Testarea echipamentelor

electronice si de telecomunicatii

2. Testarea circuitelor integrate

2.1. Testarea parametrica
2.1.2. Testarea parametrilor dinamici
2.1.2. Testarea parametrilor dinamici
Parametri dinamici:
 Timpi de tranzitie: ttLH, ttHL
 Timpi de propagare: tpLH, tpHL
2.1.2. Testarea parametrilor dinamici
2.1.2. Testarea parametrilor dinamici
Generatorul de stimuli de test:
• utilizarea de generatoare de impulsuri programabile digitale :
fronturi, latime, amplitudine, polaritate, factor de umplere, etc

Conditii de test:
• Evaluare in conditiile cele mai defavorabile de functionare:
tensiune de alimentare minima
sarcina maxima, etc
• precizie in determinarea momentului in care o tensiune atinge
o valoare de prag (discriminatoare de tensiune)
• precizie in determinarea valorii stabile de tensiune pe 0 sau 1
logic (circuite de esantionare si memorare)
2.1.2. Testarea parametrilor dinamici
DISCRIMINATOARE DE TENSIUNE
Determinarea momentului in care tensiunea de intrare sau de iesire a unui circuit
trece printr-o valoare de prag predeterminata – definita ca valoare fixa sau
procentuala

- STP = sursa de tensiune programabila

- Up = tensiune de prag
- V0 = tensiunea de discriminat
- C = comparator
- CB = circuit basculant
- Val = intrare de validare
- V0D = tensiunea discriminata
2.1.2. Testarea parametrilor dinamici
CIRCUITE DE ESANTIONARE SI MEMORARE
Determinarea cu precizie a unor valori fixe (ex. 0% sau 100% din
valoarea impulsului)

• E = impuls de esantionare
• GIA = generator de impulsuri ac
• PE = poarta de esantionare
• V0 = tensiunea de esantionat
• CEI = circuit de extensie a impulsului
• CAN = convertor analog-numeric - optional
 2.1.2. Testarea parametrilor dinamici
Exemplu de schema bloc pentru testarea ttLH
2.1.2. Testarea parametrilor dinamici

Discutii:

• Factori cheie pentru precizia metodei (frecventa

numaratorului, discriminatoarele, etc)
• Modificari in functie de modul de definire a
tensiunilor de prag
• Modificari pentru testarea: ttHL, tpLH, tpHL
2.1.2. Testarea parametrilor dinamici
Determinarea rapida a tpHL – testarea de caracterizare,
selectarea circuitelor