Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Conductivitatea electric
Sarcinile electrice mobile dintr-un material conductor se pot deplasa sub
aciunea unui cmp electric aplicat din exterior. n acest fel rezult un curent
electric "I" care este legat de cderea de tensiune pe material "U" prin legea lui
Ohm:
U/I = R (1)
[U]SI =V (Volt) [I]SI =A (Amper) [R]SI= (Ohm)
unde constanta R este rezistena electric a dispozitivului.
c a m p e le c tr ic
L
S
c u re n t
e le c tr ic
e le c t r o n i v ite z a d e d r ift
= q2n/m = qn (9)
[]SI = 1m 1 (S/m, Siemens/m sau mho/m)
ce depinde doar de constante universale i proprieti de material, fiind din
aceast cauz o proprietate de material. Rezistivitatea electric "", este
inversul conductivitii:
= 1/ []SI = m (10)
Rezistena electric se va putea exprima n funcie geometria dispozitivului,
seciunea "S" i lungimea "L" i rezistivitatea electric "" a materialului din
care este fcut:
R = L/S (11)
Conductivitatea electric a materialelor la temperatura camerei variaz n limite
foarte largi de la cea a argintului 6,2107 1m1 pn la cea a parafinei de 10 16
1m1:
metale pure de ordinul a 1071m1;
aliaje peste circa 105 1m1;
semiconductori ntre 107 i 104 1m1;
izolatori sub 1011 1m1.
Materialele semiconductoarea au o conductivitate electric cuprins ntre cea a
metalelor i cea a izolatorilor (la temperatura camerei). Rezistivitatea electric a
semiconductorului depinde de obicei puternic de temperatur, scaznd cu
creterea temperaturii, au coeficient negativ de temperatur, n opoziie cu
metalele a cror rezistivitate crete cu creterea temperaturii, au coeficient
pozitiv de temperatur (figura 2).
Din formula (9) a conductivitii electrice se vede c singurele mrimi ce se pot
modifica cu schimbarea temperaturii sunt timpul de relaxare i concentraia
electronilor. La metale modificarea rezistenei electrice cu temperatura se
datoreaz variaiei timpului dintre ciocniri cu temperatura, la semiconductori
datorit numrului de purttori.
35
30
25
Rezistenta
20
15
10
0
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
Temperatura (Celsius)
s s s
p ro b a
Figura 3. Metoda celor 4 contacte.
La probe ce nu pot fi considerate semiinfinite se aplic relaia:
=2sU/(CI) (13)
unde C este un factor de corecie determinabil. (Gh. Zet, Dodu Ursu, "Fizica
Strii Solide. Aplicaii n Inginerie", Editura Tehnic 1989) Alte metode se pot
consulta n anexa "Msurarea rezistivitii electrice a semiconductorilor".
Efectul Hall
Exist un fenomen fizic care ne d posibilitatea de-a msura densitatea
purttorilor mobili de sarcin, efectul Hall. Efectul Hall se datoreaz cmpului
magnetic, respectiv forei Lorentz care acioneaz asupra sarcinilor electrice n
micare. Ecuaia forei Lorentz "FL" ce se exercit asupra particulelor ncrcate
electric cu sarcina "q" ce se mic cu viteza "v" ntr-un cmp magnetic de
inducie "B" este:
FL = q (v B) (14)
p ro b a
cu ren t b
_
+
s u rs a d e te n s iu n e
Figura 5. Montaj tipic pentru msurarea tensiunii Hall. Contactele plasate n
punctele "a" i "b" culeg de obicei i o cdere de potenial rezistiv pe lng
tensiunea Hall.
Figura 5 prezint un montaj pentru msurarea tensiunii Hall. Ca s eliminm
cderea de tensiune rezistiv dintre punctele "a" i "b" se msoar tensiunea Uab
cu cmp magnetic i fr cmp magnetic, iar diferena este chiar tensiunea Hall:
UH = Uab(B) Uab(0) (19)
Cunoscnd tensiunea Hall se determin concentraia de purttori mobili de
sarcin. n semiconductorii puri alura curbei concentraiei de purttori n
funcie de temperatur este similar cu cea a conductivitii electrice (figura 6).
Aceste date experimentale confirm c variaia dup temperatur a
conductivitii se datoreaz variaiei n funcie de temperatur a numrului de
purttori mobili de sarcin electric din semiconductor.
16
14
12
10
1/R
8
6
4
2
0
0 20 40 60 80 100
Temperatura (Celsius)
n iv e l n iv e l
sem i banda ocupat banda de
ocupat s e m io c u p a ta v a le n ta
p lin a
Figura 1. n materialele solide un nivel de energie atomic devine band de
energie.
Dac atomul are doar un electron de valen pe acest nivel "s", atunci n cristal
vor fi doar N electroni care ocup doar jumtate din strile din banda de
valen. Materialul va fi un metal ce va conduce bine curentul electric, fiindc
electronii pot prelua energie de la un cmp electric aplicat din exterior i trece
pe nivele de energie superioare, acestea fiind libere.
Dac atomul are doi electroni de valen pe nivelul "s", banda de valen va fi
ocupat n ntregime, materialul cristalin va fi un izolator. Un cmp electric
extern nu poate transfera energie electronilor fiindc acetia nu au stri de
energie superioar libere. Adevrul este c exist stri libere cu energie mai
mare, dar acestea se gsesc n banda de conducie, aflat peste banda
interzis, la o deprtare energetic prea mare fa de energia care o poate da
electronilor un cmp electric uzual.
Ocuparea strilor din band se face de ctre electroni conform funciei de
distribuie Fermi-Dirac:
f(E)=1/(e(E F) / (kT) + 1) (1)
care ne spune care este probabilitatea de ocupare a nivelului cu energia "E", la
temperatura "T" (n grade Kelvin, K). "F" este energia nivelului Fermi
(practic media aritmetic a energiei ultimului nivel ocupat cu primul nivel liber,
riguros energia pentru care probabilitatea de ocupare este 1/2), iar k =constanta
Boltzmann =1,3810 23 J/K.
P ro b a b ilita te
1
E n e rg ie F e rm i
0 ,5
E n e rg ie
0
n iv e le k BT n iv e le
o c u p a te lib e re
Figura 2. Funcia de distribuie Fermi-Dirac.
Pentru semiconductori energia E F fiind mare (>0,1eV) comparativ cu
energia termic kT(~25 meV la 27C) se poate neglija termenul unitate de la
numitor fa de exponenial, iar funcia de distribuie devine:
f(E)=e (E F ) / k T (2)
funcia de distribuie clasic Boltzmann.
La zero grade Kelvin un semiconductor este izolator din punct de vedere
electric deoarece electronii se afl n banda de valen care este complet plin.
Un cmp electric extern uzual nu ar putea modifica energia electronilor fiindc
acetia ar avea nevoie de-o energie cel puin egal cu lrgimea benzii de
energie interzis, aflat ntre banda de valen i cea de conducie.
La temperatura camerei, din cauza agitaiei termice, o parte foarte mic a
electronilor din banda de valen sunt excitai n banda de conducie. n acest
fel apar purttori de sarcin electric negativ mobili n banda de conducie
electronic, electronii, i purttori de sarcin pozitiv mobili n banda de
valen, golurile. Sub aciunea unui cmp electric extern aceti purttori de
sarcin mobili se pot mica, genernd un curent electric. Deci pn la urm
mrimea ce condiioneaz apartenena unei substane la categoria materialelor
semiconductoare este mrimea zonei interzise de energie, izolatorii fiind cu
zone interzise peste 4eV. (1eV = 1,61019C 1V = 1,61019 J)
E n e rg ie
Banda
de
c o n d u c tie
e le c t r o n i E C
E n e r g ie banda
F
F e rm i in te rz is a
E
g o lu r i V
Banda
de
v a le n ta
p o z it ie
Figura 3. Din cauza agitaiei termice electroni din banda de valen sunt
excitai n banda de conducie.
Proprieti semiconductoare prezint elementele chimice din grupele III, IV, V
i VI ca B, Si, Ge, Se, Te. Pe lng semiconductorii elementari sunt larg folosii
compuii binari, cu formula chimic AB, unde A este un element trivalent, iar
B este pentavalent, compui III-V (ca InSb i GaAs) sau A este un element un
element bivalent iar B este hexavalent, compui II-VI ca ZnS, ZnO i CdS sau
compui IV-IV precum carbura de siliciu, SiC.
Semiconductor Si Ge Se Te InSb InP GaP PbS CdS
Zona interzis 1,15 0,67 0,8 0,33 0,23 1,29 2,32 0,34 2,5
(eV)
= oe E / (2 kT) (12)
sau pentru rezistivitatea electric:
R(T)=ReB/T (14)
unde constanta B se poate exprima prin intermediul valorilor rezistenei
electrice la dou temperaturi diferite:
B =[T1T2/(T2 T1)] ln(R1/R2) (15)
de obicei 25 C (298K) i 85 C (358K), concret:
B =1780ln(R25/R85), [B]SI =K (16)
Unitatea de msur pentru mrimea B este gradul Kelvin. Mrimea B este o
constant de material, lucru care se poate vedea prin compararea relaiilor (13)
i (14) de unde se deduce:
B =E /(2kB) (17)
adic B este direct legat de mrimea zonei interzise a materialului
semiconductor.
Coeficientul de temperatur al rezistenei electrice a termistorului, panta
tangentei la curba rezistenei n funcie de temperatur, se definete prin
analogie cu materialele metalice ca:
= (1/ R) dR /dT = B/T 2 []SI = C 1 (18)
El se exprim de obicei n procente pe grad (%/C).
TERMISTORUL
Denumirea "termistor" este o combinare a cuvintelor englezeti "thermally
sensitive resistor" (rezisten sensibil termic), ce descrie cu exactitate funcia
de baz a dispozitivului, de a-i schimba predictibil rezistena electric n
funcie de schimbarea temperaturii sale absolute.
Termistorul NTC (Negative Temperature Coefficient, coeficient negativ de
temperatur) este un dispozitiv semiconductor relativ simplu, cu dou
terminale. Este realizat din amestecuri sinterizate de oxizi ai metalelor de
tranziie ca manganul, cobaltul, nichelul, fierul, cuprul, uraniul. Spre deosebire
de metale, la care rezistena electric crete cu temperatura, la termistori
rezistena scade cu creterea temperaturii lor:
R(T) = AeB/T (1)
unde: A = constant ce depinde de geometria dispozitivului;
T = temperatura n grade Kelvin;
R = rezistena la temperatura T;
B = constant a materialului semiconductor, msurat n K,
sau:
lnR = lnA + B(1/T) (1')
35
30
Rezistenta (kOhm)
25
20
15
10
0
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
Temperatura (grade Celsius)
2
lnR
0
2.6 2.8 3 3.2 3.4 3.6
-1
1000/T(K)
R = Ro e B (1/T1/To) (5)
Ecuaia Steinhart-Hart este cea mai bun formul empiric pentru descrierea
curbei rezisten electric-temperatur la termistori:
1/T = a+b lnR+c(lnR)3 , (6)
Parametrii utilizai pentru a descrie caracteristicile oricrui termistor sunt:
rezistena electric nominal la 25C;
raportul rezistenelor pentru dou temperaturi date (25C i 85C);
coeficientul de temperatur al rezistenei:
= (1/R)dR/dT = B/T2 exprimat n %/C; (7)
puterea disipat maxim;
coeficientul de disipaie termic "K";
constanta de timp termic "";
domeniul de temperatur, Tmin i Tmax .
Cauza schimbri temperaturii termistorilor poate fi:
extern, datorit temperaturii mediului ambiant,
intern, rezultat al trecerii curentului prin dispozitiv (autonclzire),
combinat (extern + intern).
Dac un termistor este parcurs de un curent electric temperatura sa se crete
pn cnd cldura degajata prin efectul Joule este echilibrat de schimbul
termic cu mediul ambiant. Autonclzirea este determinat de forma sa
geometric, de montura aleas, de dimensiunea i materialul terminalelor i de
orice alt factor ce poate contribui la disiparea cldurii. Puterea ce trebuie
disipat este generat electric, adic:
P=RI2 = U2/R (8)
Termistorul avnd temperatura "T" mai mare dect cea mediului "To", transfer
mediului (disip) puterea termic:
P'=K(TTo)=KT (9)
de unde coeficientul de disipaie termic K este:
K = P'/T [W/C, mai util mW/C] (10)
i msoar puterea electric necesar pentru meninerea termistorului cu 1C
deasupra temperaturii ambiante.
n stare staionar, cnd se echilibreaz puterea generat electric cu cea disipat
termic, avem:
P = RI2 = U2/R = K (TTo) (11)
Folosind relaia rezistenei electrice a termistorului gsim:
U2 = K (TTo) A eB/T , (12)
sau:
2 lnU = lnK + ln(TTo) + lnA + B/T (13)
Aceast funcie are un maxim cnd:
d(lnU)/dT= 0 (14)
Explicit este:
1/(TTo) B/T2 =0 sau T2 BT + BTo = 0 (15)
cu soluia fizic acceptabil:
Tmax = (B/2)[1(14To /B)1/2 ] (16)
pentru temperatura corespunztoare tensiunii maxime pe termistor:
Umax = [K (Tmax To)AeB/Tmax ]1/2 (17)
U (V ) C u r b a c u r e n t- te n s iu n e
p e n tr u te r m is to r
U m ax
I(m A )
T
R '
+E
In s tru m e n t
R R "
R '
+E T
In s tru m e n t
R
T
T U
+E out
R
T R out
+E
R 3
R 1 R 2
T
U out
U
T
R
R e le u
s p re
in c a lz ito r
Figura 6. Control de temperatur cu un termistor ca termometru i un releu ce
comand rezistena de nclzitre.
Un control mult mai precis se obine plasnd termistorul ntr-o punte alimentat
n curent alternativ ce are pe diagonala de msurare un amplificator cu ctig
mare cu ieirea pe un releu. Sistemul poate fi un simplu control on/off (deschis/
nchis) al unui tranzistor ce acioneaz un releu sau controler proporional-
integral cu bucl nchis. Se poate obine relativ simplu un control al
temperaturii mai bun de 0,001 oC.
+E
T
T e r m is to r
T
~220V
B ec
Figura 8. Protecia becurilor cu incandescen cu termistor de limitare a
curentului de pornire.
O aplicaie similar este legat de sursele de alimentare n comutaie ce au
imediat dup redresor un condensator electrolitic de capacitate mare. La
pornire, condensatorul fiind descrcat, curentul absorbit din reea este foarte
mare, limitat fiind doar de rezistena electric R. Aceasta ar trebui s aibe o
valoare mare la pornirea sursei, pn la ncrcarea condensatorului, dup care
valoarea ar trebui s tind la zero. Un termistor realizeaz acest funcie fiindc
la pornire este rece, rezistena sa electric este mare, iar dup ce este nclzit de
curentul ce trece prin el rezistena lui electric devine mic.
+
R T C E
R
P u n te S
U~
_
L ic h id T e r m is to r r e c e
B e c s t in s
U ~ U~
T e r m is to r c a ld
Figura 11. Arderea unui bec dintr-o ghirland determin nclzirea
termistorului aflat n paralel cu el i oferind astfel o cale cu rezisten mic
pentru curent menine aprinse celelalte becuri.
9. Msurarea puterii . Se pune un termistor de 2000 ntr-o punte cu
rezistene de 200. Se alimenteaz puntea printr-o rezisten variabil n serie
cu ea. Se regleaz gradual curentul de alimentare pn cnd termistorul se
nclzete suficient ca s ajung la 200 i puntea s fie echilibrat. Curentul
se poate msura i puterea disipat pe termistor se calculeaz. Aplicnd
termistorului putere de nalt frecven prin intermediul unor capaciti
electrice corespunztoare acesta se va nclzi suplimentar dezechilibrnd
puntea. Reducem curentul continuu de alimentare a punii pn cnd puntea se
reechilibreaz. tiind noul curent se poate calcula noua putere de curent
continuu disipat pe termistor. Diferena dintre prima i a doua putere disipat
pe termistor reprezint chiar puterea de nalt frecven.
10. Altimetru . Se plaseaz un termistor la suprafaa unui lichid ce este adus la
fierbere prin nclzire. Rezistena electric a termistorului este determinat de
temperatura de fierbere a lichidului. Temperatura de fierbere a lichidului este
dependent de presiunea aplicat lichidului, care presiune este determinat de
altitudine. Acest dispozitiv, numit hipsometru, este foarte sensibil i poate
msura altitudinea de la nivelul mrii, 0 m, pn peste 38 000 m cu o eroare
mai mic de 1% din presiunea msurat.
11. Msurarea conductivitii termice a gazelor . Folosit n modul
autonclzit temperatura unui termistor crete datorit curentului ce trece prin el
pn cnd puterea electric primit egaleaz puterea termic disipat. O
schimbare n conductivitatea termic a mediului va modifica viteza de disipare
a cldurii de ctre termistor i implicit temperatura sa, respectiv rezistena sa
electric.
n catarometre, aparate care msoar conductivitatea termic a gazelor, se
folosesc dou termistoare identice plasate simetric (nu diagonal) pe braele
adiacente ale unei puni Wheatstone alimentate n punctul de jonciune a
termistorilor. Tensiunea aplicat trebuie s fie suficient de mare ca s
nclzeasc termistorii peste temperatura mediului, tipic n jur de 150 oC.
Celelalte dou rezistene din punte trebuie s aibe o valoare mai mare dect
valoarea absolut a rezistenei dinamice negative (raportul dU/dI de pe curba
U-I a termistorului) pentru a asigura stabilitatea punctului de funcionare a
circuitului. Rezistena intern a instrumentului plasat pe diagonala de msurare
a punii trebuie s fie mai mare dect suma rezistenelor dinamice a
termistorului.
Un termistor este montat ntr-o zon cu mediu cunoscut, adic este nconjurat
de un gaz sau un amestec de gaze cu conductivitate termic bine determinat.
Cellalt termistor se plaseaz n mediul care trebuie monitorizat. Orice
schimbare a conductivitii termice a acestui mediu va modifica rata de disipare
a cldurii care se va traduce ntr-o variaie a rezistenei electrice a termistorului
datorit modificrii temperaturii sale. Modificarea rezistenei va dezechilibra
puntea, dezechilibru vizibil pe instrumentul de msur ce poate fi gradat direct
n uniti de msur potrivite (% gaz de msurat).
ntr-o aplicaie tipic cei doi termistori sunt plasai n dou caviti separate ale
aceluiai bloc metalic (ideal din argint care are cea mai mare conductivitate
termic, dar de obicei din cupru, alam sau aluminiu) pentru a se asigura
aceeai temperatur a mediului termistorilor. Cnd este aer n ambele caviti
puntea este echilibrat. Dac aerul dintr-una din caviti este nlocuit (parial
sau total) de bioxidul de carbon termistorul respectiv devine mai cald din cauza
conductivitii termice mai mici a CO2 fa de aer. Tensiunea de dezechilibru a
punii este practic direct proporional cu concentraia CO2 n gazul msurat.
Un astfel de instrument poate avea capt de scal 0,5% CO2 n aer (domeniu de
msur 0 0,5% CO2 n aer) folosind amplificatoare pentru semnalul de
dezechilibru al punii.
Cu mici modificri acest aranjament poate fi folosit ca debitmetru ce poate
msura debite de ordinul a 1mm3 /min, iar raportul ntre cel mai mare i cel mai
mic debit msurabil poate fi de 105 /1. ntr-un montaj asemntor termistorii
pot fi utilizai ca joje de vid pe un domeniu de la 10 Torr pn la 105 Torr.
IMPURITI N SEMICONDUCTORI
Semiconductori cu impuriti
Vom examina restriciile care trebuie s le satisfac concentraiile purttorilor
de sarcin elecrtic ntr un semiconductor n condiii de echilibru, adic la
temperatur constant i fr cureni electrici. ntr-un semiconductor exist
patru clase de particule ncrcate cu sarcini electrice :
=> particule cu sarcin pozitiv :
1. goluri mobile, p, aflate n banda de valen ;
2. ioni donori, Nd+, cu nivele de energie Ed, n banda interzis, foarte aproape
de fundul benzii de conducie;
=> particule cu sarcin negativ :
1. electroni mobili, n, aflai n banda de conducie ;
2. ioni acceptori, Na, cu nivele de energie Ea, n banda interzis, foarte
aproape de vrful benzii de valen.
Simbolurile n, p, Nd i Na reprezint concentraia volumic a respectivei
particule ncrcate cu sarcina elementar "q" cu semnul corespunztor.
Densitatea local de sarcin se poate scrie :
= q(p n + Nd+ Na) (6)
iar ca o consecin a conservrii sarcinii electrice, densitatea local de sarcin
trebuie s fie zero, de unde :
n p = Nd+ Na (7)
Semiconductor cu impuriti donoare
Folosind ecuaia de neutralitate i legea aciunii maselor putem determina
poziia nivelului Fermi i concentraia purttorilor de sarcin n funcie de
temperatur. Nd fiind concentraia impuritilor donoare, putem evalua numrul
de electroni nd care se afl pe nivelele de impuritate cu ajutorul funciei de
distribuie FermiDirac:
nd = Nd /(e(Ed F) / (kT) +1) (8)
Numrul electronilor pierdui de impuritatea donoare este egal cu numrul
impuritilor donoare ionizate Nd+ :
Nd+ = Nd nd = Nd(e(Ed F) / (kT)) /(e(Ed F) / (kT) +1)
Nde(Ed F) / (kT) (9)
dac exponentul (Ed F)/(kT) < 3, fiindc atunci e(Ed F) / (kT) <<1.
Electronii din banda de conducie se obin pe baza ionizrii impuritilor
donoare Nd+ i a formrii golurilor n banda de valen, ecuaia de neutralitate
devenind pentru un semiconductor de tip n :
n = p + Nd+ (10)
n plus avnd legea maselor:
np = ni2 = NcNveE / (kT) (11)
care ne spune c ntr-un semiconductor nedegenerat, n condiii de echilibru,
produsul concentraiilor electronilor i golurilor nu depinde de poziia nivelului
Fermi "F" i nici de prezena n semiconductor a impuritii, fiind egal cu
ptratul concentraiei din semiconductorul intrinsec. Aceast lege ne permite s
aflm concentraia uneia dintre componente atunci cnd cealalt este cunoscut:
p = ni2/n = NcNve E / (kT) /n (12)
Electronii liberi iau natere prin ionizarea impuritii i a substanei de baz.
Pentru transferarea unui electron din banda de valen n banda de conducie
este necesar o energie egal cu lrgirea zonei interzise E=Ec Ev , iar
transferarea unui electron de pe un nivel al impuritii donoare n banda de
conducie este necesar o energie egal cu energia de ionizare a impuritii
Ed= Ec Ed . Fiindc energia de ionizare a impuritii Ed este de ordinul
sutimilor de electron-volt , iar lrgimea zonei interzise E este de ordinul
electron-voltului cele dou procese vor juca roluri diferite n funcie de
temperatur.
La temperaturi joase rolul principal va fi jucat de ionizarea impuritilor i din
acest motiv golurile din banda de valen vor fi mult mai puine dect
impuritile ionizate:
p Nd+ (13)
Aceast inegalitate se va menine att la temperaturi joase, ct i la
temperaturi intermediare unde ionizarea impuritii este complet:
Nd+ = Nd (14)
pn cnd prin creterea temperaturii, ionizarea materilului de baz devine
suficient de intens nt concentraia intrinsec depete concentraia
donatorilor:
ni > Nd (15)
iar semiconductorului devine intrinsec la temperaturi nalte.
nelesul de temperatur joas sau ridicat este n legtur cu concentraia
impuritilor. Aceeai valoare a temperaturii poate fi joas sau ridicat, n
funcie de concentraia impuritilor i caracteristicile gazdei semiconductoare.
La o concentraie mic, temperatura poate aprea ca fiind ridicat, pe cnd la o
concentraie mare de impuriti ea poate aprea ca o temperatur joas. [se
poate face o discuie pe baz de grafice ni, n, p, Nd+ = f(T)]
La temperaturi joase rolul principal este jucat de ionizarea impuritilor,
ecuaia de neutralitate reducndu-se la:
n = Nd+ (16)
Pentru temperaturi suficient de coborte se poate aplica distribuia Boltzmann
i impuritilor, deci:
n = Nde(Ed F) / (kT) (17)
dar concentraia electronilor din semiconductor este:
n = Nce (Ec F) / (kT) (18)
Combinnd cele dou relaii, obinem pentru nivelul Fermi expresia:
F = (Ed Ec)/2 + (kT/2)ln (Nd/Nc) (20)
nlocuind aceast expresie ntr-una din formulele pentru densitatea electronilor
de conducie, gsim :
n =(NcNd)1/2e (Ec Ed) / (2kT) = (NcNd)1/2eEd / (2kT) (21)
Se remarc poziia nivelului Fermi pentru T 0 ca fiind la mijlocul intervalului
dintre fundul benzii de conducie Ec i nivelul impuritii Ed. Pentru temperaturi
suficient de joase Nc < Nd i termenul ce conine logaritmul este pozitiv,
indicnd o deplasare a nivelului Fermi n sus ctre fundul benzii de conducie la
creterea temperaturii.
Tot n aproximaia temperaturilor joase, dar la temperaturi suficient de mari, Nc
crescnd cu creterea temperaturii, egaleaz concentraia impuritii Nd, care nu
depinde de temperatur. Astfel logaritmul se anuleaz, iar poziia nivelului
Fermi este din nou n mijlocul intervalului [Ed ,Ec]. Deci crescnd temperatura,
poziia nivelului Fermi urc, trecnd printr-un maxim, dup care coboar cu
creterea temperaturii.
n ceea ce privete densitatea electronilor de conducie, se observ din relaia
(21) c numrul lor este direct proporional cu rdcina ptrat a concentraiei
impuritii Nd, iar comportarea n funcie de temperatur este controlat de
factorul exponenial eEd / (2kT), energia de activare fiind jumtate din energia de
ionizare a impuritii Ed.
Mrind suficient de mult temperatura, ionizarea impuritii este total:
Nd+ = Nd (22)
i trecem n domeniul de epuizare (saturaie). Ecuaia de neutralitate este:
n = Nd (23)
care combinat cu ecuaia densitii electronilor de conducie (18), ne permite
determinarea nivelului Fermi:
F = Ec + kT ln(Nd/Nc) (24)
Expresia ne arat c nivelul Fermi coboar cu creterea temperaturii fiindc Nd
Nc. Pe domeniul de epuizare densitatea electronilor de conducie este
independent de temperatur i egal cu concentraia impuritilor.
Evaluarea temperaturii la care apare domeniul de epuizare se poate face n
cadrul aproximaiei temperaturilor joase punnd condiia:
Nd = n = (NcNd)1/2 eEd / (2kT) (25)
de unde:
Te = Ed / [kBln(Nc/Nd)] (26)
Acelai rezultat se poate obine punnd condiia ca nivelul Fermi s coincid cu
nivelul energetic al impuritii:
F = Ed (27)
Mrind n continuare temperatura, concentraia golurilor din banda de valen
crete rapid ajungnd s egaleze concentraia impuritilor i deci a electronilor
de conducie. Semiconductorul este acum n domeniul intrinsec. Estimarea
temperaturii Ti la care semiconductorul devine intrinsec o putem face punnd
condiia ca numrul purttorilor mobili de sarcin pozitiv s egaleze numrul
purttorilor mobili de sarcin negativ:
n = p = Nd (28)
Folosind legea aciunii maselor:
np = Nc Nv e E /( kT) (29)
avem:
Nd2 = NcNve E / (kTi) (30)
de unde:
Ti = (E / kB) ln(NcNv / Nd2) (31)
Temperatura la care semiconductorul devine intrinsec este direct proporional
cu lrgimea zonei interzise a materialului de baz i crete cu creterea
concentraiei impuritilor Nd. Acelai rezultat pentru Ti se obine punnd
condiia ca densitatea intinsec a purttorilor ni s egaleze concentraia
impuritilor:
ni = Nd (NcNv)1/2 eE / (2kTi) = Nd (32)
Poziia nivelului Fermi se obine ca la un semiconductor intrinsec obinuit
egalnd expresia densitii electonilor din banda de conducie cea pe care o
obinem din legea aciunii maselor innd cont c n=p:
Nce (Ec F) / (kT) = (NcNv)1/2e (Ec Ev) / (2kT) (33)
de unde:
F = (Ec+Ev)/2 + (kT/2)ln(Nv / Nc) =
= (Ec+Ev) /2 + (3/4)kTln(m'g /m'e) (34)
Se vede c nivelul Fermi se va deplasa cu creterea temperaturii din mijlocul
zonei interzise ctre banda care are particulele cele mai uoare.
(a )
P N
x
-x P xN
qN D
d e n s ita te a
(b )
d e s a r c in a
-x P s p a tia la
xN x
-q N A
V
(c )
p o t e n tia lu l
V b
x
-x P xN
E
x
-x P xN
(d )
c a m p u l e le c tr ic
-E m ax
P N P N
Banda
lip s a e le c t r o n i
de
c o n d u c tie
EC
FN
V b e le c tr o n i
V b
F P
E V F
g o lu r i D if u z ie
Banda
lip s a g o lu r i de
-x P xN v a le n ta x
x b = [(2/q)(1/Na+1/Nd)Vb]1/2 (14)
O diferen de potenial U aplicat din exterior modific bariera de potenial Vb,
fcnd-o mai mare pentru tensiuni inverse (U<0), plusul pe zona n i minusul
pe zona p, sau mai mic pentru tensiuni directe (U>0), plusul pe zona p i
minusul pe zona n. n mod corespunztor se va modifica i lrgimea stratului de
baraj, aceasta mrindu-se pentru tensiuni inverse i micorndu-se pentru
tensiuni directe:
x b (U) = [(2 /q)(1/Na+1/Nd)(Vb U)]1/2 (15)
Privind jonciunea p-n ca pe un condensator plan, putem evalua capacitatea
stratului de baraj sau capacitatea de barier:
Cb = S /x b (16)
folosind relaia (15) gsim capacitatea pe unitatea de suprafa (S=1m2):
1/Cb2 = 2(1/Na+1/Nd)(Vb U) /(q) (17)
Aceast dependen liniar a lui 1/C2 este caracteristic jonciunilor p-n
abrupte, la care variaia concentraiei dopanilor este de tip treapt ca n figura
1, pentru alte tipuri de variaie a concentraiei se obin alte corelaii ntre
capacitatea stratului de baraj i tensiune (vezi "Jonciunea liniar gradat").
Relaia (16) este valabil pentru orice distribuie de impuriti i ea permite
aflarea distribuiei impuritilor n jonciune:
N(xb) = 2/ [q d(1/C2)/dU] (18)
Caracteristica curent-tensiune
Dup cum s-a vzut mai nainte, n jonciune circul 4 cureni de purttori de
sarcin mobili, 2 de difuzie i 2 de drift:
Curent de Cauza Sensul
electroni difuzia N P
electroni cmpul electric P N
goluri difuzia P N
goluri cmpul electric N P
Fr tensiune electric aplicat din exterior fluxul de electroni deplasai prin
difuzie din stratul n n stratul p este egalat de fluxul de electroni deplasai de
cmpul electric al stratului de sarcin spaial din stratul p n stratul n.
Fenomenul este similar pentru goluri. Aplicnd din exterior o tensiune direct
U, pozitiv pe zona p i negativ pe zona n, se stric acest echilibru. Fiindc
rezistena electric a jonciunii p-n este mare comparativ cu restul
semiconductorului, se consider c ntreaga diferen de potenial se regsete
pe regiunea xn-xp a stratului de baraj. Tensiunea direct reduce nlimea
barierei de potential Vb i determin un flux suplimentar de goluri s difuzeze
dinspre regiunea p spre cea n, unde se recombin progresiv cu electronii pe o
distan de ordinul de mrime al lungimii de difuzie. Similar un flux
suplimentar de electroni se va mica din regiunea n ctre regiunea p. Pomparea
purttorilor minoritari ntr-un semiconductor (goluri n regiunea n, electroni n
regiunea p) se numete injecie de purttori. Majoritatea dispozitivelor
semiconductoare opereaz pe principiul injeciei de purttori.
P N
Banda
de
c o n d u c tie
E C
e le c tr o n i
V b-U
F F N
P U
E V D if u z ie
g o lu r i
Banda
de
v a le n ta
-x P x N x
np = nn e qVb/ (kT)
(20)
qVb/ (kT)
pn = pp e
Tensiunea direct U, aplicat din exterior, micoreaz bariera de potenial, iar
relaia (20) se poate rescrie ca:
10 12
P p 'n
N
n 'p 10 10
10 8
n p 10 6 p n
p o z itie
L n xp xn Lp
Figura 4. Aplicnd tensiune direct pe jonciune se injecteaz purttori
minoritari.
n regiunea neutr concentraia purttorilor minoritari n exces scade cu poziia
dup o lege exponenial:
pn(x) = pn + (p'n pn) e (x x n) / L p (23)
de unde curentul de difuzie va fi n x = xn:
jp = qDp(p/x) = qDp(p'n pn)/Lp (24)
sau:
jp = (qpnDp/Lp) (e qU / (kT) 1) (25)
n stratul de baraj densitatea purttorilor de sarcin este foarte mic, doar cea
corespunztoare curenilor, generat doar de curenii de purttori minoritari i
din aceast cauz fenomenul de recombinare electron-gol este extrem de redus.
Drept consecin n zona stratului de baraj densitatea de curent nu se modific,
iar curentul total va fi atunci suma curenilor de goluri i electroni:
j = jp(xn)+jn(xp) = jo (eqU / (kT) 1) (26)
cu notaia: jo = q(Dp pn /Lp + Dn np /Ln ) (27)
nmulind cu suprafaa se obine forma cea mai des folosit, cea pentru curent:
I = Io (e qU / (kT) 1) (28)
C u re n t
T e n s iu n e
+
T re c e c u re n t N u tre c e c u re n t
In s tru m e n t d e m a s u ra
D 1
D 2
t
R S
C E
U ~ U
U
+
t
R S
P u n te U
U ~ C E
_
t
1. Consideraii generale
Un semiconductor iluminat genereaz o tensiune fotoelectromotoare:
1. dac semiconductorul este iluminat neuniform,
2. dac n semiconductorul iluminat exist un cmp electric, magnetic,
gradient de impuriti sau un gradient de temperatur.
n situaii reale, fiecare din aceste posibiliti influeneaz mai mult sau mai
puin efectul global msurat. Este interesant de studiat tensiunea
fotoelectromotoare produs numai de una din cauzele de mai sus i nu un efect
sum. n primul caz, cnd semiconductorul este iluminat neuniform, avem de a
face cu efectul Dember, iar n cazul cnd semiconductorul este iluminat
uniform n cmp magnetic obinem efectul fotoelectromagnetic. Cazul cnd n
semiconductorul iluminat exist un gradient de temperatur sau de centri de
recombinare este mai puin studiat n literatur i nu prezint o deosebit
importan practic.
Ne vom ocupa numai de comportarea unui semiconductor iluminat n care
exist un camp electric intern cauzat de prezena gradienilor impuritilor
donoare i acceptoare. Dac este iluminat regiunea n a jonciunii p-n atunci n
vecinattea suprafeei se vor crea perechi electron-gol a cror concentraie va
scdea treptat spre interiorul semiconductorului. S presupunem c stratul de
baraj al jonciunii se afl la o distan comparabil cu lungimea de difuzie a
puttorilor. n acest caz perechea elecron-gol intnd n cmpul intern al
stratului de baraj va fi separat. Electronii vor fi dirijai spre regiunea n a
jonciunii iar golurile spre regiunea p. Prin urmare echilibrul termodinamic al
jonciunii este perturbat, iar acest lucru se materializeaz prin apariia unei
diferene de potenial care cauzeaz trecerea unui curent prin circuitul exterior
al fotoelementului.
I1
R S I
40
1 ,6 1 0 ,6 2 0 U (V )
0 ,2 1
20
60
100
140
R S
ISC
R S= 0
rd I1
rS
R S I
4. Instalaia experimental
n instalaia experimental se msoar tensiunea fotoelectric i caracteristicile
curent-tensiune la ntuneric i la diferite intensiti ale radiaiei incidente.
Tensiunea fotoelectromotoare se poate gsi din (16) fcnd I=0 i deci vom
avea:
Uf = (kT/q) ln(1 IL / Is ) (18)
Dac se introduce o rezisten de sarcin Rs n serie cu fotodioda atunci va trece
un curent I = Uf / RS i deci din (16) obinem:
IL Is {exp[qUf / (kT)] 1} = Uf / RS (19)
Ecuaia (19) descrie funcionarea fotoelementelor atunci cnd ele funcioneaz
ca transformatoare de energie luminoas n energie electric.
Dac fotoelementul este polarizat invers cu tensiunea U, atunci (19) se
modific astfel:
IL Is {exp[q(Uf U) / (kT)] 1} = (Uf U) / RS (20)
Expresia (20) reprezint ecuaia fundamental a fotoelementului n regim de
fotodiod. La tensiuni inverse mari I IL + IS , iar pentru tensiuni directe U>Uf
obinem ecuaia obinuit a unei jonciuni p-n.
Tensiunea fotoelectromotoare se msoar cu ajutorul unui voltmetru digital cu
rezisten de intrare mare, pentru diferite intensiti ale radiaiei incidente.
Conectnd fotodioda n serie cu o surs de tensiune U reglabil i cu o
rezisten de sarcin Rs reglabil se poate ridica caracteristica curent-tensiune.
Dac tensiunea invers aplicat fotodiodei este suficient de mare astfel nct
curentul invers s intre n regiunea de saturaie, atunci msurnd tensiunea cu
ajutorul voltmetrului pe o rezisten cunoscut putem determina mrimea Is+IL
cnd fotoelementul este iluminat i Is cnd este la ntuneric. Practic, pentru
determinarea mrimilor Is i IL, se ridic caracteristicile curent-tensiune la
ntuneric i la diferite intensiti ale radiaiei incidente, iar poriunile de
saturaie ale curenilor se extrapoleaz la U=0.
Verificarea principalelor caracteristici ale fotoelementelor se face folosind
procedura descris mai jos.
1. Se msoar tensiunea fotoelectromotoare pentru diferite intensiti ale
radiaiei incidente. Se construiete graficul Uf = f(1/d2) unde d este
distana de la sursa de lumin pn la fotodiod. S se explice rezultatul.
2. Fr surs de tensiune n circuit se msoar tensiunea fotoelectromotare de
pe rezistena de sarcin Rs pentru diferite valori ale acesteia. Se face
graficul Uf=f (Rs) pentru dou intensiti ale radiaiei incidente.
3. Se ridic caracteristicile curent-tensiune la ntuneric i pentru diferite
intensiti ale radiaiei incidente. Din rezultatele obinute s se gseasc Is
i IL i s se verifice relaia (18). n acest scop pentru fiecare intensitate a
luminii incidente trebuie msurat i tensiunea fotoelectromotoare.
4. Se ridic caracteristica lux-amper a fotoelementului msurnd fotocurentul
pentru diferite distane ale sursei de lumin pn la fotodiod. Se va trasa
graficul IL = f (/d2 ) unde este fluxul luminos incident corespunztor
sursei folosite (se d n laborator).
5. Se afl sensibilitatea integral a fotoelementului studiat cu relaia:
Sf = IL / [mA/lumen]
ntrebri
1. Ce este rezistena intern a jonciunii p-n i cum se poate determina?
2. De ce sensibilitatea fotodiodei este mai mare la polarizare invers dect la
cea direct?
TRANZISTORI CU POART JONCIUNE "TECJ"
Construcia TEC-J
Simbolurile de reprezentare uzuale ale tranzistorilor cu efect de cmp cu
poart jonciune, TEC-J cu canal N, respectiv cu canal P, sunt artate n figura
1.
D re n a D re n a
(U D> 0 ) (U D< 0 ) ID
D D
ID P o a rta G
P o a rta G
(U G < 0 ) (U G > 0 )
S S
S u rs a S u rs a
(U S= 0 ) (U S= 0 )
T E C -J c u c a n a l N T E C -J c u c a n a l P
Figura 1. Simbolul tranzistorului cu efect de cmp cu poart jonciune.
Structura tranzistorului cu efect de cmp cu poart jonciune, TEC-J cu
canal N, este artat n figura 2. Pe un substrat semiconductor de tip P se
realizeaz succesiv o regiune de tip N, ce constituie canalul propriu-zis prin
care va circula curentul electric, apoi o regiune de tip P care constituie poarta
(grila, gate) G. La capetele canalului se fixeaz contactele ohmice care vor
constitui sursa S i drena D. Regiunea P este puternic dopat fa de regiunea
N, astfel ntre poar i canal este o jonciunie de tipul P+N (TEC-J cu canal N).
P o a rta
S u rs a (U G < 0 ) D re n a
(U S= 0 ) (U D> 0 )
f ilm m e ta lic
P o a rta tip P +
C a n a l tip N
s u b s tra t tip P +
40
U T= -6 V U G = -2 V
20
U G = -4 V
U D (V )
U G(V ) -4 -2 0 3 6 9 12
Figura 3. Curentul ID prin canalul surs-dren n funcie de tensiunea UD surs-
dren i de tensiunea dintre surs i poart UG (invers)
Funcionarea TEC-J
Pentru nelegerea funcionrii TEC-J vom folosi modelul fizic simplificat din
figura 4. Lungimea tehnologic a canalului este "L", limea "", iar grosimea
sa "d". Grosimea canalului este modificat de regiunea de sarcin spaial a
jonciunii porii G. Datorit faptului c jonciunea este puternic asimetric,
regiunea de sarcin spaial este mult mai mare n interiorul canalului, regiunea
din interiorul porii fiind foarte ngust (ntruct ea nu influeneaz funcionarea
TECJ, va fi neglijat n viitor).
O tensiune mare de polarizare invers a jonciunii, corespunde la o grosime "w"
mare a regiunii de sarcin spaial. Regiunea de sarcin spaial fiind golit de
purttori mobili de sarcin electric are o rezisten electric foarte mare,
practic este un izolator electric. Din aceast cauz grosimea canalului prin care
circul electronii scade de la valoarea "d" la valoarea "dw". Conductana
electric a canalului (inversul rezistenei) este dat de relaia bine cunoscut:
G = 1/R = (dw)/L (1)
unde: = qNdn conductivitatea electric a stratului N;
q sarcina electronului;
Nd concentraia de electroni din canal (implicit atomi donori);
n mobilitatea electronilor din canal;
w grosimea stratului de sarcin spaial din canal:
w = [(Vb UG)2 / (qNd)]1/2 (2)
unde: UG tensiunea pe poart fa de surs (<0);
Vb potenialul de difuzie al jonciunii.
P o a rta P o a rta P o a rta
(U G = 0 ) canal N (U T< U G < 0 ) (U G= U T)
S u rs a D re n a
(U S= 0 ) (U D~ 0 )
w
w
d
d
I stra t d e I I= 0
G =G L b a ra j G <G G =0
0 0
D re n a
BS170
IR F
830
D re n a S u rs a
G r ila S u rs a
D G S
P o a r t a ( G r ila ) G D S
D re n a
V P = 1 ,5 V U GS =6V
40
U G S =4V
20
U G S =2V
U G S (V ) U DS (V )
4 2 0 3 6 9 12
Figura 3. Curentul drenei n funcie de tensiunea grilei i cea a drenei
Tranzistorul cu efect de cmp tip MOS (Metal-Oxid-Semiconductor) are o
structur ca cea din figura 4. Doi electrozi, sursa i drena, realizai pe dou
insule tip n, ntr-un substrat intrinsec (sau slab p), sunt separai pe o distan L
de un canal a crui conductivitate este modulat de al treilea electrod , poarta
(grila, gate), un film metalic separat de semiconductor printr-un strat izolator
( de obicei bioxid de siliciu).
G r ila
S u rs a
F ilm
m e ta lic D re n a
O x id
tip N tip N
C a n a l tip N
S u b s tr a t in tr in s e c s a u tip P
c u re n t canal
x s e m ic o n d u c to r
L = lu n g im e c a n a l
C a m p u l e le c tr ic d in o x id P o a r ta ( s t r a t m e ta lic )
O x id
S u rs a D re n a
C a m p u l e le c tr ic d in c a n a l
S t r a t d e in v e r s iu n e
Figura 5. Influena curentului din canal asupra cmpului electric din oxid
Introducnd relaiile (6) i (7) n expresia curentului (5) avem:
I(y) = [(UGS V)/w] dV/dy (8)
sau separnd variabilele V i y:
I(y)dy = (/w) (UGS V)dV (9)
i integnd dup y de la 0 la L, lungimea canalului, iar dup V de la 0 la UDS,
tensiunea drenei, obinem:
IDdy = (/w) (UGS V)dV (10)
innd seama de faptul c pe direcia Oy curentul I(y) nu se modific, el fiind
egal chiar cu curentul de dren ID, avem:
ID = (UGSUDS U2DS /2) / (w L) (11)
relaia de baz a funcionrii tranzistorului, valabil pn la tensiuni UDS egale
cu UGS.
Pentru tensiuni surs-dren UDS mult mai mici dect tensiunea gril-surs UGS
se poate neglija termenul ptratic VDS din paranteza din relaia (11) avnd:
ID = UGSUDS / (w L) (12)
sau conductana canalului tranzistorului este:
gDS = ID /UDS = UGS / (w L) (13)
liniar dependent de tensiunea aplicat grilei UGS.
Pentru tensiuni surs-dren UDS mai mari dect tensiunea gril-surs UGS se
formeaz o mic regiune de srcire la captul dinspre dren al canalului. Din
cauza cmpului electric intens care apare aici (implicit cderii mari de tensiune)
curentul comandat din surs pentru UGS = UDS va rmne n continuare constant
la creterea tensiunii VDS peste valoarea VGS.
C a m p u l e le c tr ic d in o x id P o a r ta ( s t r a t m e ta lic )
O x id
S u rs a D re n a
S tr a t d e in v e r s iu n e C a n a l s a tu ra t
V G V S
x Pm ax
w
100kO hm
R 1
D io d a B ec 50W
1N 4148
D re n a
T ra n z is to r
P o a rta B U Z 11
R 2
C S u rsa
1M O hm
10 F
-0 V
Figura 8.
TRANZISTORUL BIPOLAR
Tranzistorul bipolar a fost realizat n 1947 de John Bardeen, Walter Brattain,
iar teoria jonciunii p-n i a tranzistorului de William Shockley. Numele su
este realizat prin contopirea cuvintelor "transfer rezistor". Un tranzistor
bipolar const din dou regiuni semiconductoare cu acelai tip de
conductivitate numite emitor i colector, separate de o zon subire de
conductivitate de tip opus numit baz. Se formeaz dou jonciuni p-n, fiind
posibile dou tipuri de tranzistori, NPN i PNP. Simbolurile pentru
tranzistoarele bipolare PNP i NPN sunt prezentate n figura 1.
T r a n z is to r P N P T r a n z is to r N P N
C o le c to r C o le c to r
B aza B aza
E m ito r E m ito r
Figura 1. Simbolurile folosite pentru tranzistoarele bipolare
Aspectul exterior al tranzistorilor bipolari fiind cel din figura 2. Capsulele
prezentate sunt TO 92 pentru tranzistori de mic putere tip BC (sub 1W) i TO
126 pentru tranzistori de putere medie (civa W).
BC
BD
C o le c to r E m ito r
E m ito r B aza
C B E
B aza E C B
C o le c t o r
IC= IB m A
>100
C o le c to r +
IC U CE
B aza
A
U BE
+
IB
E m ito r
IE
0V
Figura 3. Curentul mic al bazei comand curentul mare din colector.
E m ito r B aza
1 m
n ++ p +
3 m
15 m 2 m
n
n +
C o le c t o r
Figura 4. Structura fizic a unui tranzistor bipolar planar tip NPN.
O structur tipic de tranzistor bipolar NPN este prezentat n figura 4. Gradul
de dopare (impurificare) a diverselor straturi este indicat prin numrul de semne
"+" de lng litera ce indic tipul conductivitii, astfel NDE >>NAB >>NDC
(concentraia atomilor donori din stratul emitorului este mult mai mare dect
concentraia acceptorilor din stratul bazei, care este mai mare dect cea a
donorilor din stratul de colector). Condiia de baz pentru funcionarea
tranzistorului este ca grosimea stratului bazei s fie mai mic dect lungimea de
difuzie a purttorilor mobili de sarcin. Structura de benzi a tranzistorului
bipolar NPN n cazul echilibrului este prezentat n figura 5.
E m ito r B aza C o le c to r
E le c t r o n i B a n d a d e c o n d u c tie
P
E n e r g ia F e r m i
N G o lu r i N
B a n d a d e v a le n t a
B aza
E le c tr o n i (+ 0 ,5 V )
E m ito r P
(0 V ) U EB
U EC
N
U C o le c t o r
BC
(+ 5 V )
N
Ie = Io(eUeb / Vt 1) (1)
2. Curentul bazei este o mic fracie din curentul de emitor:
Ib = (1 )Ie (2)
3. Curentul colectorului este proporional cu curentul de emitor:
Ic = Ie (3)
Mrimea adimensional "", coeficientul de transfer de curent ntre emitor i
colector, are valori tipice mai mari dect 0,9 i de obicei peste 0,99. Acest
coeficient depinde de geometria tranzistorului ca:
= 1 (1/2)(g/L)2
unde "g" este grosimea bazei, iar "L" este lungimea de difuzie.
Din modul de scriere a expresiilor curenilor se verific conservarea sarcinii
electrice n nodul de reea reprezentat de tranzistor:
Ie = Ib + Ic
Criteriile fundamentale pe care trebuie s le ndeplineasc un tranzistor sunt:
1. Emitorul este mult mai puternic dopat dect baza (curentul prin jonciunea
emitorului trebuie s fie determinat de purttorii majoritari ai emitorului
injectai n baz, injecia de purttori majoritari ai bazei n emitor trebuie s
fie neglijabil).
2. Regiunea bazei este fizic subire, mai mic dect lungimea de difuzie
(purttorii injectai n baz o traverseaz fr a suferi procese de
recombinare majore).
3. Zona colectorului este fizic mai larg dect cea a emitorului (ajut la
colectarea curentului injectat de emitor i la disiparea mai eficient a
cldurii generate pe jonciunea colectorului).
4. Colectorul este slab dopat fa de baz i implicit fa de emitor (n acest
fel stratul de baraj are o lrgime mai mare i jonciunea colectorului poate
suporta tensiuni inverse mari, de zeci pn la sute de voli, fr s se
strpung).
Prin combinarea relaiilor (2) i (3) rezult:
Ic = [/(1)]Ib = Ib (5)
unde este factorul de amplificare n curent al tranzistorului cu valori cuprinse
ntre zeci i sute.
Alegnd ca mrimi de intrare Ib i Ube, iar ca mrimi de ieire Ic i Uce se
definesc urmtoarele familii de caracteristici:
1. Caracteristica de intrare Ib = f(Ube) pentru Uce constant.
2. Caracteristica de ieire Ic = f(Uce) pentru Ib constant.
3. Caracteristica de transfer Ic = f(Ib) pentru Uce constant.
IC (m A )
60
IB = 1 0 0 A
40
IB = 5 0 A
20
IB ( A ) U C E (V )
100 50 1 2 3 4 5
Figura 7. Caracteristicile de transfer i de ieire ale tranzistorului bipolar.
U A
R C D
B
+
A B IC
+ U B
IB
U E
B E
K C IC
B
T B
IB E
R S
R IC
IZ
T B
IB
D Z R S
+U a lim +U a lim
R R S
T B I
Iz
IB
D Z R i
Tranzistorul ca amplificator
+U a lim +U a lim +U a lim
R R R
B S
R B
S
U U o
U in C o
U in C
T B T B
IB IB
a b
Figura 13. Tranzistorul amplific tensiunea variabil de la intrare Uin. Montaje
amplificatoare cu polarizare fix (a), sau polarizare cu reacie (b) a
tranzistorului.
+U a lim +U a lim
R R S
R S U 0
R B U in
IB1
IB2
D Z R i
+U a lim
U R S
0
U R P
in B R B U in
Ict
r2
r1
r
-q +q
l
E +q
F +
p
F_ -q
Figura 2. Dipolul electric n cmp electric omogen simte un cuplu de fore ce-l
orienteaz pe direcia cmpului (energie potenial minim).
Dipolul n cmp electric posed o energie potenial, compus din energiile
poteniale ale sarcinilor sale:
Wp = qV++ (qV) = q(VV+) / (6)
unde
(V V+)/ = Ecos (7)
este componenta cmpului electric de-a lungul direciei dipolului. Putem scrie
energia potenial sub forma concis:
Wp = pE (8)
Energia potenial a dipolului este minim cnd vectorul p are direcia i sensul
cmpului electric i este maxim cnd cei doi vectori sunt antiparaleli.
n cmp electric neomogen forele ce acioneaz asupra celor dou sarcini sunt
inegale, genernd pe lng cuplu i o for rezultant diferit de zero, ca n
figura 3, ce se poate scrie ca:
F = p dE/dx (9)
sau n forma general:
F = grad Wp = p divE (9)
E
-q p +q
F _ F +
+U
D ip o li D ip o li
d e z o rd o n a ti o rd o n a ti
Figura 4. Polarizarea substanei n cmp extern
Moment dipolar elementar, corespunztor fiecrui atom sau molecule din
materialul respectiv, fiind p, definim polarizarea P, ca momentul dipolar al
unitii de volum:
P = Pt / V = np (10)
unde "n" este densitatea de dipoli elementari.
Ca urmare a polarizrii iau natere pe suprafaa dielectricului sarcini de
polarizare:
Qp = pS
unde p este densitatea superficial de sarcin. ntreg materialul va avea
momentul dipolar:
Ptot = Qp d = p Sd = pV (11)
de unde pentru polarizarea electric gsim:
P = p (12)
Sarcinile de polarizare, privite ca sarcinile de pe armturile unui condensator
plan, creaz un cmp electric Ep:
E p = P / o (13)
orientat n sens contrar vectorului de polarizare P. Intensitatea cmpului electric
macroscopic rezultant din interiorul dielectricului Et , se obine prin
suprapunerea intensitii cmpului electric n vid Eo, generat de sarcinile de pe
armturile metalice ale condensatorului i intensitatea E p a cmpului generat de
sarcinile de polarizare induse pe suprafaa dielectricului:
E t = Eo + E p = Eo P /o (14)
Cmpul electric total este mai mic fiindc sarcina Q de pe armturi este parial
compensat de sarcina de polarizare Qp a dielectricului. Rmne activ numai
sarcina Q':
Q' = Q Qp = Q/ r (15)
Cmpul Ep se numete cmp de depolarizare, deoarece tinde s micoreze
cmpul aplicat Eo, n interiorul dielectricului. Cmpul de depolarizare este
uniform doar pentru probe care au o anumit form, sfer, cilindru, elipsoizi,
paralelipipezi. Astfel cmpul de depolarizare se se poate scrie ca:
Ep = CP / 0 (16)
unde C este factorul de depolarizare, care depinde de forma probei:
Forma probei |Plac |Sfer
C |1 |1/3
Pentru aceeai sarcin Q pe armturile condensatorului, ntre armturi avem
cmpul electric:
Eo = Uo / d (17)
n cazul cnd avem vid ntre armturi i:
Et = Eo P / 0 = U/d (18)
cnd avem un dielectric ntre armturi. Putem defini permitivitatea relativ ca:
r =C/Co=Uo /U=Eo /E=
=Eo /(Eo P/o)=(Et+P/ o)/Et =1+P/(oEt) (19)
Deoarece n marea majoritate a cazurilor polarizarea este direct proporional
cu intensitatea cmpului electric total (dielectrici liniari):
P = e oEt (20)
unde e este susceptibilitatea electric, o proprietate de material, atunci:
r = 1+ e (21)
e permitivitatea electric relativ (constanta dielectric) a materialului. Se
poate defini vectorul inducie electric (deplasare electric) ca:
D = oE + P = oE + o eE = o rE (22)
Polarizarea atomic
Pentru a putea estima comportarea unui atom n cmp electric vom folosi un
model primitiv, dar sugestiv, care presupune c nucleul cu sarcina "+Q" este
nconjurat de un "nor" electronic de sarcin "Q", distribuit uniform n
interiorul unei sfere de raz ro, raza atomic corespunzatoare.
Cmpul electric generat de sarcina negativ n interior se afl cu legea lui
Gauss: fluxul intensitii cmpului electric printr-o sfer cu raza r (<r0) i
centrul n centrul de simetrie, este egal cu sarcina electric nchis n sfera de
raz r, divizat cu o:
4 r2E i = 4 r 3 /(3o) (23)
unde:
sarcina electronic
= = Q /(4 ro3 /3) (24)
volum atomic
de unde cmpul electric intern Ei este:
E i = r /(3o) = Qr /(4 ro3o) (25)
ca n figura 5.
S fe ra in c a rc a ta r
c u s a rc in a -Q
ro
ro
d e p la s a re a " l"
d ip o l in d u s
n o r e le c tro n ic
Figura 6. Dipol indus prin polarizarea atomului n cmp extern.
Orice atom poate fi polarizat n acest fel. Spunem c momentul dipolar este
indus de cmpul electric extern. n toate cazurile dipolul p este proporional cu
E, intensitatea cmpului extern:
p = o E (29)
unde este proprietatea atomului numit polarizabilitate atomic. n
modelul nostru polarizabilitatea este:
= 4 ro3 (30)
avnd dimensiunea unui volum. Un calcul cuantic exact pentru atomul de
hidrogen prezice =9ao3/2 unde ao = 0,52 , este raza atomului de hidrogen n
starea sa fundamental (Bohr).
Polarizabilitile electrice ale mai multor tipuri de atomi, determinate
experimental, sunt date n tabelul urmtor:
Element H He Li Be C Ne Na Ar K
[1030 m3] 8,29 2,64 150 116 18,8 5,02 339 201 427
Se observ variaii mari ale valorilor lui . Polarizabilitatea crete cu creterea
numrului atomic n aceai serie (de exemplu de la H la K, sau de la He la Ar),
iar atomii alcalini sunt mult mai uor polarizai dect atomii gazelor nobile,
care au un nveli electronic mult mai rigid. Electronii de valen sunt cei
rspunztori de polarizabilitatea uoar a metalelor alcaline.
O molecul nepolar n cmp electric este polarizabil, iar polarizarea sa se
poate estima grosier ca suma polarizabilitilor individuale ale atomilor ce o
compun. De exemplu pentru molecula de metan avem:
exp(CH4) = 32,61030 m3
teor(CH4)= (C)+ 4(H) =(18,8+48,29) 1030 =521030 m3.
Evident legturile electronice din molecul au modificat structura electronic a
atomilor.
Moleculele sunt mai puin simetrice dect atomii, ceea ce implic posibilitatea
apariiei unui moment dipolar indus neparalel cu cmpul electric. Molecula de
CO2 are o form liniar, ca n figura 7, iar polarizabilitatea ei de-a lungul axei
proprii este || = 50,9 1030 m3 dar pentru un cmp transversal pe axa proprie
polarizabilitatea ei este mai puin de jumtate din ||.
Aplicnd un cmp oarecare ce face unghiul cu axa proprie a moleculei, acesta
se poate descompune n dou componente, paralel i perpendicular pe axa
moleculei:
E|| = E cos , E = E sin (31)
care vor induce fiecare un moment:
p|| = || oE|| , p = o E . (32)
Aceste componente dau mpreun momentul p produs de cmpul E . Din cauz
c || > , p nu va fi coliniar cu E ci mai aproape de axa de uoar polarizare
ca n figura 7.
Z E E
C
O O P
P
Y
P || E ||
X
Figura 7. Molecula nepolar de bioxid de carbon, CO2.
Acest exemplu arat c polarizabilitatea unei molecule nu este un simplu numr
ci un set de coeficieni care exprim dependena liniar a componentelor
vectorului p de cele ale vectorului E:
px= o (xx Ex + xy Ey +xz Ez)
py= o (yx Ex + yy Ey +yz Ez) (33)
pz= o (zx Ex + zy Ey +zz Ez)
Cei 9 coeficieni astfel definii constituie tensorul de polarizabilitate.
Momente dipolare permanente
Anumite molecule sunt astfel construite nct au momente de dipol electric i n
absena cmpului electric. Ele sunt nesimetrice, exemplul cel mai simplu fiind
cel al moleculelor biatomice alctuite din atomi diferii, ca acidul clorhidric
HCl, figura 8. Electronul atomului de hidrogen este deplasat ctre atomul de
clor, aprnd un exces de sarcin pozitiv ctre atomul de hidrogen i un exces
de sarcin negativ ctre atomul de clor. Mrimea momentului dipolar care
rezult este de 3,431030 Cm, echivalent cu deplasarea unui electron cu circa
1/5 . Acelai moment se obine pentru un atom de hidrogen ntr-un cmp de
circa 30 kV/cm.
Momentele dipolare permanente sunt mult mai mari dect momentele induse de
cmpurile electrice uzuale. Motivul este legat de faptul c ntr-un atom
cmpurile interne sunt de ordinul lui "e/(4oro2)" care este circa 1011 V/m,
imens fa de cmpurile electrice uzuale. Astfel de cmpuri ar rupe materia n
buci ! De aceea este o deosebire net ntre moleculele polare, cele care au
moment dipolar propriu i moleculele nepolare, cele care nu au moment
dipolar propriu.
-q
+q
C l H
d ip o l p e rm a n e n t
Figura 8. Molecula polar de acid clorhidric.
Comportarea unei substane polare ca dielectric este mult diferit de cea a
substanelor nepolare. Constanta dielectric a apei este 80, ea fiind alctuit din
dipoli cu momentul 6,11030 Cm, fa de constanta dielectrica a unui lichid
nepolar tipic care este n jur de 2.
n substana nepolar aplicarea unui cmp electric produce un mic moment
dipolar n fiecare molecul. n substana polar avem deja dipoli orientai
aleator, care se aliniaz parial n prezena cmpului electric.
Dac toi dipolii dintr-un gaz ar fi aliniai ar exista o polarizare foarte mare a
substanei. La temperaturi i cmpuri electrice obinuite ciocnirile moleculelor,
n micarea lor termic, mpiedic alinierea i ca urmare polarizarea. Pentru a
calcula polarizarea, se folosesc metodele fizicii statistice pentru gsirea
gradului de aliniere a dipolilor. n stare de echilibru termic numrul de
molecule N cu energia potenial W fa de numrul de molecule No cu energia
potenial zero este:
N=No e W/ (kT) (34)
unde "k" este constanta lui Boltzmann, iar "T" temperatura n grade Kelvin.
Dac W este energia potenial dependent de orientare prin intermediul
unghiului dintre direcia cmpului electric i dipol atunci:
W= pE = pE cos (35)
i:
Efectul piezoelectric
Fraii Pierre i Jaques Curie au observat n anul 1880 apariia sarcinilor
electrice pe faa anumitor cristale (cuar, SiO2 cristalin) supuse solicitrilor
mecanice (presiune, deformare). Mrimea sarcinii electrice este proporional
cu mrimea forei exercitate, iar sensul polarizrii electrice a cristalului depinde
de sensul aciunii mecanice. Acesta este efectul piezoelectric direct (cauza este
de natur mecanic, efectul produs este electric). Denumirea fenomenului
provine de la cuvntul grecesc "piezo" care nsemn "a apsa".
Efectul piezoelectric direct apare cnd aplicm o tensiune mecanic care
conduce la redistribuirea sarcinilor electrice n volum, rezultnd o polarizare
electric volumic i implicit o sarcin electric indus pe suprafa (cauza
este de natur mecanic, efectul este electric).
Efectul piezoelectric invers se produce prin aplicarea unui cmp electric
cristalului, avnd ca rezultat deformarea cristalului sau apariia unei fore
(cauza este electric, efectul este mecanic).
Substanele piezoelectrice se mpart n dou clase mari:
piezoelectrice liniare (dependena polarizrii electrice P de cmpul
electric aplicat E este liniar).
feroelectrice (depenena polarizrii electrice P de cmpul electric aplicat E
este neliniar, peste o anumit valoare a cmpului aplicat polarizarea
rmne constant, se satureaz).
Piezoelectricii liniari sunt cristale cu un anumit grad de asimetrie a structurii
cristaline, esenial fiind s nu existe un centru de simetrie al sarcinilor
electrice punctuale (ionii reelei cristaline). Cel mai utilizat piezoelectric
liniar este cuarul (bioxidul de siliciu monocristalin). O gam de utilizare
mai restrns au sulfatul de litiu, dihidrofosfatul de amoniu (ADP
prescurtat), tartratul dublu de potasiu i turmalina (borsilicatul natural de
sodiu, calciu, magneziu i Al).
Materialele feroelectrice au o polarizare electric intern dependent de
temperatur i diferit de zero n absena unui cmp electric extern, datorat
ordonrii dipolilor electrici elementari. Aceast ordonare se datoreaz
interaciunilor dintre atomii ce constituie reeaua cristalin. Ea dispare peste
o anumit temperatur numit temperatur Curie. n general aceste
materiale sunt divizate n domenii, adic zone n care polarizarea electric
are o singur orientare. Per ansamblu materialul apare nepolarizat din cauza
orientrii aleatoare a domeniilor. Pentru a prezenta proprieti piezoelectrice
sau piroelectrice aceste materilale trebuiesc polarizate, adic prin aplicarea
unui cmp electric intens i eventual nclzire se orienteaz polarizarea
domeniilor din interiorul materialului pe direcia cmpului extern.
Primul material feroelectric studiat i folosit a fost tartratul dublu de sodiu i
potasiu (sarea Seignette sau Rochelle) care are proprieti piezoelectrice
remarcabile, dar are i dezavantaje majore prin faptul c este higroscopic, iar
temperatura Curie este practic la temperatura camerei (23oC). Alte materiale
sub form monocristalin sunt triglicinsulfatul (TGS), azotatul de potasiu,
dihidrofosfatul de potasiu (KDP). Sub form de ceramici se utilizeaz foarte
mult titanatul de bariu (BaTiO3) i titano-zirconaii de plumb (PZT) care nu
sunt influenai de umiditate, iar temperatura Curie poate depi 400 0C la PZT.
Efectul piezoelectric stabilete o relaie de tipul:
Efect = coeficient piezoelectric Cauz, ntre:
mrimile mecanice:
- deformarea relativ S = s/ , [S]SI = m/m (1)
- tensiunea mecanic T = F/A , [T]SI = N/m2 (2)
cu T=YS legea lui Hooke, (3)
i mrimile electrice:
- intensitatea cmpului electric E = U/ , [E]SI = V/m (4)
- polarizarea electric P = Q/A , [P]SI = C/m2 (5)
cu D = E = o rE = oE + P (6)
unde: s = elongaie, = lungime iniial, F = for, A = suprafa,
Y = modulul de elasticitate al lui Young,
U = tensiune electric, Q=sarcina, = distana dintre armturi,
D = inducia electric, o permitivitatea electric a vidului,
(r) = permitivitatea electric absolut (relativ) a materialului.
Efectul piezoelectic direct (cauz mecanic, efect electric), cnd msurm
sarcina deplasat ntre armturi, n condiia scurtcircuitrii armturilor, adic
cmp electric zero (concret instrumentul care msoar sarcina deplasat are o
rezisten intern mic), prin aplicarea unei tensiuni mecanice T sau datorit
unei deformri S ascult de relaiile:
P=dT P=eS (7)
Coeficienii piezoelectrici "d" i "e" au unitile de msur:
[d]SI= C/N = m/V [e]SI = C/m2
i datorit legii lui Hooke sunt legai ntre ei de relaia:
e = Yd (8)
Dac msurm tensiunea electric generat pe materialul piezoelectric cu un
instrument cu rezisten intern foarte mare (sarcina electric deplasat prin
circuit este zero), atunci relaiile care guverneaz efectul piezoelectric sunt:
E=hS E = g T (9)
unde coeficienii piezoelectrici "g" i "h" au unitile de msur:
[g]SI= m2/C [h]SI= V/m=N/C
i sunt legai ntre ei de relaiile:
h=Yg (10)
iar coeficienii "d" i "e" se raporteaz ca:
d = T g e = S h (11)
unde este permitivitatea electric a materialului la tensiune mecanic zero
T
Mrime
T / o 1700 225 450 1300 3400 4,5 350
S / o 1260 - 260 635 1470 9,4
d33 190 85 150 289 593 2,3 275
d31(10 12
C/N) 78 9 60 123 274 3,4 -
d15 260 - 440 496 741 30
e33 17,5 - 9,0 15,1 23,3 0,17 3,00
e31 (m2/C) 4,3 - 1,9 5,2 6,5 -
0,08
e15 11,4 - 9,8 12,7 17,0 0,16
Y33E 14,6 3,9 11,3 11,5 11,7
E 10 2
Y11 (10 N/m ) 15,0 - 13,5 13,9 12,6
D
Y33 17,1 4,6 14,8 15,9 15,7
Y11D 15,0 - 13,6 14,5 13,0
o
TCurie ( C) 115 570 370 328 193
(103 kg/m3) 5,7 6,0 7,6 7,5 7,5 2,65 1,77
c (J/kg oC) 500 - 420 420 420
kterm (W/m C) o
3,5 - 2,1 2,1 1,5
Edepol (kV/cm) ~4 >10 >10 >10 ~4
P(10 C/cm )
6 2
8 - 40 30 33
k31 0,21 0,045 -0,29 -0,33 0,39 0,65
0,09
k33 0,50 0,38 0,62 0,70 0,75
k15 0,48 - 0,70 0,71 0,67
Dispozitive piezoelectrice
Placa piezoelectric din punct de vedre electric este un condensator cu
capacitatea C0. Aplicarea unei tensiuni U dispozitivului va determina ncrcarea
condensatorului cu sarcina:
Q1 = C0U (17)
dar i apariia unei tensiuni mecanice n plac datorit cmpului electric creat
(cauz electric genereaz efect mecanic):
T = eE F/A=eU / F = UeA / (18)
Fora aprut pune n micare sistemul care are masa "m" (genereaz o for de
inerie "mds2/dt2"), elasticitatea "k" (genereaz fora elastic "ks") i eventual
pierderi "r" (genereaz fora disipativ "r ds/dt"):
F = k s + r ds/dt + m d2s/dt2 (19)
Deformarea rezultat din aciunea forei va determina circulaia prin sistemul
electric a unei sarcini suplimentare Q2 (cauza este mecanic, o deformare,
efectul electric, o polarizare) datorit polarizrii cristalului prin efect
piezoelectric:
P=eS Q2/A=es / Q2 = s e A / (20)
Notnd "a= eA/" factorul de cuplaj electromecanic, putem transforma
relaia forei ntr-o relaie de mrimi electrice:
U = Q2 /C + R i2 + L di2 /dt (13)
2 2 2
unde: C = a /k , R = r/a , L = m/a (21)
Fiindc sarcina total absorbit de la surs este:
Q = Q1 + Q2 (22)
sau derivnd dup timp avem o relaie ntre cureni:
i = i1 + i2 (23)
care determin schema electric a oscilatorului piezoelectric, capacitatea
proprie a plcii piezoelectrice C0 n paralel cu circuitul rezonant RLC, n care
mrimile electrice R, L i C sunt determinate de proprietile mecanice ale
sistemului i de factorul de cuplaj electromecanic "a".
R L C
C 0
Feroelectricitatea
O ceramic feroelectric este constituit din domenii minuscule, fiecare
comportndu-se ca un mic dipol electric. n interiorul domeniilor feroelectrice
dipolii elementari sunt aliniai dup o singur direcie de forele de interaciune
dintre atomi. Astfel apare o polarizare electric diferit de zero n absena unui
cmp extern, polarizarea spontan.
Peste o anumit temperatur, cunoscut ca temperatura Curie, domeniile nu au
moment de dipol electric. Sub temperatura Curie, n materialul proaspt
preparat, orientarea dipolilor electrici corespunztori domeniilor este aleatoare
astfel c materialul n ansamblul su apare ca nepolar. Dac materialul este
nclzit peste temperatura Curie i i se aplic un cmp electric, dipolii tind s se
alinieze de-a lungul cmpului aplicat. Cobornd temperatura cu meninerea
cmpului, iar n final ntrerupnd cmpul cnd se ajunge la temperatura
camerei, dipolii rmn fixai pe poziiile lor dnd natere unei polarizri
remanete (care rmne) a materialului ceramic.
Pentru realizarea practic a procesului de polarizare se depun electrozi pe feele
opuse ale materialului. Sarcina de pe suprafaa ceramicii este fixat n structura
reelei cristaline, dar sarcina de pe electrozi, egal n modul i opus ca semn
celei din ceramic, este liber s se mite. n acest mod electrodul aflat la polul
pozitiv al sursei externe va acumula o sarcin pozitiv, iar cel de la polul
negativ o sarcin negativ. Mrimea sarcinii de pe suprafa este determinat de
sarcinile interne materialului, mai precis de momentul de dipol (produsul dintre
valoarea sarcinilor opuse ca semn i distana dintre ele). Momentul de dipol al
materialului este:
M = PAg (24)
unde "P" polarizarea, momentul de dipol al unitii de volum,
"A" aria electrozilor,
"g" este distana dintre electrozi, grosimea materialului ceramic.
Pe suprafaa materialului polarizat apare sarcina "Qs" care are momentul
dipolar:
M = Qsg (25)
Din ecuaiile (24), (25) pentru momentul de dipol total deducem relaia:
Qs = PA (26)
Msurarea polarizrii se reduce la msurarea sarcinii Qs deplasate prin circuitul
electric.
Polarizarea spontan depinde de temperatur ca n figura 3. La temperaturi
joase dipolii elementari sunt mai bine aliniai pe direcia de uoar polarizare,
iar cu ct temperatura crete, crete i dezordinea din sistem, alinierea dipolilor
elementari fiind din ce n ce mai proast. Peste temperatura Curie, temperatura
tranziiei din faza feroelectric n faza paraelectric, polarizarea spontan a
materialului dispare.
P o la r iz a r e a
M a t e r ia l
P a r a e le c t r ic
M a te r ia l
F e r o e le c tr ic
T e m p e ra tu ra
T e m p e r a tu r a C u r ie T c
R a d ia tie
IR
B o rn a e le c tro d u lu i d in s p a te
B o rn a e le c tro d u lu i f ro n ta l
H dT/dt + G T = Wo e jt (37)
unde T este diferena de temperatur dintre senzor i capsul.
Modificarea temperaturii detectorului se face cu frecvena cu care variaz
radiaia infraroie. Punnd T = To e jt i rezolvnd (37) pentru To,
obinem:
To = Wo /(jH + G) (38)
Pentru modulul variaiei de temperatur a senzorului relaia (38) devine:
|To| = (Wo /G) / (1+ 422 /T2)1/2 (39)
unde: = H/G este timpul de rspuns termic al senzorului,
T = 2/ este perioada semnalului incident.
Pentru frecvenele joase (T mare fa de ) excursia de temperatur a senzorului
este maxim i limitat ca valoare doar de conductivitate:
|To| (Wo /G) (40)
Pentru frecvene nalte (T mic fa de ), termenul unitar de la numitor este
neglijabi i excursia de temperatur devine:
|To| Wo /(H) (41)
limitat de capacitatea termic a senzorului "H" i invers proporional cu
frecvena semnalului incident.
Dac ne intereseaz rspunsul senzorului la un semnal treapt, adic cum
variaz temperatura senzorului dac la momentul t=0 aplicm o putere "W" de
radiaie infraroie, atunci relaia (37) devine:
H dT/dt + G T = W (42)
Soluia ecuaiei (42) este:
T = To (1 e t/) To = W/G (43)
Senzorul i atinge temperatura de echilibru dup circa 3 constante de timp
termic "" (eroare mai mic de 5%) i valoarea maxim a variaiei de
temperatur este limitat de conductivitatea termic "G".
akq=Vak/(EkEokq) (7)
care ne arat c doar atunci cnd energia electronului cvasiliber Ek se apropie
de valoarea energiei electronului liber Eok-q, coeficientul ak-q devine
semnificativ, n rest el avnd valori neglijabile (V). Acest lucru se ntmpl
cnd numrul de und k tinde la q/2:
Ek=Eok-q => k2 = (kq)2 => k =q/2
Neglijnd toi coeficienii cu excepia lui ak-q sistemul (6) se reduce la:
(Eok Ek)ak+Vak-q = 0
(Eok q Ek)ak q+Vak = 0 (8)
Sistemul (8) fiind omogen va avea soluii nebanale (0) dac determinantul
coeficienilor si este zero:
Eok Ek V
=0 (9)
V Eokq
ecuaie de gradul 2 pentru energia electonului Ek, cu soluiile:
Ek = [(Eok +Eokq)/2] |V| [1+ (Eok +Eokq)2 /(4V2)]1/2 (10)
Chiar n k=q/2=/a avem Ek=Eok |V|, ceea ce ne spune c n acest punct curba
energiei n funcie de impuls (p=k) are o discontinuitate. Pentru valori ale lui k
imediat sub valoarea q/2 energia este Ek=Eok |V|, iar pentru valori ale lui k
imediat peste q/2 energia electronului este Ek=Eok + |V|. n acest fel apare o
zon fr nivele de energie pentru electroni, zon interzis, ct este
amplitudinea potenialului periodic, 2|V|. Folosind relaia (7) pentru
determinarea coeficientului ak-q mpreun cu relaia pentru energie (11)
obinem:
akq = ak ( k q/2)
akq = ak ( k q/2) (12)
iar funciile de und corespunztoare vor fi:
(k q/2) = ak (eiqx/2 + e iqx/2) = 2akcos(x/2)
(k q/2) = ak (eiqx/2 e iqx/2) = 2iaksin(x/2) (13)
Densitatea de probabilitate a electronilor este:
d(k q/2) = ||2= 4ak2cos2(x/2)
d(k q/2) = ||2= 4ak2sin2(x/2) (14)
aratnd c pentru k q/2 electronii se localizeaz lng ionii pozitivi (energie
potenial minim), iar pentru k q/2 electronii se localizeaz la mijlocul
distanei dintre ioni (energie potenial maxim).
O particul liber are Eok=2k2/(2m) i putem defini masa ei ca:
m = /(2Eok /k2) (15)
n cazul electronilor cvasliberi, n apropierea valorii k=q/2 putem rescrie relaia
(10) ca:
Ek = 2 [k2 + (kq)2 ]/(4m) |V| [1+ 2q2 2(2kq)2 /(16m2 V2)]1/2 (16)
sau innd cont c 2k q 0 si (1+x) 1+x /2 (serie Taylor) avem:
1/2
Ek 2 [k2 + (kq)2 ]/(4m) |V| [1+ 2q2 2(2kq)2 /(32m2 V2)]1/2 (17)
2 2
de unde folosind relaia (15) cu notaia Eo= (q/2) /2m i n aproximaia 2Eo/|V|
>>1, gsim:
m*=m/(12Eo/V) m |V| /(2Eo), k q/2 (18)
m =m/(1+2Eo/V) m |V| /(2Eo), k q/2
*
Funcia de distribuie
Ocuparea strilor se face de ctre electroni conform funciei de distribuie
Fermi-Dirac:
f(E)=1/(e(E F) / (kT) + 1) (25)
care ne spune care este probabilitatea de ocupare a nivelului cu energia E, la
temperatura T (k =constanta Boltzmann =1,3810 23 J/K), F fiind energia
nivelului Fermi (practic media aritmetic a energiei ultimului nivel ocupat cu
primul nivel liber, riguros energia pentru care probabilitatea de ocupare este
1/2). Pentru semiconductori energia E F fiind mare (>0,1eV) comparativ cu
energia termic kT(~25 meV la 27oC) se poate neglija termenul unitate de la
numitor fa de exponenial, iar funcia de distribuie devine:
f(E)=e (E F ) / k T (26)
funcia de distribuie clasic Boltzmann. Numrul de electroni din unitatea de
volum din banda de conducie a semiconductorului se obine integrnd dup
energiile din band produsul dintre densitatea de stri i funcia de distribuie:
= oe E / (2kT) (40)
sau rezistivitatea electric:
FOTOCONDUCIA
1. Introducere
Purttorii liberi apar ntr-un semiconductor datorit excitrii electronilor din
banda de valen sau de pe nivelele donoare n banda de conducie sau pe
nivelele acceptoare. Energia necesar excitrii este asigurat n mod normal de
energia termic a reelei, astfel c temperatura electronilor i a reelei este
aceeai. Acetia sunt purttorii de sarcin de echilibru. Dac
semiconductorul este iluminat apar purttori de sarcin suplimentari cu energie
mai mare n momentul apariiei dect a purttorilor de echilibru i din aceast
cauz sunt numii purttori de neechilibru sau purttori n exces. Purttorii
de neechilibru interacionnd cu reeaua cristalului i reduc energia la valoarea
energiei purttorilor de echilibru ntr-un interval de timp foarte scurt,
10121010s, comparativ cu timpul de via al purttorilor n semiconductori.
Purttorii minoritari n exces controleaz comportarea ambelor tipuri de
purttori (modificarea densitii purttorilor majoritari e mic procentual, ei
apar ca reacie la prezena minoritarilor, Morant).
n
n = It
n st
n s t= I
t
Figura 1. Evoluia n timp a concentraiei purttorilor de neechlibru generai
prin iluminare.
Putem rescrie conductivitatea de neechilibru ca:
= qabI( nn + pp ) (3')
Cnd unul din termeni este mult mai mare dect cellalt avem relaia:
= qabI (3")
n care conductivitatea de neechilibru este determinat de patru parametri:
a i b => caracterizeaz interaciunea luminii cu semiconductorul;
i => interaciunea purttorilor de sarcin cu semiconductorul.
Timpul de via al purttorilor de neechilibru
Probabilitatea ca un electron s ntlneasc un gol este proporional cu
concentraia golurilor p i cu viteza relativ medie de deplasare a electronului
n raport cu golul vn . Timpul de via al electronilor n depinde invers
proporional de concentraia de goluri i de coeficientul de captur Cn = vnSn
(Sn fiind seciunea de captur) :
n = 1/(pCn) (6)
Relaxarea fotoconduciei
Dac la momentul t=0 ncepe iluminarea semiconductorului, conductivitatea
electric staionar se atinge dup un anumit timp, iar la ncetarea iluminrii ea
scade treptat la valoarea de echilibru. Curbele de cretere sau descretere a
conduciei de neechilibru pentru diferite intensiti ale radiaiei incidente se
numesc curbe de relaxare a conduciei de neechilibru.
Recombinarea electronilor de neechilibru cu golurile este liniar n cazul n
care exist un singur tip de goluri cu concentraie mare i practic independent
de intensitatea radiaiei, rata recombinrii fiind atunci:
R = n/ n = n p Cn (7)
Variaia concentraiei purttorilor de neechilibru n unitatea de timp se poate
scrie:
dn/dt = abI n/ (8)
cu soluia:
n = abI (1 e t/ ) (9)
dac proba se ilumineaz de la t = 0 s.
Dac la t = 0 nceteaz iluminarea atunci variaia concentraiei purttorilor de
neechilibru n unitatea de timp se poate scrie:
dn/dt = n/ (10)
cu soluia:
n = abIe t/ (11)
n / n st
n / n s t= 1 - e - t/
n / n s t= e -t/
t
In tu n e ric
L u m in a
L u m in a
V o ltm e tr u
F o to r e z is te n ta
R S
U
L u m in a O s c ilo s c o p
D is c c u
fa n te
A m p lific a to r
F o to r e z is te n ta
R S
U
Bibliografie
1. Constantinescu, C., Glodeanu, A. - "Stri locale n semiconductori", Editura
tehnic 1967, pag. 271-299, 379-387.
2. Morant, M. J. "Introduction to Semiconducto Devices", (G. Harap Ltd.
1964, London)
1. Consideraii generale
Purttorii care sunt generai termic ntr-un semiconductor se numesc purttori
de echilibru. Distribuia lor dup energii este descris de funcia de distribuie
Fermi-Dirac. De mare interes fundamental i aplicativ este posibilitatea
realizrii unor abateri fa de valorile de echilibru ale concentraiilor
purttorilor din semiconductor. Aceasta se obine prin:
injecie la contacte,
aciunea radiaiei electromagnetice,
aciunea unui cmp electric suficient de intens,
bombardament cu particule.
Odat cu ncetarea stimulilor externi, sistemul tinde s revin la echilibru,
aceast revenire fcndu-se treptat n timp. Concentraiile de purttori tind spre
valorile de echilibru, timpul de via fiind constanta de timp important a
acestui proces. Fenomenul de revenire la echilibru este determinat de
recombinarea purttorilor de sarcin, adic de anihilarea unor perechi de
purttori liberi sau a unui purttor liber i a unuia localizat. Acestea sunt cele
mai simple procese, energia n surplus dup recombinare fiind preluat de
reeaua cristalin (fononi) sau de fotonii emii.
Considerm un sistem format din electroni i goluri, asupra cruia acioneaz
stimuli externi, cu concentraiile de neechilibru:
n(t, x, i,, p) i p(t, x, i,, p)
unde parametrii i,, p descriu stimulii externi i interacia acestora cu
sistemul (n calculele ulterioare nu-i vom mai specifica). Notnd cu no i po
concentraiile la echilibru termodinamic, abaterile vor fi:
n = n(t,x) no i p = p(t,x) po.
Scriind ecuaiile de continuitate:
n/t = g rn + (1/q)div j n
(1)
p/t = g rp + (1/q)div j p
remarcm prezena suplimentar a termenilor:
g rata absolut de generare,
rn , rp ratele absolute de recombinare pentru electroni i goluri.
Presupunnd c recombinarea se face pe centre a cror concentraie este mic i
lipsa fenomenului de alipire, avem simplificrile:
n = p ; rn n /n ; rp p /p ; (2)
Specificnd termenii care conin cureni n ecuaiile de continuitate (1) se
obine:
n/t = g n /n + Dndiv grad n + nndiv E + nEgrad n
(3)
p/t = g p /p + Dpdiv grad p ppdiv E pEgrad p
Prelucrnd ec (3), rezult pentru abaterea n, ecuaia:
(n)/t = g n / + Ddiv grad(n) + eEgrad (n) (4)
unde:
D (Dn p p+Dp n n )/(p p+ n n ) - coeficient de difuzie ambipolar
e (p n) p n / (pp + n n ) - mobilitate de drift
Vom liniariza ecuaia (4) presupunnd valabil condiia de nivel mic de
injecie, adic n =p<< no, po. n plus, vom mai presupune cazul unui
semiconductor puternic extrinsec, pentru care no<<po i deci :
D Dn ; e n
n absena cmpului electric, ecuaia (4) capt forma simpl:
(n)/t = g n / + D div grad (n) (5)
Vom considera o prob semiconductoare cu lungimea mult mai mare dect
celelalte dimensiuni, la care iluminm a mic poriune din suprafaa sa la x=0.
Presupunnd obinut regimul staionar, (n)/t = 0 i tratnd problema ca
unidimensional, ecuaia care descrie procesul n regiunea neluminat este:
Dn 2 (n)/x2 n / = 0 (6)
Soluia care convine fizic este:
n(x) = n(0) e x/Ln (7)
unde cu Ln2 am notat produsul Dn. Parametrul L este lungimea de difuzie, din
msurarea lui i cunoaterea coeficientului de difuzie se obine timpul de via
n condiiile restrictive enunate anterior.
2. Instalaia experimental
Bec
G a lv a n o m e t r u
C hopper
m A B a t e r ie
R G
P ro b a R e o s ta t
3. Modul de lucru
Se realizeaz montajul din figura 3 i se alimenteaz sonda colectoare
astfel nct s aibe polaritatea de sens contrar tipului de purttori
majoritari.
Se concentreaz aparatul de msur la reea i se msoar nivelul de
zgomot, adic indicaia aparatului n absena iluminrii probei. n cazul
galvanometrului vibtaional se msoar lrgimea l0 a spotului.
Se conecteaz sursa sistemului optic i se conecteaz motorul sincron, care
antreneaz discul modulator.
Se focalizeaz lumina pe suprafaa probei i se deplaseaz msua cu proba
pn ce vrful sondei se afl n centrul spotului luminos, focalizat pe
prob.
Se msoar mrimea semnalului n aceast poziie, dac se lucreaz cu
galvanometrului vibtaional, acesta trebuie nti acordat pe frecvena de
modulare, urmrind semnalul maxim. Notnd cu (0) lrgimea msurat a
semnalului n aceast poziie.
Se deplaseaz siatemul prob-sond fa de facsicolul luminos, notndu-se
pentru distanele respective lrgimile corespunztoare ale spotului
galvanometrului, sau deviaiile milivoltmetrului electronic.
Deoarece lrgimea efectiv a spotului galvanometrului vibraional variaz cu
distana dup o lege de tipul (7), reprezentnd grafic mrimea
ln [(o)/( (0) o )
n funcie de distan rezult lungimea de difuzie L.
Cunoscnd mrimile coeficienilor de difuzie Dn i Dp care n Ge de tip p este
93 cm2/sec i respectiv n Ge de tip n este 44 cm2/sec, se pot determina timpii
de via att n material de tip p ct i n cel de tip n.
Observaie. Suprafaa probei jucnd un rol foarte important n cazul generrii
purttorilor de neechilibru prin iluminare, se cere o atenie sporit n
prelucrarea suprafeei att din punct de vedere mecanic ct i chimic.
4. ntrebri
Ce legtur exist ntre perioada semnalului modulat i timpul de via, astfel
nct s fie ndeplinit condiia de staionaritate pentru semnal?
1. Introducere
Mobilitatea de drift se definete ca raportul dintre viteza purttorilor de sarcin
"vd" n cmpul electric aplicat i intensitatea cmpului "E":
d = vd / E
Mobilitatea depinde de tipul reelei cristaline, compoziia chimic a
semiconductorului i imperfeciunile reelei care determin mprtierea
purttorilor (prin mprtiere nelegem variaia mrimii i direciei vitezei
purttorilor de sarcin mobili datorit ciocnirilor).
Mobilitatea caracterizeaz puritatea unui semiconductor. Impuritile
afecteaz structura periodic a reelei cristaline i astfel reduc mobilitatea
purttorilor de sarcin.
mprtierea pe vibraiile termice ale reelei micoreaz mobilitatea cu
creterea temperaturii. Acest lucru este valabil la temperaturi unde rolul
predominant l joac acest tip de mprtiere. Se intuiete uor c
mprtierea pe vibraiile termice ale reelei joac rol important la
temperaturi mai nalte fa de mprtierea pe impuriti sau defecte.
Mobilitatea de drift difer de mobilitatea Hall (produsul dintre constanta Hall
i conductivitate), deoarece cmpul magnetic modific direcia vitezei de drift a
purttorilor de sarcin. Cu metoda impulsurilor se poate determina viteza de
drift a purttorilor minoritari.
Injecia purttorilor minoritari se poate realiza la contactul metal-
semiconductor, jonciunea p-n i prin iluminare. Se poate utiliza cu acelai
succes oricare din aceste metode. n lucrarea de fa se utilizeaz injecia la
contactul metal-semiconductor.
+ _ L
B 1
d e s c h is
t
t1 t2 t3 t4
V
t
t1 t2 t3 t4
Figura 2. Semnalul pe osciloscop
Comutatorul S este deschis pn la momentul t1, cnd se nchide i prin
contactul emitor curge un curent dat de bateria B3. La momentul t3 se deschide
contactul S. Tensiunea observat pe ecranul oscilografului are forma din figura
2 sus.
La momentul t2 se observ o cretere a semnalului fr a aciona asupra
sistemului din exterior. Exist o diferen eseniala ntre semnalul produs la
momentul t2 i cel produs la momentul t1. Semnalul de la t1 poate aprea i n
cazul absenei injeciei golurilor (absena regiunii p). La momentul t1 electronii
trec din semiconductor n metal datorit polarizrii emiterului. Acesta face s
apar o sarcin pozitiv local (nu este vorba de goluri ci de micorarea
concentraiei electonilor fa de valoarea ei de echilibru) lng emiter (la
dreapta punctului A). Aceast sarcin pozitiv produce un cmp electic care se
propag cu viteza luminii i exercit o for asupra electonilor din jur astfel
nct acetia se mic pentru a neutraliza sarcina spaial. Electronii din toat
proba ncep s se mite practic instantaneu. Ei vin din contactele ohmice ale
probei pentru a nlocui electronii care trec prin contactul emitorului.
Acesta este un caz particular al unei situaii generale: ntr-o prob care are
purttori de un anumit tip, de exemplu electroni, este imposibil s se modifice
concentraia purttorilor prin injecia sau extragerea purttorilor de acelai tip.
Orice sarcin spaial de neechilibru dispare ntr-un timp foarte scurt timpul
de relaxare dielectric. De exemplu pentru o prob de Ge-n cu concentraia
electronilor n0=1016cm3 timpul de relaxare dielectric este de ~1013 s.
Din motivele artate la momentul t1 apare o cretere brusc a tensiunii pe
rezistena de sarcin. ns, tot la momentul t1 are loc injecia golurilor n Ge-n
care tind i ele s formeze o zon de sarcin spaial. Aceast sarcin este
neutralizat de o cantitate egal de electroni care vin din contactul ohmic al
circuitului de emiter (procesul se produce practic instantaneu). Starea neutr
realizat astfel nu este o stare de echilibru termic. Injecia golurilor a dus la
creterea concentraiei electronilor n semiconductorul de tip n. De aici rezult
concluzia c numai injecia purttorilor minoritari duce la creterea
concentraiei purttorilor majoritari.
Golurile injectate se vor deplasa spre colector i la momentul t2 cnd primele
goluri au ajuns la colector, apare din nou o cretere brusc a tensiunii egal cu
creterea de la momentul t1 iar la momentul t4 cnd ultimele goluri au ajuns la
colector tensiunea capt valoarea dinaintea nchiderii contactului S (nainte de
momentul t1).
La momentul t2 i t4 apare o lrgire a frontului impulsurilor determinat de
suprapunerea peste micarea ordonat n cmpul electric a micrii termice
dezordonate a golurilor. Lrgirea frontului impulsurilor este (D td)1/2; D este
coeficientul de difuzie a golurilor iar td este timpul de drift al acestora. Lrgirea
frontului impulsurilor duce la o oarecare nedeterminare n msurarea timpilor t2
i t4.
Pentru o determinare mai precis a timpului de drift se difereniaz semnalul
din figura 2 sus, obinndu-se semnalul din figura 2 jos, unde se vede c la
momentele t2 i t4 curba are un maxim, respectiv un minim. Mobilitatea de drift
a golurilor se determin din relaia:
d = vd / E = L/(Etd) td = t4t3 (1)
Amintim c n drumul lor de la emitor la colector golurile recombin cu
electronii. Lungimea de difuzie a golurilor (este practic drumul pe care-l pot
parcurge golurile pn recombin cu electronii) n Ge, n absena cmpului
electric, este de ordinul a civa milimetri. Cmpul electric duce la creterea
lungimii de difuzie a golurilor. Se definete o lungime caracteristic de difuzie:
ld = [D(t4 t3)]1/2 .
Notnd U0=EL, rezult din relaiile de mai sus
L/ld = (d U0 /D)1/2 (2)
Pentru corectarea determinrilor este necesar ca pe distana L, de la emitor la
colector s nu aib loc procesul de difuzie, adic L >>ld. pentru Ge, unde
D=44cm2/sec, d=1800cm2/(Vs), rezult c E nu trebuie s fie mai mic de 10V/
cm.
4. Dispozitivul experimental
Dispozitivul experimental cuprinde dou generatoare de impulsuri de tensiune,
dreptunghiulare ca n figura 3. Generatorul G1, care da impulsuri de lungime 1,
se introduce n locul bateriei B1 din figura 1 i creeaz de-a lungul probei
cmpul electric E. n locul bateriei B3 se introduce generatorul G2 ce d
impulsuri de lungime 2<<1. Impulsul de la generatorul G2 se aplic dup un
timp 3<<1 , astfel nct s avem 2<<1 3 .
Impulsul de la generatorul G2 injecteaz purttorii minoritari (golurile).
Oscilograma este cea de pe figura 2, timpul t1 fiind marcat de timpul 3 la care
se aplic impulsul G2. Diferenierea semnalului se face cu ajutorul unui circuit
RC (vezi figura 3). n acest caz oscilograma arat ca n figura 2 sus.
V o ltm e tr u O s c ilo s c o p
e le c tr o n ic R S
Y
C
m A
G G e n e ra to r d e
1
im p u ls u r i lu n g i
G e n e ra to r d e
G 2 im p u ls u r i s c u r te
5. Modul de lucru
Se lefuiesc probele de Ge-n i se trateaz chimic cu o soluie de perhidrol
30%.
Se aplic pe prob dou sonde de Wolfram (emitorul i colectorul).
Se realizeaz montajul din figura 3 i cu bateria B se stabilete curentul de
colector la valoarea 0,51mA.
Se pun generatoarele i osciloscopul n priz i se aliniaz semnalele pe
ecranul osciloscopului (figura 2).
Se determin tipul de drift folosind scala de etalonare n timp a
osciloscopului.
Se msoar distana L ntre sonde.
Se msoar cmpul electric E dintre emitor i colector cu ajutorul unui
voltmetru electronic de impulsuri.
6. Obiectivele lucrrii
1. Se determin mobilitatea de drift a golurilor pentru trei valori ale distanei
L dintre sonde pentru aceeai valoare a amplitudinii impulsurilor.
2. Se calculeaz coeficientul de difuzie a golurilor folosind relaia D=d kT/q.
7. ntrebri
1. Cum trebuie s fie timpul de drift al purttorilor prin prob fa de timpul
de via al acestora n cazul msurrii mobilitii de drift prin metoda
descris?
2. Care este diferena dintre mobilitatea de drift i mobilitatea Hall a
purttorilor de sarcin?
1. Stri de suprafa
Suprafaa cristalului att din punct de vedere macroscopic ct i microscopic
reprezint un defect structural al reelei tridimensionale. Tamm a artat teoretic
c toate nivelele energetice ale electronului permise n cristalul nelimitat sunt
permise i n cristalul limitat i c discontinuitatea reelei cristaline conduce
numai la apariia unor nivele energetice discrete localizate n acele intervale
energetice care erau interzise n cristalul nelimitat. Funciile de und ale
electronilor care se gsesc pe aceste nivele scad foarte repede att spre
interiorul cristalului ct i spre exterior i deci electronii care ocup aceste
nivele nu pot ptrunde n interiorul cristalului i sunt localizai la suprafaa lui.
Subliniem faptul c aceste nivelele energetice nu sunt suplimentare fa de ceea
ce exist n interiorul cristalului. Aceste nivele energetice discrete sunt
desprinse din nivelele energetice ale zonelor corespunztoare datorit
perturbrii cauzate de suprafaa liber a cristalului. Strile de suprafa ale
semiconductorului ndeplinesc acelai rol pe care l au impuritile n volumul
cristalului. Ele pot fi donoare, acceptoare sau centre de recombinare.
Nivelele Tamm apar numai la suprafeele perfect curate. n realitate, suprafaa
corpului solid este ntotdeauna acoperit cu un strat mai subire sau mai gros de
atomi sau molecule adsorbite sau care formeaz legturi chimice la suprafa.
S presupunem c pe suprafaa semiconductorului este adsorbit particula M. n
cazul unei adsorbii chimice funciile de und ale reelei i particulei M se vor
suprapune i deci particula M poate fi analizat ca fiind o impuritate care
perturb local periodicitatea reelei. Aa cum artam mai sus o astfel de
perturbare trebuie s duc la apariia n zona interzis a unui nivel energetic
discret N de tip acceptor, donor sau de recombinare.
S presupunem c nivelul N este acceptor. Calculele arat funcia de und a
electronului care se gsete pe un astfel de nivel are un maxim pronunat n
jurul poziiei particulei M i este cu att mai pronunat cu ct nivelul este mai
adnc n banda interzis. Poziia nivelului este determinat de natura reelei
cristaline a semiconductorului, de natura particulei M adsorbite ct i de
distana ei pn la suprafa. Cu ct particula M este mai deprtat de suprafa
cu att mai mult nivelul N urc mai sus spre banda de conducie, iar maximul
funciei de und a electronului localizat pe acest nivel devine mai puin
pronunat, corespunznd procesului de delocalizare a electronului.
Probabilitatea de ocupare a nivelelor energetice de suprafa este dat de
funcia de distribuie Fermi-Dirac:
f(ES) = 1/{1+ exp[(FES)/(kT)]} (1)
unde: ES este distana de la zona de conducie pn la nivelul local,
F este distana de la zona de conducie pn la nivelul Fermi,
k este constanta Boltzmann,
T este temperatura absolut.
Probabilitatea ca nivelul N s fie liber adic ionizat este dat de relaia:
f '= 1 f = 1/{1+ exp[(ES F)/(kT)]} (2)
Presupunnd c la suprafaa semiconductorului au fost adsorbite N0 particule i
c fiecare particul poate s cedeze sau s primeasc un singur electron, putem
gsi densitatea de sarcin la suprafaa semiconductorului:
= q N0 / {1+ exp[(FES)/(kT)]} la acceptori (3)
+ = q N0 / {1+ exp[(ES F)/(kT)]} la donoari (4)
Din relaia (3) se poate observa c n cazul nivelelor acceptoare care pot primi
electroni i s ncarce negativ suprafaa semiconductorului, densitatea de
sarcin superficial crete pe msura deplasrii nivelului Fermi spre zona de
conducie i atinge valoarea maxim max qN0 cnd F EC (fundul benzii de
conducie).
n cazul nivelelor donoare, capabile s cedeze electroni i s ncarce pozitiv
suprafaa semiconductorului, densitatea maxim de sarcin la suprafa este
+max qN0 cnd FEV (vrful benzii de valen). Pe msur ce nivelul Fermi
urc spre banda de conducie gradul de ionizare a donorilor se micoreaz, iar
densitatea de sarcin la suprafa este practic nul.
Strile de suprafa Tamm sau cele cauzate de adsorbia moleculelor strine ct
i de alt natur (dislocaii, vacane etc.) se gsesc n contact bun cu
semiconductorul. Prin urmare, timpul de stabilire al echilibrului strilor cu
volumul semiconductorului (timpul de trecere a electronilor din zonele
energetice pe nivelele de suprafa i invers) este foarte mic, de ordinul a 10 7
sec. sau mai mic. Din aceast cauz aceste stri de suprafa se numesc stri
rapide.
Studierea experimental a suprafeei semiconductorilor a pus n eviden faptul
c pe lng strile rapide exist i stri a cror echilibru cu volumul
semiconductorului se stabilete ntr-un interval de timp foarte mare ncepnd cu
102 sec. pn la cteva minute, ore sau zile. Aceste stri de suprafa sunt
numite stri lente i sunt n general cauzate de existena unui strat de oxid la
suprafa. Se presupune c strile lente de suprafa sunt localizate pe faa
exterioar a stratului de oxid. Stabilirea lent a echilibrului acestor stri cu cele
din volumul semiconductorului este cauzat de faptul c trecerea electronilor
prin stratul de oxid care este un izolator, necesit un tip mai mare. Odat cu
creterea grosimii stratului de oxid constanta de timp a acestor stri va crete.
Din grupa strilor de suprafa rapide fac parte centrele de alipire care sunt
localizate n apropierea benzilor de conducie sau valen i centrele de
recombinare situate n zona central a benzii interzise. Prezena centrelor de
recombinare condiioneaz apariia proceselor de recombinare care n acest caz
sunt numite procese de recombinare la suprafa. S analizm un
semiconductor n a crui band interzis se afl un nivel de recombinare la
suprafa de adncime ES i s presupunem c n volumul semiconductorului se
genereaz uniform purttori de neechilibru de concentraii n i p. Prezena
centrelor de recombinare la suprafaa liber a semiconductorului cauzeaz
apariia unor fluxuri de purttori spre suprafa proporionale cu concentraiile
purttorilor de neechilibru generai n volumul semiconductorului.
Shockley a introdus noiunea de vitez de recombinare la suprafa s(x,y,z,t)
care are dimensiunile (lungime/timp) i care leag fluxul purttorilor de
neechilibru care curge spre suprafa cu concentraia purttorilor de neechilibru
de pe suprafa. Notnd cu I n curentul de goluri i cu I p curentul de electroni
vom putea scrie pentru un semiconductor:
tip p I n = q n s (5)
tip n I p = q p s (6)
Recombinarea purttorilor de neechilibru la suprafa conduce la o srcire n
purttori a regiunii din apropierea suprafeei chiar cnd are loc o generare
uniform a purttorilor n volumul semiconductorului, fapt care va duce la un
proces de difuzie a purttorilor de neechilibru din interiorul semiconductorului
spre suprafa. Deoarece curenii de electroni i goluri din (5) i (6) sunt cauzai
de difuzie, aceste relaii se vor transcrie astfel:
D grad n = S n (7)
D grad p = S p (8)
unde D este coeficientul de difuzie.
2 -fa n ta 1 -s u rs a d e
3 - le n tila lu m in a
f a s c ic u l
6 - a m p lif ic a t o r
sonda
p ro b a
5 -s u p o rt 7 - o s c ilo s c o p
4. Obiectivele lucrrii
Se determin viteza de recombinare la suprafa, coeficientul de difuzie,
lungimea de difuzie i timpul de via al purttorilor de neechilibru n volum.
1. Msurtorile se fac pe 2 probe din Ge de grosimi diferite, tiate din acelai
cristal. Se msoar grosimile d1 i d2 cu micrometrul. Se decapeaz probele
cu 30% H2O2.
2. Folosind una din cele 2 medode descrise se determin viteza de deplasare a
fascicolului de lumin.
3. Se determin mrimile "c/L1" i "c/L2" pentru ambele probe. n acest scop
se copiaz figurile de pe ecranul osciloscopului i se reprezint n scar
semilogaritmic. Calculm 1 i 2 din poriunile liniare ale oscilogramei.
4. Cu formulele (35), (36) i (24) se calculeaz pentru fiecare prob L1, L2 i
coeficientul de difuzie.
5. Din relaiile (23) i (30) se calculeaz L i viteza de recombinare la
suprafa "s".
6. Din formulele (31) i (32) se calculeaz lungimea de difuzie L i timpul de
via al purttorilor de neechilibru.
7. Mobilitatea purttorilor de sarcin se determin din formula lui Einstein
= qD/(kT).
Laborator
1. Introducere
Rezistivitatea electric este o proprietate de baz a materialelor. Valoarea
acestei mrimi constituie unul din criteriile care deosebesc semiconductorii de
metale i izolatori. La semiconductori rezistivitatea variaz ntr-un domeniu
foarte larg de valori:
de la 10 5m la 107m,
avnd valori intremediare ntre conductori (108m) i izolatori (peste 1012
m). Avnd n vedere marile aplicaii practice ale dispozitivelor
semiconductoare, cunoaterea rezistivitii unui semiconductor este una din
primele cerine pentru caracterizarea acestuia. n aceast lucrare se msoar
rezistivitatea unui semiconductor prin metoda celor patru sonde i prin medoda
celor dou sonde, n curent continuu.
Rezistena electric a unui material se determin din msurarea cderii de
tensiune i a intensitii curentului electric. Dou dificulti apar la msurarea
rezistenei semiconductorilor:
(a) rezistena contactului ntre sondele metalice i semiconductor i
(b) gradientul de temperatur pe direcia de curgere a curentului electric.
n semiconductorii cu rezistivitate mare rolul esenial l joac stratul de
inversiune care apare datorit diferenei de potenial de contact, iar n
semiconductorii cu rezistivitate mic rolul esenial l joac imperfeciunile
contactelor. n msurtori este necesar s se nlture rezistena de contact. Acest
lucru se poate realiza n primul rnd prin folosirea unor metode speciale de
msur (metoda compensaiei sau metode electromagnetice n care nu sunt
necesare contacte). Contactul ohmic ntre metal i semiconductor este un
contact ideal care:
nu opune nici o rezisten la trecerea curentului;
nu prezint fenomenul de redresare (n ambele sensuri de polarizare
curentul are aceeai valoare pentru aceeai valoare a tensiunii);
nu-i schimb proprietile sale cu temperatura, valoarea cmpului electric
aplicat sau variaia condiiilor de iluminare.
n general nu se pot realiza contacte ohmice ideale. De aceea n lucrarea de fa
se msoar tensiunea prin metoda compensaiei folosindu-se un poteniometru
compensator. Aceasta fiind o metod de zero, nu trece curent prin contactul
metalsemiconductor i n acest fel este eliminat din msurtori rezistena de
contact.
La msurarea rezistivitii n funcie de temperatur, chiar n condiii obinuite
poate s apar un gradient de temperatur de-a lungul probei. Existena unui
gradient de temperatur duce la apariia unei tensiuni electromotoare (tensiunea
termoelectric) U, proporional cu gradientul de temperatur T:
U = T
unde este coeficientul de temperatur al tensiunii termoelectrice care pentru
semiconductori este de ordinul zecilor de mV/grad.
Deoarece sensul i mrimea tensiunii termoelectrice sunt constante pentru o
perioad lung de timp, influena ei asupra rezultatelor msurtorilor se elimin
prin trecerea curentului electric n ambele sensuri. Pentru un sens al curentului
electric tensiunea msurat este:
U1 = U + U
iar pentru sensul contrar tensiunea msurat este:
U2 = U U.
Valoarea real a tensiunii care ne intereseaz este:
U = (U1 + U2 )/2
P ro b a
s e m ic o n d u c t o a r e
C o n ta c te c u m u c h ie
v o ltm e tr u d ig ita l
sonde
c u re n t
p ro b a
L
m A
b a te r ie
re o s ta t
4. Obiectivele lucrrii
1. Probele de msurat se lefuiesc cu carborund i se decapeaz chimic.
Decaparea chimic a probelor de Ge se face ntr-o soluie de H2 O2 30%,
iar decaparea probelor de GaAs se face ntr-o soluie format din 5 pri
NaOH i o parte H2 O2 30%.
2. Se msoar rezistivitatea a 3 probe de Ge i GaAs de form geometric
neregulat prin metoda van der Pauw. Rezistivitatea se determin din
relaia (1).
3. Se msoar prin medoda celor dou sonde rezistivitatea a 2 probe de Ge i
GaAs de form paralelipipedic. Pentru aceste probe se traseaz graficul
U=f(L), observndu-se omogenitatea electric a probelor. Rezistivitatea
se determin din relaia (2).
ntrebri
1. Cum depinde rezistivitatea de natura semiconductorului?
2. Care sunt avantajele i dezavantajele medodelor de msur Van der Paw i
celor dou sonde?
Bibliografie
1. Constantinescu, C., Glodenu, A. "Stri locale n semiconductori", Editura
Tehnic 1968
2. Van der Paw, L. Y. Philips Research Reports 113(1) 1(1958)
EFECTUL HALL
Studiem n aceast lucrare unul dintre cele mai importante efecte galvano-
magnetice, efect care permite determinarea foarte precis a concentraiei
precum i a tipului de purttori care particip la conducie.
Consideraii generale
Fie un semiconductor omogen, de form paralelipipedic, prin care trece un
curent electric, aa cum este artat n figura1. Diferena de potenial ntre
punctele A i B, situate n acelai plan perpendicular pe liniile de curent
(suprafa echipotenial), este nul n absena cmpului magnetic constant B.
Dac exist un cmp magnetic, perpendicular pe direcia curentului, ntre
punctele A i B apare o diferen de potenial; acest fenomen se numete efect
Hall, iar diferena de potenial care exist ntre punctele A i B, tensiune Hall.
cam p m a g n e tic
p ro b a re o s ta t
_ v e le c tr o n
L
B b a te r ie
gol+ A
v
fo rta L o r e n tz
g
c u re n t
a
m V
Montajul experimental
Montajul experimetal, aa cum este prezent schematic n figura 1, const din
dou mari circuite :
circuitul de alimentare al probei cu un curent I,
circuitul pentru msurarea diferenei de potenial Hall.
Curenii de lucru, care trec prin prob sunt de ordinul zecilor de mA. Se
traseaz curbele UH=U(H)I=const. i UH=U(I)H=const. obinndu-se din prelucrarea
lor, concentraia. Msurnd conductibilitatea probei se poate gsi mobilitatea
Hall.
Efecte parazite
n afar de cazul banal al unei tensiuni suplimentare care poate s apar datorit
plasrii incorecte a contactelor A i B (adic nu aparin aceleai suprafee
echipoteniale) mai apar i alte efecte.
Efectul Ettinghausen const n apariia unui gradient de temperatur dup
direcia y, n prezena cmpului magnetic. Gradientul conduce la apariia unei
fore motoare care are acelai sens cu tensiune Hall i deci este foarte greu de
separat de acesta. Legtura dintre gradientul de temperatur i mrimile jx i Hz
este dat n (11), unde P este un coeficient:
P = (T/y)/ (jHz ) (11)
Dac exist un gradient de temperatur dup direcia x, dup direcia y apare, n
prezena cmpului magnetic, o for electromotoare Ey dup legea:
Ey= Q (T/x)Hz (12)
Unde Q este coeficientul Nernst-Ettinghausen transversal, efectul acesta
purtnd numele de efect N-E transversal.
Efectul Righi-Leduc const n faptul c dac exist un gradient de temperatur
dup direcia x, atunci, sub aciunea cmpului magnetic, apare un gradient de
temperatur dup y, acesta conducnd la apariia unei fore
termoelectromotoare care altereaz efectul Hall. Coeficientul Righi-Leduc este:
S= T/y /(Hz T/x) (13)
Astfel, tensiunea msurat cu poteniometrul compensator, V1 eate de fapt o
sum la care i aduc cotribuia efectele anunate anterior:
V1=VH+VE+VNE+VRL+VI (14)
unde VI apare ca urmare a plasrii incorecte a contactelor. Prin inversri
adecvate ale curentului ce trece prin prob, precum i a cmpului magnetic,
dup metodica dat mai jos, se obine:
V2= VH VE +VNE +VRLVI (I inversat)
V3= VH +VE VNE VRLVI (I i H inversat) (15)
V4= VH VE VNE VRL+VI ( H inversat)
Obinem deci pentru suma dintre tensiunea Hall i cea Ettinghausen:
VH +VE = (V1 V2 +V3 V4)/4 (16)
Bibliografie
1. P. S. Kireev - "Fizica semiconductorilor", Editura tiinific i Enciclopedic
1977.
DETERMINAREA BENZII INTERZISE A UNUI
SEMICONDUCTOR
Lrgimea intervalului energertic interzis este cel mai important parametru ce
caracterizeaz un semiconductor. Semnificaia fizic a benzii interzise este
simpl; ea reprezint energia minim necesar unui electron care ocup limita
superioar a strilor benzii de valen, ca acesta s treac n banda de conducie,
pe prima stare energetic. Banda interzis se poate determina din:
msuratori ale conductivitii electrice n funcie de temperatur,
msuratori ale constantei Hall n funcie de temperatur,
msurtori referitoare la distribuia spectral a coeficientului de absorbie a
radiaiei electromagnetice,
msuratori ale distribuiei spectrale a fotocurentului generat de absorbia
radiaiei electromagnetice.
n lucrarea de fa se determin lrgimea benzii interzise prin prima metod
menionat, aceasta fiind totui destul de puin precis.
Montaj experimental
Dispozitivul experimental conine doi cilindri masivi de cupru, cel superior
poate culisa pe dou tuburi de ceramic permind blocarea probei
semiconductoare ntre ei. n fiecare dintre cei doi cilindri este introdus cte un
termocuplu cromel-alumel.
Circuitul de alimentare al probei este format dintr-o baterie B1, o rezisten
variabil R i un miliampermetru. Dou fire de acelai tip ale termocuplelor se
utilizeaz pentru a realiza circuitul probei.
Cu ajutorul a dou sonde de wolfram se culege de pe prob o cdere de
tensiune care se msoar cu ajutorul unui compensator sau se nregistreaz pe
unul dintre canalele unui nregistrator.
Suportul pe care este fixat proba se introduce ntr-un cuptor care se alimentaz
da la reea prin intermediul unui autotransformator.
Pentru msurarea temperaturii se folosesc cele dou termocuple semnalele
electrice care apar n circuitele lor putndu-se citi pe dou milivoltmetre sau
nregistra la dou canale ale nregistratorului.
Dac cele dou termocuple indic temperaturi diferite, deci exist un gradient
de temperatur n prob, se utilizeaz un al doilea cuptor, situat pe blocul
inferior de cupru, astfel nct gradientul se fie anulat, instalaia permind acest
lucru. Punctele nregistrate care vor fi folosite mai departe vor fi acelea pentru
care ambele termocuple indic aceeai temperatur. Lipsa gradientului din
prob ne asigur lipsa forei termoelectromotoare care prin prezena ei ar vicia
rezultatele.
Mod de lucru
1. Se introduce proba semiconductoare ntre cilindrii de cupru i se fixeaz
cele dou sonde de wolfram n dou puncte situate pe aceeai parte a
probei.
2. Pentru a realiza contactele electrice de bun calitate ntre sonde i prob se
descarc ntre sonde un condensator, verificndu-se apoi ca cele dou
contacte s nu fie redresoare.
3. Se nchide circuitul de alimentare al probei i se msoar sau se
nregistreaz cderea de tensiune culeas de sonde la temperatura camerei.
4. Se alimenteaz cuptorul exterior efectundu-se operaia anterioar,
urmrind cu atenie compensarea eventualului gradient de temperatur; se
citete sau se nregistreaz temperatura.
Cunoscnd geometria probei precum i mrimea curentului care trece prin
prob se determin variaia cu temperatur a conductibilitii. Construidu-se
graficul funciei ln(T 3/2), variabil fiind 1000/T se determin E dup
formula (6).
ntrebri
1. Care este raiunea folosirii celor dou blocuri de cupru?
2. Dispozitivul, mai puin cuptorul exterior, este nchis ntr-un tub de sticl
racordat la instalaia de vid chiar n apropiere de cilindrul inferior. Ce rol joac
vidul i de ce poziia celor dou cuptoare permite compensarea gradientului de
temperatur?
STUDIUL TERMISTORULUI
1. Consideraii teoretice
Conductivitatea electric a materialelor este influenat de temperatur. Relaia
care exprim dependena conductivitii electrice de parametrii microscopici
ai materialului este:
= nq = nq2/m (1)
unde:
n numrul de purttori de sarcin din unitatea de volum;
q sarcina elementar a unui purttor de sarcin (1,61019 C);
m masa unui purttor de sarcin (electron 9,110 31 kg);
timpul mediu ntre dou ciocniri ale purttorilor de sarcin;
= q/m mobilitatea purttorilor de sarcin.
Semiconductorii intrinseci (puri) au dou tipuri de purttori, electronii cu
densitatea n i golurile cu densitatea p, conductivitatea lor fiind:
= nqn + pqp (2)
n semicondutor depind de temperatur mobilitatea (scade cu creterea
temperaturii) prin intermediul timpului dintre ciocniri i densitatea de
purttori, n i p, care crete cu creterea temperaturii.
ntr-un semiconductor intrinsec densitatea de electroni n din banda de
conducie este egal cu densitatea golurilor p din banda de valen (ci
electroni sunt n banda de conducie, attea goluri au rmas n banda de
valen):
n=p (3)
iar n condiii de echilibru este valabil legea aciunii maselor:
banda F
e n e r g ie
in te rz is a
te r m ic a
E
g o lu r i V
Banda
de
v a le n ta
p o z it ie
Figura 1. ntr-un semiconductor intrinsec energia termic creaz tot attea
goluri n banda de valen ci electroni mobili n banda de conducie.
Att Nc ct i Nv depind de temperatur ca T3/2. Folosind relaiile (3) i (4)
gsim:
= 1/ = e E / (2kT) (7)
atunci rezistena electric a materialului semiconductor va fi:
R = L /S (8)
Pentru cazul termistorului rezistena sa electric este catalogat sub forma:
R = AeB/T (9)
De remarcat c factorul A depinde de geometria dispozitivului (S i L) pe ct
vreme constanta B depinde doar de tipul materialului utilizat pentru
confecionarea termistorului (B = E /2kB). n cataloage se ofer i coeficientul
termic al rezistenei electrice (de obicei la temperatura de 25C):
= (1/R)(dR/dT) = B/T2 (10)
[]SI = % / grad
2. Dispozitivul experimental
Termistorul se gsete ntr-un vas termostatat a crui temperatur se modific
cu ajutorul nclzitorului i se msoar cu termometrul. Rezistena electric a
termistorului se msoar cu ohmetrul.
T e rm o m e tru
O h m e tru
T e rm is to r
In c a lz ito r
U
3. Modul de lucru
Se execut montajul experimental conform schemei;
Se alimenteaz nclzitorul de la variac, pornind de la tensiuni mici;
Se citesc temperatura din 5 n 5 grade i rezistena electric, ateptnd 2-3
minute pentru stabilirea valorii acestora dup fiecare modificare a tensiunii
de alimentare a nclzitorului;
Nu se va depi temperatura de 100 0 C.
4. Analiza rezultatelor
Logaritmnd relaia (9) obinem:
ln R = ln A + B/T (11)
Reprezentnd grafic lnR n funcie de 1/T se obine o dreapt a crei pant este
B:
B = (ln R2 ln R1) / (1/T2 1/T1) (12)
unde cele dou puncte 1 i 2 se aleg ct mai deprtate unul de cellalt, pentru a
avea o eroare de calcul ct mai mic.
Se calculeaz apoi valoarea zonei interzise a semiconductorului:
E = 2kBB (n eV) (13)
5. Rezultate experimentale
Nr. R lnR t T 103/T B E
crt. (k) (C) (K) 1
(K ) (K) (eV)
TIPUL SEMICONDUCTORILOR
Introducere
n semiconductori la procesul de conducie particip dou tipuri de purttori:
electronii i golurile. Concentraiile celor dou tipuri de purttori sunt egale
ntr-un semiconductor pur (intrinsec). Caracteristic semiconductorilor este c se
poate mri concentraia unui anumit tip de purttori cu multe ordine de mrime
fa de concentraia purttorilor de semn contrar, prin doparea acestora cu
impuriti.
Structura energetic a unui semiconductor pur presupune o band de valen i
una de conducie. Banda de valen este ultima band complet plin cu
electroni la 0 K i banda de conducie este prima band complet liber
(neocupat cu electroni la 0 K). Aceste benzi sunt separate ntre ele printr-un
interval energetic care nu are stri energetice permise pentru electroni i care se
numete band interzis i se noteaz cu E. E este energia pe care trebuie s-o
primeasc un electron pentru a trece din banda de valen n banda de
conducie. Electronii pot participa liber la procesul de conducie numai dac se
gsesc n banda de conducie.
La o temperatur T>0 K un numr de electroni din legturile de valen capt
o energie suficient pentru a deveni liberi, cu alte cuvinte pentru a trece din
banda de valen n banda de conducie. Locurile rmase libere n banda de
valen particip de asemenea la conducia curentului electric, ns cu sarcini
pozitive. Ele se numesc goluri. Este evident c n acest caz concentraia
golurilor din banda de conducie (liberi) este egal cu concentraia golurilor din
banda de valen. Purttorii generai termic prin tranziia band band
(procesul descris mai sus) se numesc purttori intrinseci. Concentraia " ni" a
purttorilor intrinseci variaz cu temperatura T dup legea:
ni ~ T3/2 e E / (2kT)
Dac ntr-un semiconductor n locul unui atom de baz se introduce un atom al
altui element, acesta din urm se numete impuritate de substituie. n reeaua
cristalin a Germaniului pur fiecare atom de Ge particip cu cei patru electroni
periferici la legturile de valen cu vecinii, realizndu-se astfel legtura
chimic complet. Dac se introduce n locul unui atom de Ge un atom din
grupa V a tabelului periodic al elementelor, de exemplu As, atomul de As
avnd 5 electoni de valen, numai 4 vor participa la legturile de valen din
reeaua Germaniului, al 5-lea electron rmnnd foarte slab legat de atomul de
As. Energia de ionizare a acestui electron este de ~ 70 ori mai mic dect banda
interzis a Ge. Probabilitatea ca acest electron s devin liber (s treac n
banda de conducie) este mult mai mare dect probabilitatea trecerii unui
electron din banda de valen n banda de conducie.
Atomul de As d un electron liber, rmnnd ionizat pozitiv, fr a da i un gol
n banda de valen deoarece As+ este fix n reea. Impuritile care dau
electroni liberi se numesc impuriti donoare. Introducerea impuritilor
donoare ntr-un semiconductor face s fie mai mare concentraia electronilor
dect a golurilor i semiconductorul s prezinte practic numai o conducie de
electroni. Un semiconductor de acest fel se numete semiconductor de tip n.
Dac n locul unui atom de Ge se introduce atomul unui element din grupa a
III-a a tabelului periodic, de exemplu Galiu, atomul de Ga avnd trei electroni
de valen nu va putea satisface cele patru legturi de valen din reeaua
germaniului, o legatur rmnnd nesatisfcut. La o temperatur diferit de 0
K un electron din legturile de valen ale Ge va executa un salt ocupnd
legtura incomplet a atomului de Ga acesta devenind ion negativ i n banda
de valen rmnnd o gaur liber. Asemenea impuriti, care accept
electroni elibernd goluri n banda de valen se numesc impuriti
acceptoare. n semiconductorul cu impuriti acceptoare concentraia golurilor
este mai mare dect a electronilor i practic un asemenea semiconductor
prezint o conducie de goluri. El se numete semiconductor de tip p. Energia
de ionizare a acceptorilor este de ~ 70 ori mai mic dect banda interzis a Ge.
Deoarece energiile de ionizare ale donorilor i acceptorilor sunt mult mai mici
dect lrgimea benzii interzise a semiconductorului, n schema energetic
nivelul energetic al donorilor Ed se afl situat lng banda de conducie, iar
nivelul energetic al acceptorilor Ea se afl situat lng banda de valen. Banda
interzis a Ge este de ~ 0,7 eV iar energiile de ionizare ale donorilor i
acceptorilor sunt de ~ 0,01 eV.
Impuritile ce dau nivele situate n apropierea benzilor permise se numesc
impuriti cu nivele puin adnci, spre deosebire de alte impuriti care dau
nivele situate n jurul mijlocului benzii interzise, nivele adnci, care joac un
rol important n procesele de recombinare.
Faptul c dup natura impuritilor introduse semiconductorul poate prezenta
un tip de conducie sau altul a dat posibilitatea s se realizeze dispozitive care
au revoluionat electronica modern. n realizarea unor asemenea dispozitive
este necesar cunoaterea tipului de conducie a semiconductorului. Tipul de
conducie se poate determina prin mai multe metode:
(1) metoda termosondei,
(2) medoda redresrii la contactul punctiform metal semiconductor,
(3) efectul Hall.
Metoda termosondei
Dispozitivul experimental folosit (figura 1) cuprinde un suport metalic (1), o
sond metalic (2) pe care este nfurat un cuptor ce se alimenteaz de la
secundarul unui transformator i un galvanometru (3) ce se leag n circuitul
sond suport. ntre sond i suport se introduce plcua semiconductoare (4),
astfel nct s apese pe prob. Temperatura sondei se menine n jur de 60oC.
G a lv a n o m e tr u
2 3
A lim e n ta r e
c u p to r
S o n d a c a ld a
S e m ic o n d u c to r
4
1
S u p o rt re c e
Figura 1. Termosonda
Proba semiconductoare se va nclzi la contactul cu sonda. Purttorii de sarcin
din regiunea cald a semiconductorului capt o energie mai mare dect cei din
regiunea rece i ca urmare ve exista un flux net de purtrori de sarcin de la
regiunea cald la cea rece.
Dac semiconductorul este de tip n partea rece se va ncrca negativ iar
partea cald se va ncrca cu sarcin pozitiv (avnd lips de electroni).
Dac semiconductorul este de tip p partea rece se va ncrca pozitiv iar
partea cald se va ncrca negativ.
Apare astfel o diferen de potenial care are semn contrar pentru cele dou
tipuri de semiconductori. La semiconductorul de tip n acul galvanometrului va
devia ntr-un sens, iar pentru semiconductorul de tip p va devia n sens contrar.
n acest fel se determin foarte simplu tipul de conducie. Sensul de deviaie a
spotului galvanometrului pentru un anumit sens de trecere a curentului electric
se stabilete practic n laborator.
Dispozitivul experimental
Pe un suport (1) se aeaz proba semiconductoare (2) pe care apas un vrf
metalic de wolfram (3). n circuit se mai gsete rezistena constant (4) i un
reostat R. Circuitul este alimentat cu curent alternativ prin intermediul unui
transformator (5). Tensiunea de pe contactul metal semiconductor se aplic la
plcile orizontale ale unui oscilograf iar tensiunea de pe rezistena (4) se aplic
pe plcile verticale.
5 Oscilator
Canal X(t)
R
osciloscop
Sarma W
Semiconductor 3 Canal Y
4
2 osciloscop
Suport 1
Obiectivele lucrrii
1. Se prepar probele prin lefuire i se decapeaz chimic. Decaparea chimic
a probelor de Ge se face ntr-o soluie H2O2 30%, iar decaparea probelor de
GaAs se face ntr-o soluie din 5 pri de NaOH i o parte H2O2 30%.
2. Se realizeaz montajul din figura 1, se alimenteaz cuptorul i se determin
tipul de conducie pentru mai multe probe semiconductoare de Ge i GaAs
dup deviaia spotului acului galvanometrului.
3. Se realizeaz montajul din figura 2. Se introduc transformatorul de
alimentare i oscilograful n priz.
4. Se pune pe suportul (1) o prob semiconductoare i se realizeaz contactul
cu sonda metalic (3) prin apsare. Se determin tipul de conducie pentru
mai multe probe i se compar rezultatele obinute la punctul 2.
ntrebri
1. Definii noiunea de gol.
2. Cum se realizeaz un semiconductor de tip n? Dar de tip p?
3. Ce polaritate are sonda cald la un semiconductor de tip n?
4. Cum determinai tipul semiconductorului cu un ohmmetru?
CARACTERISTICA CURENT-TENSIUNE A DIODEI
1. Teoria lucrrii
Punnd n contact un semiconductor de tip n cu unul de tip p, electronii din
stratul de tip n vor difuza ctre stratul de tip p unde se recombin cu golurile,
iar golurile din stratul p vor difuza ctre stratul n unde se recombin cu
electronii. Apare lng zona de contact un strat srcit n purttori mobili i
ncrcat electric din cauza atomilor donori, respectiv acceptori, ionizai rmai
necompensai de sarcinile mobile. Acest proces are loc pn cnd se egaleaz
nivelele Fermi dintre cele dou straturi datorit ncrcrii electrostatice
(echilibru termodinamic). Se formeaz o barier de potenial electric cu
valoarea dat de relaia:
qVb = FnFp = Ec Ev+kTln [NaNd /(NcNv)] (1)
unde: k - constanta Boltzmann (1,3810 23 J/K = 8,6210 5 eV/K);
q - sarcina elementar (1,61019 C);
Vb - diferena de potenial de contact;
Fn - energia Fermi n stratul n;
Fp - energia Fermi n stratul p;
E = Ec Ev - lrgimea zonei interzise a semiconductorului;
Nd - concentraia atomilor donori din stratul n =
= concentraia electronilor liberi din stratul n;
Na - concentraia atomilor acceptori din stratul p =
= concentraia golurilor din stratul p;
Nc - densitatea efectiv de stri n banda de conducie;
Nv - densitatea efectiv de stri n banda de valen.
s a rc in a fix a s a rc in a fix a
n e g a tiv a p o z itiv a
z o n a n e u tra z o n a n e u tra
g o lu ri P N e le c tro n i
m o b ili
-x P xN x
io n i a c c e p to ri io n i d o n o r i fa ra
fa ra g o lu ri e le c tro n i m o b ili
C o n c e n tr a tie p u rta to ri
d ifu z ie g o lu ri 1 0 16 d ifu z ie e le c tro n i
10 14
10 12
P p 'n N
n 'p 10 10
n p
10 8
p n
10 6
p o z itie
L n xp x n L p
2. Dispozitivul experimental
O surs stabilizat de tensiune (minim 10V) alimenteaz circuitul prezentat
schematic n figura 3. Prin modificarea valorii rezistenei Rv, se stabilete
curentul prin diod (simbol o sgeat cu bar la vrf, coada sgeii este zona P,
anodul, iar vrful sgeii, bara, este zona N, catodul). Rezistena R1 limiteaz
curentul prin circuit, iar rezistena R este utilizat pentru msurarea curentului
prin circuit.
R (1 0 0 )
+
R V R 1
V
V o ltm e tru
S u rsa d e
te n s iu n e D io d a
_
Se pot folosi diode cu siliciu (folosite pentru detecie, redresare sau ca celule
fotoelectrice) care au tensiunea de deschidere de circa 0,6V (UD tensiunea peste
care curentul prin dispozitiv crete mult, un parametru practic util n aplicaii).
Se pot folosi i diode luminiscente a cror tensiune de deschidere este de circa
1,8-2 V, pentru diodele care emit lumin roie, i peste 3 V pentru diodele care
emit lumin albastr.
Modul de lucru:
Se realizeaz schema montajului experimental.
Se fixeaz curentul prin diod msurnd tensiunea pe rezistena R. Valorile
recomandate sunt 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 5; 10; 20 (mA).
Se citete cderea de tensiune pe diod pentru curentul fixat, mutnd
captul mobil al sondei de la voltmetru.
Se trec n tabel datele experimentale (I i U)
3. Analiza rezultatelor
Se reprezint grafic "I" n funcie de "U". Intersectnd poriunea liniar a
graficului de la cureni mari cu axa tensiunii determinm tensiunea de
deschidere a diodei UD.
Logaritmnd relaia (6) gsim:
ln I = ln Io + qU/(mkBT) (7)
Se reprezint grafic "ln I" n funcie de "U". Din panta dreptei care se formeaz
determinm coeficientul "m" ce caracterizeaz tipul de curent prin diod:
m = (kT/q) (lnI /U) (8)
Din intersecia dreptei cu axa lui "ln I" la U=0 determinm "ln Io" i apoi
curentul invers maxim prin diod Io.
Tabel cu rezultate experimentale
Nr. crt I (mA) U (V) ln I UD (V) m Io (nA)
INFLUENA TEMPERATURII ASUPRA DIODEI
1. Teoria lucrrii
Alimentnd cu curent constant o diod, tensiunea direct pe dioda
semiconductoare variaz n funcie de temperatur cu circa 2mV pe grad
Celsius (scade cu creterea temperaturii). Acest fenomen, corelat cu preul mic
al dispozitivului, face din diod un senzor de temperatur foarte popular.
Densitatea de curent prin diod este:
j = jo(eqU / (kT) 1) (1)
iar densitatea de curent de saturaie are expresia:
jo = q(pnDp /Lp + npDn /Ln) (2)
unde:
- k constanta Boltzmann (1,3810 23 J/K = 8,6210 5 eV/K);
- q sarcina elementar (1,610 19 C);
- Dp , Dn coeficienii de difuzie pentru goluri i electroni;
- Lp , Ln lungimea de difuzie pentru goluri i electroni;
- pn concentraia golurilor minoritare n zona n a jonciunii;
- np concentraia electronilor minoritari n zona p a jonciunii;
- U diferena de potenial aplicat din exterior.
Dac inem seama c din legea aciunii maselor:
2. Dispozitivul experimental
Dioda se plaseaz ntr-un vas calorimetric. Temperatura din vasul calorimetric
este msurat cu termometrul i se modific cu ajutorul nclzitorului alimentat
de la autotransformator. Curentul prin diod se stabilete cu rezistena R i
tensiunea de alimentare folosit. Tensiunea pe diod se msoar cu voltmetrul.
Pentru a msura n mod corect temperatura doidei este necesar ca aceasta s se
afle ct mai aproape de bulbul termometrului, astfel ca temperatura indicat de
termometru s fie i temperatura diodei.
R
+
V o ltm e tr u T e rm o m e tru
U s ta b
D io d a
In c a lz ito r
U
3. Modul de lucru
Se realizeaz montajul prezentat anterior;
Se fixeaz valoarea curentului prin diod;
Se citete tensiunea pe diod i temperatura ei;
Se modific temperatura, mrind tensiunea de alimentare a nclzitorului;
Se ateapt 2 - 3 minute pentru stabilizarea temperaturii;
Se citesc temperatura i tensiunea pe diod
Preferabil s se modifice temperatura din 5 n 5 grade i s nu se
depeasc 80 - 90 oC.
4. Analiza rezultatelor
Se va reprezenta grafic tensiunea U pe diod n funcie de temperatura T,
exprimat n grade Kelvin. Din panta dreptei se calculeaz ST sensibilitatea
termometric:
ST = U/T = (mkB /q) ln (I/I0') (12)
Cunoscnd curentul I prin diod se va calcula I0'. Din relaia (10) se va estima
valoarea zonei interzise E n eV :
E = qU q ST T (13)
5. Rezultate experimentale
Nr. crt. t T U I ST I0' E
(oC) (oK) (mV) (mA) (mV/K) (A) (eV)
2 0 r 1 1
x b ( U) = + ( Vb U ) (2)
q N
A N D
unde:
- NA reprezint concentraia impuritilor acceptoare n stratul P;
- ND reprezint concentraia impuritilor donoare n stratul N;
- Vb diferena intern de potenial de contact (potenial de difuzie) i
- U tensiunea aplicat jonciunii:
U<0 pentru tensiuni inverse,
U>0 pentru tensiuni directe.
La tensiuni inverse (U<0) aplicate jonciunii p-n abrupte, capacitatea stratului
de baraj este:
Cb = C0 b /(1 U/Vb)1/2 (3)
Pentru alte profile de impurificare a jonciunii exponentul 1/2 are alte valori
(1/3 pentru jonciunea liniar gradat). Fenomenul de modificre a capacitii de
barier cu tensiunea invers aplicat este utilizat n diodele varicap, special
construite pentru a fi folosite n circuitele de acord LC, pe post de condensator
variabil.
Msurarea capacitii de baraj n funcie de tensiunea invers aplicat, cu
derivrile corespunztoare, permite s se obin direct distribuia impuritilor
n zona joniunii:
2 1
N( x ) = .
e 1
d 2 (4)
C
dV
Pentru tensiuni directe aplicate jonciunii, pe lng capacitatea barierei apare
capacitatea de difuzie, datorat transportului prin difuzie a sarcinilor libere
minoritare n zonele neutre sub aciunea cmpului electric aplicat din exterior.
3. Montajul experimental
U =
R =1M C =100nF
P C a p a c im e tru
V D io d a
4. Modul de lucru
Se realizeaz montajul prezentat anterior.
Se aplic tensiune invers pe poteniometru (minus fa de mas).
Se msoar tensiunea pe diod i capacitaea ei pentru 4 -5 valori ale
tensiunii aplicate, cu pas de 1V.
Se aplic tensiune direct pe poteniometru (plus fa de mas).
Se msoar tensiunea pe diod i capacitatea ei pentru 4 -5 valori de
tensiuni aplicate, cu pas de 0,1 V.
5. Analiza rezultatelor
Se reprezint grafic capacitatea msurat n funcie de tensiunea aplicat. Se
reprezint grafic logaritmul natural al capacitii n funcie de tensiunea
aplicat. Din poriunea liniar de la tensiuni directe mari extrapolat la U =0 se
determin C0d , fiindc:
lnC = lnCdo + U/Vt cnd U>0
2
Se reprezimnt grafic 1/C n funcie de tensiunea aplicat. Din poriunea
liniar de la tensiuni inverse se determin Cb0 ( extrapolarea lui 1/C2 la U=0) i
potenialul barierei Vb (panta dreptei), fiindc:
1/C2 = 1/C2bo U/(VbCbo2) cnd U<0
6. Rezultate experimentale
Nr. crt. U(V) C(nF) lnC 1/C2
Fenomene de strpungere
La tensiuni inverse mari aplicate unei jonciuni p-n se constat experimental o
cretere brusc a curentului. O asemenea regiune se numete tensiune de
strpungere iar tensiunea la care apare fenomenul se numete tensiune de
strpungere i se noteaz cu Vs. Exist trei mecanisme de baz responsabile
pentru strpungere:
instabilitatea termic,
efectul tunel (Zener) i
multiplicarea prin avalan.
I
te n s iu n i in v e r s e
U
s tra p u n g e re
te r m ic a
2 - tu n e la r e
3 - a v a la n s a
Modul de lucru
Scopul lucrrii e trasarea caracteristicii I-U (direct i invers) a unei jonciuni
p-n, de a determina tensiunea de strpungere precum i de a familiariza pe
studeni cu circuite care conin diode Zener.
a) Verificai datele de manufactur ale diodei Zener pe care o avei. Nu
depii valorile parametrilor nscrii pe diod.
b) Construii un circuit ca n figur. Atenie, la tensiuni directe dioda este un
dispozitiv cu rezisten mic i deci prin ea va trece un curent mare. Pentru
a obine caracteristica I-U a diodei se regleaz tensiunea la o surs pn la
50 V. nregistrai valorile curentului direct ce trece prin diod pentru
tensiuni cuprinse ntre 0 i 0,8 V.
R lim
m A
s u rs a d e
te n s iu n e
V D
ntrebri
a) Care este diferena ntre strpungere prin avalan i strpungere prin
efectul tunel?
b) De ce scade tensiunea de strpungere prin avalan cu creterea
concentraiei de doping?
c) Comparai un stabilizator Zener cu unul cu tub electronic.
Introducere
Regiunile de sarcin spaial de la o jonciune p-n se formeaz prin interdifuzia
purttorilor de sarcin liberi pn cnd se realizeaz echilibrul termodinamic.
Aceste regiuni se ntind de o parte i de alta a jonciunii propriu-zise, dar
grosimea lor n fiecare material este invers proporional cu concentraia
purttorilor majoritari n materialul respectiv.
(a )
P N
x
-x P xN
qN D
d e n s ita te a
(b )
d e s a r c in a
-x P s p a tia la
xN x
-q N A
V
(c )
p o t e n tia lu l
V b
x
-x P xN
E
x
-x P xN
(d )
c a m p u l e le c tr ic
-E m ax
R e z is te n ta R e z is te n ta
s e rie R S d in a m ic a R d
A nod C a to d
C d if
C a p a c ita te
d e d ifu z ie
C a p a c ita te C b
d e b a ra j
D io d a id e a la
Msurarea capacitilor
Capacitatea se msoar cu puni n curent alternativ (frecvene de ordinul kHz-
ilor) ce funcionaz similar cu Wheatstone. Ca exemple de puni de capaciti
se pot cita punile Schering sau De Sauty. Schema de principiu a unei astfel de
puni este redat n figura 3. Cu ea se pot msura i capacitile cu pierderi,
adic capacitile al cror dielectric are o conductibilitate electric diferit de
zero, ceea ce este echivalent cu a spune c aceste capaciti au o rezisten de
valoare finit legat n paralel. Capacitatea stratului de baraj este de acest tip,
avnd rezistena diferenial legat n paralel. La echilibrul punii avem:
Z3 /Zx = R1 / R4 sau Z3 R4 = Zx R1 (11)
iar:
Z3 = R3 /(1+ iC3 R3) Zx = Rx /(1+ iCx Rx)
Introducnd ultimele dou relaii n (11) i separnd partea real de cea
imaginar, obinem:
R1 Rx = R3 R4 Cx Rx = C3 R4
de unde obinem:
Cx = C3 R1 / R4 (13)
R In s tru m e n t R
1 4
de nul
G e n e ra to r
~ G
C 3 C X
R 3 R X
Montaj experimental
Msurtorile se fac cu o punte RLC. Exist diverse tipuri de asemenea puni,
dar n principiu funcionarea lor este aceeai, deosebirile fiind doar de natur
constructiv. Montajul experimental folosete o punte RLC "Orion" tip
TR-2150, tranzistorizat. Fiindc dioda trebuie polarizat n sens invers, la
bornele "EXT. BIAS" din spatele cutiei punii se leag montajul format din
rezistena R de circa 5kOhmi n serie cu sursa de tensiune i capacitatea C n
paralel (la bornele "EXT. BIAS"). Capacitatea C trebuie s fie mai mare dect
limita domeniului de msur n care se lucreaz. Dioda se leag la bornele X1 i
X2 ale punii, innd cont c dac se respect polaritatea din figur, borna X2
este pozitiv i la ea se leag catodul diodei (nsemnat de obicei cu un punct
colorat).
Schema montajului pentru msurarea rezistenei difereniale este asemntoare
cu precedenta, valoarea rezistenei R fiind de circa 10-20 Ohmi, iar capacitatea
lipsete. Dioda se leag tot la bornele X1 i X2 n sens direct (cu catodul la X1).
Mod de lucru
MSURAREA CAPACITII STRATULUI DE BARAJ.
1. Se trece comutatorul modului de lucru pe poziia C.
2. Se alege cu comutatorul domeniului de msur un domeniu de capaciti n
care presupunem c se situeau capacitatea diodei noastre (de ordinul
sutelor de pF).
3. Se aplic cu ajutorul montajului de polarizare o tensiune invers de cva
voli (n funcie de dioda msurat).
4. Se pornete puntea punndu-se ntreruptorul alimentrii pe poziia "ON".
5. Cu ajutorul comutatorului i a discului de compensare se caut echilibrarea
punii, urmrindu-se obinerea unei deviaii minime a acului indicatorului
de nul (aducerea acului n sectorul rou). Sensibilitatea instrumentului de
msur se poate regla cu butonul "SENSITIVITY".
6. Cu ajutorul poteniometrelor "LOSS BALANCE" se compenseaz
pierderile.
7. Se msoar capacitatea diodei la diferite tensiuni, msurndu-se de fiecare
dat i tensiunea corespunztoare cu ajutorul unui voltmetru care se
conecteaz tot la bornele X1 i X2, dar se scoate n timpul operaiunii de
echilibrare a punii, ntruct capacitatea de intrare a voltmetrului ar
influena rezultatul.
8. Se reprezin 1/C2 sau 1/C3 n funcie de tensiunea invers i se alege aceea
dependen a crei intersecie cu axa tensiunilor d o valoare plauzibil
pentru VD. se discut rezultatul trgndu-se concluzii asupra profilului
jonciunii (abrupt sau gradual).
MSURAREA REZISTENEI DIFERENIALE.
1. Se trece comutatorul modului de lucru n poziia R.
2. Se alege cu comutatorul domeniului de msur un domeniu de rezistene n
care presupunem c se situeaz rezistena diferenial a diodei noastre.
3. Se aplic cu ajutorul montajului de polarizare o tensiune direct mic
(zecimi de volt).
4. Se pornete puntea.
5. Se echlibreaz puntea i se citete valoarea gsit pentru rezisten.
6. Se msoar rezistena diferenial a diodei pentru diferite valori ale
tensiunii, msurndu-se de fiecare dat tensiunea corespunztoare cu
ajutorul unui voltmetru electronic conectat n paralel cu dioda. De regul
acest voltmetru poate rmne conectat n timpul echilbrrii punii, fiindc
rezistena lui de intrare este mult mai mare dect a diodei i deci nu viciaz
msurtoarea. Acest lucru este fals la tensiuni directe foarte mici, de
ordinul milivolilor, cnd rezistena diferenial a diodei poate depi pe
cea de intrare a voltmetrului.
7. Se reprezint grafic variaia rezistenei difereniale cu tensiunea direct.
8. Se va lucra cu mai multe diode de tipuri diferite, comparndu-se
rezistenele difereniale.
ntrebri
1. Ce capaciti apar la o jonciune p-n i prin ce se deosebesc ele?
2. De ce nu apare capacitatea de difuzie la polarizare invers?
3. De ce trebuie folosit o punte de curent alternativ pentru msurarea
capacitilor? Dar pentru msurarea rezistenei difereniale?
4. Ce rol joac tensiunea continu de polarizare aplicat diodei?
TRANZISTORUL BIPOLAR
1. Consideraii teoretice
Tranzistorul bipolar a fost realizat n 1947 de John Bardeen, Walter Brattain,
iar teoria jonciunii p-n i a tranzistorului de William Shockley. Cei trei oameni
de tiin au primit premiul Nobel n anul 1956, mpreun cu Walter Houser,
pentru contribuia lor la fizica semiconductorilor. Numele tranzistorului este
realizat prin contopirea cuvintelor "transfer rezistor".
Un tranzistor bipolar const din dou regiuni semiconductoare cu acelai tip de
conductivitate numite emitor i colector, separate de o zon subire de
conductivitate de tip opus numit baz. Se formeaz dou jonciuni p-n, fiind
posibile dou tipuri de tranzistori, NPN i PNP, cu simbolurile prezentate n
figura 1.
T r a n z is to r P N P T r a n z is to r N P N
C o le c to r C o le c to r
B aza B aza
E m ito r E m ito r
Figura 1. Simbolurile folosite pentru tranzistorii bipolari.
n tranzistorii bipolari un curent mic din circuitul jonciunii baz-emitor,
polarizat direct, comand un curent mare din circuitul emitor-colector, unde
jonciunea baz-colector este polarizat invers. Raportul dintre curentul de
colector IC i cel din baz IB este numit factor de amplificare n curent al
tranzistorului, notat cu "" i avnd valori cuprinse ntre zeci i sute. Criteriile
fundamentale pe care trebuie s le ndeplineasc un tranzistor sunt:
1. Emitorul este mult mai puternic dopat dect baza (curentul prin jonctiunea
emitorului trebuie s fie determinat de purttorii majoritari ai emitorului
injectai n baz, injecia de purttori majoritari ai bazei n emitor trebuie
sa fie neglijabil).
2. Regiunea bazei este fizic subire, mai mic dect lungimea de difuzie
(purttorii injectai n baz o traverseaz fr a suferi procese de
recombinare majore).
3. Zona colectorului este fizic mai larg dect cea a emitorului (ajut la
colectarea curentului injectat de emitor i la disiparea eficient a cldurii
generate pe jonciunea colectorului).
4. Colectorul este slab dopat fa de baz (n acest fel stratul de baraj are o
lrgime mai mare i jonciunea colectorului poate suporta tensiuni inverse
mari, de zeci pn la sute de voli, fr s se strpung).
Relaiile care guverneaz funcionarea unui tranzistor bipolar sunt:
1.Curentul de emitor este cel corespunztor unei jonciuni p-n polarizate direct:
Ie = Io (e Ueb / Vt 1) (1)
2.Curentul bazei este o mic fracie din curentul de emitor:
Ib = (1 )Ie (2)
3.Curentul colectorului este proporional cu curentul de emitor:
Ic = Ie (3)
Mrimea adimensional "", coeficientul de transfer de curent ntre emitor i
colector , are valori tipice mai mari dect 0,9 , uzual peste 0,99. Se poate arta
c:
= 1 (1/2)(g/L)2
unde "g" este grosimea bazei, iar "L" este lungimea de difuzie.
Cele trei relaii pentru cureni verific conservarea curentului n nodul de reea
reprezentat de tranzistor:
Ie = Ic +Ib (4)
Prin combinarea relaiilor (2) i (3) rezult:
Ic = [/(1)]Ib = Ib (5)
unde este factorul de amplificare n curent al tranzistorului cu valori
cuprinse ntre zeci i sute.
Polariznd direct jonciunea emitor-baz se vor injecta goluri din emitor (strat
tip p) n baz (strat tip n). Grosimea bazei fiind foarte mic comparativ cu
lungimea de difuzie a golurilor, curentul de goluri injectat n baz va trece
practic n colector sub aciunea cmpului electric din jonciunea colector-baz,
polarizat invers. Numrul golurilor care dispar prin recombinare cu electronii
din baz (purttori majoritari aici) este mic, astfel generndu-se curentul bazei.
Curentul de colector, practic egal cu cel de emitor, este comandat direct de
tensiunea emitor-baz, care asigur polarizarea direct a jonciunii emitor.
Tensiunea baz-emitor i curentul bazei fiind mici se obine o amplificare n
putere.
Dispozitivul este numit tranzistor bipolar deoarece ambele tipuri de purttori
mobili de sarcin intervin n funcionarea sa .
Alegnd ca mrimi de intrare Ib i Ube , iar ca mrimi de ieire Ic i Uce se
definesc urmtoarele familii de caracteristici:
1. Caracteristica de intrare Ib= f(Ube) la Uce constant.
2. Caracteristica de ieire Ic= f(Uce) la Ib constant.
3. Caracteristica de transfer Ic= f(Ib) la Uce constant.
2. Montajul experimental
+
R C (10 0O hm )
+ R (1 0 k )
B C D P 2
P 1 A B
E
V
3. Modul de lucru
Se realizeaz montajul prezentat anterior.
Se regleaz poteniometrul P1 pn cnd tensiunea msurat ntre punctele
A i B corespunde curentului de baz dorit (1, 2, 5, 10, 20, 50, 100, 200
A, tensiune msurat 10, 20, 50, 100, 200, 500, 1000, 2000 mV).
Se msoar:
- tensiunea pe jonciunea emitorului Ube ntre punctele B i E,
- tensiunea colector emitor Uce ntre punctele C i E i
- curentul de colector msurnd cderea de tensiune pe rezistena Rc ntre
punctele C i D.
Pentru un curent de baz dat se modific tensiunea aplicat colectorului prin
intermediul poteniometrului P2 pentru a avea o tensiune colector-emitor Uce de
0,5; 1; 2; 5 Voli.
4. Analiza rezultatelor
Se reprezint grafic caracteristicile de intrere, ieire i transfer. Se calculeaz
factorul de amplificare n curent , din panta caracteristicii de transfer i
coeficientul de transfer de curent .
5. Rezultate experimentale
Nr. crt. Uce (V) Ic (mA) Ube(mV) Ib (A)
1 0,5
2 1
3 2
4 5
5 0,5
6 1
1. Principii
Aplicnd un cmp electric unui material izolator apar deplasri locale
microscopice ale sarcinilor electrice de la poziia lor de echilibru, polariznd
materialul. Sunt importante dou mecanisme de polarizare:
1. polarizarea de deplasare, datorat deplasrii norului electronic fa de
nucleul atomului (polarizarea electronic) sau deplasrii ionilor pozitivi
fa de cei negativi ntr-un cristal ionic (polarizare ionic), este
independent de temperatur;
2. polarizarea de orientare apare la substanele care au un momente
dipolare elementare care se vor orienta de-a lungul liniilor cmpului
electric extern, este dependent de temperatur.
+
E le c tro d
+ + + + + + + + + + + + +
- - - - - - - - - - - - - - - -
- - - - - - - -
+ + + + + + + +
E pol - - - - - - - -
+ + + + + + + + D ip o l
- - - - - - - -
+ + + + + + + +
D ie le c tric
+ + + + + + + + + + + + +
- - - - - - - - - - - - - - - - E ext
E le c tro d
_
C a p a c im e tr u
T e rm o m e tru
C o n d e n s a to r
In c a lz ito r
U
3. Modul de lucru
Se realizeaz montajul prezentat anterior.
Se alimenteaz nclzitorul de la sursa de tensiune variabil. Se ateapt 2 -
3 minute pentru stabilizarea temperaturii.
Se citete valoarea curentului prin circuitul condensatorului sau valoarea
capacitii de pe capacimetru. E preferabil s se modifice temperatura din 5
n 5 grade i s nu se depeasc 90 0C.
n final se determin constanta aparatului prin citirea curentului printr-un
condensator cu capacitatea cunoscut.
4. Analiza rezultatelor
Curentul printr-un condensator este dat de relaia:
I = U/XC = UC (10)
de unde constanta aparatului va fi:
K = I/C = U (11)
iar capacitatea necunoscut se va calcula cu relaia:
Cx = I x / K . (12)
Fiind un condensator plan, legtura ntre capacitate i permitivitate este dat de
relaia:
C = orS/d (13)
Se ridic graficul capacitii n funcie de temperatur.
5. Rezultate experimentale
Nr. t T I C r
crt.
(0C) (K) (mA) (nF)
1. Teoria lucrrii
Fraii Pierre i Jaques Curie au observat n anul 1880 apariia sarcinilor
electrice pe faa anumitor cristale (cuar, SiO2 cristalin) supuse solicitrilor
mecanice (presiune, deformare). Mrimea sarcinii electrice este proporional
cu mrimea forei exercitate, iar sensul polarizrii electrice a cristalului depinde
de sensul aciunii mecanice. n acest efect piezoelectric direct (cauza este de
natur mecanic, efectul produs este electric) aplicarea unei tensiuni mecanice
conduce la redistribuirea sarcinilor electrice n volum, rezultnd o polarizare
electric volumic i implicit o sarcin electric indus pe suprafa. Denumirea
fenomenului provine de la cuvntul grecesc "piezo" care nsemn "a apsa".
Efectul piezoelectric invers avnd ca rezultat deformarea cristalului sau
apariia unei fore (cauza este de natur electric, efectul este mecanic) apare la
aplicarea unui cmp electric cristalului. Substanele piezoelectrice sunt:
a) substane piezoelectrice liniare (dependena polarizrii electrice P de
cmpul electric aplicat E este liniar).
b) substane feroelectrice (sub temperatura Curie depenena polarizrii
electrice P de cmpul electric aplicat E este neliniar, peste o anumit
valoare a cmpului polarizarea rmne constant, se satureaz). Peste
temperatura Curie substana devine paraelectric i implicit nu mai
prezint efect piezoelectric. Efectul piezoelectric se manifest n
feroelectrici dac acetia sunt polarizai, adic domeniile n care
polarizarea are o orientare bine determinat sunt orientate dup o singur
direcie macroscopic, direcia cmpului extern.
Sub form de ceramici se utilizeaz foarte mult titanatul de bariu (BaTiO3) i
titano-zirconaii de plumb (PZT) care nu sunt influenai de umiditate, iar
temperatura Curie poate depi 400 0C la PZT.
O plac piezoelectric de grosime i suprafa A =L x L, are cele dou fee
metalizate, de obicei cu argint. Efectul piezoelectric stabilete o relaie de tipul
Efect = coeficient piezoelectric Cauz, ntre:
mrimile mecanice:
- deformarea relativ S = s/ , [S]SI = m/m (1)
- tensiune mecanic T = F/A , [T]SI = N/m2 (2)
cu T=YS legea lui Hooke, (3)
i mrimile electrice:
- intensitatea cmpului electric E = U/ , [E]SI = V/m (4)
- polarizarea electric P = Q/A , [P]SI = C/m2 (5)
cu D = E = o rE = oE + P, (6)
unde: s = elongaie, = lungime iniial, F = for, A = suprafa,
Y = modulul de elasticitate al lui Young,
U = tensiune electric, Q=sarcina, = distana dintre armturi,
D = inducia electric, o permitivitatea electric a vidului,
(r) = permitivitatea electric absolut (relativ) a materialului.
Concret avem pentru:
Efectul piezoelectric direct (cauz mecanic, efect electric)
P = eS (7)
Efectul piezoelectric invers (cauz electric, efect mecanic)
T = eE (8)
Coeficientul piezoelectric "e" msurat n [C/m2] are valorile tabelate
e (C/m2) BaTiO3 PZT-2 PZT-4 PZT-5H Cuar Rochelle
e33 17,5 9,0 15,1 23,3 0,17 3,00
e31 4,3 1,9 5,2 6,5 0,08 -
e15 11,4 9,8 12,7 17,0 0,16
R L C
C 0
2. Montajul experimental
Rezonatorul piezoelectric n serie cu ampermetrul de curent alternativ este
alimentat de la sursa de semnal sinusoidal de frecven i tensiune cunoscute.
3. Modul de lucru
Se msoar curentul prin circuit n funcie de frecvena semnalului.
Se fac citiri mai dese ale curentului pentru valori de frecven apropiate de
frecvena de rezonan, att rezonan serie ct i rezonan paralel.
4. Analiza rezultatelor
Se reprezint grafic curentul prin circuit i valoarea impedanei n funcie de
frecven. Se determin frecvena de rezonan serie din minimul impedanei
(maximul curentului) i frecvena rezonanei paralel din maximul impedanei
(minim al curentului prin circuit).
5. Rezultate experimentale
Nr. crt. f (kHz) U (V) I (mA) Z (k )