Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
3. MEMORII
48
c) Tipul de acces la memorie reprezentând intervalul de timp dintre momentul când se
apelează la circuit și momentul când informația este disponibilă la ieșire; se
exprimă în ns sau μs.
d) Puterea consumată este dată de raportul dintre puterea totală consumată de circuit și
capacitatea acestuia; se exprimă în μW/bit.
e) Volatilitatea; o memorie este volatilă dacă informația înscrisă se pierde în timp;
pierderea informației se poate datora fie modului de stocare a acesteia (memorii
dinamice) fie datorită dispariției tensiunilor de alimentare ale circuitului.
f) Ciclul de citire sau scriere este timpul scurs între două citiri sau scrieri successive;
acest timp este superior ca valoare timpului de acces.
49
Fig. 3.1
50
Fig. 3.2
51
O densitate mai mare pe un singur circuit integrat se obține la memoriile MOS
RAM dinamic, care funcționează pe principiul înmagazinării informației sub forma unei
sarcini, folosind ca element de memorie capacitatea poartă – sursă a unui tranzistor MOS.
Păstrarea informației nu este permanentă, datorită curenților reziduali care tind să descarce
condesatorul cu rol de memorie. Pentru a conserva informația în memoriile dinamice, ea
trebuie reinprospatata (refresh), obținută la interval de 1 la 2 ms. Procesul de
reîmprospătare constă în citirea periodică a informației și reinscrierea sa în aceleași cuvinte
ale memoriei.
În figura 3.3 este prezentată schema unei celule de memorie MOS RAM dinamic.
Starea bistabilului rămâne nemodificată datorită sarcinii acumulate în cele două
condensatoare C1 și C2.
Fig. 3.3
Pentru citirea bitului memorat se aplică semnalul “1” logic pe linia de selecție
cuvânt S și prin urmare tranzistoarele T3 și T4 vor intra în conducție. Curentul este sesizat
în mod diferențiat pe cele două linii de bit. Astfel, dacă celula memorează zero [Q=0 (C1
încărcat, T1 saturat) și Q = 1 (C2 descărcat, T2 blocat)], linia de bit B și tranzistorul T3 vor
fi parcurse de un impuls important de curent, pe când linia de bit B rămâne la nivelul “1”
logic. În același timp, condensatorul C1 este reîncărcat, deci informația reîmprospatată, prin
tranzistorul T4, deoarece tranzistorul T2 este blocat. De asemenea, condensatorul C2 este
descărcat (reîmprospătare cu “0” logic) prin T3 și linia de bit corespunzătoare. Se observă
că la procesul de citire realizarea și operația de reîmprospătare a informației.
La înscriere, informația dorită și complementul său sunt transmise liniilor de bit în
timp ce linia de selecție cuvânt este adusă la nivelul “1” logic. În acest timp curentul prin
tranzistoarele T3 și T4 forțează bistabilul să treacă în starea dorită.
Reîmprospătarea informației se face periodic, obișnuit la intervale de 2 ms,
transmițându-se semnale pentru citirea memoriei. Semnalele de la ieșirile de date, obținute
în ciclurile de citire a memoriei, efectuate doar în scopul reîmprospătării, sunt inhibate.
O memorie MOS RAM dinamic este mai ieftină decât o memorie MOS RAM static
de aceeași capacitate, atâta timp cât se ia în considerare numai partea de memorare propri-
zisă. Considerând însă și circuitul de reîmprospătare, memoria MOS RAM static are
52
avantajul unui preț de cost mai scăzut la sistemele care cer o memorie redusă. În
consecință, memoriile MOS RAM dinamic sunt preferate numai la sitemele care necesită o
memorie de medie sau mare capacitate.
În figura 3.4 este prezentată schema bloc a unei memorii MOS RAM static de 4
cuvinte a câte 2 biți. Fiind vorba de memorarea a 4 cuvinte de câte 2 biți, sunt necesare 8
celule de memorie (vom folosi simbolul celulei elementare de memorie statică din fig. 3.2).
Intrările de selecție S ale tuturor celulelor care memorează biții aceluiași cuvânt sunt
comune. Semnalul de selecție a unui anumit cuvânt provine de la decodificatorul de linii.
Liniile de bit B ale biților memorați ale acelorași ranguri sunt comune, deoarece la orice
moment de timp este selectată o singură celulă de pe un anumit rang și anume aceea care
corespunde adresei selectate. Datorită acestui fapt și liniile B ale celulelor biților de același
rang sunt comune..
În figura 3.4 se scot în evident și amplificatoarele TSL de citire – scriere. Comanda
de citire – scriere se poate realiza printr-o singură intrare, numită READ/WRITE (R/W). În
afară de intrările de adrese și de intrarea R/W circuitul mai prezintă o intrare pentru
selectare circuit, numită CHIP SELECT (CS) sau CHIP ENABLE (CE), pentru cazul în care
întreaga memorie a sistemului este formată din mai multe circuite identice (deselectarea
circuitului atrage după sine și scăderea puterii consumate de circuit de la sursa de
alimentare fără a se altera informația memorată).
Pentru funcționarea corectă a circuitelor de memorie semnalele aplicate la pini
trebuie să satisfacă anumite restricții de timp. În figura 3.5 sunt prezentate semnalele
pentru citirea și scrierea dintr-o memorie RAM.
Pentru ciclul de citire (fig. 3.5a), succesiunea operațiilor specifică transmiterea
inițială a adresei locației căutate din memorie. Concomitent se transmite și semnalul CS.
După un interval de timp tA, denumit timp de acces, data devine accesibilă la ieșire. Adresa
trebuie menținută pe toată durata ciclului de citire, pentru a elimina suprapunerea unor
comenzi, ceea ce ar putea duce la hazard.
Semnificația notațiilor timpilor este următoarea:
tRC : ciclul de citire (intervalul de timp între două schimbări de adresă);
tA : timp de acces la memorie;
tE : timp de apariție a datelor după activarea intrării CS;
tOH1 : timp de menținere a datelor după momentul schimbării adresei;
tOH2 : timp de menținere a datelor după dezactivarea intrării CS.
53
Fig. 3.4
Fig. 3.5
54
Pentru ciclul de scriere (fig. 3.5b), semnalul R/W trebuie să sosească după
stabilirea adresei și poate fi simultan cu semnalul CS. De asemenea, datele ce se înscriu în
memorie trebuie să rămână stabile un interval de timp tDW + tDH în jurul frontului crescător
al impulsului de scriere.
Semnificația notațiilor timpilor este următoarea:
tWC : ciclul de scriere;
tWP : durata impulsului de scriere;
tWR : timp de menținere a adresei după dispariția impulsului de scriere;
tDW : timp de pregătire a datelor în raport cu momentul înscrierii;
tDH : timp de menținere a datelor după dispariția impulsului de scriere;
tAW : timp de întârziere a impulsului de scriere față de momentul stabilirii adresei.
Aceste memorii se realizează sub forma unor matrici din diode, tranzistoare
bipolare sau tranzistoare MOS.
Structura unei memorii ROM cu diode este prezentată în figura 3.6.
Dacă CS = 1 (circuit neselectat), toate ieșirile decodificatorului 0, 1, … 15 sunt în
“1” logic (inactive) și, prin urmare, ieșirile D0, D1, D2, … D7 sunt în stare de înaltă
impedanță (HZ).
Când circuitul este selectat (CS = 0), presupunem că la intrările de adresă se aplică
cuvântul de adresă A3A2A1A0 = 0010, deci ieșirea 2 este în “0” logic. Intrarea CS = 0
deschide și amplificatoarele de ieșire. Din schemă se observă că vor conduce diodele
conectate cu catozii la linia 2, la ieșire obținându-se numărul D0, D1, D2, … D7 = 010…1,
adică conținutul locatiei 0010 este 010…1.
55
Fig. 3.6
Prin urmare, în locul în care dorim să stocăm un “0” logic, se va conecta o diodă în
sensul indicat în figura 3.6, între bara orizontală a locatiei dorite și bara verticală a bitului
respectiv.
În cazul matricei de memorie cu tranzistoare bipolare starea de “0” logic sau “1”
logic se realizează prin conectarea sau nu a conectorului tranzistorului la rezistența de
sarcină (fig. 3.7). De exemplu, când se activează ieșirea 2 a decodificatorului, va apărea la
ieșire cuvântul D7D6…D0 = 00…1. Se spune că memoria ROM din figura 3.7 are
memorate 32 de cuvinte a câte 8 biți fiecare, deci 256 biți.
Fig. 3.7
Tehnologia MOS, datorită densității mari admise, este ideală pentru fabricarea
memoriilor tip ROM. În primele etape ale procesului de fabricație se realizează toate
56
tranzistoarele MOS din nodurile matricei de memorare, cu excepția depunerii stratului
izolant al porții și a electrodului poartă. În etapa de programare, tranzistoarele inactive se
realizează cu o grosime mai mare a stratului izolant al grilei, iar cele active cu o grosime
mai mică. În structura prezentată în figura 3.8, pentru programarea cuvântului D3D2D1D0 =
1010, tranzistoarele T30 și T10 vor fi realizate cu un strat izolant al grilei de grosime mai
mare, rămânând blocate indiferent de nivelul logic aplicat la linia de selecție cuvânt 0.
Fig. 3.8
Ieșirile memoriei pot fi cu colectorul deschis sau cu trei stări, ceea ce permite
punerea lor în paralel cu ieșirile altor memorii.
Pentru a lărgi gama de aplicare a memoriilor de tip ROM au fost realizate memorii
programabile (o singură data) chiar de utilizator. Aceste memorii se numesc PROM
(Pogrammable Read Only Memory) și rețin informația introdusă pe baza modificării unor
legături electrice direct pe circuit.
În tehnologia PROM-urilor bipolare toți tranzistorii din matrice sunt conectați prin
fuzibile metalice (de exemplu nichel-crom) care pot fi distruse selectiv prin aplicarea unui
impuls de curent suficient de puternic (fig. 3.9).
O legătură ruptă determină memorarea unei stări binare (“0” logic), iar una care nu
a fost ruptă, memorarea celeilalte stări binare (“1” logic).
57
Fig. 3.9
Ieșirile D7, D6, … D0 sunt de tipul colector deschis. Inițial, orice cuvânt selectat
conține numărul 00…0 (tranzistoarele T27, T26, … T20 sunt saturate). Neselectarea se
traduce prin blocarea acelorași tranzistoare.
Să presupunem că dorim să înscriem un “1” logic în bitul b0 al cuvântului 0. Pentru
aceasta se aplică cuvântul de adresă A4A3 … A0 = 00…0, se activează intrarea de selecție
CS = 0 și se aplică la ieșirea D0 un potențial mai mare de 7V. În aceste condiții,
tranzistorul T10 intră în conducție (T este deja saturat) și fuzibilul F se arde (amplitudinea și
durata impulsului de curent sunt riguros controlate astfel încât să provoace arderea
fuzibilului). Se trece apoi la bitul b1 al aceluiași cuvânt. Dacă acesta trebuie să fie “0”
logic, se trece mai departe, astfel se aplică secvența precedentă, ș.a.m.d.
Duratele și secvențele semnalelor CS, A4, A3, A2, A1, A0 și ale tensiunii aplicate la
ieșire sunt furnizate de către constructor.
58
Una din cele mai des utilizate soluții pentru realizarea memoriilor EPROM are la
bază principiul grilei flotante. Structura unui nod de matrice este prezentată în figura 3.10.
Fig. 3.10
Tranzistorul T1 ((MOS cu canal n) are sursa conectată la coloana Y, iar grila la linia
de selecție cuvânt S a nodului. Când potențialul liniei S este “1” logic tranzistorul T1 ar
trebui să aplice acest potențial la coloana B dacă drena sa este legată la potențialul VDD.
Între drena tranzistorului T1 și VDD este înseriat tranzistorul cu grila flotantă Gf și alta
metalică G ca la un transistor obișnuit.
Grila flotantă situată deasupra capului canalului, îngropată în stratul de bioxid de
siliciu (deci izolată) este formată din polisiliciu și nu are terminal în exterior. Când pe
poarta metalică se aplică o tensiune de programare VPP de valoare pozitivă [20 ÷ 25]V,
grila flotantă se încarcă cu sarcină negativă (numărul acestor electroni depinde de
amplitudinea și durata tensiuni VPP) care va induce permanent sarcină pozitivă în canalul
tranzistorului, deci tranzistorul cu grilă izolată va conduce totdeauna.
După îndepărtarea tensiunii de programare, izolația grilei flotante este suficientă
pentru a menține sarcina cu o pierdere mai mică de 5% pe o perioadă de 10 ani. Rezultă că
memoriile de acest tip sunt furnizate de firma constructoare cu conținutul locațiilor deja
fixat (de exemplu “0” logic), beneficiarul putând înscrie “1” logic prin procedura de
programare.
Ștergerea se realizează cu un fascicol de raze ultraviolete timp de aproximativ 20
min, timp în care sarcina negativă de pe grilă flotantă este neutralizată de curentul
fotoelectric produs. În acest sens, circuitul de memorie este prevăzut cu o fereastră de
cuarț, care permite trecerea razelor ultraviolete. Operațiile de ștergere și reprogramare pot
fi repetate de mai multe ori (până la 100), fără ca performatele circuitului să aibă de suferit.
Memoriile EPROM, care au devenit referințe, sunt cele ale firmei INTEL și
acoperă capacitățile de la 8 Kbiti la 512 Kbiti, organizate în cuvinte de un octet,
reprezentate prin tipurile 2716, 2732, 2764, 27128, 27256, 27512.
59
biților pe cuvânt (numărul de cuvinte rămâne neschimbat), respectiv atât prin modificarea
numărului de cuvinte cât și a numărului de biți pe cuvânt.
Să considerăm că avem circuite de memorie ROM de 256 biți, organizate în 32 de
cuvinte de câte 8 biți și dorim să realizăm o memorie având organizarea 128 cuvinte de
câte 8 biți (extinderea numărului de cuvinte).
Memoria de 128 x 8 are de 4 ori mai multe cuvinte decât circuitul integrat. Deci vor
fi necesare 4 circuite integrate pentru a o implementa (fig. 3.11).Fiecare circuit integrat se
adresează cu 5 biți (A4, A3, … , A0), conectați în paralel la toate circuitele. Pentru adresarea
memoriei 128 x 8 mai sunt necesari încă 2 biți A6, A5 care, decodificati, activează doar câte
unu din circuite. Astfel, la ieșirile D7, D6, … , D0 cuplate în paralel, pentru A6A5 = 00 citim
conținutul memoriei CI0, pentru A6A5 = 01 citim conținutul memoriei CI1, ș.a.m.d..
Fig. 3.11
60
validare CS. Ieșirile circuitelor CI1, CI3, CI5 și CI7 sunt conectate în paralel și formează
cuvântul HIGH, iar ieșirile circuitelor CI0, CI2, CI4 și CI6, de asemenea conectate în
paralel, formează cuvântul LOW.
Fig. 3.12
61
TABELUL 3.1
ORGANIZAREA FB NUMAR
MEMORIEI IMPLEMENTATE VARIABILE
INDEPENDENTE
128 x 4 4 7
256 x 4 4 8
512 x4 4 9
1024 x 4 4 10
2048 x4 4 11
128 x 8 8 7
256 x 8 8 8
512 x 8 8 9
1024 x 8 8 10
2048 x8 8 11
Fig. 3.13
TABELUL 3.2
CS ADRESE IESIRI
A3=B A2=B A1=B A0=B D3=f3=G D2=f2=G D1=f1=G D0=f0=G
3 2 1 0 3 2 1 0
1 * * * * HZ HZ HZ HZ
0 0 0 0 0 0 0 0 0
0 0 0 0 1 0 0 0 1
0 0 0 1 0 0 0 1 1
0 0 0 1 1 0 0 1 0
0 0 1 0 0 0 1 1 0
0 0 1 0 1 0 1 1 1
0 0 1 1 0 0 1 0 1
0 0 1 1 1 0 1 0 0
0 1 0 0 0 1 1 0 0
0 1 0 0 1 1 1 0 1
0 1 0 1 0 1 1 1 1
0 1 0 1 1 1 1 1 0
0 1 1 0 0 1 0 1 0
0 1 1 0 1 1 0 1 1
0 1 1 1 0 1 0 0 1
0 1 1 1 1 1 0 0 0
*=INDIFERENT HZ=INALTA IMPEDANTA
62