Ministerul Educaţiei Culturii și Cercetări al Republicii Moldova

Universitatea Tehnică a Moldovei

Facultatea: Calculatoare, Informatică şi Microelectronică.

Catedra: Microelectronică și Inginerie Biomedicală

 
 

 Raport
CID
Lucrare de laborator Nr.3
Tema: Măsurarea parametrilor static ai circuitelor digitale P.2.
 
La disciplina: Circuite Integrate Digital (CID)

 
A efectuat: st. Gr. MN-181, Chiriac Maxim 
A verificat: prof. univ, Verjbițchi Valeriu

2020
Scopul Lucrării:
Studierea metodelor de măsurare a timpului de reținere în circuitele logice și construirea
caracteristicilor de transfer în regim dinamic.

Fig. 1.1 Definirea parametrilor de timp ai unui circuit logic.

t1=tTLH; t2=tTHL; t3=tPLH; t4=tPHL;

Descrierea lucrării

Viteza de lucru a circuitelor logice constituie un indiciu calitativ major, de aceea este
necesară standartizarea paramatrilor.

Funcționarea este următoarea:

Primul tranzistor T2 multe-emitor este cel care îndeplinește proctic logic. Dacă macar
unul din emitorii săi este legat potențialul masei, joncțiunea bază-emitor respective se deschide și
potențialul bazei tranzistorului multiplicator va devein mai mic decât este necesar pentru
deschiderea joncțiunilor bază-colector T1 și bază-emitor T1 și T2. La ieșirea operatorului va fi
un potential egal cu diferența dintre tensiunea de alimentare și suma căderilor de tensiune pe
joncțiunile bază-emitor T4 și T3, deci aproximativ 3,6 V. aplicarea la intrări a nivelului unității
logice duce la blocarea joncțiunilor bază-emitor a lui T1, potențialul bazei lui crește, ceea ce
duce la deschiderea joncțiunilor bază-colector T1 și bază-emitor T2 și T3. În acest caz T1 devine
conectat invers, iar T2 și T3 – saturații.
Masurarea timpului de retinere a semnalului
Scema care poate fi utilizata pentru masurarea timpului se propagare a semnalului prin
operator este reprezentata in fig. de mai sus.Insa rezultatul masurarii conform schemei ddate
poate fi inprecise datorita influentei timpului de retinere a oscilografului si a proceselor
ondulatorii care au loc in cablul da conexiune.Rezultate mai precise se vor obtine in cazul
masurarilor timpului de retinere intr-un lant de operatori identici.

SCHEMA DE MASURARE A TIMPULUI DE RETINERE A SENMALULUI CU AJUTORUL UNUI GENERTOR IN FORMA DE INEL
Sunt cuplate impreuna cu fig de mai sus.In acest caz schema functioneaza ca un generator
de semnal cu perioada T.Legetura dintre timpul mediu de retinere intr-un operator T p,num.de
elemnte in lant N si T generatorului este data de relatia

T
Tp=
2N

Determinarea caracteristicilor de transfer

Schema instalatiei in laborator
Definirea parametrilor de timp
Masurarea caracteristicii de transfer in regim dinamic
Concluzii:
În această lucrare de laborator am studiat metodelor de măsurare a timpului de reținere în
circuitele logice și construirea caracteristicilor de transfer în regim dinamic. Utilizând sursa de
alimentare, blocurile logice și osciloscopul am reușit să vizualizăm timpul de reținere care este
de 183 ns în ultima testare cu o frecvență de 5.4 MHz.