UNIVERSITATEA POLITEHNICA BUCURESTI

Facultatea de Electronica, Telecomunicatii si Tehnologia Informatiei

Proiect de Diploma


Coordonatori: Absolvent:
Prof. Dr. Ing. Gheorghe Brezeanu Andrei Branescu
Ing. Cristi Boianceanu





BUCURESTI 2008

2
I. Generalitati ATE

1. Rolul testarii

Daca proiectezi un produs, il fabrici, apoi il testezi, iar testul esueaza, atunci
trebuie sa existe o cauza pentru nereusita. Ori (1) testul a fost proiectat gresit, ori (2)
procesul de fabricatie a fost imperfect, ori (3) proiectarea a fost gresita, ori (4)
specificatia a avut o problema. Orice poate sa fie gresit. Rolul testarii este sa detecteze
daca ceva a mers gresit pe cand rolul diagnozei este sa determine exact ce a mers gresit si
unde procesul trebuie modificat. Prin urmare, corectitudinea si eficacitatea testarii este
cea mai importanta pentru produsele de calitate (un alt nume pentru produsele perfecte).
Daca procedura de testare este buna si produsul nu merge, atunci vom suspecta
procesul de fabricattie, proiectarea sau specificatia. Daca toti studentii dintr-o clasa nu
trec examenul atunci este de obicei considerata greseala profesorului. Daca numai o parte
nu promoveaza, se presupune ca profesorul este competent, dar unii dintre studenti au
dificultati. Pentru a selecta studentii cu probabilitate mai mare de succes profesorii pot
face o selectie bazata pe teste de admitere. Testarea distribuita de-a lungul unui proces de
fabricatie a unui produs releva cauzele functionarii defectuoase a produselor de indata ce
devin active si inainte ca ele sa produca pagube prea mari. O strategie de testare bine
gandita e cruciala pentru fabricare economica a produselor.
Beneficiile testarii sunt calitatea si economia. Aceste doua atribute nu sunt
independente si nici nu pot fi definite una fara cealalta. Calitatea inseamna sa satisfaci
nevoile clientului la cel mai mic cost. Un bun test poate filtra toate produsele defecte
inainte ca acestea sa ajunga la utilizator. Totusi, daca prea multe produse defecte sunt
fabricate, costul acestora trebuie dedus din costul produsului final ce se incaseaza pentru
cele cateva produse de calitate. Ar fi imposibil pentru un inginer sa proiecteze un produs
de calitate fara o intelegere profunda a principiilor fizice ce stau la baza procesului de
manufacturare si testare.



3
2. Testarea analogica si digitala a circuitelor VLSI

Inainte sa facem o fotografie ar trebui mai intai sa analizam scena. Scena aici
consta in procesul de fabricatie al circuitelor, prezentat schitat in figura 1.2. Cerintele
sunt nevoile clientului satisfacute de circuitul integrat. Acestea sunt deseori derivate din
functia aplicatiei, de exemplu controlul injectiei combustibilului intr-un automobil,
controlul unui brat robotic sau procesarea imaginilor de la o naveta spatiala.
Cineva stabileste specificatiile diferitelor tipuri, care includ functia (caracteristica
intrare-iesire), caracteristici de operare (putere, frecventa, zgomot, etc.), caracteristici
fizice (imapchetare, etc.), caracteristici de mediu (temperatura, umidi tate, siguranta,
etc.), si alte caracteristici (volum, cost, disponibilitate, etc.)
Obiectivul proiectarii este de a produce date necesare urmatorilor pasi de
fabricatie si testare. Proiectarea are mai multe stagii. Primul, cunoscut ca proiectare
arhitecturala, produce o strucura la nivel de sistem de blocuri realizabile pentru a
implementa spcificatia functionala. Al doilea, numit proiectare logica, descompune mai
departe blocurile in porti logice. In final, portile sunt implementate ca dispozitive fizice
(e.g. tranzistoare) si un layout de circuit este produs in timpul proiectarii fizice. Layout-ul
fizic este convertit in masti foto ce sunt direct folosite in fabricarea circuitelor VLSI de
siliciu. Fabricarea consta in procesarea plachetelor de siliciu intr-o serie de pasi printre
care fotolitografierea, expunere cu masti, gravare, implantare ionica, etc.

4

[Fig. 1.1] Procesul de fabricatie al unui circuit VLSI (varianta simplificata)

Este naiv sa credem ca toate produsele fabricate vor fi fara greseala. Impuritatile
si defectele din materiale, functionarile gresite ale echipamentelor si erorile umane sunt
cateva din cauzele defectelor. Preponderenta si consecintele defectelor sunt principalele
motive pentru care se face testare.
O alta functie foarte importanta a testarii este diagnoza procesului. Trebuie sa
descoperim ce a mers prost cu fiecare circuit defect, fie el in faza de fabricatie, proiectare
sau testare. Ori, e posibil sa fi pornit de la specificatii irealizabile. Analiza circuitelor
defecte se numeste analiza modului de esec (Failure mode analysis - FMA). FMA
foloseste diferite tipuri de teste, inclusiv examinarea prin telescoape optice sau
electronice pentru a detecta cauza defectiunii si a repara procesul.
Sa examinam figura 1.1 acum. Sagetile ce ies din blocul AME reprezinta actiunile
corectoare aplicate pasilor cu defecte din procesul de fabricatie. Considerand procesul ca
5
o linie de asamblare cu directia fluxului de sus in jos, efortul depus intre punctul unde a
aparut eroarea si punctul de testare, unde a fost detectata, este pierdut. La momentul
descoperirii erorii portiunea de banda de asamblare dintre aceste doua puncte contine
produs defect care va trebui fie reprocesat, fie inlaturat. Efortul si materialul pierdut se
adauga la costul produsului. Testarea ar trebui, de aceea, facuta cat mai aproape de
punctul in care apare eroarea. Multe companii pun accentul pe a face lucrul cum
trebuie de prima data sau a avea ca tinta produsul fara greseli. Acest lucru nu
inseamna ca oamenii, sau chiar masiinile, nu pot sa greseasca. Aceste scopuri pot fi atinse
in medii predispuse la erori cand erorile sunt detectate si corectate inainte sa produca vreo
paguba.
Procesul realizarii unui circuit VLSI prezentat in figura 1.2 are o forma de testare
distribuita. Liniile punctate arata metoda de testare. In functie de context vom numi
testarea in diferite moduri. Cerintele si specificatiile sunt revizuite, proiectarea si testele
sunt verificate si partile fabricate sunt testate. Fiecare nivel de testare indeplineste doua
functii si implica personal tehnic diferit. Prima functie stabileste ca munca este conforma
cu obiectivele nivelelor precedente si indeplineste cerintele clientului. A doua stabileste
faptul ca lucrurile au fost facute in conformitate cu capabilitatile ultimelor nivele ale
procesului. De exemplu, verificarea proiectarii si procedurile de testare ar trebui sa
asigure faptul ca design-ul indeplineste toate functiile si alte specificatii si ca este de
asemenea manufacturabil, testabil si reparabil.

6

[Fig 1.2] Varianta realista a procesului de fracatie a unui circuit VLSI

Figura 1.2 de asemenea arata nivelul de implicare al diferitelor tipuri de personal
ingineresc in perioada de fabricatie a unui dispozitiv VLSI. In timp ce aceasta figura este
tipica pentru un circuit integrat specific aplicatiei (application specific integrated circuit -
ASIC), este valabila de asemenea pentru multe alte dispozitiive electronice. Procesul
incepe cu un dialog intre client si inginerul de marketing. In timp ce sunt preparate
specificatiile, este recomandabila implicarea celor resposanbili cu activitatile ulterioare
(proiectare, manufacturare si testare) pentru a asigura fezabilitatea specificatiei. Inginerul
de sistem incepe apoi prin a construi o diagrama arhitecturala de blocuri. Arhitectura este
verificata de simulari de nivel inalt si fiecare bloc este sintetizat la nivel logic. Circuitul
logic este simulat pentru aceiasi stimuli (deseori produsi de un banc de test) folositi
pentru simularea de nivel inalt. Un banc de test este un cod HDL (Hardware Description
Language), care cand este executat produce stimuli pentru circuitul proiectat. Vectorii
generati de bancurile de test sunt compactate sau augmentate si ruleaza printr-un
simulator de erori pentru a satisface unele cerinte ce acopera o anumita gama de erori
posibile. Inginerul de proiectare VLSI genereaza un layout si verifica sincronizarea cu
specificatia. Inginerii de manufacturare si testare fabrica apoi testeaza placile si
7
impacheteaza si testeaza cipurile. In tot timpul acestui proces, este identificata orice
eroare si sunt efectuate imbunatatiri ale procesului pentru a asigura un procent mare de
dispozitive calitativ bune. In final, inginerii de suport tehnic si cei de vanzari
interactioneaza cu clientul. Deoarece activatile de verificare si testare sunt distribuite
de-a lungul perioadei de fabricatie a produsului este necesar ca toti inginerii care lucreaza
la un produs sa cunoasca principiile testarii.

3. Tipuri de testari

Testarea VLSI poate fi clasificata in patru tipuri in functie de scopul specific pe care
trebuie sa-l indeplineasca.

Caracterizarea
Cunoscuta si sub forma depanarea proiectului sau testarea de verificare, aceasta
forma de testare este facuta pe un proiect nou inainte de a fi trimis in productie. Scopul
este de a verifica faptul ca proiectul este corect si ca dispozitivul va intruni toate
specificatiile. Se ruleaza testele functionale si se fac masuratori detaliate in curent
continuu si in curent alternativ. Examinarea nodurilor interne ale circuitului VLSI, care in
mod curent este efectuata in testarea de productie, poate fi de asemenea necesara in
timpul caracterizarii. Folosirea unor unelte specializate cum ar fi microscoape electronice
de scanare (SEM) si dispozitive de testare cu tun de electroni, si tehnici precum
inteligenta artificiala si sistemele expert poate fi eficace. Un test de caracterizare
determina limitele exacte de operare ale unui dispozitiv. In general testam cel mai rau caz
pentru ca este mai usor de evaluat decat cazurile medii, iar dispozitivele care merg pentru
aceste cazuri vor merge in toate celelalte conditii. Facem acest lucru selectand un test ce
va rezulta intr-o decizie de succes/defectiune. Apoi selectam o multime semniificativa din
punct de vedere statistic de dispozitive si repetam testul pentru oricecombinatie de doua
sau mai multe variabile de mediu si afisam rezutatele. Acest lucru inseamna de fapt sa
aplicam in mod repetitiv testele functionale si sa masuram diferiti parametrii de curent
continuu sau de curent alternativ in timp ce variem diferite variabile precum V
cc
(sursa de
8
tensiune). Aceste date sunt desenate ca un grafic Schmoo (figura 1.3) unde * reprezinta
operarea corecta, iar @ reprezinta defectiune.

[Fig. 1.3] Graficul Schmoo

Apoi, diagnosticam si corectam erorile, masuram caracteristicile circuitului pentru
a defini specificatiile finale si construim un program de test de productie. O varianta mai
putin cuprinzatoare a testarii de caracterizare este continuata si de-a lungul procesului de
productie al dispozitivului pentru posibile imbunatatiri ale designului si ale productiei.
Productia este fractiunea (sau procentajul) de parti acceptabile din totalul de parti
fabricate. Testarea de caracterizare poate fi facuta pe circuitele rejectate in faza de
productie sau la fata locului.

Productia
Fiecare circuit fabricat este supus testelor de productie, care sunt mai putin
cuprinzatoare decat testele de caracterizare, totusi acestea trebuie sa impuna cerintele de
9
calitate, determinand daca circuitul corespunde specificatiilor. Vectorii pot sa nu acopere
toate functiile si tiparele de date posibile insa trebuie sa aiba un coeficient important de
detectie al defectiunilor modelate. Principalul factor ce trebuie luat in seama este costul,
din moment ce toate dispozitivele trebuie testate. Timpul testarii (dei implicit costul)
trebuie minimizat. Nu se incearca diagnoza defectiunii si doar o decizie merge/nu merge
este luata in acest moment. Testele de productie sunt destul de scurte dar verifica toate
aspectele importante ale dispozitivului. Este un test de inspectie al fiecarui dispozitiv si
nu este repetitiiv. Testam daca vreun parametru dispozitiv-sub-test (device-unde-test -
DUT) este conform cu specificatiile in conditii normale de functionare. Vom testa fie la
viteza ceruta de dispozitiv fie la viteza garantata de producator.

Testarea Burn-in
Toate dispozitivele care trec de testele de productie nu sunt identice. Cand sunt
puse la lucru unele se vor defecta foarte rapid in timp ce altele vor functiona mult timp.
Burn-in asigura siguranta dispozitivelor testate, testandu-le fie continuu, fie periodic, pe o
perioada indelungata de timp si provocand dispozitivele proaste sa se defecteze. Studiile
de corelatie arata ca aparitia potentialelor defecte poate fi accelerata la temperaturi
ridicate Pe scurt, burn-in izoleaza doua tipuri de defecte: defectele premature, deseori
cauzate de o combinatie dintre o proiectare susceptibila si o variatie de procesare, pot fi
detectate de un burn-in scurt (10-30 ore) intr-un mediu normal sau putin accelerat. Freak
failures, i.e. dispozitivele avand acelasi mecanism de defectare ca si dispozitivele sigure,
au nevoie de un burn-in lung (100-1000 ore) intr-un mediu accelerat. In timpul burn-in-
ului, supunem circuitele la o combinatie de teste de productie, temperaturi inalte si surse
cu supratensiune. In practica un producator trebuie sa puna in balanta considerentele
economice si siguranta produselor. In orice caz, eliminarea defectelor premature este
considerata esentiala.

Inspectia componentelor externe
Producatorii de sisteme efectueaza o inspectie asupra componentelor
achizitionate inainte de a le integra in sistem. In functie de context, aceasta poate fi
10
similara cu testarea de productie, ori mai amanuntita decat aceasta sau chiar acordata cu
aplicatia specifica a sistemului. De asemenea, inspectia componentelor externe poate fi
facuta pe un esantion aleator, cu marimea esantionului depinzand de calitatea
dispozitivului si de cerintele sistemului. Cel mai important scop al acestei testari este
evitarea plasarii unui dispozitiv defect intr-un sistem in care costul procesului de
diagnoza poate depasi cu mult costul inspectiei componentelor externe.

Tipuri de teste. Selectia testelor depinde de nivelul de manufactuare (procesare, placheta
sau pachet) ce va fi testat. Cu toate ca anumite testari sunt facute in timpul fabricarii
dispozitivului pentru a stabili integritatea procesului in sine cele mai multe teste sunt
efectuate dupa ce placheta a fost creata. Primul test, numit sortarea placutelor
diferentiaza potentialele dispozitive defecte de cele sigure. Dupa aceasta, placheta este
inscrisa si taiata si potentialele dispozitive bune impachetate.
De asemenea, in timpul sortarii plachetelor, o caracterizare primara a procesului este
efectuata. Teste special proiectate sunt aplicate unor structuri de test continand tipare
specifice de test. Acestea sunt proiectate sa caracterizeze tehnologia de procesare prin
masurarea parametrilor precum pragul de poarta, pragul de camp al polisiliciului, pragul
de camp al metalului, rezistentele poly si metal, rezistentele de contact, etc.
In general, fiecare circuit este susceptibil de a fi supus unuia dintre urmatoarele doua
tipuri de teste:

(1) Teste parametrice. Testarea parametrica de curent continuu include teste de
scurtcircuit, teste de gol, teste de curent maxim, teste de curenti reziduali, teste
de curent maxim de iesire si teste de nivel de prag. Testele parametrice de
curent includ teste de propagare a intarzierii, teste de setup si hold, teste ale
vitezei functionale, teste de timp de acces, teste de timp de reimprospatare si
pauza si teste de timp de ridicare si coborare. Aceste teste sunt de obicei
dependente de tehnologie. Masuratorile tensiunii de la iesirea CMOS sunt
facute fara sarcina in timp ce dispozitivele TTL au nevoie de incarcare de
curent.
11
(2) Teste functionale. Acestea constau in vectorii de intrare si raspunsurile
corespunzatoare. Ele controleaza functionarea corecta a unei proiectari
verificate testand nodurile interne ale circuitului. Testele functionale acopera
un mare procent de defecte modelate, in circuitele logice. Deseori, vectorii
functionali sunt vazuti ca vectori de verificare, ce sunt folositi pentru a
verifica daca hardware-ul indeplineste conditiile impuse de spectificatie.
Totusi, in lumea ATE orice vectori aplicati sunt considerati vectori ce acopera
erorile functionale aplicati in timpul testelor de fabricatie. Aceste doua tipuri
de teste functionale pot fi sau pot sa nu fie acelasi lucru.
Testele functionale pot fi aplicate la o temperatura crescuta pentru a garanta
specificatiile. De exemplu, testele pot fi facute la 85 de grade Celsius pentru a garanta
functionarea la 70 de grade Celsius. Aceasta tehnica este numita guardbanding (interval
de siguranta). O alta aplicatie este in speed binning pentru a nota circuitele in functie de
performante. Acest lucru poate fi facut aplicand testele la diferite tensiuni si variind
conditiile de timp (e.g. frecventa de ceas).
Sceanariu descris mai sus reprezinta o generalitate. Adevaratul plan de testare al
unui dispozitiv VLSI variaza in functie de aplicatia specifica careia i-a fost destinat,
filozofia de testare a fabricantului, echipamentul disponibil pentru testare si economia
testarii.
In timp ce metodologia generala de testare este aplicabila si circuitelor de
memorie, exista niste diferente notabile. Testele de memorie sunt functionale; nu sunt
evaluate tipurile de defecte stuck-type pentru aceste teste, care sunt proiectate sa verifice
atribute functionale cum sunt unicitatea adreselor, viteza de decodare a adreselor,
cuplarea celulelor, cuplarea coloanelor si a liniilor, senzitivitatea datelor, recuperarea
scrierilor si reimprospatarea memoriei (refresh). Testarile elaborate pot necesita secvente
lungi de vectori. Pentru a creste productivitatea, testele de memorie au capabiliati de
testare paralela. Testarile specializate pot fi chiar capabile sa repare celulele redundante
folosite in memoriile mari (256 M bits) pentru a mari randamentul.
Testarea cipurilor VLSI este in multe privinte similara cu testarea altor
echipamente digitale, cum ar fi placile de circuite, dar cu diferente. Placile de circuite
sunt formate din componente testate anterior. Un obiectiv important al testarii placilor de
12
circuite este verificarea circuitelor printate si a contactelor dintre acestea si componente.
Este posibil sa se efectueze o testare prealabila a placii inainte de inserarea
componentelor. Dupa ce componentele sunt plasate testarea in-circuit este deseori
folosita pentru a verifica performantele componentelor individuale. In final, testarea
functionala determina daca sau nu componentele individuale, posibil proiectate cu
diferite tehnologii, functioneaza ca un sistem si produc raspunsul asteptat. ATE-ul ales
pentru placile de circuite este diferit de cel folosit pentru circuitele integrate.

Specificatiile testelor si planurile de test. Documentul specificatiilor dispozitivului
initiaza activitatea de dezvoltare si contine urmatoarele informatii:
Caracteristici functionale Algoritmi ce trebuie implementati, caracteristici
de semnal de intrare-iesire (forme de unda, nivele de semnal, etc.),
functionarea semnalelor de date si control, rata de ceas.
Tipul dispozitivului logic, microprocesor, memorie, analog, etc.
Caracteristici fizice pachetul, atribuirea pinilor, etc.
Tehnologie CMOS (sau vectori de porti), personalizata, celula standard, etc.
Caracteristici de mediu raza de temperatura de operare, tensiunea de
alimentare, umiditatea, etc.
Siguranta nivelul de acceptare (parti defecte per milion), rata de defectare
per 1000 de ore, caracteristicile zgomotului
Specificatiile testelor, daca nu sunt date explicit sunt derivate din datele de mai sus. Pe
baza acestor specificatii este generat un plan de test. In planul de test sunt specificate
tipul de echipament de testare si tipul testelor. Selectia unui echipament de testare
depinde de parametrii ca productivitatea, rata de ceas, precizia sincronizarii, lungimea
secventei de test, disponibilitatea echipamentului de testare si cost. Tipurile de test includ
teste parametrice, functionale, burn-in, marginale, sortare in functie de viteza, etc. Cerinta
de acoperire a erorilor trebuie si ea specificata.

13
Echipamente de testare. Scopul de baza al unui echipament de testare este sa furnizeze
intrarile si sa monitorizeze iesirile unui dispozitiv-sub-testare. Echipamentele de testare
sunt cunoscute sub numele de ATE (automatic test equipment echipamente automate de
testare). Tehnologia VLSI in continua schimbare a influentat semnificativ dezvoltarea
ATE-urilor moderne. Selectia ATE-ului pentru un dispozitiv VLSI trebuie sa ia in
consideratie specificatiile dispozitivului. Factori majori sunt viteza (rata de ceas a
dispozitivului), precizia timing-ului (strobe-ului), numarul de pini de intrare si de iesire,
etc. Alte considerente in selectarea unui echipament de test sunt costul, siguranta,
repetabilitate, usurinta de programare, etc.

Programarea testelor. Odata ce dispozitivul de testat a fost montat pe echipamentul de
testare trei lucruri sunt necesare pentru a efectua testul. Aceste sunt programul de test,
vectorii digitali de test, si formele de unda analogice. Pana de curand programele de test
erau scrise manual. Totusi, utilizarea uneltelor de tip CAD devine preponderenta in acest
domeniu.
Dupa cum se poate observa in figura 1.4 specificatiile dispozitivului impun crearea unor
noi activitati. Rezultatele acestor activitati sunt necesare programului de test. Un sistem
automat de generare a programelor de test (deseori numit TPG) are nevoie de trei tipuri
de intrari:
(1) Specificatia echipamentului de test si informatia cu privire la tipurile de teste sunt
obtinute din planul de test.
(2) Datele fizice ale dispozitivului (locatiile pinilor, harta plachetei, etc.) sunt
obtinute din layout.
(3) Informatiile despre sincronizarea semnalelor si vectorii de test (intrarile si
respectiv iesirile asteptate) sunt obtinute de la simulatoare.

14

[Fig. 1.4] Generarea programului de testare.

Programul de test contine o secventa de instructiuni pe care un echipament de
testare trebuie sa o respecte pentru a realiza testarea. De exemplu, o simpla secventa de
evenimente ar fi: conecteaza sursa, aplica ceasurile si vectorii pinilor de intrare si
compara semnalele de iesire cu raspunsul asteptat. Echipamentele moderne de testare
pun la dispozitie posibilitatee de alegere dintr-o varietate de forme de unda ca semnale de
intrare, mascheaza semnalele de iesire, sesizeaza starea de inalta impedanta, si au o
varietate de capabilitati sofisticate. Deoarece echipamentele de testare difera in termeni
de capabilitati si limbaje de programare, TPG-urile in mod uzual genereaza un program
independent de echipamentul de testare ce poate fi calibrat pentru orice tip de ATE. De
asemenea, deoarece simulatoarele software folosite in verificarea proiectarii difera de
ATE in manipularea formatului semnalului (valori logice, sincronizare, etc.), editoarele
de vectori sunt unelte folositoare in timpul programarii testelor.

Analiza datelor de test. Datele de test obtinute de la ATE servesc la trei obiective. In
primul rand, ajuta la acceptarea sau rejectarea dispozitivului aflat in teste. In al doilea
rand, ofera informatii importante despre procesul de fabricatie. Si in al treilea rand, ofera
informatii despre punctele slabe ale proiectului.
15
Testele ce scot in evidenta erorile filtreaza rapid dispozitivele defecte. Totusi,
dispozitivele care nu se defecteaza in timpul testelor pot fi considerate sigure doar daca
testele acopereau erorile potentiale in proportie de 100%. Analiza datelor de test ofera
informatii privind calitatea dispozitivului. Datorita variatiilor aleatoare din timpul
procesului de fabricatie, caracteristicile de viteza ale dispozitivelor variaza. Analiza
datelor de test faciliteaza sortarea circuitelor integrate pentru valori mai mari decat
valoarea nominala.

Analiza modului de defectare (FMA Failure mode analysis) a dispozitivelor defecte ne
ofera mai multe informatii pentru a imbunatati procesul de fabricatie al circuitelor VLSI.
Dispozitivele defectate prezinta deseori tipare de defectiuni care se repeta. Cauzele
acestor defectiuni ne pot conduce la punctele slabe (sensibilitate la variatii de proces) ale
proiectarii. Astfel de informatii ne sunt utile pentru a imbunatati regulile logice si de
proietare a layout-ului.

4. Echipamente de testare automata

Echipamentul de testare automata este un instrument folosit pentru a aplica tipare
de teste unui dispozitiv-de-testat (DUT device under test), pentru a analiza raspunsurile
unui DUT si pentru a marca un DUT ca fiind bun sau defect. DUT-ul este de asemenea
denumit circuitul-de-testat (CUT circuit under test). ATE-ul este controlat de un sistem
UNIX sau un PC . Echipamentul de testare are unul sau mai multe capete de testare, ce
contin electronica pentru stocarea temporara a datelor asociate local cu un DUT, dar un
singur server cu instrumentatie obisnuite, surse de tensiune, etc. ATE-ul este conectat la
echipamentul extern ce manevreaza mecanic plachetele sau pachetele de IC (integrated
circuits circuite integrate) care sunt testate. Astfel, in timp ce o placheta sau un circuit
integrat este testat intr-un cap de testare, o alta placheta sau circuit integrat pot fi
incarcate intr-un al doilea cap de testare, deci echipamentul de testare suprapune
manevrarea mecanica a partilor cu testarea electronica a acestora. Mecanismul de
manevrare al circuitului integrat este in general unul pneumatic si multe astfel de
16
echipamente folosesc de asemenea aer comprimat pentru a forta plachetele in bancul de
testare.

Modelul Advantest T6682 ATE

Vom ilustra structura tipica a unui ATE folosind echipamentul de testare
Advantest modelul T6682, care este un ATE de inalta calitate dar in acelasi timp foarte
scump (prezentat in figura 1.5). Figura 1.6 prezinta schema bloc a acestui ATE.
Electronica instrumentului este realizata cu circuite integrate VLSI de 0.35 m. Are pana
la 1024 de canale, astfel incat poate cotrola si observa simultan 1024 de pini. Viteza de
testare este 250 MHz, 500 MHz sau 1 GHz. Precizia sincronizarii este de 200 ps. ATE-ul
poate suporta magistrale cu tensiuni ce variaza intre -2.5 V si 6 V si poate suporta
semnale de amplitudine joasa de aproximativ 200 mV. Precizia fronturilor de ceas este de
870 ps, pe intreg intervalul de timp , iar precizia per total este de este de 200 ps.
Rezolutia ceasului este de 31.25 ps. Precizia ceasului/strobe-ului in curent alternativ este
de 80 ps. Acest instrument este unul dintre cele trei disponibile care poate lucra la
frecvente de 1 GHz. Pentru rate de ceas mai mari de 250 MHz folosim tehnica
multiplexarii tiparelor (pattern multiplexing) unde scriem doua tipare intr-un singur ciclu
de testare, ceea ce creste frecventa de operare la 500 MHz. Putem de asemenea
multiplexa 2 pini pentru a controla 1 pin digital al unui DUT (device-under-test), pentru a
obtine o rata de ceas de 1 GHz.
17

[Fig. 1.5] Echipamentul de testare Advantest T6682 cu un sinur cap de testare.

Cand testam plachetele, un card cu probe se interfateaza mecanic cu capul de
testare al ATE-ului cu un set de ace de proba, care fac contact cu placheta de test. ATE-
ul Advantest T6682 suporta pana la 1024 de pini. Realizati ca, pentru circuitele integrate
de proba, inductanta este o problema majora, deci fiecare proba, chiar si digitala, trebuie
sa aiba un bun echilibru intre capacitanta si inductanta in linia de proba pentru a asigura
acuratetea. Putem vizualiza proba ca 1024 de fire ce ating suprafata circuitului integrat pe
o arie foarte mica. Inductanta in acest sistem este proportionala cu inaltimea deasupra
planului de masa, iar firele se extind vertical in proba, deci vom avea practic 1024 spire
de transformator (transformer windings) strans cuplate. De aceea vom avea probleme
serioase de crosstalk cu aceasta proba la 1 GHz.
18

[Fig. 1.6] Diagrama bloc sistemului de testare Advantest T6682.

Generarea tiparelor: Generatorul secvential de tipare (sequential pattern
generator - SQPG) standard stocheaza datele aplicate DUT-ului si contine 16 MVector de
tipare, expandabili la 64 MVector de tipare. Un vector are lungimea egala cu numarul de
pini suportat de DUT. Generatorul algoritmic de tipare (algorithmic pattern generator
ALPG) optional poate trata 32 de biti de adresa independenti si 36 de biti de date
independenti. Poate fi atribuit oricarui canal de testare si este util pentru testarea
memoriei embedded deoarece genereaza linii de adresa si date in timp real pana la
frecventa de 250 MHz. Are un decodificator de adrese. Memoria de tipare are o
capacitate de 16 M x 3 biti si poate fi expandata la 64 M x 3 biti. Reprezinta vectorii cu 3
biti/pin, ceea ce admite sase fronturi de ceas per pin, la o rata a ceasului de 250 MHz.
Doua fronturi de ceas sunt folosite pentru a genera tranzitii ale formei de unda aplicate pe
pin, inca doua genereaza tranzitiile controlului intrare-iesire si ale formei de unda, iar
ultimele doua tranzitii sunt folosite pentru a stroba unitatea de comparare. Modulul de
memorie a defectelor de adresa (address failure memory - AFM) inregistreaza adrese in
19
memoria testata care s-au defectat. Generatorul de tipare de scanare (scan pattern
generator - SCPG) optional suporta JTAG. Acesta reduce considerabil capacitatea
necesara a vectorilor de test pentru JTAG si poate masca datele de iesire ale scanarii
pentru pana la 64 de pini. Poate avea dimensiuni de 2 GVector sau 8 GVector si opereaza
la viteze de pana la 40 MHz. Serverul de reincarcare la viteza mare asigura transferul
intern rapid de tipare de la o masina Gazda (prin ethernet) si este in esenta un buffer.
Cineva trebuie sa furnizeze fisierul vectorului de test si raspunsul corect al cipului pentru
fiecare vector al ATE-ului.

Verificarea raspunsului: Conceptul de potrivire, sau potrivire a trenurilor de pulsuri,
apare atunci cand ATE-ul potriveste tiparele de pe un pin pentru maxim 16 cicluri. In
modul de potrivire al tiparelor, ATE-ul potriveste un tipar cu un numar de pini ai DUT-
ului intr-un singur ciclu. Acesta verifica daca iesirea DUT-ului este aceeasi cu iesirea
asteptata, iar rezultatul este folosit pentru a schimba secventa de generare a tiparelor in
timp real. Rezolutia tensiunii de iesire in unitatile de comparare este de 2 mV.

Procesorul cadru: Aceasta unitate genereaza/compara forme de unda de intrare/iesire la
un DUT cu frecventa de 250 MHz. El combina stimulul forma de unda al DUT-ului (de
la generatorul de tipare) cu comparatia formei de unda de iesire pentru a forma o secventa
de evenimente. Notiunea de timp de strobare este intervalul de dupa aplicarea tiparului
cand iesirile unui cip trebuie esantionate, pentru a determina daca cipul a raspuns corect
sau incorect la tiparul de la intrare.

Probarea: Electronica digitala a pinilor reprezinta circuitele locale de stocare temporara
(buffering) care sunt plasate cat mai aproape posibil de DUT cu scopul de a oferi largime
de banda maxima si semnale parazite cat mai slabe. Figura 1.7 arata configuratia
electronicii pinilor. Fiecare pin (canal) al ATE-ului Advantest are un pin comparator
(doar iesiri de la DUT) si un pin comparator conventional. Electronica pinilor se termina
cu un conector pogo pin la capul de citire. Capul de citire este apoi interfatat printr-o
placa de circuite cu o proba de placheta pentru testarea plachetelor netaiate si
neimpachetate sau cu un dispozitiv de tratare a pachetelor pentru testarea cipurilor
20
impachetate printr-un soclu numit contactor. ATE-ul are intre 128 si 1024 de pini, ce pot
fi expandati in unitati de 128. Electronica pinilor utilizeaza racirea cu lichid pentru a
reduce zgomotul electric si a-si imbunatati siguranta si suporta testare digitala CMOS,
BiCMOS, ECL si TTL. ATE-ul foloseste relee semiconductoare pentru schimbarea
pinilor, in loc de relee mecanice. In electronica pinilor se pot seta urmatoarele valori V
IH
,
V
IL
, V
OH
, V
OL
, I
H
(curent mare de intrare), I
L
(curent mic de intrare), V
T
(tensiune de
prag logic), si ambele tensiuni ale clamelor dinamice pentru fiecare canal. Fiecare card de
pini are 64 de canale multi-pin. Timpii de tranzitie ai pinilor sunt 0.55 0.12 ns, iar
setup-ul frontului de semnal are o rezolutie de 31.25 ps. Incarcarea pe fiecare canal este
programabila.
Unitatea parametrica de masurare (PMU)aplica tensiuni sau curenti unui pin si
masoara raspunsurile electrice (tensiuni si curenti) la acelasi pin. In figura 1.6, sunt
furnizate unitatea multi-DC si unitatea DC universal pentru aplicarea si masurarea
tensiunilor si curentilor continui. Unitatea PMU are sase fronturi de ceas per canal.
Multiplexarea pinilor ne da voie sa combinam fronturile pentru doua canale pentru a
dubla viteza operationala pentru un pin, care este metoda prin care T6682 atinge 1 GHz.

21
[Fig. 1.7] Electronica pinilor in Advantest T6682 ATE.

Teste de semnal mixat: ATE-ul are un generator de forme de unda, un digitizator, o
memorie de captura a formelor de unda digitale, un generator de unde sinusoidale, un
front-end audio, si un esantionator. Esantionatorul converteste datele analogice in date
digitale folosind esantionarea.

Sursele de tensiune: ATE-ul contine intre 24 si 32 de surse de tensiune.

Controlul software: ATE-ul ruleaza Solaris UNIX pe un procesor UltraSPARC de 167
MHz pentru functiile neefectuate in timp real si ruleaza un sistem de operare pentru timp
real pe un alt procesor UltraSPARC de 200 MHz pentru controlul testarii. ATE-ul are
stochare pe disc, CD-ROM-uri, disc floppy, un monitor, o tastatura, instrument cu
interfata Hewlett-Packard GPIB si o interfata Ethernet. ATE-ul foloseste un software
numit Viewpoint pentru a depana, evalua si analiza cipurile VLSI.

Limbajul de descriere: Limbajul de descriere a testelor (TDL) este un limbaj de
programare a testelor, folosit pentru descrierea unui program ce operreaza ATE-ul folosit
vectorii de test. TDL-ul pune la dispozitie, in plus, urmatoarele informatii pentru
controlarea ATE-ului: timpi de strobare (pentru esantionarea iesirilor DUT-ului),
informatii ai stimulilor curent/tensiune, rata ceasului pentru vectori, slew rateul
vectorilor, si informatii de filtrare pentru esantionarea semnalelor de la DUT. In TDL se
poate seta si rezolutia semnalului la pin, ceea ce este util pentru a determina cauzele
defectelor in DUT-uri. De asemenea vectorii de test trebuie editati des, pentru a-i ajusta
pentru evitarea arderii cipului prin cresterea puterii maxime disipate admise. Unele
semnale ale cipului trebuie, de asemenea, puse in starea de mare impedanta pentru a evita
arderea DUT-ului in timpul testelor.

Unelte vizuale ajutatoare: Software-ul ATE-ului poate genera o harta de biti a
defectelor pentru testarea unei memorii. Soft-ul poate produce de asemenea harti ale
plachetelor afisand cipurile bune, cipurile defecte si rezultatele sortate pe intervale de
22
performanta pentru toate cipurile. Software-ul de analizare logica este util pentru
depanarea cipului in timp ce se afla in echipamentul de testare. Software-ul
osciloscopului afiseaza formele de unda analogice ale DUT-ului dupa ce acestea au fost
esantionate cu rezolutie inalta. Software-ul ajuta de asemenea la generarea graficelor
Schmoo pentru DUT-uri. Majoritatea echipamentelor de testare ofera o facilitate de test
virtual, in care inginerul de testare poate simula aplicarea vectorilor de catre
echipamentul de testare al DUT-ului pe o statie de lucru. Testele virtuale reduc timpul
dezvoltarii unui test, ceea ce este important dat fiind costul destul de mare al
echipamentelor de testare.

23

II. Testarea si caracterizarea unui filtru trece-jos programabil

1. Specificatiile Filtrului

Blocul testate este un filtrul analogic de tip Bessel, de ordinul 5 cu frecventa de
taiere programabil. Frecventa de taiere se se poate seta cu ajutorul a 9 biti, dintre care 2
biti se folosesc pentru setarea gamei si 7 biti se folosesc pentru setarea frecventei de
taiere in interiorul unei singure game. In total, exista 512 setari de frecventa disponibile.
Gamele de fecventa sunt nedisjuncte si ocupa intervalul de frecvente de la aproximativ
1MHz pana la aproximativ 40MHz. Intinderea gamelor de frecvente in plaja specificata
este urmatoarea:

Gama 1: 0.85 MHz 4.63 MHz
Gama 2: 1.66 MHz 9.10 MHz
Gama 3: 3.37 MHz 18.88 MHz
Gama 4: 6.95 MHz 40.85 MHz

Filtrul face parte, in circuit dintr-o cale de date. Reprezentarea grafica a arborelui
de test pentru acesta se poate gasi in figura 2.1.

24
Cale de
Date
TG1 DUT TG2
Cale de
Date
DRV
SGN
IN
TST
IN
TST
OUT
Legenda
CD Canal de Date
TG Test Gate
DRV Driver
DUT Device Under Test
[Fig. 2.1] Arborele de test

In figura, blocul testat(DUT) este evidentia folosind culoarea rosie. Accesul la
intrarile si iesirile acestuia se face prin doua porti de test TG1 si TG2. Semnalul de testare
se injecteaza in portul de intrare TST IN s iajunge in DUT via TG! ce realizeaza
comutarea intre calea d esemnal normala si calea de test. Semnalul este cules prin TG2 si
este trecut printr-un buffer, reprezentat in fig 2.1 prin simbolul DRV, catre padurile de
test. Bufferul are rolul de a asigura separarea intre padurile de test si DUT pentru a nu
incarca suplimentar iesirea acetuia. Astfel se poate mentine caracteristica de inalta
frecventa a cailor de test. Si datorita acestui buffer si a altor neidealitat ice pot aparea pe
calea de test, aceasta trebuie caracterizata in frecventa pentru a realiza calibrarea
masuratorilor. Acesta caracterizare se realizeaza prin injectarea de semnal prin TG1 sau
TG2 direct in buffer, fara ca acest semnal sa mai treaca prin DUT, si trasarea
caracteristicii e frecventa. Acesta caracteritica, in dB, va fi scazuta din caracteristica de
frecventa obtinuta pentru DUT in diferite masuratori.




25
2. Planul de test

Planul de test contine informatii despre modul de testare al filtrului trece-jos
programabil. Pentru testarea diferitilor parametri sunt necesare informatii despre
instrumentele folosite, masuratorile efectuate, configuratiile in care se conecteaza
instrumentele, setarile de registre pentru configurarea caii de test si valorile asteptate ale
parametrilor masurati.
Cei mai importanti parametri ai unui filtru sunt castigul in banda si fracventa de
taiere.

Castigul in banda

Castigul in banda reprezinta castigul in amplitudine a unui semnal sinusoidal de
frecventa joasa la trecerea prin filtru.

Castigul in banda se determina injectand un semnal sinusoidal de frecventa joasa
la intrarea filtrului si masurand amplitudinea lui la iesirea filtrului. Raportul lor reprezinta
castigul in banda.

Pentru masurarea castigului in banda a filtrului, se conecteaza analizorul de retea
la intrarile si iesirile blocului si se seteaza frecventa de taiere a filtrului. In urma unor
setari, instrumentul asigura posibilitatea de masurare a acestui parametru.
26

[Fig. 2.2] Castigul in banda

Frecventa de taiere

Frecventa de taiere(f
c
) este frecventa la care castigul scade cu aproximativ 3dB
fata de castigul in banda. Determinarea frecventei de taiere se poate face prin
caracterizarea in amplitudine a filtrului. Astfel, se porneste caracterizarea prin injectarea
unui semnal sinusoidal de frecventa cat mai joasa la intrarea filtrului si calcularea
raportului dintre amplitudinea semnalului de la iesirea filtrului si cel injectat la intrare.
Apoi se mareste(cu un pas cat mai mic) frecventa semnalului sinusoidal aplicat la intrare
si se efectueaza aceleasi calcule ca si la primul pas. Frecventa de taiere a fost stabilita
atunci cand castigul la frecventa respectiva este cu 3dB mai mic decat castigul in banda.
In cazul nostru, analizorul de retea permite determinarea frecventei de taiere.
G
dB
f

G
B
27

[Fig. 2.3] Frecventa de taiere

Intarzierea de grup

Intarzierea de grup reprezinta intarzierea in timp pe care o sufera semnalul
injectat, la anumite frecvente, pana la iesirea filtrului.

Calcularea acestui parametru se face injectand un semnal sinusoidal la intrarea
filtrului si calculand intarzierea suferita de acesta pana la iesirea filtrului. Se alege o plaja
de frecvente pentru semnalul de intrare pentru care se calculeaza intarzierea suferita la
trecerea prin filtru.

Pentru masurarea ei se foloseste acelasi instrument(analizorul de retea). Pe langa
caracteristica de amplitudine a filtrului, instrumentul calculeaza si caracteristica de faza.
Din aceasta, facand anumite setari instrumentului, se obtine intarzierea de grup, care este
calcultata din caracteristica de faza.




G
dB
f

3dB

f
c
28
Gama dinamica de intrare

Gama dinamica de intrare reprezinta nivelul maxim al semnalului de intrare la
care nu apar distorsiuni ale semnalului de iesire.
Pentru a masura gama dinamica se injecteaza un semnal sinusoidal de amplitudine
medie(de preferat la mijlocul intervalului acceptat) si frecventa fixa si se calculeaza
distorsiunea armonica totala a semnalului la iesirea filtrului. Se mareste amplitudinea
semnalului de intrare(cu un pas de preferabil cat mai mic) intr-o anumita gama
calculandu-se pentru fiecare amplitudine distorsiunea armonica totala. Cand distorsiunea
armonica totala atinge nivelul maxim(precizat de proiectant), se retine amplitudinea
semnalului de intrare la care se considera ca nu apar distorsiuni.

Tensiunea de offset

Tensiunea de offset este tensiunea care apare atunci cand intrarea filtrului este
scurtcircuitata la masa. Pentru masurarea acestui parametru, se face calibrarea caii de test,
adica se deconecteaza filtrul din circuit si se masoara tensiuna continua la iesirea caii de
test. Apoi, se conecteaza filtrul in circuit, se scurcircuiteaza intrarile la masa si se
masoara tensiunea continua la iesirea acestuia. Din tensiunea masurata se scade tensiunea
indusa de calea de test si astfel se obtine tensiunea de offset reala a filtrului.

29

III. Sistemul de caracterizare automata a unui filtru trece-jos
programabil

1. Sistemul de caracterizare

Sistemul de caracterizare este format din mai multe componente. Fiecare din
acestea are o functie bine definita in cadrul sistemului. Cea mai importanta componenta
este Calculatorul, care serveste ca unitate de procesare a informatiilor si control al tuturor
celorlalte componente. Modudul de Relee asigura interconectarea intre Placa de Test si
Network Analyser. Accesul la Chip se face prin intermediul Placii de Test. Aparatul de
masura folosit este un Network Analyser. Schema bloc a sistemului de caracterizare este
afisata in figura 3.1. O prezentare mai detaliata a tuturor componentelor, se va face in
cele ce urmeaza.
















30




Placa de test
Calculator
Modul Relee
Analizor de retea
USB to GPIB
USB to EPP
G
P
I
B
U
S
B
P
a
r
a
l
l
e
l
E
P
P
U
S
B
DUT
Sistemul de caracterizare

[Fig. 3.1] Sistemul de caracterizare

31
Calculator

Calculatorul este componenta care controleaza toate celelalte componente ale
sistemului de testare. Comunicarea cu Network Analyser si Placa de Test se face prin
intermediul interfetei USB, si paralel iar comunicarea cu Modulul de Relee se face printr-
o interfata dedicata.
Cu ajutorul aceastei masini de calcul se executa programul de testare. Rularea
programului se poate face in varianta executabila sau in varianta instrument vizual.
Pentru ambele variante este necesara instalarea unui soft specializat. In cazul in care se
foloseste instrumentul vizual, este necesara instalarea programului Labview. Pentru
folosirea versiunii compilate a programului de testare, trebuie instalat un kit care sustine
rularea executabilulul programului de testare, si anume Labview Run-Time Engine. De
asemenea, impreuna cu acestea trebuie instalate driver-ele pentru modulele folosite.
Modulul de Relee necesita instalarea pachetului de drivere NI Switch, GPIB to USB
necesita instalarea driver-ului NI-488, iar pentru folosirea modulului USB to EPP este
necesara instalarea driver-ului NI-6501.

Modul de Relee

Modulul de Relee este sasiul MXI-4 de la National Instruments. La randul lui,
acesta are in componenta cinci module, dintre care unul asigura comunicarea cu
calculatorul(PXI-8331), doua contin relee de frecventa inalta(PXI-2593) si doua contin
relee de frecventa joasa(PXI-2569). Largimea de banda suportata de modulul de relee se
intinde pana la frecventa de 750MHz. Prin urmare, masuratorile nu pot fi afectate de
trasmisia in interiorul modulului de relee. Mai multe detalii despre modulul de frecventa
inalta, PXI 2593 se pot gasi in documentul de specificatii. Acesta se poate descarca de la
adresa ftp://ftp.ni.com/support/manuals/323461a.pdf.




32
Analizor de retea

Evalueaza caracteristica in frecventa a filtrului. Pentru caracterizarea unui bloc
din punct de vedere al caracteristicii in frecventa, se conecteaza o sonda a analizorului la
intrarea blocului si o alta sonda la iesirea acestuia. Prin injectarea unui semnal sinusoidal
la intrare si prin analizarea lui la iesirea blocului testat, instrumentul poate sa genereze
caracteristica in frecventa a acestuia. Mai multe detalii despre functionalitatile acestui
instrument se pot gasi in manualul acestuia care poate fi descarcat de la adresa HTTP
http://www.valuetronics.com/vt/assets/pdfs/HP_4396B.pdf.

Placa de Test

Placa de test asigura accesul la ball-urile chip-ului. Porturile de comunicare cu
celelalte instrumente sunt doua porturi paralel, sapte conectoare parallel ATA si
optisprezece conectoare de tip SMB. Porturile paralel servesc pentru comunicarea
calculatorului cu placa de test. Porturile parallel ATA se conecteaza la modulul de relee
de frecventa joasa, iar conectoarele de tip SMB se conecteaza la modulul de relee de
frecventa inalta.
Principalele blocuri ale placii sunt blocul de alimentare, care asigura alimentarea
circuitului integrat si blocul de comunicare. Blocul de comunicare face conversia
nivelelor de tensiune intre interfata paralel si interfata circuitului integrat. Unul dintre
porturile paralel este dedicat comunicarii cu circuitul integrat, iar celalalt este conectat la
sistemul de circuite logici de pe placa de test. Blocul format din circuite logice si o serie
de relee, comanda alimentarea circuitului integrat alimentarea placii de test.

USB to GPIB

Acest modul face conversia de la interfata USB la interfata GPIB si este oferit de
National Instruments sub numele GPIB-USB-HS. Folosirea acestui modul este indicata
deoarece majoritatea calculatoarelor au interfata USB. Dupa instalarea driver-ului
asociat, programul Labview are acces direct prin interfata GPIB la instrumentele de
33
masura si se pot folosi instrumentele vizuale din libraria standard. Manualul acestui
convertor se poate gasi la adresa
http://www.ni.com/pdf/products/us/20055194101101dlr.pdf.

USB to EPP

Acest modul, la fel ca si USB to GPIB face emularea unei interfete pe interfata
USB a calculatorului. Dispozitivul se numeste NI-6501 si este produs de National
Instruments. In cazul acesta, interfata emultata este EPP, un tip de interfata cu transmisia
paralela a datelor folosita pentru comunicarea cu dispozitive cum ar fi: imprimanta,
scanner-ul sau dispozitive de stocare a datelor. Manualul acestui convertor se poate gasi
la adresa http://www.ni.com/pdf/products/us/20054920301101dlr.pdf.

2. Procedura de caracterizare

Procedura de caracterizare se compune din mai multe etape. Cele mai importante
sunt: setarea placii de test, setarea caii de test, configurarea instrumentelor. O descriere
detaliata a tuturor etapelor se prezinta in cele ce urmeaza. Etapele se prezinta in ordinea
executarii lor.
Reprezentarea grafica a fluxului de executie al procedurii de caracterizare se
poate gasi in figura 3.2 si 3.3.

34
Resetarea placii
de test
Procedura de caracterizare
Configurarea
modulului
de relee
Configurarea
analizorului
de retea
Configurarea caii
de test
Calibrare
Masurarea castigului
in banda de trecee
Efectuarea
masuratorii
[Fig. 3.2]

35
Configurarea
modulului
de relee
Configurarea
analizorului
de retea
Configurarea caii
de test
Calibrare
Masurarea frecventei
de taiere
Efectuarea
masuratorii
Setarea gamei de
frecventa
Setarea frecventei
de taiere
Incrementarea
frecventei de
taiere
Frecventa de
taiere = MAX ?
Incrementarea
frecventei de
taiere
Gama de
frecventa = MAX
?
DA
NU
NU
DA
Oprirea sistemului
[Fig. 3.3]

36

1. Resetarea placii de test

Resetarea placii de test presupune transmi a doua comenzi pe interfata paralela
conectata direct la placa de circuit imprimat. Portul paralel este conectat la o serie de
circuite logice care comanda anumite relee de pe placa de test. Prin cele doua comenzi
succesive se intrerupe alimentarea placii de test si apoi se reporneste.

2. Masurarea castigului in banda de trecere

Masurarea castigului poate fi considerata o masuratoare de sine statatoare. Ea se
poate efectua independent de celelalte daca se prefera acest lucru. La randul ei, aceasta
masuratoare are mai multe etape de executie:

- Configurarea modulului de relee: In aceasta etapa se conecteaza
porturile analizorului la intrarile, porturile de testare ale circuitului integrat.
Analizorul de retea fiind in prealabil conectat la modulul de relee, iar acesta,
mai departe conectat la porturile circuitului integrat, singura operatie necesara
este conectarea lor interna. Acest lucru se face prin comunicarea cu modulul
de relee si setarea unei configuratii interne a acestuia.
- Configurarea analizorului de retea: Aceasta etapa presupune executarea
unui fisier de configuratie. Acest fisier contine comenzi care se transmit pe
interfata GPIB a instrumentului si sunt executate direct de acesta. Se seteaza
urmatorii parametri:
o numarul canalului de analiza
o modul de lucru al instrumentului ca analizor de retea(instrumentul are
ca optiuni, setarea in configuratie analizor de spectru sau in
configuratie analizor de retea)
o frecventa de start pentru analiza
o frecventa de stop pentru analiza
o rezolutia de analiza
37
o numarul de puncte in care se face analiza
o scara logaritmica pe abscisa
o puterea semnalului injectat
o injectarea semnalului la portul de iesire
o limitele de afisare pe ecran
o resetarea indicatorilor
o activarea indicatorilor
o cautarea maximumului caracteristicii. In acest caz, maximul
caracteristicii este la frcventa scazuta si astfel se va masura castigul in
banda.
o resetarea registrelor interfetei GPIB pentru a citi statusul masuratorii.
Cand instrumentul incheie masuratoarea, semnaleaza acest eveniment
prin setarea unui fanion in registrul de stare.
- Configurarea caii de test: Aceasta etapa presupune scrierea succesiva a unor
registre pentru conectarea in interiorul circuitului integrat, a blocului testat la
porturile externe.
- Calibrare: Pentru ca masuratorea sa fie cat mai precisa, se poate sa face si o
calibrare in functie de calea de test. Se deconecteaza blocul filtrului si se face
o caracterizare in frecventa a caii de test. Aceasta caracteristica este retinuta in
memoria analizorului.
- Efectuarea masuratorii: Se conecteaza filtrul in circuit, si se declanseaza
operatia de caracterizare in frecventa a filtrului. Din caracteristica obtinuta se
scade caracteristica obtinuta la etapa de calibrare si astfel se obtine
caracteristica reala a filtrului. Se masoara apoi castigul in banda de trecere.

3. Masurarea frecventei de taiere

Masurarea frecventei de taiere, ca si masurarea castigului in banda de trecere este
o masuratoarea independenta. Etapele masurarii frecventei de taiere sunt detaliate

38
- Configurarea modulului de relee: In aceasta etapa se conecteaza porturile
analizorului la intrarile, porturile de testare ale circuitului integrat. Analizorul
de retea fiind in prealabil conectat la modulul de relee, iar acesta, mai departe
conectat la porturile circuitului integrat, singura operatie necesara este
conectarea lor interna. Acest lucru se face prin comunicarea cu modulul de
relee si setarea unei configuratii interne a acestuia.
- Configurarea analizorului de retea: Aceasta etapa presupune executarea unui
fisier de configuratie. Acest fisier contine comenzi care se transmit pe
interfata GPIB a instrumentului si sunt executate direct de acesta. Se seteaza
urmatorii parametri:
o numarul canalului de analiza
o modul de lucru al instrumentului ca analizor de retea(instrumentul are
ca optiuni, setarea in configuratie analizor de spectru sau in
configuratie analizor de retea)
o frecventa de start pentru analiza
o frecventa de stop pentru analiza
o rezolutia de analiza
o numarul de puncte in care se face analiza
o scara logaritmica pe abscisa
o puterea semnalului injectat
o injectarea semnalului la portul de iesire
o limitele de afisare pe ecran
o resetarea indicatorilor
o activarea indicatorilor
o cautarea maximumului caracteristicii. In acest caz, maximul
caracteristicii este la frcventa scazuta si astfel se va masura castigul in
banda.
o resetarea registrelor interfetei GPIB pentru a citi statusul masuratorii.
Cand instrumentul incheie masuratoarea, semnaleaza acest eveniment
prin setarea unui fanion in registrul de stare.
39
- Configurarea caii de test: Aceasta etapa presupune scrierea succesiva a unor
registre pentru conectarea in interiorul circuitului integrat, a blocului testat la
porturile externe.

Urmatoarele etape se executa in cadrul unui ciclu. Parametrul care se modifica in
interiorul acestui ciclu este gama de frecvente de taiere.

- Setare gama de frecvente de taiere: Sunt patru game de frecvente de taiere.
Gamele propriu-zise de frecventa se intretaie, astfel incat, gama a doua se
extinde si peste prima.
- Calibrare: Pentru ca masuratorea sa fie cat mai precisa, se poate sa face si o
calibrare in functie de calea de test. Se deconecteaza blocul filtrului si se face
o caracterizare in frecventa a caii de test. Aceasta caracteristica este retinuta in
memoria analizorului. Calibrarea se face o singura data pentru cate o gama de
frecvente pentru a micsora durata masuratorilor.

Urmatoarele etape se executa in cadrul unui ciclu. Parametrul care se modifica in
acest ciclu este frecventa de taiere setata.

- Setarea frecventei de taiere: Chiar daca gamele de frecvente de taiere de
intersecteaza, se face o parcurgere totala a acestora. Astfel, se porneste ciclul
prin setarea frecventei de taiere zero si se incheie ciclul cand se ajunge la
setarea 127.
- Efectuarea masuratorii: Se declanseaza operatia de caracterizare in frecventa
a filtrului. Din caracteristica obtinuta se scade caracteristica obtinuta la etapa
de calibrare si astfel se obtine caracteristica reala a filtrului. Se masoara apai
frecventa la care castigul filtrului ajunge la -3dB.

Astfel, pentru fiecare setare de gama de frecvente de taiere se vor parcurge toate
setarile de frecventa de taiere. Gamele de frecventa au un numar egal de frecvente
de taiere.
40

4. Oprirea sistemului

Se trimit comenzi placii de test prin intermediul interfetei paralel. Se intrerupe
astfel alimentarea circuitului integrat si a placii de test.

3. Programul de caracterizare

Programul de caracterizare se compune din patru module importante: modulul de
testare, modulul de management al bazei de date, modului de vizualizare al formelor de
una si modulul de vizualizare al fisierului de parametri. Modulul de testare asigura
controlarea sistemului de testare si executia testelor. Celelalte trei module asigura
interactiunea cu baza de date si vizualizarea continutului acesteia. O descriere mai
detaliata a acestor module se va face in cele ce urmeaza.

Modulul de test

Fisier: Test Module.vi
Functie: executa caracterizarea filtrului si masurarea castigului in banda de trece

- Descriere generala

Acest modul executa caracterizarea propriu-zisa a filtrului. Carcterizarea se
compune din doua parti: masurarea castigului in banda si caracterizarea in frecventa.
Aceste doua operatii sunt cele mai importante din modulul de test. Celelalte operatii sunt
legate de controalele si indicoatoarele din panoul principal, de asigurarea executiei
testelor si de scrierea rezultatelor.




41
- Panoul principal

Panoul principal este inpartit in doua zone. Zona din stanga are in componenta
controale in care se completeaza parametrii de intrare(Input Parameters) iar partea din
dreapta este formata din indicatoare(Status). Apectul panoului principal se poate observa
in figura 3.4. In cele ce urmeaza sunt detaliate functiile controalelor si indicatoarelor din
panoul principal.


[Fig. 3.4] Panoul principal al modulului de test

- Elementele panoului principal

Database Path: Retine calea absoluta a directorul bazei de date. Pentru a
introduce directorul, se poate scrie calea in campul existent
sau se poate apasa pe butonul din dreapta campului. La
42
apasarea butonului se va deschide o fereastra de dialog
unde veti naviga la directorul bazei de date si veti apasa
butonul OK.


[Fig. 3.5] Controlul de referinta al bazei de date

LPT DRV_ADR: Retine adresa portului paralel prin intermediul caruia se
face comunicarea cu placa de test. Aceasta adresa trebuie
exprimata in format hexazecimal. Valoarea acestui control
ramane fixa pentru toate masuratorile daca nu se schimba
configuratia sitemului de caracterizare.



LPT ADR: Retine adresa portului paralel prin intermediul caruia se
face comunicare cu circuitul integrat. Aceasta adresa
trebuie exprimata in format hexazecimal. Valoarea acestui
control ramane fixa pentru toate masuratorile daca nu se
schimba configuratia sitemului de caracterizare.



Wafer: Acest control memoreaza seria plachetei in format text.



43
Chip: Acest control memoreaza seria sau numarul circuitului
integrat care va fi supus testarii.



Run: Acest control memoreaza numarul executiei.



CTF_GAIN_4396_SET
File: Acest control memoreaza calea pe disc a fisierului care
contine setarile necesare pentru analizorul de retea in cazul
masuratorii de castig a filtrului.



Cutoff Ranges: Acest control retine numarul de game de frecventa de taiere
pe care utilizatorul doreste sa le parcurga.



Cutoff Step: Acest control retine pasul cu care se incrementeaza setarea
de frecventa de taiere in interiorul unei game.



44
CTF_CUTOFF_4396_SET
File: Acest control memoreaza calea pe disc a fisierului care
contine setarile necesare pentru analizorul de retea in cazul
trasarii caracteristicii in frecventa a filtrului.



Cutoff Range: Acest indicator afiseaza gama de frecventa curent setata.



GAIN(dB): Acest indicator afiseaza castigul masurat al filtrului.
Formatul de afisare este in virgula mobila.



Set Cutoff: Acest indicator afiseaza setarea curenta de frecventa de
taiere.



Read Cutoff: Acest indicator afiseaza valoarea curenta a frecventei de
taiere masurata pentru setarea afisata in indicatorul Set
Cutoff. Afisarea se face in virgula mobila.



45
Error Out: Acest indicator afiseaza statusul caracterizarii la sfarsitul
acesteia. Practic, indicatorul afiseaza erorile aparute pe
parcursul executiei programului. Este format din trei
sectiuni: status, code si source.
o Status: este un indicator de tip boolean care
senaleaza daca a aparut sau nu eroare pe parcursul
executiei.
o Code: afiseaza codul primei erori produse.
o Source: afiseaza mesajul de eroare generat in cazul
primei erori detectate.



Progress: Acest indicator afiseaza progresul procesului de
caracterizare. Prezentarea evolutiei se face in procente si in
mod grafic prin colorarea progresiva a unei bare de afisare.



Start: Butonul Start declanseaza procedura de caracterizare a
filtrului.



Exit: Butonul Exit incheie executia aplicatiei.
46



- Modul de folosire

Rularea modulului de testare se poate face independent sau din interiorul
modulului Database Handle prin apasarea butonului New. Dupa lansarea in executie a
modulului este necesara setarea valorilor tuturor controalelor din panoul principal.
Primul control care trebuie setat este cel care memoreaza calea catre directorul
bazei de date, adica Database Path(fig. 3.5). In cazul in care modulul este apelat interiorul
modulului Database Handle, acesta va fi setat automat. In cazul in care se executa
independent setarea valorii pentru acest control se efectua in doua moduri: prin
completarea directa a caii directorului bazei de date sau prin apasarea butonului din
dreapta campului(indicat printr-o sageata in figura 3.5). Dupa apasarea acestui buton va
aparea o fereastra pentru rasfoire. Trebuie cautat directorul bazei de date si confirmat.
Urmatorul set de controale este Port Settings care contine doua controale LPT
DRV_ADR si LPT ADR. Informatia retinuta in aceste controale este exprimata in
hexazecimal.
Controalele care retin informatii legate de caracterizare si circuitul integrat sunt
controale de tip text. Singurele caractere permise in aceste controale sunt literele de la A
la Z si cifrele de la 0 la 9. In cazul in care intr-unul dintre acestea se introduce un altfel de
caracter, la apasarea butonului Start se va genera un mesaj de eroare care va informa
utilizatorul care sunt caracterele permise. Mesajul de eroare are formatul ca in figura 3.6.


[Fig. 3.6] Mesaj de eroare

47
Controalele care memoreaza caile catre fisierele de configurare pentru
masuratorile de castig si frecventa de taiere(CTF_GAIN_4396_SET File si
CTF_GAIN_4396_SET File) se completeaza in acelasi mod ca si Database Path.
Controalele pentru setarea gamei si a frecventei de taiere sunt de tip intreg.
Dupa completarea tuturor controalelor se apasa butonu start pentru inceperea
executiei caracterizarii. In timpul executiei, indicatorul Progress se va colora progresiv in
functie de statusul executiei si deasupra acestuia va fi afisat in procente evolutia
executiei. Indicatorul Gain se va modifica o singura data deoarece masuratoare de castig
se face o singura data la inceputul procedurii de caracterizare. Indicatoarele Cutoff
Range, Read Cutoff si Set Cutoff sunt reactualizate la 50 ms si se modifica in cursul
executiei in concordanta cu setarile facute. Indicatorul de eroare Error Out se actualizeaza
o singura data la sfarsitul executiei si indica prima eroare generata impreuna cu codul
acesteia.
Dupa incheierea caracterizarii, se pot schimba parametrii de intrare si se poate
porni o noua caracterizare. Pentru inchiderea aplicatiei se apasa butonul Exit.

- Structura interna

Reprezentarea grafica a fluxului de executie se poate gasi in figura 3.7.
48
[Fig. 3.7]
Flux de executie Test Module
Masurare castig
in banda
Caracterizare in
frecventa
Start ?
Start
NU
DA
Verificare
controale
OK ?
NU
DA
Reactualizare
indicatoare
Pornire placa de
test
Oprirere placa de
test
Generare fisier de
parametri
Generare semnal
sonor
Resetare
indicatoare
Caracterizare
incheiata ?
NU
DA
Generare mesaj
de eroare
Exit ?
NU
DA
Stop

49
Prima bucla si cea mai importanta este cea care verifica daca utilizatorul a
actionatu butonul Start sau butonul Exit. Aceasta contine nodurile de decizie Exit ? si
Start ?. Programul ramane in aceasta bucla pana cand se va apasa unul dintre cele doua
butoane. In cazul actionarii butonului Exit, executia programului se incheie(Stop
Program). La apasarea butonului Start se trece la nodul de decizie Verificarea
controalelor OK? Acesta verifica daca datele din controale respecta anumite conditii. In
cazul in care datele nu sunt corecte se afiseaza un mesaj de eroare si se revine la bucla de
verificare a butoanelor Start si Exit. In caz contrar, se continu a executia. Mai departe,
programul se desparte in doua fire de executie independente.
Unul dintre acestea este reprezentat de o bucla in care se face reactualizarea
indicatoarelor panoului principal(Reactualizarea indicatoarelor). Nodul de decizie pentru
aceasta bucla verifica daca s-a produs evenimentul Caracterizare incheiata ?. In cazul in
care acesta nu s-a produs bucla isi reia executia. Nodul de reactualizare asigura
reactualizeaza valorile indiacatoarelor Cutoff Range, Gain(dB), Set Cutoff, Read Cutoff,
a indicatorului Progress si a indicatorului in procente al statusului executiei.
Celalalt fir de executie executa caracterizarea propriu-zisa a filtrului. Nodul
Pornire placa de test executa operatia pregatitoare masuratorilor si anume, alimentarea
placii de test si setarea releelor acesteia. Urmatoarea operatie este Masurarea castigului.
Dupa masurarea castigului se poate face Caracterizarea in frecventa fara efectuarea unor
operatii suplimentare. Odata incheiate aceste operatii se considera incheiata si
operationea de testare. Prin urmare, urmatorul nod Oprire placa de test, intrerupe
alimentarea placii de test. Parametrii de testare se memoreaza in baza de date prin nodul
Generare fisier de parametri. Dupa terminarea acestor operatii se atentioneaza
utilizatorul in etapa Generare semnal sonor. Ultima etapa executa operatia Resetare
indicatoare.
Odata cu incheierea celui de-al doilea fir de executie, se incheie si primul si se
revine in bucla de verificare a butoanelor Start si Exit. Toate controalele completate se
retin de la o caracterizare la alta pana se va incheia executia modulului de test.



50
Componentele modulului de test

Principalele intrumente vizuale continute de modulul de test sunt prezentate in
figura 3.8.


[Fig. 3.8] Componentele modulului de test

Principalele instrumente vizuale continute de modulul de test sunt: Measure
Cutoff, Measure Gain, Power Up Ro Test Mode, Power Down. Fiecare dintre acestea
contine la randul lor alte instrumente vizuale, cele mai importante fiind: Rd_Data_4396B,
vector_switch_k16, WaitN_EOM, WQREG_APB, WRGPB_INI, Ground_LPT(Ground
EPP) si Wr_Data_On_Adr_LPT(DRV_TB). O detaliere a instrumentelor vizuale incluse
direct in modulul de test se va face in cele ce urmeaza.

- Measure Gain

Fisier: Measure_Gain.vi
Pictograma:
51
Submodule: WAITN_EOM.vi, vector_switch_k16.vi, WRGPB_INI.vi,
WQREG_APB
Parametri de intrare: CTF_GAIN_4396_SET File, error in
Parametri de iesire: Gain(dB), error out
Functie: Acest instrument vizual masoara castigul filtrului in banda
de trecere.

Primul parametru de intrare este CTF_GAIN_4396_SET File si reprezinta calea
catre fisierul de configuratie pentru analizorul de retea. Cel de-al doilea parametru este o
intrare standard pentru toate instrumentele vizuale. Acesta are rolul de a propaga eroarea
de la instrumentul vizual precedent la cel curent in executie. In cazul in care se
semnaleaza o eroare la unul din instrumentele vizuale executate anterior, acest parametru
va avea o valoare nenula iar in acest caz instrumentul vizual curent nu se va mai executa.
Eroarea va fi propagata mai departe prin parametrul de iesire error out.
Parametrii de iesire redau castigului in banda(Gain(dB)) si informatia de
eroare(error out).
Mai departe se va detalia fluxul de executie al acestui instrument vizual. O
reprezentare grafica a acestuia se poate gasi in figura 3.9.
52
Flux de executie Measure Gain
Start
Conectare analizor
de retea
Stop
Configurare
analizor de retea
Setare cale
de test
Calibrare
Trasare
caracteristica
Deconectare
analizor de retea
Conectare filtru
[Fig. 3.9]

53
Primul pas executat este Conectare analizor de retea. Conectarea analizorului de
retea se realizeaza prin configurarea interna a modulelor de relee, folosindu-se
instrumentul vizual vector_switch_K16.vi. Urmatoarea etapa este configurarea
analizorului de retea. In aceasta etapa se trimit o serie de comenzi analizorului de retea
prin interfata GPIB. Comenzile sunt extrase dintr-un fisier text a carui referinta este
memorata in parametrul de intrare CTF_GAIN_4396_SET File. Mai de parte se face
Setare cale de test. In aceasta etapa se fac anumite setari de registre in circuitul integrat
cu ajutorul modulului WQREG_APB.vi. Pentru a elimina zgomotul intrudus de calea de
test se face traseaza caracteristica caii de test in etapa de calibrare Calibrare si se retine
valoare castigului caii de test. Dupa calibrare se face Conectare filtru si se executa
comanda pentru caracterizarea filtrului. Din valoarea castigului obtinut pentru filtru se
scade valoarea obtinuta in etapa de calibrare si se obtine valoarea reala a castigului in
banda. Ultima etapa necesara este Deconectare analizor de retea.

- Measure Cutoff

Fisier: Measure_Cutoff.vi
Pictograma:
Submodule: WAITN_EOM.vi, vector_switch_k16.vi, WRGPB_INI.vi,
WQREG_APB, RD_Data_4396B.vi
Parametri de intrare: CTF_CUTOFF_4396_SET File, M3DB File, Cutoff
Ranges, Cutoff Step, error in
Parametri de iesire: error out
Functie: Acest instrument vizual masoara frecventele de taiere si
memoreaza caracteristica filtrului.

Primul parametru de intrare este CTF_CUTOFF_4396_SET File si reprezinta
calea catre fisierul de configuratie pentru analizorul de spectru. Parametrul M3DB File
retine referinta catre fisierul unde se vor memora frecventele de taiere masurate.
Parametrul de intrare Cutoff Ranges memoreaza numarul de game de frecventa care se
vor parcurge in timpul testului. Cutoff Step retine pasul cu care se va incrementa setarea
54
frecventei de taiere. Singurul parametru de iesire este parametrul care propaga eroarea,
error out
Detalierea fluxului de executie al acestui modul se va face in cele ce urmeaza.
Reprezentarea grafica a acestuia se face in figura 3.10.
55
[Fig3.10]
56

Primele trei etape sunt asemanatoare modulului Measure Gain si anume:
Conectare analizor de retea, Configurare analizor de retea, Setare cale de test. Referinta
catre fisierul de configurare pentru aceast modul este retinuta de variabila
CTF_CUTOFF_4396_SET File. Setarile de configurare in cazul masuratorii de frecventa
de taiere difera putin fata de cele in cazul masuratorii de castig in banda. Mai departe, se
face Setare gama frecventelor de taiere. Se traseaza caracteristica pentru calea de test si
se memoreaza aceasta caracteristica in etapa Calibrare si memorare. Fisierul in care se
memoreaza caracteristica de calibrare este TestPath_RANGE-0.csv. Se face apoi Setare
frecventa de taiere. Urmatoarea etapa este conectarea filtrului in circuit si trasarea
caracteristicii acestuia(Conectare filtru si trasare caracteristica). Din caracteristica
obtinuta, se scade caracteristica de calibrare si se obtine caracteristica reala a filtrului.
Aceste operatii se executa in interiorul analizorului de retea. In cazul in care frecventa de
taiere setata este la jumatatea gamei de frecventa, se memoreaza caracteristica filtrului in
fisierul Caract_RANGE-0_CTF-64.csv. Dupa trasarea caracteristicii filtrului, se da
comanda analizorului de retea pentru masurarea frecventei de taiere iar aceasta se
memoreaza in fisierul Cutoff Values.csv.

Organizarea bazei de date

Scopul bazei de date este de a stoca datele de testare si parametrii de testare si de
a organiza aceste informatii dupa diferite criterii. Principalele criterii de organizare ale
datelor obtinute in urma masuratorilor sunt urmatoarele: seria plachetei, numarul
circuitului integrat, si numarul executiei. Tinand cont de aceste criterii, baza de date se
poate alcatui sub forma unui arbore avand pe primul nivel chiar baza de date. Plasarea pe
primul nivel a bazei de date reprezinta faptul a aceasta contine toate celelalte ramuri ale
arborelui. Pe urmatorul nivel este plasata seria plachetei. Fiecare placheta poate sa
contina mai multe circuite integrate, prin urmare, pe urmatorul nivel se afla seria
circuitului integrat. Mai departe, fiecare circuit se poate testa de mai multe ori deci, pe
urmatorul nivel al arborelui se afla numarul executiei. In sfarsit, pe ultimul nivel se afla
57
parametrii de testare si rezultatele obtinute in urma testarii. Acest tip de organizare a fost
ales datorita relatiilor de incluziune dintre parametrii testelor.
Organizarea pe disc a bazei de date s-a realizat intr-un mod foarte simplu. Fiecare
nivel din arbore s-a reprezentat printr-un director. Astfel, directorul radacina al bazei de
date este directorul Database. Acest director de indica atunci cand se doreste citirea
continutului bazei de date folosind aplicatia Database Handle. In interiorul acestui
director se gasesc toate directoarele corespunzatoare plachetelor din care fac parte
circuitele integrate testate. Fiecare director de placheta contine directoarele
corespunzatoare circuitelor integrate testate din acea placheta. La randul fiecare director
de circuit integrat contine directoarele corespunzatoate executiilor efectuate pe acel
circuit integrat. In final, in fiecare director de executie se afla fisierele care contin datele
obtinute in urma testarii. Reprezentarea grafica a organizarii structurii de directoare se
poate gasi in figura 3.11. In diagrama, notatia Wafer1, ... Wafer X, ... Wafer n reprezinta
seriile de plachete. Notatia Chip 1, ... Chip X, ... Chip n reprezinta seriile circuitelor
integrate. Notatia Run1, ... Run X, ... Run n reprezinta numerele executiilor. Pe ultimul
nivel sunt fisierul de forma de unda, fisierul de parametri si fisierul care contine valorile
frecventelor de cutoff.
58

[Fig. 3.11]

Fiecare tip de fisier are cate un format diferit si o extensie specifica. Descrierea
fiecarui format se va face in cele ce urmeaza.

Fisierul de parametri - Fisierul de parametri are extensia .ini iar formatul lui intern este
formatul oficial corespunzator acestei extensii.
Acest format este specific fisierelor de configuratie. Acestea sunt
fisiere text(se scrie in format ASCII) cu o formatare speciala. Un
astfel de fisier contine doua componente de baza: parametrii si
sectiunile. Parametrii sunt de fapt inregistrarile de date in fisier iar
sectiunile sunt etichete care impart parametrii in diferite categorii.

59
Fisierul de date - Fisierul de date contine datele corespunzatoare frecventelor de
taiere, caracteristicilor filtrului sau caracteristicilor caii de test.
Extensia acestui fisier este .csv adica Comma Separated Values.
Acest tip se fisier se foloseste pentru memorarea tabelelor. Pentru
construirea unui tabel este sunt necesare informatii despre
organizarea datelor pe linii si pe coloane. Astfel, in acest fisier
exista un indicator care marcheaza trecerea pe coloana urmatoare
si unul care marcheaza trecerea pe linia urmatoare. Indicatorul
pentru schimbarea coloanei este caracterul ; iar indicatorul
pentru schimbarea coloanei este setul de caractere CR LF. CR
este acronimul pentru Carrige Return iar LF este acronimul pentru
Line Feed. Impreuna, cele doua caractere reprezinta, in formatul
text, trecerea pe o noua linie.
Un astfel de fisier se poate citi cu ajutorul programului Microsoft
Excel. Dupa citire valorile vor fi aranjate sub forma de tabel, in
functie de indicatorii gasiti in fisier.

Fiecare executie a unui test memoreaza in baza de date un fisier de
parametri(Parameters.ini), un fisier care contine frecventele de taiere(Cutoff Values.csv),
patru fisiere care contin caracteristicile filtrului la jumatatea fiecarei
game(Caract_RANGE-0_CTF-64.csv) si patru fisiere care contin caracteristicile caii de
test pentru fiecare gama(TestPath_RANGE-0.csv).

Modulul de mangement al bazei de date

Fisier: Database_Handle.vi
Functie: permite managementul bazei de date




60
- Descriere generala

Modulul Database Handle permite vizualizarea continutului bazei de date si
operatii de baza asupra acesteia precum ar fi: adaugarea unei inregistrari, vizualizarea
unei inregistrari si stergerea unei inregistrari.

- Panoul principal

Panoul principal(figura 3.12) are in componenta un control de tip
referinta(Database Path) catre fisier, un indicator de tip arbore(Tree Control), si patru
butoane(Refresh Tree, View, New si Exit). Controlul de tip referinta catre fisier
memoreaza calea pe disc a bazei de date. Controlul de tip arbore afiseaza continutul
bazei de date. Butoanele se folosesc pentru: reactualizarea controlului de tip arbore,
vizualizarea unei inregistrari, adaugarea unei noi inregistrari si inchiderea modulului
Database Handle. O descriere mai amanuntita a functiilor elementelor panoului principal
se prezinta in cele ce urmeaza.


[Fig. 3.12] Panoul principal al modulului de management al bazei de date
61

- Elementele panoului principal

Tree contol: Controlul de tip arbore afiseaza continutul bazei de date.
Acesta este format din mai multe coloane. Explicitarea continutului coloanelor se face in
cele ce urmeaza:

o Item este coloana in care se afiseaza continutul propriu-zis al bazei de
date
o Type precizeaza tipul elementului de pe acea linie din coloana
o Date afiseaza data la care a fost creata/modificata inregistrarea
corespunzatoare
o Size afiseaza marirea(in octeti) a inregistrarii
o Path afiseaza calea absoluta a inregistrarii.

Structura arborelui are pe nivelul de baza codul de placheta al chipurilor inregistrate. Al
doilea nivel din arbore este codul chipului, iar al treilea este codul sau numarul
executiilor testului. Pe ultimul nivel sunt plasate fisierele de date ale testarii, cum ar fi:
fisierul de parametri, formele de una si tabele cu datele capturate. Pentru evidentierea
unei linii din control, se face click pe o anumita ingistrare. Pentru selectarea acelei pozitii
pentru vizualizare se face dublu-click pe acea inregistrare. Dupa ce ati selectat o anumita
pozitie din arbore, aceasta va fi marcata prin culoarea rosie numai pe prima coloana. In
figura de mai jos este evidentiata inregistrarea 5 si selectata inregistrarea Parameters.ini.

62

[Fig. 3.13] Indicatorul de tip arbore

Prin apasarea butonului drept al mouse-ului se deschide meniul contextual. Optiunea
Delete din meniul contextual elimina inregistrarea selectata din arbore si sterge de pe disc
toate fisierele si directoarele continute in acea inregistrare. Optiunea Open All Items
expandeaza toate componentele arborelui, iar Close All Items le comprima.



Database path: Retine calea absoluta a directorul bazei de date. Pentru a
introduce directorul, se poate scrie calea in campul existent sau se poate apasa pe butonul
din dreapta campului. La apasarea butonului se va deschide o fereastra de dialog unde
veti naviga la directorul bazei de date si veti apasa butonul OK.



Refresh Tree: Butonul Refresh Tree reactualizeaza controlul de tip arbore.
63



View: Butonul View permite visualizarea elementului desemnat in
controlul de tip arbore.


New: Butonul new adauga o noua inregistrare bazei de date
deschizand aplicatia de testare pentru efectuarea
masuratorilor. Adaugarea propriu-zisa a inregistrarii se face
de catre aplicatia de testare.



Exit: Butonul Exit incheie aplicatia.



- Modul de folosire

Dupa ce se ruleaza programul, prima operatie necesara este introducerea locatiei
bazei de date. Acest lucru se poate face folosind controlul de tip path, Database Path.
Calea absoluta a bazei de date se poate introduce de la tastatura sau se poate incarca prin
intermediul butonului din dreapta campului text. Calea bazei de date trebuie sa fie o
referinta de tip director. In cazul in care se selecteaza un fisier prin intermediul meniului
de dialog, nu va fi afisat continutul bazei de date.
Odata definita locatia bazei de date, apasati butonul Refresh Tree pentru
popularea controlului de tip arbore cu informatiile inregistrarilor din baza de date. Dupa
fiecare modificare facuta in baza de date se recomanda apasarea acestui buton pentru a nu
exista date false in controlul arbore.
64
Dupa reactualizarea controlului arbore, se poat vizualiza inregistrarile din baza de
date prin expandarea fiecarei pozitii in parte sau prin folosirea meniului contextual pentru
expandarea tuturor pozitiilor. Pentru a expanda o inregistrare se apasa pe butonul din
dreptul fiecareia. In cazul in care este expandata acea pozitie, pentru comprimare se apasa
butonul . Prin intermediul meniului contextual se pot elimina inregistrari din baza de
date. Pentru a deschide meniul contextual se plaseaza mouse-ul deasupra controlului si se
apasa butonul drept al mouse-ului.
Pentru a vizualiza continutul unei pozitii din controlul de tip abore, se face dublu-
click cu butonul stang al mouse-ului pe acea pozitie si apoi se apasa pe butonul View. In
functie de tipul datelor de la acea pozitie, se vor deschide diferite aplicatii. In cazul in
care pe acea pozitie se afla un director(Wafer, Chip sau Run) se va deschide o fereastra in
Windows Explorer la acea locatie. Pentru vizualizarea fisierulelor de parametri si forme
de unda se vor lansa ferestre separate numite Parameter Display si respectiv Waveform
Display.
Pentru adaugarea unei noi inregistrari in baza de date se va apasa butonul New.
Adaugarea propriu-zisa a inregistrarii este efectuata de modului de caracterizare.
Dupa incheierea operatiilor aplicatia se poate inchide apasand butonul Exit.

- Structura interna

Structura VI-ului Database_Handle se compune din doua parti executate
consecutiv. Prima parte este cea in care se intializeaza variabilele folosite, se seteaza
valorile controalelor din panoul principal si se configureaza proprietatile controlului de
tip arbore. A doua parte se ocupa de tratarea evenimentelor generate de activitatea in
controlul de tip arbore si de tratarea schimbarilor de voaloare a butoanelor din panoul
principal. Verificarea tuturor schimbarilor aparute in panoul principal se face independent
pentru fiecare dintre controale deoarece acestea pot genera evenimente independente.
Astfel, acestea sunt plasate in bucle care se executa in paralel. Fiecare dintre aceste bucle
reprezinta de fapt un fir de executie.
Bucla de evenimente trateaza evenimentul dublu-click si evenimentul de
selectie a unei optiuni din meniul contextual al controlului de tip arbore. La executarea
65
dublu-click se marcheaza elementul selectat cu o culoare distinctiva si se retine ID-ul
acestuia intr-o variabila care indica elementul curent selectat. Fiecarei inregistrari din
arbore i se da un ID unic, la inserare. Prin urmare nu vor aparea confuzii in legatura cu
elementul selectat chiar daca exista elemente cu nume identic.
La selectia unei optiuni din meniul contextual, se declaseaza bucla de gestionare a
evenimentelor asociate meniului contextual, iar in interiorul acesteia se decide care
optiune a fost selectata si ce actiuni sunt asociate cu aceasta. Spre exemplu, la alegerea
optiunii Delete, se va genera un mesaj de atentionare a utilizatorului si conform alegerii
acestuia, se va elimina sau nu din baza de date inregistrarea selectata.
Bucla asociata controlului de tip buton View, verifica daca acest buton a fost
apasat, iar in acest caz, se vizualizeaza inregistrarea care corespunde ID-ului curent
selectat. In functie de tipul fisierului/directorului de la inregistrarea respectiva, se decide
ce program se va apela pentru vizualizarea acesteia.
O alta bucla este cea de actualizare a controlului de tip arbore. Aceasta verifica
apasarea butonului Refresh Tree. La aparitia acestui eveniment se declanseaza procedura
de citire a structurii si componentelor bazei de date, de pe disc. Adica, se citeste arborele
de directoare si fisierele continute de acesta. Acestea nu se scriu direct in controlul de tip
arbore ci se retin intr-o structura de tip cluster in interiorul programului. Din structura de
tip cluster sunt apoi citite inregistrarile si sunt inserate in controlul de tip arbore.

Modulul de vizualizare al fisierului de parametri

Fisier: Parameters_Display.vi
Functie: permite vizualizarea fisierelor de parametri

- Descriere generala

Modulul Parameters Display deschide un fisier de parametri si listeaza parametrii
memorati in acel fisier, impreuna cu valorile lor intr-un indicator de tip arbore.

- Panoul principal
66

Panoul principal al acestui modul este format dintr-un control de tip file
path(Parameters File), un buton de reactualizare(Refresh) si un indicator de tip arbore.
Aspectul panoului principal este prezentat in figura 3.14.


[Fig. 3.14] Panoul principal al modulului de vizualizare de parametri

- Elementele panoului principal

Parameters File: Acest control memoreaza calea fisierului de parametri.



Refresh: Butonul Refresh citeste datele din fisier si actualizeaza
controlul de tip arbore.


67

Tree Control: Acest control afiseaza diferitele categorii de parametrii
impreuna cu membrii acestora si valorile asociate lor.
Prima coloana(Section/Parameter) a controlului afiseaza
parametrul sau categoria de parametri iar a doua(Value),
valoarea acestuia.


[Fig. 3.15] Indicatorul de tip arbore

Context Menu: Meniul contextual asociat controlului de tip arbore contine
optiuni care se aplica pe datele din control. Optiunile
disponibile sunt urmatoarele:

Reinitialize to Default Value - reseteaza toate campurile
controlului.
Copy Data - copiaza datele de la pozitia selectata si le
plaseaza in clipboard
Paste Data copiaza datele din clipboard si le scrie la
pozitia selectata
68
Description and tip - deschide o fereastra de informare in
legatura cu controlul respectiv.
Open All Items expandeaza toate categoriile de parametri
inregistrate in control
Close All Items expandeaza toate categoriile de parametri
inregistrate in control




- Modul de folosire

Acest modul se poate fi apelat din panoul principal al modulului Database Handle
sau se poate executa ca o aplicatie independenta. Apelarea din modulul Database Handle
se face automat la selectarea unei inregistrari de tip fisier de parametri si apasarea
butonului View.
Dupa deschiderea modulului, se selecteaza locatia pe disc a fisierului de parametri
prin trei pasi. Se apasa butonul din dreapta campului care se afla in aclcatuirea
controlului de tip referinta la fisier, Database Path. Programul va deschide o fereastra de
dialog in care utilizatorul va cauta si selecta fisierul dorit. Pentru confirmarea selectiei se
va apasa butonul Open. In cazul in care utilizatorul nu doreste selectarea unui fisier, se va
apasa butonul Cancel. Odata stabilit fisierul de parametri, se apasa butonul Refresh
pentru afisarea continutului fisierului. In cazul in care se doreste sa se incarce alt fisier de
parametri, se vor urmari aceleasi etape ca si la prima incarcare. Calea fisierului se poate
completa manual in campul controlului de tip referinta la fisier, singura conditie este ca
69
respectiv calea sa fie absoluta. O cale absoluta este definita incepand cu directorul
radacina.
Dupa incarcarea unui fisier de parametri se pot expanda sau comprima diferitele
categorii de parametri prin apasarea butonului respectiv . Pentru selectarea unui
parametru sau a unei categorii de parametri se deplaseaza mouse-ul deasupra liniei
acesteia si se apasa butonul stang al mouse-ului. Pentru deschiderea meniului contextual
al controlului de tip arbore, se plaseaza mouse-ul deasupra acestuia si se apasa butonul
drept al mouse-ului. Unele dintre optiunile din meniul contextual afecteaza inregistrarea
selectata.

- Structura interna

Intern, modului de vizualizare al parametrilor este format dintr-o bucla care
verifica starea butonului Refresh. Butonul poate fi in stare normala sau apasat. In cazul in
care butonul este apasat se executa o singura data o procedura. Aceasta procedura are
rolul de a reactualiza indicatorul de tip arbore(fig. 3.15). Prima etapa a procedurii este
deschiderea fisierului de parametri. In a dua etapa se citesc toate categoriile de parametri
din fisier. Urmatoarea etapa elimina toate inregistrarile din indicatorul de tip arbore. Se
parcurg apoi, pe rand toate categoriile de parametri si pentru fiecare se insereaza numele
acestora in indicator si se afiseaza toti parametrii continuti. In finalul procedurii se
inchide referinta catre fisierul de parametri, eliberandu-se astfel restrictiile asupra
acestuia.

Modulul de vizualizare al formelor de unda

Fisier: Waveform_Display.vi
Functie: permite vizualizarea fisierelor de tip forma de unda




70
- Descriere generala

Modulul Waveform Display poate fi apelat din Database Handle sau independent.
Acest modul citeste un fisier de tip waveform si afiseaza in graficul existent formele de
unda gasite in fisier. Fisierul care contine formele este in format CSV.

- Panoul principal

Panul principal al acestui modul contine un control de tip referinta la fisier, un
indicator de tip grafic de forma de unda si un buton. Controlul de tip referinta la fisier se
foloseste pentru indicarea pozitiei pe disc a fisierului de forma de unda iar indicatorul de
tip grafic afiseaza forma de unda. Butonul declanseaza reactualizarea graficului. Aspectul
panoului principal este prezentat in figura 3.16.


71
[Fig. 3.16] Panoul principal al modulului de vizualizare de forma de unda

- Elementele panoului principal

Waveform File: Acest control memoreaza calea absoluta a fisierului de
forma de unda.



Refresh: Butonul Refresh declanseaza citirea formelor de unda din
fisier si afisarea lor in indicatorul grafic.



Waveform Graph: Acest indicator afiseaza forma/formele de unda gasite in
fisier. Este compus din suprafata de afisare si paleta
controlului.

72


Paleta graficului care se poate gasi in partea din stanga-jos
a indicatorului, are trei butoane si se foloseste pentru
evidentierea mai buna a anumitor zone din forma de unda.
Butonul deplaseaza un cursor pe graficul existent.
Butonul deplaseaza graficul in fereastra de vizualizare.
Butonul declanseaza un meniu de vizualizare avansata
asupra graficului. Aspectul acestui meniul este prezentat in
figura 3.17.


[Fig. 3.17] Paleta graficului

Functiile butoanelor din meniul de zoom sunt urmatoarele:
73

- mareste o anumita portiune din grafic, definita de
un dreptunghi desenat de catre utilizator
- mareste o anumita zona determinata de marcarea
unei anumite distante pe axa orizontala
- mareste o anumita zona determinata de marcarea
unei anumite distante pe axa verticala
- mareste graficul astfel incat acesta sa se incadreze
in suprafata de afisare
- mareste graficul cu un numar fix de procente
- micsoreaza graficul cu un numar fix de procente

Meniul contextual(figura 3.18) contine optiuni pentru
controlarea proprietatilor axelor de coordonate si a
graficului.


[Fig. 3.18] Meniu contextual

Detalierea optiunilor se va face in cele ce urmeaza:
74

Copy Data - copiaza in memorie imaginea
suprafetei de afisare
Description and Tip - deschide o fereastra care contine
informatii utile despre indicatorul grafic
Visible Items - deschide un meniu care contine
toate elementele care pot fi activate sau
dezactivate
Clear Graph - elimina toate formele de unda din
indicator
Clear Annotation - deschide o fereastra care
administreaza notatiile facute pe graficele
existente
Delete All Annotations eliminta toate notatiile existente
Autoscale X - activeaza/dezactiveaza autoscalarea
pe axa X(abscisa)
Autoscale Y - activeaza/dezactiveaza autoscalarea
pe axa Y(ordonata)
Smooth Updates - activeaza/dezactiveaza
reactualizarea moderata
Igonore Time Stamp - activeaza/dezactiveaza ingnorarea
etichetelor temporale
Ignore Atributes - activeaza/ dezactiveaza ingnorarea
atributelor

Submeniul Visible Items(figura 3.19) activeaza sau
dezactiveaza urmatoarele proprietati ale indicatorului
grafic: legenda graficului, legenda axelor de coordonate,
paleta indicatorului grafic, legenda cursoarelor, bara de
derulare pentru axa X, bara de derulare pe axa Y si eticheta
unitatii de masura.
75


[Fig. 3.19] Meniul obiectelor vizibile

- Modul de folosire

Acest modul se poate fi apelat din cadrul modulului Database handle sau
independent. Dupa lansarea in executie a acestui modul, trebuie selectata calea
fisierului de forma de unda. Acesta operatie se poate face apasand butonul din dreapta
campului din cadrul controlului de tip referinta la fisier(fig. Wd2). Acesta deschide o
fereastra in care se selecteaza fisierul dorit si se apasa butonul open. Urmatoarea
operatie este actualizarea graficului si se poate realiza prin apasarea butonului
Refresh(fig. Wd3). Dupa incarcarea formelor de unda in grafic se pot schimba
anumite proprietati din meniul contextual(fig. 3.18) atasat graficului. Meniul poate fi
apelat plasand mouse-ul deasupra controlului si apasand butonul drept. Cel mai
important meniu este meniul din dreapta sus al controlului si anume paleta
controlului(se observa in figura Wd4). Acesta are optiune de vizualizare avansata a
formelor de unda ca de exemplu, marirea formei de unda, deplasarea ei sau plasarea
unor cursori pe aceasta.

- Structura interna

Structura interna a acestui modul este foarte asemanatoare cu cea a modulului de
vizualizare al parametrilor. Este compus dintr-o bucla care verifica starea butonului
Refresh(fig. Wd3). Cand se detecteaza apasarea acestui buton, se executa o procedura
care reactualizeaza indicatorul grafic(fig. Wd4). In interiorul acestei proceduri se
76
deschide fisierul de forma de unda si se citesc informatiile din acesta. Formele de unda
citite sunt asociate graficului iar ceilalti parametri cititi sunt atribuiti proprietatilor
graficului.
77

IV. Rezultatele experimentelor

Cu ajutorul programului si sistemului de testare s-au caracterizat 10 chip-ul o
singura data, iar 4 dintre acestea au fost caracterizare de inca 9 ori. Rezultatele au fost
stocate in baza de date si au fost analizate pentru tragerea unor conluzii asupra lor.
Caracteristicile obtinute pentru anumite chip-uri au fost compilate intr-o serie de grafice.
In figura 4.1 sunt afisate caracteristicile in frecventa corespunzatoare frecventei
de taiere de 2.3MHz pentru chip-ul 4 pentru 10 caracterizari independente. Se observa
faptul ca intre caracteristicile afisate exista o mica diferenta. Frecventa de taiere se
pastreaza undeva in vecinatate frecventei de 2.3 MHz.

Chip4 - Gama 1 Frecventa de taiere 2.3MHz
-45
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
5
1.0E+06 1.2E+06 1.5E+06 1.9E+06 2.3E+06 2.9E+06 3.6E+06 4.4E+06 5.5E+06 6.8E+06
Ft[Hz]
G
[
d
B
]
)
Executie 1
Executie 2
Executie 3
Executie 4
Executie 5
Executie 6
Executie 7
Executie 8
Executie 9
Executie 10

[Fig. 4.1] Caracteristicile in frecventa pentru chip-ul 4 corespunzatoare la 10 executii

Figura 4.2 prezinta caracteristicile in frecventa ale celor 10 chip-uri masurate
pentru aceeasi frecventa de taiere de 2.6 MHZ in interiorul primei game. Se observa in
aceasta figura faptul ca atat frecventa de taiere cat si caracteristicile in frecventa sunt mai
departate de valoarea medie spre deosebire de caracteristicile masurate in cazul unui
78
singur chip. In cazul chip-ului numarul 6 se observa un zgomot accentuat pe
caracteristica de frecventa. Acesta poate fi datorat aparitiei unor oscilatii in interiorul
chip-ului sau datorita unei surse de zgomot externe.
Toate chip-urile - Gama 1, Frecventa de taiere 2.63MHz
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
5
9.1E+05 1.2E+06 1.5E+06 2.0E+06 2.6E+06 3.4E+06 4.5E+06 5.8E+06 7.6E+06
Ft[Hz]
G
[
d
B
]
(
Chip 4
Chip 5
Chip 6
Chip 7
Chip 21
Chip 24
Chip 2
Chip 25
Chip 26
Chip 27

[Fig. 4.2] Caracteristicile in frecventa pentru toate chip-urile la frecventa de taiere
2.6MHz

In figura 4.3 sunt prezentate caracteristicile in frecventa ale filtrului
corespunzatoare setarii de mijloc(setarea 64) pentru fiecare din gamele: gama 1, gama 2
si gama 3. Aceasta caracterizare a fost aplicata chip-ului cu numarul 4. Freventele de
taiere corespunzatoare setarii 64 in cele trei game sunt de 2.3 Mhz, 4.5 MHz si 9.1MHz.
Se poate face observatia ca aliura caracteristicilor pentru setari de frecventa de taiere
departate, difera semnificativ. Se poate observa, de asemenea, o neregularitate in
caracteristica osociata gamei 3 pentru frecvente mai ridicate.

79
Chip 4 - Frecvente de taiere 2.37MHz, 4.58MHz, 9.18MHz
-45
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
5
0.0E+00 5.0E+06 1.0E+07 1.5E+07 2.0E+07 2.5E+07 3.0E+07 3.5E+07
Ft[MHz]
G
[
d
B
]
(
Gama 1
Gama 2
Gama 3

[Fig. 4.3] Caracteristicile in frecventa ale chip-ului 4 pentru frecventele 2.3MHz,
4.5MHz, 9.1Mhz

Variatia frecventei de taiere in raport cu modificarea frecventei de taiere setate
pentru cele 4 game este afisata in figura 4.4. Caracterizarea a fost efectuata pentru un
chip si au fost parcurse toate setarile din interioril tuturor gamelor. Caracteristica gamei
numarul 4 are o comportare atipica in raport cu celelalte 3 caracteristici care cresc liniar.
Gama 4 prezinta o limitare a frecventelor de taiere masurate pentru ultimele 10 setari.
Acest fapt se datoreaza limitarii superioare in frecventa a sistemului de testare. O alta
observatie necesara asupra acestei figuri este cresterea neliniara a caracteristicii
corespunzatoare gamei 4 pentru setarile cuprinse intre 100 si 115. Acest lucru se
datoareaza unei erori in proiectarea filtrului.
80

Chip 4
0
10
20
30
40
50
60
0 8 16 24 32 40 48 56 64 72 80 88 96 104 112 120
Setare
F
t
[
M
H
z
]
(
Gama 1
Gama 2
Gama 3
Gama 4
128

[Fig 4.4] Caracteristica frecventelor de taiere masurate in raport cu setarile facute pentru
toate cele 4 game

Datele obtinute in urma mosuratorilor au fost aranjate in doua tabele si asupra lor
s-au efectuat cateva calcule pentru obtinerea unor date statistice.
In tabelul din figura 4.5 sunt afisate datele statistice obtinute prin prelucrarea
datelor corespunzatoare chip-urilor C4, C5, C6 si C7 caracterizate de cate 10 ori. Acest
tabel prezinta media patratica(RMS) si deviatia standard(STD) corespunzatoare setarii
minime si setarii maxime in interiorul fiecarei game. Se observa faptul ca valorile
deviatiei standard corespunzatoare unei setari de frecventa sunt aproximativ egale.






81
C4 C5 C6 C7
RMS STD RMS STD RMS STD RMS STD
Fmin 0.934 0.004 1.015 0.005 1.053 0.005 0.970 0.005 Gama
1
Fmax 3.559 0.005 3.771 0.025 3.845 0.020 3.653 0.034
Fmin 1.863 0.006 2.018 0.009 2.090 0.009 1.927 0.010 Gama
2
FMax 6.721 0.009 7.101 0.046 7.258 0.035 6.893 0.040
Fmin 3.797 0.015 4.101 0.016 4.249 0.017 3.923 0.018 Gama
3
FMax 13.312 0.020 14.121 0.080 14.467 0.060 13.633 0.078
Fmin 7.693 0.030 8.314 0.034 8.631 0.036 7.944 0.038 Gama
4
FMax 58.082 5.146 53.944 2.290 55.093 2.106 55.486 6.252
[Fig. 4.5] Valorile mediei patratice si deviatiei standard pentru C4, C5, C6, C7
corespunzatoare frecventelor minima si maxima pentru fiecare gama


Tabelul din figura 4.6 prezinta valorile masurate ale frecventei de taiere pentru
setarea minima si setarea maxima pentru fiecare gama, pentru toate chip-urile masurate.
In cazul chip-urilor C4, C5, C6, C7 valorile afisate sunt mediile patratice calculate pe
datele obtinute in urma celor 10 caracterizari. S-au calculat media patratica si deviatia
standard pentru fiecare linie si s-au afisat in zona din dreapta a tabelului. Comparand
varorile pentru frecventele de taiere corespunzatoare fiecarui chip cu valorile medii si
deviatiile fata de aceasta s-a constatat ca chipul C24 are deviatia cea mai mare fata de
valoarea media. De asemenea, se poate oberca ca pentru frecventa de taiere minima si
maxima setata in cadrul gamei 3, masurarea acesteia nu s-a putut face pentru chip-ul C27.
Astfel, acesta a fost declarat ca defect.






82
C4 C5 C6 C7 C21 C24 C25 C26 C27 C34 RMS STD
Fmin 0.93 1.02 1.05 0.97 0.97 1.11 0.95 1.06 1.05 0.99 1.01 0.06
Gama
1
Fmax 3.56 3.77 3.85 3.65 3.65 3.82 3.55 3.74 3.62 3.66 3.69 0.10
Fmin 1.86 2.02 2.09 1.93 1.93 2.20 1.88 2.11 2.11 1.96 2.01 0.11
Gama
2
FMax 6.72 7.10 7.26 6.89 6.87 7.21 6.69 7.04 6.94 6.87 6.96 0.19
Fmin 3.80 4.10 4.25 3.92 3.93 4.47 3.81 4.28 defect 3.99 4.07 0.23
Gama
3
FMax 13.31 14.12 14.47 13.63 13.63 14.44 13.24 14.05 defect 13.67 13.85 0.45
Fmin 7.69 8.31 8.63 7.94 7.96 9.05 7.73 8.69 8.70 8.12 8.29 0.47
Gama
4
FMax 58.08 53.94 55.09 55.49 61.01 59.65 60.63 59.70 61.05 60.64 58.58 2.71
[Fig. 4.6] Frecventele de taiere masurate pentru toate chip-urile corespunzatoate
frecventelor minime si maxime din fiecare gama
83

V. Concluzii

In concluzie, s-a efectuat caracterizarea semiautomata a unui filtru trece-jos cu
frecventa de taiere programabila. Filtrul testat este un filtru trece-jos de tip Bessel de
ordinul 5 cu frecventa de taiere programabila pe 9 biti. Doi dintre cei 9 biti sunt folositi
pentru definirea a 4 game: Gama 1: 0.85 MHz 4.63 MHz, Gama 2: 1.66 MHz 9.10
MHz, Gama 3: 3.37 MHz 18.88 MHz, Gama 4: 6.95 MHz 40.85 MHz, in interiorul
unei game setarea facandu-se liniar in 128 de valori. Caracterizarea s-a executat din
punctul de vedere al castigului in banda si al frecventei de taiere.
Pentru realizarea acestui lucru s-a proiectat si executat un program de testare
format dintr-un modul de test si module de vizualizare a rezultatelor si interactiune cu
baza de date. Ca suport, s-a folosit un sistem de testare format din patru componente
principale: placa de test, instrumentul de masura(analizorul de retea), modul de relee si
calculatorul.
Au fost testate un set de 10 chip-uri dintre care 4 chip-uri au fost testate in-
extenso(de inca 9 ori). In urma trasarii caracteristicilor in frecventa pentru toate chip-urile
testate s-au extras mai multe concluzii cu privire la aliura acestor caracteristici. S-a
constatat faptul ca pentru masuratorile pe acelasi chip si pentru aceeasi frecventa de
taiere, caracteristicile in frecventa variaza foarte putin de la o masuratoare la alta. In cazul
caracteristicilor extrase de la diferite chip-uri pentru aceeasi frecventa de taiere, se
observa o variatie mai mare a acestora in comparatie cu caracteristicile obtinute pentru un
singur chip. S-a constatat, de asemenea, faptul ca sistemul de masura se limiteaza
superior pentru ultimele valori din gama 4 si ca exista o greseala de proiectare. Analizand
si informatiile din cele doua tabele s-a constatat faptul ca chip-ul numarul 27 este defect
iar cea mai mare deviatie a valorilor frecventei de taiere s-a gasit in cazul chip-ului
numarul 24.
84
Bibliografie


1. Manual de testare al ciruitelor VLSI
Essentials of Electronic Testing
2. Manualul de folosire al programului Labview 8.5
http://www.ni.com/pdf/manuals/373427c.pdf
3. Manualul de utilizare al instrumentului HP 4396B
http://www.valuetronics.com/vt/assets/pdfs/HP_4396B.pdf.
4. Manualul de utilizare al modulului de relee PXI 2593
ftp://ftp.ni.com/support/manuals/323461a.pdf.
5. Note de curs TDSCI
6. Note de curs IVSM
7. Note de curs MEE1,MEE2
8. Note de curs SCS1, SCS2