Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Microscopul electronic de baleiaj cu efect tunel (STM) și microscopul de forţă atomică (AFM)
sunt cunoscute sub denumire generală de microscoape cu sondă locală. Un microscop cu sondă
de scanare folosește o sondă cu vârful extrem de fin (uneori terminându-se în doar câţiva
atomi), care trece peste o suprafaţă atingându-i contururile și formele.
AFM- microscopul cu Forța Atomică a devenit cea mai folosită tehnică a SPM-ului
( Scanning Probe Microscopy),servind doar pentru analiza topografica a suprafetelor. Cu ajutorul AFM-
ului se pot obține imagini tridimensionale ale suprafețelor (izolatoare sau conductoare) cu o
rezoluție nano lateral si subangstrom – vertical. Marele avantaj al AFMului este ca poate opera in
aer, vid si lichide la diferite temperaturi. Acest aparat este utilizat atat in cercetarea fundamental, cât
și la scală mai mare, în industrie AFMul având un rol deosebit de important în dezvoltarea
nanotehnologiei.
• Etape:
a) Litografia scrierii directe, pentru care se foloseşte un singur fascicul de electroni care este
scanat după o matrice pe suprafaţa unui material.