LUCRAREA NR.

1
__________________________________________________________________________________________1

MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE

1.1 Scopul lucrării

Lucrarea permite determinarea permitivităţii relative complexe şi analiza comportării
acesteia în frecvenţă (100Mhz - 1Ghz), pentru materiale dielectrice cu polarizare temporară,
folosite frecvent în industria electronică, fie ca material dielectric pentru condensatoare, fie ca
suport de cablaj imprimat.

1.2 Noţiuni teoretice

Dielectricii sunt materiale izolatoare, care se caracterizează prin stări de polarizaţie
cu funcţii de utilizare; prin stare de polarizaţie electrică se înţelege starea materiei
caracterizată prin momentul electric al unităţii de volum diferit de zero. Starea de polarizaţie
poate fi temporară, dacă depinde de intensitatea locală a câmpului electric în care este situat
dielectricul şi poate fi de deplasare (electronică sau ionică) sau de orientare dipolară.
Indiferent de mecanismul de polarizare, în domeniul liniar, interacţiunea unui dielectric
izotrop cu câmpul electric este caracterizată de permitivitatea relativă complexă (rel. 1.1 ):
D
er = = e�
- je r�
� (1.1)
e0 E r
unde: D este inducţia electrică,
E este intensitatea câmpului electric, iar
1
e0 =  10 -9 F / m , permitivitatea vidului.
36
Dacă un material dielectric cu permitivitatea complexă relativă er, se introduce între
armăturile unui condensator care are în vid capacitatea Co, în aproximaţia că liniile de câmp se
închid în întregime prin material (efectele de margine sunt neglijabile), admitanţa la bornele
condensatorului astfel format are expresia:
Y = jwe r C0 = jw ( e r� ) C0 = we r�
- je r�
� C0 + jwe r�
� C0 (1.2)

Schema echivalentă a condensatorului cu material dielectric şi diagrama fazorială

sunt date în Fig. 1-1.
Din schema echivalentă se observă că partea reală a permitivităţii complexe relative
caracterizează dielectricul din punct de vedere al proprietăţilor sale de a se polariza (indiferent
 LUCRAREA NR. 1
2__________________________________________________________________________________________
de mecanismul de polarizare) şi are ca efect creşterea de e'r ori a capacităţii condensatorului la
aceleaşi dimensiuni geometrice, capacitatea condensatorului obţinut fiind :
Ce = e ' r Co (1.3)

Fig. 1-1. Schema echivalentă şi diagrama fazorială pentru un condensator cu dielectric între armături.

Partea imaginară a permitivităţii complexe relative e''r, caracterizează dielectricul din

punct de vedere al pierderilor de energie în material, pierderi modelate prin rezistenţa
1
Re = (1.4)
we r�
�
C0

În diagrama fazorială din Fig. 1-1, unghiul  este unghiul dintre tensiunea U aplicată
condensatorului şi curentul I care îl străbate. Complementarul unghiului de fazaj  se numeşte
unghi de pierderi şi se notează cu .
Se defineşte tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric, ca fiind raportul:
Pa U�
IR I 1 we ��
C e� �
tg e = = = R = = r 0= r (1.5)
Pr U�
IC I C wCe Re we r�
C0 e r�

unde: Pa = puterea activă la bornele condensatorului,

Pr = puterea reactivă la bornele condensatorului.
Inversul tangentei unghiului de pierderi se numeşte factor de calitate al materialului
dielectric şi se notează cu
1 e�
Qe = = wCR = r (1.6)
tg e e r�
�

Permitivitatea complexă relativă poate fi pusă şi sub forma:

� e "r � '
1 - j ' �= e r ( 1 - j �
e r = e r' � tg e ) (1.7)
� er �
În acest caz, partea imaginară ne dă o informaţie completă asupra pierderilor totale
(pierderi prin polarizare, pierderi prin conducţie electrică, pierderi prin ionizare) în dielectric.
LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________3
Din punct de vedere al utilizatorului de componente, pentru materialul dielectric aceşti doi
parametri e'r şi tge sunt esenţiali.
Datorită structurii fizice şi fenomenelor complexe ce se petrec în dielectric, când
asupra acestuia se aplică un câmp electric, permitivitatea dielectrică reală e'r şi tangenta
unghiului de pierderi tge sunt dependente puternic de frecvenţă şi temperatură.
În Tabelul 1-1 sunt date caracteristicile tipice ale câtorva materiale studiate în lucrare
(măsurate la  = 20 ºC si f = 50 Hz), iar în Fig. 1-2 şi 1-3 este prezentată dependenţa de
frecvenţă a permitivităţii, e'r , si a tangentei unghiului de pierderi, tge, la temperatura
constantă de º= 20 ºC, pentru 2 materiale dielectrice uzuale: polietilentereftalat (mylar) şi
policarbonat.
Tabelul 1-1
Material Tip de polarizare e 'r tg e
Polietilentereftalat (mylar) polarizare de orientare 3 (45)·10-3
Polimetacrilat de metil " 3,5 0,020,08
(plexiglas)
Policarbonat (pertinax) " 3 (812)·10-4
Hârtie de conden-sator " 6,6 (67)·10-3
Politetrafluretilenă polarizare de deplasare 1,92,2 (14)·10-4
(teflon) electronică

Fig. 1-2. Dependenţa de frecvenţă a lui er' Fig. 1-3. Dependenţa de frecvenţă a lui er'
şi tge pentru polietilentereftalat şi tge pentru policarbonat la
la temperatura de 200C. Temperatura de200C.

1.3 Aparatura utilizată

Aparatul de măsură şi control cu ajutorul căruia se execută măsurarea permitivităţii
complexe relative a materialelor dielectrice este analizorul RF de impedanţă/material, model
E 4991A. Acesta este folosit pentru măsurarea impedanţei, a permitivităţii complexe relative a
materialelor dielectrice şi a permeabilităţii magnetice relative a materialelor magnetice.
Lucrarea se ocupă de măsurarea permitivităţii complexe relative a materialelor dielectrice
solide într-o gamă largă de frecvenţe.
 LUCRAREA NR. 1
4__________________________________________________________________________________________
În scopul măsurării permitivităţii complexe relative a materialelor dielectrice,
împreună cu analizorul de impedanţă se folosesc următoarele accesorii: capul de test E4991A,
dispozitivul de fixare a materialelor dielectrice 16453A, suportul de fixare, tastatura, penseta,
mouse-ul, proba standard de material dielectric şi probele de material dielectric solid de
măsurat, Fig. 1- 4. Opţional, se foloseşte un display, care se conectează la panoul din spate al
analizorului.

Fig. 1-4. Analizorul E4991A şi accesoriile folosite la măsurarea permitivităţii.

a) b)
Fig. 1-5. a) dispozitivul de fixare a materialului dielectric 16453A; b) condensatorul echivalent.

Analizorul E 4991A măsoară, calculează şi vizualizează valoarea permitivităţii

complexe relative a materialului dielectric solid si a tangentei unghiului de pierderi din
valoarea capacităţi condensatorului echivalent. Condensatorul echivalent, Ce este realizat fizic
din: electrozii superior si inferior ai dispozitivului pentru test, 16453A şi materialul testat
(MUT - Material Under Test) MUT se poziţionează între electrozii dispozitivului de fixare
pentru test, 16453A, aşa cum este prezentat în Fig. 1-5.
Partea reală a permitivităţii complexe relative se determină cu relaţia:
Ce gCe
e'r = = (1.8)
C0 e 0 S
unde: S = Si - suprafaţa electrodului inferior, cu diametrul de 7mm,
LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________5
g - grosimea materialului dielectric;
Partea imaginară a permitivităţii complexe relative este dată de relaţia:
1 g
e '' r = = (1.9)
w ReC0 we 0 SRe
iar, tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric rezultă din raportul celor două
mărimi
e r�
�
tg e = (1.10)
e r�

1.4 Desfăşurarea lucrării

Modul de executare în detaliu a fiecărui pas din schema logică de măsură este descris
în ANEXA 1 din acest capitol.

1.5 Mod de lucru şi prelucrarea rezultatelor

Se măsoară permitivitatea complexă, partea reală şi imaginară ale acesteia şi tangenta
unghiului de pierderi, pentru următoarele materiale: politetrafluoretilena (teflon),
polimetacrilat de metil (plexiglas), stratificat pe bază de hârtie (pertinax), stratificat pe bază de
sticlă (sticlotextolit) şi a oxidului de aluminiu (alumina) în gama de frecvenţe de la 100 MHz
la 1GHz.
Materialele se fixează, pe rând, în dispozitivul de fixare a probei de test 16453A (Fig.
1-5) şi se parcurge algoritmul din ANEXA 1. Calibrarea analizorului se execută o singură

dată. Valorile măsurate ( e r , e r ,tgδ) la diferite valori ale frecvenţei de lucru, se trec în
Tabelul 1-2. Ultima linie din tabel se completează cu valorile factorului de calitate, care se
calculează cu relaţia (1.6).
Se va reprezenta, în trei grafice separate, evoluţia e r , e r si tgδ pentru cele cinci
materiale măsurate, teflon, sticlotextolit, pertinax şi plexiglas şi se va comenta modul în care
se modifică parametrii menţionaţi în gama de frecvenţă.
Tabelul 1-2.
F [MHz] 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
er
g= 3mmTeflon

e r
tgδ
Qε
er
 LUCRAREA NR. 1
6__________________________________________________________________________________________
F [MHz] 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
e r
g=1mmAlumina g= 2,1mmPlexiglas g= 0,95mmPertinax g= 1mmSticlotextolit
tgδ
Qε

e r
e r
tgδ
Qε

er
e r
tgδ
Qε

e r
e r
tgδ
Qε

Se măsoară er1 , er 2 ale probelor din plexiglas şi sticlotextolit la frecvenţele date în
Tabelul 1-3 şi rezultatele se trec în tabel. Se realizează din cele două probe un sandwich care

se introduce între electrozii dispozitivului de fixare şi se măsoară valorile e r e care se înscriu

în tabel, pentru trei valori ale frecvenţei.
Tabelul 1-3.
f[MHz]
100 500 800
Material er1 , e r 2 , ere
Pertinax er1
(g1 = 0,95mm)
Sticlotextolit
e r 2
(g2 = 1mm)
Sandwich pertinax + steclotextolit ere măsurat
( g1+2 = 1,95mm)

Sandwich pertinax + steclotextolit ere calculat

Sandwich pertinax + steclotextolit ere măs - ere calc =

Se calculează ere cu relaţia următoare:

LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________7
g1 + g 2
e re' =
g1 g 2 (1.11)
+
e r' 1 e r' 2
unde: valorile lui g1 şi g2 se în mm.
Se compară rezultatele obţinute prin măsurători cu cele calculate şi se justifică
eventualele diferenţe.

1.6 Conţinutul referatului

1. scopul lucrării;
2. valorile măsurate şi valorile calculate (Tabelele 1-2 şi 1-3); se foloseşte formula
(1.6) pentru calculul factorului de calitate Qε;
3. reprezentarea grafică e r = f ( w ) , e r = f ( w ) , tg r = f ( w ) pentru materialele
măsurate; fiecare grafic va fi comentat.
4. determinarea ere atât prin măsurare cât şi prin calcul (Tabelul 1-3); se vor
comenta rezultatele;
5. concluzii şi observaţii personale privind fenomenul fizic analizat.

1.7 Întrebări şi probleme

1. Comentaţi comportarea materialelor măsurate în domeniul de frecvenţă utilizat.
2. Să se deducă formula de calcul a tangentei unghiului de pierderi echivalente a
două condensatoare legate în paralel şi în serie când se cunoaşte capacitatea şi tangenta
unghiului de pierderi pentru fiecare condensator.
3. Să se calculeze permitivitatea complexă echivalentă a unui dielectric format din
două straturi de materiale diferite, când se cunoaşte permitivitatea complexă a fiecăruia (vezi
Fig. 1-6).

Fig. 1-6.
4. Dacă ε1 = 2.1, ε2 = 3.5 si g1 = (1/4)∙g2, să se determine ε echivalent pentru
structura din Fig. 1-7.
 LUCRAREA NR. 1
8__________________________________________________________________________________________

Fig 1-7.

5. Determinaţi valoarea părţii reale a permitivităţii complexe relative e'r1 a unei

probe de mică cu grosimea de 0,1mm cu ajutorul unei probe de teflon cu grosime de 0.8mm şi
e'r2 = 2.1 şi e'rechivalent= 2.23.
6. Între armăturile condensatorului plan - paralel cu capacitatea în vid de
C 0 = 100pF, se introduce un dielectric având permitivitatea relativă complexă cu termenii

er =5 si e''r =5· 10 -4 ; să se calculeze admitanţa şi elementele schemei echivalente paralel

pentru condensatorul astfel obţinut, la frecvenţa de 1MHz.
7. Pentru acelaşi condensator cu dielectricul între armături, să se calculeze factorul
de calitate Q şi tangenta unghiului de pierderi tgδ, la frecvenţa de 1MHz .
8. Între armăturile unui condensator plan - paralel cu capacitatea în vid C 0 = 68 pF,

se introduce un dielectric având permitivitatea relativă complexă cu termenii e r =3,5 şi e''r

=4· 10 -4 ;
a) să se calculeze admitanţa şi elementele schemei echivalente paralel pentru
condensatorul astfel obţinut, la frecvenţele de 500 kHz şi 5 MHz; comentaţi rezultatele.
b) să se calculeze factorul de calitate Q şi tangenta unghiului de pierderi tgδ, la
frecvenţele de 500 kHz şi 5 MHz; comentaţi rezultatele.
LUCRAREA NR. 1
__________________________________________________________________________________________9
ANEXA 1
Executarea măsurării permitivităţii complexe relative a materialelor
dielectrice cu „Analizorul RF de impedanţă / materiale , Model 4991A”,
Agilent

Pasul 1. Pregătirea analizorului pentru măsurători

Conectarea şi deconectarea analizorului se execută cu butonul , plasat dreapta -

jos. Simultan cu cuplarea analizorului se activează şi softul acestuia.
Observaţie: Pe durata neutilizării se recomandă ca aparatul să fie deconectat de la
reţea, pentru evitarea şocurilor tensiunii reţelei.
Iniţializarea softului aparatului. Analizorul foloseşte “Windows 2000
Professional”. În fereastra de dialog, pe linia „user name” se tastează „agt_instr” în loc de
„Administrator” şi apoi, fără „password” se apasă butonul „OK”. În etapa aceasta
analizorul este pregătit pentru măsurători de impedanţă şi de material.

Pasul 2. Selectarea modului de măsurare

Pe display apare fereastra de măsurare, aşa cum este prezentată în Fig. 1.
Trace 1 - E4991A Impedance/Material Analyzer –
Trace Meas/Format Scale Display Marker Stimulus Trigger
Utility Save/Recal System

Fig. 1. Imaginea ferestrei de măsurare.

Pentru măsurarea permitivităţii se procedează astfel:

1. În meniul “System” se apasă caseta “Preset” pentru iniţializarea analizorului.
2. În meniul “Utility” se apasă caseta “Utility...”.
 LUCRAREA NR. 1
10_________________________________________________________________________________________
3. Se apasă caseta “Material Option Menu”.
4. Se selectează “Permittivity” în căsuţa “Material Type”.
La sfârşitul pasului 2 analizorul este pregătit pentru efectuarea măsurătorii
permitivităţii materialului.

Pasul 3. Se selectează condiţiile de măsurare

Setarea parametrilor de măsură şi a formatului desfăşurării se execută pentru ε’r,
ε”r, tanδε în felul următor:
1. În meniul “Display” se activează caseta “Display...”.
2. Se selectează “3 Scalar” din căsuţa “Num of Traces”;
3. În meniul “Meas/Format” se activează caseta “Meas/Format...” şi se atribuie
fiecărei desfăşurări un parametru;
4. Astfel, când desfăşurarea “ Trace 1” este activă apare
(* marca) pe display şi selectează εr` în căsuţa “ Meas Parameter”;
5. În căsuţa “Format” se selectează “Lin Y-Axis” sau “Log Y-Axis”;
6. Similar se procedează pentru desfăşurările 2 şi 3 pentru εr" şi respectiv tanδε.

Setarea punctelor de măsură, a parametrilor de baleiaj

Se parcurg următoarele etape:
1. În meniul “Stimulus” se activează butonul “Sweep Setup”;
2. În căsuţa “Number of Points” se introduce numărul de puncte necesare
măsurătorilor, pentru asigurarea preciziei dorite. Exemplu: pentru 201 puncte, se tastează [2]
[0] [1] si [Enter];
3. În căsuţa “Sweep Parameter” se selectează “Frequency”;
4. În căsuţa “Sweep Type” se selectează “Linear” pentru scala lineară de frecvenţe
sau “ Log”, pentru scala logaritmică de frecvenţe;
Setarea sursei şi a nivelului oscilatorului se execută în felul următor:
1. În meniul “Stimulus”se activează “Source”
2. În căsuţa “Osc Unit” se selectează “Voltage”
3. În căsuţa “Osc Level” se introduce nivelul de 100 mV, se tastează [1] [0] [0] [m]
si [Enter].
Setarea gamei de frecvenţă se execută în felul următor:
1. În meniul “Stimulus” se activează “Start/Stop...””.
2. Cu căsuţa “Start” se introduce frecvenţa de start, 1 MHz, pentru aceasta, se
tastează [1] [M] şi [Enter].
LUCRAREA NR. 1
_________________________________________________________________________________________11
3. Cu căsuţa “Stop” se introduce frecvenţa de stop, 1 GHz, se tastează [1][G] şi
[Enter].
La sfârşitul pasului 3 analizorul este pregătit pentru conectarea dispozitivului de
fixare 16453A
Pentru protecţia antistatică a analizorului, operaţiunile de la pasul 4 la pasul 10
se execută cu brăţara ESD conectată la mână.

Pasul 4. Conectarea dispozitivului de fixare 16453A

Această activitate se execută numai de personalul didactic din cadrul laboratorului
Conectarea dispozitivului 16453A se realizează astfel:
1. Se fixează dispozitivul 16453A pe capul de test, cu şuruburile prizonier ale
suportului de fixare;
2. Se cuplează dispozitivul 16453A la mufa N 7-mm rotind piuliţa conectorului în
sensul invers acelor de ceasornic;
3. Piuliţa se strânge cu cheia dinamometrică, în sensul invers acelor de ceasornic
până la obţinerea cuplului de 1,36 Nm, marcat pe cheie şi semnalizat prin rabaterea braţului
cheii.
După pasul 4 analizorul este pregătit pentru calibrare.

Pasul 5. Introducerea grosimii probei standard de material

1. În meniul “Stimulus” se apasă “Cal/Comp...”.
2. Se apasă butonul “Cal Kit Menu”.
3. În căsuţa “Thickness” se introduce valoarea grosimii probei standard de material.
Exemplu: dacă grosimea probei standard de material este de 0.75 mm, se tastează [0] [.] [7]
[5] [m] şi [Enter].
Observaţie: Proba standard de material este realizată din teflon şi are permitivitatea
relativă ε’r = 2,1. De aceea, iniţial analizorul E4991A are setată valoarea ε’r în căsuţa “Real” în
bara de comenzi “Cal Kit” de 2,1000 şi valoarea pierderilor în căsuţa “εr Loss”
ε”r= 0,0000.

Pasul 6. Calibrarea analizorului

Calibrarea se realizează în planul suprafeţelor de contact ale dispozitivului de fixare
pentru test 16453A. Calibrarea este obligatorie şi se execută în scopul înlăturării erorilor
introduse de elementele de circuit din schema echivalentă a capului de măsură, Fig. 2.
 LUCRAREA NR. 1
12_________________________________________________________________________________________

Fig. 2 Schema echivalentă a dispozitivului de fixare 16453A.

Calibrarea se execută astfel:

1. În meniul “Stimulus” se tastează ”Cal/Comp...”.
2. În căsuţa “Fixture Type” se confirmă tipul dispozitivului de fixare pentru test
“16453”.
3. Se apasă butonul “Cal Menu”.
4. În căsuţa “Cal Type” se selectează punctele de măsură cerute de datele de
calibrare.
Observaţie: Pe durata calibrării apare mesajul “Wait-Measuring Cal Standard” la
stânga barei de calibrare.
5. Pentru calibrarea în gol se trage în sus butonul de partea superioară a
dispozitivului 16453A, pentru depărtarea electrozilor. În această poziţie, se apasă butonul
“Meas Open” şi se aşteaptă aproximativ 10 sec până la apariţia bifei √ la stânga “Meas
Open”;
6. Pentru calibrarea în scurtcircuit electrozii dispozitivului de fixare sunt în contact,
(electrodul superior este eliberat). Se apasă butonul “Meas Short” şi se realizează calibrarea
în gol care se finalizează la apariţia bifei √ la stânga “Meas Short”;
7. Cu brăţara ESD conectată la mână şi folosind penseta se introduce proba de
material etalon în dispozitivul de fixare. Se activează butonul “Meas Load” şi se măsoară
proba de material etalon, care se finalizează la apariţia bifei √ în stânga “Meas Load”.
8. Se apasă butonul “Done” şi analizorul calculează datele de calibrare şi le salvează
în memoria internă. După finalizarea pasului 6, analizorul este pregătit pentru introducerea
grosimii MUT.

Pasul 7. Introducerea grosimii probei de măsură (MUT)

LUCRAREA NR. 1
_________________________________________________________________________________________13
Grosimea probei se măsoară cu şublerul şi se introduce în programul de măsurare
astfel:
1. În meniul “Utility” se activează “Utility...” .
2. Se activează butonul “Material Option Menu”.
3. În căsuţa “Thickness” se introduce grosimea probei. De exemplu pentru grosimea
de 1 mm, se tastează [1] [m] şi [Enter].
Pasul 8. Conectarea probei de măsură (MUT)
Se execută prin introducerea probei între electrozii dispozitivului de test. Se verifică
contactul electrozilor, dispozitivul de fixare şi (numai dacă este cazul) se reglează presiunea
electrodului superior cu rozeta „Pressure Adjustment”. Cu parcurgerea paşilor 7 şi 8
analizorul este pregătit pentru măsurarea şi analiza rezultatelor.
Pasul 9. Măsurarea şi analiza rezultatelor
Odată introdusă grosimea probei de măsurat în căsuţa şi cu materialul fixat între
electrozi, după activarea “Autoscale all”, rezultatele măsurătorilor se afişează pe ecran.
Explorarea rezultatelor se realizează cu bara de comenzi “Marker”, pentru determinarea
valorilor specifice de interes. Folosind “Marker Fctn (function)”, bara de comenzi arată
analiza care se efectuează cu ajutorul markerilor activaţi. Pentru afişarea rapidă a rezultatelor,
din “Scale”, se activează autoscalarea cu “autoscale” şi “autoscale all”.
În Fig. 3 se prezintă o imagine a ecranului cu unele rezultate ale măsurătorilor
privind permitivitatea, (ε’r [U], ε’’r [mU] si tge ), în intervalul de frecvenţe 1MHz – 1GHz.

Fig. 3. Display-ul cu rezultatele măsurătorilor.

Pasul 10. Modificarea condiţiilor de baleiere

 LUCRAREA NR. 1
14_________________________________________________________________________________________
Când punctele de măsură la calibrare sunt definite de utilizator, măsurătoarea se
porneşte cu pasul 6. Când calibrarea nu este necesară măsurătoarea se porneşte cu pasul 9.
Dacă se măsoară şi alte probe cu aceeaşi grosime, măsurătoarea se porneşte de la pasul 8.
Dacă probele au grosimi diverse măsurătoarea se porneşte de la pasul 7.

Pasul 11. Deconectarea analizorului

Pentru deconectarea analizorului se procedează în felul următor:
1. Se scoate proba de material, cu ajutorul pensetei dintre armăturile dispozitivului
de fixare 16453A, prin ridicarea electrodului superior.
2. Se pune proba etalon, în cutia sa de plastic, în trusa dispozitivului de fixare
16453A şi probele de material în cutia de depozitare ale acestora.
3. Se pune penseta în locaşul ei din trusa aceluiaşi dispozitiv. Se scoate mănuşa de
protecţie, brăţara de la mână prin slăbirea încheietorii brăţarei.
4. În meniul “System” se apasă caseta “Preset” pentru resetarea analizorului.
5. Se decuplează soft-ul analizorului cu „Ctrl+Alt+Delete” şi „Shut Down”.

6. După închiderea soft-ului se decuplează butonul , plasat dreapta – jos, pe

panoul analizorului.
7. Se decuplează tensiunea de alimentare de la panoul d forţă a laboratorului.
Atenţie! În caz de neutilizare analizorul nu se ţine sub tensiune. Pericol de defectare, ca
urmare a şocurilor din reţeaua electrică.