Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
..4A0
furaviionaii'e continua iin 'amp
itaacunz
INTERCONECTAREA
6,004/1/4/ MoV/F44
11,01_I
iTemNia,A-;`,
Bucureti, 2005
Copyright © 2005 S.C. Editura TEHNICA S.A. bate
drepturile asupra acestei editii sunt rezervate editurii.
-
Str. Olen, nr. 23, sector 2 P,EFATA
cod 024056
Cartea de fain' exploree: • I !tulle de circuit dezvoltate in ultimele tree deceni;
pentru unul din blocurile function :re este des intalnit in sistemele
microelectronice;
comparatorul.
Bucure0i, Romania
Mai inult ca sigur di ace.1.e reisfoieste cartea de fain' s-ar putea intrcba:
www.te h n i ca. ro „Cc
(went not de-a face cu un astfel iect at& de specializat, din zona hi-tech, la care,
oricuni, noi, romcinii suntem, in ce• • bun car, la periferie?" Ceea ce se poate rcispunde
coordonatorul colectiei prof. univ. dr. ing. este ca intrebarea porneVe de la •• •.! z . false.
mirceabodea Dezvoltarea sistemelor .:,..4ectronice, care a inceput la inijlocul
facultatea de electronics, telecomunicatii §i ingineria informatiei - secolulii;
universitatea “politehnica" bucuresti
al XX-lea, °data cu inventarea .,:-..storului a atins, incepcind cu anii '90, faza dc
coperta colectiei
maturitate, caracterizata de . :area activitcltilor din compurile
fundamentale
004
VI COMPARATOARE cu functionare continua in timp
10
2.5.
* Vezi, de exemplu, Circuite Curentul de alimentare
integrate analogice. Analizli si
proiectare de P.R. Gray §i
R.G. Meyer, Editura TEHNICA,
Bucure§ti, 1999 §i SPICE de A. 1i
Vladimirescu, Editura 2:6.
TEHNICA, Bucuresti, 1999. Alti parametri
3 Performantele
comparatoarelor cu
functionare continua in
timp
3.1. Rezolutia §i viteza
3.1.1. Viteza
Cu pri ns comparatoarelor cu un
etaj de ca.5tig
13
13
15
1 Introducere
2 Parametrii comparatoarelor
3.2.
2.1. 3.1.2. Viteza
2.2. comparatoarelor cu
Amplificarea §i rezolutia statics
mai multe etaje de
ca§tig Tensiunea de
Tensiunea de supracomanda ofset a
comparatoarelor
S
diferentiale
2)
2.
25
9
2.3.
Timpul de raspuns 3.2.1.
Ofsetul amplificatorului diferential
bipolar cu sarcina rezistiva
3.2.2.
Ofsetul amplificatorului
diferential MOS cu sarcina
rezistiva
31
3.2.3.
Ofsetul amplificatorului
diferential bipolare cu sarcina
activa
35
3.2.4.
Ofsetul amplificatorului
diferential MOS cu sarcina activa
36
4
Comparatoare cu tensiune de
prag interns
39
4.1. Comparatorul cu un
tranzistor MOS cu sarcina activa
39
4.2.
Inversorul CMOS
utilizat in calitate de
comparator
j1
4.2.1. Functionarea
inversorului CMOS
VIII COMPARATOARE cu functionare continua in timp Cuprins
13
vow ={0
7
dacd (1 1,, — vm_ )> 0
bunatateasca performantele astfel incat performantele for sa se apropie cat mai In Capitolul 2 sunt prezentati principalii parametri ai comparatoarelor de
mult de caracteristicile unui comparator ideal. tensiune cu functionare continua in timp. Sunt discutati in special parametrii speci-
Prezenta, in eadrul aceluiasi boc functional, atat a circuitelor analogice cat si fici comparatoarelOr dar sunt definiti si parametrii comuni cu amplificatoarele.
a celor digitale presupune cunoasterea si stapanirea de catre proiectantul unui Capitolul 3 este dedicat prezentarii si dezvoltarii unor modele analitice de
prim ordin, accesibile unei analize manuale, rezonabil de complexa, privind in-
comparator a caracteristicilor functionale ale ambelor tipuri de circuite. De aseme-
nea proiectantul unui comparator trebuie sa limiteze influenta unei categorii de terdependenta dintre rezolutia si viteza comparatoarelor cu functionare continua in
semnale asupra celeilalte. Prezenta unor semnale cu amplitudini si viteze de varia-tie timp precum si tensiunea de ofset a comparatoarelor diferentiale. Analiza manuila a
mari, caracteristice sistemelor digitale, in imediata vecinatate a unor circuite unui comparator (care este un circuit profund neliniar) nu poate oferi nivelul de
analogice cu castig mare dar si cu timp de raspuns mic impune precautii deosebite. precizie care se obtine prin simulare. Ca urmare, modelele analitice prezentate in
De altfel prezenta in acelasi circuit a ambelor tipuri de semnale, analogice si digita- acest capitol constituie un „ghid" care doar indica proiectantului caile care duc. la
le, este specified circuitelor cu semnale mixte. Deoarece comparatorul este un cir- „descoperirea" solutiei optime prin folosirea unui simulator de circuit, cum este. de
cuit de interfata dintre domeniul analogic si cel digital el este punctul in care cele exemplu, programul Spice.
doua tipuri de circuite se afla in imediata apropiere. Aici probabilitate unor influen-
Capitolul 4 este dedicat prezentarii principalelor metode si tehnici de circuit
te nedorite are valoarea maxima.
folosite pentru realizarea comparatoarelor cu tensiune de prag interns. Sunt pre-
zentate doar comparatoare CMOS deoarece ele reprezinta majoritatea solutiilor de
In aceasta carte se discuta numai cazul comparatoarelor cu functionare
acest tip.
continua in timp la care ambele semnale, atat eel de intrare cat si eel de referinta,
sunt tensiuni. Orice modificare a relatiei existente intre tensiunea de intrare si Capitolul 5 este dedicat comparatoarelor diferentiale fiind prezentate ilu-
ten-siunea de referinta este semnalizata la iesire, cat mai repede posibil, prin tii care utilizeaza tehnologii bipolare, CMOS si BiCMOS.
interme-diul unui semnal digital. Acest mod de functionare impune o serie de In Capitolul 6 sunt prezentate principalele tehnici de circuit utilizac; in
constrangeri privind modul de implementare al acestei clase de comparatoare. constructia de comparatoare cu histerezis. Sunt discutate atat comparatoarele care
utilizeaza pentru obtinerea histerezisului retele de reactie pozitiva externs cat si
In functie de modul in care se „genereaza" tensiunea cu care se realizeaza
comparatoare care includ intern dispozitive care conduc la histerezis. Si de
comparatia (tensiunea de referinta) comparatoarele cu functionare continua in
timp se impart in cloud categorii mari: aceasta data sunt analizate atat comparatoare cu tensiune de prag interns cat si
comparatoa-re diferentiale.
(1) Comparatoare la care semnalul de referinta este generat intern. In cazul
Capitolul 7 trateaza comparatoarele diferentiale de tensiune care au un
acestor comparatoare semnalul de intrare este comparat cu un prag care
domeniu larg al tensiunii de mod comun la intrare, domeniu care se apropie sau
este generat intrinsec, prin insusi modul de realizare a comparatorului, prag
chiar include ambele tensiuni de alimentare (comparatoare „rail-to-rail"). Acest
care intr-un model de prim ordin nu depinde de parametrii dispoziti-velor
tip de circuite sunt specifice circuitelor CMOS §i din acest motiv sunt prezentate
si de tensiunea de alimentare. Este important de observat ca, de cele mai
doar solutii CMOS.
multe ori, tensiunea de prag nu se regaseste ca o tensiune existents Intr-un
nod al circuitului. Ultimul capitol prk.zinta solutii de implementare a unor comparatoare care
nu necesita circuite speciale de polarizare, specifice circuitelor analogice. Aceasta
(2) Comparatoare diferentiale care compara doua tensiuni care sunt prezente
caracteristica permite utilizarea acestor comparatoare in mod independent intr-un
la cele cloud' intrari ale sale. Pe oricare dintre intrari se poate aplica o
circuit digital fara a mai fi necesare circuitele de polarizare care, pe de o parte,
tensi-une de referinta generata extern.
datorita meniul redus de componente, pot fi dificil de implementat intr-un circuit
digital si, pe de alts parte, pot fi influentate negativ de prezenta in imediata e
6
COMPARATOARE cu functionare continua in timp
tate a circuitelor digitate. Si in acest caz sunt prezentate doar solutii de implementa-
re CMOS
Avandin vedere ca aceasta carte se adreseala proiectantilor de circuite integrate monolitice prezentarea a fost
ordonata dupa criteriul tipului de proces folo- tark:!:1-
sit (cu alte cuvinte dupd tip:2; dispozitiv folosit): BIPOLAR (numai tranzistoare
bipolare), CMOS (numai tranzi3toare MOS) si BiCMOS (tranzistoare MOS si bi-polare).
PARAMETRII
COMPARATOARELCR.
modificarea intrarii trebuie, mai intai, sa elimine efectele acestei saturari. Intervalul comparator care se Inca-Ireaza in specificatiile de consum in toatc conditiile sale de
de timp necesar pentru a elimina efectele saturarii tensiunilor interne poarta numele operare.
de timp de revenire din supracomanda. Tensiunea de supracomanda la intrare care
poate produce saturarea tensiunilor interne ale unui comparator este considerate a fi 2.6. ALTI PARAM:7TRI
de ±100 mV si ea corespunde dezechilibrarii complete a unui etaj diferential reali- Ceilalti parametri ;._i unui comparator sunt comuni cu cei ale unui
zat cu tranzistoare bipolare. Din acest motiv cataloagele de circuite integrate speci- ampl,fi-cator si, din acest motiv, ei vor fi definiti fare a se insista asupra lor.
fies timpul de raspuns al comix,!,..',,Darelor in conditiile aplicarii unui salt de
tensiu-ne la intrare de: Dintre acesti parans.etri, pentru comparatoarele la care semnalul de re:: i.,
- la este generat intern se mentior eaza:
V," = ±(100 mV + I Vo voI). (2.5)
· Curentul de intrari („Input Current"), /11„,- curentul mediu al celor yia
Trebuie remarcate cloud aspecte: intrari al unui comparator diferential sau curentul de intrare al unui ce r,,,-
· 0 tensiune de supracomanda de 100 mV nu reprezinta in mod rator cu tensiune do f,rag inter*
obligatoriu · Domeniul de tensiune de intrare („Input Voltage Range"), IVR — dome-
cazul cel mai defavorabil de tensiune de supracomanda al unui niul de tensiune de intrare care poate fi aplicata unui comparator fara a-
comparator MOS; fi afectate temporar sau permanent performantele specificate;
· Nu in toate aplicatiile este posibil sa apara tensiuni de supracomanda atat · Rezistenta de intrare , „Input Resistance"), RN— rezister4a de intrare a
de mari. comparatorului;
Din aceste motive proiectantul unui comparator trebuie sa analizeze cu · Deriva cu temperatura a curentului de intrare („Input Current Drift"),
atentie conditiile specifice aplicatiei in care va functiona comparatorul si sa identi- TCIN—V ariatia cu temperatura a curentului de polarizare al intrarilor
fice situatia cea mai defavorabila pcntru a putea garanta functionarea corecta. sau al curentului de intrare:
· Rejectia variatiei tensiunii de alimentare („Power Supply Rej tion
2.4. COMPATIBILITATEA LOGICA
Ratio"), PSRR— aportul dintre variatia tensiunii de alimentare
Deoarece semnalul de la is sire comparatorului este preluat Si prelucrat tensiunii de intrare: la care se produce modificarea starii logice a iesirii;
de catre circuite digitale este absolut necesar ca iesirea sa sa poata comanda
corect Pentru comparatoarele diferentiale se mentioneaza urmatorii parametri:
aceste circuite. Nivelele de tensiune precum parametrii dinamici ai semnalului de · Tensiunea de ofset (.,Input Offset Voltage"), V as— tensiunea de male de
la iesirea comparatorului trebuie sa se incadreze in specificatiile corespunzatoare curent continuu ca care se modifica tensiunea de intrare la care se pro Luce
semnalelor de intrare ale familiei de circuite logice comandate. modificarea starii logice a iesirii;
· Curentul de polacizar,- al intrarilor („Input Bias Current"), IB--- CI ,ntul
2.5. CURENTUL DE ALIMENTARE
mediu al celor dct— intrari ale unui comparator diferential sau cure. ;1 de
intrare al unui coirf.arator cu tensiune de prag interns;
Datorita caracterului profund neliniar al functionarii unui comparator, Curentul de ofset („Input Offset Current"), Ios—diferenta dintre doi
curen-:u1 sau de alimentare poate varia puterriic in functie de nivelele de tensiune
·
de la ntrare si, respectiv, de la iesire. Variatia curentului de alimentare al unui
curenti de polarizare a intrarilor unui comparator diferential;
comparator poate fi mult mai mare decat cea care se intalneste in cazul unui
amplificator. Din lcest motiv proiectantul trebuie sa verifice ca a propus un
· Domeniul de tensiune diferentiala de intrare („Input Voltage Rt,.ge"), IVR
—domeniul de tensiune diferentiala de intrare care poate fi a icata
12 COMPARATOARE cu functionare continua in timp
O mentiune speciala
trebuie facuta in ceea
ce priveste parametrii
care mo-
dified tensiunea de intrare la care
are loc comutarea starii logice a
Deoarece
V
O
L
2•A, (3.3)
Fig. 3.1. Adaugarea unui inversor D1
logic la iesire este = V
I
IN
echi
vale I—
nta
cu
(3
inve
rsar 4)
ea
intra
Compromisul
rilor
. rczolutie statics — timp
de raspuns. Valoare.i ne-
Performantele comparato,,cDr :u cesara a rezolutiei statice r
•utui comparator, s , este
functionare continua in timp
impusd de aplicatia careia ii
Relatia (3.3) a fo.-1 este dedicat comparatorul. ?e
ob;-inutA considerand, linga valoarea rezolutiei statice
aproximativ, o valoare consl- aplicatia considerate impune
artd a castigului, respectiv. o insd valoarea intnalului maxim
functionare liniard a circuitului de timp in care comparatorul
comparatorului. aceasta trebuie sa sesizeze sa
aproximatie nu este it.r.tificata semnaleze rnodificarea
pentru toate configuratiile de tensiunii de intrare.
compar,loare ea reprezinta un Compromisul dintre rezolutia
statics timpul de rdspuns este
punct de plcc.ire util pentru o
factorul
analiza de prim ordin care a
majoritate cazurilor.
principal care determind proic
Tensiunea de ,;u? ztarea unui comparator.
racomanda.
Diferenta dintre Rezolutia dinar
valoarea tensit timpul minim de
r5spuns (de
intrare valoarea
compara-
rezolwiei .tatice poartil tie). Analiza compromise
numele de tensiune de dintre rezolutia dinamicei a
supraew („overdrive comparatorului $i seiu minim
voltage"): de reispuns [Vu iez, 2002]
porneste de la premiza
.
simplificatoary ;TA in-
1
0
V
16
=
dinamica, Avd(t), este definitd
0 de raportu! :Entre valoarea
, tensiunii de iesre valoarea
saltului treaptA de tensiune
V aplicat la i rare:
o
w A
-
V
= d
(
V
r 0
h =V
.
j U
o
T
g
i A (
c
3
3 .
. 6
5
) )
(Tc)
In continuare, pentru a
ilustra modul in care
compromisul rezolutie stati-ca
Trebuie observat faptul - timp de raspuns este
ca aceasta definitie a timpului influentat de particularitatile
minim de comparatie difera de de realizare a circuitului
definitia timpului de propagare comparatorului se vor
utilizata pentru circuitele considera doua topologii
digitale. In cazul circuitelor curente de comparator:
digitale, timpul de propagare se · comparator cu un etaj
defineste ca fund intervalul de de castig
timp dintre momentele in care · comparator cu mai
tensiunea de intrare, respectiv multe etaje de castig.
tensiunea de iesire, tree prin
valoa-rea corespunzatoare
tensiunii de prag logic, VTh.logic•
3.1.1. Viteza
Prin definitie comparatoarelor cu
rezolutia dinamica, Ad, este
tensiunea minima de
un etaj de ca§tig
supracomanda care asigura
atingerea tensiunii 1/0H la iesire n Circuitul
la momentul Tc.
echivalent general al
Relatia (3.7) descrie
unui etaj de ca§tig
compromisul dintre rezolutia
dinamica a comparato-rului §i
Mecanismul general de
timpul sau minim de raspuns.
amplificare in tensiune
Deoarece castigul dinamic, A
presupune transformare
vd, creste odata cu timpul, o
tensiunii de intrare intr-un
valoare mai mare a timpului de
raspuns corespunde unei curent proportional cu aceasta
rezolutii di- urmata apoi de transfor-
marea acestui curent din nou in
namice mai bune. Similar, tensiune prin inmultirea sa cu
pentru a obtine o reducere a impedanta din nodul de iesire.
timpului minim de raspuns
Capacitatea de iesire va
influenta comportarea in
domeniul timp a acestui o
amplificator.
functio
Circuitul echivalent nare
general al unui astfel de etaj de liniara
castig este prezentat in fig. 3.2.
a
Performantele comparatoarelor cu circuit
functionare continua In timp ului
(A, =
constan
Out t)
Considerand
[Vazquez, 2002] ca circuitul
functioneaza liniar si ca la r =
0 se aplica la intrare un salt
treapta de tensiune de valoare
Fig. 3.2. Circuitul echivalent general Ad > 0 si condensatorul este
al unui etaj de ca.5tig. descarcat, se obtine:
Vo, (t)=
Relativ la circuitul
Ad • Av •
echivalent din fig. 3.2 trebuie
(1— eir°)
mentionat faptul ea, cie;i el
seamana cu un circuit (3.8)
echivalent de semnal mic,
unde To = R, • Co.
este un circuit echivalent de
semnal mare (dupd cum se
Impunand conditia*
poate observa si din modul in
care s-au notat valorile Y
componentelor circuitului o
echivalent si ale tensiunilor). u
r
· Relatia )
viteza =
rezolut V
ie
pentru o
compar x
atorul
se obtine relatia care descrie
cu un
etaj de compromisul vitezel - rezolutie
a§tig al comparatorulu u un singur
presup
unand etaj de castig:
Presupunerea cd iesirea comuta de la 0 la
Voll nu este limitativd. Rezultate similare
se obtin si in
cazul in care se presupune < 0. in
aceste conditii iesirea coniutand de la
0 la VOL.
--c—= A, • In V
011 (3.10)
Av "C„ 1
·
18 COMPARATOARE cu functionare continuil in timp Performantele comparatoar, i., c-. functionare continua in timp
Tabelul 3.1
In relatia (3.10)_mdrimea:
Tensiunea do Timpul minim Relatia
supracome2di de raspuns de calcul
(3.11) Ad = 10 MV = -C i s Tc = 1µs (3.14)
Ad = 1 MV = 2 Tc= 14 p.s (3.10)
este constanta de timp a etajului de castig.
Ad 5 µV 0,01 Tc= 92 gs (3.15)
Avd (t). Av . t= gm
·
• Ro
t
To Ro • Co 1-u (3.13)
· Relatia
rezolutie a
comparatorului cu un etaj
de_cr41:ig presupunand
o functionare
(3.12) neliniara a circuitului (A v
constant)
(3.15) 1/0, - timpul i " ;17: 111 de comparatie", pag. 21). Acest timp poate
.
va-
20
T, 1
- Av • ln---
Tu
Se observa ca la limits, pentru Ad se obtine
Tc. Exemplu
Pentru a ilustra rezultatelc obtinute se considers un comparator caracterizat
de urmatorii parametri:
A v = 2x103, 2i, = 10 ns si VoH = 1 V.
Rezolutia statics a comparatorului este vIA
= OH I "V = 0,5 mV V.
Fig. 3.3. Aproximarea caracteristicii
statice de -=Av•
transfer a unui
comparator prin In
segmente de
dreapta. _VON
Performantele comparatoarelor
comparatorul continua sa
functioneze liniar. Ca urmare cu functionare continua in timp 21
relatia (3.10) se modifica
astfel:
a timpului maxim
paratie ie§irea comparatorului
de comparatie;
se afla in saturatie; tensiunea · Timpul necesar
de iesire a atins valoarea sa pentru comutarea
ie§irii de la,
minima, VSL, datorita unei
aproximativ, valoarea
supracomenzi puternice —VSL la valoarea 17011.
Prin rescrierea in aceste conditii a
anterioare:
relatiilor (3.8) pana la (3.14) se
(3.17) obtine:
Vis 1,<„
5_ —
Vsj A, 1+ VSL
T, Av • Ad
La t = 0 tensiunea de =
• inriv
intrare devine Ad. 1
Timpul maxim de
'OH
comparatie, denumit tinzp de
revenire din supraco-mandel,
(3.1
are doua components:
3)
· Timpul de iqire din
Av• Ad
saturatie este
timpul in care Daca valoarea saltului treapta al
punctul de tensiunii de intrare, Ad, este mutt
functional se muta mai mare
decat valoarea rezolutiei statice,
din A in B — vezi
V0H I Av tinzand catre V sH
fig. 3.3. Modelul / Av , se poate
liniarizat din fig.
3.3 nil permite
scrie ca:
determinarea
acestui timp, ca Ad •
urmare, in analiza C
L=2
de fats el est • Voi,
ignorat de§i poate
avea valori (3.19
semnificative! In )
r
consecinta analiza u
d fats conduce la o
estimare optimists
Se observa ca timpul de raspuns -
T V
este de cloua on mai mare decat c=A,
timpul minim de In ON
raspuns calculat anterior in conditii
optime de comparatie. 1+ Si '
Pentru valori ale tensiunii V
de supracomanda foarte
apropiate de val, :ea (3.20)
Tu
rezolutiei statice, Ad = • (1 +
Se observa ca la limits, pentru
e), unde E «1, relatia (3.18) se A —4 se obtine, de aceasta data,
d
Tc.
poate rescri, .,stfel:
22 COMPARATOARE supracomanda
continua in timp de raspuns
de calcul
4 Exemplu Ad = 10 mV = 20 •
in acest exemplu, pentru a Tc = 2µs
(3.19)
pure in evidenta efectul
neliniaritatii castigului Ad = 1 mV = 2 •
71, = 40 µs
asupra timpului de (3.18)
raspuns, se considers
= 5 µV = 0,01
comparatorul din Tc = 127 gs
exemplul anterior (3.20)
caracterizat de: Performantele
A = 2x10 3, •r u = 10 ns, comparatoarelor ,u
Voy = 1 V si V a= -5 V, = functionare continua in
Vcm /Av = 0,5 mV • timp
Valoarea timpului maxim
de raspuns in functie de Schema echivalenta a fiecai Ji eta;
marimea tensiunii de su- de castig este data in fig. 3.2.
pracomanda este: Se considers ea la Ince. ,,utu unui
proces de comparatie toate
condensatoa •
Tabelul 3.2 rele sunt descarcate ca se apica
Presupunand ca Ad • comparatorul
comparati in domeniul
time rezulta:
T. «T„ §i relatia (3.21) se pc scrie
astfel:
Ad 1 N
Se observe ca, in comparatie cu situatia in care amplificarea comparatoru-lui VOUT(t )'. —N- • — • t (3.23)
a fost considerate constants (vezi Tabelul 3.1), timpul maxim de com-paratie T„ N!
In concluzie, solutia
pentru imbunatafirea cu mai multe
timpului de revenire etaje de c4tig
din supra-
Dependenta viteza -
comanda o constitute
reducerea la minimul strict rezolutie de numarul de
necesar a excursiei de etaje. Pentru anali-za
tensiune la ieyirea functionarii comparatorului cu t
comparatorului. mai multe etaje se face apel la
3.1.2. Viteza urmatoarele presupuneri
comparatoarelor simplificatoare [Vazquez,
2002]:
· Toate cele N etaje N V
1 19
care compun + 0,79
comparatorul sunt Ad
identice;
· Circuitul
comparatorului
functioneaza
· Compararea se
realizeaza pornind din
starea de echilibru.
In fig. 3.4 este prezen
ata r,pendenta viteza -
rezolutie in functie de num.rul
de etaje de amplificare, relatia
.24), pentru VON = 1 V.
Se observe faptul
multor etaje de castig
conduce Intel-
deauna la reducerea timpului
r dT u 50
Ad [mV]
Fig. 3.5. Dependenta viteza — rezolutie in functie de numdrul de etaje de c4tig — detaliu din
fig. 3.4 pentru valori mici ale tens-unii de supracomandd.
Acceptarea (cu prudenta) a acestor rezultate trebuie sa tind cont de ipoteze-le
simplificatoare care au stat la baza analizei anterioare (functionare liniara, reali-zarea
comparatiei pornind din starea cie echilibru si N etaje identice) ipoteze care le restrang
aplicabilitatea in cazul situatiilor reale.
0
50
4,[mV] Concluzia cu caracter ge!lerai care rezulta, aceea ca un comparator cu mai
multe etaje este mai rapid deck unul cu un singur etaj isi pastreaza insa valabilita-
Fig. 3.4. Dependenta viteza — rezolutie in functie de numarul de etaje de ca0g.
tea.
10
Exemplu
(3.26)
26 COMPARATOARE cu functionare continua in timp 27
Performantele comparatoarelor Lit f'.u.ctionare continua in timp
Este vorba de tensiunea de ofset` care modifica valoarea tensiunii la care se * De multe ori, in locul denumirii „tensiune de ofset" se folose§te denumirea mai simpla de „ofset".
are loc comparatia:
V
IN ,Conzp VTh —VIN ± IV OSI (3.27)
ent de mare contributia ofsetului celui de al doilea etaj la tensiunea de ofset de intrare
este neglijabila in raport cu contributia tensiunii proprii de ofset a primului
etaj.
AX = Xi —X2 §i (3.28)
Performantele comparatoarelor cu functionare continua in timp 29
valoarea sa nominald:
X+X
X 2 (3.29)
2
0 imperechere perfecta este descrisa de Xi = X2 = X AX=0.
T + °-,12 (3.37)
-
+VCC +VCC 1
avos V
OUT+
OUT+
OUT-
OUT. 1
IN+
Dezvoltand in serie Taylor aceasta
IN-
relatie si neglijand termenii superiori
se obtine:
-VEE NEE
V„ .1— M —
Circuit fart neimperecheri
. .. .. .. .. .
Ms
Rc IS
Fig. 3.7. Schema electrica a until
amplific
Semnele din expresia de mai
ator
diferenti sus nu sunt relevante deoarete semnul
al cu varia-tiei fiecarui parametru in parte
tranzisto nu este cunoscut. In practica trebuie
are viz tinut cont de
sarcina
cazul cel mai defavorabil in care toti
rezistiva
parametrii variaza" in sensul crqterii
definitia modulu-lui tensiunii de ofset.
tensiunii
(3.35) sale de De asemenea variatia valorii
ofset.
rezistoarelor de sarcina nu este
Tinand cont de faptul ca, in mod corelata statistic cu variatia curentuliii
obi§nuit, neimperecherea parametrilor de saturatie a tranzistoarelor bipolare.
(3.36) este mull mai mica decat valoarea De aceea dispersia tensiunii de ofset
nominala, adica: se obtine prin sumarea patratica a
dispersiilor neimperecherii
A Rc « R c" s «I s valOrilor rezistoarelor, ,
expresia de mai sus se simplified ale curentilor de saturatie, ,
astfel: ai celor cloud
r?
tranzistoare:
V, Exemplu
— Pentru un etaj diferential oipo
R ar cu sarcina rezistiva
c caracterizat de valori-
le tipice temperatura. Ca urmare, in praciic
rezulta o dispersie a tensiunii reducerea derivei ofsetului folosind
de aceasta
tehnica este limitatd la o valoare linul a
ofset a,„ =1,33 mV la 30: 1 µV/°C.
dl'c •
Vos
dT
T
Ca urmare, de exemple., ur.
comparator care are o
tensiune de ofset de
2 mV va avea la 300 K o deriva a iunii
de ofset cu temperatura de 6,6 µV/°C.
VOS
=
ID1 R D2
·V D2
SS -VSS
=V
Circuit WA neimperecheri GS1 R D1
VGS
Cu notatiile din (3.29) si (3.30)
Fig. 3.8. Schema electricd a unui amplificator diferential cu tranzistoare MOS si 2
tensiunea de ofset devine:
sarcind rezistivA definitia tensiunii sale de ofset.
(3.3 vas. —VT0,, MD A[Uo • Cox • I
9) LA
Datorita dependentei D
patratice a curentului de drena,
g„ •ox
ID, al unui tranzistor MOS de
tensiunea sa poarta — sursd, VGS, I 1,)
relatia de mai sus devine:
2
• /
Vos = VTO,M1+
it V„ = 6,VTO,n 2
t R
• •
(3.40) n,
Performantele comparatoarelor cu
M
functionare continua in timp
1
•C
o Si in acest caz semnele din expresia
x, de mai sus nu sunt semnificative
M
deoarece semnul variatiei fiecarui
(3.41) 1
• parametru in parte nu este cunoscut.
0 In practied trebuie tinut cont de cazul
I
eel mai defavorabil in care toti
O
M parametrii variaza in sensul cres-terii
(3.42) modulului tensiunii de ofset.
1
Analizand expresia (3.42) se Un alt aspect pus in
constata ca in expresia tensiunii de ofset evidentA de expresia (3.33)
este acela ca dispersia re
apa-re explicit diferenta dintre tensiunile
zistoarelor de sareind este
de prag ale celor cloud' tranzistoare.
multiplicata cu (VG, —
Dispersia tensiunii de prag a
cu
unui tranzistor MOS depinde de
dimensiunile sale [Vazquez, 2001] (3.36) se observa ca in cazul
tranzistoarelor MOS rolul tensiunii
astfel:
termice este prelt
<2 2
2 at de tensiunea (VG, —1/7.0,„ )/2 .
2
TO
TO
AVE, = a
Tensiunea de supracomandd, V vaGs
1 .1
B2
y W-L W (3.43)
• I: 4 Exemplu
OUT-
-VEE
ICI = 1C3 = I S3 c V
Bias)/ VT 0 (3.47)
de +VCC
IN-
-VEE
11
I 5 Pn W .5,npn
VOS =VT[ • — ' (3.50)
i
' .5,pnp 5,npn
Deoarece variatia curentilor de saturatie nu este corelatd statistic se poate Fig. 3.10. Schema electrica a unui amplificator diferential cu tranzistoare NMOS si
sarcina activA PMOS definitia tensiunii sale de ofset.
scrie:
1 •
(W/L)
1
p
11
P 0x,P
+
/„
Vos = AVro,n ÷ A VTO,
,, p
A, .
, = VTO,M1 +
V05
1 Cox,„ •
.4 (W/L)n
,
, + Vcs —117-0,n (A[1-i„ • c„,,,n
M
1
• 'ORM + Ak •car,p •(VIL)p 11
C
2 ,u (3.52)
o • Cox,„ • (W/ L)„ n gi,
x • Cox,,, •(W1L)p
,
M Notand
1
• pn =µn • cox,„ •(w/L)„
0
I § i op = Ap • cox,p .
0 (3.53)
M (wIL)p
1
2
/ D ,
—
VTO,M 2 (w/i"n,M 2 • Car,M 2
L
L2
(3.54)
suntdatiderelatia:
Op VGS — Ap, ,
Se Vobserva ca dispersia
Oc= AVTO.n 6 11
' TO,p tensiunii def3„prag a tranzistoarelor (3.55)
care formeaza
OP PP
sarcina activa este demultiplicata cu radicalul raportului dintre cci doi factori 13, 11
,6„ §i pp. Minimizarea ofsetului presupune:
1. Cresterea (WIL)„ care conduce pe de o parte cresterea lui care are ca
efect atat cresterea transconductantei tranzistoarelor NMOS
cat reducerea tensiunii VG, -VT, care la randul sau reduce efectul
ambelor neimperecheri de /3 COMPARATOARE
2. Reducere raportului (WIL)p pentru reducerea lui pp care are ca efect
T TUNE DE PRAG INTERNA
suplimentar reducerea dispersiei sale lui p„ prin cresterea tensiunii c.
4 Exemplu
Fie un etaj diferential NMOS cu sarcina .activa PMOS Toate tranzistoarele
au aceeasi arie, WxL sunt caracterizate de:
VG, — VT,„ = 150 mV si A,D,„ = 0,1µm
= 450 mV si = 0,05 µm.
IVGS —VTO.n I
Cel mai simplu cor or este constituit dintr-un etaj de amplificare MOS
lizat cu un tranzistor bipola conectat cu emitorul comun, respectiv s sa nä
comuna, polarizat printr-o it.
tranzistoarelor bipolare (de,.
rentului de baza in functic d ,
40
activa. Datorita caracteristicilor specifice vnta
exponentiala a curentului de colector §i a c u
:ensiunea ba7A-emitor) ele sunt rareori folositz, in
In
COMPARATOARE cu functionare
curent. Pentru simplitate se
continua In timp presupune ca aceasta oglinda de
curent are factorul de transfer egal
VDD cu unitatea, adica tranzistoarele M2
M3 sunt identice.
Pentru a determina
tensiunea de prag a comparatorului
se presupune ca tensiunea de prag
logic, Vrkrogic, al circuitelor
digitale care preiau informatia de la
acest comparator are valoarea
VDD/2 adica jumatate din tensiunea
Fig. 4.1. Schema electricA a unui de alimentare. In aceste conditii se
comparator simplu CMOS. poate scrie:
Schema de principiu a (4 .2 )
unui astfel de comparator simplu
este prezentata in fig. 4.1.
Tranzistorul M1 este
amplificatorul in conexiunea cu
sursa comuna iar tranzistorul M2
este sarcina active. Polarizarea (4.3)
tranzistorului M2 este asigurata de
tranzistorul M3. Tranzistoarele M2
§i M3 formeazA o oglinda de M1
=I Comparatoare cu tensiune de prag
B
interne 41
ceea ce se traduce in:
• 1,1 C OX .rz
/01 V Al 'V A2
I B
VA1 +VA2
B
VDD.5V
M2
mosp L=0.6u W=1.6u
Out
M1
GND
V°, [V]
0 2 3 4 5
VIN N
1 Ain • C ox ,
(W)
/Dmosp = +
IDmosn C
p • OXp
L L W
P
(4 .9 )
inlocuind expresiile celor doi curenti Tinand cont de parametrii tipici de
proces: k.
corespunza-toare functionkii in regiunea
de saturatie rezulta: V„ = VT §i
Coxp = C (4.11
1 \2I—
IVT 1
· I1 p pentru a se obtine o tensiune de prag
•• C OXp •• (14/ I1/L)p • (1VGS I) = (4.10)
'cm *04). • ( G.s VT„YP(4.8) P a inversorului egala cu jumatate din
2
2 tensiur de alimentare,
Observand ca suma modulelor V
DD
tensiunilor poarta-sursa a celor doua 2
este necesara indeplinirea relatiei:
46 tehnologice lungimea minima a
functionare continua In Limp
canalului tranzistoarelor PMOS si
NMOS este aceeasi, fiind egala cu
In cazul inversoarelor
valoarea detaliului minim, (4.12)
logice se impune utilizarea unor
(„minimum feature size") marime
tranzistoare de di-mensiuni cat
care caracterizeaza procesul. Ca
mai mici si care, simultan, sa
urmare:
alba si o capabilitate de curent
cat mai mare. Solutia este data Lp = L,
de utilizarea unor tranzistoare cu detaliul (4.13)
lungimi minime ale cana-lului. minim .
In majoritatea proceselor (4.14)
Pentru inversorul CMOS din Aceasta analiza pleaca de
fig. 4.4 4= Ln= 0,6 p,m. la modul §i domeniul de variatie a
parametrilor tranzistoarelor
In aceste conditii MOS, specifice unui proces de
se ,.;urge la relatia tipica de
fabricatie particular. Pentru
proiectare a inversoarelor
inverso--ul din fig. 4.4
logice:
caracteristicile statice de transfer
Wp pentru variatiile extreme ale
=, pro-;esului de fabricatie sunt
u„ prezentate in fig. 4.6*.
=2...3
(4.15)
Wn Se observa ca tensiunea de
prag a inversorului se modificA
Intre 2,06 V §i '.,90 V ceea ce
4.2.2.
Depende reprezinta o variatie de la —18%
nta la +12%. Acest interval de
paramet variatie e poate reduce prin
rilor cre§terea dimensiunilor
inversor
tranzistoarelor (vezi Tabelul 4.1).
ului
CMOS
de
paramet In mod tipic fabricanlii de circuite
rii integrate folosesc pentru descrierea
tranzist
performantelor de viteza ale
oarelor
Dui dispozitiv trei modele specificate
prin S, T Yi F. Aceste litere corespund
Tensiunea de prag a initialelor cuvintelor din mba engleza
inversorului. Deoarece slow (lent), typical (tipic) §i fast (rapid),
0 0 1r 2 2 3 5
48 3 VIN[V]
functionare continua in timp
VIN M
Fig. 4.8. Ca§tigul de semnal mic a unui inversor CMOS in functie
de valoarea de curent continuu a tensiunii de intrare.
AV = + g m,
„). r„,,, Oro,
(4.16) 10-
•I / D ,p1
'
g
m
, I I..,
P 1116 119_____________ r r rrI iI ;mil 1G 10G
Y — VT.n
1k 10k 1COk 1M 10M 100M
f [Hz]
IVGS.PHIV
T•Pl'
(4.17) Trebuie facuta observatia
ca valoarea castigului variaza
puternic in functie de valoarea de
curent continuu a tensiunii de
intrare. Variatia castigului de
semnal mic in functie de valoarea
Av = —2 • _______________________________________
de curent continuu a tensiunii de
VDD intrare a inversorului din fig. 4.4
2 este prezentata in fig. 4.8. Se
•
V
T.n, observa ca valoarea castigului
atinge o
VAm VA, valoare
r om =---- r" = maxima
D, de
Inlocuind (4.17) in (4.16) si tinand cont de conditiile (4.11) si (4.12) rezulta: aproximativ
V
fig. 4.4 este prezentat in fig. 4.9 — caracteristica a. Se observa ca acest inversor are
o banda de frecventa care depaseste 100 MHz.
Rdspulisul in frecventa este influentat semnificativ de sarcina conectata la
iesirea sa. In conditiile in care la iesirca inversorului din fig. 4.4 este conectat la un VIN
alt inversor identic, raspunsul in frecventa se modified (vezi fig. 4.9. — caracteristi- VTh
sidera doar cazul in care la iesirea inversorului cste conectat un alt inversor
similar inversorului studiat. Vout
Variatiile de proces modified la randul for banda de frecventa intre o
valoa-re minima de 25 MHz si una maxima de 212 MHz (-63%, +212 %).
C 2n 4n 6n 8n 10n
initials este de —140 mV urmata de o supracomanda pozitiva de 2 V cu revenire
timp [s]
la supracomanda initials.
Fig. 4.11. Raspunsul invers,1 din fig. 4.41a un salt treapta asimetric de tensiune; e
Se remarca intarzierile foarte diferite ale intarzierilor care rezulta; —2 V urmata de o supracomanda de +140 mV.
o supracomanr,
pornind de la o supracomanda putemica care una moderata, intarzierea creste la
aproxima-tiv 650 ps in timp ce la tranzitia inversa intarzierea se reduce la valori
sub 100 ps. Acest aspect este deosebit de important la proiectarea verificarea
unui comparator cu functionare continua in timp.
52 COMPARATOARE cu functionare continua In timp Comparatoare cu tensiune de prag interns 53
2 3 4 5
VIN
[V]
Fig. 4.13. Dependenta curentului de alimentare al inversorului din fig. 4.4 in functie de
,
tensiune, itrent continuu de intrare.
55
54 COMPARATOARE cu functionare continua in timp Comparatoare cu tensiune de prag
Tabelul 4.1.
Influenta temperaturii. La proiectarea unui comparator bazat pe utili- Variatia parametrilor unu, invc:sor utilizat in calitate de comparator
zarea inversorului CMOS trebuie analizata si influenta temperaturii asupra parame- in functie tranzistoarelor
trilor circuitului. Analiza se efectueaza similar cu exemplele prezentate anterior. Inversor rim= Inversor „mare"
pm, W„ = 81).M, L„ = 6 pm, UM
W„= 0,8 p.m,
4.2.3. Reducerea depcndentei parametr ilor L„=3,6 Wt, = 1,8 µrr., p.m Wp = 18 Lp = 6
inversorului CMOS de varia7iie de proces L fMin.
= 0,6 T;pic Max. um
Min. Tipic Max. V
2,06 2,90
Din cele prezentate anterior a rezultat o variabilitate foarte mare a parame-
Tensiune de prag 2,21 2,42 2,62 %
trilor inversorului in functie de variatiile induse de procesul de fabricatie. -18 ') 18
135 160 193
12,2 24,4
Creterea dimensiunii tranzistoarelor. 0 cale de reducere a gamei de Castig —20 0 —20 %
—33 3 +33
variatie a parametrilor inversoralui o constituie crecterea dimensiunilor tranzis- 0,175 0,354 MHz
25 212 0,081
toarelor. In Tabelul 4.1 sunt indicate modificarile pe care le suferd parametrii in- Banda de frecventa +102 %
—63 +212 —51 0
versorului din fig. 4.4 dace dimensiunile tranzistoarelor cresc, in acest exemplu, de
36,9 45,9 51,8 ns
10 ori. Se remarca o reducere semnificativa a domeniului de variatie a parametrilor 0,21 0,47 0,87
inversorului. Explicatia acestei comportari se gaseste in reducerea efectelor date de intarziere —20 0 +13 %
—57 0 +78
dimensiunile mici ale tranzistoarelor. 160 90 125 175 µA
43
Deoarece lungimea inversorului a crescut de 10 ori a crescut in aceeasi Curent de alimentare —46 0 100 %
—46 0 +100
masura tensiunea Early a celor cloud tranzistoare si, conform relatiei (4.16), creste
de 10 ori amplificarea maxima a inversorului.
O solutie superioara pentru a .Iplementa un comparator o reprezinta utilizarea unui
Banda de frecventa scade de aproape 1000 de ori! Explicatia consta in
cresterea de 10 ori a impedantei de iesire a inversorului si cresterea de 100 de ori a lant de inversoare. Desi au ost -:onstruite comparatoare bazate pe acest tip de
capacitAtii de sarcina. Trebuie avut in vedere ca la iesirea inversorului am conside- solutie, [Kessler, 1979], lantul & inversoare este folosit de cele mai multe ori pen-
rat conectat un alt inversor identic cu acesta. tru implementarea etajelor de ie,<e unor comparatoare diferentiale.
Schema de principiu t tai astfel de comparator este prezentate in
intarzierea inversorului creste de aproximativ 100 de ori, in aceeasi masura
fig. 4.14.a. Schema, dimensiunil, tranzistoarelor principalii parametrii ai inver-
in care creste si capacitatea din nodul de iesire. Diferenta intre modificarea benzii
sorului folosit in comparatorul d*: f4:. 4.14.a se regasesc in fig. 4.14.b, respectiv In
de frecventa Si cea a intarzierii demonstrea7A o data in plus caracterul neliniar al
Tabelul 4.2. Parametrii intregului ..0.-nparator se regasesc in Tabelul 4.3.
functionarii inversorului in calitate de comparator. Pentru valori moderate ale ten-
siuni de supracomanda incarcarea descArcarea capacitatii de iesire se face cu un
curent constant egal cu diferenta dintre curentul de drend al tranzistorului PMOS si
curentul de drena al tranzistorului NMOS.
_______OOut
Tabelul 4.2.
(a)
VDD = 5V Parametrii inversoarelor CMOS din comparatorul din fig. 4.14
M2
Conditii Valoare
Parametru
mosp L=4u W=4.5u
Out
t V 2,46 V
Tensiune de prag T!,
M1 VIA= VT, —114
mosn L=4u W=2u
Amplificare maxima de semnal mic
2,5 V / Amplificare maxima 22 mV
Rezolutie statica aproximativa
GND
Banda de frecventa la semnal mic V,.,; = VT, 1,77 MHz
(b)
Fig. 4.14. (a) Comparator realizat prin conectarea in serie a trei inversoare logic CMOS intarziere intrare V1h —10 mV —> V,h +10 mV 230 ns
iesire 3,5 V 1,5 V
(b) Schema unui inversor.
intrare Vrh —1 V --+ V,,, +10 mV 252 ns
. Deoarece latimea tranzistoarelor nu poate fi mic§orata foarte mult (latimea Timpul de revenire din supracomanda
tranzistorului NMOS din fig. 4.14. este de 2,5 on latimea minima posibila in pro- tewe 5 V 1,5 V
cesul respectiv) singura solutie posibila ramane creterea lungimii tranzistoarelor. Curentul maxim de alimentare VIN =
39 µA
Cre§terea lungimii tranzistoarelor MOS are ca efect crqterea amplificarii inverso-
rului din care fac parte. Evident, aceasta amplificare §i, respectiv, rezolutia statica
corespunzatoare nu au utilitate practica: un semnal de amplitudine de ordinul mi-
Tabelul 4.3.
crovoltilor va fi acoperit de zgomot.
Prin tema de proiect se cere ca acest comparator sa asigure o functionare Parametrii comparatorului format dintr-un lant de trei inversoare
corecta pentru o tensiune de supracomanda la de intrare de 1250 µV In jurul identice cu dimensiuni minime
tensi-unii de prag. Din acest motiv caracterizarea comparatorului s-a realizat
Parametru Conditii Valoare
pentru sal-turi de tensiune de ±250 µV.
Tensiune de prag VT , 2,46 V
Valoarea de 250 µV a saltului de tensiune este mult mai mare decat
Amplificare maxima VIN = V7h 1.400.000
rezolu-tia statica. Din acest motiv timpul de raspuns este mult mai mic decat cel
estimat din banda de frecventa de semnal mic. Rezolutie statica aproximativa 2,5 V / Amplificare maxima 1,8 µV
Un rezultat foarte interesant este furnizat de timpul de revenire din Banda de frecventa la semnal mic VIN = vTh 0,24 MHz
supracomanda. In cazul comparatiei unui semnal de amplitudine mare urmata de
comparatia unui semnal mic de semn contrar timpul de comparatie crete foarte intarziere intrare V,h —2501./V Vih +250 1.1.V. 208 ns
iesire 5 V 0V
mult, de peste cloud ori.
intrare Vd, —1 V -4 Vth +250 475 ns
Timpul de revenire din supracomanua
µV iesire 5 V -4 0 V
Reducerea timpului de revenire din supracomanda. Reducerea
Curentul maxim de alimentare VIN = Vrh 117µA
timpului de revenire din supracomanda se poate realiza prin limitarea excursie de
tensiune. Reducerea prin limitare a excursiei de tenOlne trebuie aplicata in primul
function nod de castig pornind de la intrare. In cazul comparatorului din fig. 4.14 acesta este
are continua in timp nodul de la iesirea primului crsor.
Analithnd ceea ce se intampla in cazul revenirii din supracomanda se pot
intalni cloud situatii. torului NMOS din Inv1, a lui M1 prect m 5i a
ca5tigului lui Inv2. 59
(1) In intervalul in care la intrare este aplicata o supracomanda de valoare mare
tensiunea de la ie5irca primul inversor se va limita datorita neiiniaritatii Ca- Prin limitarea excursiei de tcn,iunc la
racteristicii sale de transfer. In cazul de fats, o tensiune cu 1 V mai mica ic5irea inversorului Inv1, tranzisto-rul NMOS din Inv1 va conduce chikr i in
decat tensiunea de prag va produce la iesirea primului inversor o tensiune de conditiile in care tranzistorul sau PMOS este blocat ca urmare datorith ;, :Aril la
aproximativ 4,95 V. intrarea sa a unei tensiuni de supracomanda puternice. Ca urma - -nversorul Inv1 va
(2) Cand la intrare se aplica o supracomanda de 250 µV (adica un semnal cu consuma curent de alimen-
doar 250 µV mai mare decat tensiunea de prag) aceasta va produce un cu- tare in permanents.
rent foarte mic care trebuie sa coboare tensiunea de la iesirea inversorului de Similar, pentru excursia 1, ..;as contrar, limitarea superioard a excursiei de
la valoare anterioara de 4,95 V pana la A v • (V 11 — V77,) = 114.250 µV = tensiune se la ie5irea lui Inv1 este 1,:..rminata de deschiderea lui M2.
28,5 mV. Valoarea acestui curent este doar de 22 nA! Acest curent minus-cul Considerand Ca tensiunea c= prag a inversorului Inv2 este VDD / 2 tensiu-nea
trebuie sa descarce capacitatea de intrare a celui de al doilea inversor. Din la care se deschide M1 este VD,.. 2 + VGS.M1 iar cea la care incepe sa conduce M2 este
acest motiv timpul de intarziere creste cu peste 250 ns.• VDD 2
—
IVG.s.m21. Tensiuniie VGS.M1 §i IVGS.M21 depind, prin curentul de iesire al
inversorului Inv1 de tensiunea de la intrarea comparatorului.
Solutia de reducere a excursiei de tensiune o constituie adaugarea a doua
Excursia de tensiune de la ie5irea Invi este limitata la:
tranzistoare M1 5i M2 dupa cum se indica in fig. 4.15. Aceasta solutie a fost propu-sa
in [Traff, 1992] si a fost reluata.' si dezvoltata in [Vazquez, 1995] pentru o aplica-tie VDD !•,
de comparator de curent. In [Redman, 1997] si [Vazquez, 2002] ea a fost propu-
17
0,InviC VDD VGS.M1
,
2 1+ Ay 2 1+ A„,,nv.,
sa ca solutie de limitare a excursiei de tensiune.
Daca semnalul de la intrare comparatorului are valori suficient de marl
Daca semnalul de intrar: are valori mici tranzistoarele M1 si M2 raman
tensiunea de la iesirea lui Inv1 tinde sa scads ceea ce determine cresterea tensiunii blocate circuitul functioneaza ii1111:41* cu cel din fig. 4.14. Tranzistoarele M1 si
VDD
Tabelul 4.4.
Paranietrii comparatorului format dintr-un lant de trei inversoare identice
5
Parametru Conditii Valoare
Tensiune de prag Vrn 2,46 V
Amplificare maxima VIN = V771 1.400.000
Rezolutie statics aproximativa 1 V / Amplificare maxima 0,6 µV 7;
62 5.1.
functionare continua in timp COMPARAT
OARE
IN+ DIFERENTIA
OUT- LE
OUT+
BIPOLARE
IN- CU IWRE
ASIMETRICA
Fig. 5.2. Simbolul
Primele comparatoare integrate
si
schem au fost realizate utilizand tehnologiile
a de bi-polare care au devenit disponibile la
princip mijlocul anilor 1960.
iu
genera
la a 5.1.1. Primul comparator
unui integrat monolitic
compa
rator Primul comparator integat,
de IAA 710, a aparut in 1965
tensiun fiind proiectat de
e cu
Robert Widlar care a fost si autorul
iesire
simetri primului amplificator operational
ca. monolitic. Schema acestui comparator
este prezentata in fig. 5.3 [Widlar,
exemplu, cazul circuitelor ECL, 1965].
comparatorul diferential va avea o Acest prim comparator a fost
structura dife-rentiala pentru toate proiectat pentru a realiza o
etajele. Simbolul structura interns a vitezd mare de
unui astfel de comparator sunt raspuns sacrificand rezolutia statics,
curentul de intrare si curentul de
prezentate in fig. 5.2.
polarizare a intrarilor [Manolescu,
in sectiunile urmAtoare sunt 1983].
prezentate cateva solutii constructive Schema cuprinde cloud etaje
analizan-du-se structura schemei diferentiale de amplificare urmate de un
electrice si performantele obtinute. repe-tor de tensiune. Primul etaj de
amplificare este format de limiteaza excursia pozitiva de
63
tranzistoarele Q1 si Q2 avand sarcina .
..:nsiune a pentru a preintampina
Comparatoare diferentiale
rezistiva fund polarizat la un curent de supracomanda circuitelor logice
1,8 mA. Cel de al doilea etaj, de cup:ate la ie§irea comparatorului.
asemenea cu sarcina rezistiva, este Pentru realizarea conversi,
format din tranzistoarele Q3 si Q4 find diferential — nesimetric
polarizat prin intermediul diodei Zener cu conservarea
integrals a castigului diferential st;
D1. Tensiunea de strapungere a
bloseste circuitul format din Q3, Q5
acestei diode are valoarea tipica de 6,2 R1.
V fund de fapt o jonctiune baza-emitor
a unui tran-zistor bipolar standard. Aceste componente fonneaza t n
Dioda D2 este realizata in mod amplificator inversor care fixeaza
similar. Tranzistorul Q7 are rol de potentialul IN-
repetor de tensiune. Dioda D2 colectorului lui 01 deterntat, prin
translateaza nivelul de tensiune din inversarea fazei tensiunii la nivelul IN+
— 2•V„
R,
5.1.2. Comparatorul dual
64 COMPARATOARE cu functionare continua in timp Comparatoare diferentiale 65
____0V+
Curentul de polarizare al celui de al doilea etaj este dat de: R19
100
V +—VZ.OI—R1• /0 /2 — 2 • VBE
.1,23 — 2. 023
R3 + R4
µA 711 024
rezolutiei si a consumului. De
asemenea curentii de polarizare depind
direct de tensiunea de alimentare. Tran-
zistorul Q6 are rolul de a preveni
intrarea in saturatie a tranzistorului Q4
reducand astfel timpul sau de
comutare.
Aplicatia careia i-a fost destinat
acest comparator, citirea memoriilor
mag-netice, a condus la constructia sa
duald si a determinat adaugarea celor
cloud intrari
STRO
B ea
STROBEb
Comparatorul utilizeaza cloud
etaje de amplificare: primul cu
tranzistoarele Q1 si Q2 §i cel de al
doilea cu Q9 .i Q10. Intre cele cloud'
etaje de amplificare fost introdus un
etaj de deplasare a nivelului de curent
continuu format din Q4, D1, D2 §i R4
pentru una dintre cai §i Q6, D3, D4 §i
R6 pentru cealaltd cale. Tranzistoarele
sunt conectate in conexiune de repetor
iar deplasarea nivelului de curent
continuu se face prin intermediul
diodelor si a rezistoarelor.
Polarizarea celui de al doilea
etaj dispune de o bucla de reglaj a
modului comun formed' din 08, Q14,
Q15, R11 R15 care mentine valoarea
caderii de
Fig. 5.4. Comparatorul integrat µA 711.
Fig. 5.5. Comparatorul integrat µA 760.
de validare, STROBEa
conectare la masa a unei intrari
STROBE se dezactiveazA comanda
iesirii de ate comparatorul respectiv,
iesirea depinzand doar de starea
celuilalt comparator. Comparatorul are
un timp de ras-puns de aproximativ 80
ns pentru o tensiune de supracomanda
de 2 mV.
Out
Circuit de polarizarel
IN+0-- Q1 02 •IN-
Q3b Q4b
OUT
Q6a OUT
3
Fig. 5.8. Comparator cu polarizare variabila.
(5.3)
k • Tlq (sourceT-----
1 p.a.
Prin utilizarea a cloud' astfei ce etaje driver interconectate corespunzator Tranzistoarele Q14, Qi 3 si 016 formeaza driverul tranzistorului de iesire
care comanda tranzistoarele de iesire este creat un driver neliniar in clasa AB. pnp, 018. Tranzistoarele 024, 023 si Q26 formeaza driverul tranzistorului de
iesirc npn, Q28. a putea genera curent la iesire iptrc tranzistorul de iesire a fost inserata oglinda
Deoarece acest tip de driver poate doar sa absoarbd curent de la iesire fora de curent compusd din tranzistorcle 0281 si Q282.
Tranzistoarele Q17 si •4:: 7, conectate ca diode, previn saturarea adancd tranzistoarelor de iesire care poate 7roduce intdrzieri marl la revenirea din
a supracci-mandd.
Circuitul de polarinre compus din tranzistoarele 031...Q38 proportionala cu temperature (PTAT, „Proportional to Absolute
rezistoarele R31, R32 si R38 un generator de curent a carui valoarea este Temperature") capabil sa opereze la tensiune de alimentare de numai 1 V.
Principalele performante e acestui comparator sunt: amplificare ir. 160 i.tA.
tensiune de 68 dB, timp de rdspuns nai mic decat 600 ns, curent de alimentare de
5.1.8. Comparatoar._ 'fare rapids cu limitarea in sectiunile anterioare 3-a -atat ca o cale esentiala de crestere a vitezei
excursiei de toys sine in nodurilor interne di
comparatie o reprezintd .:xcursiei de tensiune a nodurilor interne Pentru ilustrarea acest, anici s-au ales un comparator integrat intr-ut
prevenirea saturdrii tranzistoare or ,olare. convertor digital-analog de 14 [ _aio, 1981] si un comparator standard,
CMPO:
[PMI, 1990]
Primul comparator schema sa din fig. 5.11) utilizeazd cloud tran -
zistoare conectate ca diode in 2 *Li- )aralel la iesirea primului etaj de amplificare
V1
V2 Aceste diode previn aplicarea iferente de tensiune mai maxi decat aproxima-
Fig. 5.10. Schema driveruiui etajului de iesire in clasa AB.
72
COMPARATOARE cu functionare continua in timp Comparatoare diferentiale
Fig. 5.11. Comparator care utilizeaza limitarea excursiei interne de tensiune. Schema comparatorului CMPO1 este prezentatd in fig. 5.12. Pentru
limitarea excursiei de tensiune a nodurilor interne sunt utilizate diode
Schottky. Etajul de intrare, Q1 si Q2, este realizat in configuratie de repetor pe emitor. Limitarea ten-siunii de la iesirea acestui etaj este asiguratd de
diodele SD7, SD8, Q28 Q29.
Primul etaj de amplificare, in configuratie standard de amplificator Limitarea tensiunii de iesire a acestui etaj este realizata prin intermediul
diferen-tial cu cuplaj in emitoare sarcina rezistiva (Q3, Q4, R1A, R2A, R1B Si diodelor Schottky SD1 SD2.
R23). v+ IN+
IN- R19
Q3 SD9
O ut Fig. 5.12. Comparatorul CMP01.
Q24
Al doilea etaj de castig are o structure de amplificator diferential cu
in emitoare sarcina de tip oglinda de curent (Q5, Q6, Q25, si Q26) cu cu diodele SD3 si SD4. Cuplajul dintre cel de al doilea etaj de amplificare si etaj
u1
de iesire se face prin repetorul pe emitor Q18 si rezistorul R18. Condensatorul C1 are rolul de a accelera transferul de tensiune dintre
cci
de al doilea etaj de castig etajul de iesire. Etajul de iesire are o structure celei a unei porti „TTL Low power Schottky".
similara
Cateva dintre performantele acestui circuit sunt: amplificare de alimentare din sursa pozitiva de 5,6 mA, timp de raspuns de 150 ns pentru un
500.000. curent de alimentare din sursa negative de 1,3 mA, curent de salt de tensiune de intrare de 100 mV cu o supracomandil de 10 mV.
5.2. COMPARATOARE DIFERENTIALE 5.2.1. Comparator bipolar ultrarapid
BIPOLARE CU IE5IRE SIMETRICA
Schema unui comparator bipolar ultrarapid [Saul, 1982] este prezentata
in R1...R4 are o configuratie derivata din schema unei celule Gilbert [Gray,
fig. 5.13. Etajul de intrare compus din tranzistoarele Q1_06 rezistoarele
1997]. Tranzistoarele 01 si Q2 opereaza la un curent de colector relativ mic
de 0,5 mA care asigura un curent de polarizare al intrarilor redus fait a apela
la repe-toare de intrare. Tranzistoarele cascoda Q5 si Q6 micsoreaza efectul capacitatilor
colec-tor-baza ale tranzistoarelor de intrare care, prin efect Miller, reduc
banda de free-yenta a amplificatorului. Tranzistoarele Q3 si Q4 cresc amplificarea la valoarea de 8,4 pastrand banda de frecventa la —3 dB la
peste 400 MHz.
La conservarea acestei benzi de frecventa contribuie efectul emitor prin intredu-cerea unui zero [Shinn, 1977].
rezistoarelor R3 si R4 care compenseaza polul introdus de capacitatea ba7b-
Amplificarile fiecarui etaj de castig, determinate prin simulare Spice, conside,and rezistente de sarcina de 50 Q corespunzatoare interfatarii cu circuite
sunt precizate in fig. 5.13. Amplificarea etajului de iesire a fost determinatd digitale E.C.L.
Principala limit= a raspunsului in frecventa provine de la etaju. de
deplasare a tensiunii realizat cu diodele Zener D1 D2.
IMPIRP.mnr,_______.
COMPARATOARE cu functionare continua in timp Comparatoare diferentiale
Toate emitoarele au
75
3 Am x 8 pm VCC
Cu exceptia celor la
05
042
IN+
IN-
VE
care
se
specifics altfel
R19
Amplificare 8,4
simplu cu
0,3 intr
gi
7,2 iegir
e
12,8 dife
renli
Fig. 5.13.
al5
Comparatorul are
dife
bipolar
renV
ultrarapid. alti
Rezult
Un
atele
comparator
experi
mental bipolar simplu
e, care cu intrare
au
confir
0,94
mat
simula
rile S diferentiala si
,
aitoarele
iesire dif erential4
performance:
amplificare lescris
de 55 dB,
banda
ndicat iSuga
wara,
MHz, timpi
de crestere si de 1983
cadere de 500 ,
'i
su sipun e de
r a1c0o m a n dmaV ,
iar ]
de
ldae —3 dB
schema
timp dde fre
sa
raspuns de 1,5
este
ns pentru
repro
.2.2. dusa
in fig.
Compara
5.14.
tor
Compa-
bipolar
entia
lS
Al
Schem
are a de
principiu a
unui
cloud compar, bipolar
simplu cu
etaje intrare
diferenti-bra
diferenti iesire
diferentiale
[Ellermeyer, 2000]
ale de
este in
castig
dicata in fig. 5.15.
Intrare
cuplat
a
e prin diferen
inter tiale -•
necesa
mediu
rd
l unor pentru
repetoare a
Ampl putea
realiza
ificar
compa
ea ratia
este dintre cloud
tensiuni
de 40 diferentiale.
dB iar Tensiu
banda
nea de
la
de iesirea
frecv ui etaj
de
enta
castig,
este VCMP,
de este:
100 —VIN-)REF+
____________________________________________________________________
MHz. —
VREF-)
V
a i
2.3. p
8.
R
•
/0
Comparat (V
—
. tank
or bipolar (
k • T/q
simplu
dubla cu
intra 5.4)
re
difer
entia
lii
iegir
edifer
Tensiunea Vcm, iale
este repetatil dubld.
amplificata de
al doilea etaj de
castig care
este, in acelasi
timp, si etaj de
iesi
Beneficiind de
avanta'.e . .f,
::ispozitivelor
realizate intr-
o tehnologie
sili-
ciu-germaniu
(SiGe) acest
este capabil sa
opereze la
frecvente de
pane
la 12,5 GHz.
VCC
__IN+ 0
__IN- 0
__REF+0
QB
REF-0__
VEEO__ 0
Fig.
5.15.
Compa
rator
cu
intrare
diferent
76 COMPARATOARE cu functionare continua in timp Comparatoare diferentiale 77
5.3. COMPARATOARE DIFERENTIALE CMOS 40 dB. Cresterea valorii amplificarii se poate realiza prin cresterea tensiunii Early a
tranzistoarelor ceea ce presupune cresterea dimensiunilor tranzistoarelor.
Evolutia rapids a tehnologiilor CMOS, care a debutat la inceputul anilor
1970, a marcat si implementarea functiilor analogice. Avantajele tehnologiilor
CMOS in realizarea de circuite integrate digitale, consumul redus de putere si den-
sitatea mare de integrare, a condus, in mod natural, la dezvoltarea de circuite inte-
grate cu semnale mixte.
Integrarea functiilor analogice impreund cu circuitele logice CMOS a im-
pus Inca de la inceput construirea de comparatoare, blocuri de interfata dintre do-
meniul analog si cel digital, in tehnologii CMOS.
Comparatoarele utilizand tehnologii MOS unipolare (PMOS si NMOS)
au avut o utilizare limitata. Exemple de comparatoare PMOS pot fi gasite in
[Suarez, 1974] si [Yukawa, 1978] iar de comparatoare NMOS sunt descris in
[Ohgishi, 1978] si [Post, 1980].
W) 1 VA„ • VAp
L 'bias V A, + V Ap
Uzual valorile tipice ale amplificarii acestui tip de etaj sunt de ordinul a
Excursia de tensiune la ieOrea etajului de ca§tig. Limita infe-rioard a
excursia de tensiune la iesirea etajului, V0U77 ,min, (nodul A in fig. 5.16) estu
determinate de conditia ca tranzistorul M2 sa functioneze in saturatie:
VOUT1,min -
V CM IN — VTn e t )
Daca tensiunea de iesire se reduce sub aceastd valoare tranzistorul M2 inta in reg -
unea liniara iar rezistenta sa de iesire scade ceea ce conduce la reducerea dramatic a
Fig. 5.16. Comparator CMOS simplu cu un singur etaj de ca*tigNMOS. a amplificarii.
Trebuie observat ca pentru calculul tensiunii de mod comun la intrare eta-jul de
Daca in ceea ce priveste tensiunea de ofset cresterea dimensiunilor arnplificare a fost considerat ca find perfect echilibrat, tranzistoarele Ml si M2
tranzistoarelor are un efect benefic (vezi Sectiunea 3.2.2) in schimb ea reduce vite- conducand acelasi curent, tensiunile drena-sursa ale celor cloud tranzistoare NMOS
za de comparatie prin cresterea capacitatilor. sunt egale la fel cum sunt egale intre ele si tensiunile drena-sursa ale celor
La amplificarea totals a comparatorului contribuie si castigul inversorului cloud tranzistoare PMOS.
format din M5, M6 si R precum si castigul celor trei inversoare INV1...INV3. Limitarea inferioara a excursiei tensiunii de iesire a primului etaj de astig
Amplificarea suplimentard a acestor inversoare se determine conform celor impune restrictii fie asupra tensiunii de prag a inversorului conectat la iesirea etaju-
prezen- lui fie asupra valorii maxime a tensiunii de mod comun la intrare.
tate in Sectiunea 4.2. 0 solufie pentru modificarea tensiunii de prag a inversorului CMOS este
data de adaugarea rezistorului R in serie cu sursa tranzistorului NMOS (vezi fig.
5.16). Tensiunea de prag a acestui inversor creste datorita caderii de tensiune
pe rezistorul R.
78 COMPARATOARE cu functionare continua in timp Considerand valorile tensienilor de prag egale in modul, VD, = I Vrp
I = i,8 V, in conditiile uzuale in care V„„h43,4 = 0,4 V, corespunzatoare
0 a doua solutie de modificare a tensiunii de prag a unui inversor CMOS compromisului xcursie de tensiune la iesirea oglinzii — imperecherea (5.0
este data de dimensionarea corespunzatoare a celor doua tranzistoare din care este curentilor oglinzii, modulul msiunii poarta-sursa a tranzistoarelor M3
compus inversorul (yezi Sectiunea 4.2). si M4 este I Vcsm3,4 I = I VT, + J V00.43,4 I 0,8 V + 0,4 V = 1,2 V tar tensiunea
Utilizand oricare dintre solutii tensiunea de prag a inversorului nu poate maxima de mod comun la intrare este 'em lly.mAx = VDD — 1,2 V + 0,8 V = V DD
creste la o valoare mai mare decat VDD - I V7), I (vezi Sectiunea 4.2). De - 0,4 V.
asemenea, ambele solutii de modificare a tensiunii de prag a inversorului cuplat la
Limita inferioara a tensiunii de mod comun la intrare a acestui
iesirea etajului diferential de castig au efecte adverse asupra timpului de raspuns comparator ite determinate de suma dintre tensiunea de supracomanda a portii
al inver- tranzistorului 1b2 si tensiunea gild-sursa a tranzistoarelor MI si M2.
sorului conducand la viteze de comutare diferite pentru tranzitiile 0 1 si 1—> 0.
In conditiile uzuale in care: VovMb2 = 0,4 V, corespunzatoare operarii opti.
Gama de variatie a tensiunii de mod comun la intrarea com- e a unei oglinzi de curent, Vovm1,2 = 0,2 V, corespunzatoare maximizarii
paratorului. Valoarea maxima a tensiunii de mod comun la intrarea
insconductantei tranzistoarelor amplificatoare precum minimizarii tensiunii de
comparatorului poate fi limitata si de iesirea din regiunea de saturatie a
set, tensiunea poarta-sursa a tranzi::,)Jerelor MI si M2 este VGSM1,2 = VT/7 VovM1,2
tranzistorului M1. Tensiunea maxima de mod comun la intrare determinate 3,8 V + 0,2 V = 1 V rezulta o tensiune minima de mod comun la intrare de apro-
de :erinta mentinerii in regiunea de saturatie a tranzistorului MI este: nativ 1,4 V.
VCM /N,MAX = VDD -IV GSM3,4I+ VD: • (5.7) Valoarea tensiunii de mod comun la intrare poate sa se apropie mai mutt VDD
decat de V. Dace este necesar un comparator a carui tensiune de mod con la
intrare sa se poata apropia mai mult de V ss decat de VDD, solutia o constituie ) substratelor tranzistoarelor de intr: la alimentare. Daca etajul diferential de
mplementarea schemei" prin inlocuirea tranzistoarelor PMOS cu tranzistoare intra-
40S si a tranzistoarelor NMOS cu tranzistoare PMOS, dupe cum se prezinta in . re este realizat cu tranzistoare P atunci substratul for se leaga la VDD ceea c=,
5.17.
poate conduce la includerea tens. i i Vss in gama tensiunii de mod comun la intr.
Comparatoare diferentiale
re. in cazul unui etaj diferential intrare NMOS substratele se conecteaza la V
pentru includerea lui VDD in gar.. tensiuni de comun la intrare.
in cazul comparatoare. ?rezentate in figurile 5.16 si 5.17 substrate'::
tranzistoarelor MI si M2 sunt cricc.-tate la sursele tranzistoarelor (asa cum rezulla
din simbolurile de tranzistor :OS folosite, vezi Anexa 1). Prin conectarc
Out
substratelor la V00 sau la V L. ,s; snea de prag a tranzistoarelor MI si M2 eres.:(;
datorita efectului de substrat, -elatia (5.9). In cazul etajului de intrare
NA/Mc:. schema devine cea din fig. 5.1L .c :astA solutie este posibila doar in cazul
Fig. 5.17. Comparator C OS simplu Cu un singur etaj de castig PMOS. procese-lor tehnologice care permit re I a .. 3 de tranzistoare NMOS cu substrat
flotant.
in aceasta figura este sizerata utilizarea metodei de modificare a tensik.- VIM
nii de prag a primului compar..to, prin cresterea lungimii tranzistorului M6. Dec'
Out
latimile celor cloud tranzistoar ,v16a M6b sunt egale ele pot forma un singe.
tranzistor avand lungimea egalF suma lungimilor tor.
Deoarece amplificarea primelor doua etaje de castig este tranzistoarelor M1 ...M4 este necesar ca tensiunile din drenele tranzistoarelor M3
suficient de mare (uzual se obtine o valoare de aproximativ 80 dB) este si
suficient un singur inversor CMOS la iesire care asigura M4 sa fie cat mai apropiate ca valoare, ideal egale.
compatibilitatea cu circuitele digitale conectate la iesirea Curentii prin primul cel de al doilea etaj de amplificare sunt produsi de
tranzistoarele Mb2 si Mb3, care formeaA, impreuna cu tranzistorul Mbl , o
comparatorului.
struc-tura de tip oglinda de curent. Din acest motiv se poate scrie:
Raspunsul in frecventa la semnal mic precum si intarzierea
comparatorului sunt tipice pentru un circuit de amplificare cu doua noduri W
Mb2
I DM3 I DM4 I DM5 (5.10)
de impedanta mare: cel de la iesirea primului etaj de castig §i cel de la 2 • Wmt,
iesirea celui de al doilea etaj.
relatie in care s-a considerat ca toate tranzistoarele din oglinda de curent de polah-zare
Tensiunea de ofset. Tensiunea de ofset a acestui tip de au aceeasi lungime. Imperecherea optima se obtine in conditiile in care toate
comparator co-respunde se determine urmand procedura descrisa in tranzistoarele NMOS au aceeasi lungime, LM3 = LM4 = L (vezi Sectiunea 3.2).
M5
in aceste conditii, pentru a elimina ofsctul sistematic trebuie indeplinita Excursia de tensiune la iesirea celui de al doilea etaj de castig u mai
;onditia: este supusa la restrictiile impuse comparatorului simplu cu un singur etaj de
istig. in acest caz comparatorul isi pastreaza performantele atata timp cat anzistoarele
WM3 WM4 WM5 _________________________________________• (5.11) M5 si Mb3 functioneaza in saturatie adica:
z,•',WMb2wit),
VSS + Vovm, Kw; — IViwMb3I • (5.12)
Dupe cum s-a precizat in Sectiunea 3.2, indeplinirea cat mai exacta a con- I
Wei (5.11) presupune utilizarea unor tranzistoare elementare identice iar conditiile din exemplele anterioare excursia de tensiune la iesirea celui de al
curentii e stabilesc prin numarul de tranzistoare elementare conectate in paralel. )ilea etaj de castig pentru care amplificarea ramane constants este [Vss + 0,4 , — 0,4
V].
Excursia de tensiune de :Ic.-.d comun la intrare a comparatorului doilea etaj. Valoarca cxcursiei de tensiune este intotdea in"a proximativ
nplu cu cloud etaje de castig este similara cu cea a comparatorului simplu cu aceeasi.
un 2. Cu totul altfel functioneaza acest comparator dace tensiunea de
tgur etaj de castig. Dispare insa posibila limitare introdusa de compatibilitatea supracomanda a determinat b:ocarea tranzistorului M1, a tranzistorului
cu 'mul inversor CMOS descrisa de ecuatia (5.6). M3 si, respectiv, a tranzistoi ului M. Tensiunea de iesire a primului etaj
crcste pand la intrarea in regin. de I unctionare liniara a tranzistorului M2.
Extinderea gamei tensiunii de mod comun la intrare se poate
La re-venirea din regimul de Eupracomanda a intrarii prin aplicarea unei
tine, si in acest caz, prin conectarea is alimentare a substratelor tranzistoarelor
si M2. tensiuni
de intrare de valoare rn, d, tranzistoarele M1 si M2 lucreaza la semnal'
mic, curentul de drena avand o valoarea foarte apropi-
intarzierea la revenirea dirt supracomanda. Variatia intarzierii
ata de jumatate din cur.:,. _,1 de polarizare al primului etaj. Acest
stui tip de comparator in functie de tensiunea de supracomanda depinde puer-
atat de sensul de variatie al tensiunii de supracomanda cat si de tensiunea de curent trebuie sa produce, mai intai ridicarea potentialului din portile
d comun. tranzistoarelor M3 si =4 iar apoi diferenta dintre curentii prin
Dependenta intarzierii de tensiq- .- de supracomanda la de sensul variatie tranzistoarele M1 si M2 treo tie sa reduce tensiunea de la iesirea
ensiunii de intrare este produsa de asimetria etajului de sarcina a primului etaj primului etaj sub tensiunea de prig ai aelui de al doilea etaj. Acest
;astig, care are structure de oglinda de curent. curent trebuie sa descarce capacitatile din nodal de iesire al primului
etaj. Datoritd variatiei mai mari de tensiune care trebuie produsd de un
1. Dace tensiunea de supracomandi a determinat blocarea tranzistorului M2
curent mic timpul de in-tarziere creste considerabil.
tensiunea de la iesirea primului etaj scade pana Ia Vss deoare:e
tranzistoarele M1, M3 si M4 conduc puternic. La aplicarea unei Tensiunea de la iesirea pri .11 lui etaj de castig in situatia descrisa mai
supracomenzi moderate de :emn contrar, diferenta dintre sus la punctul 2 depinde de tensiunea e mod comun asa cum s-a demonstrat in
curentii prin tranzistoarele M1 si M2 trebuie sa ridice tensiunea cazul comparatorului cu un singur etaj du castig. Aceasta limitare a tensiunii de
de la iesirea primului etaj pana la tensiunea dc pra al celui de al la iesirea primului etaj de castig la o valoare dependenta de tensiunea de intrare
de mod co-mun introduce o dependenta a tirnpului de revenire din
supracomanda de tensiunea de mod comun.
VOUT2
.,.. 1 ........................
20g 22µ 24g 26g 28g
timp [a]
V [V]
1—
86 COMPARATOARE Cu functionare continua in timp Comparatoare diferentiale 87
Tabelul 5.2.
-1 mV +1 mV -1 mV 1 1,08 1,20
-1 V -4 +1 mV -1 V 1,66 0,03
-1 mV +1 V -1 mV 0.01 1,44
1111)11 iiiiiiitir
20u 22u 24u 26g Cunoasterea prealabila a modului de variatie a tensiunii de intrare, atat a
28u
timp [s] componentei diferentiale cat si a celei de mod comun permite proiectantu-lui
5.22. Raspunsul inversorului CMOS simplu cu doua etaje pentru un salt de tensiune la optimizarea comparatorului.
intrare de la o valoare pozitiva mare la o valoare negativa moderata
(tensiunea de mod comun este de 2 V). Printr-o proiectare ingrijitl acest tip de comparator ramane o solutie simpla
5 - dar care ofera performante bune fiinci folosit in continuare pentru proiecte perfor-
VOLff
mante [Lin, 20031.
Mbl
intarziere
0-31
[ns]
Out
intarziere
1-40
[ns]
Thusiure de mod 93
17 r
e
a
c
ti
e
5 d
e
m
208 o
d
c
-1 mV --> +1 V —> —1 mV o
m
1 u
n
rca acestui etaj este controlata
4,
M
N
Reducerea timpului de coi-1-4 iratie 4
,
atinge chiar $i un factor de 7 pentru M
N
anumite tipuri de variatii :,nsiunii 3
§
de intrare. 1 i
M
P
6
Aceasta solutie, a reduce,' .
care cuprinde tranzistoarele MP
cursie de tensiune, se poate La ie$irea primului etaj are o valoare
egala cu
Tensiunea de mod con:
aplica $i celorlal- zi
st
te tipuri de comparatoare cum st o
ar
lmparatorul CMOS simplu cu un el
or
singur etaj M
P
de ca$tig comparatorul CMOS si..- 3
plu cu doua etaje de ca$tig. §
i
M
P
4
5.3.5. Comparator cr .
doua etaje iale de A
i l
ca§tig d
oi
le
Alta solutie de realizarc u ii a
et
comparator CMOS cu cloud etaje aj
de ca$tig d
e
modulul tensiunii poarta-sursil
consta in utilizarea a doua :c ca$tig .
diferentiale ([Landsburg-1, 19771,
to in fig. 5.26. Etajul de intrare o
[Landsburg-2, 1977], gl
[Dan, 198' S qema acestui in
tip de comparator este d
prezenta-ormat din a
tranzistoarele MN1 MN2
avand MP2. Tensiunea de d
mod comun de la iesi-ca e
sarcina activa c
tranzistoarele
-; ur
e
b nt
u $i
c c
l u
e pr
i
d in
e d
e
tr
a
n
zi
st
o
ar
el
e
ca$tig este de tip diferential ct,
MP7, MP8, MN5 $i MN6.
.-anzistorul npn de substrat Q1 este
polarizat la
Etajul de ie$ire, format
MN8. Tranzistorul npn de substrat
este dispo-
curent constant de catre tranzi3
,
I
O
S
c
u
p
o
ar
ta
d
e
al
u
m
in
iu
P
W
E
L
L
.
nibil datorita utiiizarii unui prc,
COMPARATOARE cu functionare continua in timp 89
88 Comparatoare diferentiale
Tabelul 5.3.
Dimensiunile dispozitivelor comparatorului CMOS cu un singur etaj de castig cu
Ml, M2 PMOS W = 100 p.m, L = 6 ),:.in M1inv1,2 NMOS W = 0,8 1.tm, L = 2,4 p.m
M3, M4 NMOS W = 8 µm, L = 6µm M2inv1,2 PMOS W = 1,8 p.m, L = 2,4 1.trn
Fig. 5.24. Comparator CMOS cu un singur etaj de castig cu M5, M6 NMOS W = 16 lam, L = 6µm Mtinv3 NMOS W = 0,8 lam, L = 0,6 lam
excursie de tensiune de mod comun
de intrare marita. M7, M8 PMOS W = 30 jam, L = 6 um M2inv3 PMOS W= 1,8 p.m, L = 0,6 p.m
lir
MP1 MP6 MP3 MP I MP7 MPE1
Q1
VDD
7
MN1 MN2
IN. OUT
_IN. 0
___-
___Bias° MN7 MN3 MN4 MNSr MNB
______
Fig. 5.26. Comparator CMOS cu doua etaje de castig diferentiale.
VSS
Utilizarea unei bucle de mod comun imbunatateste rejectia tensiunii de
mod comun de asemenea, asigura operarea tranzistoarelor din etajul de
intrare in
Fig. 5.27. Comparator CMOS cu cloud etaje de castig pseudodiferentiale si
limitarea excursiei de tensiune.
saturatie conducand la cresterea castigului.
Alimentat la tensiuni ±5 V si consumand aproximativ 300 AA acest tensiunea de iesire sa depaseasca valoarea de ±0,6 V. Desi acest etaj de iesire este
comparator are un c4tig de curent continuu de aproximativ 70 dB. un etaj tipic cu iesire asimetrica, tensiunea sa de iesire este citita diferential prin
5.3.6. Comparator CMOS cu doua etaje intermediul repetoarelor de tensiune M5 §i M6 si aplicata la ie§irea celui de al
doilea etaj de castig care arc aceeasi configuratie cu primul cu exceptia limitatoru-
de ca§tig pseudodiferentiale §i
Iui cu diode. Tensiunea de iesire a primului etaj va produce la intrarea celui de al
doilea atat o componenta diferentiala cat una de mod comun. Componenta de mod
comun va fi rejectata de cel de al doilea etaj de castig fiind amplificata doar
limitarea excursiei de tensiune componenta diferentiala.
Comparatorul prezentat in fig. 5.27 [Hague, 1979] se compune din doua Etajul de ie§ire compus din tranzistoarele M1 1...M14 are o structure de
etaje amplificator in class AB care asigura atat o amplificare suplimentara cat §i o
de excur-sie de tensiune egald, la limits, ci. tensiunea de alimentare.
castig Castigul de curent continuu al acestui amplificator depaseste 120 dB,
cu ban-da de frecventa de semnal mic atinge 25 MHz iar timpul de comparatie este
intrare de 2 As pentru o tensiune de supracomanda a intrarii de 300 µV.
Out
95
Comparatoare diferentiale
94 COMPARATOARE cu functionare continua in timp
Fig. 5.28. Comparator CMOS cu un etaj de ca§tig cu reactie pozitiva cu
exploatare incompleta a variatiei de curent.
De asemenea se pot scrie relatiile:
I
In conditiile relatiilor dimensionale descrise anterior pentru tranzistoarele
M3...M6 o variatie AID a curentului de drena al tranzistorului M1, care este insotita A/ DM3 = MDM1 — ..1.0m4= 6`1DM1 — a • AI DM4 . A/ DM4 =
de o variatie de aceea§i valoare dar de sens contrar prin tranzistorul M2, va produce WDM2 — 1-'1 i. I`1 . 'DM2 — a • 61.1 DM6 Scazand cea de a doua
o variatie de curent dubla prig, ;:ranzistoarele M3 §i M6. Variatia curentului de dre-
relatie din :)ri 1 :: relatie se obtine:
na al tranzistorului M3 este transmisa prin oglindire in tranzistorul M7 oglinda de
curent M8, M9 la nodul de ie§ire. Tranzistoarele M3...M6 formeaza o bucla de (1-1 DM3 — 46/ DM4 ) ' (Al DN., 61-
DM2 )+ a ' (AI DM6 — MDM4 ) , de
reactie pozitiva care dubleaza transconductanta etajului de intrare. Variatia curen-
unde reitlia:
tului de drena al tranzistorului M1, dublata la nivelului tranzistorului M3 este am-
plificata suplimentar prin factorii de oglindire M3/M7 M8/M9. : .A/ DM1 — Al DM2 ) (5.16)
(Aim — .6,r ,v4,
Rezistorul de
1-a
61(52 din sursa tranzistorului - .'.7.;rator de curent Mb6 are rolul de a crqte impe- Diferenta dintre variatia curentilz( < elena ai tranzistoarelo M8 §i M10 devine:
danta din nodul de ie§ire. ,_ • (AI DM1 — A/ DM2 )\, ) (5.17)
(5.14)
In acest conditii amplificarea atinge o valoare de aproximativ 52 dB. Ai DM8 - Al DIV.0 — • ..
1- a
0 solutie mai buns este prezentata in fig. 5.29 [Allstot, 1982]. In acest caz Dace comparatorul funct' ..1 La la semnal mic
in nodul de iqire sunt transferate atat variatia de curent prin tranzistorul M1 cat intrare se poate scrie:
„". (5.15)
variatia de curent prin tranzistorul M2. Tranzistoarele M3... M8 au aceea.§i lungi-
me. Raportul lalimilor tranzistoarelor M7 §i M3 §i, respectiv, M4 §i M8 este K iar A/ Dm, — K• v.. \' (5.18)
vV
'10 1-a
cel al latimilor tranzistoarelor M3 M5 respectiv, M4 §i M6 este a. I
Amplificarea de semnal acestui etaj de ca§tig este:
Diferenta dintre variatia curentilor de drend ai tranzistoarelor M8 si M10,
determinate doar de rapoartele dintre 1alimile tranzistoarelor, este:
AT, ro,
MDM8 AIDM10 = 1W DM9 - T.
.
= AiDNA7 K DM4 = a
= K • A/„,A, — K • A/Dm4 = K • (D— unde r0 este impedanta din nodu: ire.
Ai. - MOW
VDD
(5.19)
VS (5.13)
Tabelul 5.6.
Dimensiunile dispozitivelor comparf -JA CMOS cu etaj de ca§tig de tip cascoda
pliata
dimension. :1" ;11 optimizarea
.
intarziere 2
0-41 127,8
[ns]
4,0
intarziere
—1 mV +1 V-4-1 mV
1-40
[ns] 2
3,7 4,0
40,13 —1 mV --> +1 V —1 mV
2
3,6
Tabelul 5.8.
Raspunsul comparatorului CMOS cu etajul de tip cascoda pliata 205,0
dimensionat incorect pentru functionarea in regim de comparator Comparatoare diferentiale 101
Tranzitie la intrare Utilizarea unor etaje de tip cascoda impune restrictii asupra valorii mi-
nime a tensiunii de alimentare care trebuie sa fie suficient de mare pentru a permite
Tensiune de mod
polarizarea corecta a acestora.
Comparatorul cu etaj de castig de tip cascoda pliata este o solutie perfor-
comun [V] manta atat in ceea ce priveste viteza de raspuns cat si in ceea ce priveste rezolutia
intarziere statics dar necesita o tensiune de alimentare mai mare precum un curent mai
0-- 1
Ins] mare de alimentare.
intarziere
1-30
[ns] 5.3.10. Comparator CMOS cu 4 etaje de ca§tig
—1 mV —> +1 mV —1 mV Schema unui comparator care exploateaza castigul de viteza care se poate
1 obtine prin utilizarea unui numar mar.: de etaje de castig [Gregorian, 1999] este
36,9 prezentata in fig. 5.32.
Comparatorul este compus dir doua etaje de castig diferentiale NMOS Cu
51,4
sarcina rezistiva urmate de un etaj de castig NMOS cu sarcina activa PMOS de tip
—1 V-->+1 mV—>-1 V
oglinda de curent iar etajul de iesire are o structure de amplificator sursa comuna
1 PMOS cu sarcina activa NMOS.
242,0 Primele doua etaje de castig au o amplificare de aproximativ 14 iar cel de
4,7 al treilea si cel de al patrulea au, impreund, un castig de aproximativ 60, rezultand
—1 mV-->+1V—>-1mV un castig total de aproximativ 12.000.
Timpul de raspuns al acestui comparator pentru un salt de tensiune diferen-
1
tiala la intrare de 1,5 V cu o tensiune de supracomanda de 250 µV este de 105 ns.
3,6
Comparatorul consume 1 mA incluzand circuitul de polarizare compus din
209,0 tranzistoarele Ql, M1 ...M6 si rezistorul RB.
—1 mV ---> +1 mV —1 mV
2
36,1
51,0
-1 V-3+1 mV-->--1 V
2
236,4
Fig. 5.32. Comparator CMOS cu 4 etaje de castig (toate dimensiunile sunt in microni).
VDD 0__
M3 M5 R1 R2 R3 M18
80/2 80/2 7k 7k 7k 40/2
M4
80/2
200/1 200/1
IN 200/1 M1 Out
M1 M2 +
80/2 80/2
01
M6
40/2 80/2
M12 I M17
M19
40/2
VSS 0_
103
102 COMPARATOARE cu functionare continua in timp Cornparatoare diferentiale
VDDO
5.4.
COM
PAR
ATO
ARE
DIFE
REN
TIAL
E
BIC
MOS
A
p
a a
ri p
ti r
a o
l c
a e
s s
f e
a l
r o
§ r
it t
u e
l h
a n
n o
il l
o o
r g
1 i
9 c
8 e
0 B
, i
C it
M e
O i
S n
, t
a e
p g
u r
s a
l t
a e
d c
is u
p s
o e
z m
it n
i a
a l
p e
r m
o i
i x
e t
c e
t a
a t
n a
ti t
l tr
o a
r n
d z
e is
c t
ir o
c a
u r
e
l p
o
e
s
b
i
i
b
p
i
o
l
l
a
a
r
e u
t
i
c
l
a
i
t
z
s
a
i
r
c
e
e
a
l
e
f
i
N
e
M
c
O
a
S
r
u
1 i
' t
l i
v p
1
0
d
S
e
.
A
s d
t is
f p
e
o
l
e z
s it
t i
e v
a g
c e
o x
l p
o l
u o
n a
d t
e a
c r
a e.
li
Principal
t ele
a avantej,...
ti
l nnzistoar
e elor
s bipolare,
fata de
a
cele MOS
l sunt:
e · Tensiu
i ne de
§ ofset
i de
g cateva
a on mai
s mica
e pentru
s tranzist
c oare de
c dimen-
e siuni
a capacit
m ati
a parazit
i e
b compa
u
n
rabile f
§i o
· Transc r
onduct o
anta de s
e
cel
ri
putin 6
e
on mai
d
mare
e
pentru
a
acela§i v
consu a
m de n
curent. t
T a
r j
a e
n f
z a
is t
t a
o d
a e
r tr
e a
l n
e z
M is
O t
S o
a a
u -
l r
a e
r l
a e
n b
d i
u p
l o
l f
a i
r i
e n
: d
· Impeda
d
nta de e
intrare t
de e
curent r
contin m
uu i
n
extrem
a
de
t
mare,
practic d
infini- e
t
a f
, a
p
c t
u
r d
e e
n
t c
u i
l r
c
d u
e i
t
i e
n l
t e
r
a d
r e
e
p
r digital
o e.
t
e E
c x
t e
i m
e p
la descarcari l
electrostatic e
e (ESD - l
„Electrostati e
c d
Discharge"), e
· Excursi c
e de o
tensiun m
e mai p
mare a
pentru r
concxi a
unea t
sursa o
a
comun
r
d fata
e
de cea
p
a
r
conexi
e
unii z
emitor e
comun n
§i t
· Curent a
de t
alimen e
tare i
n
extrem
c
de mic o
pentru n
circuit ti
ele n
u ti
a p
r u
e ri
e d
x e
p tr
l a
o n
a z
t is
e t
a o
z a
a r
a e.
v
a
5
n
t .
a 4
j .
e 1
- .
l
e C
fi o
e m
c p
a a
r r
u a
i t
d o
i r
n
tr B
e i
a C
c M
e O
st S
e
fi
c g
u .
5
e
.
t
3
a
3
j
[
d R
e o
d
i g
n e
t r
r s,
a 1
r
9
e
8
9
P
M ]
O u
S ti
li
C
z
o
e
m
a
p
z
a
a
r
u
a
n
t
e
o
t
r
a
u
j
l
d
d
e
i
i
n
n
tr a
a r
r e
e d
P e
M c
O u
S r
p e
e n
n t
tr c
u o
a n
b ti
e n
n u
e u
fi f
c o
i a
a rt
d e
e m
i a
m r
p e
e a
d tr
a a
n n
t z
a is
t
d
o
e a
i r
n e
tr l
e n
M a
O l
S o
. g
A -
c d
e i
st g
c it
o a
m l
p d
a e
r -
a ±
t 5
1
o /
r 2
f d
a i
c g
e it
p i
a c
rt u
e i
d n
i t
n e
tr g
- r
u a
n r
c e
o c
n u
v d
e u
rt b
o l
r a
a r
a i
m s
p t
s.
o
E a
t r
a e
j l
u e
l
M
d 1
e
§
i i
n
t M
r 2
a
r a
e r
, e
f o
o
r s
m a
a r
t c
i
d n
i a
n
m
t i
r x
a t
n a
z
f e
o R
r 1
m §
a i
ts R
d 2
i .
n T
d r
i a
o n
d z
e is
l t
e o
Q a
1 r
e
Q l
2 e
i p
r n
e p
z d
is e
t s
o u
b
a st
r r
e a
t
l Q
3 a
Q j
4 u
, l
i d
n i
c n
o tr
n e
fi e
g t
u a
r j
a u
ti l
e d
d e
e i
r n
e tr
p a
e r
t e
o §
a i
r a
e l
p d
e o
e il
m e
it a
o e
r, t
a a
si j
g d
u e
r c
a a
c §
u ti
p g
l .
C m
e p
l li
d fi
e c
a a
l t
d o
o r
il d
e if
a e
e r
t e
a n
j ti
d a
e l
c c
a a
§ s
ti c
g o
a d
r a
e c
o u
st s
r a
u r
c c
t i
u n
r a
e o
d g
e li
a n
d e
a st
d e
e
c
u
r
e
n
t O
P u
M t
I
O N
+
S
.
T
r
a
n Blasi vss
z F
is i
t g
o .
r 5
u .
l
3
a
3
m
.
p
C
li
o
fi
m
c
p
a
a
t
r
o
r a
Q t
5 c
d
a
- t
1 d
3 e
i t
C r
a
M n
O z
i
S s
t
o
c r
u
u l
0
e 7
t .
a R
j e
z
d i
s
e -
t
c
i r
n u
l
t
r R
3
a
r a
r
e e
r
P o
l
M u
O l
S d
. e
a
c
a r
s e
c d
o
u t
c a
e t
e
c a
a
§ c
t o
i m
g p
u a
l r
a
c t
e o
l r
u u
i l
u
d i
e
i
d n
o
i t
l i
e m
a p
u
e l
t
a c
j i
c
p l
e u
n l
t u
r id
u t
a a
u
a t
s o
i z
g e
u r
r o
a .
s E
t t
a
b a
l
i j
u r
l
e
d s
e t
e
i
e f
§ o
i r
r m
e a
t
d
e d
i
t n
i
p t
r
' a
e n
p z
e i
t s
o t
r o
r
p u
e l
e Q
m 9
i
t c
o ,
a A
r c
e e
s
c t
o
n r
e e
c z
t i
a s
t t
o
i r
n
a
c s
o i
l g
e u
c r
t a
o
r l
i
r m
e i
z t
i a
s r
t e
o a
R c
4 u
. r
e
n r
t u
u l
l '
u .
i
0
i 9
e
§ i
i n
r
e s
a
p t
r u
i r
n a
t
i i
n e
t .
r
a C
r u
e r
a e
n
t t
r u
a l
n
z d
i e
s
t i
o e
R
§ 4
i
r (
e 5
.
2
s 2
e )
l
i G
m e
i
n
t
e e
a
r
z
a a
t
l
a o
: a
I
r
O
u e
t
,
l l
i
m e
(
O
w d
—
V
e
C
E
s
a c
t
0 u
9
)
1 r
e a
r r
- e
l n
e p
l n
s c
e a
s t
c §
a t
t r
a a
t n
t z
r i
a s
n t
z o
i a
s r
t e
P
o M
O n
S s
i
f u
i n
e e
c
a d
r e
e
v
t a
i l
p o
a
d r
e e
t c
r o
a n
n v
z e
i n
s a
t b
o i
r l
a
p
o g
l
a e
r n
i e
z r
a
t a
c t
u e
o
d
t e
e
u t
n e
c f
i i
r g
c u
u r
i a
t t
d i
e n
p s
o c
l h
a e
r m
i a
z
a d
r i
: n
:
f
' i
a g
r .
e
5
n .
u 3
3
e .
s
5. C
4. o
2. m
C pa
o rat
m or
p ul
a Bi
r C
a M
t C
o [L
r in
de
c r,
u 19
e 96
t ]a
aj ca
d ru
e i
in sc
tr he
a m
r a
e es
bi te
p pr
ol ez
a en
r tat
a ce
fi pr
g. iv
5. et
34 e
ex te
pl n.
oa -
te s
i
az
u
a n
av e
a
an
taj d
e e
trz
o
,:•
f
zi s
st e
t
oa
c
rel a
e t
bi §
i
po t
lar r
e a
n
at
s
at c
in o
n
ce
'
ea
i
I m
l i
t l
a a
. r
S a
c c
h u
e
m c
a e
a
p
r d
i
i
n
m
u f
l i
u g
i .
e 5
t .
a 2
j 4
d .
e C
a
§
c
t
a
i
§ g
t u
i l
g
e
e t
s a
t j
e e
s
s t
e
:
Av =
• (ro,,,A4
(5.23)
104 COMPARATOARE cu functionare continua in timp Comparatoare diferentiale 105
v
+
Fig. 5.34. Comparator BiCMOS cu etaj de intrare bipolar. Fig. 5.35. Comparator BiCMOS cu etaj de iesireM CMOS.
M
4
2
ie-re pans la tensiunea de COMPP TOARE redusa de variatie. 0 sok zarii comparatorului. Din pacate aceasta solut
alimentare reciucand astfel CU HISTEREZIS
•
V Introducerea
T
histerezisului in functionarea
h
unui comparator are ca efect
D
limitarea superioaro a timpului
( de comutare a iecirii
6 comparatorului. Reactia pozitiva
determine o comutare rapida a
Dace tensiunea de histerezis este
iesirii comparatorului chiar si in
relativ mare, comparabila cu condiiiile aplicarii la intrarea
tensiunile de pra::, comparatorul comparatorului a unei tensiuni
respectiv este denumit si trigger lent sau foarte lent variabila.
Schmitt. Dace la intrarea comparatorului
se'aplica un salt rapid de
Pentru a obtine un
tensiune de amplitudine mare
circuit care s5 prezinte histerezis
care depaseste viteza buclei de
solutia o reprezintaiai-lizarea
reactie pozitiva atunci viteza de
reactiei pozitive dominante.
comutare a iesirii
Bucla de reactie pozitiva poate fi
comparatorului va fi determinate
adaugata unui comparator fora
de viteza de comutare a tensiunii
histerezis sau poate fi construita
de intrare.
in interiorul comparatorului. Histerezisul are insa ca
Comparatoarele cu bucla de efect o reducere a preciziei cu
reactie pozitiva se mai numesc care se face coma-ratia pentru ca,
comparatoare cu histerezis in acest caz, la tensiunea de
extrinsec. Dace reactia pozitiva referinta se adauga si valoarea
este incorporate intern in tensiu iii de histerezis.
comparator se obtine un
Out
a) rdra histerezis si b) cu histerezis. * Aceasta relatie este valabilA in cazul unui comparator cu histerezis neinversor. In cazul unui comparator
cu histerezis inversor ronciunea de histerezis devine Vy s = VThD — Vmu
110
functionare continua in timp listerezis (fig. 6.3 a) si
comparato.,,, inversoare cu
in sectiunile urmatoare histerezis (fig. 6.3 b).
se vor prezenta analiza mai intai Pentru a fixa ideile in
comparatoare cu histerezis continuare se va descrie
extrinsec apoi solutiile de functionarea comparatorului lin
realizare a comparatoarelor cu fig. 6.3 b. Daca iesirea
histerezis intrinsec. comparatorului este in starea 1
tensiunea de la intrarea
ieinversoare a comparatorului de
6.1. COMPARATOP-.7.7 ',7! bazd este:
U HISTEREZIS EXTRINSEC V
•
In,' =VOH • +VRef
R1 +
in cazul comparatoarelor de RF R1
RF
tensiune histerezisul extrinsec se
introduce in-chizand o bucla de RI
RF
reactie pozitiva se realizeaz,i prin (6.2)
intermediul unui divizor de 'nde Vol, este tensiunea de la iesirea
tensiune care transfers o parte din comparatorului in starea 1. In
tensiunea de la iesirea deducerea aces-expresii s-a
comparatorului la intrarea considerat ca Impedanta de intrare
neinversoare a comparatorului. a comparatorului de baza este
Schemele unor comparatoare cu ifinita. Atata timp cat tensiunea de
histerezis bazate pe acest principiu intrare aplicata la intrarea
de rea-lizare sunt prezentate in fig. neinversoare a com-aratorului de
6.3. In functie de borna pe care se baza ramane mai mica decat
aplica tensiunea de aceasta tensiune iesirea
;ntrare respectiv, tensiunea de comparatorului
referinta ele pot fi comparatoare
neinversoare cu
imane in starea 1. De indgta ce tul cresterii tensiunii de iesire.
tensiunea de intrare creste peste
amorsat procesul de crestere a
tensiunea
tensiunii iesire, datorita reactiei
pozitive ie, irea comparatorului
e la iesirea comparatorului
incepe sa coboare ceea ce reduce va comuta din 0 in 1 practi,t cu
tensiunea de la int-ra-ta viteza maxima a comparatorC,! .
neinversoare a comparatorului Tensiunea V1n.,1 este tensiunea,
de baza accelerand procesul de Vrhu, pent,: comutarea iesirii din
comutare. 0 in 1.
Tensiunea de histerezis, , = V ThU
Comparatoare cu histerezis este:
V His VThD —
=
V711, R + R
'
Iesirea comparatorului ajunge
Cu -iteza limitata practic doar de (V
O
caracteristica de comutare a -
H
-
comparatorului de baza la V
O
L
tensiunea VoL corespunzatoare )
F
starii 0. Din
acest motiv tensiunea est., I
(a) (b)
Fig. 6.4. A
VOL VOL
v,,
V-rho VThU VThU VThD
(a) (b)
Caracteri reactie poziti-vd in functie de
stica de
transfer a starea logica de la iesirea
unui comparatorului [Pallas, 1999].
comparat
or Cu
histerezis 6.1.1. Comparator cu
: (a) histerezis redus
neinverso
r si (b) Obtinerea unei valori
inversor. reduse a tensiunii de histerezis
in cazul unui comparator cu
Se observe ca atat reactie pozitiva externs impune
tensiunile de prag cat si realizarea unui raport mare
tensiunea de histerezis depind de Intre valoare
valorile tensiunilor de la iesirea rezistorului cea a
comparatorului corespunzatoare rezistorului R1. Un raport mare
celor cloud stari intre valorile rezistoarelor
logice, 0 si 1, VoLrespectiv, Von.
Variatiile valorilor tensiunilor este insa dificil de obtinut Intr-
VoL §1 Von. con- un circuit integrat. 0 solutie la
aceasta problema [Callahan,
duc la variatii ale tensiunilor de 1979] este prezentata in fig.
prag. Solutia pentru aceasta 6.5.
problema o reprezinta utilizarea Acest comparator este
unor referinte de tensiune la destinat transformarii unui
care se conecteaza reteaua de semnal de intrare de ani-
plitudine frecventa variabile intr- intrare cu ajutorul unui 112-
un semnal dreptunghiular care Comparatoare cu histerezis
condensator extern.
sa pastreze Boar informatia de Polarizarea este asigurata
frecventa data de comutarile de rezistorul R3 si dioda
semnalului digital de la iesirea MOS N4.
compara-torului. Aceasta Tensiunea de histerezis
obtinuta a,tfel este de
aplicatie permite derivarea aproximativ 100 mV.
tensiunii de referinta a
comparatorului direct din
tensiunea de alimentare. 6.1.2. Comparator cu
histerezis dinamic
Tensiunea de referinta este
produsa de divizorul rezistiv R8, 0 alts solutie pentru
R9 §i este conectata la intrarea cresterea vitezei de comutare si
neinversoare a comparatorului, prevenirea comutari-kr
poarta tranzistorului N2. multiple in cazul unei variatii
Tensiunea de la iesirea lente a semnalului de intrare o
comparatorului este aplicata la reprezinta utiliza-rea
intrarea histerezisul dinamic
IN [Axenenko, 1999, Gregorian,
1999].
Schema unui
vss
comparator inversor cu
Fig. 6.5. Comparator cu histerezis extrinsec dinamic este
histerezis extrinsec valoare pre-zentata in fig. 6.6 iar
redusa a tensiunii de histerezis. formele de unda care apar in
funetionarea sa in fig. 6.7.
neinversoare prin intermediul Atunci cand tensiunea
retelei rezistive R4...R7 care de intrare depaseste tensiunea de
reduce variatia tensiu-nii de referinta, iesirea comparatorului
referinta fate de cazul utilizarii incepe sa comute din 1 in 0.
unui singur rezistor de reactie. Intrarea neinversoare a
Poarta tranzistorului Ni, comparatorului de baza este
care reprezinta intrarea cuplata capacitiv cu iesirea.
inversoare a comparatoru-lui, Datorita acestui cuplaj tensiunea
este polarizata prin intermediul de 1.1
unui divizor rezistiv, R1 si R2, VIn0---
Out
ceea ce permit,: cuplarea
capacitive a semnalului de
VRef
Fig. 6.6. Comparator inversor cu
histerezis extrinsec dinamic.
Comparatoare cu histerezis
114 COMPARATOARE cu functionare continua in timp
Vfr,
gn 0 X" ( W I L)M3 DD —V X —
ramane mai mica decat VTn VTn.M3 T (6.8)
tensiunea Vx ramane la VDD VTp. 2 2
Dupd ce tensiunea Vln creste Deoarece sursele tranzistoarelor
peste Vn tranzistorul M1 incepe sa M2 si M3 sunt conectate
conduca iar tensi- impreuna efectul de substrat
unea Vx incepe sa scada. afecteaza in mod egal tensiunile
Tensiunea de prag VthD se atinge
de prag ale celor cloud
atunci cand incepe sa conduca
tranzistorul M2: tranzistoare. VTn,M2 = VTn.M3,
Rezolvand sistemul de ecuatii
118
format din relatiile (6.7) si (6.8) IL)M5 —
se obtine: V
047/0m (6.11)
3 VThD
-vm Exemplu
Sa se proiecteze un
(w/L)mi trigger Schmitt inversor
v,,D cu reactie pozitiva
interna ali-mentat de la o
tensiune de 5 V cu
Se observa faptul ca-
tensiunile de prag ‘77-hu =
tensiunea de prag nu depinde de
3 V si Vno = 2 V intr-un
dimensiunile tranzis-torului M2. proces CMOS de 0,6 p.m
Deoarece tranzistorul M2 are rol pentru care tensiunile de
de comutator este necesar ca prag sunt Vm=0,91 V si
dimes; - unea sa sä fie mai mare V7-p = —0,94 V.
decat cea a tranzistoarelor M1
M3. Rezolvand ecuatia (6.9)
0 regula empirica de se obtine conditia
dimensionare a tranzistorului dimensionala pentru
.
M3 este [Baker, 19 : pag. 358]: tranzistoarele NMOS:
(147/0m2 5•MAX0/0m, 0/0m3) (vIL)M,_r 5 —3 )2
(6.10) = 0.96
(1
Procedand similar pentru cazul V/
L),
comutarii tensiunii de iesire din ,,3
0 in 1 se obtine relatia: 3
—
2 0,
(• 1 47
I L)M6 91
—
DD VThU —
117Tpl j
out
tip de trigger.
Utilizarea in
schema simbolica
a inversoarelor
poate fi derutanta.
Acest comparator
Out va avea un consum
nul doar dace
tensiunea de
intrare este mai
mica decat VTn sau
este mai mare
decat VDD —IVTpl. Daca tensiunea de
Fig. 6.11. Trigger Schmitt realizat din intrare is valori cuprinse in in-
inversoare CMOS.
tervalul VDD Wm, triggerul va
iesirii in 1. Comutarea din 1 in 0 consuma un curent important.
are loc atunci cand scaderea
4 Exemplu
tensiunii de iesire determind
inceputul intrArii in conductie a Se considers triggerul
tranzistorul M6. Schmitt ale carui tranzistoare
Calculul analitic al au dimensiunile din Tabelul
tensiunilor de prag al acestui 6.1. Fig. 6.12 prezinta
inversor este relativ corn-plicat caracteristica sa de transfer
deoarece aceste tensiuni sunt obtinuta prin simulare Spice.
influentate de parametrii tuturor Curentul de alimentare al
celor 6 tranzistoare. Acelasi motiv acestui trigger variaza in
sta si la ba7a unei sensibilitati mai functie de tensiunea de
ridicate a tensiuni-lor de prag la intrare (vezi fig. 6.13). Se
variatiile parametrilor observe ca acest trigger
tranzistoarelor, In practica consuma pand la 400 p,A!
tranzistoarele M5 M6 au rapoarte
dimensionale relativ mici fata de Tabelul 6.1.
celelalte tranzistoare fonnand un Dimensiunile dispozitivelor triggerului
Schmitt realizat cu inversoare CMOS
inversor „slab" („weak inverter")
0 observatie foarte Dispozitiv Tip Parametri Dispozitiv Tip Parametri
importanta priveste consumul acestui
M1, M3 NMOS cu
W= 4 gm, L = 2µm in
122
M2, M4 PMOS W = 12 gm, L = 2µm ve
rs
oa
re
C
M
O
S.
Vout
Fig. 6.13. Dependenta
curentului
de
alimentare
4 a triggerului
Schmitt
realizat cu
inversoare
CMOS in
functie de
2 tensiunea
de
alimentare
3
0
4
5 .
V,. [VI
400
Fig. 6.12. Caracteristica de transfer
static a triggerului Schmitt realizat
COMPARATOARE cu functionare cla de 300
continua in timp reactie
6.2.2. Comparatoare pozitiva
diferentiale
200
IVDD [1.,A1
cu histerezis
intrinsec
100
ComparatiSarele
diferentiale cu histerezis
intrinsec apeleaza
Fig. 6.14. Comparator bipolar cu histerezis simetric. Fig. 6.15. Compar, dipolar cu histerezis asimetric.
dominants. Modul de
bu-
implementare al buclei de reactie
pozi-tiva depinde de dispozitivele este formats din tranzistoarele
disponibile in procesul in care este Q45 Q46 care formeaza structuri
realizat circuitul de tip oglinda de curent cu diodele
din care face parte comparatorul. Q49 si, respectiv, Q60. Da-
A torita caracterului dominant al
n sectiunile urmatoare se reactiei pozitive doar una dintre
vor prezenta o serie de solutii de cele doua oglinzi de
implementare a histerezisului curent va conduce la un moment
intrinsec grup&t., in functie de tipul dat.
vcco
dispozitivelor utilizate.
Comparatoare diferentiale
bipolare
·
cu histerezis
intrinsec
Comparator bipolar
cu histerezis simetric. 0
solutie de implemen-tare a reactie OUT+
pozitive interne in cazul unui OUT-
Comparator bipolar
cu 1-4:sterezis asimetric.
Comparatoarele pre-zentate in
sectiunile anterioare au a Tmek
tensiuni de prag diferite de
tensiunea de referinta aplicata la
intrare. Un comparator care are
una dintre tensiunile de prag egala
cu tensiunea de referinta iar
cealaita este modificata prin
introducerea histe-rezisului este
prezentata in fig. 6.15 [Bodea,
1984, pag. 371-375].
Comparatorul
functioneaza astfel: atunci cand
tensiunea Vm este mai mica decat
VR,f tranzis.torul Q108 conduce tot
curentul furnizat de generatorul de
curent 11, tranzistorul 0107 find
blocat. Ca urmare tranzistorul
Q110 este saturat blo-cand ferm
tranzistorul Q103 iar curentul 13
satureaza etajul de iqire cu
colectorul in gol format din 0102 si
Q101. P: in blocarea tranzistorului
0103, oglinda de curent Q104-
Q105 este, la randul ;:au, blocata.
_vcco
Vin
125
124 COMPARATOARE cu functionare continua in timp Comparatoare cu histerezis
=
utilizata de comparator CMOS cu histerezis intrinsec simetric este prezentata in fig. (w/L),A3
6.16 [Gregorian, 1999, Csipkes, 2004]. Schema acestui comparator se similara cu
cea a comparatorului din Sectiunea 5.3.7. Diferenta consta in utilizarea unui factor a se rescrie: (6.14)
supraunitar care conduce la aparitia histerezisului. Ibias = 11+ 12 = I 3+ 15 = (1+a).13 = (1+ cc). I 1
Pentru a analiza functionarea acestui comparator se presupune ca oglinda de
Curentii // si /3 sunt:
curent Mbl-Mb2 are factor de transfer unitar.
Ibias (6.15)
Dace tensiunea diferentiala de intrare este puternic negative, < VIN-1
11= 1
tranzistorul M2 este blocat iar curentul de polarizare Ibias circula in totalitate prin = (1+ a)
tranzistoarele M1 M3. Curentii de drena ai tranzistoarelor M4 si M6 sunt nuli.
jar curentul 12 este:
(6.16)
Tranzistorul M5 „Incearca" sa injecteze in drena tranzistorului M2 un curent egal cu
Ibias. Dace tensiunea de intrare incepe sa creased §i Vim- se apropie de V - tran-IN
12 =16 = Ibias • (1+a)
zistorul M2 incepe sa se deschida preluand o fractiune tot mai mare din curentul pe
127
126 Comparatoare cu histerezis
COMPARATOARE cu functionare continua in timp
W=40 L=5
Expresiile curentilor de drena ai tranzistoarelor M1 si M2, care se presu-
Out
pune ca functioneazd in regiunea de saturatie,
P • Cox (W/L)mi.2 sunt:
' (Vas' )2
Il n
M35
=
2
(6.17)
/2 =/1" (WiLL1,2*(Vos2 -14-n
2 • I, W=2000 L=5
W=120 L.10 W=120 L=10 W.30 L=6 W=50 L=10
VGSI =VTIs W=100 L=10 W 1,10
n • COX (1/11 Irut1,2
y=5: 5
(6.18)
2 • 12
Fig. 6.17. Comparator CMOS cu t ,rezis asimetric (dimensiunile tranzistoarelor
Vcs2 = V ra .11 /In Cox (w/ ,2 ;Lint indicate in microni).
Expresia tensiunii de prag M4 si M6 pentru comutarea 1-3 0. In
1 la comutarea 0 ---> 1 este:
4 relatia (6.22) s-a considerat pentru
V
ThU = VGS1 VGS2
2
(6.19) simplitate ca raportul dimensiunilor
An Cox ' (WiLL
tranzistoarelor M4 si M6 are tot
,2
Din relatiile (6.14) si (6.15) se obtine: valoarea a. Aceastd egalitate nu este
I b i a s insa obligato-riu a fi respectata. Dace
(6.20) raportul dintre dimensiunile M3 si
M5 difera de raportul dintre
iar expresia tensiunea de prag este: dimensiunile M4 si M6 se obtin
VT/1U tensiuni de prag asimetrice.
(6.21) 2 • Ibias
4
'1 Cox • 441,2'(1+ a)•
Comparator CMOS cu h!
st3rezis intrinsec asimetric. Un
Expresia tensiunii de prag pentru
2- Ibias comparator CMOS cu histerezis
11
V
ThD = — tranzitia 1 --> 0 se obtine in mod
\• -"Et
) (6.22) intrimec asimetric [Wilcox, 1986]
Pn • Cox • (W/L)tvii,2 ' + a) similar: este prezentat in fig. 6.17.
0 observatie interesanta. Histerezisul este introdus prin
la constatarea ca in cele deschiderea tranzistorului M31 care
doud comu- acti-veaza generatorul de curent
tari sunt implicate tranzistoare M30. Tranzistorul M31 este in
diferite: M3 si M5, al caror raport conductie atunci cand tensiunea de
dimensional a fort notat cu a, pentru la iesirea comparatoruhi ste in 1. In
concluzie se modica doar tensi-
comutarea 0 ---> 1 si tranzistoarele
unea de prag corespunzatoare
cornut7.rii 1 0. in timp ce M9...M12 si cealaltd din
comutarea inverse are tranzistocsel M13...M1 6. Cele doua
loc atunci cand Yin = VRef. inversoare de iesire M17, M18 si,
respectiv. M19, M20 asigura
Comparator diferent:al separarea bistabilului de circuitul de
CMOS cu histerezis mare sarcina.
0 a doua solutie, propusa Lie acelasi colectiv [Brigati, 2002], este prezenta-
ta in fig. 6.20. Acest comparator a fost proiectat in scopul obtinerii atat a unei
vite-_
histerezis intrinsec ze foarte mari, timpi de comutare fund de aproximativ 300 ps, cat §i a unei sensibi-
litAti dinamice de 4 mV.
Comparatoare diferentiale BiCMOS cu histerezis simetric de valoare
Comparatorul are 3 etaje diferentiale de ca$tig urmate de repetoare de ten-
mica. 0 prima solulie de realizare a unui comparator BiCMOS cu histe-
siune care asigura compatibilitatea cu nivelele logice ECL. Intregul comparator are
rezis simetric de valoare mica este prezentatA in fig. 6.19 [Bigongiari, 1996]. Corn- o structure complet diferentiale. Ultimele cloud etaje de ca$tig au o configuratie
paratorul se compune din cloud etaje diferentiale de ca$tig in conexiune cascodA. casco& Primul etaj nu este cascodat pentru a permite largirea gamei de tensiune
Etajul de ie$ire este constituit dintr-un inversor CMOS, M11 $i M12. Condensato-
de mod comun.
rul CB este utilizat pentru a simetriza timpii de comutare. Excursia de tensiune de la
Curentul de polarizare uI primului etaj are o valoare redusa pentru a pre-
ie$irea primului etaj de ca$tig este limitata de doua diode conectate antiparalel.
veni saturarea tranzistoarelor din etajul de intrare. Curentul de
Histerezisul este produs de bucla de reactie pozitiva formats din tranzistoa- polarizare $i rezis-
rele QH1 . . o v c c i
$i QH2 ______________________________
V C C Z
din
M1 1
circuitul
de sarcind al etajului de intrare.
VOD 0
M12
Vin
VB5 0_
B1
VB4 0_
R4
r
ve2 0____
_____
131
130 COMPARATOARE cu functionare continua in timp Comparatoare cu histerezis
toarele de sarcina din ultimul etaj de castig sunt dimensionate pentru a obtine o
excursie de tensiune de iesire compatibila ECL (300 mV diferential). Din acest
motiv este necesara introducerea celui de al doilea etaj de castig pentru a obtine o
excursie de tensiune ECL la iesire pentru o tensiune de intrare de 14 mV.
Bucla de reactie pozitiva din circuitul de sarcina al primului etaj, Q3, Q4, Out
sul asigura comutarea rapida si evita comutarile multiple pentru semnale de intrare
lent variabile. Pentru a obtine un histerezis de valoare redusa pentru a preveni
Fig. 6.22. Comparator cu histerezis intrinsec in tehnologie GaAs. Fig. 6.23. Comparator cu histerezis intrinsec dinamic.
Comparatorul are si intrarea iesirea diferentiald. Etajul de *fig este Cand tensiunea de intrare se modified astfel incat sd blocheze tranzistoru!
format din tranzistoarele M1 si M2 si este un amplificator diferential cu sarcina Q1 si sa aducd in conductie tranzistorul Q2, curentul 15 circuld prin tranzistoarele
rezistivd. La iesirea etajului de castig sunt conectate cloud repetoare de tensiune, Q2 si Q5 si rezistorul R2. Tensiunea de la iesirea Out1 creste prin condensato-
tranzistoarele M5, M7 polarizate in curent constant de tranzistoarele M6, M8. Lan- rul C1, va ridica tensiunea din emitorul tranzistorului Q7 care se blocheaza.
turile de diode dintre sursele lui M5, respectiv M7, si drenele lui M6, respectiv M8, Curentul ./1 va circula prin condensatorul C1 conducand, in timp, la reducerea ten-
au rolul de a deplasa convenabil nivelul de curent continuu. siunii din emitorul lui Q7. Capacitatea bazd-emitor a tranzistorului 07 (Cbe7)
Tranzistoarele M3 si M4 constituie bucla de reactie pozitiva care are ca condensatorul C1 formeald un divizor capacitiv care determind cat variaza tensiu-
efect introducere histerezisului in functionarea comparatorului. nea din emitorul lui Q7 in funeje de variatia tensiunii de iesire. Tranzistorul repe-tor
Se remarcd faptul ca acest comparator utilizeazd tehnici de circuit care se pe emitor 08 transmite saltul de tensiune Vx din emitorul lui Q7 catre baza
regasesc in scheme uzuale care folosesc tranzistoare bipolare si tranzistoare MOS. tranzistorului Q3. Deoarece R • IB < 2 • VR presupunand ca C1 > Cba, dace tensi-
unea de intrare se modified din nou astfel inedt sa intre in conductie 01 curentu sau
6.23. Comparator cu histerezis intrinsec dinamic de colector va circula prin 03 si R2 astfel incat tensiunile de iesire raman ne
modificate. Insensibilitatea circuitului la variatiile tensiunii de intrare continue pand
In fig. 6.23 [Panov, 1999] este prezentata schema unui comparator cu
cand raportul tensiunilor Vbe3 §i Vbe4 va determina ca, din nou, curentul dc
his-terezis intrinsec dinamic.
colector al tranzistorului 01 sd circule din nou prin Q3. Viteza de scadere a poten-
Analiza functiondrii acestui comparator se face presupunand ca: R1 = R2
tialului din baza tranzistorului Q3 depinde de capacitatea condensatorului C1 si de
= R, C1= C2 = C §iIi= 12 = 13 = I; in plus se impune conditia VR < R • 1812.
curentul I. Durata insensibilitatii comparatorului poate fi controlatd prin modifica-
In conditii de repaus, atunci cand la intrare exists o tensiune constants,
rea curentului I.
tranzistoarele Q3 si Q6 sunt blocate, circuitul functionand ca un amplificator dife-
Fenomene similare au loc la comutarea inverse prin intrare in conductie
rential cu sarcind rezistivd. Dacd la intrare se aplicd o tensiune pozitiva suficient de
a tranzistorului Q6.
mare tranzistorul Q1 conduce iar tranzistorul Q2 este blocat. Curentul IB circuld
In urmdtoarele conditii: VR = 0,2 V, R = 400 52, /B = 2 mA, C = 3 pF §i
prin tranzistoarele Q1 si Q4 si rezistorul R1 ceea ce determind ca iesirea OUtl sa fie
dVi„ / dt = 20 V /1.1s pentru un curent 1= 50 IAA se obtine un timp de
In starea 0 si iesirea Out2 in starea 1.
insensibilitate de 20 ns.
134
VRef
M7b
M5b
Out
M6b
M6
3 / 2 1 _ 3 / M7
2
Fig. 8.2. Comparator diferential autopolarizat cu doua etaje de castig. etaj de decizie (toate dimensiunile tranzistoarelor,
sunt exprimate in microni).
Circuitul descris in [Rijns, 1994] utilizeazd cloud etaje de castig de tip
Tranzistoarele ML1 §i ML2 au rolul de a limita excursia de tensiune do .a
CSDA conectate in cascade conform schemei din fig 8.2.
Intrarile inversoare ale celor cloud etaje CSDA sunt conectate la tensiunea de nivelul etajului de intrare.
referinta iar intrare neinversoare a celui de al doilea etaj este conectatd la iesirea Schema din fig. 8.3 este utilizata si in circuitul descris in [Piessens, 20011.
primului etaj. Tranzistoarele de polarizare, M3, M4, M7 §i M8 sunt reprezentate ca In acest caz amplificarea primului etaj de castig este crescutd prin utilizarea unui
find impartite in cloud jurnatati pentru a sugera modul in care sunt dimensionate. La factor de transfer supraunitar pentru oglinzile de curent M31-M3 §i M41-M4.
echilibru curentul generat de M3a polarizeazd doar tranzistorul Ml a §i a§a mai
departe pane la M8b care-1 polarizeazd doar pe M6b iar prin conexiunile orizontale
8.2. COMPARATOR CMOS AUTOPOLARIZAT CU
dintre cele doud jurndtati ale tranzistoarelor M3, M4, M7 §i M8 nu circula curent.
DOMENIU LARG DE TENSIUNE DE MOD COMUN
Performantele oferite de acest comparator au fost considerate suficiente
pentru aplicatia respective.
in [Gazes, 1991] este propus si un comparator diferential autopolarizat cu
domeniu larg de tensiune de mod comun la intrare. Schema acestui comparator
In [Baker, 1997, pag. 685-696] etajul de tip CSDA este utilizat ca etaj de
precum si etapele parcurse in obtinerea sa sunt prezentate in fig. 8.4. Acest tip de
decizie in comparatorul a carui schema este prezentata in fig. 8.3.
etaj de castig este denumit VCI)A („Very-wide Common-mode-range Differential
Etajul de intrare format din tranzistoarele M1 §i M2 transforms diferenta le
Amplifier").
tensiune dintre intrari intr-o diferenta de curenti de drend care este transferat )rin In obtinerea acestui tip de etaj de castig s-a plecat de la cloud etaje clasice
cele doua oglinzi de curent M31-M3 §i M41-M4 care circuitul de sarcinA cu •
de tip cascoda ',Hata a§a cum se arata in fig. 8.4. a. Fiecare dintre cele cloud
· eactie pozitiva format din tranzistoarele M5... M8. Tensiunea diferentialA ficatoare poate opera la o tensiune de mod comun apropiata de una dintre sursele de
obtinutA tstfel este aplicatd la intrarea etajului de decizie de tip CSDA care asigura o alimentare, cel cu tranzistoare de intrare NMOS in jurul tensiunii VDD §i cei cu
ampli-'icare suplimentara si transforms tensiunea diferentiald intr-o tensiune asimetrica tranzistoare PMOS in jurul tensiunii V. Pentru a putea opera la o tensiune de mod
:are comanda inversorul de iesire M15-M16. Tranzistorul M9 asigurd compatibili- comun care is once valoare in intreaga gamd de tensiuni de alimentare trebuiesc
atea de tensiune in curent continuu intre ie§irea etajului de sarcind cu reactie utilizate ambele tipuri de etaje de amplificare ap cum s-a ardtat in Sectiunea
pozi-iva si intrarea etajului CSDA.
Fig. 8.3. Comparator diferential utilizand comparatorul autopolarizat simplu ca
146
vol. COMPARATOARE cu functionare continua In timp Comparatoare diferentiale autopolarrLate 147
Vbp
In+ In-
Co
8.3. COMPARATOR CMOS AUTOPOLARIZAT RAPID
In mmparatorul
ai bung de 15 ps.
bazar pe structura VCDA permite estimarea intarzierilor cu o title
Vbn
in [Ilkbahar, 2001] este descris un comparator autopolarizat utilizat in
VOCO-----
\leg Vbp mi-croprocesorul Intel-ItaniumTM in caiitate de buffer de intrare pentru
............. semnalele magistrala externs. Schema ace:;tui este prezentata in fig. 8.5.
Out
Comparatorul a fost proiectat pomind de la semnalele de validare care
Out fun - ctioneaza in mod diferential in timpul transferurilor normale de date dar
poate fun-ctiona si in mod asimetric atun ; . a.ld se schimba circuitul master care
controleaz magistrala.
Acest comparator iii 1. did ca puternic castigul in functie de nivelul sem-
nalelor de intrare. Acest compo---.,rent, in functionarea pe mod diferential, permite
obtinerea unei rejectii suficien-e '1 tensiunii de mod comun care asigura protectia is
semnalele perturbatoare produs' dc, comutarea altor semnale in functionarea
I
mod asimetric, asigura o interpretare corecta a semnalelor logice.
( a) In fig. 8.6 este prezenta'r iracteristica de comutare statics a comparatoru-lui
(c) diferential autopolarizat rapid. Tehsiunea de prag, Vm, a comparatorului es
egalA cu tensiunea de referinta, atunci cand tensiunea de referintA is valor:
Fig. 8.4. Comparator diferential autopolarizat cu domeniu cuprinse in gama 0,65 V...0,c Pentru tensiuni de referinta mai mici
Taro de tensiune de mod comun la intrare. 0,65 V comparatorul se comporta ca un inversor logic cu tensiunea de prag di
0,65 V. Acest comportament permite utilizare comparatorului autopolarizat
Prima etapa a procesului de constructie a etajului VCDA consta in atat pentru semnale diferentia!e cat si pentru semnale asimetrice.
inlatea celor doll& oglinzi de curent si interconectarea etajelor rezultate ca in Comparatorul dispune i de un terminal, Enableb, care permite dezactiN
8.4. b. Se obtine astfel un amplificator diferential complementar cu polarizare
erns. Ca in cazul etajului de ca ti de tip CSDA circuitul din fig. 8.4. b nu rea comparatorului prin aplicarea unui potential egal cu VDD ceea ce conduce Id
Lte fi polarizat Intr-o manierd stabiles blocarea tranzistorului MP1 intrerupand alimentarea comparatorului.
VDD
Etajuldec4tigVCDAdinfig.8.4.cseobtine ilor depolarizarelatensiunea interne l'Bias. Aceprinconectareatuturorin-
asta conectare stabilizeazd I
ctul static d e functionare al etajului printr-o bucla detie negativt
reac
Amplificarea etajului de castig VCDA se poate cal
.1) in care g,,,i la cu ajutorul e:;.oresi-
g„a sunt transconductantele tranzis
este impedanta din nodul de iesire, toarelor conectate la intrare
Circuitul descris in [Sownyanath, 1999] utilizeaza
za un comparator utilizat in etajul VCDA pentru a
am masurarea intarzierilor datorate intcrconexiunilor
si a zgomotului produs prin c,:-. • .',,azite in circuitele digitate. Procesul
terizat este un proces CMOS de U,25 Am jar tensiunea de alimentare este de
E n a b l e b 0 - - -
I M P 1
_1 Vin
VRef 7 i! ,
P2- .0'
Out
i
MN
3
vsso___
Fig. 8.6. Caracteristica de comutare statics a comparatorului 1,0 diferential autopolari (caracteristica
de comutare unui comparator ideal este trasatA cu linie punczat rapid [Allstot, 1982]
tata),
[Axenenko, 1999]
[Baker, 1997]
[Bazes, 1991]
[Bodea, 1984]
P.E. Allen, D.R. Holberg, CMOS Analog
Circuit Design, Holt, Reinhart anf Winston,
New York, 1987.
[Bigongiari, 1996]
D.J. Allstot, „A Precision Variable-Supply CMOS
Comparator", IEEE J. Solid-State Circuits, vol.
SC-17, pag. 1080-1087, Decembrie 1982.
* * *, Analog Integrated Circuits Data Book,
Analog Devices Inc., 2002.
150 V. Axenenko, „Comparator exhibits
151
temporary hysteresis", EDN, Octombrie 1999.
[Brigati, 2002] R.J. Baker, H.W. Li, D.E. Boyce, CMOS Circuit
Design, Layou, and Simulation, IEEE Press, New [Jarrett, 1978]
York, 1997
M. Bans, „Two Novel Fully Complementary
[Callahan, 1979] Self-Biased CMC Differential Amplifiers", [Katsu, 1988]
IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-:: pag.
165-168, Februarie 1991
Csipkes, 2004]
M. Bodea, A. Vatasescu, N. Marinescu, A. Segal,
R. Rapeanu, [Kessler, 1979]
S. Puchianu, V. Gheorghiu, Circuite integrate liniare
Dan, 1988] — Manual c; e
utilizare, vol. 4, Editura Tehnica, Bucureti, 1984.
A. Bigongiari, S. Brigati, G. Caiulo, G. Franchi,
Ellermeyer, 2000] F. Maloberti, „An 8-Channel 250MHz BiCMOS
Discriminator for Medical Imaging", IEEE
International Solid-State Circuits Conference,
ISSCC'96, pag. 326-327, 467, Februarie 1996.
COMPARAT Solid-
OARE cu State
functionare Circuits,
continua in vol. SC-
timp 37, pag.
887-894,
S. Brigati Iulie
2002.
, P.
Colombar M.J. Callahan
a, L. Jr., „Integrated
D'Ascoli, DTMF
U. Gatti, Receiver", IEEE
T. J. Solid-State
Circuits, vol.
Kerekes,
SC-14, pag. 85-
P.
90, Februarie
Malcovati
1979.
, „A SiGe
BiCMOS D. Csipkes, G.
Burst- Csipkes, Elemente
Mode constructive
utilizate in
155-Mb/s
proiectarea
Receiver
circuitelo
for r art..:: complexe,
RO Editura
N", Casa
IEE Cartii de
E J.
Stii Solid-State
nta, Circuits, vol. SC-
Clu 35, pag. 1958-
j-
1963, Decembrie
Na
poc 2000.
a, P.R.
200
Gray,
4
R.G.
C. Dan, M. Meyer,
Bodea„,M Circuite
MC130 integrate
convertor analogice
A/D —
monolitic Analizei
de 3 cifre", proiectar
Lucrdrile e.
Conferiniei Bucuresti:
Anuale de Editura
Semiconduc Tehnica,
toare 1997.
(CAS),
3ray, 1997] pag. 271- R.
274, Sinaki- Gregorian,
Romania, Intorductio
iregorian, 1999] 1988. n to CMOS
Op-Amps
T. Ellerme
and
irootveld, 1992] yer, U. comparator
Langmann, s, Editura
B. John Wiley
Wedding, & Sons,
W. New York,
Pohlmann, 1999.
„A 10-
C.J.
Gb/s Eye-
Grootveld,
Opening J. Fonderie,
Monitor IC J.H.
for Huijsing,
Decision- „A 1 volt
Guided simplified
Adaptation comparator
of the with
Frequency nonlinear
Response class-AB
of an driver and
Optical rail-to-rail
Receiver" , output
stage",
IEEE J.
IEEE
Inte vol. SC-:,1,
rna pag. 961-969,
tion Decembrie
al
1979.
Sy
mp A.
osi Hastings,
um The Art of
on Analog
Cir Layout.
Prentice-
cuit Hall Inc.,
s New
and Jersey,
Sys 2001.
tem
s, J. G. Holt, „A ,:!rant
ISC Analog Multiplier
AS
Integrated Circuit",
'92,
vol. IEEE J. Solid-State
3, Circuits, vol. SC-8,
pag pag. 434-439,
. Decembrie 1973.
138
0- A. Ilkbahar, S.
138 Venkat,.- c..,an. H.
3,
Muljono,
199
2. „ItaniumTM
Processor
Y.A. System
Hague, Bus
R. Design- :
Gregoria " ; Solid-State
n, R.W. Circuits,
aque, 1979] vol. SC-
Blasco,
36, pag.
R.A.
1565-
Mao, W. 1573,
istings, 2001] E. Octombri
Nicholso e 2001
n Jr., „A
)1t, 1973] Bibliografie
Two
Chip R.B. Jarrett, Pace„,A
PCM
Monolithic
bahar, 2001] Voice
Speed-Control
CODEC
Micro-System
with
for Automoti\'e
Filters",
IEEE J. Applications",
Solid- IEEE
State International
Circuits, Solid-State
Circuit Technology for
Conferen Digital
ce, Voltmeter
SSCC'78, Applications",
pag. 46- IEEE J. Solid-
47, 265, State Circuits,
Februarie vol C-14, pag.
1978. 556-561, Iunie
S. Katsu, 1979.
T. 'cda, [Landsburg-1,
M. 1977]
Kazumur G.F.
a, G. Lands
Kano, „A b
GaAs n ,.A
Program Charg
mable e-
Timer Balan
with cing
12.5ps Mono
Delay- lithic
Time A/D
Resolutio Conv
n", IEEE erter",
Internati IEEE
onal Inter
Solid- natioi
State :cl
Circuits Solid-
Conferen State
ce, Circu
ISSCC'88 its
, pag. 16- Confe
17, 280, rence
Februarie ,
1988. ISSC
H. C'77,
Kessler, pag.
P. Jiru, 98-
„A 99,
Single- Fcbru
Chip A/D arie
Converter 1977.
in PMOS
G.F. vol. SC-31, pag. 61-
69, Ianuarie 1996.
Landsburg,
„A Charge- K. Maio, M. Hotta,
Balancing N. Yokozawa, M.
Nagata, K. Kaneko,
Monolithic T. Iwasak
AID
„An Untrimmed
Converter", D/A Converter with
IEEE J. 14-Bit Resolution",
Solid-State IEEE J. Solid-State
Circuits, vol. Circuits, vol. SC-
SC-12, pag. 16, pag. 616-621,
662-672, Decembrie 1981.
Decembrie
1977. [Manolescu, 1983] A. Manolescu, A.
Manolescu, I.
C.-S. Lin, B.-
Mihut, T.
C. Liu, „A
Muresan, L.
New Turic, Circuite
Successive integrate linicre.
Approximati Editura Didactics [Landsburg-2, 1977]
on si Pedagogics,
Architecturz, Bucuresti, 1983.
for Low- [Monticello, 1978] D.M. Monticello, [Lin, 2003]
PoNve, Low- „A Versatile
Cost CMOS Monolithic IC
AID Building-Block
[Linder, 1996]
Converter", for Light-Sensing
IEEE J. Applications",
Solid-State IEEE J. Solid-
State Circuits, [Maio, 1981]
Circuits, vol.
vol. SC-13. pag.
SC-38, pag.
873-881,
54-62,
r)ecembrie 1978.
Ianuarie
2003. [Musa, 1976]
F.H. Musa,
T. Linder, H. Huntington, „A
Zojer, B. CMOS
Seger, „Fully Monolithic 31/2-
Analogue Digit A/D
LMS Con
Adaptive vert
Notcl. er",
Filter in 1
BiCl.'OS :EE
Technology",
Inte
IEEE J.
Solid-State rnat
Circuits, iona
l
Solid-State
Circuits
Conferenc
e,
ISSCC'76 ,
zq ,44-
145,
Februarie
1976.
[National,
2000]
Anal-;, .:1
„,,rated
Circuits
Data
Book,
National
Semicondu
ctc,
Corporatic
.0 ust
2000.
152 153
COMPARATOARE Cu functionare continua in timp
Bibliografie
[Ohgishi, 1978] T. Ohgishi, A. Doi, T. Akiyama, N.J. Enomoto„,Molybdenum
Gate MOS Applied to an AM/FM Digital Frequency Synthesizer",
[Russell-1, 1972] R. W. RusSell, T.M Frederiksen, „Automotive and Industrial
'IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-13, pag. 555-560,
Electronic Building Blocks", IEEE International Solid-State
Octombrie 1978.
Circuits Conference, ISSCC'72, pag. 116-117, Februarie 1972.
[Ohri, 1979] K.B. Ohri, M.J. Callahan Jr., „Integrated PCM Codec", IEEE J.
[Russell-2, 1972] R. W. Russell, T.M Frederiksen, „Automotive and Industrial
Solid-State Circuits, vol. SC-14, pag. 38-46, Februarie 1979.
Electronic Building Blocks", IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-7,
[Pallas, 1999] R. Pallas-Areny, J.G. Webster, Analog Signal Processing, pag. 446-454, Decembrie 1972.
Editura John Wiley & Sons, New York, 1999.
[Saul, 1982] P.H. Saul, „A High-Speed Comparator Design Technique",
[Panov, 1999] G. Panov, D. Manova, A. Popov, „Comparator with IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-17, pag. 616-621, Iunie 1982.
dynamic hysteresis", Electronics Letters, vol. 35, pag.
[Shinn, 1977] C.E. Shinn II, „Wideband DC-Coupled Amp/Schmidt",
1497-1498, Septembrie 1999.
IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC'77,
[Philpott, 1994] R.A. Philpott, R.A. Kertis, R.A. Richetta, T.J. Schmerbeck, D.J. pag. 28-29, 232, Februarie 1977.
Schulte, „A 7 Mbyte/s (65 MHz), Mixed-Signal, Magnetic
[Soumyanath, 1999] K. Soumy_anath, S. Borkar, C. Zhou, B.A. Bloechel, „Accurate On-
Recording Channel DSP Using Partial Response Signaling with
Chip Interconnect Evaluation: A Time-Domain Technique", IEEE
Maximum Likelihood Detection", IEEE J. Solid-State Circuits,
J. Solid-State Circuits, vol. SC-34, pag. 623-631, Mai 1999
vol. SC-29, pag. 177-184, Martie 1994.
[Piessens, 2003] [Stoppa, 2002] D. Stoppa, A. Simoni, L. Gonzo, M. Gottardi, G.-F. Dalla Betta,
T. Piessens, M. Steyaert„,Highly Efficient xDSL Line Drivers in
[PMI, 1990] „Novel CMOS Image Sensor With a 132-dB Dynamic Range",
0.35-p.m CMOS Using a Self-Oscillating Power Amplifier", IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-37, pag. 1846-1852, Decembfi,
IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-38, pag. 22-29, Ianuarie 2003.
2002.
* * *, Analog Integrated Circuits Data Book, Precision Monolithics [Suarez, 1974] R.E. Suarez, P.R. Gray, D.A. Hodges, „An All-MOS Charge-
Inc., vol. 10, pag. 8.6-8.13, 1990.
Redistribution A/D Conversion Technique", IEEE
[Post, 1980] H.-U. Post, K. Waldschmidt, „A High-Speed NMOS A/D Converter International Solid-State Circuits Conference, ISSCC'74, pag.
with a Current Source Array", IEEE J. Solid-State Circuits, 194-195, 248, Februarie 1974.
vol. SC-15, pag. 295-301, Iunie 1980.
[Sugawara, 1983] T. Sugawara, M. Ishibe, H. Yamada, S.-I. Majima, T. Tanji, S.
W. Redman-White, „A High Bandwidth Constant g,,, and Slew- Komatsu, „A Monolithic 14 Bit/20 i.ts Dual Channel A/D
:Redman, 1997]
Rate Rail-to-Rail CMOS Input Circuit and its Application to Converter" , IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-18, pag. 723-729,
Analog Cells for Low Voltage VLSI Systems", IEEE J. Solid- Decembrie 1983.
State Circuits, vol. SC-32, pag. 701-712, Mai 1997
[Stefan, 1983] Gh.M. Stefan, 1. Draghici, T. Murepn, E. Barbu, Circuite integrate
H. Rijns, „Analog CMOS Teletext Data Slicer", IEEE digitate. pag. Editura Didactics §i Pedagogics, Bucure§ti, 1983.
Rijns, 1994]
International Solid-State Circuits Conference, ISSCC'94, pag. 70-
[Traff, 1992] H. Traff„,Nmrel approach to high speed CMOS current comparators",
71, 313, Februarie 1994
Electronic Letters, vol. 28, pag. 310-312, Ianuarie 1992.
B.J. Rodgers, C.R. Thurber, „A Monolithic ± 5 1/2-Digit BiMOS A/D [Vazquez, 1995] A. Rodriguez-Vazquez, R. Dominguez-Castro, F. Medeiro, M.
Rodgers, 1989]
Converter", IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-24, pag. 617-626, Delgado-Restituto, „High Resolution CMOS Current
Iunie 1989.
Comparators: Design and Applications to Current-Mode Function
Generation", Analog Integrated Circuits and Signal Processing,
vol. 7, pag. 149-165, Kluwer Academic Publishers, Martie 1995.
152
COMPARATOARE cu functionare continua in timp
[Ohgishi, 1978]
T. Ohgishi, A. Doi, T. Akiyama, N.J. Enomoto„,Molybdenum
Gate MOS Applied to an AM/FM Digital Frequency Synthesizer",
IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-13, pag. 555-
560, Octombrie 1978.
[Ohri, 1979]
K.B. Ohri, M.J. Callahan Jr., „Integrated PCM Codec", IEEE J.
Solid-State Circuits, vol. SC-14, pag. 38-46, Februarie 1979.
[Pallas, 1999] R. Pallas-Areny, J.G. Webster, Analog Signal Processing,
Editura John Wiley & Sons, New York, 1999.
[Panov, 1999) G. Panov, D. Manova, A. Popov, „Comparator with dynamic
hysteresis", Electronics Letters, vol. 35, pag. 1497-1498,
Septembrie 1999.
[Philpott, 1994]
R.A. Philpott, R.A. Kertis, R.A. Richetta, T.J. Schmerbeck, D.J.
Schulte, „A 7 Mbyte/s (65 MHz), Mixed-Signal, Magnetic
Recording Channel DSP Using Partial Response Signaling with
Maximum Likel:hood Detection", IEEE J. Solid-State :t
Circuits, vol. SC-29, pag. 177-184, Martie 1994.
[Piessens, 2003] T. Piessens, M. Steyaert„,Highly Efficient xDSL Line Drivers in
0.35-Am CMOS Using a Self-Oscillating Power Amplifier",
IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-38, pag. 22-29, Ianuarie 2003.
[PMI, 1990]
", Analog Integrated Circuits Data Book, Precision Monolithics
Inc., vol. 10, pag. 8.6-8.13, 1990.
[Post, 1980]
H.-U. Post, K. Waldschmidt, „A High-Speed NMOS A/D Converte
r
with a Current Source Array", IEEEJ. Solid-State Circuits,
,•Rijns, 1994]
RCate
e
for Low Voltage VLSI Systems", IEEEJ. Solid-State Circuits, Cellsvol. SC-
Rodgers, 1989] 32, pag. 701-712, Mai 1997
H. Rift's, „Analog CMOS Teletext Data Slicer", IEEE Intern
Solid-State Circuits Conference, 1SSCC'94 ational
Bibliografie
[Russell-1, 1972] R.
W.
Ru
sse
ll.
M
Fre
der
iks
en,
„A
uto
mo
tiv
e
and
Ind
ust
rial
Ele
ctr
oni
c
Bui
ldi
ng
Blo
cks
",
IE
EE
Int
ern
ati
on
al
Sol
id-
Sta
te
Cir
cui
Co
nfe
ren
ce,
ISS
CC
'72
,
pag
.
11
6-
11
7;
Fe
bru
ari
e
19
72.
[Russell-2, 1972]
R.
W
.
R
u
s
s
e
ll
,
T
.
M
F
r
e
d
e
ri
k
s
e
n
,
„
A
u
t
o
m
o
ti
v
e
a
n
d
I
n
d
u
st
ri
a
l
E
l
e
c
tr
o
n
i
c
B
u
il
d
i
n
g
B
l
o
c
k
s
",
I
E
E
E
J
.
S
o
li
d
-
S
t
a
t
e
C
i
r
c
u
it
s
,
v
o
l.
S
C
-
p
a
g
.
4
4
6
-
4
5
4
.
D
e
c
e
m
b
ri
e
1
9
7
2
.
[Sau
l,
198
2]
P.H.
Saul
, „A
high
-
Spe
ed
Co
mpa
rato
r
Desi
gn
Tec
hniq
ue",
IEEE J.
Solid-;Mate
Circuits, vol.
SC-17, pag. 616-
621, Iunie 1982.
[Shi
nn,
197
7]
C.E.
Shin
n P..
„Wi
deb
and
DC-
Cou
pled
Am
p/Sc
hmi
dt",
IEEE Inte—
ational Solid-
State Circuits
Conference,
ISSCC'77,
pag.
232, Februarie
1977.
[
So
u
m
ya
na
th,
19
99
] [Stoppa, 2002]
K.
So
u
m [Suarez, 1974]
y,
th,
S.
B
[Sugawara, 1983]
or
[Stefan, 1983]
ka
r,
C.
Z
ho
u,
B. [Traff, 1992]
A.
Bl
[Vazquez, 1995]
oe
ch
el,
„
A
cc
ur
at
e
O
n-
C
hi
p
In
ter
co
nn
ec
t
E
va
lu
ati
on
:
A
Ti
m
e-
D
o
m
ai
n
Te
ch
ni
qu
e"
,
IE
E
E
J.
S
ol
id
-
St
at
e
Ci
rc
ui
ts,
vo
l.
S
C-
34
,
pa
g.
62
3-
63
1,
M
ai
19
99
D.
St
op
pa
.
Si
m
on
i,
L.
G
on
zo
,
M
.
G
ott
ar
di,
G.
-
F.
D
all
a
B
ett
a,
„
N
ov
el
C
1.-
)S
I
m
ag
e
Se
ns
or
W
ith
a
13
2-
d
B
D
yn
a
mi
c
R
an
ge
",
IE
E
E
J.
.c.,
f
-
1
-
St
at
e
Ci
rc
ui
ts,
vo
l.
S
C-
37
,
pa
g.
18
46
-
18
52
,
D
ec
e
m
20
02
.
R.E.
SLI,X,
7,1'.R.
Gray,
D.A.
Hodge
s, „An
All-
MOS
Charg
e-
Redi
s
t
r
n
, A/D
C
o
n
v
e
r
s
i
o
n
T
e
c
h
n
i
q
u
e
"
,
I
E
E
E
I
n
t
e
r
n
a
t
i
o
n
a
l
r
c
u
i
t
s
C
o
n
f
e
r
e
n
c
e
,
I
S
S
C
C
'
7
4
,
p
a
g
.
1
9
4
-
1
9
5
,
2
4
8
,
F
e
b
r
u
a
r
;
c
9
-
4
.
T.
Sug
a- .;'
a,
M.
Ishi
be,
H.
Ya
mad
a,
S.-I.
Maj
ima,
T.
Tanj
i, S.
Kor
n:
.u„
A
Mo
nolit
hic
14
Bit/
20 }
As
Dua
l
Cha
nnel
A/D
Con
vey!
r" ,
'EE
E J.
Soli
d-
Stat
e
Cir
cuit
s,
vol.
SC-
18,
pag.
723-
7.2')
.
Dec
emt
:e
1)83
.
G
h
.
M
.
I.
D
r
A
g
h
i
c
i
,
T
.
M
u
r
e
s
a
n
,
E
.
B
a
r
b
u
,
C
i
r
c
u
i
t
e
d
i
g
i
t
a
t
e
.
n
g
3
7
,
E
d
i
t
u
r
a
D
i
d
a
c
t
i
c
s
P
e
d
a
g
o
g
i
c
s
,
B
u
c
u
r
e
s
t
i
,
H.
Traf ,,
vel
appro
ach to
high
speed
CMO
S
curren
t
compa
r,
Electr
c
titers,
vol.
28,
pag.
310-
312,
Ianuar
ie
1992.
A.
Rod ,z
-
Vazqu
ez, R.
Domi
nguez
-
Castro
, F.
Medei
ro,
M
.
D
e
-
R
e
s
t
i
t
u
t
o
,
„
H
i
g
h
R
e
s
o
l
u
t
i
o
n
C
M
O
S
C
u
r
r
e
n
t
C
o
m
p
:
a
s
:
D
e
s
i
g
n
a
n
d
A
p
p
l
i
c
a
t
i
o
n
s
t
o
C
u
r
r
e
n
t
-
M
o
d
e
F
u
n
c
t
i
•
vol. 7
r
Gene,
ti. ',
Analo
g
Integr
ated
Circu
its
and
Signa
l
Proce
ssing,
49-
165,
Kluwe
r
Acade
mic
Publis
hers,
Martie
1995.
154 COMPARATOARE cu functionare continuA in timp
(a) (b)
Fig. A1.1 Simbolurilc st'n' -.trd ale tranzistoarelor MOS: (a) NMOS si (b) PMCS
156 a
CONTARATOAREcufbnctionareconfinuaintimp
S+B
G O B
S+B
(a) (0)
ANEXA
G VSS
VDD
V 2
"cl * • NSUB 2 ' OF n
„„ FB 1 2 • OF, +
-
COX
e
1
'1 s, • NsuB
rn -
cox
An• `-ox • L - •IVGS -Vrn V DS)
VDS pentru V Ds < (7GS vrn)
2
W
(vGs - )2 .11 + V DS
vA pentru V Ds > (1/Gs ^
V„)
-
unui proces CMOS de 0,6 p.m utilizate in exemple
*****************,,,,- a•<****************
*******x*********
*** Model generic pentru un tranzistcr PMOS