Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Interferenta Si Difractia
Interferenta Si Difractia
CAPITOLUL 3
ii
forma undelor; interferenta este proprie undelor astfel nct observarea acestui
fenomen constitue o dovad
a a naturii ondulatorii a unei m
arimi. Ideea c
a lumina se propag
a sub forma unei unde a fost acceptat
a numai dup
a experienta
de interferenta f
acut
a de Young n 1801.
Tratarea analitic
a a fenomenului de interferenta se bazeaz
a pe operatia de
sumare a dou
a m
arimi care variaz
a sinusolidal de-a lungul aceleiasi axe, avnd
aceeasi pulsatie si diferenta de faz
a constant
a, adic
a coerente. n cele ce urmeaz
a
vom prezenta dou
a metode de sumare.
Prima metod
a se numeste metoda vectoriala sau a vectorilor rotitori sau a
fazelor. S
a presupunem c
a undele se propag
a de-a lungul axei Ox, vibreaz
a de-a
lungul aceleiasi directii iar punctul P se aa la distanta x1 de sursa primei unde,
respectiv la distanta x2 de sursa celei de-a doua unde; expresiile celor dou
a unde
n P sunt:
1
2
= A1 cos(kx1
= A2 cos(kx2
!t + '1 ) = A1 cos(!t
!t + '2 ) = A2 cos(!t
kx1
kx2
'1 ) = A1 cos(!t +
'2 ) = A2 cos(!t +
1)
2 ):
= A cos(!t + );
A1 sin
A1 cos
= '2
+ A2 cos
1 + A2 cos
Fig.3.1
2
2
'1 + k(x2
x2 )
(3.1)
(3.2)
iii
Cum intensitatea este proportional
a cu p
atratul amplitudinii, intensitatea m
asurat
a n P este
p
I = I1 + I2 + 2 I1 I2 cos :
(3.3)
Not
am faptul c
a A si I nu depind de semnul lui . n cazul particular n care
amplitudinile celor dou
a unde sunt egale, A1 = A2 = A0 , se obtin relatiile
q
A = 2A20 (1 + cos ) = 2A0 cos
(3.4)
2
tg =
sin
cos
+ sin
+
cos
1
1
sin
cos
1+
cos
2
cos
2
1+
2
2
1
= tg
+
2
+
2
(3.5)
'1
2A0 cos
'2
2
+ 2
=
2
'1 + '2
k(x2 + x1 )
+
2
2
cos !t +
k(x2
x1 )
2
cos
!t(3.6)
;
(3.7)
P
atratul modulului lui
1
+ A2 ei 2 )ei!t (A1 e i 1 + A2 e
h
= A21 + A22 + A1 A2 ei( 1 2 ) + e i( 1
(A1 ei
se obtine nmultim
i
2)
)e
=
i!t
A21
2 ):
iv
Se observ
a c
a rezultatul este identic cu cel obtinut prin prima metod
a de sumare;
acelasi lucru este valabil si pentru faza undei rezultante.
Att metoda vectorial
a ct si cea simbolic
a pot folosite pentru sumarea
unui num
ar mai mare de unde emise de surse coerente. Subliniem faptul c
a
ambele metode se aplic
a oscilatiilor cu faze diferite, dar care se propag
a dea lungul aceleiasi axe. Asadar, dac
a undele sunt longitudinale, directiile lor
de propagare trebuie s
a coincid
a; dac
a undele sunt transversale, ele trebuie s
a
oscileze pe aceeasi directie.
Observ
am, n ne, c
a maximul sau minimul de interferenta (sau oricare
valoare intermediar
a) obtinute ntr-un punct din spatiu se mentin atta timp
ct diferenta de faz
a r
amne constant
a: oscilatia rezultant
a are ntotdeauna
aceeasi amplitudine si aceeasi faz
a iar intensitatea rezultat
a ca o medie pe mai
multe perioade, este constant
a. Interferenta, asadar, este un fenomen stationar,
o functie de pozitia punctului P n spatiu, dar nu de timp.
v
pot, asadar, interfera, iar variatiile corespunz
atoare de intensitate se pot m
asura
numai dac
a exist
a instrumente care au posibilitatea de a m
asura intensit
ati
luminoase n timpi foarte scurti. Un experiment de acest fel a fost efectuat n
1956 de Hanbury Brown si de Twiss, obtinndu-se rezultatul asteptat. Dac
a,
ns
a, instrumentele cu care se m
asoar
a intensitatea luminoas
a nu au o rezolutie
temporal
a foarte bun
a, trebuie s
a se astepte un timp mult mai mare dect
t pentru obtinerea rezultatului. Astfel, timpul ind lung, se va suprapune
interferenta a dou
a pachete de unde cu o anumit
a diferenta de faz
a ' cu aceea
a altor dou
a pachete avnd o alt
a ', si asa mai departe: pozitiile ce corespund
unui maxim ntr-un anumit caz pot pozitii de minim ntr-un alt caz si, n nal,
se observ
a numai o intensitate constant
a.
O metod
a de a obtine dou
a sau mai multe surse coerente de lumin
a const
a
n introducerea n calea fasciculului de lumin
a a unui ecran opac n care sunt
f
acute N oricii: unda emis
a de aceste oricii are diferenta de faz
a constant
a.
De fapt, cu acest procedeu un singur pachet de und
a genereaz
a N pachete, toate
avnd aceleasi caracteristici; procedeul se numeste divizarea frontului de unda.
Sursele secundare au aceeasi faz
a si aceeasi polarizare; orice variatie de faz
aa
sursei primare se transmite surselor secundare si produce o variatie a planului
de polarizare. Cele N oricii devin N surse coerente de lumin
a obisnuit
a.
Principiul Huygens-Fresnel d
a o descriere calitativ
a complet
a n cazul undelor emise de surse secundare; n particular, amplitudinea este dat
a de relatia
dA =
A
f ( )d
s
reprezentat
a schematic n Fig.3.2
Fig.3.2
Experien
ta lui Young
f ( )d
;
qs
vi
n 1801, Young a obtinut pentru prima dat
a n laborator interferenta a dou
a
unde luminoase folosind dispozitivul din gura 3.3.
Fig.3.3
Fig.3.4
Un fascicul de lumin
a monocromatic
a este incident pe o plac
a pe care exist
a
un oriciu S0 ; acesta va reprezenta unda primar
a n experiment. Unda care
vii
iese prin acest oriciu cade pe un ecran opac cu dou
a deschideri foarte nguste
S1 si S2 , paralel
a cu S1 si la egal
a distanta fata de axa dispozitivului (axa z);
cele dou
a deschideri S1 si S2 , reprezint
a, practic, dou
a surse coerente. Lumina
emis
a de S1 si S2 , produce pe un ecran C aat la distanta L de surse (L
d,
unde d este distanta dintre surse) o gur
a vizibil
a, numit
a gur
a de interferenta.
Aceasta const
a ntr-o serie de benzi luminoase si ntunecate, paralele cu oriciile, numite franje de interferenta. Franjele luminoase corespund maximului de
intensitate (interferenta constructiv
a) si sunt obtinute n puncte n care undele
sosesc n faz
a, n timp ce franjele ntunecoase corespund minimului de intensitate (interferenta distructiv
a) si sunt obtinute n punctele n care undele sosesc
n opozitie de faz
a. La intersectia axei dispozitivului cu ecranul se observ
a o
franj
a luminoas
a. n gura 3.4 sunt reprezentate franjele de interferenta.
S
a aplic
am acum rezultatele obtinute n paragraful precedent pentru a calcula pozitiile maximelor si minimelor de interferenta precum si variatiile intensit
atii luminoase pe ecran n functie de distanta x fata de centrul imaginii (gura
3.5)
Fig.3.5
n ipoteza L
max
min
= m nd0 ;
0
= (2m0 + 1) 2nd
dnx
0L
0L
x = m nd
;
0L
x = (2m0 + 1) 2nd
(3.8)
m = 0; 1; 2; :::
m0 = 0; 1; 2; ::
(3.9)
viii
Deoarece d
(d este de ordinul milimetrilor iar de ordinul 10 3 m),
maximele si minimele de interferenta se succed cu o frecventa foarte mare. Distanta dintre dou
a maxime succesive este x = 0 L=d; cunoscndu-se d si L si
m
asurnd x se poate determina 0 . Young a fost cel care a determinat pentru
prima dat
a lungimea de und
a a unei radiatii luminoase.
Intensitatea maxim
a Imax = 4I1 este constant
a pentru diverse franje luminoase dac
a intensitatea I1 a ec
arei surse nu depinde de : n realitate, stim c
a
n expresia intensit
atii I1 apare p
atratul factorului de nclinare
f 2( ) =
1 + cos
2
Efectul, ns
a, nu este foarte puternic: pentru = 300 ; f 2 ( ) = 0:87: Un efect
cantitativ mult mai pronuntat provine din l
argimea nit
a a deschiderilor S1 si
S2 , care produce o sc
adere evident
a a intensit
atii la cresterea lui . Din acest
motiv, gura de interferenta care se observ
a va avea un num
ar limitat de franje
de-o parte si de alta a franjei centrale.
Datorit
a naturii undelor electromagnetice care interfer
a, sunt necesare dou
a
consideratii. Prima se refer
a la conditia d
L, esential
a pentru observarea
franjelor de interferenta atunci cnd experienta se face cu lumin
a obisnuit
a,
nepolarizat
a. S
a ne amintim c
a o und
a nepolarizat
a, asa cum sunt cele emise
de S1 si S2 , se poate descompune n dou
a unde de egal
a intensitate, polarizate
dup
a directii perpendiculare ntre ele si pe directia de propagare; s
a alegem
aceste directii, una perpendicular
a pe planul desenului si alta n planul desenului
(gura 3.6)
Fig.3.6
Pentru a se forma gura de interferenta este necesar ca E1 si E2 ale celor
dou
a unde s
a e polarizati dup
a aceeasi directie; acest lucru este ntotdeauna
adev
arat pentru componentele E1 si E2 perpendiculare pe planul gurii, dar
este si pentru componentele din planul gurii numai dac
ad
L.
A doua consideratie deriv
a din faptul c
a undele emise de S1 si S2 nu sunt
unde armonice. Presupunnd c
a sursa este alc
atuit
a dintr-un singur atom,
ix
acesta este un emitator de impulsuri de durat
a t ' 10 8 s si de lungime
x ' 3m. Pentru a putea observa interferenta ntr-un anumit punct al ecranului
este necesar ca n acel punct s
a se suprapun
a aproape complet cele dou
a pachete
de unde provenite de la S1si S2 , si date initial de acelasi pachet provenind de la
S0 ; numai n acest mod diferenta de faz
a si planul de polarizare al celor dou
a
cmpuri electrice r
amn constante pe toat
a durata propag
arii. Aceast
a conditie
este vericat
a pn
a cnd diferenta de drum dintre dou
a unde este mult mai
mic
a dect lungimea x.
Ratinamentul r
amne valabil si pentru o surs
a alc
atuit
a dintr-un num
ar
foarte mare de atomi din moment ce gura de interferenta este rezultatul a
numeroase procese elementare, n oricare dintre ele are loc interferenta a dou
a
pachete de unde obtinute dintr-un singur proces de emisie atomic
a. Din acest
motiv t si x sunt numite timp si lungime de coerenta.
n experienta lui Young diferentele de drum sunt egale cu cel mult cteva
zecimi de lungime de und
a astfel nct consideratia de mai sus nu este esential
a;
aceasta este ns
a important
a in acele dispozitive n care diferentele de drum pot
ajunge de ordinul metrului. Experientele de interferenta cu diferente foarte mari
de drum ntre unde se realizeaz
a cu lumin
a laser care are timpi de coerenta de
10 3 s si lungimi de coerenta de ordinul sutelor de kilometri.
Aplica
tii ale metodei Young
Metoda dezvoltat
a de Young pentru realizarea a dou
a surse coerente de
unde luminoase ce const
a n folosirea unei singure surse primare si n divizarea
frontului s
au de und
a, a fost utilizat
a sub mai multe forme. F
ar
a a intra n detalii
analitice, vom prezenta la nceput dou
a dispozitive construite de Fresnel. Sursele
secumdare sunt obtinute prin reexie sau prin refractie, si nu prin difractie
ca n cazul dispozitivului Young; se obtine o gur
a de interferenta si aceasta
demonstrez
a c
a fenomenul depinde de coerenta surselor si nu de modalitatea n
care acestea sunt obtinute.
1.Oglinzile lui Fresnel (Fig.3.7 3.7)
Lumina emis
a de o surs
a punctiform
a S0 cade pe dou
a oglinzi plane care
formeaz
a ntre ele un unghi
foarte mic. Exemplul particular n care dou
a
raze ce sosesc n punctul Q arat
a cum se genereaz
a diferenta de drum si, deci,
diferenta de faz
a. Este ca si cum lumina ar proveni de la dou
a imagini virtuale
ale lui S0 date de oglinzi, care ndeplinesc rolul de surse coerente de egal
a
intensitate ce interfer
a n regiunea comun
a n care se propag
a undele reecate.
De exemplu, dac
a lumina este monocromatic
a, gura de interferenta format
a
din franje luminoase si ntunecoase se observ
a pe un ecran C aat la distanta L
de planul n care sunt S1si S2 ; L este mare n comparatie cu distanta d dintre
sursele S1 si S2 :
Fig.3.7
2.Biprisma Fresnel (Fig.3.8)
Fig.3.8
Dou
a pl
aci de sticl
a de sectiune triunghiular
a (prisme) sunt alipite de-a lungul bazelor. Sursa S0 trimite lumina spre ecranul C si datorit
a refractiei n
prisme, lumina pare c
a provine din sursele S1 si S2 care sunt sursele virtuale
xi
ale sistemului. Att unghiul dintre vrfurile prismelor ct si apertura fasciculului luminos emis de S0 sunt mici. Ecranul este asezat la o distanta mare fata
de distanta dintre surse. Franjele observate sunt similare acelora obtinute cu
oglinzile lui Fresnel.
Fig.3.9
ntr-un punct oarecare Q, amplitudinile 1 ale undelor singulare sferice sunt
egale deoarece Q se aa la distanta foarte mare fata de sistemul de surse; nu vor
avea ns
a aceleasi faze datorit
a diferentei de drum. Pentru a calcula ampltudinea
vom
folosi
metoda
vectorilor
rotitori.
R
xii
Fig.3.10
Asa cum se observ
a n Fig.3.10, amplitudinile singulare sunt dispuse ca laturile
unui poligon regulat ce poate nscris ntr-un cerc cu centrul n O si de raz
a ;
unghiul la centru care subntinde un singur vector este iar acela care subntinde
ntreg poligonul cu N laturi este N . Rezult
a c
a
1
= 2 sin ,
2
= 2 sin
N
2
x!0
sin N x
N cos N x
= lim
=N )
x!0
sin x
cos x
=N
1,
IR = N 2 I1 :
(3.12)
xiii
Imax = N 2 I1 ;
max
=N
1:
n afara valorilor sin date de relatia (3.12), numitorul din (3.11) nu se mai poate
anula. ns
a, num
ar
atorul se anuleaz
a si atunci cnd sunt satisf
acute conditiile:
N d sin
= m0 ) d sin = m0
m0
; sin = m0
N
Nd
1; N + 1; :::2N 1; 2N + 1; ::;
1; 2; :::N
(3.13)
ind excluse valorile 0; N; 2N; ::: pentru care se obtin maximele principale. ntre
dou
a maxime principale se g
asesc N 1 minime n care I = 0.
Deoarece intensitatea este o functie pozitiv
a de , ntre dou
a minime va
exi-sta un maxim, numit maxim secundar; n consecinta, ntre dou
a maxime
principale sunt N
2 maxime secundare. Pozitiile maximelor secundare se
obtin atunci cnd num
ar
atorul din relatia (3.11) este 1 sau atunci cnd
N d sin
sin = (2m00 + 1)
= (2m00 + 1)
2N d
) d sin = (2m00 + 1)
; m00 = 1; 2; ::N
2; N + 1; :::2N
2N
2; 2N + 1
(3.14)
Valoarea intensit
atii maximelor secundare este
Im =
sin
I1
2m00 +1 2
2N
Imax
N2
00
sin 2m2N+1
(3.15)
xiv
Fig.3.11
S
a recapitul
am principalele caracteristici ale fenomenului descris n acest
paragraf.
1. Pozitia maximelor principale, n care este concentrat
a cea mai mare parte
a puterii emise, este determinat
a de raportul =d si nu depinde de num
arul N
de surse. Num
arul de maxime se obtine din relatia (3.12); acesta este dat de
valoarea cea mai mare a lui m pentru care sin = m =d nu este mai mare dect
1 si nu depinde de N .
2. Intensitatea maximelor principale depinde de num
arul N de surse si creste
cu acesta conform relatiei Imax = N 2 I1 .
3. Amplitudinea unghiular
a a maximelor principale scade cu cresterea lui
N , proprietate evidentiat
a n gura 3.11. Largimea unghiulara a unui maxim
principal se poate deni ca distanta dintre dou
a minime al
aturate maximului;
din relatia (3.13) se observ
a c
a aceast
a denitie corespunde unei cresteri cu dou
a
unit
ati a lui m0 si, deci,
2
(sin ) =
(3.16)
Nd
4. Cele N 1 minime si cele N 1 maxime secundare cuprinse ntre dou
a
maxime principale sunt echidistante n variabila sin ; intervalul dintre un minim
xv
si un maxim secundar este =2N d, intervalul dintre dou
a extreme consecutive
de acelasi fel este =N d (Fig.3.12).
Fig.3.12
Intensitatea maximelor secundare descreste ca 1=N 2 la cresterea lui N ; n
practic
a, pentru N mare, se obtine o anumit
a intensitate numai pentru maximele
secundare.
Analiznd fenomenul de interferenta este posibil, n functie de ct de mare
este num
arul N de surse, s
a obtinem o anumit
a intensitate numai n unele
directii, modicnd distanta d dintre surse; este vorba, asadar, de emisie directional
a. Interferenta a dou
a unde produse de surse coerente conduce la o redistribuire a energiei care este concentrat
a n zonele corespunz
atoare maximelor
principale; puterea este ntotdeauna N P1 , e c
a sursele sunt sau nu coerente.
Relatia (3.16), care are semnicatia ngust
arii maximelor principale la cresterea
num
arului N de surse, este fundamental
a pentru cresterea sensibilit
atii m
asur
atorilor efectuate prin metode interferentiale.
xvi
a acesteia; o parte a fascicului este reectat spre oglinda M1 iar o alt
a parte,
egal
a, este transmis
a spre oglinda M2 la care ajunge dup
a ce str
abate lama G.
Fasciculele reectate de oglinzi se ntlnesc spre fata semireect
atoare a lui M ;
fasciculul de la M1 , partial transmis si fasciculul de la M2 , part ial reectat,
ajung printr-un telescop la observator, unde interfer
a. Cele dou
a fascicule sunt
coerente deoarece sunt obtinute de la aceeasi surs
a prin divizarea amplitudinii
(Fig.3.13)
Fig.3.13
Lama G, numit
a lam
a de compensare, face ca ambele raze ce interfer
a s
a
traverseze aceeasi grosime de sticl
a, eliminnd astfel efectele de dispersie; de
fapt, dac
a nu ar fost G, diferenta de faz
a dintre cele dou
a raze ce ar str
abate
grosimi diferite de sticl
a ar depinde de lungimea de und
a deoarece indicele de
refractie depinde de ; n lumin
a monocromatic
a nu ar indispensabil
a, ns
a
este folositor ca G s
a e prezent
a deoarece astfel diferenta de drum optic dintre raze depinde numai de d1 d2 , adic
a egal
a cu diferenta dintre bratele
interferometrului.
Dac
a cele dou
a oglinzi sunt perpendiculare una pe cealalt
a, efectul observat
este echivalent cu acela al unei lame de aer de grosime d = d1 = d2 : lumina
provenind de la M2 joac
a rolul luminii reectate pe suprafata inferioar
a a lamei
iar cea provenind de la M2 a luminii reectate pe fata superioar
a a lamei. n
gura 3.13., lama de aer echivalent
a este cea de la M1 la linia principal
a.
n aceast
a situatie se vor observa franje circulare de egala nclinare, cu centrul luminos, deoarece nu exist
a defazaj ntre dou
a raze. Diferenta de drum r
xvii
este dat
a de realtia:
r = 2d cos
unde
= 2(d2
d1 ) cos i ;
i
i
=m ;
= (2m0 + 1) 2
cos i = m 2d
:
cos i (2m0 + 1) 4d
Pentru o anumit
a valoare d, se observ
a pozitia unei franje luminoase Fm caracterizat
a de o valoare i si de num
arul m; dac
a ndep
art
am M1 mentinnd-o ns
a
paralel
a cu pozitia sa initial
a, d creste si pozitia franjei Fm este nlocuit
a de o
alt
a franj
a Fm0 , cu m0 > m, n timp ce franja Fm se deplaseaz
a spre exterior ntro pozitie caracterizat
a de o valoare mai mic
a a lui cos i . Astfel, prin cresterea
lui d se pot num
ara franjele luminoase care trec printr-o anumit
a pozitie xat
a.
Num
arul franjelor se traduce ntr-o m
asur
atoare a lungimii deoarece variatia lui
d este practic egal
a cu =2, ind lungimea de und
a a luminii monocromatice utilizate. Eroarea absolut
a care se produce prin m
asurare este de ordinul
jum
at
atii distantei care conduce la deplasarea franjei, adic
a de ordinul =4.
Michelson a folosit aceast
a metod
a pentru a compara lungimea metrului
etalon cu lungimea de und
a a unei linii rosi emis
a de cadmiu ( = 643:8nm);
el a obtinut c
a metrul este egal cu 1:5531635 106
, cu o eroare relativ
a de
~3 10 7 . n acest mod, Michelson a pus bazele denitiei optice a unitatii de
lungime, adoptat
a denitiv n 1960.
n m
asur
atorile efectuate, Michelson nu a putut s
a fac
a o comparatie direct
a cu metrul etalon; n afara faptului c
a trebuiau m
asurate cam trei milioane
de franje, distanta d = 1m este aproximativ egal
a cu lungimea de coerenta a
lungimii normale emise de atomi si nu se poate p
astra gura de interferenta
pentru aceast
a lungime. ns
a, Michelson a m
asurat o lungime mult mai mic
a
pe care a raportat-o f
ar
a a m
ari eroarea, la lungimea metrului etalon.
Un alt rezultat important obtinut cu interferometrul Michelson este vericarea faptului c
a viteza luminii nu depinde de sistemul de referinta (experientele
Michelson si Morley, 1887). Presupunem c
a drumul M M2 este paralel vitezei
p
amntului (si, deci, M M1 este perpendicular pe aceast
a vitez
a). Pentru o
anumit
a lungime geome-tric
a a acestor drumuri se calculeaz
a care trebuie s
a
e gura de interferenta tinnd cont de faptul c
a viteza c a luminii trebuie
s
a se compun
a cu viteza v a p
amntului rezultnd, de exemplu, c v pentru
M M2 , respectiv c + v pentru M2 M ; defazajul dintre undele care interfer
a este
determinat introducnd valorile vitezei de propagare a luminii calculate prin
compunerea galilean
a a vitezelor, n ambele brate ale interferometrului. Dac
a
interferometrul este rotit cu 900 , se va schimba rolul celor dou
a drumuri M M2
este M M1 si se va observa o deplasare a franjelor, ind modicat defazajul dintre undele care interfer
a. Deplasarea asteptat
a a franjelor era de aproximativ
jum
atate de franj
a, dar autorii nu au reusit s
a observe nici un fel de deplasare.
Experienta a fost repetat
a n diferite conditii, ntotdeauna obtinndu-se acelasi
rezultat. Concluzia, formulat
a de Einstein ca baz
a a teoriei restrnse, a fost c
a
viteza luminii este aceeasi n orice sistem de referinta inertial.
xviii
Fig.3.14
xix
Difractia a fost observat
a pentru prima dat
a de Grimaldi, n a doua jum
atate
a secolului al XVII-lea, ntr-o epoc
a dominat
a de teoria lui Newton. Ipoteza
ondulatorie a luminii a fost conrmat
a numai dup
a o alt
a sut
a de ani, n urma
experientelor efectuate de Young si de Fresnel.
n Fig.3.14 este reprezentat
a o situatie comun
a n care se observ
a difractia: o
und
a cade pe un ecran opac pe care se aa un oriciu de dimensiuni comparabile
cu lungimea de und
a a radiatiei incidente; pe un ecran C se poate observa lumina
dup
a ce a trecut prin oriciu.
Pentru calculul amplitudinii luminoase n punctul P al ecranului se foloseste
principiul Huygens-Fresnel -Kirchho. Suprafata aperturii este mp
artit
a n elemente innitezimale de arie d , ecare dintre ele constituid o surs
a elementar
a
de unde, cu amplitudinea cmpului electric dat
a de expresia:
dE =
Af ( )d
S
f( ) =
1 + cos
:
2
(3.17)
Amplitudinea rezultant
a n P se obtine prin sumarea vectorial
a a tuturor contributiilor dE provenite de la toate sursele care alc
atuiesc oriciul luminos, surse
care sunt coerente, n faz
a dac
a suprafata oriciului coincide cu suprafata frontului de und
a incident (sau cu diferenta de faz
a constant
a n alte cazuri).
Dac
a unda este incident
a pe un obstacol opac, de exemplu pe un disc, pentru
calculul amplitudinii undei ntr-un punct P dincolo de obstacol se procedeaz
a
n acelasi mod, considernd suprafata frontului de und
a din afara obstacolului.
Dintre modalit
atile n care se realizeaz
a si se observ
a difractia produs
a de
aperturi sau de obstacole iluminate, ne vom referi n cele ce urmeaz
a numai la
dou
a dintre ele, studiate de Fraunhofer, respectiv de Fresnel.
a) Difrac
tia Fraunhofer
Sursa de lumin
a S si ecranul C se aa la distanta mare de surs
a si apertur
a.
Fronturile de und
a care ajung pe aceasta sunt plane, la fel sunt si fronturile de
und
a care ajung n P (Fig.3.15).
Aceast
a reprezentare, care este cea mai simpl
a de tratat analitic, se realizeaz
a
n laborator cu ajutorul a dou
a lentile: prima lentil
a L1 transform
a unda sferic
a
provenit
a de la S ntr-o und
a plan
a cu apertura continut
a n frontul de und
a;
cea de-a doua lentil
a L2 focalizeaz
a n punctul P razele provenite de la apertur
a.
xx
Fig.3.15
b) Difrac
tia Fresnel
xxi
Fig.3.16
n cele ce urmeaz
a vom analiza mai nti fenomenele Fraunhofer care, printre
altele, sunt interesante pentru construirea instrumetelor optice. Vom studia apoi
si difractia Fresnel n cazuri matematice simple, dar semnicative.
Fig.3.17
Pe deschiderea dreptunghiular
a este incident
a o und
a plan
a cu lungimea de
und
a si cu frontul de und
a paralel cu planul care contine deschiderea. Diviz
am
aceast
a deschidere n N fsii paralele de l
argime y. Fiecare fsie va o surs
a de
unde secundare si va contribui cu amplitudinea E la cmpul electric rezultant
ER ntr-un punct P al ecranului. Contributiile E legate de dou
a fsii al
aturate
au diferenta de faz
a n punctul P egal
a cu
'=
y sin :
a sin
(3.18)
xxii
Fig.3.18
ER = f ( )Emax
sin =2
;
=2
I( ) = Imax f ( )
sin
2
2
2
= Imax f ( )
sin
a sin
a sin
!2
(3.19)
xxiii
Fig.3.19
Intensitatea transmis
a de deschidere se anuleaz
a obtinndu-se minime de
difractie atunci cnd
a sin
= m , sin = m , m = 1; 2; 3; ::
a
(3.20)
xxiv
maxim
a atunci cnd sin2 ( a sin = ) este bun
a, sau cnd
a sin
1
Im0
=
0
Imax
(2m + 1) 2
'
0:4
:
(2m0 + 1)2
xxv
Fig.3.20
I1 ( ) = I0
a sin
sin
a sin
!2
I( ) = I0
sin
a sin
a sin
!2
sin N
sin
d sin
d sin
!2
(3.21)
Aceast
a functie este reprezentat
a n Fig.3.21, cu N = 8; n mod uzual, rezultatele sunt sintetizate spunnd c
a intensiatea gurii de interferenta este modulata de difractie.
xxvi
Fig.3.21
Caracteristicile intensit
atii transmise de o retea de difractie sunt:
a) Maximele principale se aa de-a lungul directiilor
sin
=m
, m = 0; 1; 2; :::
(3.22)
b) Distanta unghiular
a dintre un maxim principal si minimul al
aturat acestuia este
(sin ) =
Nd
=2
2
L cos
=
m
2
N d cos
(3.23)
m
Imax (m)
=
Imax (m = 0)
sin m ad
m ad
(3.24)
xxvii
Raportul Rm depinde de raportul dintre l
argimea a a deschiderii si de pasul
retelei d. n particular, atunci cnd un minim de difractie coincide cu un
maxim de interferenta, adic
a atunci cnd pentru aceeasi valoare sunt satisf
acute conditiile
d sin = m
, a sin = ma ;
xxviii
Fig.3.22
Diviz
am frontul de und
a n zone inelare concentrice, cu centrul n O, denite
de conditia ca distantele la P de la marginea intern
a, respectiv de la marginea
extern
a a ec
arei zone s
a difere cu =2:
r 1 = r0 +
r 2 = r1 +
..
.
rn = rn
2
2
= r0 +
= r0 + n 2
; n = 1; 2; 3; ::
Rn2 = rn2
r02 = (r0 + n )
2
r02 = nr0 + n2
' nr0 ;
(3.25)
= (Rn2
Rn2
1)
= [nr0
(n
1)r0 ] = r0 ;
sunt toate egale ntre ele, nu depind de n. Asadar, amplitudinile undelor emise
de diferite zone sunt diferite n P numai datorit
a prezentei factorului de nclinare
f ( ) si de distanta, sc
aznd la cresterea lui n.
Evaluarea cmpului electric rezultant ER se face aplicnd metoda vectorilor
rotitori. Fiecare zon
a nit
a este considerat
a la rndul s
au ca ind format
a dintrun num
ar innit de suprafete elementare n ecare dintre ele emite o und
a de
amplitudine innitezimal
a. Diferenta de faz
a dintre undele emise de marginile
interne si externe ale ec
arei zone este
=
(rn
rn
1)
2
2
= :
xxix
Fig.3.23
Pentru cea de-a doua zon
a Fresnel, pornind din A obtinem din nou o semicircumferinta al c
arui diametru AB reprezint
a cmpul E2 ; punctul B nu coincide
cu O si E1 > E2 . Continund cu aceast
a constructie se poate intui c
a punctul
nal este O0 , mijlocul segmentului OA, astfel nct
EP =
1
E1
2
IP =
1
I1
4
Intensitatea luminoas
a n P produs
a de frontul de und
a mai sus denit este
egal
a cu un sfert din intensitatea produs
a de prima zon
a Fresnel; sc
aderea este
legat
a de interferenta distructiv
a dintre diferite zone.
Acelasi rezultat se obtine si scriind n felul urm
ator:
EP = E1 E2 +E3 E4 +::: =
1
1
1
1
E1 + (E1 2E2 +E3 )+ (E3 2E4 +E5 )+::: = E1 :
2
2
2
2
xxx
Fig.3.24
Datorit
a interferentei dintre diferite zone ale frontului de und
a, intensitatea
depinde mult de raza oriciului. Punctele de maxim
a intensitate se obtin atunci
cnd oriciul cuprinde
num
ar impar de
a pentru raze
p zone Fresnel, adic
p exact un p
R egale cu R1 = r0 , R3 = 3R1 , R
=
5R
,..;
punctele
de
a in5
1
p
p minim
tensitate se observ
a pentru raze R2 = 2R1 , R4 = 2R1 , R6 = 6R1 ,.., adic
a
atunci cnd oriciul cuprinde exact un num
ar par de zone Fresnel. Linia punctat
a din gur
a reprezint
a intensitatea n absenta ecranului cu oriciu. Valorile maximelor de intensitate sunt descresc
atoare iar acelea ale minimelor cresc
deoarece amplitudinile cmpurilor descresc cu cresterea lui R :
E1 > E1 E2 +E3 > E1 E2 +E3 E4 +E5 > :::; E1 E2 < E1 E2 +E3 E4 < ::
Subliniem faptul c
a intreaga analiz
a de mai sus este valabil
a atunci cnd P
este pe axa oriciului. Pentru a determina intensitatea ntr-un punct Q care
nu se aa pe axa OP trebuie s
a tinem cont c
a sistemul de zone Fresnel este
caracteristic punctului de observatie; prin deplasarea din P n Q paralel cu
planul oriciului, zonele Fresnel se deplaseaz
a cu Q. ntr-o pozitie oarecare Q,
xxxi
amplitudinea EQ rezult
a prin suprapunerea cmpurilor provenite din portiunile
de zone intersectate de oriciu. Chiar si atunci cnd punctul Q se aa n zona
de umbr
a geometric
a se observ
a o intensitate nenul
a.
Figura de difractie observat
a pe un ecran aat la distanta r0 de oriciu const
a
ntr-o serie de coroane circulare luminoase si ntunecate, cu centrul luminos dac
a
R = R1 ; R3 ; R5 ; :: si cu centrul ntunecos dac
a R = R2 ; R4 ; R6 ; :: n Fig.3.25 sunt
prezentate dou
a exemple.
Fig.3.25
Dac
a modic
am distanta r0 mentinnd constant
a lungimea de und
a si
raza R a oriciului, ec
arei valori r0 i este asociat un sistem de zone Fresnel
deoarece razele zonelor depind de r0 conform relatiei 3.25. Exist
a valori r0
pentru care oriciul cuprinde un num
ar impar de zone, si valori r0 pentru care
zonele cuprinse n oriciu sunt n num
ar par; primele valori le corespund maxime
de intensitate pe ax
a, valorilor secunde le corespund minime de intensitate.
xxxii
volum V = 2NA a3 . densitatea s
arii este
A = 2NA a3 ; a =
A
2NA
= 2:17
1=3
= 2:82
10
10
m = 0:282nm:
Fig.3.26
Distanta d dintre dou
a plane reticulare este n general mai mic
a dect constanta retelei a; numai pentru planele reticulare care sunt orizontale si verticale
d = a.
O und
a plan
a incident
a sub un unghi (unghi razant) fata de planele reticulare aate la distanta d unul fata de altul, vede atomii cristalului, cte unul pe
un plan reticular, care apartin unei retele ortogonale pe planele reticulare, ca
o retea unidimensional
a. Dac
a ne situ
am pe directia de observare ce formeaz
a
unghiul fata de planele reticulare, diferentele de drum
BB 0 B 00 ,
CC 0 C 00
BB 0 B 00 ;
DD0 D00
CC 0 C 00
xxxiii
Fig.3.27
Se obtine interferenta constructiv
a atunci cnd
2d sin = m , sau sin =
m
,
2d
m = 1; 2; 3; ::
(3.26)
relatie numit
a legea lui Bragg. Pentru unghiuri diferite, fasciculul este atenuat
sau de-a dreptul suprimat din cauza interferentei distructive, la fel ca si n cazul
retelei optice.
Un dispozitiv pentru observarea difratiei de raze X este spectrograful cu
cristal, conceput de Bragg. Variindu-se unghiul si m
asurnd unghiurile corespunz
atoare maximelor de difractie, din relatia (3.26) se poate deduce spectrul
lungimilor de und
a ale fasciculului de raze X. Se veric
a, astfel, existenta componentei continue a radiatiei de frnare peste care se suprapune componenta de
linii caracteristic
a structurii atomice a materialului emitator. n Fig.3.28 este
reprezentat unul dintre primele spectre obtinute de Bragg n 1913: sunt vizibile
spectrele de ordinul nti, respectriv de ordiul doi, ecare avnd trei linii.
Fig.3.28
Dac
a se utilizeaz
a un fascicul monocromatic de raze X se pot determina
distantele d, obtinndu-se informatii despre structura cristalin
a a materialului
folosit ca tint
a n spectrograf.
xxxiv
n cazul n care fasciculul incident poate ntlni n cristal diverse familii de
plane reticulare, aspectul gurii de difractie este mult diferit.
Prima evidenta a naturii ondulatorii a razelor X a fost obtinut
a de von
Laue n 1912. Un fascicul ngust de raze X este incident pe un cristal subtire
de suur
a de zinc; gura de interferenta obtinut
a este observat
a pe o plac
a
fotograc
a. Aceasta const
a din puncte dispuse n mod regulat n jurul fascicului
central transmis; ecare punct reprezint
a urma unei directii de-a lungul c
areia
s-a obtinut un maxim de difractie. De fapt, pentru o lungime de und
a incident
a
exist
a cuplul de valori di si i pentru care este vericat
a relatia (3.26) cu o
valoare ntreag
a pozitiv
a mi : aceasta nseamn
a c
a directia de incidenta formeaz
a
unghiul razant i cu o familie de plane reticulare avnd distanta di ntre ele si
c
a 2di sin i = mi . Raza difractat
a impresioneaz
a placa fotograc
a ntr-o zon
a
restrns
a, aproape punctiform
a.
Relatia (3.26) poate vericat
a si pentru alt grup de valori d; ,m diferite.
De asemenea, experienta poate repetat
a si pentru alte lungimi de und
a incident
a. Se constituie, asadar, spectrograma de puncte a lui von Laue n care
ec
arui punct i este asociat
a o familie de plane reticulare. Acest lucru este
caracteristic structurii cristaline iluminat
a cu un fascicul de raze X.
S
a presupunem acum c
a materialul pe care se difract
a fasciculul de raze X
este alc
atuit dintr-o pulbere ce contine un mare num
ar de microcristale, orientale
la ntmplare. Dac
a relatia (3.26) este vericat
a pentru o familie de plane
reticulare ale unui monocristal, aceasta este vericat
a de multe alte monocristale
si, n locul unui punct, pe placa fotograc
a se obtine o circumferinta. Este ca si
cum s-ar considera o situatie particular
a realizat
a cu metoda von Laue si s-ar roti
cristalul n jurul axei fasciculului; de fapt, n pulberea cristalin
a se g
asesc toate
directiile ce corespund diverselor rotiri ale cristalului. Spectrograma, numit
a
Debye-Scherrer, contine o serie de circumferinte; ecare generat
a de o familie
de plane reticulare.
Difractia razelor X, n afara de spectroscopia propriu zis
a cu raze X si de
studiul structurii cristaline, este utilizat
a si pentru analiza structurilor microscopice cum ar moleculele biologice complexe de tipul ADN .