Madin Bianca-Maria GRUPA 1522E

Gavan Constantin Subgrupa A

Ichim Alexandra
Ionita Alexandru
Materiale dielectrice solide

1. Scopul lucrarii
Scopul lucrarii este determinarea permitivitatii relative complexe si analiza dependentei de frecventa a
acesteia pentru materiale dielectrice cu polarizare temporara.

2. Notiuni teoretice
Dielectricii sunt materiale izolatoare care se caracterizează prin stări de polarizaţie cu funcţii de utilizare.
Starea de polarizatie electrica inseamna starea materiei caracterizata prin moment electric al unitatii de
volum diferit de zero. Aceasta poate fi temporara (daca depinde de intensitatea locala a campului electric
in care este situate materialul si dispare odata ce campul electric este inlaturat) sau permanenta (caz in
care polarizatia ramane ,,inghetata” in material atunci cand campul electric extern este inlaturat).

Indiferent de mecanismul de polarizare, interactiunea dintre un dielectric izotrop si campul electric este
caracterizata, in domeniul liniar, de permitivitatea relativa complexa, definite astfel:

𝑫
𝜺𝒓 = = 𝜺′𝒓 − 𝒋𝜺′′𝒓
𝜺𝟎 𝑬
unde 𝐸 𝑠𝑖 𝐷 sunt intensitatea campului electric si inductia electrica, iar 𝜀0 este permitivitatea vidului,
1
avand valoarea 𝜀0 = 36𝜋 ∙ 10−9 𝐹/𝑚.

Permitivitatea relativă complexă poate fi exprimată şi sub forma:

𝜺′′𝒓
𝜺𝒓 = 𝜺′𝒓 (𝟏 − 𝒋 ) = 𝜺′𝒓 (𝟏 − 𝒕𝒈𝜹𝜺 )
𝜺′𝒓
Unde 𝜀𝑟′ este partea reala a permitivitatii relative, 𝜀𝑟′′ este partea imaginara, iar 𝑡𝑔𝛿𝜀 este tangenta
unghiului de pierderi.

3. Montaj experimental
Montajul experimental este format dintr-un analizor RF de impedanta/material, capul de test E4991A,
dispoziv de fixare a materialelor dielectrice 16453A, condensator echivalent, suport de fixare, penseta
pentru manipularea probelor de material, proba etalon de material dielectric, probele de material
dielectric solid de masurat, tastatura si mouse-ul, display care este conectat la panoul din spatele
analizorului.
Madin Bianca-Maria GRUPA 1522E
Gavan Constantin Subgrupa A
Ichim Alexandra
Ionita Alexandru

4. Modul de lucru
In primul rand, am activat simultan analizorul si sistemul de operare, am selectat modul de masurare si
am setat conditiile de masurare (parametrii de masura, formatul desfasurarii, punctele de masura ale
parametrilor de baleiaj), am setat sursa si nivelul oscilatorului, precum si gama de frecventa.

Ulterior, am conectat dispozitivul de fixare 16453A si am introdus grosimea probei etalon de material, apoi
am calibrat analizorul.

Apoi, am introdus, pe rand, grosimea probei de material pentru teflon, sticlotextolit, pertinax, plexiglas,
alumina si am masurat, pentru fiecare, partea reala 𝜀𝑟′ , partea imaginara 𝜀𝑟′′ si tangenta unghiului de
pierderi 𝑡𝑔𝛿𝜀 .

In final, am masurat partile reale ale permitivitatii pentru pertinax (grosime g = 0,95 mm), sticlotextolit
(grosime g = 1 mm) si sandwich pertinax + sticlotextolit (grosime totala g = 1,95 mm, sticlotextolitul a fost
plasat peste pertinax), pentru frecventele 100, 500, 800 MHz.

5. Prelucrarea rezultatelor experimentale

In urma efectuarii masuratorilor, am completat in tabelul 1-2, atat valorile corespunzatoare partii reale si
imaginare a permitivitatii, cat si valoarea tangentei unghiului de pierderi a materialelor analizate (teflon,
sticlotextolit, pertinax, plexiglas, alumina), pentru frecventele 100, 200, 300, 400, 500, 600,700, 800, 900
si 1000 MHz. Datorita pierderilor, unele masuratori nu au fost posibile si am notat “-“ in tabel.
1 ԑ′
Astfel, am putut sa determinam factorul de calitate (Q) folosindu-ne de formula: Qε= = 𝑟
𝑡𝑔 ԑ′′
ԑ 𝑟

In ceea ce priveste graficele obtinute 𝜀𝑟′ = 𝑓(𝑓), 𝜀𝑟′′ = 𝑓(𝑓) si tg = f(f), putem spune ca toate variaza invers
proportional cu cresterea frecventei, iar factorul de calitate creste.

Cu alte cuvinte, la frecvente mai mari tangenta unghiului de pierderi,partea reala si cea imaginara a
permitivitatii relative complexe scad, iar factorul de calitate creste, ceea ce indica faptul ca valorile
obtinute sunt mai apropiate de valorile reale.

In tabelul 1-3 au fost trecute valorile corespunzatoare partii reale a permitivitatii relative complexe la
diferite frecvente (100, 500 si 800 MHz) a pertinaxului de grosime g=0.95 mm , a sticlotextolitului de
grosime g=1mm, si a sandwichului din sticlotextolit si pertinax (sticlotextolitul a fost pozitionat peste
perinax si s-au efectuat masuratorile).

Valoarea ԑ′𝑟𝑒 corespunzatoare sandwichului format din sticlotextolit si pertinax a fost determinata mai
𝑔1 +𝑔2
intai prin masurare, apoi a fost calculata cu ajutorul formulei: ԑ′𝑟𝑒 = 𝑔1 𝑔
+ 2
ԑ′𝑟1 ԑ′𝑟2

Rezultatele obtinute au fost relativ asemanatoare, eroarea absoluta fiind apropiata de 0. O posibila
explicatie a acestei erori ar putea fi atat o eroare de masurare aparuta din cauza undelor
Madin Bianca-Maria GRUPA 1522E
Gavan Constantin Subgrupa A
Ichim Alexandra
Ionita Alexandru
electromnagnetice propagate in spatiu de catre antenele din apropierea laboratorului cat si o eroare
umana.

6. Concluzii si observatii
Masurarea permitivitatii relative complexe este dependenta de frecventa , astfel incat o frecventa mai
mare este indicata pentru a obtine un rezultat cat mai apropiat de realitate.

Aceasta masurare se poate face si la frecvente mici, dar, in acest caz, tangenta unghiului de pierderi este
mai mare si partea reala si cea imaginara a permitivitatii sunt mai mari, in final trebuind sa fie efectuate
mai multe calcule pentru a putea ajunge la rezultatul obtinut la frecvente mai mari, frecvente la care
tangenta unghiului de pierderi tinde la zero (rezultand astfel ca pierderile sunt minimale).

Observatii:

1. Cu cat permitivitatea scade cu atat factorul de calitate creste.

2. Din cauza undelor electromagnetice ale antenelor din imprejurimile laboratorului nu s-au putut
efectua masurarea permitivitatii la anumite frecvente in cazul anumitor materiale analizate
(teflon,alumina si plexiglas).
3. Cu cat frecventa este mai mare, cu atat permitivitatea scade.