STUDIUL INTERFERENŢEI LUMINII REFLECTATE

DE LA O LAMĂ CU FEŢE PLAN-PARALELE

1) Scopul lucrării: studiul fenomenului de interferenţă la reflexia luminii de la o lamă cu

feţe plan-paralele şi determinarea indicelui de refracţie al sticlei prin metoda interferenţei.

2) Aparate şi accesorii:
laser, lamă de sticlă cu
feţe plan-paralele, lentilă,
ecran.

3) Schema instalaţiei:
Schema de principiu a
montajului experimental
este arătată în Fig. 1: Lg –
laser, E – ecran, L–
lentilă divergentă, P –
lamă de sticlă.
Fig. 1

4) Descrierea experimentului:
1. Se obţine pe ecranul E imaginea de interferenţă.
2. Se măsoară razele primelor 5-7 inele întunecoase, începând cu inelul de rază minimă (k =1).
3. Se trasează graficul lui în funcţie de k.
4. Se măsoară distanţa l de la lama P până la ecranul E.
5. Se determină tangenta unghiului de înclinare (coeficientul unghiular) a dreptei =f(k) faţă
de axa absciselor.

6. Folosind formula , se calculează indicele de refracţie al plăcii de sticlă.

Lungimea de undă a radiaţiei laser este .

5) Formula de calcul:
Fasciculul de lumină emis de laser, trecând prin lentila divergentă L se transformă într-un
fascicul divergent, incident pe suprafaţa lamei de sticlă P. Undele de lumină reflectate de
suprafeţele anterioară şi posterioară ale lamei interferează şi dau pe ecran o imagine de
interferenţă care reprezintă o serie de inele concentrice luminoase şi întunecate. În cazul dat
interferează raza refractată 1 incidentă pe lamă sub un unghi  şi raza 2 incidentă sub unghiul
, reflectată de suprafaţa anterioară a lamei. Aceste raze interferează datorită gradului
înalt de coerenţă al radiaţiei laser.
Imaginea de interferenţă se observă nu în focarul lentilei ci pe un ecran mai îndepărtat E
(deoarece razele 1 şi 2 se intersectează).
Să analizam cazul unii fascicul de lumină puţin divergent (unghiul de incidenţă  mic).
Pentru lumina reflectată condiţia de minim de interferenţă este dată de formula:
, (1)
unde este unghiul de refracţie, - lungimea de undă a luminii, b-grosimea plăcii, n–indicele
de refracţie, m–ordinul minimului.
 Considerând că unghiul de refracţie este mic obţinem:

. (2)

Cu ajutorul formulei (1) se poate calcula ordinul maxim al minimelor de interferenţă:

. (3)
Ţinând cont de expresiile (2) şi (3) putem scrie:

. (4)

Din legea refracţiei , pentru unghiuri mici avem: .

În acest caz din formula (4) obţinem:
. (5)

Din schema montajului experimental se vede că: , de unde .

Introducând expresia pentru în formula (5), ţinând seama de formula (3) şi notând
, obţinem:

, (6)

unde k este numărul de ordine al inelului întunecat, începând cu inelul de rază minimă.
Din formula (6) se observă că este o funcţie liniară de k. Prin urmare, graficul acestei
funcţii reprezintă o dreaptă, având tangenta unghiului de înclinare faţă de axa absciselor, adică
coeficientul unghiular egal cu:

unde este variaţia abscisei, - variaţia corespunzătoare a ordonatei.

Ţinând seama de formula (6), avem:
.

Determinând din graficul experimental valoarea tg, se poate calcula indicele de refracţie:

. (7)

6) Tabela măsurărilor:

Nr. L, m b, mm r1, mm r2, mm r3, mm r4, mm r5, mm

1. 0.38 7 9.2 12.0 15.0 17.3 19.1
2. 0.38 7 9.8 12.5 15.0 17.7 19.9
med. 0.38 7 9.5 12.25 15.0 17.5 19.5
 7) Exemplu de calcul:
Calculăm razele medii:

Calculăm pătratele razelor:

Arătăm dependenţa grafică de k:

380.25

306.25

225.00

150.00

90.25 φ

0 k
1 2 3 4 5

Calculăm tangentele:
Din , avem
 Calculăm indicele de refracţie:

8) Calculul erorilor:

Logaritmăm formula de calcul:

Aflăm erorile relative a mărimilor:

(8)

atunci

9) Rezultatul final:

10) Concluzii:
Prin metoda experimentală am găsit valoarea indicelui de refracţie a lamei de sticlă
cu feţe plan-paralele prin metoda interferenţei, egală cu 1.4554±0.0378. Eroarea relativă este
de 2.6%. Deoarece componentele erorii relative (vezi (8) ) au acelaşi ordin de mărime (10 -3)
putem conclude eroarea este admisibilă pentru condiţiile date ale experimentului.
Pentru a îmbunătăţi precizia rezultatului ar trebui de utilizat valori mai precise a
lungimii de undă a radiaţiei laser şi dispozitive cu o precizie mai mare la măsurare (în cazul
dat – micrometre pentru mărimile b, l, r ).