Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Rodica Stoian
Testare si Sisteme de Testare
Perspectiva asupra domeniului
1. Testare si Control de calitate
2. Standarde de calitate
3. Modificari echipamente si metode de test
1. Testare si Control de calitate
Definitions of testing on the Web:
the act of subjecting to experimental test in order to determine how well something works; "they agreed to
end the testing of atomic weapons"
examination: the act of giving students or candidates a test (as by questions) to determine what they know
or have learned
wordnetweb.princeton.edu/perl/webwn
System testing of software or hardware is testing conducted on a complete, integrated system to evaluate
the system's compliance with its specified requirements. ...
en.wikipedia.org/wiki/Functional_testing
Process of testing to verify that the functions of a system are present as specified. [B. Hetzel]
www.sqablogs.com/jstrazzere/46/A+Glossary+of+Testing+Terms.html
The part of security testing where the system's advertised security mechanisms are examined, under
operational conditions, for proper operation.
www.contentverification.com/glossary/f-j.html
Testing the features and operational behavior of a product to ensure they correspond to its specifications.
Testing that ignores the internal mechanism of a system or component and focuses solely on the outputs
generated in response to selected inputs and execution conditions.
mavericsys.blogspot.com/2007/11/software-testing-dictionary.html
SCOPUL TESTARII
Daca se proiecteaza, se fabrica si apoi se testeaza un produs, iar acesta nu trece testul, atunci trebuie sa existe
o cauza clara pentru esec:
(1) testul era incorect
(2) s-au facut greseli in procesul de fabricatie
(3) proiectul a fost gresit
(4) exista o problema cu specificatiile.
Orice poate sa mearga prost.
Rolul testarii este sa determine daca ceva nu a functionat corespunzator iar
rolul diagnosticarii este sa determine exact ce nu a functionat normal si unde trebuie modificat procesul.
De aceea corectitudinea si eficienta testarii este foarte importanta pentru produsele de calitate (sinonim pentru
produsele perfecte).
Daca procedura de testare este buna si produsul esueaza, atunci suspectam procesul de fabricatie, proiectul
sau specificatiile.
Testarea distributiva pe durata unui proces de realizare a unui produs surprinde cauzele producerii defectuase
imediat ce acestea devin active si inainte ca acestea sa produca mai multe pagube. O strategie de testare bine
gandita este cruciala pentru realizarea economica a produselor.
Beneficiile testarii sunt calitatea si economia.
Aceste doua atribute nu sunt independente si nici nu pot fi definite unul fara celalalt. Calitate inseamna
satisfacerea nevoilor utilizatorului la un cost minim.
2.Standarde de calitate
!954 Constientizarea calitatii ca obiectiv al managementului s-a facut in Japonia incepand cu 1954 si acesta
corelat cu valorificarea cu maxima eficienta a resurselor limitate si mai ales a celor social umane.
1960 Incepand din deceniul sase,la nivelul tuturor intreprinderilor si se poate spune fara a exagera la nivel
national in Japonia devenise clar ca pentru a asigura calitatea produselor si serviciilor sunt necesare:
- angajarea responsabilitatii fiecarui individ;
- efectuarea masuratorilor si testarilor de calitate in mod continuu
urmarindu-se orice proces ( productie, servicii, etc. ) pe intreg parcursul sau si nu numai in final;
- optimizara desfasurarii proceselor , calitatea functionarii facandu-se in mod gradat dar continuu;
- procesele sunt abordate in complexitatea lor ( aceasta insemnand si optimizarea implicarii factorului
uman).
Aplicarea in practica a acestui concept a stat la baza miracolului japonez la nivelul deceniului 7 din sec XX
1980 Zece ani mai tarziu asimilarea acestei uriase experiente de catre SUA si Comunitatea Europeana s-a
concretizat in elaborarea Standardelor de Calitate ISO 9000 in scopul alinierii si armonizarii la nivel mondial a
standardelor tehnice si comerciale.
Dupa publicarea in 1987 de catre ISO ( Organizatia Internationala de Standardizare) standardele ISO devin
modelul recunoscut international pentru dezvoltarea unui sistem documentat de calitate.
Un sistem de calitate reprezinta structura organizatorica, responsabilitatile, procesele si resursele necesare
implementarii managementului calitatii.
ISO 9000 este alcatuit din cateva standarde individuale, fiecare avand un scop precis.
ISO 9000 Indicatii de selectie si utilizare a standardelor de managemment si asigurare a calitatii furnizeaza
informatii despre modul de aplicare a standardelor ISO 9000.
ISO 9001 Model de asigurare a calitatii in proiectare, dezvoltare, productie, instalare si service este cel mai
cuprinzator model si acopera toate aspectele unei operatii, de la proiectare pana la service.
ISO 9002 Model de asigurare a calitatii in productie si instalare include prevederi rferitoare la productie si
instalare si toate elementele.
ISO 9003 Model de asigurare a calitatii in inspectia finala si testare, este standardul cel mai putin cuprinzator
dintre cele trei modele de asigurare a calitatii.
echipamentelor de masura si
Ca rezultat al adoptarii standardelor de calitate si al constientizarii faptului ca acesta este viitorul pentru mari
concernuri cum sunt PHILIPS si FLUKE (atestate ISO inca din 1991), incep sa-si modifice fundamental
productia de aparatura de masura si testare.(1992-1994)
In plus masuratorile trebuiesc documentate,aparatele de masura din sistem si din laboratoare trebuiesc etalonate
pentru a asigura trasabilitatea, metodele de masura trebuiesc validate, etc.
)DSWH 86)HGHUDO(QHUJ\0DQDJHPHQW3URJUDP
7LPSLL PRUWL QHSODQLILFDWLDSDUXWL FDXUPDUH DGHIHFWDULL XQXL
HFKLSDPHQW GXFODFUHWHUHDFRVWXULORU GHSURGXFWLHFX
GLQSUREOHPHOH HOHFWULFH FDUHDSDU SRWIL SUHYHQLWH FXR
LQWUHWLQHUH SODQLILFDWD
,QWUHWLQHUHD SUHGLFWLYD SHUPLWHHFRQRPLVLUHD DDSUR[ IDWD GH
LQWUHWLQHUHD UHDFWLYD
3
Intretinere
Instrumente utilizate in
functie de aplicatie
TENDINTA
&DPHUHGH7HUPRYL]LXQH
7HVWHUH XOWUDVRQLFH
$QDOL]RDUH 34
Cu 20 de ani in urma...
,QWHUHVXO SHQWUXSUHYHQLUH HUDPLF LDU
FHULQWD IXQGDPHQWDOD HUDDVLJXUDUHD
FHULQWHORU GHED]D ODXQFRVWPLQLP
Predictiva
Astazi
Preventiva
Reactiva
$QDOL]RDUH 34
7HUPRPHWUH ,5
7HVWHUH 0
7HVWHUH GHUHWHD
2VFLORVFRDSH
&DOLEUDWRDUH GHEXFOD
&OHVWL GHFXUHQW
0XOWLPHWUH
7HVWHUH VLPSOH
&RVW
Intretinere Preventiva
5HSDUDWLL ODLQWHUYDOH
UHJXODWH
&RVW
Intretinere Predictiva
3UREOHPHOH VXQW
GHWHFWDWH LQDLQWH GH
GHIHFWDUHD SURJQR]DWD
,QWUHWLQHUHD HVWH
SODQLILFDWD LQDYDQV
7LPS
7LPS
&RVW
7LPS
Intretinerea
Intretinereareactiva
reactiva
'HIHFWDUL
'HIHFWDULVHFXQGDUH
VHFXQGDUH
5LVFXUL
5LVFXULSULYLQGSURWHFWLD
SULYLQGSURWHFWLDPXQFLL
PXQFLL
,QWUHWLQHUH
,QWUHWLQHUHQHSODQLILFDWD
QHSODQLILFDWD
7LPSL
7LPSLPRUWL
PRUWLQHSODQLILFDWL
QHSODQLILFDWL
3LHUGHUL
3LHUGHULGHSURGXFWLH
GHSURGXFWLH
%UHDNGRZQ
&RVW
7LPS
,QWUHWLQHUH
,QWUHWLQHUHSODQLILFDWD
SODQLILFDWDSHULRGLFD
SHULRGLFD
5HSDUDWLL
5HSDUDWLLFDSLWDOH
FDSLWDOHPDLIUHFYHQWH
PDLIUHFYHQWH
(FKLSDPHQWH
(FKLSDPHQWHGHFDOLWDWH
GHFDOLWDWH
5LVF
5LVFGHGHIHFWDUH
GHGHIHFWDUHSUHPDWXUD
SUHPDWXUD
Nu se
recomanda
pentru
echipamente
critice
&RVW
7LPS
Recomandata
pentru
echipamente
critice
&RVW
7LPH
Intretinerea
Intretinereapredictiva
predictiva
3H
3HED]D
ED]DGHVWDUL
GHVWDUL
0RQLWRUL]DUHD
0RQLWRUL]DUHDVWDULL
VWDULL
HFKLSDPHQWHORU
HFKLSDPHQWHORU
3URJQR]DUHD
3URJQR]DUHDPRPHQWXOXL
PRPHQWXOXL
GHIHFWDULL
GHIHFWDULL
,QWUHWLQHUH
,QWUHWLQHUHSODQLILFDWD
SODQLILFDWD
5HSDUDUHD
5HSDUDUHDHFKLSDPHQWHORU
HFKLSDPHQWHORU
GRDU
FDQG
HVWHQHYRLH
GRDU FDQG HVWHQHYRLH
,QWHUYDOPDULW
,QWHUYDOPDULWLQWUH
LQWUHUHSDUDWLL
UHSDUDWLL
SHUIRUPDQWD
VLVLJXUDQWD
SHUIRUPDQWD VLVLJXUDQWDLQ
LQ
IXQFWLRQDUH
IXQFWLRQDUH
zz 3URWHFWLD
3URWHFWLDPXQFLL
PXQFLLVSRULWD
VSRULWD
zz &DOLWDWH
&DOLWDWHPDLEXQD
PDLEXQDDSURGXFWLHL
DSURGXFWLHL
zz 3URWHFWLD
3URWHFWLDPHGLXOXL
PHGLXOXL
zz 'XUDWDGHYLDWD
'XUDWDGHYLDWDD
D
HFKLSDPHQWHORUPDLPDUH
HFKLSDPHQWHORUPDLPDUH
zz (ILFLHQWD
(ILFLHQWDHFRQRPLFD
HFRQRPLFDVSRULWD
VSRULWD8
zz
2. Testarea predictiva
2. Testarea predictiva
Testarea predictiva compara tendintele parametrilor
masurati cu limitele de functionare ale echipamentelor cu
scopul detectarii, analizarii si corectarii problemelor
inaintea aparitiei defectelor.
$OWIHO VSXV
6HWUHFH GHOD GDFD QXHVWULFDW QXVHUHSDUD
OD VHUHSDUD LQDLQWH VDVHVWULFH
7HVWDUHD SUHGLFWLYD
(FRQRPLVHVWH HQHUJLH VLUHVXUVH
(FRQRPLVHVWH DVLJXUDUL
&UHVWH GXUDWD GHYLDWD
10
2. Testarea predictiva
&LFOXO GHPRQLWRUL]DUH DVWDULL
2. Testarea predictiva
7HVWDUH GHFL]LH GHWLSAdmis / Respins DVXSUD IXQFWLRQDULL
XQXL HFKLSDPHQW
9DORDUHSDUDPHWUXPRQLWRUL]DW
/LPLWD GHIXQFWLRQDUH
/LPLWD GHLQWHUYHQWLH
7LPS
12
2. Testarea predictiva
7HVWDUH SUHGLFWLYD GHFL]LH DVXSUD QHFHVLWDWLL LQWHUYHQWLHL
ODQLYHOXO XQXL HFKLSDPHQW LQDLQWH GHRGHIHFWDUH
SURJQR]DWD
9DORDUHSDUDPHWUXPRQLWRUL]DW
/LPLWD GHLQWHUYHQWLH
7LPS
13
14
'HIHFWUL WLPSXULL
'HIHFWUL DOHDWRDUH
7LPSXOGHYLDDOHFKLSDPHQWXOXL $QL
1
6ROXWLL
7HVWDUHD SUHGLFWLYD SHQWUX
HYLGHQWLHUHD JUHVHOLORU ODLQVWDODUH
1
6ROXWLL
,QORFXLUHD PHQWHQDQWHL UHDFWLYHFX
WHVWDUHD SUHGLFWLYD
6ROXWLL
0RQLWRUL]DUHD VWDULL HFKLSDPHQWHORU
5DFLUHD VXSOLPHQWDUD
0LFVRUDUHD VDUFLQLL XWLOH
1
. 3URFHGXULGHtestarHpredictivD
. 3URFHGXULGHtestarHpredictivD
3URFHGXUL SHQWUX WHVWDUHD SUHGLFWLYD
0DVXUDUL LQLQIUDURVX ,5SULQ WHKQLFL GHWHUPRYL]LXQH
$QDOL]D FDOLWDWLL HQHUJLHL HOHFWULFH
8QGH VHSRWDSOLFD"
2
. 3URFHGXULGHtestarHpredictivD
7HUPRYL]LXQHD
0XOWHGHIHFWHGHWHUPLQDFUHVWHUHDWHPSHUDWXULL
,PDJLQHDWHUPLFDSRDWHLQGLFDRSRVLELODSUREOHPD
WHPSHUDWXUDFUHVFXWDGLIHUHQWDPDUHGHWHPSHUDWXUD
Imaginea termica poate fi facuta in timp ce echipamentul functioneaza
IDUDFRQWDFW
GHODGLVWDQWD
2ULFLQHSRDWHOXDRLPDJLQH
WHUPLFD
$QDOL]DDFHVWRUDQHFHVLWD
FXQRVWLQWHGHVSUHSULQFLSLXO
PDVXUDULLLQLQIUDURVX,5
2
. 3URFHGXULGHtestarHpredictivD
$QDOL]DFDOLWDWLLHQHUJLHLHOHFWULFH
(IHFWHOHDOLPHQWDULLFXHQHUJLH
HOHFWULFDGHSURDVWDFDOLWDWHQX
VXQWHYLGHQWHLPHGLDW
&DOLWDWHDVODEDDHQHUJLHLSRDWH
DYHDRPXOWLWXGLQHGHFDX]H
&RQVHFLQWHOHSRWILIRDUWHVHYHUH
SLHUGHULLQSURGXFWLH
3UREOHPDFDOLWDWLLHQHUJLHLSRDWHIL
IDFWRUGHWHUPLQDQWSHQWUX
)XQFWLRQDUHGHIHFWXRDVD
'HFXSODUL
&RVWXULH[FHVLYHSHQWUXHQHUJLH
0LFVRUDUHDYLHWLLHFKLSDPHQWXOXL
2
Cuprins
1. Masurari in infrarosu (IR)
2. Notiuni de termoviziune
3. Aplicatii ale termoviziunii
3.1. Aplicatii: Instalatii electrice
3.2. Aplicatii: Echipamente electrice
3.3. Aplicatii: Sisteme mecanice
3.4. Aplicatii: Sisteme distributie abur
3.5. Aplicatii: Constructii
3.6. Aplicatii: Placi de circuite imprimate
Masurari la distanta
Contact periculos (sisteme electrice)
Dificil de atins (sisteme HVAC)
Obiecte in miscare (Viteza < 500ms)
Masurari cantitative
Necesita radiometrie (citirea
temperaturii)
Posibilitatea de comparare in vederea
stabilirii unor limite
Evidentiaza chiar variatii minore
Masurarea se face in conditii cunoscute
(sarcina, conditii atmosferice)
2. Notiuni de termoviziune
2. Notiuni de termoviziune
Moduri de transfer a caldurii
Conductie (solide)
Convectie (fluide)
Radiatie
2. Notiuni de termoviziune
Convectia depinde de:
2. Notiuni de termoviziune
Radiatia
Poate avea loc in vid
Toate solidele si lichidelor radiaza energie (caldura) spre mediul
inconjurator
Se petrece cu viteza luminii
Transmisie
(T)
Absorbtie (A)
si emisie ()
Sursa de
temperatura
Reflexie (R)
10
2. Notiuni de termoviziune
Radiatia corpului negru functie de
Lungimea de unda & Temperatura
1 10
1 10
1 10
1 10
1 10
1 10
1 10
SUN
2000C
5
1000C
500C
200C
100
25C
10
0.1
10
100
WAVELENGTH (um)
11
2. Notiuni de termoviziune
Spectrul electromagnetic
Gamma raze X
UV
Vizibil
Termic
.7
Radio
Long
Wave IR
Short
Near IR Wave IR
.4
Microunde
15
Lungimea de unda in m
Camerele de termoviziune si termometrele IR lucreaza in domeniul 8-14 m
12
2. Notiuni de termoviziune
Transmisivitatea pentru o distanta de 1 m aer la 32 C si
75% umiditate
2. Notiuni de termoviziune
Emisivitatea arata eficienta unui material de a emite
radiatie IR
Emisivitatea () ia valori in intervalul [ 0,1 ]
R+A+T=1
pentru materiale cu T=0 R + A = 1
si cum A =
R = Reflexie
rezulta + R = 1
A = Absorbtie / emisie
T = Transmisie
1
2. Notiuni de termoviziune
Paleta de culori a camerei de termoviziune Fluke Ti30
Curcubeu
Ironbow
Gri
1
2. Notiuni de termoviziune
Un exemplu practic...
Pot vedea un punct fierbinte
Dar nu-l pot masura
1
Aplicatii de proces
Sisteme distributie abur
Instalatii de incalzire (constructii)
Echipamente electronice (PCB-uri)
1
Temperatura ~ P = R x I
P = puterea electrica in W,
R = rezistenta de contact in Ohm,
I = curentul in A,
L1-L3 = fazele AC
21
26
3
27%
1
54%
1
2
3
2
19%
28
Motoare electrice:
Identificarea starii cuplajelor
mecanice, bobinajului, conexiunilor etc.
29
30
32
33
34
36
37
38
Solutie
utilizati o plasa metalica in loc
de capac plin
39
50%
75%
88%
Nota:
Nota Temperatura carcasei este uzual mai mica cu 10C decat temperatura infasurarilor!
40
46
Verificarea izolarii
Localizarea scurgerilor de aer
Verificari structurale
Infiltrarea umiditatii
Detectarea mucegaiului
49
51
52
54
Efectuati
instantanee noi
si comparati
pentru a vedea
daca compozitia,
distanta sunt la
fel
Descarcati informatiile noi in PC
55
56
57
Standardul este un document, stabilit prin consens i aprobat de ctre un organism recunoscut,
care asigur, pentru uz comun i repetat, reguli, linii directoare sau caracteristici pentru activiti sau
rezultatelor lor, cu scopul de a se obine gradul optim de ordine ntr-un anumit context.
Ca regul general, standardele nu sunt obligatorii, acestea avnd o aplicare voluntar. n anumite
cazuri, implementarea poate fi obligatorie (cum ar fi n domeniile legate de securitate, instalaii electrice
sau n contracte publice).
Standardul este o oper colectiv. Includerea unui standard naional n programul naional de
standardizare i elaborarea acestuia se face sub autoritatea organismului naional de standardizare, care
l i public. Prin umare, standardul naional este o oper protejat nc din faza de proiect, dreptul de
autor aparinnd organismului naional de standardizare.
1. Standarde internaionale
Din faza de proiect n cadrul comitetului tehnic, standardele internaionale sunt protejate prin drept
de autor, aparinnd organismelor internaionale de standardizare. Exploatarea drepturilor de autor este n
mod automat transferat ctre organismele naionale de standardizare, membre ale ISO (International
Standardization Organization) i IEC (International Electrotechnical Commision), pentru elaborarea
standardelor naionale. Organismul naional de standardizare este obligat s ia toate msurile care se
impun pentru a asigura protecia proprietii intelectuale a ISO i IEC pe teritoriul naional. Fiecare
proiect de standard internaional i fiecare standard internaional publicat poart meniunea de
exploatare a drepturilor de autor, constnd n simbolul internaional al dreptului de autor, numele
editorului i anul publicrii.
IEC 61010 (2002), Reguli de securitate pentru echipamente electrice de msurare, de control i
3. Sisteme electrice
Un sistem electric const dintr-o surs de energie electric, o instalaie de transport i un
consumator.
Standardul IEC 60364 clasific sistemele electrice de joas tensiune (<1000Vca) n funcie de
legtura ctre Pmnt (mpmntare) a sursei de energie i a consumatorului n:
sistemul TT: mpmntarea consumatorului se realizeaz local i independent de orice
a) sistemul TT
b) sistemul TN
c) sistemul IT
Eroare de
msur
-
EN 61557-3
30%
RLO
EN 61557-4
30%
RE
EN 61557-5
In
EN 61557-6
EN 61557-6
EN 61557-7
1:2:3
Parametru
Notaie
Standard
Tensiunea nominal
Frecvena nominal
UN
fN
EN 61557-1
EN 61557-1
Rezistena de izolaie
RISO
EN 61557-2
Zl
Impedana buclei de
mpmntare
Rezistena prizei de
pmnt
Rezistena circuitului
de mpmntare
Curentul de
declanare al RCDTimpul urilor
de declanare
al RCD-urilor
Succesiunea fazelor
4
1*
10, 30, 100,
300, 500mA
30%
30%
10%
Condiii de test
UN = 500Vdc
UN = 1000Vdc
4Vdc < UO < 24Vdc
IN 200mA
f = 128Hz
*Sisteme de
comunicaii
In = 10, 30, 100,
300, 500, 1000mA
-
Standardul IEC 61010 precizeaz categoriile de instrumente de msur utilizate n diverse etape
de testare ale unei instalaii electrice. Categoriile de msurare ale supratensiunilor care pot apare ntr-o
instalaie electric sunt deduse pe baza distanei dintre punctul de msur i reeaua de alimentare, vezi
Tabelul 2. Categoria cea mai mare este cea mai aproape de reeaua de alimentare i necesit cea mai
mare protecie.
Tabelul 2. Categorii de instrumente de msur.
Categoria
CAT I
CAT II
CAT III
CAT IV
Descriere
Echipamente care nu se conecteaz direct la
reeaua de alimentare, ci prin intermediul
unei surse de alimentare
Exemple
echipamente electronice
portabile, router wireless, telefon
mobil, laptop
n cadrul fiecrei categorii, exist mai multe valori maxime de tensiune fa de pmnt: 1000V,
600V, 300V, etc. De exemplu, un multimetru din CAT III 600V este testat cu o supratensiune vrf-lavrf tranzitorie de 6000V, n timp ce un multimetru CAT III 1000V sau CAT IV 600V este testat la
8000V.
n timpul testrii instalaiei, bunele practici inginereti ne impun s asigurm toate msurile de
prevenire a ocului electric i o bun rezisten de izolaie, astfel nct testarea s nu pun n pericol
persoanele sau animalele i s nu provoace daune echipamentelor i cldirii, chiar dac instalaia testat
este defect. Persoana care testeaz instalaia trebuie s fie calificat i competent, fiind pe deplin
responsabil pentru pregtirea instalaiei nainte de testare, pentru efectuarea testelor, ct i pentru
evaluarea corect a rezultatelor. O persoan poate fi considerat a fi competent pentru a testa instalaiile
electrice conform IEC 60364 doar cu pregtire, experien, haine de protecie i unelte de msur
potrivite.
a) 1 electrod
c) plas
d) plac
Fig. 3. Tipuri de prize de pmnt
Rezistena de dispersie a unei prize de pmnt reprezint rezistena electric a solului ntre priza de
pmnt i zona de potenial nul (pmntul de referin).
Rezistivitatea medie a solului. la adncimea A se poate scrie ca:
=2AR, [ohmi/cm]
unde =3.1416, A este distana dintre electrozi n cm, iar R este valoarea rezistenei n ohmi msurat cu
aparatul de test. Astfel, rezistivitatea solului depinde de tipul solului i de tipul prizei de pmnt.
Rezistena prizei de pmnt este influenat de:
lungimea i adncimea de montare a electrodului. Lungimea minim a electrodului, n contact cu
solul, trebuie s fie de 2.5 metri;
diametrul electrodului, o dublare a diametrului electrodului poate duce la o scdere cu 10% a
rezistenei prizei;
numrul de electrozi;
tipul prizei de pmnt.
5.6.2 Metode de msur a rezistenei prizei de pmnt
Exist patru metode de testare a prizei de pmnt:
msurarea rezistivitii solului, utiliznd ruii, Fig. 4.a;
msurarea cderii de potenial, utiliznd ruii, Fig. 4.b;
metoda selectiv, utiliznd un clete i rui, Fig. 4.c;
metoda fr rui, utiliznd doi cleti, Fig. 4.d.
Rezistena de legare la pmnt este cel mai adesea msurat folosind metoda tehnic. Metoda este
descris n anexa B la standardul EN 60364-6. n aceast metod, sunt utilizai doi electrozi auxiliari.
Un electrod (H) permite injectarea unui flux de curent generat de instrument i cellalt electrod (S) este
utilizat pentru a msura cderea de tensiune n priza de pmnt testat.
l. Releu electronic
2.nfurare secundar
3.Transformator de curent
4. ntreruptor de test
L. Conductor de faz
N. Conductor de nul
de 30 mA fiind cea mai recomandat. La alimentarea czilor de baie jacuzzi, productorii impun
montarea de dispozitive difereniale de 10 mA.
timpul de declanare , care reprezint durata n care se realizeaz ntreruperea circuitului, uzual
fiind ntre 50 i 250 ms. Standardul IEC 60755 definete tipurile de dispozitive difereniale n
funcie de curentul rezidual, iar standardul IEC 61557 reglementeaz testarea parametrilor de lucru
ai dispozitivelor difereniale.
Testarea principal a dispozitivelor difereniale implic determinarea parametrilor de funcionare
prin introducerea unui curent de defect n circuit.
Cuprins
1. Calitatea energiei electrice
2. Probleme tipice la alimentare
2.1. Fluctuatii
2.2. Armonice
2.3. Nesimetrii
3. Aplicatii
3.1. Povestea unor conductori fierbinti
3.2. Povestea unui motor fierbinte
3.3. Povestea unei macarale
Pierderi in productie
Functionare defectuoasa
Decuplarea alimentarii echipamentelor
Costuri excesive pentru energie
Micsorarea duratei de viata a echipamentelor
2.1. Fluctuatii
11
2.1. Fluctuatii
Fluctuatiile sunt caracterizate de:
durata, amplitudine si momentul in care se produc
incep atunci cand pe una dintre faze tensiunea trece
sub / deasupra unui anumit prag
se termina atunci cand pe toate fazele tensiunea este
deasupra / sub pragul de histerezis
nivelurile si duratele sunt specificate de standardul EN 50160
Crestere
12
2.1. Fluctuatii
Monitorizarea fluctuatiilor cu analizorul Fluke 434
Graficele de evolutie ale
tensiunii de pe faze si nul
sunt inregistrate simultan
Pe curba de evolutie
cursorul arata un
eveniment anume
13
2.2. Armonice
14
2.2. Armonice
Energia este purtata de componente pe alte frecvente
decat frecventa fundamentala
Pot determina supraincalzirea conductoarelor neutre &
defectarea rapida a transformatoarelor
Pot fi minimizate prin introducerea
unor filtre pe circuitul de alimentare
15
2.2. Armonice
Armonicele sunt generate de sarcinile neliniare:
intrerupatoare de lumina cu reglarea intensitatii (dimmer)
balasturi electronice pentru lampi cu descarcare in gaz (neoane)
surse de alimentare pentru motoare electrice cu viteza variabila
surse de alimentare in comutatie (PC, echipamente de birou)
Etaj redresare
/ filtrare
Sarcina (sursa
in comutatie)
16
2.2. Armonice
Orice semnal se poate descompune in serie Fourier
Componenta fundamentala
Armonici
3
sin(x)+0.8*sin(3*x+3.6)+0.5*sin(5*x+0.6)+0.22*sin(7*x+3.8)
2
-1
-2
-3
0
3
t [msec]
17
2.2. Armonice
Componentele semnalului, afisate separat
1
sin(x)
0.8*sin(3*x+3.6)
0.5*sin(5*x+0.6)
0.22*sin(7*x+3.8)
0.8
0.6
Armonici
0.4
0.2
0
-0.2
-0.4
Componenta
fundamentala
-0.6
-0.8
-1
0
3
t [msec]
18
2.2. Armonice
Analiza FFT (Fast Fourier Transform) a formei de unda
Spectrul ne arata ce procent din fiecare armonica se
gaseste in forma de unda
Componenta fundamentala
Armonici
19
2.2. Armonice
Fluke 434 poate masura si afisa spectrul (armonicele) pentru:
tensiune
curent
putere
20
2.2. Armonice
Fiecare armonica are propriul semn
Armonicele de ordin par apar foarte rar in sistemele
energetice (atunci cand exista curent continuu)
Armonici
Frecventa
50 Hz
Secventa
100 Hz
150 Hz
200 Hz
250 Hz
300 Hz
350 Hz
Armonica de secventa 0
2.2. Armonice
00
Armonica a 3-a
Sisteme trifazice cu 4 conductoare (3
faze: A, B, C, nul: N)
00
00
00
0
00 0
100
200
100
200
300
400
00
00
In cazul fundamentalei, pe
conductorul de nul, curentii sunt
defazati la 120 si se anuleaza (0)
00
0
0
0
0
300
400
300
400
0
0 0
0
0
0
400
300
200
100
0
100 0
100
200
200
300
400
0 3x 0
22
2.3. Nesimetrii
23
2.3. Nesimetrii
Intr-un sistem de alimentare simetric, trifazat, sinusoidal,
cele trei tensiuni Va, Vb, Vc, relative la conductorul
neutru, sunt egale in amplitudine si sunt defazate una fata
de cealalta la 120.
Orice diferenta care exista in amplitudinea celor trei
tensiuni si / sau o diferenta de faza fata de 120 se spune
ca genereaza un sistem de alimentare nesimetric.
Vc
Vc
Vc
Va
Vb
Sistem simetric
Va
Vb
Va
Vb
Sistem nesimetric
24
2.3. Nesimetrii
Motoare trifazate
Cele mai uzuale sarcini din retelele electrice
O mica nesimetrie de tensiune provoaca o nesimetrie de curent
de cateva ori mai mare
2.3. Nesimetrii
Blocurile de redresare trifazice cu diode
In sistemele echilibrate, curentii pe linii sunt
impuls dublu pe semiperioada cu continut
cunoscut de armonice (5, 7, 11, 13, ...)
In sistemele nesimetrice, curenti vor tinde
catre impulsuri singulare pe semiperioada,
determinand:
aparitia armonicei a 3-a
declansarea sigurantelor automate datorita
curentilor prea mari pe anumite faze
scaderea tensiunii continue, dupa redresare
un stres termic suplimentar pentru diodele de
redresare si condensatorii de filtrare
26
2.3. Nesimetrii
Masurarea nesimetriilor se poate face cu
Fluke 434
Diagrama fazoriala ne da o indicatie
rapida despre relatia de simetrie /
nesimetrie intre faze
Ambele rapoarte negativ/pozitiv si
zero/pozitiv indica nesimetria
In acest exemplu:
nesimetria in tensiune este foarte mica
(0.1%)
nesimetria in curent este mare (18.9%)
27
3. Aplicatii
Folosirea analizoarelor PQ pentru gasirea
cauzei primare in mentenanta predictiva
28
29
Evolutie
curent
Curent de nul
32
35A
Armonica 3-a
10A
Fundamentala
Concluzie:
Cauza pentru supraincarcarea conductorului de nul este in mod clar
instalatia de incalzire care genereaza armonica a 3-a de valoare
mare
Cu cat nesimetria e mai mare, cu atat este necesara o monitorizare
pe durata mai lunga pentru a aprecia corect efectele
34
36
37
38
39
3.2. De retinut
Distorsiunile tensiunii (armonicele) pot cauza
supraincalziri ale motoarelor
Armonica a 5-a este problema cea mai mare deoarece
are secventa negativa
Cuplul determinat de armonica a 5-a tinde sa roteasca
motorul in sens invers (creste consumul, scade
randamentul motorului)
Un motor in sarcina nominala nu trebuie sa vada
distorsiuni (THDu) mai mari de 5%
40
Trebuie
Trebuieidentificata
identificata
sursa
de
sursa deflicker
flickersisi
recomandate
recomandateactiuni
actiuni
corective
corective!!
Macara
Macara
Locul
Loculinincare
carese
se
fac
masurarile
fac masurarile
42
43
Variatiile
Variatiilede
detensiune
tensiunesunt
suntintotdeauna
intotdeaunainindomeniul
domeniul+/-10%,
+/-10%,
dar
tensiunea
este
instabila!
dar tensiunea este instabila!
44
45
Valoarea
ValoareaPst
Pst(Pst
(Pst==valoarea
valoareape
pe10
10min)
min)aaflicker-ului
flicker-uluiaadepasit
depasit
limitele
limitelede
deluni
lunipana
panavineri.
vineri.In
Inweekend,
weekend,cand
candmacaraua
macarauanu
nu
lucreaza,
valorile
se
incadreaza
in
limitele
permise.
lucreaza, valorile se incadreaza in limitele permise.
Valoarea
Valoareapermisa
permisapentru
pentruPst
Psteste
este11
46
Flicker-ul
Flicker-ulexista
existadoar
doar
ininperioada
de
operare
perioada de operare
aamacaralei.
macaralei.
47
48
Macara
Macara
49
LH 1050/1060
Fluke 43B
Analyst
2060
Fluke
434/435
Pentru monitorizare PQ
Fluke
1735
VR101
VLogQ
Fluke
1743/1744
Fluke
1745
RPM Power
Recorder
Fluke
1760
51
434
Ti30
Ti20
52
Curs 6
MODUL/
Testare
in sens larg verificarea unor componente, ansambluri de circuite (placi), aparate (produs final)
pentru a vedea daca sunt sau nu in parametri.
"
Dupa 1990 implicatiile standardelor de calitate ISO au facut ca nici un proces de productie sa nu mai
poata fi realizat fara operatiunile de testare si calibrare.
De ce TESTARE ?
pentru a separa unitatile bune de cele defecte
pentru a localiza defectele si a repara unitatile defecte
pentru a urmari calitatea procesului
pentru a imbunartati procesul de fabricatie
pentru a creste profitul
Proces de testare:
1) verificarea de tip
. ~
~. r= testarea care nu face si diagnoza
.....
=>
=>
PASS
Detecie,
elif(linare . i
idcntificarede~ecte
-1-
ESTE BUN;
implica un proces de detectie,
identificare si eliminare a defectelor
(Troubleshooting).
Ulterior
se
introduce din nou in faza 1.
MODUL/
Testare
Asamblare plci
Testare plac
montat
Testare de
pcrfonnan1e
Asamblare final
Testare produs
final
Testare
Detecie,
izolare,
identificare
defecte
Subansamble
achiziionate
din
exterior
45 %
35 %
1O%
1O%
Distributia statistica a erorilor pentru un lot de placi testate (cu o rata a defectelor de 0.5%) este:
Numar defecte
Procentul placilor :
o
61.00 %
1
30.00 %
2
7.60 %
3
1.35 %
>4
0.05%
S-a utilizat distributia Poisson pentru a prevedea procentul asteptat de placi cu O, 1, 2, 3 defecte,
= e-x dx
x!
-2-
:., .. .-,
MODUL/
Costuri
500
.. . .
._
. . . ...
:: n
Testare
Testare
.so
.... . . ........ .
Exploatare
Produs
Testare
-- --..----....-,
final
Plci
Testare
C<>mponcnte
0.5
,r,
unitate
Exemplu: daca pentru 600 UUT s-au inregistrat 300 Defecte =>Rata defectelor= 50%
Randament
MODUL/
2.1. Anal~or de Defecte de Fabricatie - MDA Sistemul de analiza a defectelor de fabricatie foloseste un 'pad de cuie pentru accesul la nodurile de testare
a UUT. Testarea se efectueaza pasiv (nealimentat). MDA permite testarea nodurilor s1 masurarea
impedantelor la noduri, deci permite validarea nodurilor care sunt in parametri prestabiliti.
paca in toate nodurile de pe placa, valorile obtinute sunt corespunzatoare, placa este buna. Daca nu, se
elimina din circuitul de productie pentru depanare.
X 1.EAD
T l.EAD
MDA este o metoda rapida dar incompleta (nu permite identificarea componentelor defecte). Ca
performante, permite identificare a 80% din totalul defectelor ce apar in procesul de fabricatie al placilor.
E obligatoriu ca pe o linie de productie MDA sa fie urmata de procese mai complexe de testare.
Avantaje MDA :
tester rentabil al procesului de fabricatie
detecteaza si localizeaza defectele introduse in proces pe placa echipata
interfata cu placa testate prin "pat de cuie"
mascara caracteristicile elctrice intre nodurile circuitului fara a alimenta UUT
pregatire simpla si interactiva a testarii
localizeaza toate greselile generate de UUT intr-un singur pas.
De~avantaje
MDA :
pat de cuie special pentru fiecare tip de placa
nu activeaza placa in timpul testului
nu executa teste de functionalitate a componentelor active
nu executa teste functionale de operare a placii
-1-
MODUL/
2.2. Testare in--circuit - ICT Placa este prinsa tot pe un pad de cuie ce poate fi prevazut cu un dispozitiv pneumatic. Utilizarea ICT se
face tot in faza de echipare a placilor, in general dupa MDA, dar acum se face testarea activa a
componentelor de pe placa. Pentru a fi posibil acest lucru se foloseste tehnica gardarii.
X LEAD .
Y UAt>
ZJ.EAD
ICT va permite raportarea componentelor defecte (daca exista) si izolarea acestora. Operand dupa MDA,
aceasta tehnica permite acoperirea a 80% din defecte, nsa programarea testoarelor este dificila.
Procesul de testare in circuit ICT, detecteaza si localozeaza greselile in timpul procesului si presupune mai
intai testarea placilor pentru scurtcircuit si apoi masurarea separata a componentelor.
Avantajele teslarii in circuit:
izoleaza fiecare componenta pentru a-i masura valoarea sau performantele
poate localiza defecte multiple ntr-un singur pas
Dezavantaje teslarii in circuit:
pretul accesoriilor
timpul necesar pentru programare
necesita cel putin doi pasi daca geseste scurtcircuite
Nu executa teste functionale ale placii de circuit
Gardarea
Admitem ca se foloseste un voltmetru pentru masurarea rezistentelor dintr-o schema complexa. In
genere! valoarea indicata va fi mai mica decat valoarea reala, datorita celorlalte componente ce
apar n paralel. Gardarea e o tehnica folosita in testarea ICT care permite ca o componenta
analogica sa poata fi izolata de celelalte componente ce apar in circuit si ar putea afecta
masuratoarea.
-2-
Rodica Stoian - note de curs TST - an scalar 2007
MODUL/
cu gardre -
- .ftir gardare - .
Presupunem R1 = 6.62 kQ si admitem ca in locul lui R 3 s-a motat un rezistor de lkQ => Rl =
5,238 kQ in tehnica fara gardare (eroare >10% =>neacceptabil); Daca R 2 si R 3 au 9520, exista
posibilitatea sa se raporteze ca toate trei sunt defecte.
Tehnica gardarii este folosita astfel: circuitul are o sursa de curent conectata de Ia A Ia C. Se
foloseste un AO notat oc (numit amplificator de gardare) asupra caruia actioneaza tensiunea
furnizata de sursa de curent I astfel incat oc va asigura aceeasi tensiune n punctele A si B. Ca
urmare, prin R2 nu avem curent => R 1 nu va fi influentata nici de R 2 nici de R 3, iar masurarile
efectuate vor putea arata exact daca componenta este sau nu n parametri.
Comparatie intre metoda Analizorului de Defecte de Fabricatie (MDA) si metoda Teslarii in circuit (ICI) -
Programare:
Accesorii:
MDA
1-2 zile
nu necesita experienta
nu are sintaxa de programare
nu are restrictii de lungime a firelor
cablare aleatoare, fara depanare
fara cabluri de alimentare
ICT
2-12 saptamani
\
necesita experienta deosebita ~
modelare din partea clientului
depanare si reglare fina
fire torsadate, perechi scurte
terminatii, diafonie, reflexii
cabluri de alimentare
Dezavantaje:
timp mare de dezvoltare a programului de testare
Oprire pe prima eroare gasita (detecteaza o singura greseala odata)
Localizarea defectului consuma timp si capacitatea de diagnostic poate fi limitata
Pret mare de cumparare
-3-
MODUL I
Sistemul cantine o placa de referinta si UUT. Asupra ambelor se aplica intr-o succesiune prestabilita prin
program stimuli electrici.
Daca pe baza compararii rezultatelor masuratorilor aplicate succesiv in puncte similare de pe cele
doua UUT, se obtin rezultate identice, placa aflata sub test este declarata buna.
Daca apar rezultate diferite in puncte similare, sistemul de testare are doua optiuni:
\
a) raporteaza caderea placii de testat si termina testul;
~ ,
b) continua testul prin intrarea ntr-un algoritm de urmarire si identificare a elementelor
defectelor (ADS); ,
an
an
nn O
O
I
o
u
oa
011
an .
l'Illl.
AssnDX.'t tttr
Daca este utilizat un algoritm de identificare al erorilor, ST permite semnalizarea punctului care precede
punctul in care a fost localizata eroarea. Se face din nou verificarea intre punctele n si n-1 pe placa de
referinaa si UUT sau intre punctele n si n -2 placa de referinta si UUT , incercandu-se eliminarea
defectului. Daca nu se poate identifica acea componenta defecta, placa e declarata respinsa. Daca se poate
identifica si izola, procesul poate continua.
Acest tip de testare a fost foarte mult utilizata si a fost foarte ieftin pana la aparitia CI si a
microprocesoarelor. in acel moment, programele ce genereaza modul de efectuare a testarii prin
comparare cu o placa de referinta au devenit foarte complexe, greoaie si costisitoare . Astfel, aceasta
metoda nu se utilizeaza pentru CI. Eficienta: permite identificarea a 90% din defecte.
Testarea functionala poate fi aplicata pentru :
subansamble
ansamble finale
testare finala.
-4-
Rodica Stoian - note de curs TST - an scalar 2007
MODUL/
trece
UUT
nu trece
DEPANARE
REPARATIE
Avantajele compararii
-5-
MODUL/
sanv.u.E11onitt.
IYTIAt.m:n
t.. mvo:ru
stmn.uoa
.,.,. .O'""llt~""
SOFTWJ.l\E
.....,.__ __..........,.-__
.__u..._...___..._.__-fflltOD!:t
O't 1'ESPONn:S
1'CJ
.,
n.41-
..
~S'.El:BtYC.. ~T
Testarea emulativa :
Avantaje :
buna pentru teste de tipul TRECE I NU TRECE si pentru izolarea defectelor
simpla, accesorii ieftine
reduce mult efortul programarii pentru testul functional
Dezavantaje:
limitata pentru microprocesoare saau placi structurate pe Bus
necesita acces la soclul microprocesorului si/sau la soclul memoriei ROM
randament mediu
-6-
MODUL I
Rodica Stoian - note de curs TST - an scalar 2007
MODUL/
& TEST
FAIL
.A.pply Sl1mulus
Hesure Resl)onse
Com lire
0600
.oooo
-. . ~
- ,- -_ ,.
eeeeoOOOO O 00
OOC>Qpeeeo
-8-
Rodica Stoian - note de curs TST - an scalar 2007
MODUL I
. oao
ODo
00
1mm--=:=:1!GT4~JI
PASS
t::::::======:U
flKAL
ASSEN6LY
&
TEST
fAIL
-9-
Curs 7
-\ AEP
2-d\~~tS
MODUL I
..
Signal
Ma1uremanl
htllftulil
dolc$
sources
luuT
Sl~nals
I meosuremtnta
I
ta UUT
r-"'."J .
.
i
,I .
. . .-:_
.: "r..
-~~::i:. -.-.L--~~,-
l . .. .
operatoc-111achine interfo
(kayboard,CRT,
:. printr I
'{"sf fo:ture . - - -- - - - I .
I.
-----------~-]'
"- UUT
FIGURA 1: Schema bloc a unui sistem de testare manuala. Echipamentul de test asigura stimulii de
intrare n UUT si citeste valorile semnalului in punctele de test ale UUT.
MODUL I
tI
GP19,;
. .. ,.-.ll....._....._......._.
r- -
r
I
+
~.:.21tc.!>~-
1 .
l
I .
I .
___
i
_....}
Floppy
di11l
Externo I
printer
Controllerul are ca rol administrarea ciclilor de test, controlul fluxului de date, receptia rezultatelor
masurate, procesarea datelor, verificarea daca acestea sunt inm limitele de toleranta prestabilite,
executarea calculelor si producerea rezultatelor ce urmeaza a fi afisate pe un ecran sau printate.
Controllerul pentru a putea functiona, necesita un soft care asigura programul de test pentru
controlarea fiecarui pas in ciclul de testare.
Stimulii sau sursele de semnal asigura semnale de intrare pentru UUT. Principalele surse de semnal
pot fi: surse de alimentare, generatoare de functii, convertoare DIA, sintetizatoare de frecventa.
Intefata om - masina asigura comunicarea intre operator si controllerul sistemului ATE. Aceasta
interfata poate fi o parte a controllerului, dar poate lua si forma unor comutatoare, led-uri si ecrane
incluse intr-o consola de control. Pentru aplicarea informatiilor de intrare operatorul utilizeaza
comutatoare sau tastatura.
Rezultatele testelor pot fi afisate pe un ecran sau pi'intate. De asemenea, actiunile operatorului, atat in ..
cee ce priveste validarea actiunilor sale cat si in solicitarea de actiuni corectoare sunt afisate vizual pe
consola de control (ecran, Led-uri, etc)
O schema mai detaliata a unui sistem A TE este data in figura 3
-2-
MODUL/
Confrol aubuctlon
Operaor-mochioe
Tts1 subHction
UUT-mad\iM.
!nlufoce
intuJae
I.
Kyboord/
display
onJroll
d~1play"
Mt osure ment
St im1.1lu1
d111lcu
Proorammu
dvicn
Routin; .
.. :;;
Adapttr
Generatorul de functii asigura semnale de intrare pentru UUT. Multimetrul digital DMM si
frecventmetrul (freqvency counter) efectueaza masuratori asupra punctelor de test ale UUT. DMM-ul
poate masura nivele de semnal (ac/de) in diferite puncte de test sau pot masura rezistenta unor
componente aflate intre diferite puncte de test de pe UUT.
In figura 3 controllerul este un PC cu floppy disc pentru programul de test, ecran, tastatura cu taste cu
functii speciale si printer.
Controllerul comunica in general cu unitatea de comutare, stimulii si instrumentele de masura pe un bus
de 16 linii numit GPIB (General Purpose Interface Bus). Comenzile de la controller si rezultatul citirii
lor de la instrumentele de masura trec prin GPIB.
Anumiti producatori de echipamente testate ofera posibilitatea ca produsele lor sa fie utilizate sub
controlul GPIB.
O cerinta de baza pentru ATE este ca controllerul sa aiba catevametode de comunicare cu diferite parti
ale sistemului ATE. Aceste comunicatii se produc in mod obisnuit pe un bus IEEE 488', RS 232C
serial sau bus-uri paralele GPIO (General Purpose Import-Output).
Daca producatorul sistemului nu include capabilitatea de control a bus-ului, operatorul va trebui sa
controleze echipamentul manual. Aceasta reduce viteza de test a A TE-ului la cea a unui sistem de
testare semiautomat sau manual.
-3-
MODUL I
ATE-ul trebuie sa optimizeze automatizarea testarii in masura cat mai mare. Cresterea vitezei se poate
obtine prin utilizarea instrumentelor "inligente"
Instrumente inteligente
lncepand din 1970 producatorii de echipamente de testare automata au produs asa-numitele instrumente
inteligente cu program intern si capabilitate de calcul si memorare a datelor.
Taste "soft" au nlocuit controlul de la panoul frontal permitand operatorului sa introduca instructiuni
de control asupra logicii de comanaa a microprocesorului instrumentului. Anumite instrumente permit
operatorului controllerului sa memoreze un numar de setari interne (specifice anumitor aplicatii) ele
urmand sa fie apelate ulterior prin comenzi simple.
Avantajele
r-----
r'""t
, ,..
l r'
~, .1 L
L 1
f ,.. .....
r,
t I
I L'"-r''1.i. t I
t, ..t r T"iLr1
OMM!JI
J.
t, J..rl .... t, .J
I
.
'
GPIB
GP!B
de vi.cu
pod I
Aml>i~n t
to t UUT
Fig. 4 Exemplu de utilizare a unor DMM-uri inteligente pentru a diminua sarcinile controllerului ATE
Presupunem ca un sistem particular de testare necesita calculul unei valori medii pe 100 de date
(masuratori efectuate). Cu un DMM inteligent, ntregul program de test este memorat de un DMM la
nceputul testarii si controllerul ii poate apela prin utilizarea unui singur mesaj pe bus. Dupa efectuarea
masuratorilor, DMM-ul calculeaza valoarea medie si memoreaza rezultatul. Controllerul poate citi
ace.st rezultat oricand are nevoie si utiliza valoarea medie memorata ca si cand datele ar fi fost procesate
de el insusi.
Conform schemei din fig. 4, mai multe unitati UUT sunt introduse in camere de temperatura pentru test
de fiabilizare (burn-in). Folosind DMM-uri iteligente, masuratorile se efectueaza la intervale de 't
-4-
MODUL I
secunde (conform programarii 't = 10 sec sau 't = 5 sec) pe toata perioada de fiabilizare. La finalul
perioadei de test se calculeaza valoarea medie si se identifica masurarile maxime si minime,
controllerul citind valorile finale. Rezulta ca pe durata perioadei de test controllerul poate efectua testari
asupra altor UUT-uri care nu se afla in camera de fiabilizare.
Desi instrumentele inteligente pot reduce timpul de test, aceasta este cu adevarat un avantaj in functie
de modul cum sunt utilizate de catre sistemul A TE.
Capacitatea instrumentelor inteligente de a economisi memoria programelor de test trebuie sa ia in
considerare situatia in care controllerul poate cere tot atata , daca nu chiar mai multa memorie pentru
setarea unei functii speciale decat ar fi necesara pentru efectuarea functiei propriu-zise. Daca instrumentul
nu cantine propriul sau program su' nu permite incarcarea programului de la controller pe bus sau pe
suport de memorie atunci aparatul trebuie sa ncarce programul de fiecare data cand instrumentul este
deschis sau cand instrumentul a fost setat cu alt program. Aceasta ultima situatie apare adesea in sistemele
ATE care testeaza diferite tipuri de UUT-uri.
Echipamente de fixare
Fig. 5b. Diferite tipuri de varfuri sunt disponibile pentru diferite aplicatii.
-5-
MODUL I
. Sonda de test face contact cu punctele de test din placa de circuit testata. Dupa arcul intern (fig 5a)
asigura presiunea necesara pentru stabilirea contactuluiintre sonda si punctul de test de pe placa de
circuit. Pentru diferite aplicatii exista diferite tipuri de varfuri pentru sonde.
Sisteme de comutare
Cel mai simplu sistem de comutare este comutatorul rotativ folosit in sistemele de testare manuala
pentru a conecta punctele de test ale UUT-ului cu stimulii si instrumentele de masura. Sistemele de
comutare pot consta si din sisteme,(matrici) de relee.
0-ftitMit I
Input 2
0 - Input 3
Outpllt A ---0
0111riut
O--lnput4
0-Jnput 5
0-j-lnput o
o-!....ln;>ULll
D---
Conform reprezentarii schematice din figura 6 sistemele de comutare pot conecta orice numar de intrari
la o iesire. Utilizatorul poate conecta un numar de puncte de test ale UUT-ului la sonde, ulterior
conectand un DMM la un canal, un frecventmetru la un alt canal etc.
Ca urmare a conexiunilor realizate de sistemul de comutare controllerul poate comanda conectarea unui
punct de test al unui instrument de masura la unul din canalele de iesire.
Alte sisteme de conectare conecteaza oricare dintre intrari la mai multe iesiri simultan. In acest ultim .
caz rezulta ca, la un punct de test pot fi conectate simultan mai multe echipamente. Deci controllerul
poate in acest caz conecta in acelasi punct de test si in acelasi moment de timp un DMM si un numar
(frequency counter).
Exemplul unei astfel de posibilitati de conectare este reprezentat in figura 7.
,\,
-6-
..
MODUL/
. 1oeocn
1XlO cooxial
1X4,
S'\!(tfclt
1 X'IO
<:ooiriol
s!Jd\
c:oa~id
switch
hamel
100
coo)l)
lints
3
4
'
IO eaci'I
lXJO
1X4
t:oaxh:I
COQ~lol
~witch
switch
PI\
Xl~wtt~:tiol O
t~----
XI
Driver-Sensor
Majoritatea sistemelor de test ICT pentru echipamente digitale folosesc driver-sensor la sondele din
echipamentul de fixare a UUT-ului. Driver-ul asigura stimulul la sonda in timp ce sensorul citeste
semnalul de la sonda si ii transfera la sistemul de testare. Schema bloc a unui sistem tipic de sonde
driver-sensor este prezentata in figura 8 . Controllerul poate programa driverul si sensorul in sistem
pentru doua familii logice diferite in limitele nivelelor de tensiune disponibile astfel incat se asigura
adaptarea logicii celor doua familii circuitului testat la acea sonda.
Deci sistemele ICT pot testa placi cu familii' logice diferite (duale). Controllerul transmite in general
pattern de test la driverul pentru iesirea circuitului sau comanda sensorii sa citeasca semnalele la acesta
sonda.
In timpul testului dinamic, rata pattem-elor de test poate deveni ridicata, putand chiar depasi
capacitatea controllerului.
Un RAM conectat la sonda asigura memoria necesara inmagazinarii pattem-ului si raspunsurile
necesare rularii testului la o viteza mai mare.
In multe cazuri aceasta metoda permite sistemului ATE sa testeze UUT-ul la viteza sa de operare.
-7-
""
'""
I
I
MODUL/
. Ddve.
....---~
to; ie
f~mily
htoh{Al
Or iv
hiOh(Bl
Orive
low[Al
OriYt ;
low(Bl
r--------.-.........i
Orivbr
referttn:o
MPX
Hih
....__
.re .
___, Dr.verh;onsor
OUiQ:n
1---~----+---..-1
Ic .te~
Toi
r;f~p
Teststep
n+l
sfote h:itch
st<1te lotch
Sense
lolch "
Oato~oul 0010-i~
bui
.. bus
S6nse
Sense
tiigh(Al
niohf8l
Sense
Senso
l:)w.(Al
!owiBI
Fig. 8 Diagrama bloc a unui sisitem de sonde driver/sensor. Fiecare pin are 4k de RAM si poate fi programat
pentru familii logice duale
Stimulii
Intr-un sistem ATE stimulii respectiv semnalele de testare a UUT pot lua forme diferite cum ar fi:
nivele logice TTL, impulsuri, semnal radiofrecventa (RF), etc. Echipamentele care asigura astfel de
stimuli sunt in general: surse de alimentare, generatoare (de semnal audio, de semnal RF, de functii, de
impulsuri), convertoare DlA sau sonde drivers-sensors.
Sursele de alimentare. Pot furniza atat putere de operare cat si semnal logic pentru UUT. Dupa ce
programul de test a stabilit tensiunea sau cur~ntul de iesire, se poate conecta iesirea sursei de alimentare
prin intermediul sistemului de comutare la DMM urmand apoi ajustarea iesirii pana la valoarea dorita.
Multe surse de alimentare pot lucra atat ca surse de tensiune cat si ca surse de curent constant. Daca
rezistenta de sarcina satisface conditia
Rtoad
(*)
este posibila comutarea (crossover) automata de la modul de lucru tensiune constanta la modul de lucru
curent constant. In modul de lucru tensiune constanta numaratorul relatiei (*) este tensiunea constanta
de iesire iar numitorul limita de curent selectata. In modul de lucru curent constant, numaratorul este
valoarea limita a tensiunii iar numitorul este valoarea curentului constant.
Dat fiind modul de functionare a unei surse de alimentare, este necesara utilizarea unei protectii pentru
situatiile limita cand iesirea acesteia este in scurtcircuit sau in gol.
Se folosesc circuite de protectie, de exemplu crowbar.
-8-
MODUL/
+
,._.......,_ _ _ _ _ _ _,.____
Cro\ifbor .
(ffUtt\Ct
volto;
Fig. 9 Utilizarea unui circuit de protectie crowbar pentru protectia sarcinii. Daca tensiunea de iesire depaseste
o anumita valoare SCR intra in conductie si duce (drop) tensiunea la zero.
Generatoarele de impulsuri sunt utilizate in sistemele ATE pentru controlul sincronizarii. Pentru a
asigura sincronizarea masuratorilor intr-un sistem A TE generatorul de impulsuri poate opera ca un
generator de sincronizare sub GPIB. Se asigura in acest caz "trigger"-area si "gating"-ul semnalului la
dispozitivele din sistemul A TE, deci se asigura controlul momentelor de timp in care aceste dispozitive
opereaza. Capabilitatile unui astfel de generator de impulsuri sunt prezentate in fig. 1O
{ci) .
I Pulu+i
L
_ _ _ _ ___.1
r'"width
(bi
Fig. I O. Capabilitatile unui generator de impulsuri. a) asigurarea de impulsuri intarzaiate cu perioada selectabila
<lupa impulsul de trigger; b) selectarea duratei impulsului; c) selectarea numarului de impulsuri.
Includerea intr-un sistem A TE a unui generator de impulsuri pentru a asigura gating-ul semnalelor este
prezentata in fig. 11
-9-
MODUL/
Fig. 11. Sistem ATE utilizand un generator de impulsuri pentru trigger-rea si gating-1 semnalelor.
-10-