LUCRAREA 1 Piesele sunt formate din o mulţime de corpuri geometrice

elementare {CGE}, poziţionate şi intersectate între ele după reguli

stabilite de proiectantul piesei. În urma acestei acţiuni rezultă o anumită

This files has expired at 15-Sep-23

ANALIZA SEMIFABRICATULUI SUPUS PRELUCRĂRII formă finală a piesei. O analiză a unei piese, din punct de vedere al
necesităţilor unui proces de orientare, arată că aceasta este delimitată
1) Scopul lucrării constă în stabilirea drumului de urmat pentru (de mediul înconjurător) prin elemente reale de tipul: suprafeţe,
a realiza analiza semifabricatului supus prelucrării. Acest drum constă muchii, vârfuri. Poziţia relativă între aceste elemente reale trebuie să
în: fie complet determinată de cotele existente între elemente geometrice
• analiza desenului piesei; caracteristice ale acestor suprafeţe. Aceste elemente geometrice
• analiza procesului tehnologic de fabricare a piesei; caracteristice ale acestor suprafeţe sunt numite baze (fiind elemente
• analiza în detaliu a operaţiei pentru care se va proiecta dispozitivul de fictive ale PSf, care pot fi numai de tipul Γ, Δ, Ρ - plane, drepte sau
orientare şi fixare a semifabricatului; puncte).
• înţelegerea formelor semifabricatului la operaţia de prelucrare; Mulţimea elementelor reale şi fictive le vom denumi în mod
• recunoaşterea volumelor elementare din care este format unitar “mulţimea elementelor arhitecturale”-{EA}. Cele descrise sunt
semifabricatul, prin realizarea piesei în 3d; prezentate în figura 1.
• cunoaşterea regulilor de întocmire a schiţei operaţiei şi realizarea
acesteia prin trecerea de la 3d la 2d; Reale
(S,M,V)
• cunoaşterea noţiunilor despre elemente reale şi fictive ale este caracterizate
semifabricatului; PSf formată {CGE} prin
{EA}
• cunoaşterea noţiunilor despre suprafeţe de generare, cotare, orientare, Fictive
etc.; Baze (Γ,Δ,Ρ)
• cunoaşterea regulilor de determinare a elementelor semifabricatului fig.1
necesare proiectării dispozitivului. Analiza pentru determinarea elementelor arhitecturale ale PSf are la
bază notaţiile din tabelul 1, în care semnificaţia acestora este :
2) Bazele teoretice ale lucrării {EA} - elemente arhitecturale;
15-Sep-22 {EAG} - EA de generare (care se vor executa în operaţia analizată şi
Încă de la început trebuie răspuns la o întrebare . De ce este de la care pleacă cotele ce stabilesc poziţia relativă a acestora
necesar a se analiza “semifabricatul supus prelucrării” ? Răspunsul este faţă de EAC);
următorul : pentru că astfel se determină elementele necesare (pentru {EAC} - EA de cotare (la care ajung cotele care vin de la EAG);
două situaţii distincte): {EAO} - EA de orientare (care vor asigura orientarea PSf în
1- procesului de obţinere a unei scheme de orientare şi fixare dispozitiv);
optime (SOFO) nouă; {EAF} - EA de fixare (pe care se va realiza fixarea PSf în dispozitiv);
2- procesului de analiză a unei scheme de orientare şi fixare {EAL} - EA de legătură (restul de elemente arhitecturale care au mai
existentă. rămas pe PSf şi care completează arhitectura acesteia).

-1- L1/TCM/2022-2023
 Notaţiile folosite arată că elemente arhitecturale sunt de mai multe Tabel 2
categorii în funcţie de rolul lor în procesul de orientare, fixare şi EA – Reale Baze
prelucrare. Tip Caracteristici Baze proprii Baze de grup

This files has expired at 15-Sep-23

Analiza începe totdeauna cu {EAG} deoarece sunt singurele P(plan) Γ ⊃ P
cunoscute din procesul tehnologic. Pornind de la acestea se determină Γ1 // Γ 2
toate celelalte. P1 // P2(două plane Γ12
Γ1 ⊃ P1
paralele) (plan median)
Γ 2 ⊃ P2
Γ12 (plan
bisector)
Tabel 1 P1 I P2 Γ1 I Γ2
Δ12
(două plane Γ1 ⊃ P1
Reale {S G} {M G} {V G} (intersecţia
{EAG} intersectate) Γ 2 ⊃ P2
celor două
Baze { Γ G} { Δ G} {P G} S
plane)
(suprafaţă)
Reale {SC} {MC} {V C} C
{EAC} (CEL,CIL – cilindrică
Baze { Γ C} { Δ C} {P C} Δ (axa)
exterioară sau interioară
Reale {S O} {M O} {V O} lungă)
{EA} {EAO} KEL,KIL (conică
Baze { Γ O} { Δ O} {P O} Δ (axa)
exterioară sau interioară
P (vârful)
Reale ....... ....... .......
lungă)
{EAF} P (centrul
Baze Sf (sferică)
....... ....... ....... sferei)
Reale ....... ....... .......
D (dreaptă sau PRU
{EAL} suprafaţă
Baze Δ (dreapta)
....... ....... ....... M Plană Redusă
15-Sep-22 (muchie) Unidimensional)
Legătura care există între real şi baze (fictiv) este prezentată în P (centrul
C (cilindrică)
tabelul 2. cercului)
V PRB (suprafaţă Plană
Redusă P (punct)
(vârf)
Bidimensional)

Analiza fie pentru situaţia 1, fie pentru 2 se realizează conform

figurii 2.

-2- L1/TCM/2022-2023
 1- realizarea schemei de orientare – vezi ANEXA 1.1şi 1.2;
2- realizarea analizei conform figurii 3, urmărind paşii :
p1- urmează calea către mulţimea {EAG};

This files has expired at 15-Sep-23

p2- căutarea şi regăsirea pe schema de orientare a mulţimii {EAG};
p3- înregistrarea, pe rând, a elementelor componente, reale, care aparţin
{EAG}, adică a suprafeţelor (reale) de generat, cu adresele lor din
schema de orientare (S-Gi):
S-G11, S-G12;
p4- trecerea de la (S-Gi), la bazele (fictive), pentru fiecare (S-Gi),
conform tabelului 2.2;
p5- înregistrarea, pe rând, a bazelor de generare ( fictive)
corespunzătoare fiecărei (S-Gi):
ΔG-11, ΔG-12;
p6- căutarea şi regăsirea pe schema de orientare a cotelor care
determină poziţia fiecărei baze de generare faţă de alte baze, numite
baze de cotare. Înregistrarea acestor cote:
0
90 , 100, 20;
p7- înregistrarea, pe rând, a bazelor de cotare ( fictive) corespunzătoare
fiecărei baze de generare:
Γ-C-XOZ, Γ-C-YOZ, Γ-C1;
p8- trecerea de la bazele de cotare (fictive) la suprafeţele de cotare
(reale), pentru fiecare bază de cotare în parte, conform tabelului 2.2;
p9- înregistrarea, pe rând, a suprafeţelor de cotare (reale)
corespunzătoare fiecărei baze de cotare:
S-C4 + S-C6, S-C3 + S-C5, S-C1
15-Sep-22 p10- urmează calea către mulţimea {EAO};
p11- căutarea şi regăsirea pe schema de orientare a mulţimii {EAO};
p12- înregistrarea, pe rând, a elementelor componente, reale, care
aparţin {EAO}, adică a suprafeţelor (reale) de orientare, cu adresele lor
fig.2 din schema de orientare (S-Oi):
S-O4, S-O3, S-O2;
3) Aplicaţie (pentru situaţia 2 – când schema de orientare şi p13- trecerea de la (S-Oi), la bazele (fictive), pentru fiecare (S-Oi),
fixare este determinată) conform tabelului 2.2;

-3- L1/TCM/2022-2023
p14- înregistrarea, pe rând, a bazelor de orientare( fictive) ** Observaţii şi comentarii asupra lucrării
corespunzătoare fiecărei suprafeţe de orientare :
P-O4, Γ-O3, Γ-O2;

This files has expired at 15-Sep-23

4) Testare
Se realizează schema de orientare şi analiza schemei de
orientare indicate de cadrul didactic, conform modelului din anexele
1.1 şi 1.2, considerând că operaţia este ultima în cadrul procesului
tehnologic, pentru reperul-operația indicate.

Cod REPER-Operație
Nume şi Simbolurile Semnătura
Grupa
STUDENT informaționale CADRU DIDACTIC
indicate

15-Sep-22

-4- L1/TCM/2022-2023