Calculul erorilor de justeţe (maximale)

Calculul erorilor de justeţe prezintă importanţă la măsurări industriale

de uz curent (precizia 1 – 3 %).

Erorile de justeţe pot fi

- sistematice, când pot fi determinate ca mărime şi semn;
- maximale, când pot fi determinate numai ca limită superioară.

Pentru calculul ambelor erori este necesară o singură măsurare

(adesea se face şi o a doua măsurare, pentru mai multă siguranţă).

Calculul erorilor de justeţe (maximale) la măsurări directe

Calculul diferă după cum aparatele de măsurat sunt statice sau

dinamice.
La aparatele de măsurat statice indicaţia nu depinde de timp sau
variază foarte lent cu timpul, astfel că în momentul citirii indicaţiei organul
mobil al aparatului de măsură se află în echilibru static.
Exemple de aparatele de măsurat statice:
- aparate de măsurat analogice şi numerice de curent continuu;
- aparate de măsurat analogice de curent alternativ. Acestea devin
statice prin integrarea inerţială a unor mărimi alternative de
măsurat (voltmetre de valoare medie, de valoare efectivă, etc.)

În condiţii de referinţă eroarea ce apare la măsurarea unei mărimi cu

un aparat de măsurat analogic, se calculează cu relaţia

X  X ap  X ct (1)

în care X ap reprezintă eroarea cauzată de aparatul de măsură, iar X ct

eroarea de citire.

Eroarea de citire X ct este o eroare de interpolare care depinde de

- operator (acuitate vizuală şi antrenament)
- calitatea scării (fineţea diviziunilor, oglinda antiparalaxă).
 Eroarea de citire X ct prezintă importanţă la aparatele de înaltă
precizie.
La aparatele de măsurat obişnuite (clasă de precizie 0,5 – 3), în
condiţii standard, eroarea de citire X ct este mai mică decât eroarea de
aparat X ap , deci se neglijează.

La aparatele de măsurat obişnuite eroarea ce apare la măsurarea

unei mărimi cu un aparat de măsurat analogic este

X  X ap (2)

La aparatele de măsurat numerice X ct  0 .

 Calculul erorii de aparat (erorii instrumentale)

La aparatele de măsurat cu scară uniformă (aparate magnetoelctrice)

eroarea de aparat se calculează cu relaţia

Xn
X ap  c (%) (3)
X

în care
- c este indicele de clasă (înscris pe cadranul aparatului de
măsură);
- X este valoarea citită pe scara gradată;
- Xn este limita superioară de măsură (valoarea înscrisă la cap de
scară, fig. 9 cursul 7).

Justificarea relaţiei (3) este următoarea:

Din figura 9, cursul 7, rezultă că eroarea maximă  max este aceeaşi
indiferent de poziţia acului indicator pe scară.
 Din cauza caracterului aleator, acest maxim poate apărea în orice
punct din intervalul 0 – Xn, şi ca urmare
 max
 ap   b  100 (%) (4)
Xn
Din relaţiile (27) şi (28) din cursul 7, se obţine
 max  c  X n / 100 (5)
rezultat cu ajutorul căruia din relaţia (4) se regăseşte relaţia (3).

În cazul aparatelor cu scară neuniformă (ohmetre,etc.), eroarea de

aparat se calculează cu relaţia:

αn
X ap  c (%) (6)
α

în care  şi  n reprezintă unghiul corespunzător valorii X citite pe scară şi

respectiv unghiul total al scării gradate.
Observaţii:
1. Relaţia (6) poate fi scrisă şi în forma:
X ap 1 α
 ; η (7)
c η αn
Din relaţia (7) rezultă că eroarea la un aparat de măsurat analogic
este minimă numai când acul indicator se află la finele scării (   n ).
În această situaţie eroarea devine egală (numeric) cu indicele de
clasă (c), iar la scăderea deviaţiei ( ), X ap creşte şi tinde la infinit când
 se apropie de zero, figura 1.
Rezultă că precizia de măsurare la un aparat de măsurat analogic nu
trebuie confundată cu indicele de clasă.
De exemplu, dacă se utilizează un voltmetru de 30V şi clasă 1
(Xn = 30, c=1) la măsurarea unei tensiuni de 10v (X=10) se obţine
X ap  3% .
Dacă se măsoară 15V, se obţine X ap  2% şi numai dacă se
măsoară 30V se obţine X ap  1% .
 Fig. 1.

2. Tot din relaţia (7) mai rezultă o concluzie practică importantă.

Aparatul de măsurat trebuie astfel ales încât, în funcţionare, acul să
se plaseze cât mai spre finele scării gradate (  1).
Practic se consideră că aparatul de măsurat este bine ales dacă acul
cade în ultima treime a scării gradate, figura 2.
 Fig. 2.

La aparatele de tablou această condiţie poate fi îndeplinită printr-o

alegere judicioasă a acestora.
La aparatele de laborator şi industriale de tip multimetre condiţia se
realizează cu ajutorul comutatoarelor de gamă.
 În cazul multimetrelor, pentru a exclude funcţionarea aparatului în
prima treime a scării (fig.2) este necesar ca gamele succesive să se
suprapună pe cel puţin o treime, adică succesiunea acestora să fie
1 – 3 – 10.
La multimetrul MAVO 35 succesiunea este 1 – 2,5 – 5 – 10, deci mai
avantajoasă dar realizată cu un comutator mai complicat şi mai scump.

3. La multimetrele electronice eroarea de aparat X ap se calculează

cu relaţia binomială

Xn
X ap  a%( ct )  b%( cs ) (8)
X

Relaţia (8) este dedusă din rel (31), cursul 7, în care a şi b sunt parametri
de catalog (a% din valoarea citită pe scară, b% din cap de scară), iar X şi
Xn au semnificaţia din relaţia (3).
 Scrierea rezultatului măsurării

Dacă X şi X r  X / X sunt erorile de justeţe, absolută şi relativă,

iar X m - valoarea măsurată (sau calculată) a mărimii X, atunci valoarea
mărimii necunoscute X se scrie:

X  X m  X (9)
X  X m  X r % (10)

Acest rezultat ne informează că necunoscuta X poate avea orice valoare

în intervalul

 X m  X , X m  X  (11)

Eroarea de justeţe (maximală) poate avea orice valoare în intervalul

 X , X  (12)
 Calculul erorilor de fidelitate (întâmplătoare)

Calculul erorilor de fidelitate (întâmplătoare) prezintă importanţă la

măsurări de înaltă precizie (mai bună ca 0,1 – 0,01%), cum ar fi
etalonarea şi verificarea voltmetrelor şi frecvenţmetrelor numerice, a
etaloanelor de t.e.m. şi de frecvenţă, etc., precum şi la măsurarea precisă
a unor constante de material (rezistivitate, etc.).
De asemenea, prezintă importanţă şi la măsurări curente (de precizie
redusă) când valoarea măsurandului are fluctuaţii importante ca. de
exemplu, rezistenţa de contact la comutatoare şi relee sau rezistenţa la
izolaţie a izolatoarelor electrice.

Calculul erorilor de fidelitate la măsurări directe

Pentru calculul acestor erori trebuie efectuat un număr mare de

măsurări, iar ca ipoteză de lucru se presupune că erorile sistemetice sunt
neglijabil de mici (au fost eliminate prin corecţii).
Trebuie ales un model probabilistic de repartiţie a erorilor
întâmplătoare. Se utilizează modelul Gauss sau modelul Student.
 Calculul erorilor de fidelitate cu modelul Gauss

a) Parametri statistici de bază

Media aritmetică (µ) şi abaterea standard (σ)

Dacă X1, X2, ... , Xn sunt rezultatele a n măsurări efectuate asupra

aceleiaşi valori a măsurandului (X), în condiţii riguros identice, atunci
media aritmetică este dată de relaţia:

X1  X 2  ...  X n
μ (13)
n

Media aritmetică se bucură de proprietatea că reprezintă valoarea cea

mai apropiată de valoarea adevărată (Xa):

dacă n   , μ  Xa (14)
 Datorită acestei însuşiri, µ poate fi luată ca valoare de referinţă la
calculul erorilor individuale ale celor n măsurări:

δX1  X1  μ
δX 2  X 2  μ
(15)
......................
δX n  X n  μ

Suma pătratelor erorilor individuale se numeşte varianţă (σ2):

σ 2  ( δX1 )2  ( δX 2 )2    ( δX n )2 (16)

Principalul parametru de calcul al erorilor de fidelitate îl constituie

abaterea standard (eroarea medie pătratică):

( δ X1 )2  ( δ X 2 ) 2    ( δ X n ) 2
σ (17)
n
 Abaterea standard (σ) informează asupra gradului de împrăştiere a
rezultatelor măsurărilor Xi.
Cu cât (σ) este mai mică cu atât împrăştierea este mai redusă.

Varianţa se bucură de proprietatea de aditivitate.

Erorile individuale δX i se bucură de proprietăţile:

n
 X i  0
i 1
(18)
n
 i  min
( X )2

i 1

Prima relaţie se obţine direct din relaţia (15) şi serveşte la verificarea

calculelor numerice efectuate pentru δX i (dacă suma se anulează atunci
calculele sunt bune).
 A doua relaţie se demonstrează derivând varianţa (σ2) în raport cu µ şi
anulând-o, calcule în urma cărora se regăseşte relaţia (13).
În acest fel rezultă că, dacă µ este media unui şir de măsurări (n),
atunci varianţa este minimă.

Funcţia de repartiţie

Considerând eroarea unei măsurări individuale ( δX i ) ca variabilă

aleatoare continuă ( δX ), probabilitatea (P) ca această eroare să nu
depăşească limitele impuse δ1  δX  δ 2 se defineşte cu o relaţie de
forma:
δ2
P ( δ1  δX  δ 2 )   p( δX )d ( δX ) (19)
δ1

Relaţia (19) poartă numele de funcţie de repartiţie sau simplu

repartiţie.
În relaţia (19) p( δX ) este o funcţie nenegativă ce satisfice condiţia de
normare (20).
 

 p( δX )d ( δX )  1 (20)


Funcţia p( δX ) se numeşte densitate de repartiţie sau densitate de

probabilitate.

La repartiţia Gauss, numită şi repartiţie normală, densitatea de

probabilitate (sau frecvenţa de apariţie) a erorilor întâmplătoare este
descrisă de relaţia:

( δX )2
1 
p( δX )  e 2σ 2 (21)
σ 2π

al cărei grafic are formă de clopot.

„Înălţimea” acestui clopot este

1
p( δX )max  (22)
σ 2π
 Relaţia (22) arată că cu cât clopotul este mai ascuţit cu atît
împrăştierea rezultatelor este mai mică, adică fidelitatea măsurării este
mai bună.
Se observă că în relaţia (21) sunt prezente două variabile ( δX ) şi (σ)
care sunt dependente una de cealaltă.
Din această cauză relaţia (21) este incomod de utilizat în aplicaţii.
Pentru calculele practice se recurge la normarea relaţiei (21).

Repartiţia Gauss normată

Introducem relaţia (21) în (19). Probabilitatea ca eroarea individuală

δX să nu depăşească limitele impuse  δ devine:
δ2 δX 2
1  2
P ( δ1  δX  δ2 )   e 2 σ d ( δX ) (23)
δ
σ 2π
1

Se face schimbarea de variabilă

δX  zσ (24)
 Se obţine relaţia:
q z2
1 
P ( q  z  q )   2π
e 2 dz  2Φ(z) (25)
q

În relaţia de mai sus

q z2
1 
Φ(z) =  2 2π e 2 dz (26)
q

este funcţia integrală a lui Laplace.

Variabila

δX X  μ
z  (27)
σ σ

poartă numele de variabilă normată sau variabilă Gauss.

Variabila normată (z):
- simplifică relaţiile de calcul;

- are avantajul că permite trecerea de la eroarea absolută X

(care se exprimă în unităţi de măsură: mV, Ω, pF, diviziuni de
scară, etc.) la un număr fără diviziuni (σ se exprimă în aceleaşi
unităţi ca şi δX ), ceea ce uşurează tabelarea funcţiei Φ(z).

În tabelul următor se dau câteva valori uzuale pentru funcţia integrală

a lui Laplace Φ(z):

În figura 3 este prezentat graficul funcţiilor p(z) şi Φ(z).

Fig. 3. Graficul funcţiilor p(z) şi Φ(z)
 Se observă că pentru z  3 , Φ(z)  constant.

Dacă se derivează relaţia (26) se obţine o expresie mai simplă pentru

densitatea de probabilitate:

z2
1 
p( z )  e 2 (28)
2π

Graficul densităţii de probabilitate este dat în figura 4.

Fig.4 Densitatea de probabilitate
 Din grafic rezultă trei proprietăţi:
- de simetrie - erorile pozitive sunt la fel de frecvente ca şi erorile
negative;
- de concentrare – erorile mici sunt mai frecvente decât erorile
mari;
- de limitare – practic z  3 .
Ultima proprietate, scrisă în forma δX  3 σ , poartă numele de
regula lui trei sigma.
Ea este utilizată la eliminarea citirilor greşite din şirul respectiv de
măsurări.
Nivelul de încredere; risc
Probabilitatea ca variabila (z) să nu depăşească limitele impuse
z  q , (fig. 3), înmulţită cu 100 şi exprimată în procente se numeşte nivel
de încredere (sau siguranţă statistică):
N(%)  P ( q  z  q ) 100  2 Φ(z) 100 (29)
iar R(%)  100  N (%) (30)
se numeşte risc.
 Din tabelul cu valori pentru funcţia Φ(z) rezultă că la creşterea
nivelului de încredere (N), creşte şi eroarea δX ce trebuie admisă.

Dependenţa lui δX de N rezultă din fig. 4, ăn care s-au trecut şi

valorile lui δX pentru cele trei valori uzuale ale nivelului de încredere (N).

Se observă că la N = 99,73% probabilitatea ca eroarea individuală δX

să depăşească  3 σ (fragmentele de arie haşurată) este, practic nulă.

Alegerea nivelului de încredere

În practică valoarea lui (N) se alege în funcţie de importanţa măsurării

respective, cum ar fi, de exemplu, gravitatea consecinţelor unui rezultat
greşit.

La măsurările de precizie se adoptă, de regulă, N = 95,5%.

La măsurările de mare răspundere (tehnica nucleară, telecomenzi

spaţiale, verificarea etaloanelor de înaltă precizie) se adoptă N = 99,73%.
 Calculul erorilor de fidelitate cu modelul Gauss

În practică interesează, fie

- numai eroarea maximă a unei măsurări individuale dintr-un şir de
măsurări;
- numai eroarea asupra mediei aritmetice a şirului respectiv de măsurări.
Sunt situaţii cînd se calculează ambele tipuri de erori.

Eroarea maximă ( δX max ) a unei măsurări individuale

Din fig. 4 şi din cele discutate mai înainte, rezultă că mărimea erorii
maxime a unei măsurări individuale depinde de nivelul de încredere
adoptat.

Eroarea maximă a unei măsurări individuale poate fi calculată cu

δX
relaţia (27) ( z  ) scrisă sub forma
σ

δX max  qσ ; q=f(N) (31)

Relaţia (31) arată că rezultatul unei măsurări individuale luată la
întâmplare din şirul celor (n) măsurări efectuate, poate fi exprimat prin
relaţia:

X  μ  qσ ; q=f(N) (32)

Eroarea δX max interesează:

- la măsurări de lot (pe obiecte de acelaşi tip);

- la măsurări nerepetate cu aparate de măsură de înaltă precizie;
- la verificarea metrologică a unor aparate de măsură de înaltă
precizie.
Exemple de calcul:

1. La verificarea unui lot de 30 de rezistoare peliculare destinate unor

echipamente electronice obişnuite s-au obţinut următoarele date:
µ = R = 470 Ω; σ = 1 Ω.
Să se determine eroarea de bază (toleranţa) la acest lot de rezistoare.
Se neglijează erorile proprii ale aparatului de măsură şi eroarea
asupra mediei aritmetice µ.
Se adoptă nivelul de încredere N = 95,5% (pentru echipamente
obişnuite). Rezultă q = 2 (fig. 4).
Se calculează: δRmax  qσ  2 1  2  . Valoarea reprezintă 0,43%
din 470 Ω.
Grupul de rezistoare examinat se încadrează în toleranţa (eroarea
tolerată la componente nemetrologice) de 0,5%.
Rezultatul măsurării, ce serveşte la marcarea rezistenţelor respective,
se scrie: R = 470 Ω  0,5%.
Utilizatorul este informat că luând la întâmplare un rezistor din lotul
respectiv abaterea acestuia nu va depăşi 0,5% din valoarea nominală
(470 Ω) înscrisă.
2. La etalonarea unui rezistor etalon s-au efectuat 25 măsurări, în
condiţii identice, utilizând un ohmetru numeric de clasă c = 0,01.

S-au obţinut rezultatele:

µ = R = 1000 Ω;
σ = 0,15 Ω.

Ştiind că acest rezistor va fi utilizat la măsurări singulare, să se

determine eroarea de bază şi indicele de clasă.

Se neglijează eroarea proprie a ohmetrului.

Se alege nivelul de încredere N = 99,73% (pentru etaloane),

rezultând q = 3 (fig. 4).

Se calculează: δRmax  qσ  3  0 ,15   0 ,45  . (0,045%).

Rezultă că etalonul testat se încadrează în clasa de precizie c=0,05.

 Calculul erorii asupra mediei

În majoritatea cazurilor, numărul de măsurări repetate (n) este limitat,

deci media aritmetică (µ) a celor (n) măsurări diferă de media ideală ( X )
care ar fi obţinută pentru n   şi care ar reprezenta valoarea adevărată
a mărimii căutate (Xa).
Datorită acestei situaţii, media aritmetică (µ) calculată pentru cele (n)
măsurări este afectată de eroarea asupra mediei obţinută cu relaţia:
q
   ; q=f(N) (33)
n
Rezultatul măsurării trebuie scris sub forma:
q
X        ; q=f(N) (34)
n
care arată că valoarea adevărată a parametrului măsurat (X) este
cuprinsă între limitele
   (35)
numite limite de încredere.
 Calculul lui  prezintă interes la
- Determinarea constantelor de material (rezistivitate, densitate, etc.);
- Etalonarea (gradarea) şi verificarea aparatelor de măsurat de înaltă
precizie.

Exemplu de calcul din prima categorie:

La măsurarea rezistenţei unei bobine de manganină destinată unui

echipament electronic de aviaţie s-au efectuat 16 măsurări în condiţii
iddentice, obţinându-se valorile:
µ = R = 150 Ω; σ = 0,2 Ω.

Să se determine eroarea de măsurare şi să se scrie rezultatul.

Se adoptă N = 99,73% (echipament de răspundere), rezultând q=3.

q
Se calculează     0 ,15  .
n
Rezultatul măsurării (neglijând eroarea proprie a mijlocului de
măsurare) este: R = 150 Ω  0,15 Ω sau R = 150 Ω  0,1%.
 Observaţie:

Dacă bobina respectivă ar fi utilizată ca rezistor etalon la măsurări

nerepetate (singulare) atunci la eroarea asupra mediei  trebuie
adăugată şi eroarea maximă δX max .(prin sumare pătratică).

Exemplu de calcul din a doua categorie:

La verificarea unui etalon Zener s-au efectuat n=25 măsurări, cu un

voltmetru numeric de clasă c = 0.01.

S-au obţinut rezultatele: µ = E = 8 V; σ = 2,5 mV.

În ce clasă de precizie se încadreză acest etalon?

Se neglijează eroarea proprie a voltmetrului numeric.

Se adoptă N ‚ 99,73% (pentru etaloane), rezultând q=3.
q
Se calculează     1,5 mV .
n
 Deoarece etalonul Zener va fi utilizat la măsurări singulare trebuie
calculată eroarea maximă δX max .

Din relaţia (31) se obţine X max   q  3  2 ,5 mV  7 ,5 mV

Se calculează eroarea de bază (relaţia (28), cursul 7)

 max 7 ,5 mV
 b   100(%)   100(%)  0,09375%
Xn 8000 mV

Din relaţia  b %  c , rezultă că etalonul verificat se încadrează în

clasa de precizie c = 0,1.

Observaţie:

La etaloane, în certificatul de calitate, alături de valoarea nominală şi

eroarea de bază, uneori se dă şi σ parametru ce oferă un plus de
informaţie utilizatorului.