Sunteți pe pagina 1din 7

UNIVERSITATEA "POLITEHNICA" DIN BUCURETI DEPARTAMENTUL DE FIZIC

LABORATORUL DE TERMODINAMICA SI FIZICA STATISTICA BN 121

INTERFEROMETRUL MICHELSON

INTERFEROMETRUL MICHELSON

1. Scopul lucrrii Asamblarea interferometrului Michelson Observarea pe ecran a figurii de interferen nregistrarea funciei de distribuie a intensitii luminoase n figura de interferen

2. Principiul metodei Interferometria este o metod extrem de precis pentru msurarea variaiilor de lungime, a densitilor materialelor transparente, a indicilor de refracie i a lungimilor de und. Interferometrul Michelson face parte din familia interferometrelor cu dou fascicule. Principiul su de funcionare este descris n cele ce urmeaz. Un fascicul de lumin coerent obinut folosind o surs de lumin adecvat este mprit n dou de un dispozitiv optic (divizor de fascicul). Aceste dou fascicule pariale de lumin se propag pe drumuri diferite, sunt reflectate unul ctre cellalt, apoi sunt dirijate ctre detector, unde se recombin i se suprapun. Rezultatul este o Fig. 1 Fotografia figurii de interferen observat pe ecranul figur de interferen (vezi translucid figura 1). Dac drumul optic al unuia dintre aceste dou fascicule pariale, adic produsul dintre indicele de refracie i drumul su geometric, se modific, atunci se produce o diferen de faz fa de fasciculul neperturbat. Aceasta conduce la o modificare a figurii de interferen, care ne permite s msurm sau variaia drumului geometric, sau a indicelui de refracie, atunci cnd una dintre cele dou mrimi a rmas constant. Astfel, dac indicele de refracie al mediului parcurs de fasciculul perturbat nu se modific, atunci se poate msura variaia drumului su geometric. Acest tip de variaii se pot obine prin deplasarea controlat a uneia dintre oglinzile interferometrului, sau datorit cldurii ori efectelor de cmp electric sau magnetic. Pe de alt parte, dac drumul geometric rmne constant, putem determina variaii ale indicelui de refracie i mrimi care le determin, cum ar fi variaii ale presiunii, temperaturii sau densitii. Interferometrul Michelson poate fi utilizat pentru demonstrarea efectelor ocurilor mecanice sau ale curenilor de aer asupra comp onentelor optice ale ansamblului. De

pild, atunci cnd se realizeaz un montaj holografic, acest aranjament permite identificarea i eliminarea perturbaiilor.

3. Dispozitivul experimental

Fig. 2 Reprezentarea schematic a interferometrului Michelson

Dispozitivul experimental este prezentat n figura 2. Componentele acestuia sunt urmtoarele:

1. 2. 3. 4. 5. 6. 7.

Laserul cu He-Ne, liniar polarizat, montat pe un suport stabilizat Placa de baz (a), plasat pe o pern de aer Divizorul de fascicul (b) Oglinzile plane, prevzute cu mecanisme de reglare fin a poziiei (c, d) Lent ila sferic (e) Ecranul translucid pentru observarea direct a figurii de interferen (f) Camera video liniar pentru nregistrarea distr ibuiei intensitii luminii n figura de interferen 8. Calculatorul pe care este instalat un soft specializat pentru prelucrarea imaginii achiziionate de camera video

Not Laserul cu He-Ne este proiectat i realizat pentru lucrul n laboratoarele didatice, conform standardelor de siguran europene. n condiiile n care sunt respectate instruciunile de protecia muncii prezentate n anexa A, lucrul cu laserul nu este periculos. Nu privii niciodat direct n fasciculul laser emis sau reflectat . Lucrai cu filtrul neutru destinat reducerii intensitii luminii laser; filtrul va fi nlturat doar pe perioade scurte de timp, n caz de necesitate.

4. Modul de lucru Componentele optice ale interferometrului vor fi montate, plasate i aliniate n ordinea prezentrii lor n acest material. Not Componentele optice cu suprafee active deteriorate sau murdare pot produce perturbaii ale figurii de interferen. Operaiile de curare vor fi fcute doar de ctre personalul laboratorului, n conformitate cu instruciunile productorului. Mnuii cu grij oglinzile plane, divizorul de fascicul i lentila sferic, evitnd s atingei suprafeele active ale acestora. La sfritul exper imentului, acestea trebuie acoperite pentru a evita depunerea prafului i a altor impuriti pe suprafeele active. 1. Placa de baz i laserul - Plasai placa de baz (a) pe perna de aer, n poziie orizontal, pe o mas de laborator. - Montai laserul n suportul su i plasai-l n captul din stnga al plcii de baz. - Conectai laserul la sursa de tensiune i pornii-l. - Slbii cele trei piulie de blocare ale uruburilor de reg lare de pe suportul laserului. - Folosind uruburile de reglare, ajustai nlimea i nclinarea laserului astfel nct fasciculul s se propage n direcia orizontal, cam la 75mm deasupra plcii de baz (astfel exist un joc suficient pentru reglaje ulterioare). Msurai cu o rigl nlimea fasciculului pentru a verifica dac este orizontal. - Strngei piuliele de blocare. 2. Divizorul de fascicul (beamsplitterul) Fasciculele parial reflectat i cel parial transmis trebuie s aib intensiti aproximativ egale. Asigurai-v c fasciculul laser este incident aproximativ n centrul divizorului de fascicul.

Mai nti asigurai-v c divizorul de fascicul (b) reflect raza laser n direcia orizontal. Pentru a face acest lucru, plasai divizorul de fascicul cu suportul pe direcia de propagare a fasciculului, la captul opus al plcii de baz, n raport cu poziia laserului. Facei ca fasciculul reflectat de divizor s ajung ntr-un punct situat n imediata vecintate a aperturii de emisie a laserului. Corectai inclinarea divizorului de fascicul i, n consecin, drumul fasciculului reflectat, dup necesiti, folosind cele dou uruburi de reglare situate pe tij. n sfrit, plasai divizorul de fascicul n calea fasciculului laser, la un unghi de 45o , aa cum se arat n figura 2. Depunerea semi-transparent a divizorului de fascicul trebuie s fie orientat nspre laser.

3. Oglinzile plane Not Este mai uor s se realizeze alinierea oglinzilor ntr-o camer ntunecat. Reflexiile multiple ale fasciculelor principale produc aa-numitele fascicule pariale parazite, de mic intensitate. Acestea sunt ecranate de suportul lentilei i pot fi ignorate n timpul reglajelor. Calitatea fasciculului laser este afectat atunci cnd fasciculele parial reflectate de divizor sunt orientate exact n direcia aperturii de emisie a fascicului laser. Plasai oglinda plan (c) astfel nct fasciculul laser parial s fie incident n centrul oglinzii. Rotind suportul oglinzii (c) pe placa de baz i manevrnd uruburile de reglare de pe spatele suportului, aliniai oglinda astfel nct raza s se reflecte pract ic dup direcia incident. Aceasta nseamn c, dup transmisia sa de ctre beamsplitter, fasciculul reflectat de oglinda plan (c) trebuie s se regseasc ntrun punct situat puin deasupra aperturii de emisie a laserului. Montai ecranul translucid (f) n suportul su i plasai-l n afara plcii de baz a dispozitivului, ca n figura 2. Poziionai-l cam la aceeai distan fa de divizor ca i oglinda plan (c). Plasai oglinda plan (d). Rotind suportul su pe placa de baz i manevrnd uruburile de reglare de pe spatele suportului, aliniai oglinda astfel nct raza s se reflecte practic dup direcia incident i s se recombine cu primul fascicul parial, dup transmisia prin divizorul de fascicul. Reglai poziiile oglinzilor plane (c) i (d) folosind uruburile de reglaj, astfel nct cel mai intens fascicul aparinnd celor dou grupuri de reflexii s coincid perfect pe ecran.

4. Lentila sferic - Plasai lentila sferic (e), aflat n suportul su, pe placa de baz, ntre divizorul de fascicul i ecranul translucid, pentru a lrgi fasciculul (deschiderea mic a suportului lentilei trebuie s fie orientat ctre divizorul de fascicul). - Reglai nlimea i poziia lateral a lentilei sferice astfel nct cele dou fascicule laser pariale s o strbat axial.

Reglaje fine Dac dup ce ai parcurs etapele anterioare, nu putei observa pe ecranul translucid o figur de interferen alctuit din franje luminoase i ntunecate, liniare, atunci ncercai s modificai drumul fasciculelor de lumin, prin schimbarea cu puin a poziiei divizorului de fascicul sau a oglinzilor plane. Aliniai din nou lentila sferic, dup cum e necesar. Cu ct drumul mpreun al fasciculelor pariale, recombinate este mai lung ntre divizor i ecran, cu att interfranja este mai mare. Verificai aceasta modificnd cu puin alinierea divizorului de fascicul sau a oglinzilor plane. Dac nici dup efectuarea reglajelor fine nu se poate observa pe ecran figura de interferen, atunci reluai ntregul proces de asamblare i aliniere de la nceput. Atenie! Figura de interferen este mult mai strlucitoare i deci mai uor de observat, dac se nltur filtrul neutru, iar laserul opereaz la puterea de 1mW. Deoarece aceasta poate schimba puin drumul razelor de lumin, ar putea fi necesar o nou reglare a acestora sau a poziiei lentilei sferice, pentru a obine o aliniere bun.

II. Msurtori destinate determinrii lungimii de und a radiaiei utilizate n timpul msurtorilor: - Evitai aplicarea de ocuri mecanice plcii de baz a dispozitivului experimental. - Evitai aciunea curenilor de aer asupra componentelor dispozitivului. - Marcai pe ecranul translucid (h) poziia unui maxim de interferen. Acest semn va fi reperul fa de care se vor numra maximele care se deplaseaz pn la finalul msurtorii. - Rotii maneta reductorului ncet i uniform, plasnd de exemplu un deget pe aceasta pn cnd franjele de interferen ncep s se deplaseze (s-ar putea s fie necesare cteva rotaii pn cnd s se ntmple acest lucru). - Din acest moment efectuai nc cel puin o rotaie complet a reductorului. - Continuai s rotii maneta reductorului, contoriznd numrul de franje Z care trec prin dreptul reperului, n timpul unui numr N de rotaii complete ale reductorului.

Not Dac micarea oglinzii plane i, n consecin, a figurii de interferen nu este lin, este necesar lubrifierea mecanismului de ajustare fin a poziiei (operaia se efectueaz de ctre laborant).

Datele experimentale se trec ntr-un tabel care conine numrul de maxime contorizate ca funcie de numrul de rotaii complete ale reductorului, de forma: N 1 2 Z

5. Prelucrarea datelor experimentale Numrul N de rotaii complete ale reductorului, deplasarea total s a a oglinzii plane, lungimea de und a radiaiei laser utilizate i numrul de maxime contorizate ale figurii de interferen sunt n urmtoarea relaie de dependen: (1) Z 2 s , unde s 5m N . Factorul 2 apare n ecuaia (1), deoarece drumul geometric al razelor de lumin se schimb cu s att pentru raza incident ct i pentru raza reflectat, la o deplasare cu s a oglinzii. Aadar, lungimea de und se poate determina folosind relaia s 2 . (2) Z Rezultatele experimentale se trec ntr-un tabel de forma
s ( m )

( nm )