate. ncercri

accelerate