Tezaeb

MINISTERUL EDUCAIEI, CERCETRII,
TINERETULUI I SPORTULUI
UNIVERSITATEA TEHNIC DE CONSTRUCII BUCURETI
FACULTATEA DE INSTALATII

TEZ DE DOCTORAT

CONTRIBUII LA OPTIMIZAREA PROIECTRII INSTALAIILOR
ELECTRICE I DE AUTOMATIZARE

Conductor tiinific:
Prof. univ. dr. ing. Sorin CALUIANU

Doctorand:
ing. Eugen - Cristian BADEA

BUCURETI
- 2010 -

CUPRINS

2

CUPRINS

1. INTRODUCERE.................................................................................................5
2. CONSIDERAII ASUPRA PROBLEMEI OPTIMIZRII INSTALAIILOR
ELECTRICE I DE AUTOMATIZARE......................................................................10
2.1. Despre stadiul actual al cercetrilor i preocuprilor n domeniul optimizrii
instalaiilor electrice i de automatizare..................................................................10
2.2. Principalele obiective urmrite n lucrare ........................................................11
2.3. Soluii de cretere a fiabilitii .........................................................................13
2.3.1. Soluii n faza de proiectare a instalaiilor .................................................13
2.3.2. Soluii n faza de execuie i exploatare a instalaiilor...............................14
3. ANALIZA FIABILITII INSTALAIILOR ELECTRICE I DE
AUTOMATIZARE......................................................................................................16
3.1. Noiuni fundamentale......................................................................................16
3.2. Principalii indicatori utilizai n prezent pentru evaluarea numeric a fiabilitii
instalaiilor electrice i de automatizare..................................................................19
3.2.1. Cazul general ...........................................................................................19
3.2.2. Cazul particular al repartiiei exponeniale (t)==ct. ................................28
3.3. Metode, modele i procedee actuale pentru determinarea fiabilitii instalaiilor
electrice i de automatizare....................................................................................31
3.3.1. Scheme logice i diagrame de fiabilitate utilizate la optimizarea instalaiilor
electrice i de automatizare.................................................................................31
3.3.2. Ipoteza distribuiei exponeniale avantaje, dezavantaje, soluii alternative
utilizate n modelarea fiabilitii instalaiilor electrice i de automatizare .............33
3.3.2.1. Repartiia exponenial.....................................................................33
3.3.2.2. Repartiia Weibull .............................................................................35
3.3.2.3. Repartiia Gamma ............................................................................36
3.3.2.4. Repartiia uniform...........................................................................37
3.3.2.5. Repartiia normal (Gauss) ..............................................................38
3.3.2.6. Repartiia binomial (Bernoulli) ........................................................40
3.3.2.7. Repartiia Poisson (legea evenimentelor rare) .................................41
3.3.3. Alte ipoteze de calcul al fiabilitii utilizate la optimizarea instalaiilor
electrice i de automatizare.................................................................................42
3.3.3.1. Ipoteza evenimentelor independente din punct de vedere al defectrii
42
3.3.3.2. Ipoteza limitrii numrului de stri ale unei instalaii.........................43
3.3.3.3. Ipoteza limitrii numrului de tranziii ntr-un interval dat..................43
3.3.3.4. Ipoteza neglijrii tranziiilor din stri de defect n stri de defect.......43
3.3.3.5. Ipoteza valorilor relativ mari ale timpului de funcionare fa de timpul
de defectare .....................................................................................................43
3.3.4. Funcionarea sistemelor pn la prima defectare.....................................44

CUPRINS

3
3.3.4.1. Fiabilitatea sistemelor compuse dintr-un singur element..................45
3.3.4.2. Fiabilitatea sistemelor compuse din n elemente cu fiabilitate diferit
din care, pentru asigurarea strii de funcionare a sistemului este necesar s fie
n stare de funcionare elemente...................................................................46
3.3.5. Funcionarea sistemelor cu restabilire......................................................50
3.3.5.1. Procese stochastice de tip Markov cu timp continuu........................50
3.3.5.2. Procese stochastice de tip Markov cu timp discret ...........................55
3.3.5.2.1. Lanuri Markov finite omogene....................................................56
3.3.5.2.2. Lanuri Markov finite neomogene................................................60
3.3.5.2.3. Soluie pentru determinarea duratei de via a unui proces........61
3.3.6. Elemente echivalente ...............................................................................69
3.3.7. Grupuri de defectare.................................................................................73
3.3.7.1. Procedeu clasic al grupurilor de defectare .......................................73
3.3.7.2. Procedeu simplificat pentru ntocmirea grupurilor de defectare........74
4. PARTICULARITI ALE FIABILITII INSTALAIILOR DE
AUTOMATIZARE......................................................................................................76
4.1. Generaliti .....................................................................................................76
4.2. Tolerana la defectri ......................................................................................76
4.2.1. Consideraii generale................................................................................77
4.2.2. Soluii de implementare a toleranei la defectri .......................................77
4.2.2.1. Reconfigurarea sistemelor ...............................................................77
4.2.2.2. Sisteme autotestabile.......................................................................79
4.2.3. Aspecte privind fiabilitatea sistemelor tolerante la defectri .....................80
4.3. Fiabilitatea releelor .........................................................................................83
4.4. Fiabilitatea conectoarelor i optocuploarelor...................................................85
4.5. Fiabilitatea memoriilor semiconductoare.........................................................88
4.6. Fiabilitatea microprocesoarelor.......................................................................89
4.7. Fiabilitatea software-ului .................................................................................91
5. MANAGEMENTUL FIABILITII ....................................................................95
5.1. Evoluia conceptuala de la controlul calitii la managementul fiabilitii ........95
5.2. Cerine actuale i perspective.......................................................................100
5.2.1. Managementul fiabilitii n sens restrns...............................................100
5.2.2. Managementul mentenabilitii ...............................................................102
5.2.3. Managementul mentenanei ...................................................................104
5.2.3.1. Mentenana corectiv.....................................................................105
5.2.3.2. Mentenana preventiv...................................................................106
5.2.3.3. Mentenana preventiv curent......................................................107
5.2.3.4. Testarea curent periodic.............................................................107
5.2.3.5. Costurile mentenanei ....................................................................109
5.2.3.6. Mentenana bazat pe fiabilitate.....................................................110
5.2.4. Managementul riscului............................................................................112

CUPRINS

4
6. CONTRIBUII LA OPTIMIZAREA INSTALAIILOR ELECTRICE I DE
AUTOMATIZARE....................................................................................................118
6.1. Consideraii asupra unor insuficiene ale teoriei actuale...............................118
6.1.1. Limitarea utilizrii funciei de fiabilitate ...................................................118
6.1.2. Paradigma distribuiei exponeniale a sistemelor fr uzur ..................119
6.1.3. Contractarea i dilatarea duratei de via a sistemelor...........................119
6.1.4. Defectare sau degradare........................................................................119
6.2. Soluii propuse pentru evitarea paradoxurilor i completarea teoriei actuale 120
6.2.1. Necesitatea i posibilitatea introducerii unor noi caracteristici numerice
pentru evaluarea fiabilitii: viabilitatea, entropia i riscul ..................................120
6.2.1.1. Viabilitatea......................................................................................120
6.2.1.2. Entropia..........................................................................................121
6.2.1.3. Riscul .............................................................................................123
6.2.2. Un nou punct de vedere asupra structurilor redundante n instalaiile
electrice i de automatizare...............................................................................124
6.2.3. Despre cuanta de timp. Aplicaii n evaluarea fiabilitii instalaiilor electrice
i de automatizare.............................................................................................127
6.3. Optimizarea unor soluii privind instalaiile electrice i de automatizare .......128
6.3.1. Optimizarea unei structuri de tip serie ....................................................128
6.3.2. Optimizarea unei structuri de tip paralel .................................................131
6.3.3. Optimizarea redundanei totale. Cazul unei duble alimentri cu energie
electric.............................................................................................................133
6.3.4. Optimizarea unei instalaii electrice de tip n = 3, = 1 ...........................136
6.3.5. Optimizarea unei instalaii electrice de distribuie de tipul n = 3, = 2 ...138
6.3.6. Optimizarea schemei de automatizare pentru pornirea stea-triunghi a unui
motor trifazat .....................................................................................................140
6.4. Creterea fiabilitii instalaiilor prin rezervare ..............................................143
6.5. Optimizarea sistemelor complexe. Comparaie ntre metodele aproximative
simplificate i metodele clasice de calcul al fiabilitii ...........................................150
6.6. Optimizarea sistemelor utiliznd metoda multiplicatorilor Lagrange .............158
7. CONCLUZII ....................................................................................................160
8. SINTEZA PRINCIPALELOR CONTRIBUII ORIGINALE.............................163
9. ANEXE...........................................................................................................168
10. BIBLIOGRAFIE..............................................................................................208

1. INTRODUCERE

5

1. INTRODUCERE

Realizrile tehnologice fr precedent ale secolului XX nu ar fost posibile fr
dezvoltarea conceptual i operaional a cercetrilor i aplicaiilor n domeniul
calitii i fiabilitii. Nu este ntmpltor faptul c perioada n care au avut loc marile
realizri ale tehnicii (dezvoltarea aplicaiilor electrotehnicii, electronicii, automatizrii,
energeticii nucleare, zborurilor spaiale, etc., etc.) a coincis cu perioada n care au
aprut i s-au dezvoltat calitologia tiinific i teoria fiabilitii.
Titlul tezei de doctorat ne pune de la nceput n faa necesitii rezolvrii unei
prime probleme de optimizare: alegerea dintr-o mulime de alternative posibile a
criteriilor(obiectivelor, mrimilor) pe care s ncercm s le optimizm n condiiile
unor constrngeri (restricii) date.
Att calitatea ct i fiabilitatea, conform definiiilor standardizate pe plan
internaional trebuie s satisfac unele cerine ale clienilor. Deosebirea esenial
dintre calitate i fiabilitate const n intervalul de timp de-a lungul cruia trebuie
ndeplinite cerinele. Un adevr de necontestat astzi este faptul c gestionarea
satisfacerii cerinelor o face piaa (clienii). Este natural s ne punem ntrebarea dac
clienii doresc s cunoasc intervalul de timp de-a lungul cruia produsul (sistemul)
achiziionat le poate satisface cerinele. Rspunsul este evident afirmativ i n
concordan cu previziunile exprimate n [10], [21] i [50] privind posibilitatea trecerii
de la managementul calitii la managementul fiabilitii n prima parte a secolului n
care am intrat.
Acest fapt ne-a condus la soluia alegerii criteriului fiabilitii ca obiectiv pentru
optimizarea proiectrii instalaiilor electrice i de automatizare. Creterea fiabilitii
oricrui sistem este de regul restricionat de optimizare tratat n prezenta lucrare
trebuie avute n vedere de fapt dou cerine, fiabilitatea i economicitatea.
Complexitatea i diversitatea instalaiilor electrice i de automatizare fac s existe o
dualitate ntre cele dou cerine n sensul c exist i situaii n care economicitatea
este criteriul de optimizat iar fiabilitatea reprezint o restricie a problemei.
Aceste aspecte au condus la necesitatea rezolvrii unei a dou problem de
optimizare: alegerea soluiei optime dintre alternativa tratrii n fiecare caz att a
cerinei de fiabilitate ct i a celei de economicitate sau a direcionrii prioritare a
efortului de cercetare n direcia uneia din ele. Restricia n aceast problem este
impus de spaiul afectat unei teze de doctorat i de timpul disponibil pentru
cercetare n vederea elaborrii tezei. Pentru rezolvarea acestei probleme am apelat
la criteriul de eficien a cercetrii ceea ce m-a condus la adoptarea celei de a doua
alternative, prioritar fiind fiabilitatea. Acesta deoarece cercetrile n domeniul
fiabilitii sunt nc ntr-o faz de evoluie accelerat fa de cele n domeniul
economicitii care sunt aproape de saturaie.
n capitolul 2 intitulat CONSIDERAII ASUPRA PROBLEMEI OPTIMIZRII
INSTALAIILOR ELECTRICE I DE AUTOMATIZARE cerina de fiabilitate este
particularizat prin cerina de durat de funcionare justificndu-se aceast alegere
prin faptul c dei cerin este cea mai cerut de pia, ea este cea mai puin

1. INTRODUCERE

6
reglementat iar evaluarea ei numeric conduce n cazul instalaiilor cu grad de
complexitate mediu i mare la dificulti care deseori nu pot fi depite. Sunt
evideniate erorile de metod de evaluare care pentru instalaiile actuale devin
inacceptabile.
Se propune orientarea cercetrii spre o nou abordare a problemei evalurii
duratei de funcionare i chiar o nou denumire, dup modelele din fizic, durat de
via. Se consider posibilitatea ca prin alturarea indicatorului de risc, mult agreat n
ultimele dou decenii, problema evalurii numerice a fiabilitii s fie rezolvat mult
mai bine dect cu indicatorii actuali (funcia de fiabilitate i rata de defectare la care
se adaug, uneori, durata medie de defectare evaluat statistic).
n continuare se arat c actualele metode i modele matematice cunoscute
n prezent pentru analiza i optimizarea fiabilitii conin i soluii care sunt practic
depite n sensul c pot fi nlocuite cu modele mai simple i mai eficiente.
n ncheierea capitolului se arat c evoluia tehnologic din ultimele decenii,
caracterizat i de mbuntirea fiabilitii n general i a instalaiilor electrice i de
automatizare n special, s-ar putea s impun chiar revizuirea conceptual a teoriei
actuale a fiabilitii n sensul c evenimentului defectare trebuie s i se asocieze i
evenimentul degradare. n foarte multe cazuri este chiar suficient evaluarea
degradrii care conduce implicit la determinarea duratei de via, conform teoriei
entropice a sistemelor (TES) elaborat n ultimii zece ani (1999 - 2008). Formalizarea
matematic a proceselor de degradare, crora le sunt supuse absolut toate sistemele
din natur, nu a putut fi realizat pn n 1999 pentru c nu a existat un formalism
matematic corespunztor pentru al doilea principiu al termodinamicii. Adugndu-se
la formalismul din 1999 conceptul de cuant de timp (2004) i graf entropic canonic
(2008) a fost posibil realizarea unei teorii simple i coerente ale crei aplicaii din
capitolul 6 rezolv i problema evalurii fiabilitii pe baza conceptului de degradare.
n capitolul 3 al lucrrii, intitulat ANALIZA FIABILITII INSTALAIILOR
ELECTRICE I DE AUTOMATIZARE se prezint noiunile, indicatorii, ipotezele,
metodele, modelele i procedeele utilizate n teoria actual a fiabilitii sistemelor.
Un loc aparte n acest capitol este cel al proceselor stochastice de tip Markov
finite. Dei, pentru cazul particular al lanurilor omogene modelul este cunoscut i
menionat n numeroase lucrri de fiabilitate, datorit unor dificulti de percepie
create de lipsa unor exemple de aplicaii simple i eficiente n literatura de
specialitate, modelul a fost pn acum foarte puin folosit n evaluarea fiabilitii.
Acceptarea noiunii de cuant de timp a condus la necesitatea abandonrii evalurii
fiabilitii cu modelele clasice mult utilizare n prezent i trecerea la modelul cu timp
discret. Dei cuanta de timp nu are nici o legtur cu ceea ce se nelege prin
discretizarea timpului, modelul lanurilor Markov cu timp discret omogene poate fi
folosit pentru compararea ordinului de mrime al duratei de via determinat prin
modelul entropic.
n capitolul 4 intitulat PARTICULARITI ALE FIABILITII INSTALAIILOR
DE AUTOMATIZARE se prezint faptul c una din cerinele pe care trebuie s le
ndeplineasc o instalaie electric i de automatizare este utilizarea a ct mai puine
component pentru realizarea aceleiai funcii. De aceea, rezolvarea acestui lucru s-a
putut face prin nglobarea ntr-un singur element a mai multor funcii cu ajutorul
electronicii. De aici, a rezultat necesitatea dezvoltrii previziunilor de fiabilitate pentru
sisteme electronice. Previziunile de fiabilitate pentru instalaii electrice i de

1. INTRODUCERE

7
automatizare se bazeaz pe cunoaterea unor indicatori de fiabilitate a elementelor
componente.
Instalaiile electrice i de automatizare au n componena sa un numr mare
de elemente, lucrarea de fa prezentnd doar o parte dintre acestea, utilizate n
mod frecvent n componena unei instalaii electrice i de automatizare. Astfel, se
prezint modul de punere al problemei n ceea ce privete fiabilitatea releelor,
fiabilitatea conectoarelor i optocuploarelor, fiabilitatea memoriilor semiconductoare,
fiabilitatea microprocesoarelor i nu n ultimul rnd fiabilitatea software-ului.
n subcapitolul destinat fiabilitii software-ului, dup ce se menioneaz
utilizarea tot mai frecvent a acestui instrument pentru comanda si supravegherea
instalaiilor de automatizare sunt prezentate tipurile de erori i de defecte
caracteristice care afecteaz fiabilitatea n acest caz conform standardului
internaional IEEE 982.2/1998 dintre care erorile umane, incompatibilitatea cu
cerinele clienilor, defectele de proiectare, de codare de documentare i de operare
sunt cele mai relevante. Sunt definite conceptele de fiabilitate a software-ului i de
erori critice.
Fiabilitatea releelor prezint ntre particulariti faptul c n acest caz n locul
duratei de via se utilizeaz numrul de comutri. Sunt prezentate cele mai
importante i interesante aspecte ale fiabilitii acestor componente care prezint i o
caracteristic specific fa de celelalte componente ale instalaiilor de automatizare,
uzura contactelor si dispozitivelor de acionare astfel nct tratarea fiabilitii releelor
trebuie fcut n proiectare cu toat responsabilitatea profesional, iar datele de
intrare trebuie stabilite exclusiv prin ncercri de laborator.
Tratarea fiabilitii memoriilor semiconductoare relev ratele mari de defectri
timpurii, caracteristice pentru numrul mare de componente integrate, ceea ce
necesit o selecie prin supunerea modulelor la solicitri mari de temperatur i
intensitate a cmpului n timpul fabricaiei. n cazul microprocesoarelor apar n plus
defectri care depind de succesiunea instruciunilor, pierderea datelor la ntrerupere
i repetare multipl a comenzilor. Cu toate acestea fiabilitatea proprie a
microprocesoarelor este foarte mare fa de cea a memoriilor sau a altor circuite
integrate.
Avnd n vedere creterea complexitii sistemelor tehnice actuale odat cu
cerina de minimizare a riscului eventualelor defectri, n acest capitol se prezint
cteva concepte de baz utilizate n domeniul sistemelor tolerante la defectri, ce
vine n sprijinul micorrii riscului de defectare al sistemelor.
Tolerana la defectri, caracteristic structural i n acelai timp soluie de
ameliorare a fiabilitii instalaiilor de automatizare este prezentat prin detalierea
coninutului soluiilor de reconfigurare i autotestare a sistemelor i prin formalizarea
matematic specific a principalilor indicatori de cretere a fiabilitii. La aceti
indicatori se adaug doi indicatori foarte importani pentru optimizarea redundantei
instalaiilor de automatizare i anume indicele de cost I
c
si indicele de eficienta E.
n capitolul 5 intitulat MANAGEMENTUL FIABILITII se prezint conceptul
de calitate care st la baza dezvoltrii conceptului de management al fiabilitii i
mentenabilitii. Se arat faptul c activitile dedicate satisfacerii cerinelor necesare
de fiabilitate influeneaz organizarea unei societi, deoarece responsabilitatea
pentru calitate i fiabilitate revine ntregii societi. Astfel se arat necesitatea

1. INTRODUCERE

8
introducerii n organigrama unei societi a unui departament centralizat, de sine
stttor, pentru asigurarea fiabilitii, care s acioneze dup un program de
fiabilitate.
n continuare se arat faptul c noiunea de fiabilitate n sens larg presupune
i alte noiuni printre care cea de mentenabilitate. De aceea este prezentat conceptul
de management al mentenabilitii i n mod evident conceptul de management al
mentenanei.
Avnd n vedere evoluia i rspndirea sistemelor tehnice complexe a cror
defectare are un impact puternic asupra instalaiilor electrice i de automatizare dar
i mediului nconjurtor, preocuprile de evaluare i cuantificare a riscului au crescut
foarte mult, fapt ce a dus la dezvoltarea conceptului de management al riscului,
prezentat n acest capitol.
Capitolul 6 intitulat CONTRIBUII LA OPTIMIZAREA INSTALAIILOR
ELECTRICE I DE AUTOMATIZARE aduce n discuie o serie de insuficiene ale
teoriei actuale cum sunt: limitele utilizrii funciei de fiabilitate, utilizarea distribuiei
exponeniale ce nu ine seama de uzura sistemului, duratele de via a sistemelor
fa de duratele de via ale elementelor i nu n ultimul rnd conceptul de defectare
folosit n sensul de tranziie a sistemului din starea de satisfacere a cerinelor date n
stare de nesatisfacere a acestora, concept ce ar trebui nlocuit cu cel de degradare.
n continuare se propun cteva soluii pentru evitarea paradoxurilor i
completarea teoriei actuale bazate pe conceptul de teorie entropic a sistemelor
(TES). Astfel au fost propui noi indicatori pentru evaluarea fiabilitii instalaiilor
electrice i de automatizare cum sunt: viabilitatea, entropia i riscul. Totodat este
prezentat i noiunea de cuant de timp ce st la baza grafului entropic canonic i
care va fi utilizat n continuare n aplicaiile de optimizare.
In acest capitol sunt prezentate o serie de optimizri ale unor soluii privind
instalaiile electrice de automatizare. Astfel a fost abordat optimizarea sistemelor de
tip serie i a sistemelor de tip paralel. Pentru structurile de tip serie a fost analizat
optimizarea unor instalaii electrice i de automatizare cum ar fi: instalaia de
alimentare cu energie electric a unui motor i instalaia de automatizare pentru
pornirea stea-triunghi a unui motor electric trifazat. Pentru structurile redundante sunt
abordate sistemele de dou elemente identice din punct de vedere al fiabilitii,
montate n paralel, ce asigur o redundan parial dar i instalaiile la care este
asigurat redundana total.
Tot n acest capitol sunt analizate optimizrile unor instalaii de tip (n )
redundante pentru care am considerat cazurile particulare n = 3 i = 1 respectiv n =
3 i = 2.
n cadrul tuturor exemplelor de optimizare descrise sunt realizate analize
bazate pe graficele rezultate n urma calculelor indicatorilor de fiabilitate att pentru
metodologia actual de calcul a acestora ct i pentru metodologia de calcul propus
n acest capitol. Toate calculele sunt prezentate sub form tabelar n
capitolul 9 - Anexe.
Una din aplicaiile din acest capitol abordeaz problema creterii fiabilitii
instalaiilor electrice i de automatizare prin rezervare, analiznd comparativ soluia
de rezervare total cu soluia de rezervare parial.

1. INTRODUCERE

9
n dou exemple analizate n cadrul optimizrii sistemelor complexe se pune
problema comparrii rezultatelor obinute prin metodele aproximative simplificate i
metodele clasice de calcul al fiabilitii. Metodele luate n discuie sunt metoda
soluiei generale, metoda grupurilor de defectare, metoda drumurilor extremale i
metoda simplificat a soluiei generale sau soluia general 2 (SG2) cum a fost
introdus n 2002 [42].
n finalul capitolului este prezentat metoda de optimizare utiliznd
multiplicatori Lagrange, metod utilizat pentru determinarea maximelor sau
minimelor funciilor de mai multe variabile.
n capitolele 7 i 8 sunt prezentate concluziile i respectiv principalele
contribuii originale ale autorului lucrrii.

* *
*

Pe aceast cale doresc s aduc un omagiu domnului Prof. dr. ing. Constantin
IONESCU care m-a ndrumat spre acest interesant domeniu al fiabilitii.
Totodat doresc s adresez deosebite mulumiri i profund recunotin
domnilor Prof. dr. ing. Sorin CALUIANU i Prof. dr. ing. Alexandru STAMATIU pentru
nelegerea i ndrumarea deosebit de competent acordat pe tot parcursul
elaborrii lucrrii.

2. CONSIDERAII ASUPRA PROBLEMEI OPTIMIZRII INSTALAIILOR ELECTRICE I DE AUTOMATIZARE

10

2. CONSIDERAII ASUPRA PROBLEMEI OPTIMIZRII
INSTALAIILOR ELECTRICE I DE AUTOMATIZARE

2.1. Despre stadiul actual al cercetrilor i preocuprilor n
domeniul optimizrii instalaiilor electrice i de automatizare

Prin optimizare se nelege deseori gsirea celei mai bune soluii n condiiile
unor constrngeri sau restricii date. n inginerie n general prin optim se nelege
optimul economic, soluia putnd fi cea mai bun soluie tehnic n condiiile unor
restricii financiare impuse sau cea mai ieftin soluie n condiiile unor restricii
tehnice impuse de obicei printr-un caiet de sarcini. n ambele variante optimizarea
trebuie realizat nc din faza de proiectare a instalaiilor electrice i de automatizare,
fapt care nu exclude cutarea i gsirii unor soluii optime i n faza de realizare i de
exploatare a instalaiilor. Este cunoscut faptul c cele mai mari costuri ale unei
instalaii industriale sunt deseori n faza de exploatare, cauza fiind de fapt n faza de
proiectare. ntre aceste costuri cea mai mare pondere o au cheltuielile cu
mentenana, cu toate progresele fcute n ultimele decenii n aceast direcie.
Acesta este motivul pentru care subiectul prezentei teze de doctorat
abordeaz problema optimizrii instalaiilor electrice i de automatizare n faza de
proiectare.
n domeniul instalaiilor electrice i de automatizare exist, ca n orice
domeniu, unele particulariti care trebuie i pot s conduc la o ierarhizare a
prioritilor n domeniul optimizrii, Dintre multiplele cerine pe care trebuie s le
ndeplineasc o instalaiile electric i de automatizare, experiena ne arat c n
afara de cerina fundamental de a rspunde scopului sau obiectivului stabilit, nu pot
fi trecute cu vederea cerinele specifice legate de incendii, electrocutri i durat de
funcionare.
n ceea ce privete cerina fundamental i cele de protecie mpotriva
incendiilor i electrocutrilor nu pot fi fcute concesii deoarece exist reglementri
stabilite prin standarde i normative, cerina de durat de funcionare este ns
departe de a fi reglementat corespunztor. Ea este practic supus numai
reglementrii pieei, concureniale sau nu, astfel nct costurile, daunele, pierderile
datorate unei durate de funcionare neconform cu ateptrile clienilor, fiind
suportate aproape n exclusivitate de ctre acetia.
Aceasta este situaia actual! Este ns bine cunoscut faptul c n anii 70 au
fost elaborate standarde la nivel naional privind evaluarea durate medii de
funcionare, au fost elaborate reglementri privind obligativitatea nfiinrii
laboratoarelor de fiabilitate n nvmntul superior i n industria productoare de
echipamente pentru instalaii electrice i de automatizare, au fost elaborate
normative de fiabilitate n domeniul distribuiei energiei electrice i n domeniul
industriei productoare. Dup aproape patru decenii numrul laboratoarelor s-a
redus de la cteva zeci la doar cteva laboratoare iar singurele reglementri,
normative care mai exist se pare c sunt numai cele din domeniul energiei electrice.
Cauza acestei situaii nu trebuie ns cutat n transformrile economice,
structurale care au avut loc n ultimii douzeci de ani ci n constatarea unei eficiene
economice sczute a laboratoarelor i normativelor respective.


11
Problema creia trebuie s i se gseasc un rspuns corect, documentat i
argumentat este cea a necesitii oportunitii i posibilitii reconsiderrii unei
caracteristici numerice prin care s fie apreciat durata de funcionare.
Necesitatea i oportunitatea este evident, att furnizorilor ct i clienilor le
poate fi nu numai util ci i necesar o cunoatere ct mai apropiat de realitate a
acestei caracteristici numerice a produselor. Posibilitatea evalurii satisfctoare a
acestei caracteristici este ns astzi mult discutat. Din anii 50 i pn astzi
principala cale pentru determinarea duratei de funcionare a fost cea a ncercrilor de
laborator, cel mai des a celor de tip accelerat (prin supunerea produselor la
suprasolicitri fizice), urmate de prelucrarea statistic a rezultatelor obinute.
Rezultatele sunt ns afectate de mai multe tipuri de erori de metod dintre care cele
produse de evaluarea funciilor de corelaie ntre solicitrile de laborator i cele reale
i cele de estimare a distribuiei statistice i a nivelului de ncredere impus de
modelul folosit.
n lucrarea de fa ne propunem s artm c este posibil o nou abordare a
problemei evalurii duratei de funcionare prin care s se nlture unele din
dezavantajele de mai sus i s se obin, cu un efort de laborator i de calcul redus,
informaii de mare importan nu numai pentru condiiile iniiale, ca pn acum, ci i
pentru ntreaga evoluie a sistemelor i proceselor

2.2. Principalele obiective urmrite n lucrare

Principalul obiectiv este cel prezentat n ultimul paragraf de mai sus.
Vom folosi pentru durata de funcionare, fie ea medie (obinut printr-o metod
de mediere) sau nu, denumirea de durat de via. Aceast denumire va fi folosit i
pentru caracteristicile de fiabilitate sau siguran n funcionare cum sunt MTTF,
MTBF i celelalte durate din standardul internaional CEI IEC 50(191), prezentate
n capitolul 3.1 al lucrrii. Echivalena cu aceste durate sau intervale de timp prin care
se caracterizeaz n prezent fiabilitatea n sens larg este necesar deoarece pentru
aplicaiile n ingineria sistemelor (instalaiilor electrice i de automatizare n cazul
acestei lucrri) se for folosi datele existente n bncile actuale de date sau datele
obinute prin metodele existente pentru ratele de defectare.
Ca orice optimizare i optimizarea proiectrii instalaiilor electrice i de
automatizare trebuie s aib definite obiective i restricii. Se tie c pentru
caracterizarea oricrui fenomen sau proces nu este suficient un singur indicator
(caracteristic numeric). Practica inginereasc arat c este necesar i n
majoritatea cazurilor i suficient un numr de doi indicatori. n cazul instalaiilor
electrice i de automatizare i nu numai se pare c cel mai util indicator, alturi de
durata de via, se dovedete a fi riscul. Pentru evaluarea numeric a acestor
indicatori dispunem de formalismele matematice ale teoriei fiabilitii sistemelor.
Teoria actual a fiabilitii se bazeaz ns pe trei indicatori, funcia de fiabilitate, rata
de defectare i durata medie de funcionare fr defectare dintre care ultimul poate fi
identificat cu durata de via. Riscul, sub form de risc tehnic, este considerat ca
probabilitatea complementar funciei de fiabilitate, multiplicat uneori cu daunele
specifice, rezultnd riscul n uniti financiare.
Lucrarea i propune s aprofundeze i aceste aspecte pentru a se gsi soluii
optime aplicabile n problemele concrete deoarece dup mai mult de 15 ani de


12
ncercri de implementare a indicatorului de risc n practica ingineriei instalaiilor
electrice i de automatizare rezultatele nu sunt deloc concludente.
Un obiectiv esenial urmrit n lucrare este i ncercarea de a seleciona
modelele i metodele matematice utilizate pentru determinarea i optimizarea
instalaiilor utilizate. Dintre modele de optimizare mult folosite n trecut unele ar trebui
abandonate ntruct nu si-au mai gsit aplicaii suficiente n practica actual.
Locul acestor modele n practica optimizrii proiectrii instalaiilor electrice i
de automatizare se pare c va trebui luat de unele modele care trebuie
reconsiderate, ca metoda multiplicatorilor lui Lagrange, dezvoltate ca lanurile Markov
cu timp finit omogen i neomogene, sau pur i simplu promovate ca modelarea
entropic.
Pentru confirmarea i validarea acestui ultim model, cunoscut i sub
denumirea de teorie entropic a sistemelor (TES), este interesant c n unele aplicaii
s se determine durata de via prin ambele metode (lanuri Markov discrete i
modelare entropic) i s se compare rezultatele. Modelul lanurilor Markov finite nu
ofer ns, n faza actual a dezvoltrii, informaii asupra indicatorului de risc.
Este cunoscut faptul c actuala teorie a fiabilitii a fost conceput ce scopul
reducerii numrului de defectri ale instalaiilor de automatizare constatate cu ocazia
exerciiului de alarm general comandat de secretarul de stat pentru aprare al
S.U.A. n 1949. Rezultatul exerciiului a fost mai mult dect alarmant, echipamentele
militare recent modernizate prin automatizare au fost n stare de defectare
(nendeplinirea cerinelor) pe o durat mai mare de 80% din durata total a
exerciiului. Ca urmare a acestui rezultat s-a pus problema de a decide ntre dou
alternative: renunarea la sofisticare prin automatizare sau reducerea numrului de
defectri ale instalaiilor de automatizare la un nivel acceptabil. Ca urmare a
cercetrilor finanate n acest scop, dup doi ani s-a reuit s se traneze decizia n
favoarea celei de a doua alternative, confirmat de rezultatele unor noi manevre
militare.
Au trecut ase decenii i teoria fiabilitii elaborat cu scopul reducerii
numrului de defectri s-a dezvoltat foarte mult dar nu s-a modificat ca baze
conceptuale (scop, definiii, caracteristici fundamentale, modelare matematic). Se
poate spune chiar c teoria actual a fiabilitii i-a atins scopul pentru care a fost
creat, n sensul c numrul de defectri ale celor mai multe echipamente
tehnologice actuale a sczut pn la un nivel cu totul acceptabil, cu toate c nivelul
de complexitate i sofisticare a crescut foarte mult!
Cu toate acestea nici un sistem (produs, instalaie, echipament, etc.) nu are o
durat de via nelimitat n timp!
Care este cauza acestei limitri? La aceast ntrebare tiina din ultimele dou
secole a dat rspunsuri prin afirmaii directe sau indirecte, mai mult filozofice dect
tiinifice, concretizate n conceptul de ireversibilitate i n principiul creterii entropiei.
Fenomenul considerat vinovat de limitarea duratei de via este numit degradare
sau degradare entropic.
Pn n anul 1999 nu s-a gsit ns nici un formalism sau model matematic
satisfctor care s pun n eviden acest fenomen. La Conferina Facultii de
Instalaii din noiembrie 1999 a fost prezentat comunicarea Entropie i Fiabilitate [30]
iar ca urmare a cercetrilor dezvoltate n acest domeniu pe durata ultimilor zece ani
n anul 2004 a fost introdus conceptul de CUANT DE TIMP i indicatorul numeric
numit VIABILITATE [64] iar n anul 2008 [65] a fost redefinit cuanta de timp, i a fost


13
prezentat modelul matematic numit GRAF ENTROPIC CANONIC cu ajutorul crora
se poate modela simplu i eficient degradare entropic.
Ca urmare, ntre obiectivele prezentei lucrri, se afl realizarea unor aplicaii
n domeniul optimizrii instalaiilor electrice i de automatizare cu ajutorul acestor
instrumente, ceea ce ar putea constitui o tranziie de la teoria fiabilitii bazat pe
defectare la o teorie a fiabilitii bazat pe degradare, numit n referinele
bibliografice de mai sus i teorie entropic a sistemelor (TES)

2.3. Soluii de cretere a fiabilitii

Determinarea indicatorilor de fiabilitate nu reprezint un scop n sine;
valorificarea lor se face prin folosirea indicatorilor n calculele economice, urmrindu-
se alegerea unei soluii optime din rndul mai multor variante pentru fiecare problem
n parte.
Prin definiie creterea fiabilitii este o condiie caracterizat printr-o
mbuntire progresiv a performantelor de fiabilitate ale unei entiti, n decursul
timpului.
Problema creterii fiabilitii instalaiilor a aprut odat cu apariia instalaiilor,
fiind evident faptul c totdeauna s-a urmrit realizarea unor instalaii cat mai fiabile,
care s se defecteze cat mai puin. Soluionarea acestei probleme s-a fcut i se mai
face nc, n multe cazuri pe baza experienei i intuiiei celor care concep, realizeaz
sau exploateaz instalaiile, concretizarea soluiilor regsindu-se deseori n alegerea
unor coeficieni de sigurana ridicai i n asigurarea unei redundane crescute prin
prevederea unor rezerve suplimentare att n faza de proiectare ct i n cea de
exploatare.
Pentru creterea fiabilitii se poate i trebuie s se acioneze n toate etapele
prin care trece un dispozitiv sau o instalaie: proiectare, fabricare, ncercare, stocare,
transport, montaj, punere n funciune, exploatare, ntreinere i reparare.
2.3.1. Soluii n faza de proiectare a instalaiilor

A proiecta fiabilitatea nseamn a stabili, nc naintea nceperii execuiei,
nivelul performanelor de comportare n utilizare, astfel nct instalaia s-i
ndeplineasc cerina funcional stabilit n condiii de exploatare specificate i pe
ntreaga durat prevzut.
Dintre multiplele posibiliti de intervenie pentru creterea fiabilitii, cnd este
necesar, n faza de proiectare se menioneaz:
1. Analiza preliminar a unor instalaii asemntoare;
2. Utilizarea unor elemente componente cu indicatori de fiabilitate mai
buni;
3. Stabilirea nivelului de fiabilitate pe baza datelor din ncercri;
4. Simplificarea schemelor instalaiilor. Se tie c este mult mai uor s se
conceap o schem complicat pentru un anumit scop dect o schem
simpl. Profesionalismul proiectantului este hotrtor n aceast
privin;
5. Realizarea prin proiect a unor regimuri uoare de funcionare pentru
elementele componente, obinndu-se n acest fel o cretere a fiabilitii
acestora;


14
6. Folosirea redundanei, n special pentru componentele cu fiabilitate
redus, prin prevederea unor elemente sau sisteme de rezerv parial
sau total.
Problema redundanei, a fost enumerat dup celelalte cinci metode de
cretere a fiabilitii tocmai pentru obligativitatea epuizrii primelor cinci metode
nainte de a se apela la redundan, care este mai costisitoare. Numai dac prin
aplicarea celorlalte metode nu se ajunge la nivelul dorit pentru fiabilitate se va folosi
redundana.
7. Asigurarea accesului rapid la elementele instalaiei n scopul scurtrii
duratelor interveniilor pentru depistarea defectelor i restabilirea
funcionarii prin reparaie sau nlocuire;
8. Omogenizarea produsului din punct de vedere al fiabilitii elementelor,
tinznd la egalizarea duratelor de bun funcionare a tuturor
componentelor.
2.3.2. Soluii n faza de execuie i exploatare a instalaiilor

n faza de execuie se poate contribui la creterea fiabilitii instalaiilor prin:
1. calitatea lucrrilor executate concretizat n respectarea strict a
prevederilor din proiecte, normative i fie tehnologice;
2. asigurarea controlului riguros al calitii materialelor i dispozitivelor
componente primite pe antiere nainte de punerea lor n oper;
3. prefabricarea unei pri ct mai mari din instalaii, execuia prefabricat,
realizat n condiii de industrie, asigurnd o calitate superioar ct i
posibilitatea unui control de calitate riguros;
4. executarea probelor, verificrilor, rodajului, punerii n funciune n strict
conformitate cu prevederile din normele tehnice, caietele de sarcini i
proiecte.
5. Asigurarea unui rodaj corespunztor i a unei pregtiri corespunztoare
a personalului care urmeaz s ia n primire instalaia.
Toate aceste msuri conduc la scderea intensitii de defectare i apropierea
acesteia de valoarea constant corespunztoare repartiiei exponeniale a timpului
de funcionare fr defeciuni, conform ipotezei n care a fost determinat prin calcul
nivelul de fiabilitate.
n faza de exploatare a instalaiilor se poate interveni pentru creterea
fiabilitii prin:
1. organizarea i programarea lucrrilor de mentenan preventiv i
corectiv, cu ajutorul modelelor matematice oferite de teoria optimizrii,
pentru mentenana corectiv apelnd n special la modelele teoriei
ateptrii. Prin aceasta se poate asigura de regul, micorarea sau
meninerea aproximativ constant a intensiti de defectare i
meninerea, cel puin la nivelul considerat constant, n faza de
proiectare, a intensitii de restabilire;
2. utilizarea pentru lucrrile de ntreinere i reparaii a unui personal cu
calificare corespunztoare, stabilirea precis a obligaiilor i
rspunderilor acestui personal;
3. organizarea i asigurarea culegerii corecte de date privind numrul,
cauzele i duratele defeciunilor instalaiilor pentru determinarea,
analizarea i mbuntirea fiabilitii operaionale;


15
4. colaborarea cu proiectanii i productorii de aparatur i elemente
componente, prin furnizarea de date din exploatare pe baza crora s
se stabileasc masurile necesare pentru creterea fiabilitii instalaiilor.
Toate aceste aspecte i altele trebuie avute n vedere la elaborarea unei
politici de mentenan i stabilirea resurselor cuprinse n logistica de mentenan.
Cunoaterea tuturor fazelor prin care trece o instalaie este necesar pentru
organizarea conducerii activitilor n conformitate cu tehnicile moderne de
management al calitii, fiabilitii i mentenabilitii.
La baza celor prezentate n acest subcapitol sunt [1], [4], [29], [11], [5], [27].

3. ANALIZA FIABILITII INSTALAIILOR ELECTRICE I DE AUTOMATIZARE

16

3. ANALIZA FIABILITII INSTALAIILOR ELECTRICE I DE
AUTOMATIZARE
3.1. Noiuni fundamentale

Termenul de fiabilitate este relativ nou n limba romn. Termenul a fost
preluat n limba francez, fiabilit, n anii 60 prin traducerea termenului englez
reliability. Pn n deceniul al aptelea s-au folosit, n literatura romn de
specialitate, conform STAS 8174/68, termenii siguran sau siguran n funcionare,
n deceniul al optulea consacrndu-se termenul de fiabilitate.
Termenul de fiabilitate poate fi definit att din punct de vedere calitativ ct i
din punct de vedere cantitativ.
Calitativ, fiabilitatea reprezint aptitudinea unei entiti de a ndeplinii o cerin
funcional (o funcie specificat) n condiii date i de-a lungul unui interval de timp
dat. Aceast definiie este n conformitate cu Vocabularul Electrotehnic Internaional
(VEI), publicaia CEI 50(191).
Cantitativ, fiabilitatea reprezint caracteristica unei entiti exprimat prin
probabilitatea ndeplinirii cerinei funcionale de-a lungul unui interval de timp dat i n
condiii date.
Semnificaia conceptelor ce apar n definiiile fiabilitii sunt prezentate n continuare:
- termenul aptitudine are corespondent n limba francez aptitude, n limba
englez ability i reprezint o caracteristic a unei entiti;
- termenul entitate este preferabil n locul celui de dispozitiv deoarece are un
sens mult mai general, prin entitate nelegndu-se orice element,
component, dispozitiv, subsistem, echipament i chiar o persoan sau
mai multe;
- funcia specificat este funcia pe care trebuie s o realizeze entitatea n
conformitate cu parametrii nominali pe care trebuie s-I asigure n condiii
de calitate prevzute;
- condiii date nseamn n general nivelul solicitrilor exterioare la care este
supus entitatea (temperatur, umiditate, ocuri, ageni chimici, etc.);
- intervalul de timp dat se refer la intervalul de timp de referin pentru
exprimarea nivelului fiabilitii, deoarece fiabilitatea poate fi privit ca o
calitate care variaz n timp;
- caracteristica unei entiti pune fiabilitatea, care poate fi determinat i
caracterizat printr-o valoare, alturi de celelalte caracteristici (tensiune,
intensitate, putere, etc.);
- probabilitatea este o mrime ce nu poate fi msurat direct, are valori
cuprinse ntre 0 i 1 i se determin pe baza metodelor teoriei
probabilitilor;
- durat dat = interval de timp dat;
- condiii de funcionare specifice = condiii date
Se folosesc i noiunile de fiabilitate n sens restrns i fiabilitate n sens larg.
Prima se refer la definiia calitativ a fiabilitii, iar cea de a doua la aspectele
combinate de: fiabilitate n sens restrns, disponibilitate, mentenabilitate i logistic
de mentenan.


17
n cazul n care nu se poate face o confuzie a celor dou noiuni, termenul de
fiabilitate se folosete ca atare fr a specifica sensul restrns sau larg.
Conform standardului internaional CEI 50(191) prin definiie:
Mentenabilitatea este capacitatea unei entiti de a fi meninut sau restabilit
ntr-o stare n care s poat ndeplini o cerin funcional, n condiii date, dac
mentenana este realizat n condiii date, cu proceduri i resurse prescrise.
Mentenana este ansamblul tuturor aciunilor tehnice, administrative i de
supraveghere, destinate meninerii sau restabilirii unei entiti ntr-o stare care s
poat ndeplini o cerin funcional.
Disponibilitatea este capacitatea unei entiti de a fi ntr-o stare care s poat
ndeplini o cerin funcional, n condiii date la un moment dat sau ntr-un interval
de timp dat, presupunnd resursele asigurate.
Logistica de mentenan este capacitatea unui sistem de mentenan de a
putea oferi, n condiii date, resursele necesare pentru mentenana unei entiti, n
conformitate cu o politic de mentenan dat.
Sigurana de funcionare este ansamblul proprietilor unei entiti care
descrie disponibilitatea i factorii care o condiioneaz: fiabilitatea, mentenabilitatea i
logistica de mentenan.
n cele ce urmeaz se prezint definiiile unor termeni comuni, necesari pentru
definirea altor termeni care vor fi introdui pe parcursul lucrrii, definiii ce sunt, n
general, acceptate n recomandrile cuprinse n normativele internaionale.
Starea de funcionare este starea unei entiti n care aceasta ndeplinete
cerina funcional.
Starea de nefuncionare este starea unei entiti n care aceasta nu
ndeplinete cerina funcional.
Defectarea este ncetarea unei entiti de a-i ndeplini cerina funcional.
Dup defectare, entitatea este n stare de defect.
Starea de defect (pan) este starea unei entiti inapt de a ndeplini o cerin
funcional, excluznd inaptitudinea datorat mentenanei preventive sau altor aciuni
programate sau lipsei unor resurse exterioare.
Starea de disponibilitate este starea unei entiti caracterizat prin aptitudinea
acesteia de a ndeplinii o cerin funcional, presupunnd c resursele exterioare,
eventual necesare, sunt asigurate.
Starea de indisponibilitate este starea unei entiti caracterizat fie prin defect,
fie prin inaptitudinea eventual de a ndeplini o cerin funcional pe durata
mentenanei.
Restabilirea este recuperarea aptitudinii unei entiti de a ndeplinii o cerin
funcional dup o defectare.
Restabilirea se poate realiza, n general, prin reparare, nlocuire, intrarea n
funciune a unei rezerve, reconfigurarea unei scheme.
Ameliorarea fiabilitii este o aciune destinat mbuntirii fiabilitii prin
eliminarea cauzelor defectrilor sistematice i/sau prin reducerea probabilitilor de
apariie a altor defectri.
Creterea fiabilitii reprezint ameliorarea progresiv a unui indicator de
fiabilitate al unei entiti n timp.
Managementul fiabilitii i mentenabilitii reprezint managementul
funciunilor i activitilor destinate definirii i realizrii obiectivelor de fiabilitate i
mentenabilitate ale unei entiti.


18
Auditul de fiabilitate i mentenabilitate este o examinare sistematic i
independent cu scopul de a determina dac activitile i rezultatele sunt n
conformitate cu dispoziiile planificate i dac aceste dispoziii sunt eficiente pentru
realizarea obiectivelor de performan de fiabilitate i mentenabilitate.
Termenul de risc este utilizat n prezent n cele mai diverse domenii:
economic, tehnic, social, politic, militar, etc. n funcie de obiectivul urmrit, riscul
poate avea semnificaii i modaliti de calcul diferite.
Att n activitile desfurate de om, ct i n funcionarea aparatelor,
instalaiilor i echipamentelor tehnice, exista anumite riscuri, care, atunci cnd sunt
ntrunite anumite condiii favorizante, pot duce la pierderi materiale i umane cu
consecine grave sau mai puin grave.
Noiunile de risc i pericol sunt frecvent utilizate ca fiind sinonime. Prezint
interes de a face distincie ntre aceti doi termeni.
Riscul implic o poteniala pierdere pentru o entitate care poate fi: omul
(individ, grup, colectivitate, societate), proprietatea (construcii, terenuri, instalaii,
echipamente, produse, etc.) i mediul (solul, subsolul, apa, aerul, vegetaia, etc.).
Riscul (expunerea la pericol) consta dintr-un set de condiii care prezint
posibilitatea fie a realizrii, fie a nerealizrii pierderii pentru o anume entitate.
Pericolul reprezint un eveniment sau o situaie posibila de a produce pierderi
unei entiti.
Problema securitii sistemelor tehnice este strns legata de fiabilitatea i
disponibilitatea acestora. Acestea depind de cele doua mari sisteme externe cu care
sistemul tehnic interacioneaz, respectiv mediul socio-uman i cel natural.
Neglijarea factorilor umani i ai celor de mediu constituie una din cele mai frecvente
greeli fcute n evaluarea securitii sistemelor.
Conceptul de securitate tehnic al unui sistem tehnic reprezint probabilitatea
ca, ntr-un interval de timp dat, sa nu se produc o defectare periculoasa (sa nu se
produc o avarie sau un eveniment generator de avarii).
Mrimea complementara a securitii tehnice o reprezint riscul tehnic.
Conceptul de risc tehnic al unui sistem tehnic reprezint probabilitatea ca, ntr-
un interval de timp dat, sa se produc o defectare periculoasa (sa se produc o
avarie sau un eveniment generator de avarii).
Securitatea tehnic i riscul tehnic sunt funcii de timp la fel ca i fiabilitatea i
nonfiabilitatea.
Datorita faptului c n sistemele reale, doar unele defectrii duc la avarii
(pierderi pentru unul din elementele om, mediu, maina), atunci rezulta c:
- probabilitatea de defectare a unui sistem tehnic este mai mare dect
probabilitatea producerii unei avarii, n acelai interval de timp.
- probabilitatea de funcionare este mai mic dect probabilitatea de a nu se
produce o avarie, n acelai timp.
Cazul particular: defectarea sistemului coincide cu producerea unei avarii
reprezint limita critic. Din punct de vedere fizic, acest lucru, pentru un sistem real
este foarte puin probabil.


19
3.2. Principalii indicatori utilizai n prezent pentru evaluarea
numeric a fiabilitii instalaiilor electrice i de automatizare

3.2.1. Cazul general

Am prezentat, n subcapitolul 3.1, definiia cantitativ a fiabilitii care arat c
fiabilitatea reprezint o probabilitate ca o entitate s poat realiza funcia specificat,
n anumite condiii, ntr-un interval de timp dat.
Funcia de fiabilitate se noteaz cu R(t
1
, t
2
), unde (t
1
, t
2
) este intervalul de timp
dat. n general, se consider c t
1
= 0. Astfel, dac notm cu t lungimea intervalului
(t
1
, t
2
), se poate scrie R(t
1
, t
2
) = R(0, t) = R(t), ultima notaie fiind cea mai uzual.
Conform definiiei de mai sus, se poate scrie

} { ) ( t T P t R
f
= 3-1

unde R(t) este funcia de fiabilitate;
T
f
variabila aleatoare continu, durata de funcionare fr defectare sau
durata de bun funcionare;
t lungimea intervalului (t
1
, t
2
).
Funcia de fiabilitate este o funcie monoton descresctoare i evident R(0) =
1 i 0 ) ( lim =

t R
t
.
n legtur cu notaia R(t) pentru funcia de fiabilitate este de menionat faptul
c n unele lucrri se ntlnesc i alte notaii ntre care: P(t), p(t), F(t), F.
Conform teoriei probabilitilor, funcia de repartiie a variabilei aleatoare T
f

este:

) ( ) ( 1 ) ( 1 ) ( t T P t T P t R t F
f f
< = = = 3-2

i pentru F(t) se ntlnesc n literatur i alte notaii cum sunt U(t) i Q(t).
Funcia Q(t) se mai numete funcia de nefiabilitate sau funcia de nonfiabilitate.
Densitatea de probabilitate a variabilei aleatoare t
f
este:

dt
t dR
dt
t df
t f
) ( ) (
) ( = = 3-3

i reprezint viteza de scdere a fiabilitii n timp.
Despre funcia de fiabilitate R(t) se poate spune c:
este o funcia descresctoare, deci fiabilitatea scade n timp;
pentru t = 0 rezult R(t) = 1; deci la momentul punerii n funciune
instalaia trebuie s fie corespunztoare calitativ;
pentru t rezult R(t) = 0; deci la durate foarte mari de timp
fiabilitatea devine nul.
funciile R(t) i F(t) sunt complementare, Fig. 3-1, i evident are loc
relaia

1 ) ( ) ( = + t F t R 3-4


20

Fig. 3-1. Reprezentarea funciilor R(t) i F(t).

Rata instantanee de defectare (t)

Este limita, dac exist, a raportului dintre probabilitatea condiionat ca
momentul de defectare s se afle ntr-un interval de timp dat (t, t+t) i lungimea
acestui interval, t, atunci cnd t 0, tiind c dispozitivul era n stare de
funcionare la nceputul intervalului.
Pentru a determina pe (t) se consider urmtoarele dou evenimente:
- A evenimentul care const n funcionarea fr defectare a entitii n
intervalul (0, t);
- B evenimentul care const n funcionarea fr defectare a entitii n
intervalul (t, t+t);
Aplicnd definiia probabilitii condiionate avem:

) (
) (
) (
) (
) / (
t R
t t R
A P
B A P
A B P
+
=
= 3-5

Dac notm cu F(t, t+t) probabilitatea de defectare n intervalul (t, t+t)
condiionat de funcionarea fr defeciuni n intervalul (0, t), rezult:

) (
) ( ) (
) (
) (
1 ) / ( 1 ) , (
t R
t t R t R
t R
t t R
A B P t t t F
+
=
+
= = + 3-6

Conform definiiei lui (t), rezult:

t
t R t t R
t R t R t
t t R t R
t
t t t F
t
t t t
+
=
(
+
=
+
=

) ( ) (
lim
) (
1
) (
1 ) ( ) (
lim
) , (
lim ) (
sau

t
t
i

R(t)
F(t)
F(t)
R(t
i
)
F(t
i
)
0
1/2
1
R(t)


21
) ( ln
) (
) ( '
) (
) (
) ( t R
dt
d
t R
t R
t R
dt
t dR
t = = = 3-7

Relaia (3-7) stabilete legtura direct ntre rata de defectare i funcia de
fiabilitate.
Deoarece, R(t) = - F(t) = - f(t), rezult

) (
) (
) (
t R
t f
t = 3-8

Deoarece prin definiie R(t)<1, rezult

) ( ) ( t f t > 3-9

Pentru instalaii, o fiabilitate bun presupune de obicei ca R(t)>0,99 astfel
nct, n practica inginereasc a fiabilitii instalaiilor, se poate considera

) ( ) ( t f t 3-10

Rezolvnd ecuaia diferenial (3-7) n condiii iniiale R(0) = 1 rezult

(
t
dt t t R
0
) ( exp ) ( 3-11

Avnd n vedere prima ipotez introdus n fiabilitate i anume aceea a
repartiiei exponeniale, rata de defectare se reduce la o constant, notat n general
cu .
n acest caz, funcia de fiabilitate devine:

t
e t R

= ) ( 3-12

Experiena arat c rata de defectare, exprimat prin relaia (3-7), variaz n
timpul funcionrii conform unei curbe de tipul celei din Fig. 3-2.

Fig. 3-2. Curba de variaie (t) f(t)

t
(t)
uzur viaa util
rodaj
0


22
Curba prezint trei zone:
zona tinereii, a rodajului, n cursul creia rata de defectare este relativ
mare, din cauze diverse, dintre care fac parte i defectele de fabricaie a
elementului;
zona de maturitate, viaa util, n cursul creia rata de defectare este
aproximativ constant, caz n care avem (t) = constant = ;
zona de btrnee, de uzur, n cursul creia rata de defectare crete din
nou, datorit defectelor de uzur ireversibile.
Acest tip de curb este caracteristic pentru elemente de cele mai diferite
naturi: tehnice, biologice, sociale, umane, etc.
Uneori intereseaz probabilitatea de funcionare fr defectare ntr-un interval
de timp oarecare (t
1
, t
2
) cu condiia ca entitatea s fie disponibil la nceputul
intervalului. Pentru a determina relaia de calcul a acestei probabiliti considerm
aceleai evenimente A i B ca mai sus dar pentru t = t
1
i t = t
2
t
1
. Astfel avem:

) (
) (
) (
) (
) / ( ) , (
1
2
2 1
t R
t R
A P
B A P
A B P t t R =
= = 3-13

Conform (
(
t
dt t t R
0
) ( exp ) (
3-11),

e
e
e
t
t t
t
dt t
dt t
dt t
t t R

=
2
1 1
0
2
0 ) (
) (
) (
2 1
) , (

3-14

Rata medie de defectare (t
1
, t
2
)

Reprezint media ratelor instantanee de defectare ntr-un interval de timp dat
(t
1
,t
2
).

=
2
1
) (
1
) , (
1 2
2 1
t
t
dt t
t t
t t 3-15

n CEI IEC50(191) s-a introdus noiunea nou de intensitate instantanee de
defectare z(t), noiune diferit de cea a ratei instantanee de defectare, cu toate c,
pn la apariia reglementrilor simbolul folosit azi pentru intensitatea de defectare
z(t) era folosit i pentru rata instantanee de defectare.

Intensitatea instantanee de defectare z(t)

Este limita, dac exist, a raportului dintre media stochastic a numrului de
defectri ale unei entiti reparate ntr-un interval de timp (t, t+t) i lungimea acestui
interval, t, atunci cnd t 0.


23
t
t N t t N E
t z
t
+
=

)] ( ) ( [
lim ) ( 3-16

unde: E este simbolul folosit pentru media variabilelor aleatoare;
N(t) numrul de defectri n intervalul (0, t).

Intensitatea medie de defectare z(t
1
, t
2
)

Reprezint media intensitii instantanee de defectare ntr-un interval de timp
dat (t
1
,t
2
).

=
2
1
) (
1
) , (
1 2
2 1
t
t
dt t z
t t
t t z 3-17

Timpul mediu de bun funcionare MTBF

Reprezint media duratelor de funcionare ntre defectri.
Iniialele MTBF se traduc n limba francez moyenne time de bon
fonctionnement iar n limba englez mean operating time between faillures.
Aceast mrime caracterizeaz fiabilitatea entitilor reparabile.

Timpul mediu de funcionare nainte de prima defectare MTTF

Reprezint media timpilor de funcionare pn la prima defectare.
Aceast mrime caracterizeaz fiabilitatea entitilor nereparabile.
Conform definiiei unei variabile aleatoare, rezult

=
0
) ( dt t f t MTTF 3-18

Integrnd prin pri rezult

= =
0
) (
0
0
) (
dt t
e dt t R MTTF
3-19

Timpul mediu ntre defectri

Reprezint media timpilor ntre defectri.
Diferena ntre MTBF i timpul mediu ntre defectri este aceea c timpul mediu ntre
defectri include i duratele de nefuncionare din diverse cauze (mentenan
preventiv, stand-by, etc.), altele dect defectarea.

Observaii
1. Se folosesc uzual notaiile m sau M(T
f
) att pentru MTTF, ct i
pentru MTBF.


24
2. Relaia (3-19) este valabil i pentru MTBF, n cazul entitilor
reparabile, dac variabila aleatoare cu densitate de probabilitate f(t)
este durata cumulat a timpilor ntre dou defectri.
n cele artate mai sus, s-a avut n vedere comportarea entitilor din
momentul punerii n funciune i pn la prima defectare. n cazul instalaiilor, dup
apariia defeciunilor, n urma mentenanei, entitatea este adus n stare de
funcionare. Aceasta conduce la necesitatea abordrii problemei innd seama de
perioadele alternative de funcionare i de nefuncionare. n acest scop se definesc i
se determin i alte mrimi pentru caracterizarea fiabilitii.

Restabilirea

Reprezint capacitatea unei entiti de a-i recpta aptitudinea de a ndeplinii
o cerin funcional, dup defect.

Mentenabilitatea M(t1, t2) = M(t)

Reprezint probabilitatea ca o aciune activ de mentenan s se poat
efectua ntr-un anumit interval de timp dat, atunci cnd ntreinerea este realizat n
condiii date i utiliznd procedee i resurse prescrise.
Funcia de mentenabilitate se noteaz cu M(t
1
, t
2
), unde (t
1
, t
2
) este intervalul
de timp dat. Din aceleai considerente ca i n cazul fiabilitii se poate scrie M(t
1
, t
2
)
= M(0, t) = M(t), ultima notaie fiind cea mai utilizat.
Conform definiiei de mai sus se poate scrie

} { ) ( t T P t M
r
= 3-20

unde M(t) este funcia de mentenabilitate;
T
r
variabila aleatoare continu, durata de restabilire;
t lungimea intervalului (t
1
, t
2
).
Funcia M(t) reprezint chiar funcia de repartiie a variabilei aleatoare T
r
.
Termenul de "mentenabilitate" este de asemenea folosit pentru a indica
performana de mentenabilitate cuantificat prin aceast probabilitate.
Prin mentenan se nelege ansamblul tuturor aciunilor necesare, tehnice i
administrative, inclusiv aciunile de supraveghere, destinate meninerii sau restabilirii
unei entiti ntr-o stare n care s poat ndeplini o funciune specificat.
Mentenana preventiva este mentenana efectuat la intervale de timp
prestabilite sau n conformitate cu criterii prescrise i destinat reducerii probabilitii
defectrii sau degradrii funcionarii unei entiti.
Mentenana corectiv este mentenana efectuat n urma detectrii defeciunii
i destinata punerii unei entiti n stare de a ndeplini o funciune specificat.

Rata (instantanee) de reparare (t)

Este limita, dac exist, a raportului dintre probabilitatea condiionata, ca o
aciune de mentenana corectiv s se termine ntr-un interval (t, t+t) i lungimea
acestui interval t, atunci cnd t 0, aciunea nu era terminat la ineptul
intervalului de timp.
Procednd n mod analog fa de rata de defectare rezult urmtoarele relaii


25
de calcul:

. )] ( 1 ln[
) ( 1
) ( '
) ( 1
) (
) ( const t M
dt
d
t M
t M
t M
dt
t dM
t = =
= 3-21

=
=
t
dx x
e t M
0
) (
1 ) (
3-22

Rata medie de reparare (t
1
, t
2
)

Reprezint media ratelor de reparare instantanee pe un interval de timp dat
(t
1
, t
2
). Rata medie de reparare se deduce din rata instantanee de reparare (t) prin
relatia:

=
2
1
) (
1
) , (
1 2
2 1
t
t
dt t
t t
t t 3-23

Valoarea medie a variabilei aleatoare T
d
se numete timpul mediu de
restabilire i se noteaz cu M[T
d
].

=
0
) (
0
] [
t
d x
d
e T M
3-24

Timpul de restabilire (timp de pan)

Reprezint intervalul de timp n care o entitate este n stare de indisponibilitate
ca urmare a unei defectri.(n englez time to recovery).
Aceast mrime caracterizeaz fiabilitatea entitilor reparabile.

Durata medie de pan (restabilire) MTTR

Reprezint media variabilei aleatoare timpul de pan (n englez mean time
to repair)
Pentru aceast mrime se mai folosesc notaiile m
r
,i M[T
r
]

Analog relaiei (3-18) putem scrie relaia ntre MTTR i (t):

= =
0 0
) (
0
)] ( 1 [
dt t
e dt t M MTTR
3-25

Disponibilitatea (instantanee) A(t)

Este probabilitatea ca o entitate s fie n stare de a ndeplini funcia specificat
n anumite condiii, la un moment dat de timp, presupunnd c resursele externe


26
necesare sunt disponibile.

Disponibilitatea medie (t
1
, t
2
)

Reprezint media disponibilitilor instantanee ntr-un interval de timp dat (t
1
,
t
2
). Disponibilitatea medie se calculeaz cu ajutorul disponibilitii instantanee cu
formula:

=
2
1
) (
1
) , (
1 2
2 1
t
t
dt t A
t t
t t A 3-26

Disponibilitatea asimptotic A

Reprezint limita, dac exist, a disponibilitilor (instantanee), atunci cnd
t . n condiii date (rata de defectare i rata de reparare constante)
disponibilitatea asimptotic poate fi exprimat prin raportul dintre timpul mediu de
disponibilitate i timpul mediu de indisponibilitate.

) ( lim t A A
t
= 3-27

Expresia analitic a disponibilitii asimptotice este:

] [ ] [
] [
d f
f
T M T M
T M
A
+
= 3-28

Indisponibilitatea (instantanee) U(t)

Este probabilitatea ca o entitate s nu fie n stare de a ndeplini funciunea
specificat n anumite condiii, la un moment dat de timp, presupunnd c resursele
externe necesare sunt disponibile.

) ( 1 ) ( t A t U = 3-29

Indisponibilitatea medie U(t
1
, t
2
)

Reprezint media indisponibilitilor (instantanee) ntr-un interval de timp dat
(t
1
, t
2
). Indisponibilitatea medie se calculeaz cu ajutorul indisponibilitii instantanee
cu formula:

=
2
1
) (
1
) , (
1 2
2 1
t
t
dt t U
t t
t t U 3-30

Indisponibilitatea asimptotica U

Reprezint limita, dac exist, a indisponibilitilor (instantanee), atunci cnd


27
t. n condiii date (rata de defectare i rata de reparare constante)
indisponibilitatea asimptotic poate fi exprimat prin raportul dintre timpul mediu de
disponibilitate i timpul mediu de indisponibilitate.

) ( lim t U U
t
= 3-31

A U = 1 3-32

Timpul de disponibilitate

Este intervalul de timp n care o entitate este n stare de disponibilitate.

Durata medie de disponibilitate (MUT)

Este media variabilei aleatoare timpul de disponibilitate. n limba englez
mean up time.

Timp de indisponibilitate

Este intervalul de timp n care o entitate este n stare de indisponibilitate.

Durata medie de indisponibilitate (MDT)

Este media variabilei aleatoare timpul de indisponibilitate. n limba englez
mean down time.

Durata medie total a strii de funcionare ntr-un interval de timp de
durat t M[(t)]

Reprezint durata medie cumulat a duratelor strilor de disponibilitate ntr-un
interval de timp dat (0, t)

= =
t
dx x A t t M
0
) ( ) ( )] ( [ 3-33

Durata medie total a strii de defect ntr-un interval de timp de durat t
M[(t)]

Reprezint durata medie cumulat a duratelor strilor de indisponibilitate ntr-
un interval de timp dat (0, t)

= =
t
dx x U t t M
0
) ( ) ( )] ( [ 3-34
Numrul mediu de defecte ntr-un interval de timp de durat t M[(t)]

Numrul mediu de treceri din stri de funcionare n stri de defect, n
intervalul de timp dat (0, t)


28

] [
)] ( [
) ( )] ( [
r
T M
t M
t t M

= = 3-35

Se observ c, n cazul funcionarii fr restabilire, definiia lui A(t) este
echivalent cu cea pentru R(t), ceea ce explic confuzia fcut uneori ntre noiunile
de fiabilitate i disponibilitate. n sprijinul acestei afirmaii st determinarea
disponibilitii A(t), pornind de la definiie i utiliznd formula probabilitilor totale, se
determin ecuaia:

0 ) ( ) (
) (
= + + t A
dt
t dA
3-36
care conduce la

+
+ =
+ t
Ce t A
) (
) ( 3-37

Constanta C se determin din condiiile iniiale.
Dac la t = 0 dispozitivul era n stare de funcionare A(0) = 1,

+
= C iar

+
+
=
+ t
e
t A
) (
) ( 3-38

Pornind de la formula (3-36) pentru cazul sistemelor fr restabilire, n care
= 0, se poate observa c A(t) = e
-t
= R(t).
Dac la t = 0 dispozitivul era n stare de defect A(0) = 0, C = - ( + ) iar

+
=
+ t
e
t A
) (
) ( 3-39

n ambele cazuri coeficientul de disponibilitate conform relaiei (3-27) rezult:

+
= ) (t A 3-40

3.2.2. Cazul particular al repartiiei exponeniale (t)==ct.

Repartiia exponenial este caracterizat de (t) = = ct. i rezult:

Funcia de fiabilitate

} { ) ( t T P t R
f
= 3-41

t
e t R

= ) (
3-42


29

Funcia de nonfiabilitate

} { ) ( t T P t Q
f
< = 3-43

t
e t R t Q

= = 1 ) ( 1 ) (
3-44

Funcia de mentenabilitate

} { ) ( t T P t M
r
< = 3-45

t
e t M

= 1 ) ( 3-46

Rata de defectare

) ( ln ) ( t R
dt
d
t =
3-47

Rata de reparare

)] ( 1 ln[ ) ( t M
dt
d
t = 3-48

Disponibilitatea asimptotic

MTTR MTTF
MTTF
A
+
= 3-49

Indisponibilitatea asimptotic

A U =1 3-50

Durata medie total a strii de funcionare n intervalul t

t t A t M
+
= =

)] ( [ 3-51

Durata medie total a strii de nefuncionare n intervalul t

t t A t M
+
= =

) 1 ( )] ( [ 3-52


30

Numrul mediu de defectri ntr-un interval de timp t

t
t A
t M
+
=

=

1
) 1 (
)] ( [ 3-53

Timpul mediu de funcionare fr defectare ntr-un interval de timp t

1
= = m MTTF 3-54

Timpul mediu de nefuncionare ntr-un interval de timp t

1
= =
r
m MTTR 3-55
Relaia de legtura ntre fiabilitate, nonfiabilitate, mentenabilitate i
disponibilitate

)] ( 1 )[ ( 1 ) ( ) ( ) (
r r
t M t Q t M t Q t R A = + = 3-56

unde: t este timpul de funcionare;
t
r
timpul afectat aciunilor de mentenana.
Este bine de precizat faptul c n ultimul timp au aprut multe cercetri privind
utilizarea n unele probleme de fiabilitate a repartiiei Weibull. Funcia de repartiie
Weibull folosit n teoria fiabilitii este de forma:

t
e t F

= 1 ) ( 3-57

pentru = 1 rezultnd repartiia exponenial, iar pentru 3,25 repartiia normal
Intensitatea de defectare este

1
) (

=

t t z 3-58

Funcia de mentenabilitate este

t
e t M

= ) ( 3-59

i n cazul repartiiei Weibull rezult c

. ) ( const t = = 3-60


31
3.3. Metode, modele i procedee actuale pentru determinarea
fiabilitii instalaiilor electrice i de automatizare

3.3.1. Scheme logice i diagrame de fiabilitate utilizate la optimizarea
instalaiilor electrice i de automatizare

Orice instalaie este alctuit dintr-un anumit numr de componente conectate
ntre ele prin conducte de legtur (conductoare, cabluri electrice, evi, etc.). Toate
acestea sunt n strns legtur funcional pentru realizarea scopului pentru care a
fost conceput instalaia. Componentele unei instalaii mpreun cu conductele de
legtur formeaz elementele sistemului. Putem spune c o instalaie este un
ansamblu de n > 1 elemente conectate ntre ele n scopul ndeplinirii unei funcii
specificate.
Problema care se pune cel mai frecvent n cercetrile legate de fiabilitatea
instalaiilor este cea a determinrii indicatorilor de fiabilitate a instalaiilor pe baza
indicatorilor de fiabilitate ai elementelor componente.
Prima etap n determinarea indicatorilor de fiabilitate ai unei instalaii este
ntocmirea unei scheme logice de fiabilitate corespunztoare schemei tehnologice a
instalaiei.
Schema logic de fiabilitate reprezint modelul structural care arat cum sunt
conectate elementele sistemului din punct de vedere al fiabilitii. Altfel spus schema
logic de fiabilitate a unei instalaii reprezint o modalitate descriptiv de evideniere
a capacitii funcionale a ansamblului elementelor componente ale instalaiei
respective i interconexiunilor lor.
n literatura de specialitate se mai ntlnesc i denumirile de schem
funcional, diagram de fiabilitate, diagram bloc, model logic de fiabilitate sau
schem de structur.
Schema logic de fiabilitate cuprinde numai elementele care influeneaz
fiabilitatea instalaiei. Pentru identificarea acestor elemente trebuie s se analizeze n
prealabil schema tehnologic.
Etapele de ntocmire a schemei logice de fiabilitate sunt:
1. Stabilirea funciei specificate despre care este vorba n definiia
fiabilitii;
2. Analiza schemei tehnologice i identificarea elementelor (inclusiv
conductele de legtur) care influeneaz fiabilitatea instalaiei. Trebuie
precizat faptul c pot exista componente a cror defectare nu conduc la
defectarea schemei (se mai numesc i neeseniale sau irelevante i nu
se regsesc n schema logic de fiabilitate), componente a cror
defectare duc la defectarea schemei i componente a cror defectare
conduce la defectarea schemei numai dac simultan cu ele sunt n
stare de defect i alte componente (se mai numesc i eseniale sau
relevante i se regsesc n schema logic de fiabilitate);
3. Reprezentarea acestor elemente n schema logic de fiabilitate;
4. Reprezentarea modului de conectare al elementelor schemei din punct
de vedere al fiabilitii (de menionat faptul c unei scheme tehnologice
de tip serie i poate corespunde o schem logic de fiabilitate de tip
paralel i invers.


32
De obicei, reprezentarea elementelor n schema logic de fiabilitate se face
prin dreptunghiuri, iar legturile ntre diferitele elemente se face n general prin arce
neorientate, aceste legturi nereprezentnd legturile reale din schema tehnologic.
Astfel pentru alctuirea schemei logice de fiabilitate a instalaiei electrice din
Fig. 3-3 trebuie definit funcia specificat.

Fig. 3-3. Schema tehnologic de tip paralel

Astfel funcia specificat pate fi definit, funcie de funcionarea impus, astfel:
a) Existena n stare de funcionare a ambelor elemente R
1
i R
2
;
b) Existena n stare de funcionare a cel puin unuia din elementele
R
1
i R
2
.
n consecin, schema logic de fiabilitate va fi cea din Fig. 3-4.a. pentru cazul
a), iar pentru cazul b) va fi cea din Fig. 3-4.b.

a) b)

Fig. 3-4. a) Schema logic de fiabilitate de tip serie; b) Schema logic de fiabilitate de tip paralel.

Se observ c funcie de definirea strii de funcionare schema logic are
diferite aspecte putnd s coincid sau nu cu schema tehnologic.
Este necesar i analiza defectelor posibile. Astfel exist dou posibiliti:
- ntreruperea unui element. n acest caz cele artate mai sus rmn
valabile;
- Scurtcircuitarea unui element. n acest caz, starea de funcionare trebuie
definit numai ca la subpunctul a) i schema logic de fiabilitate va fi cea
din Fig. 3-4.a.
Se poate observa c n acest al doilea caz, schema logic de fiabilitate de tip
serie difer fa de schema tehnologic care este de tip paralel din punct de vedere
electric.
Aceste consideraii au ca scop evidenierea importanei ce trebuie acordat
definirii funciei specificate i ntocmirii corecte a schemei logice de fiabilitate
R
2

R
1

R
2

R
1

R
1
R
2


33
3.3.2. Ipoteza distribuiei exponeniale avantaje, dezavantaje, soluii
alternative utilizate n modelarea fiabilitii instalaiilor electrice
i de automatizare

Sub numele de repartiii sau distribuii se neleg legile care determin
probabilitatea de apariie a unei mrimi aleatoare dup anumite reguli.
Legile de distribuie folosite n practic pentru exprimarea defectrii
componentelor trebuie s poat fi descrise prin funcii foarte simple, care s permit
o aplicare accesibil a matematicii.
n funcie de natura mrimilor aleatoare, distingem:
a) repartiii discrete
- repartiia binomial
- repartiia Poisson
- repartiia hipergeometric
b) repartiii continue.
- repartiia uniform
- repartiia normal
- repartiia exponenial
- repartiia Weibull
- repartiia Gamma
Dintre toate, cea mai utilizat repartiie este cea exponenial pentru
variabilele aleatoare T
f
(timp de funcionare fr defectare) i T
d
(timp de restabilire).
Aceast ipotez a fost introdus datorit proprietilor statistico-matematice ale
funciei de repartiie exponeniale care reuesc s modeleze relativ complet
comportarea n funcionare a unei game foarte largi de dispozitive, elemente i
sisteme cum sunt: componentele electronice, mainile unelte, sistemele energetice,
schemele de instalaii electrice, etc.
Pentru instalaiile energetice din care fac parte i schemele de instalaii
electrice utilizarea repartiiei exponeniale este reglementat la noi n ar prin
normativul PE 013/94, n care se precizeaz calculele de fiabilitate se elaboreaz
considernd c dispozitivul (instalaia) este complet echipat n conformitate cu
proiectul i c n perioada pentru care se efectueaz calculul prezint intensiti de
defectare i reparare (nlocuire) constante i n consecin, distribuii exponeniale
pentru duratele de funcionare i de reparare.
n continuare, bazndu-m pe [11], [3], [28] voi prezenta att distribuia
exponenial ct i cteva alternative la aceasta.

3.3.2.1. Repartiia exponenial

Variabila aleatoare cu funcia de repartiie

0 , 1 ) (
) (
=

x e X F
x
3-61

se numete variabil aleatoare cu repartiie exponenial.


34
Densitatea de repartiie:

) (
) (
x
e x f

= 3-62

Valoarea medie a variabilei aleatoare este

1
) ( = X M 3-63

Dispersia variabilei aleatoare este

2
1
) (
= X D 3-64

0 proprietate foarte important a acestei repartiii este aceea c o variabil
aleatoare X cu repartiie exponenial este lipsit de memorie" n sensul c

) ( ) / ) ( y X P x X y x X P = + 3-65

oricare ar fi numerele nenegative x i y.
Se demonstreaz c lipsa de memorie a variabilei aleatoare cu repartiie
exponenial este o proprietate caracteristic a acesteia n sensul c ndeplinirea
condiiei date de relaia (3-65) este suficient pentru ca oricare ar fi x, y 0 variabila
aleatoare X s aib repartiie exponenial,
Graficul funciei de repartiie i curba de repartiie pentru o variabil aleatoare
cu repartiie exponenial sunt prezentate n Fig.3-5.

a) b)

Fig.3-5. a)Graficul funciei de repartiie exponenial pentru o variabil aleatoare; b) Graficul curbei de
repartiie exponenial pentru o variabil aleatoare.

) (
1
X M
=
F(x)
0 M(X) 2M(X) 3M(X) x
1
f(x)
0 M(X) 2M(X) 3M(X) t


35
3.3.2.2. Repartiia Weibull


0 , , 0 , 1 ) (
) (
=

x e x F
x
3-66

se numete variabil aleatoare cu repartiie Weibull.
Funcia de repartiie a acestei variabile aleatoare se mai ntlnete i sub
forma

0 , , 1 ) (
0
=
(
(
|
|
\
|
u u x e x F
x
u x
3-67

din care pentru
=
|
|
\
|
0
1
x
i u = 0 rezult forma din relaia (3-66)

Densitatea de repartiie este

) ( 1
) (

x
e x x f

= 3-68

Pentru = 1 rezult repartiia exponenial.
Pentru = 2 se obine aa numita repartiie Rayleigh.
Media variabilei aleatoare este

|
|
\
|
+ =
1
1
) (
1

X M 3-69

unde
|
|
\
|
+ 1
1
reprezint funcia lui Euler de spea doua cunoscut din analiza

matematic

0 , ) (
0
) ( 1
=

x du e u x
u x
3-70


|
|
\
|
+
|
|
\
|
+ =
2
2
1
1
1
2
) (

X D 3-71

Graficul funciei de repartiie i curba de repartiie, pentru variabile aleatoare
cu repartiie Weibull sunt prezentate n Fig. 3-6. Pentru = 1 i = 1, 2, 3.


36

a) b)

Fig. 3-6. a)Graficul funciei de repartiie Weibull pentru o variabil aleatoare; b) Graficul curbei de
repartiie Weibull pentru o variabil aleatoare.

3.3.2.3. Repartiia Gamma


=
x
au
du e u
a
x F
) ( 1
) (
1 ) (

3-72

unde 0 x < se numete variabil aleatoare cu repartiie gamma.

) ( 1
) (
) (
) (
ax
e ax
a
x f

3-73


= ) ( X M 3-74


= ) ( X D 3-75

Graficul funcii de repartiie i curba de repartiie pentru repartiia gamma sunt
prezentate n Fig. 3-7.

1
F(x)
0 0,5 1 1,5 x
1 f(x)
0 1 2 3 x

= 1

= 2
= 3


37

a) b)

Fig. 3-7. a)Graficul funciei de repartiie gamma pentru o variabil aleatoare; b) Graficul curbei de
repartiie gamma pentru o variabil aleatoare.
Pentru
1
= n repartiia gamma se obine repartiia Erlang.

3.3.2.4. Repartiia uniform


=
b x pentru
b x a pentru
a b
a x
a x u pentr
x F
, 1
,
, 0
) (
&
3-76

se numete variabil aleatoare cu repartiie uniform dac valorile ei sunt
echiprobabile i se afl n intervalul dat [a,b].
Densitatea de repartiie este:

=
] , [ , 0
] , [ ,
1
) (
b a x pentru
b a x pentru
a b
x f 3-77

Se poate calcula:
media variabilei aleatoare (x), uniform pe [a,b], este
2
) (
b a
x M
+
= 3-78
1
F(x)
0 x
f(x)
0 2 4 6 x
0,5
=4


38
dispersia variabilei aleatoare (x), uniform pe [a,b], este
12
) (
) (
2
a b
x D
= 3-79
Graficul funciei de repartiie i curba de repartiie pentru o variabil aleatoare
cu repartiie uniform sunt prezentate n Fig. 3-8.

a) b)

Fig. 3-8. a)Graficul funciei de repartiie uniform pentru o variabil aleatoare; b) Graficul curbei de
repartiie uniform pentru o variabil aleatoare.

3.3.2.5. Repartiia normal (Gauss)

De remarcat este faptul c aceast repartiie este folosit ca model matematic
pentru cazurile cnd predomin defectarea prin uzur.
Variabila aleatoare cu funcie de repartiie

(
(
=
x
m u
du e x F
2
2
2
) (
2
1
) (

3-80

se numete variabil aleatoare cu repartiie normal.

(
(
=
2
2
2
) (
2
1
) (

m u
e x f 3-81


m X M = ) ( 3-82


2
) ( = X D 3-83

F(x)
0 a b x
1
a b
1

f(x)
0 a b x


39
Graficul funciei de repartiie i curba de repartiie sunt prezentate n Fig. 3-9.

a) b)

Fig. 3-9. a)Graficul funciei de repartiie normal pentru o variabil aleatoare; b) Graficul curbei de
repartiie normal pentru o variabil aleatoare.

n Fig. 3-9 punctele de abscis m sunt puncte de inflexiune.
Se poate demonstra c

( ) 9974 , 0 3 = m X P 3-84

relaie cunoscut sub denumirea de "regula lui 3 ". Curba de repartiie a variabilei
aleatoare cu repartiie normal este cunoscut i sub denumirea de curba lui Gauss"
sau "clopotul lui Gauss" deoarece a fost introdus de C.F.Gauss (177. - 1855) ca
curba creia trebuie s i se supun erorile de observaie pentru ca media aritmetic a
unei mulimi de msurri s fie valoarea cea mai apropiat de valoarea "adevrat".
n realitate, erorile de observaie se supun mai mult sau mai puin aproximativ
repartiiei normale.
Trebuie accentuat importana teoretic deosebit a repartiiei normale i locul
ei central n problemele asimptotice ale teoriei probabilitilor.
n practic se utilizeaz deseori repartiia normal cu parametrii m = 0 i =1.

(
(
=
x
u
du e x F
2
2
2
1
) (
3-85

numit repartiie normal redus sau funcia integral a lui Laplace, pentru care
rezult

(
(
=
2
2
2
1
) (
x
e x f
3-86

0 ) ( = X M 3-87

1 ) ( = X D 3-88
F(x)
0 x
1
f(x)
0 m- m m+ x
2
<
1
>


40

Valorile acestei funcii sunt tabelate. Tabelele se folosesc nu numai pentru
repartiia normal redus ci i pentru orice repartiie normal deoarece dac o va-
riabil aleatoare X are repartiia normal cu parametrii m i atunci variabila
aleatoare ) (
1
m X Y =
are repartiie normal cu parametrii m = 0 i = 1.

3.3.2.6. Repartiia binomial (Bernoulli)

Variabila aleatoare

|
|
\
|

n k n k k
n
n
n
n
p p p C p p C p
n k
X
..... ) 1 ( ....... ) 1 ( ) 1 (
...... ...... 1 0
1 1
3-89

se numete variabil aleatoare cu repartiie binomial sau simplu variabil aleatoare
binomial.
Valorile x
i
= 0, 1, ... k ... n ale acestei variabile aleatoare reprezint numrul de
realizri n k experiene repetate ale unui eveniment care are probabilitatea de
realizare ntr-o experien egal cu p. Notnd cu q = 1 p probabilitatea de
nerealizare a evenimentului ntr-o experien se observ c probabilitile p
i
de
apariie a evenimentelor X = x
i
sunt termenii dezvoltrii binomului (q+p)
n
fapt care
explic denumirea acestei repartiii. Repartiia binomial se mai numete i "repartiia
lui Bernoulli" deoarece se aplic n cazul aa numitei "schema de probabilitate a lui
Bernoulli" (n extrageri repetate ale unei bile dintr-o urn care conine un numr dat
de bile de dou culori, punnd dup fiecare extragere din nou n urn bila extras).
Funcia de repartiie a variabilei aleatoare binomiale definit mai sus, conform
relaiei (3-89) va fi

=
x k
k n k k
n
p p C X F ) 1 ( ) ( 3-90

Pentru a calcula valoarea medie a variabilei aleatoare binomiale X se
consider variabila aleatoare X
i
care corespunde unui eveniment A care ntr-o
experien i poate s se realizeze cu probabilitatea p
i
:

|
|
\
|
i i
i
p p
X
1
1 0
3-91

Valoarea medie a acestei variabile aleatoare este

i i i i
p p p X M = + = 1 ) 1 ( 0 ) ( 3-92

Valoarea medie a variabilei aleatoare binomiale va fi


41

= =
= =
n
i
n
i
i i
p X M X M
1 1
) ( ) ( 3-93

Pentru p
1
= p
2
= = p
n
= p

np X M = ) ( 3-94

Dispersia variabilei aleatoare binomiale este

) 1 ( ) 1 ( ) 1 ( ) 0 ( ) (
2 2
i i i i i i i
p p p p p p X D = + = 3-95

Dispersia variabilei aleatoare binomiale pentru evenimente independente
(k
xy
=0), n cazul a n variabile aleatoare este

) 1 ( ) ( ) (
1 1
i
n
i
n
i
i i
p p X D X D = =

= =
3-96

Pentru p
1
= p
2
= = p
n
= p

) 1 ( ) ( p np X D = 3-97

Abaterea medie ptratic a variabilei aleatoare binomiale

) 1 ( ) ( p np X = 3-98

3.3.2.7. Repartiia Poisson (legea evenimentelor rare)

Variabila aleatoare

|
|
|
\
|

........
!
) (
.......
! 1
......... ........ 1 0
) ( ) ( ) (
e e e
l
k
l l
k
l l
k
X
3-99

se numete variabile aleatoare cu repartiie Poisson.
Valorile x
i
= 0, 1, ..., k, ... ale acestei variabile aleatoare reprezint numrul de
puncte ntr-un interval de lungime l pe o ax, punctele fiind dispuse cu o densitate
constant , independente unul de altul, iar probabilitatea ca ntr-un interval mic l
s fie dou sau mai multe puncte fiind considerat neglijabil fa de probabilitatea
de a fi un singur punct.
Funcia de repartiie a variabilei aleatoare cu repartiie Poisson este

=
x k
l
k
e
k
l
X F
) (
!
) (
) (

3-100

Repartiia Poisson rezult din repartiia binomial n cazul n care se consider


42
n repartiia binomial n foarte mare i p foarte mic astfel ca np = const. = a (practic e
suficient ca p 0,05 iar n 20). Se poate scrie

e
a
k
k n k k
n
n
k
a
p p C

=
!
) 1 ( lim 3-101

Pentru a = l rezult variabila aleatoare cu repartiie Poisson definit mai sus.
Pentru variabila aleatoare cu repartiie Poisson

l X D X M = = ) ( ) ( 3-102

Repartiia Poisson se mai numete "legea evenimentelor rare" deoarece
corespunde evenimentelor rare cum sunt apelurile telefonice sau defectrile unui
dispozitiv ntr-un interval de timp dat.

3.3.3. Alte ipoteze de calcul al fiabilitii utilizate la optimizarea

O instalaie este format dintr-un numr mare de elemente simple, grupate
funcional, n vederea atingerii scopului pentru care a fost realizat instalaia
respectiv.
n cursul exploatrii instalaiei se pot produce defectrii ale elementelor sale.
Instalaia se poate afla n mai multe stri posibile, n funcie de elementele aflate n
stare de funcionare i cele aflate n stare de defect. Stabilirea tuturor strilor posibile
ale instalaiei rezult din examinarea modului de funcionare a ei, rezultnd astfel
ipoteze simplificatoare att din considerente teoretice, ct i din considerente de
simplificare a calculelor (practice).
3.3.3.1. Ipoteza evenimentelor independente din punct de vedere al
defectrii

n baza acestei ipoteze, elementele componente ale unei instalaii se vor
considera independente din punct de vedere al defectrii, adic defectarea unui
element al instalaiei nu influeneaz defectarea altor elemente componente ale
aceleiai instalaii.
Aceasta ipotez, dei nu s-ar putea aplica n toate cazurile deoarece exist
elemente care prin defectarea altor elemente (elementele cu rol de protecie), se
consider admis datorit urmtoarelor considerente:
este o ipoteza acoperitoare;
diferenele rezultate n urma calculelor efectuate n cazul
schemelor de instalaii electrice i energetice cu elemente
independente fat de schemele cu elemente dependente din
punct de vedere al defectrii sunt mici;
conduce la reducerea semnificativa a volumului de calcul i a
relaiilor de calcul;
conduce la stabilirea unor reguli generale i relaii generalizate
pentru determinarea indicatorilor de fiabilitate a instalaiilor.


43
3.3.3.2. Ipoteza limitrii numrului de stri ale unei instalaii

Aceasta ipotez precizeaz n mod clar faptul c o instalaie se poate afla n
numai dou stri: starea de funcionare i starea de defect.
Aceasta ipoteza nu este valabil dect atunci cnd este precizat n mod
expres i o alt stare dect cele expuse anterior.
Este necesar precizarea faptului c, nu este vorba de numrul de stri ale
unui sistem, rezultate ca urmare a strilor fiecrui element component, deoarece,
fiecare element poate fi la rndul sau n stare de funcionare sau stare de defect i
atunci numrul de stri va fi 2
n
(n fiind numrul componentelor relevante ale
sistemului).

3.3.3.3. Ipoteza limitrii numrului de tranziii ntr-un interval dat

Pentru rezolvarea problemelor cu ajutorul metodei modelrii funcionarii
instalatei prin procese stohastice de tip Markov sau cu ajutorul procedeului grupurilor
de defectare, sunt necesare introducerea a urmtoarelor dou ipoteze:
Probabilitatea producerii simultane a dou sau mai multe evenimente
de tipul defectrilor sau restabilirilor, ntr-un interval de timp elementelor
este neglijabil;
Probabilitatea ca ntr-un interval de timp finit, n care o instalaie cu un
element relevant, s se defecteze mai mult dect nc un element
relevant se poate neglija. Aceasta ipotez este cunoscut ca ipoteza
neglijrii probabilitilor de defectare triple.
n practic pot aprea situaii care nu pot fi simplificate cu ajutorul a celor dou
ipoteze i n aceste cazuri se cut s se utilizeze un model, procedeu sau metod
de calcul care nu presupun ndeplinirea acestor ipoteze.

3.3.3.4. Ipoteza neglijrii tranziiilor din stri de defect n stri de defect

Aceasta ipoteza exclude ca n timp ce o instalaie se fal n stare de defect i
este supus aciunilor de mentenan corectiv s se defecteze un alt element al
instalaiei. Practic, defectarea unui alt element n perioada de cnd instalaia se afl
n stare de nefuncionare, are o probabilitate foarte sczut mai ales n cazul
schemelor de instalaii electrice.
Aceasta ipotez conduce la avantaje privind reducerea i sistematizarea
calculelor.
3.3.3.5. Ipoteza valorilor relativ mari ale timpului de funcionare fa de
timpul de defectare

Este evident c o instalaie prezint interes numai atunci cnd timpul de
funcionare a instalaiei este suficient de mare fa de timpul de defectare. Pentru
aceste sisteme se consider, de obicei, c raportul MTTF / MTTR are valori n jur de
100 i mai mari i n cazuri izolate se pot ntlni valori ntre 50-100, instalaiile fcnd
parte din sistemele numite de nalt fiabilitate


44
Aceast ipotez poate fi folosit pentru stabilirea unor relaii aproximative,
simplificate, pentru elaborarea unor procedee de simplificare a schemelor logice de
fiabilitate.
Ipoteza simplific sistemul de ecuaii difereniale pentru determinarea
indicatorilor de fiabilitate prin modelul proceselor stohastice de tip Markov ntr-un
sistem de ecuaii liniare algebrice, prin faptul ca dac MTTF / MTTR > 50-100, atunci
se poate considera disponibilitatea independent de timp, fapt ce echivaleaz cu
independenta de timp a probabilitilor absolute a strilor unui sistem.

3.3.4. Funcionarea sistemelor pn la prima defectare

Complexitatea relativ a modelelor utilizate n analiza fiabilitii instalaiilor n
ipoteza funcionrii cu restabilire conduce deseori la opiunea efecturii analizei n
ipoteza funcionrii fr restabilire. Informaia care se obine prin modelele fr
restabilire este ns, n general mai puin dect cea oferit de modelele cu
restabilire, datorit att numrului de indicatori ct i semnificaiei acestora n raport
cu scopul urmrit. Sunt ns i cazuri n care o analiz n ipoteza fr restabilire este
mai mult dect satisfctoare putnd fi chiar mult mai adecvat n situaiile n care
numrul mediu de defectri n o unitate de timp nu este semnificativ pentru cazul n
spe, iar funcia de fiabilitate satisface necesitile pentru evaluarea fiabilitii
(semnificaia oferit de funcia de fiabilitate este de obicei superioar celei oferite de
coeficientul de disponibilitate).
Din punct de vedere istoric modelele de analiz a fiabilitii n ipoteza fr
restabilire au devansat pe cele cu restabilire fapt care a condus la prezentarea lor n
majoritatea crilor n aceast ordine. Este interesant ns constatarea faptului c
nimic nu impune astzi aceast ordine. Din contr, se pare c inversarea ordinii de
prezentare a modelelor este benefic cel puin datorit faptului c ipoteza fr
restabilire poate fi tratat ca un caz particular al ipotezei cu restabilire.
Se tie c n ipoteza funciilor de repartiie exponeniale pentru duratele de
funcionare (T
f
) i de restabilire (T
r
) disponibilitatea punctual la un moment t,
indicator de baz n cazul cu restabilire, este dat de ecuaia:

= + + ) ( * ) (
) (
t A
dt
t dA
3-103

care rezolvat cu condiia iniial A(0)=1 conduce la:

t
e t A
) (
* ) (

+
+
+
+
= 3-104

n aceast expresie i sunt parametrii funciilor de repartiie ale variabilelor
aleatoare T
f
i T
r
, respectiv
t
e t R t F

= = 1 ) ( 1 ) ( i
tt
e t M t G

= = 1 ) ( ) ( , R(t) fiind
funcia de fiabilitate, iar M(t) funcia de mentenabilitate.
n cazul fr restabilire fcnd = 0 ceea ce corespunde duratei medii de
restabilire MTTR = respectiv nerestabilirii ntr-un interval de timp finit, se obine:

) ( ) ( t R e t A
t
= =

3-105


45

deci funcia de fiabilitate, indicator de baz n acest caz.
Media duratei de funcionare, n cazul funcionrii fr restabilire, este
denumit durat medie de funcionare pn la defectare i notat cu MTTF, iar
durata de funcionare pn la defectare este numit durat de via. Acest aspect
este important pentru evitarea unor confuzii care se pot face n legtur cu utilizarea
termenului durat de via. Conform [26] MTTF este cunoscut i sub numele de
durabilitate astfel nct se poate spune c prin durabilitate se nelege media duratei
de via, aceste noiuni fiind caracteristice cazului fr restabilire.
Indicatorii de fiabilitate care se determin de obicei pentru instalaiile fr
restabilire, sunt funcia de fiabilitate R(t), rata instantanee de defectare (t) i durata
medie de funcionare pn la apariia unei defectri MTTF.

3.3.4.1. Fiabilitatea sistemelor compuse dintr-un singur element

Conform celor prezentate n capitolul 3.2 expresiile analitice ale indicatorilor
de fiabilitate sunt date de relaiile:

} { ) ( t T P t R
f
=

) ( ln ) ( t R
dt
d
t =

=
0
) ( dt t R MTTF

aceste relaii n ipoteza funciei de repartiie exponenial pentru variabila
aleatoare T
f
, se transform n:

t
e t R

= ) ( 3-106

= ) (t 3-107

1
= MTTF 3-108

Aceste relaii se folosesc pentru calculul indicatorilor de fiabilitate n cazul
instalaiilor cu un singur element fr restabilire.
Pe baza celor artate n [1]funcia de fiabilitate poate fi calculat i cu relaia:

t T R = 1 ) (


46

3.3.4.2. Fiabilitatea sistemelor compuse din n elemente cu fiabilitate
diferit din care, pentru asigurarea strii de funcionare a sistemului
este necesar s fie n stare de funcionare elemente

Redundana unui sistem reprezint existena a mai mult dect un mijloc pentru
ndeplinirea cerinei funcionale.
Vom analiza n continuare o instalaie compus din trei elemente , dintre care
pentru asigurarea funcionrii instalaiei sunt necesare elemente n stare de
funcionare. Pentru aceasta vom folosi metoda soluiei generale, metod ce are la
baz urmtorii pai de calcul:
1. Stabilirea cerinei funcionale;
2. ntocmirea schemei logice de fiabilitate a instalaiei;
3. Descrierea strilor instalaiei cu ajutorul tabelului strilor;
4. Determinarea probabilitilor strilor;
5. Determinarea indicatorilor de fiabilitate specifici instalaiilor fr restabilire.

a) Pentru o instalaie compus din trei elemente dintre care numai unul este
necesar s funcioneze pentru asigurarea strii de funcionare a instalaiei
(n = 3; = 1).

Analiza unei astfel de instalaii se poate face prin aplicarea modelrii
funcionrii instalaiei prin procese stohastice de tip Markov. Pentru aceasta este
necesar s respectm paii de lucru prezentai anterior, astfel:
1. Cerina funcional a acestei instalaii este n = 3; = 1.

2. ntocmirea schemei logice de fiabilitate a instalaiei este prezentat n
Fig.3-10.

Fig.3-10. Schema logic de fiabilitate pentru n- elemente redundante (n=3; =1)

Strile posibile ale acestui sistem sunt n numr de 2
n
= 2
3
= 8. Astfel se poate
trece la pasul 2.

3. Descrierea strilor instalaiei cu ajutorul matricii strilor de funcionare din
Tabelul 3-1.

1
2
3
= 1


47
Tabelul 3-1
Elemente
Stri
1 2 3
Probabilitile
strilor
0 F F F R
1
(t)R
2
(t)R
3
(t)
1 D F F
Q
1
(t)R
2
(t)R
3
(t)
2 F D F
R
1
(t)Q
2
(t)R
3
(t)
3 F F D
R
1
(t)R
2
(t)Q
3
(t)
4 D D F
Q
1
(t)Q
2
(t)R
3
(t)
5 D F D
Q
1
(t)R
2
(t)Q
3
(t)
6 F D D
R
1
(t)Q
2
(t)Q
3
(t)
7 D D D
Q
1
(t)Q
2
(t)Q
3
(t)

4. Determinarea probabilitilor strilor
Se poate observa c mulimea strilor de funcionare (F) respectiv de
defectare (D) sunt:

F = {0,1, 2, 3, 4, 5, 6}
D = {7}

n de mai sus s-a introdus notaia Q
i
(t) = 1 R
i
(t) i astfel se obin
probabilitile strilor, astfel:

= =
= =
8
1
8
1
0
) ( ) ( ) (
i
i
i
i
t R t P t P 3-109

) (
) (
) ( ) (
1
1
0 1
t R
t Q
t P t P = 3-110

) (
) (
) ( ) (
2
2
0 2
t R
t Q
t P t P = 3-111

) (
) (
) ( ) (
3
3
0 3
t R
t Q
t P t P = 3-112

) ( ) (
) ( ) (
) ( ) (
2 1
2 1
0 4
t R t R
t Q t Q
t P t P = 3-113

) ( ) (
) ( ) (
) ( ) (
3 1
3 1
0 5
t R t R
t Q t Q
t P t P = 3-114

) ( ) (
) ( ) (
) ( ) (
3 2
3 2
0 6
t R t R
t Q t Q
t P t P = 3-115


48

) ( ) ( ) (
) ( ) ( ) (
) ( ) (
3 2 1
3 2 1
0 7
t R t R t R
t Q t Q t Q
t P t P = 3-116

5. Calculul indicatorilor de fiabilitate specifici instalaiilor fr restabilire.
Funcia de fiabilitate a sistemului rezult prin nsumarea probabilitilor strilor
de funcionare (F)din mulimea strilor de mai sus:

= = = = =
= =
)
`
= =
3
1
3
1
3
1
3
1
3
1
)] ( 1 [ 1 ) ( 1
) (
) (
) (
) ( ) (
) ( ) (
i
i
i
i
i i i
i
i
i i
i
i
F k
k e
t R t Q
t R
t Q
t R
t Q t R
t R P t R (15)

relaie scris n baza identitii

n n
n n n n n n n n
n n n
n
i
i
x x x x
x x x x x x x x x x x x x x x x x
x x x x x x x x x x x x x
1 2 1
1 3 2 2 2 1 1 2 1 1 2 4 2 1
3 2 1 1 3 2 2 1 2
1
1
...
... .. ... ... ... ...
... ... 1 ) 1 (
=
+
+ + + + + + + + +
+ + + + + + + + + + = +
3-117

Dup determinarea funciei de fiabilitate ceilali indicatori de fiabilitate ai
sistemelor fr restabilire se determin cu relaiile 3-106 i3-108, astfel:

)
`
=

=
3
1
)] ( 1 [ 1 ln ) (
i
i e
t R
dt
d
t 3-118

dt t R MTTF
i
i
= )
`
=
0
3
1
)] ( 1 [ 1 3-119

b) Pentru o instalaie compus din trei elemente dintre care numai dou sunt
necesare s funcioneze pentru asigurarea strii de funcionare a instalaiei
(n = 3; = 2).

n acest caz mulimea strilor de funcionare (F) respectiv defectare (D) este:

F = {0, 1, 2, 3}
D = {4, 5, 6, 7}


|
|
\
|
+ + + = + + + = =

) (
) (
) (
) (
) (
) (
1 ) (
3
3
2
2
1
1
0 3 2 1 0
t R
t Q
t R
t Q
t R
t Q
P P P P P P t R
F k
k e
3-120


49
c) Pentru o instalaie compus din trei elemente dintre care toate sunt
necesare s funcioneze pentru asigurarea strii de funcionare a instalaiei
(n=3; =3).

n acest caz mulimea strilor de funcionare (F) respectiv defectare (D) este:

F = {0}
D = {1, 2, 3, 4, 5, 6, 7}


0
) ( P P t R
F k
k e
= =

3-121

innd seama de identitatea (3-117) se poate formula urmtoarea regul
general:
Pentru determinarea funciei de fiabilitate echivalent a unui sistem compus
din n elemente din care, pentru asigurarea strii de funcionare a sistemului, este
necesar s fie n stare de funcionare elemente, se nmulete probabilitatea P
0
cu
suma primilor (n - + 1) termeni ordonai dup puterile cresctoare ale lui x, dup
care se face x = 1, din produsul:

=
(
+ =
n
i i
i
n
x
t R
t Q
x
1
) (
) (
1 ) ( 3-122

n acest caz probabilitile P
0
se determin cu relaia:
=
=
n
i
i
t R t P
1
0
) ( ) ( 3-123

n cazul instalaiilor n care elementele sunt identice din punct de vedere al
fiabilitii, adic
1
=
2
= =
n
, respectiv R
1
(t) = R
2
(t) == R
n
(t) i Q
1
(t) = Q
2
(t)
== Q
n
(t), polinomul se transform n:

n
n
t R
t Q
(
+ =
) (
) (
1 3-124

Regula general pentru determinarea funciei de fiabilitate echivalent este:

[ ]

=
=
=
(
=
n
k
k
k n
k
n
n
k
k
k
n
n
e
t Q t R C
t R
t Q
C t R t R
0 0
)] ( [ ) (
) (
) (
) ( ) ( 3-125

n care P0(t) s-a nlocuit cu Rn(t).


50

3.3.5. Funcionarea sistemelor cu restabilire
3.3.5.1. Procese stochastice de tip Markov cu timp continuu

Funcionarea unei instalaii electroenergetice, central electric, staie de
transformare, linie electric de transport etc. se caracterizeaz printr-o succesiune de
stri care descriu regimurile normale sau de avarie a instalaiei respective.
Datorit strilor probabilistice prin care trec instalaiile se poate admite c
evoluia instalaiilor este descris de un proces aleatoriu, proces definit de o familie
de variabile aleatoare care descriu procesul respectiv. Cunoaterea strilor
anterioare unui moment t contribuie la cunoaterea strii la momentul t.
Variabila aleatoare este o mrime care n funcie de rezultatul unei experiene
poate lua o valoare, dintr-o mulime de valori cunoscut, valoare ce poate fi
cunoscut dinainte din cauza factorilor ntmpltori care influeneaz rezultatul
experienei.
Funcia aleatoare este o funcie care ntr-o experien poate lua o anumit
form, necunoscut dinainte, din cauza factorilor ntmpltori care influeneaz
rezultatul experienei.
Realizarea unei funcii aleatoare reprezint forma funciei aleatoare ntr-o
experien i este o funcie nealeatoare.
Funciile aleatoare se noteaz cu litere mari X(t), Y(t), argumentul putnd fi
timpul sau alt parametru. Funcia aleatoare poate depinde de un singur argument
sau de mai multe argumente.
Procesul aleator reprezint o funcie aleatoare care depinde numai de un
singur argument.
Cmpul aleator reprezint o funcie aleatoare ce depinde de mai multe
argumente.
Seciunea procesului aleator (Fig. 3-11) pentru o valoare t a argumentului face
ca procesul aleator s devin o variabil aleatoare obinuit. Ea reprezint cele n
valori ale variabilei aleatoare n cele n experiene, corespunztoare valorii date
argumentului.

Fig. 3-11. Funcii aleatoare
X(t)
0
t
X
2
(t)
X
4
(t)
X
3
(t)
t
X
1
(t)


51

Pentru caracterizarea procesului aleator trebuie s fie cunoscute funciile de
repartiie pentru un numr mare de seciuni, apropiate ntre ele. Acest lucru fiind
dificil de realizat, n practic utilizndu-se caracteristicile numerice ale proceselor
aleatoare (valoarea medie, sperana, corelaia)
Pentru studiul fiabilitii instalaiilor ne intereseaz s se analizeze o clas
particular de procese aleatoare respectiv lanurile Markov finite i omogene.
Procesul aleator omogen este procesul aleator pentru care caracteristicile sale
numerice sunt invariante la orice schimbare a originii timpului.
Procesul Markov este un proces aleator fr postaciune, respectiv pentru
care cunoaterea unei seciuni permite determinarea probabilitilor pentru alt
seciune ca variabila aleatoare s ia alt valoare (din mulimea valorilor sale). Cu alte
cuvinte starea procesului la un moment dat depinde doar de starea precedent nu i
de strile prin care sistemul a trecut.
Lanul Markov reprezint un proces Markov, definit de variabile aleatoare
aparinnd unui ir finit sau infinit, putndu-se considera irul numerelor naturale sau
n cazul finit irul 1, 2, ,N.
Lanurile Markov pot fi cu argument (timp) continuu sau cu argument(timp)
discret n funcie de valorile pe care le poate lua argumentul.
Studiul evoluiei funcionrii instalaiilor arat c oportun este utilizarea
lanurilor Markov finite i omogene cu argument (timp) continuu.
Schema tehnologic a oricrei instalaii este alctuit din componente dispuse
ntr-o anumit configuraie ce asigur funcionalitatea schemei. Diferitele combinaii
posibile de componente n funciune, scoase din funciune sau scoase n reparaii ca
urmare a avariilor definesc strile prin care poate evolua instalaia. Studiul evoluiei
funcionrii acestor instalaiilor arat c oportun este utilizarea lanurilor Markov
finite i omogene cu argument continuu
Conceptele fundamentale n procesele Markov sunt cele de stare i tranziie.
Ca urmare un proces Markov este caracterizat prin:
- probabiliti absolute;
- probabiliti de tranziie.
Prin probabiliti absolute se neleg probabilitile celor n stri ale procesului
la un moment oarecare t (P
1
(t), P
2
(t), .., P
n
(t)).
Prin probabiliti de tranziie se nelege probabilitatea ca variabila aleatoare
X(t) s ia valoarea x
j
pentru valoarea argumentului t
e
dac a avut valoarea x
I
pentru
valoarea argumentului t
k
(p
ij
(t
k
, t
l
)).

} ) ( / ) ( { ) , (
i k j i l k ij
x t X x t X P t t p = = = 3-126

Considernd lanurile omogene avem:

) , ( ) , (
l k ij l k ij
t t p t t p = + + 3-127

Deci se poate scrie

) ( ) ( ) , ( t p t p t t p
ij l ij l k ij
= = 3-128


52
Aceast scriere nu poate da natere la confuzii dac se nelege totdeauna
prin t valoarea cea mai mare a argumentului din cele corespunztoare strilor i i j,
respectiv valoarea corespunztoare strii j.
Procesul Markov este caracterizat de:
matricea probabilitilor absolute ) (t P
i
, unde P
I
(t) reprezint probabilitatea
ca procesul s se afle n starea i la momentul t;

) ( )...... ( ) ( ) (
2
t P t P t P t P
n i i
= 3-129

Pentru starea iniial matricea probabilitilor absolute este:

) 0 ( )...... 0 ( ) 0 ( ) 0 (
2 n i i
P P P P = 3-130

matricea probabilitilor de tranziie ntre stri ) (t p
ij
, unde p
ij
(t) reprezint
probabilitatea ca procesul aflat n starea i s ajung n starea j la momentul
t;

) ( ) ( ) (
) ( ) ( ) (
) ( ) ( ) (
) (
1 , 1 1 , 1 0 , 1
1 . 1 11 10
1 , 0 01 00
t p t p t p
t p t p t p
t p t p t p
t p
m m m m
m
m
ij

=
L
M M M M
L
K
3-131

Matricea probabilitilor de tranziie ) (t p
ij
este o matrice ptratic de ordinul
m care posed dou proprieti:
- are termeni pozitivi sau nuli i reprezint probabiliti;
- suma termenilor fiecrei linii este egal cu 1.
Problema care se pune este determinarea matricii probabilitilor absolute
) (t P
i
tiind valorile matricea probabilitilor absolute a strii iniiale ) 0 (
i
P i
matricea probabilitilor de tranziie ntre stri ) (t p
ij
.
Pentru rezolvarea acestei probleme se analizeaz expresia probabilitii unei
stri I la momentul t+t funcie de probabilitile absolute la momentul t i
probabilitile de tranziie.
Procesul se poate afla n starea I la momentul t+t n dou moduri:
- la momentul t s-a aflat n starea i i a rmas n aceeai stare;
- la momentul t s-a aflat n starea j i i n intervalul t a trecut n starea i.
Probabilitatea primului eveniment este: ) ( ) ( t p t P
ii i
.
Probabilitatea celui de al doilea eveniment este
i j
ji j
t p t P ) ( ) ( .
Aplicnd teorema probabilitii totale rezult:

+ = +
i j
ji j ii i i
t p t P t p t P t t P ) ( ) ( ) ( ( ) ( ) ( 3-132


53
Datorit intervalului foarte mic de timp t ,probabilitatea de a avea loc mai mult
de o tranziie se neglijeaz.
Probabilitile de tranziie depind numai de lungimea intervalului dintre tranziii,
deci pentru intervalul t probabilitile de tranziie sunt proporionale cu lungimea
intervalului. Dac se deriveaz matricea ) (t p
ij
n punctul t = 0 i se noteaz:

ij ij
q p = ) 0 ( ' 3-133
rezult

) ( 0 ) ( ) ( t t q t p
ij ji
+ = 3-134

unde 0(t) este probabilitatea ca tranziia din starea j n starea i s aib loc prin
intermediul unei alte stri k (probabilitate neglijat datorit ipotezei anterioare);
q
ij
(t) matricea intensitilor de tranziie corespunztoare matricii
probabilitilor de tranziie.
Caracteristic matricii intensitilor de defectare este faptul c suma
intensitilor de defectare pe o linie este zero.
Datorit faptului c probabilitile de tranziie corespund evenimentelor unui
sistem complet, se poate scrie:

=
j
ij
t p 1 ) ( 3-135
Deci

=
i j
ji ii
t p t p ) ( 1 ) ( 3-136

Introducnd n relaia (3-132) relaiile (3-135) i (3-136) rezult:

[ ] [ ]

+ +
)
`
+ = +
i j
ij j
i j
ij i i
t t q t P t t q t P t t P ) ( 0 ) ( ) ( ) ( 0 ) ( 1 ) ( ) ( 3-137

Dac scdem n ambii termeni P
i
(t), mprind cu t>0, trecnd la limit pentru
t0 i innd cont de faptul c 0
) ( 0
lim
0
=

t
t
t
deoarece 0(t) tinde mai repede spre
zero dect t, rezult:

+ =
i j
ij i
i j
ij i i
q t P q t P t P ) ( ) ( ) ( ' 3-138

Conform relaiilor (8) i (10) avem

0 ) ( =
j
ij
t q 3-139
Deci


54

=
j
ij ij
t q q ) ( 3-140

nlocuind relaia (3-140) n (3-138),rezult:

+ =
i j
ij i ij i i
q t P q t P t P ) ( ) ( ) ( ' 3-141

Aceast relaie reprezint un sistem de ecuaii difereniale prin a crui
rezolvare rezult determinarea probabilitilor absolute ale celor n stri.
Relaia se poate scrie i sub form matricial, astfel:

) 0 ( ) ( ) ( '
ij i i
q t P t P = 3-142

Aceast relaie se mai poate scrie i sub forma:

) 0 ( ' ) ( ) ( '
ij i i
p t P t P = 3-143

Relaia (3-143) reprezint un sistem de ecuaii difereniale care se rezolv cu
ajutorul transformatei Laplace, conducnd la gsirea probabilitilor absolute funcie
de probabilitile de tranziie.
Pentru ca sistemul s fie compatibil se adaug i ecuaia:

1 ) (
1
=
=
n
i
i
t P 3-144

Introducnd ipoteza c pentru valori relativ mari ale timpului t procesul Markov
devine staionar (probabilitile de tranziie nu depind de momentul iniial ci numai de
durata tranziiilor), probabilitile absolute ale strilor devin independente de timp i
astfel derivatele lor n raport cu timpul se anuleaz, relaia (3-143) devine:

0 ) 0 ( ' =
ij i
p P 3-145

0 =
ij i
q P 3-146

Aceast relaie reprezint un sistem de ecuaii algebrice liniare la care pentru
compatibilitate se adaug

1
1
=
=
n
i
i
P 3-147


55
3.3.5.2. Procese stochastice de tip Markov cu timp discret

La fel ca n cazul proceselor stochastice de tip Markov cu timp (argument)
continuu, modelul cu timp discret presupune ca evoluia sistemului (instalaiei) este
probabilistica (stochastica), respectiv strile sunt caracterizate prin probabiliti ale
lor. Diferena consta n faptul ca argumentul timp nu mai poate lua orice valoare t,
0 t ci numai un sir numrabil de valori 0, 1, 2, , k,.
n cazul instalaiilor electrice i de automatizare experiena ne arat c este
util s se restricioneze acest ir la un ir finit 0, 1, 2, , n. Aa cum s-a menionat n
paragraful anterior, un astfel de proces stochastic, inclusiv n cazul irului numrabil
infinit, este numit lan Markov, proprietatea Markov fiind precizata n paragraful
precedent. Se poate spune ca ntr-un lan Markov trecutul (A) i viitorul (B) sunt
condiionat independente cunoscnd prezentul! n cazul irului finit avem de-a face
cu un lan Markov finit, denumire pe care o vom folosi n cele ce urmeaz.
Pentru acest tip de proces stochastic exist foarte multe lucrri de specialitate.
O caracteristic comun a acestora este complexitatea aparatului matematic i
inexistena (cu relativ puine excepii, puin concludente) unor exemple de aplicaii n
inginerie i fizic. S-ar putea deduce de aici faptul c acest model este mai puin
adecvat aplicaiilor inginereti. Realitatea este ns cu totul alta, aa cum au revelat
unele cercetri din ultimele decenii. Acest model ofer n domeniul fizicii, ingineriei,
biologiei, economiei, sociologiei, geneticii, etc, multiple posibiliti de caracterizare
mult mai detaliata a proceselor, inclusiv de previziune a evoluiei acestora. Problema
care trebuie rezolvat este doar creterea accesibilitii specialitilor din domeniile
respective la acest instrument matematic care pn n ultima parte a secolului trecut
a aparinut doar unui numr restrns de matematicieni ultraspecializai.
n acest scop vom prezenta n acest paragraf numai chestiunile eseniale strict
necesare pentru aplicaiile inginereti ale acestui instrument. Prezentarea se
bazeaz pe lucrrile[56], [57], [58], [59], [60], [61]. Se vor folosi notaiile din [56],
altele dect cele din 3.3.5.1
Un lan Markov finit se caracterizeaz prin:
- o mulime S ale crei elemente se numesc stri i care sunt numerotate
0, 1, 2, , r
- o repartiie de probabilitate

S i
i p
P
= ) ( 3-148

pe S ale crei elemente se numesc probabiliti iniiale
- o matrice stochastica

S j j i p
P
= , ) , ( 3-149

ale crei elemente se numesc probabiliti de tranziie
Evident, probabilitile iniiale i probabilitile de tranziie ndeplinesc condiiile

1 ) (
, 0 ) (
=

S i
i p
S i i p
3-150


56
S i j i p
S j i j i p
S i
=

, 1 ) , (
, , 0 ) , (
3-151

Lanurile Markov finite, la fel ca lanurile Markov cu timp continuu, pot fi
omogene sau neomogene.
Probabilitile p(i, j) caracterizeaz tranziiile intr-un singur pas.
Pentru tranziia (trecerea) din starea i n starea j n n pai se folosete notaia
p(n, i, j). cu aceasta notaie rezulta ca p(1, i, j)= p( i, j)
Se definete i
ij
j i p = ) , , 0 ( 3-152
unde
=
=
j i
j i
ij
daca , 0
daca , 1

este numit simbolul lui Kronecker.

3.3.5.2.1. Lanuri Markov finite omogene

Este capitolul cel mai elaborat n literatura de specialitate.
Proprietatea de omogenitate se poate exprima la fel ca n 3.3.5.1 n cuvinte
omogenitatea const n faptul ca probabilitatea apariie strii i
n+1
la momentul n+1
condiionata de apariia strii n la momentul n are o valoare independenta de n.
Matematicienii mai spun ca n acest caz legea condiionat a evoluiei probabilistice
este invariabila n timp.
Se demonstreaz n [56] ca omogenitatea conduce la faptul c matricea
S j i j i p , ) , , 2 ( este ptratul matricii S j i j i p
P
= , ) , (
Acest fapt st la baza utilizrii teoriei matricelor n studiul lanurilor Markov.
Generaliznd rezulta ca probabilitatea de tranziie n pai ) , , ( j i n p sunt
elementele puterii n a matricii de tranziie
p

Relaia 0 , , > =
+
n m
P P P
n m n m
conduce la

= +
S k
S j i
j k n p k i m p j i n m p
,
) , , ( ) , , ( ) , , ( 3-153

numita relaia Chapman-Kolmogorov.
Proprietatea Markov se scrie n acest caz

{ }
{ }
n n
n n
i n X i n X ob
i X i n X i n X i n X ob
= = + =
= = = = = +
+
+
) ( / ) 1 ( Pr
) 0 ( ,..., ) 1 ( , ) ( / ) 1 ( Pr
1
0 1 1
3-154

iar proprietatea de omogenitate a lanului Markov conduce la

{ }
{ } ) 1 , ( ) ( / ) 1 ( Pr
) 0 ( ,..., ) 1 ( , ) ( / ) 1 ( Pr
1
0 1 1
+ = = = + =
= = = = = +
+
+
n n n n
n n n
i i p i n X i n X ob
i X i n X i n X i n X ob
3-155
pentru orice S i i i
n

1 1 0
,... , i orice n ntreg nenegativ.


57
n ceea ce privete mulimea S a strilor unui lan Markov, n literatura de
specialitate nu ntlnim un punct de vedere unanim acceptat. Exista att diferite
moduri de clasificare cat i diferite denumiri pentru strile sau pentru clasele de stri
care aparin lui S.
Pentru scopul urmrit de noi vom retine deocamdat doar faptul ca exista stri
n care lanul odat intrat nu mai poate iei i pe care le vom numi dup [56] stri
recurente i stri din care lanul odat intrat poate iei, numite nerecurente. Alte
denumiri ntlnite pentru strile recurente sunt cele de persistente sau absorbante iar
pentru cele nerecurente cele tranziente sau de trecere. Alte precizri sau detalieri vor
fi fcute ca urmare a unor necesitai care pot contribui la o mai buna nelegere a
modalitilor de rezolvare a unor aplicaii. Cteva consecine, prezentate n [56] sub
forma unor enunuri, teoreme sau corolare pot fi de folos n aplicaii:
a) Starea i este recurent sau nerecurent dup cum seria
1
) , , (
n
i i n p diverge
sau converge.
b) Oricare ar fi starea i, daca j este o stare nerecurent, seria
1
) , , (
n
j i n p
converge, deci n particular

0 ) , , ( lim =

j i n p
n
3-156

c) ntr-un lan Markov finit nu este posibil ca toate strile sa fie nerecurente
d) Recurenta i nerecurenta sunt probabiliti de clas
e) O stare nerecurent nu este accesibil dintr-o stare recurent
f) Un lan Markov finit are cel puin o stare recurent
g) Dac starea j este o stare recurent

{ } 0 ori de infinitate o de revine j starea Pr = ob 3-157

h) Probabilitatea de a rmne la nesfrit n mulimea T a strilor nerecurente
este zero ntruct conform proprietii g) putem scrie

{ } { } 0 ori de infinitate o de revine j starea Pr 0 , ) ( Pr = ob n T n X ob 3-158

i) Conform proprietii b) rezult i c

0 lim =

T
n
n
3-159

j) Daca lanul Markov finit i omogen pleac dintr-o stare nerecurenta, atunci,
cu probabilitatea 1 el face un numr finit de psi n mulimea T a strilor
nerecurente, dup care intr ntr-una din clasele recurente unde rmne la
nesfrit.

Prin definiie un lan Markov cu stri nerecurente se numete absorbant [56]. n
literatura de specialitate se gsete i o definiie mai restrictiv pentru noiunea de
lan absorbant, respectiv lanul n care toate strile recurente sunt absorbante.
Definiia de mai sus nu necesit aceast constrngere, conform proprietarii e).


58
n evoluia instalaiilor electrice i de automatizare i nu numai, lanurile Markov
finite i omogene absorbante, pe care le vom abrevia n continuare LMOA, ne ofer
posibilitatea determinrii unor caracteristici ale evoluiei sistemelor ca numrul de
apariii ale unei stri nerecurente fixate pana la absorbie, numrul de pai pana la
absorbie, starea n care are loc absorbia.
Fr a micora generalitatea se va considera n cele ce urmeaz ca toate strile
recurente ale lanului sunt absorbante. n acest caz matricea de tranziie
P
a
lanului (3-148) se poate scrie sub forma canonic

T R
I
P
0
= 3-160

in care
I
este matricea unitate,
0
este matricea nula,
R
este matricea tranziiilor
din stri nerecurente n stri recurente i
T
este matricea tranziiilor intre strile
nerecurente.
Fie (j) numrul apariiilor strii nerecurente j. Conform proprietarii h), (j) este
o variabil aleatoare finit cu probabilitatea 1.
Introducnd variabilele 0 ), ( m j u
m
definite prin relaia

=
=
j m X
j m X
j u
m
) ( daca , 0
) ( daca , 1
) ( 3-161

se poate scrie

=
0
) ( ) (
m
m
j u j 3-162

Se observa ca operatorul valorii medii a lui ) ( j u
m

{ } { } ) , , ( ) ( Pr 0 ) ( Pr 1 )) ( ( j i m p j m X ob j m X ob j u E
m i
+ = = 3-163

si rezult

=
0
) , , ( )) ( (
m
i
j i m p j E 3-164

valoare finit conform proprietarii b).
n [56, p 45] se demonstreaz urmtoarea teorema:
Daca
A
este o matrice ptrat astfel nct
0
A
n
(matricea nula) cnd
n atunci inversa
1
) (

A I
exist i

=
0
1
) (
n
n
A A I
3-165


59
Conform acestei teoreme i faptului artat anterior conform cruia
probabilitile de tranziie n n pasi p(n, i, j) sunt elementele matricii de tranziie
p
la
puterea n, rezult c putem scrie relaia (3-164) sub form matriceal

( ) ( )
1
2
,
... ) (

= + + + =
T I T T I T j i
i
j E 3-166

Se introduce notaia:

( )
1
=
T I N
3-167

matricea
N
fiind numita matricea fundamentala a LMOA considerat.
Caracteristica (j), numrul de apariii al strii nerecurente j n evoluia LMOA,
se poate astfel calcula n medie fr nici o dificultate dac se cunoate matrice
P

prin algoritmul simplu:
- se scrie matricea probabilitilor de tranziie intre stri
P
, singura dat de
intrare a problemei
- se scrie
P
sub forma canonic din care rezult matricea de tranziie ntre
strile recurente
T
(n multe cazuri aceast matrice se poate scrie direct)
- se calculeaz matricea
T I

- se calculeaz matricea fundamentala
N
prin inversarea matricii
T I

- Se determina media variabilei (j) cu ajutorul relaiilor
(
=
0
) , , ( )) ( (
m
i
j i m p j E
3-164) i
(
( ) ( )
1
2
,
... ) (

= + + + =
T I T T I T j i
i
j E
3-166)
Un exemplu simplu concret poate fi de folos n utilizarea corect a acestui
algoritm.
Fie acum caracteristica LMOA numita numrul de pai pn la absorbie.
Pentru determinarea acestei caracteristici vom nota numrul momentelor la care
apar stri nerecurente, adic timpul pe care lanul l petrece n mulimea T a strilor
recurente. Avem evident

=
T j
j ) ( 3-168

Variabila aleatoare este numita i timpul de absorbie.
Se demonstreaz fr dificultate c vectorul valorii medii ( )
T i i
E
m
= ) ( are
expresia

e N m
= 3-169


60
unde
e
este vectorul unitatea (vector coloan) de dimensiunea lui
N

Se mai pot determina i alte caracteristici ale LMOA cu relaiile:

( )
e N N dg T i i
E

=
1
) ' ( 3-170

Unde este numrul strilor nerecurente care apar pana la absorbie iar
Ndg
este
matricea diagonal corespunztoare matricii ptrate simetrice
N
. Reamintim c o
matrice este simetric dac este identic cu transpusa sa iar o matrice diagonal
este cea obinut dintr-o matrice simetric prin nlocuirea cu zero a tuturor
elementelor nesituate pe diagonala principal.

R N A T S k T i
k i a = =
,
) , ( 3-171

Unde a(i, k) este probabilitatea ca LMOA plecnd din starea nerecurenta i sa ajung
n starea absorbanta k.
Pentru verificarea corectitudinii rezultatului obinut cu relaia
(
R N A T S k T i
k i a = =
,
) , (
3-171) se poate folosi condiia

e e R N
= 3-172

care rezult din faptul c atingerea unei stri absorbante ntr-un LMOA reprezint un
eveniment sigur.

3.3.5.2.2. Lanuri Markov finite neomogene

ntr-un lan Markov neomogen, dei proprietatea Markov continua sa fie
verificat, matricea probabilitilor de tranziie se schimb la fiecare pas.
Conceptual de dependenta markovian a aprut la nceputul secolului trecut
(1906) intr-o lucrare a matematicianului rus A. A. Markov (1856-1922) [56]. n cei
peste 100 ani care au trecut s-au scris un numr foarte mare de lucrri despre acest
subiect, numai n bibliografie menionata n lucrarea [56] fiind cuprinse aproape 300
de titluri, numr pe care autorul, academicianul Marius Iosifescu, l considera infim
fata de numrul lucrrilor aprute n acest domeniu.
n cazul lanurilor Markov finite omogene exist astzi o teorie bine pus la
punct, din care n capitolul precedent sunt prezentate cteva concepte, proprieti i
relaii de calcul necesare i utile n problemele de analiza i optimizare a unor
sisteme intre care i instalaiile electrice i de automatizare.
n cazul lanurilor Markov finite neomogene, dezvoltrile teoretice, dei au fost
ncepute de nsui Markov, sunt nc insuficient de elaborate pentru a putea oferi
soluiile ateptate n aplicaiile n care apar astfel de procese stochastice.
Aa cum precizeaz academicianul Marius Iosifescu dependenta considerate
trebuie sa fie natural, adic sa se ntlneasc efectiv n aplicaii cat mai diverse.
Aceasta cerina se pare ca nu este nc satisfcuta.


61
Exist ns un model matematic prezentat n lucrarea [65] n care se
ntlnete un lan Markov finit neomogen, dei autorul nu precizeaz explicit acest
lucru. Este un model matematic extrem de simplu cu ajutorul cruia se pot determina,
n cazul unui lan Markov finit neomogen absorbant aceleai caracteristici ca n cazul
lanurilor omogene. Modelul a fost elaborat pentru calculul indicatorului de fiabilitate
cunoscut sub denumirea de durat de via (n fizic) sau durat normal de via (n
statistic matematic.
n lucrrile [14] i [69] durata normal de via este definit ca vrsta la care
au loc cele mai numeroase decese.
n domeniul fiabilitii instalaiilor electrice i de automatizare, semnificaia
acestei caracteristici poate fi durata medie de via fr defectare MTTF, cazul
instalaiilor de nalt fiabilitate pentru care ncetarea strii de satisfacere a cerinelor
este cauzat de degradarea iar defectarea este un eveniment datorat doar unor
modificri (perturbaii) ale condiiilor date.
Modelul a fost denumit de autor graf entropic canonic prezentat n [64].

3.3.5.2.3. Soluie pentru determinarea duratei de via a unui proces

n cele ce urmeaz vom analiza un model foarte cunoscut n literatura de
specialitate, mersul la ntmplare cu frontiere absorbante.
Astfel, considernd ca n joc sun 3 monede i 2 juctori, numrul strilor
posibile sunt:
- strile posibile din punctul de vedere al primului juctor {0, 1, 2, 3}
- strile posibile din punctul de vedere al celui de al doilea juctor {0, 1, 2, 3}
Cele 4 stri posibile ale fiecrui juctor reprezint: 0 juctorul numai are nici
o moneda, 1 juctorul are o singura moned, 2 juctorul are dou monede, 3
juctorul are toate cele trei monede
Se pune problema determinrii duratei n pai a jocului pn n momentul n
care unul din juctori ctig toate monedele.

Rezolvarea acestei probleme va fi abordata n cele ce urmeaz att printr-un
calcul manual dar si printr-un calcul automat utiliznd facilitile programului
MATLAB.
Conform teoriei prezentat n capitolul 3.3.5.2., strile sistemului nostru pot fi
mprite n stri nerecurente sau tranziente {1, 2} i stri recurente sau absorbante
{0, 3}
Considerm c jocul ncepe din starea 1, astfel c repartiia de probabilitate
este { } 0 ( 1 p i c probabilitatea de tranziie ntre stri este
2
1
) , ( = j i p
Urmrind paii descrii n subcapitolul 3.3.5.2.1., avem:

- matricea probabilitilor de tranziie ntre stri


62

1 0 0 0
2
1
0
2
1
0
0
2
1
0
2
1
0 0 0 1
=
P

- forma canonic a matricei probabilitilor de tranziie ntre stri

0
2
1
2
1
0
2
1
0 0
2
1
0 0 1 0
0 0 0 1
=
Q

- matricea de tranziie ntre strile recurente

0
2
1
2
1
0
=
T

Se demonstreaz n [56] c durata medie n pai a jocului este:

( )
e N
p R j
j E =
) ( 3-173

unde:
p
este vectorul line al probabilitilor iniiale

N
este matricea fundamental
e
este vectorul unitate (vector coloan) de mrimea lui
N

Pentru calculare matricii fundamentale este nevoie de
- determinarea lui
T I

1
2
1
2
1
1
0
2
1
2
1
0
1 0
0 1
= =
T I

- determinarea lui ( )
1
T I
are ca etape:
o determinarea matricii transpuse ( )
T I
t

( )
1
2
1
2
1
1
=
T I
t


63

o determinarea matricii adjuncte a matricii transpuse

( )
1
2
1
2
1
1
1 ) 1 ( )
2
1
( ) 1 (
)
2
1
( ) 1 ( 1 ) 1 (
2 2 1 2
2 1 1 1
*
=

=
|
\
|

+ +
+ +
T I
t

o se determin adic valoarea determinantului
T I

4
3
1
2
1
2
1
1
=
=

o se determin
N

( )
3
4
3
2
3
2
3
4
1
2
1
2
1
1
3
4 1
*
= =
|
\
|

=
T I N
t

- se poate determina durata medie n pai a jocului

( ) pasi 2
1
1
3
4
3
2
3
2
3
4
0 1 ) ( = =
R j
j E

n continuare voi prezenta modul de rezolvare al acestei probleme utiliznd
MATLAB-ul.
Este cunoscut faptul c MATLAB (MATrix LABoratory) este un pachet de
programe de nalta performan dedicat calculului numeric si reprezentrilor grafice
n domeniul tiinei i al ingineriei, care integreaz: analiza numeric, calculul
matriceal, procesarea semnalului i reprezentrile grafice ntr-un mediu uor de
nvat i folosit. Elementul de baza cu care opereaz MATLAB este matricea
(matrix), cu care se pot rezolva problemele date, fr a fi necesar cunoaterea unui
limbaj de programare. Cea mai important caracteristic a MATLAB este uurina n
operare i dezvoltarea unor aplicaii specifice domeniului n care lucreaz utilizatorul.
Structural, MATLAB este realizat sub forma unui nucleu de baza, cu interpretor
propriu, n jurul cruia sunt construite aplicaii specifice diferitelor domenii, numite
TOOLBOX (colecii extinse de funcii MATLAB, destinate rezolvrii unor probleme
din domenii variate).
Din studierea toolbox-urilor pe care le pune la dispoziie MATLAB-ul, nu am
gsit unul pentru rezolvarea proceselor stochastice de tip Markov cu timp discret. De
aceea am creat un program de calcul pentru a putea modela exemplul de mai sus,
astfel:


64
- am pornit prin a defini numrul de linii i coloane (L) pe care o are matricea
stocastic a probabilitilor de tranziie

L = 4;

- am definit matricea probabilitilor de tranziie

P = [1 0 0 0; 1/2 0 1/2 0; 0 1/2 0 1/2; 0 0 0 1];

- am ntocmit forma canonic a matricii probabilitilor de tranziie n dou
etape notat cu Q:
o am mutat coloana 4 a matricii probabilitilor de tranziie dup coloana
1 a acestei matrici

Q = [P(1:L,1) P(1:L,4) P(1:L,2) P(1:L,3)];

o am mutat linia 4 a matricii probabilitilor de tranziie dup linia 1 a
acestei matrici

Q = [Q(1,1:L);Q(4,1:L);Q(2,1:L);Q(3,1:L)];

- am ntocmit matricea de tranziie ntre strile recurente: notat cu T

T = [Q(3,3:L);Q(4,3:L)];

- am definit vectorul linie al probabilitilor iniiale notat cu p

p = [1 0];

- am definit vectorul unitate de tip vector coloan notat cu e
p = [1;1];
- am determinat matricea fundamental notat cu N

N = inv(inv(T) * T - T)

- am determinat durata medie n pai a jocului notat cu Niu aa cum se vede
n Fig. 3-12

Niu = p * N * e = 2


65

Fig. 3-12. Durata medie n pai


66

O alt aplicaie interesant este studierea corelaiei ntre probabilitile de
tranziie ntre stri i numrul de pai. Astfel, pornind de la programul creat, l-am
mbuntit pentru a putea modifica n mod automat matricea probabilitilor de
tranziie prin modificarea probabilitii de tranziie ntre stri. Astfel am putut calcula
numrul de pai ai jocului pentru diferite probabiliti de trecere ntre stri, aa cum
este prezentat n continuare:
- am pornit prin a defini numrul de linii i coloane (L) pe care o are matricea
stocastic a probabilitilor de tranziie

L = 4;

- am notat cu q probabilitile de trecere ntre stri i am considerat c
probabilitatea de trecere ntre stri ia pe rnd valorile {0,1; 0,2, 0,3, 0,4; 0,5;
0,6; 0,7; 0,8; 0,9}

q=0.1:0.1:0.9

- am realizat calculul automat al duratei medii n pai prin utilizarea rutinei da tip
for , astfel:

i=0;
for q=0.1:0.1:0.9
i=i+1;
P=[1 0 0 0; q 0 1-q 0; 0 1-q 0 q; 0 0 0 1];
Q=[P(1:L1) P(1:LL P(1:L2) P(1:L3)];
Q=[Q(1,1:L;Q(L1:L;Q(2,1:L;Q(3,1:L];
T=[Q(3,3:L;Q(4,3:L];
p=[1 0];
e=[1;1];
N=inv(inv(T)*T-T);
Niu(i)=p*N*e;
End

- rezultatele afiate de program sunt:

Niu = 10.0000 5.0000 3.3333 2.5000 2.0000 1.6667 1.4286 1.2500 1.1111

q = 0.1000 0.2000 0.3000 0.4000 0.5000 0.6000 0.7000 0.8000 0.9000

n Fig. 3-13 este prezentat ntreg programul de calcul i valorile pe care le
afieaz n urma calculelor.


67

Fig. 3-13. Duratele medii n pai pentru diferite valori ale probabilitilor de trecere ntre stri


68
- ultimul pas n realizarea scopului propus este reprezentarea grafic a duratei
de via n pai funcie de probabilitile de trecere ntre stri aa cum este
prezentat n Fig. 3-14

Fig. 3-14. Reprezentarea grafic a duratei de via n pai funcie de probabilitile de trecere


69

3.3.6. Elemente echivalente

Metoda elementelor echivalente este o metoda ce simplific foarte mult
calculele, in special pentru sistemele fiabilistice cu multe elemente.
Astfel, pentru simplificarea calculelor se poate nlocui, in multe cazuri, o grupa
de elemente componente ale unui sistem printr-un element echivalent din punct de
vedere al fiabilitii. Condiiile de echivalare impun ca indicatorii de fiabilitate sa fie
aceeai att pentru grupa de elemente echivalate ct i pentru elementul echivalent.
Dup nlocuire, elementul echivalent preia practic funciunile gruprii (din
punct de vedere al fiabilitii), simplificnd astfel att schema logic de fiabilitate i
implicit calculele, fat de metodele i procedeele cunoscute.
Astfel, pentru o structur fiabilistic ce are ca schem logic de fiabilitate un
singur element, principalii indicatori de fiabilitate, n cazul instalaiilor cu restabilire,
sunt:

+
= A 3-174

t t

+
= ) ( 3-175

t t

+
= ) ( 3-176

t t

+
= ) ( 3-177

1
= m 3-178

1
=
r
m 3-179

Din analiza acestor relaii se constata ca indicatorii de fiabilitate pentru o
anumit durat a intervalului de timp de funcionare T, se pot determina funcie de
numai dou mrimi, i n ipotezele c procesele sunt staionare i funcia de
repartiie este exponenial pentru variabilele aleatore T
f
, T
d
.
Astfel, pentru elementului echivalent va fi suficient sa se determine valori
corespunztoare pentru aceste doua mrimi, pentru a putea determina funcie de
aceste valori toi indicatorii de fiabilitate. Aceste valori se noteaz cu
e
si
e
i nu
mai reprezint rata instantanee de defectare respectiv restabilire, deoarece, relaiile
1
= m i
1
=
r
m sunt proprii repartiiei exponeniale pentru T
f
si T
d
iar pentru
elementul echivalent funciile de repartiie pentru T
f
si T
d
depind de structura grupei


70
de elemente echivalate. De aceea mrimile
e
i
e
trebuie considerate ca parametrii
de calcul pentru elementul echivalent cu semnificaia valorilor inverse ale lui m i m
r
.
Astfel se pot scrie pentru elementul echivalent, indicatorii de fiabilitate:

e e
e
A

+
= 3-180

t t
e e
e

+
= ) ( 3-181

t t
e e
e

+
= ) ( 3-182

t t
e e
e e

+
= ) ( 3-183

e
m
1
= 3-184

e
r
m
1
= 3-185

Problema care se pune este determinarea lui
e
i
e
. Aceti doi parametrii se
pot determina n dou moduri, astfel:
a) Se alege din relaiile indicatorilor de fiabilitate expresiile lui A i (t),
deoarece aceti indicatori se determin cu prioritate i astfel rezult:

t A
t
e
=
) (
3-186

t A
t
e

=
) 1 (
) (
3-187

b) Se determin funcie de probabilitile absolute i intensitile de tranziie,
nlocuind valorile lui A i (t) cu cele din relaiile (3-186) i (3-187)

=
F k
k
F k D l
k kl
e
P
P q
3-188

=
F k
k
F k D l
k kl
e
P
P q
1
3-189


71

Pe baza celor artate mai sus rezult parametrii de calcul
e
i
e
pentru
diverse tipuri de grupri a elementelor [1]

pentru n elemente in serie

=
n
i e
1
3-190

=
n
i
i
n
i
e
1
1
3-191

pentru n elemente identice legate n serie

n
e
= 3-192

=
e
3-193

pentru 2 elemente n paralel

2 1 1 2 2 1
2 1 2 1
) (

+ +
+
=
e
3-194

2 1
+ =
e
3-195

pentru 2 elemente identice legate n paralel

+
=
2
2
2
e
3-196

2 =
e
3-197

pentru instalaii (n 1) redundante; Cazul n = 3

3 2 1 3 3 2 2 1 1
3 2 1 3 2 1
) )( )( (
) (

+ + +
+ +
=
e
3-198

3 2 1
+ + =
e
3-199


72
pentru instalaii (n 1) redundante cu elemente identice; Cazul n = 3

2 2
3
3 3
3

+ +
=
e
3-200

3 =
e
3-201

pentru instalaii (n 1) redundante; Cazul n oarecare

= =
= =
+
=
n
i
n
i
i i i
n
i
n
i
i i
e
1 1
1 1
) (

3-202

=
=
n
i
i e
1
3-203

pentru instalaii (n 1) redundante cu elemente identice; Cazul n oarecare

n n
n
e
n

+
=
) (
3-204

n
e
= 3-205

pentru instalaii (n ) redundante; Cazul n = 3, = 2 (cel puin dou
elemente n stare de funcionare)

2 1 3 3 1 2 3 2 1 3 2 1
3 2 1 3 2 3 1 2 3 1 2 1 3 2 1
) ( ) ( ) (

+ + +
+ + + + +
=
e
3-206

1 3 21 2 3 1 3 2 1 3 2 1
3 2 1 3 2 3 1 2 3 1 2 1 3 2 1
) ( ) ( ) (

+ + +
+ + + + +
=
e
3-207

pentru instalaii (n ) redundante cu elemente identice; Cazul n = 3, = 2
(cel puin dou elemente n stare de funcionare)

3
6 3
2
2 3
+
+
=
e
3-208

3
6 3
2
+
+
=
e
3-209


73
3.3.7. Grupuri de defectare
3.3.7.1. Procedeu clasic al grupurilor de defectare

Este un procedeu utilizat pentru analiza fiabilitii sistemelor complexe ale
cror scheme logice de fiabilitate nu se pot reduce la configuraii clasice si care devin
foarte greu de analizat. Ipotezele care fac ca acest procedeu s fie foarte eficient n
aceste cazuri sunt:
- Ipoteza elementelor independente din punct de vedere al defectrii;
- Ipoteza neglijrii probabilitii ca la un moment dat sa fie in stare de defect
mai mult de doua elemente ale schemei.
Grup de defect este mulimea elementelor care se bucur de proprietatea c
starea de funcionare a mulimii respective este asigurat dac cel puin un element
al grupului se afl n stare de funcionare.
n cazul schemelor de instalaii n general i n cazul instalaiilor electrice i de
automatizare n special, se aplic cea de a doua ipotez amintit mai sus conform
creia n perioada n care un element al instalaiei este defect, probabilitatea de a se
defecta mai mult de nc un element este extrem de redusa i astfel grupurile de
defectare se consider ca putnd fi constituite numai din unul sau dou elemente.
Astfel, se consider grupuri de defectare numai cele constituite din unul sau dou
elemente. Grupurile de defectare individuale, constituite dintr-un element, se
reprezint n schema echivalent de calcul ca atare, iar grupurile de defectare
constituite din dou elemente se reprezint n schema echivalent de calcul prin
grupri n paralel. Schema echivalent de calcul se obine prin reprezentarea n serie
a tuturor grupurilor de defectare.
Pentru determinarea propriu-zis a grupurilor de defectare este necesar
simplificarea schemei logice de fiabilitate cu ajutorul relaiilor de echivalen i apoi
ntocmirea schemei logice simplificate de fiabilitate. Pe baza acestei scheme se
ntocmete o matrice cu numr de linii i coloane egal cu numrul total de elemente
din schema simplificat, afectndu-se fiecrui element o linie i o coloan. Pornind
de la cerina funcional se analizeaz elementele din schem care duc singure la
defectarea schemei i acest lucru se noteaz n matrice la intersecia liniei cu
coloana respectivului element, intersecie ce se afl pe diagonala principal a
matricei. Toate elementele care prin defectarea lor duc la nefuncionarea schemei se
vor nota pe diagonala principal a matricei pentru a nu mai fi luate n consideraie n
analiza n continuare i se vor deveni grupuri de defectare individuale n schema
echivalent de calcul. n continuare se analizeaz pentru fiecare linie dac elementul
respectiv defect mpreuna cu alt element defect de pe coloane conduce la defectarea
schemei. n cazul n care acest lucru este adevrat, se noteaz intersecia liniei cu
coloana respectiv, interseciile notate definind grupurile de defectare de dou
elemente care se reprezint prin grupri n paralel n schema echivalent de calcul.
Precizez c matricea se va completa numai deasupra sau dedesubtul diagonalei
principale, astfel nct grupurile de defectare formate din 2 elemente s nu poat fi
luate n considerare dect o singur dat. Apoi se ntocmete schema echivalent de
calcul.
Se calculeaz pentru fiecare grup de defectare parametrii echivaleni de calcul
aa cum este artat n [1] i [28] i apoi se calculeaz parametrii echivaleni pentru
ntreaga schem cu relaiile:


74

=
gi e
3-210

=
gi
gi
gi
e
3-211

Pe baza rezultatelor oferite de relaiile (3-210) i (3-211) se pot determina toi
ceilali indicatori care caracterizeaz fiabilitatea schemei respective, aa cum sunt
prezentai n capitolul 3.3.6
Trebuie menionat faptul c funcie de definirea strii de funcionare a
instalaiei grupurile de defectare pot fi diferite.
Deci pentru determinarea indicatorilor de fiabilitate utiliznd procedeul
grupurilor de defectare trebuie urmrii paii de calcul:
1. Definirea cerinei funcionale;
2. ntocmirea schemei logice de fiabilitate;
3. Simplificarea schemei logice de fiabilitate cu ajutorul relaiilor de
echivalen;
4. ntocmirea matricei grupurilor de defectare;
5. Completarea matricei cu grupuri de defectare numai deasupra
diagonalei principale din motive de simetrie;
6. ntocmirea schemei echivalente de calcul;
7. Calculul parametrilor echivaleni ai schemei;
8. Calculul indicatorilor de fiabilitate.
Pentru modul de aplicare al procedeului grupurilor de defectri este exemplul
prezentat mai jos

3.3.7.2. Procedeu simplificat pentru ntocmirea grupurilor de defectare

Complexitatea mare a schemelor de distribuie a energiei electrice i faptul c
n schemele electrice de distribuie la consumatori nodurile reprezint sisteme de
bare de alimentare i de distribuie, conduce la posibilitatea elaborrii unui algoritm
care constituie un procedeu simplificat pentru constituirea direct a grupurilor de
defectare, fr a se mai ntocmi matricea pentru analiza ca n cazul procedeului
clasic.
Procedeul poate fi aplicat pentru o clas larg de sisteme care prezint
analogii din punct de vedere al fiabilitii cu instalaiile electrice de distribuie.
Procedeul se bazeaz pe transfigurarea schemelor logice de fiabilitate cu
legaturi transversale n scheme de tip radial.
n acest scop, schemele logice de fiabilitate ale schemelor electrice de
distribuie la consumatori, vor trebui s conin explicitatea grafic a barelor, ca n
schemele electrice tehnologice, numai restul elementelor componente fiind
simbolizate prin dreptunghi.


75

Procedeul const n constituirea urmtoarelor grupuri de defectare:
1. Elementul echivalent dintre nodul pentru care se determin fiabilitatea i
prima bar (sau sistem de bare) ntlnita n parcurgerea schemei dinspre
nod (nodul consumator) spre surs (nodul de alimentare).
2. Elementul echivalent constituit de bara (sau cele doua bare considerate ca
grup de defectare) de la punctul 1.
3. Dac bara (sau sistemul de bare) de la punctul 1 are:
3.1 O singura alimentare, se constituie ca grup de defectare elementul
echivalent al componentelor nseriate pan la ultimul nod (bar sau sistem de bare)
cu dubl alimentare ntlnit n parcurgerea schemei spre surs, inclusiv acest nod ca
la punctul 2.
Se constituie n continuare grupurile de defectare ca la punctul 3.2.
3.2 Dubl alimentare, se constituie ca grupuri de defectare toate
combinaiile de cte dou elemente obinute prin combinarea fiecrui element al
primei alimentari (pan la surs sau urmtorul nod bar sau bare cu dubl
alimentare). Dac nodurile respective cu dubl alimentare sunt constituite dintr-o
singur bar, aceasta se consider ca element al alimentarii respective. Dac aceste
noduri sunt constituite dintr-un sistem de bare acestea nu se considera n
combinaiile care conduc la grupurile de defectare.
Prin sistem de bare cu dubl alimentare se nelege situaia n care fiecare
bar este dublu alimentat.
n procedeul prezentat s-a considerat, n cazul dublei alimentari, asigurarea
unei puteri de 100% fat de cerere prin fiecare alimentare.
Avantajul deosebit al acestui procedeu pentru constituirea grupurilor de
defectare const n eliminarea necesitaii de ntocmire i analizare a unei matrici cu n
linii i n coloane (n fiind numrului elementelor din schema de distribuie), matrice
care conform procedeului clasic trebuie analizat element cu element pentru a
stabili grupurile de defectare. Cu ct schema de analizat este mai complexa
avantajele procedeului expus sunt mai mari.

4. PARTICULARITI ALE FIABILITII INSTALAIILOR DE AUTOMATIZARE

76

4. PARTICULARITI ALE FIABILITII INSTALAIILOR DE
AUTOMATIZARE

4.1. Generaliti

Cerinele impuse fiabilitii instalaiilor de automatizare cresc fr ncetare,
datorita, pe de-o parte numrului din ce n ce mai mare de componente coninute
intr-o instalaie i pe de alta parte datorita preteniilor din ce n ce mai mari.
Una din cerinele pe care trebuie sa le ndeplineasc o instalaie electric de
automatizare este aceea de a utiliza cat mai puine componente pentru realizarea
aceleiai funcii.
Reducerea numrului de elemente a instalaiei electrice de automatizare a
determinat nglobarea mai multor funcii intr-un singur element, cu ajutorul
electronicii. Altfel, sisteme complexe de automatizare care erau rezolvate n mod
tradiional utiliznd contactri i relee, pot fi nlocuite cu automate programabile sau
cu relee programabile.
Aceasta dezvoltare atrage dup sine i dezvoltarea calculelor previziunilor de
fiabilitate pentru sisteme electronice.
Este cunoscut faptul ca pentru determinarea fiabilitii unui sistem, n cazul
nostru a unei instalaii electrice i de automatizare, este necesara cunoaterea unor
indicatori de fiabilitate a elementelor componente.
n [3] este prezentata fiabilitatea diverselor componente ce stau la baza unei
instalaii electrice de automatizare, printre care amintesc: fiabilitatea componentelor
pasive, fiabilitatea tranzistoarelor de putere cu siliciu, fiabilitatea circuitelor integrate,
fiabilitatea memoriilor semiconductoare, fiabilitatea microprocesoarelor, fiabilitatea
componentelor optoelectronice, fiabilitatea capsulelor de plastic.
n continuare voi prezenta modul de punere al problemei pentru o serie de
elemente componente a instalaiilor electrice i de automatizare la care am adugat
i sistemele tolerante la defectri.

4.2. Tolerana la defectri

Creterea continu a complexitii sistemelor tehnice actuale i a importanei
misiunilor pe care acestea trebuie s le ndeplineasc impune implementarea unor
metode eficiente de minimizare a riscului eventualelor defectri.
Ridicarea continu a nivelului tehnic i calitativ al produselor constituie o
cerin fundamental, direcia strategic viznd asigurarea unei nalte fiabiliti a
produselor pentru sisteme de mare rspundere funcional (sisteme de calcul,
aeronautice, de energetic nuclear, militare, de dirijare a traficului) fiind deosebit de
important i pentru celelalte categorii de produse n vederea realizrii unei
competitiviti sporite pe piaa extern.


77
Una din direciile principale urmate pe plan mondial pentru asigurarea unei
fiabiliti ridicate const n introducerea toleranei la defectri ca atribut arhitectural al
acestora [4].

4.2.1. Consideraii generale

n cele ce urmeaz sunt introduse cteva concepte de baz utilizabile n
domeniul sistemelor tolerante la defectri [4].
Sistemele tolerante la defectri sunt acele sisteme care i pot continua
execuia corect a funciilor de intrare/ieire, fr intervenie din exterior, n prezena
unor anumite defectri ce apar n timpul funcionrii.
Eroarea este un simptom al unui defect, fiind cauzat de prezena unei
defectri la locul de aciune al defectului.
Un sistem parial tolerant la defectri este un sistem care nu ndeplinete toate
condiiile definiiei sistemelor tolerante.
Tolerana static la defectri este cea n care pentru implementarea toleranei
la defectri a unui sistem, se utilizeaz forme ale redundanei de tip static.
Tolerana dinamic la defectri este cea n care se utilizeaz diverse procedee
de detecie a defectrilor sistemului, urmat de reconfigurri automate ale acestuia.

4.2.2. Soluii de implementare a toleranei la defectri

4.2.2.1. Reconfigurarea sistemelor

Relaia structural care asigur sistemului tolerana la defectri poate fi o
relaie de mascare a defectrilor sau de corecie i reconfigurare adecvat a
sistemului.
O metodologie de implementare a toleranei la defectri aplicat unui sistem
trebuie s nceap cu specificarea cerinelor de fiabilitate pentru acel sistem, s
continue cu selecia modelelor de diagnosticare i a algoritmilor de mascare a
defectelor sau reconfigurare a sistemelor i s se termine cu evaluarea toleranei la
defectri i a performanelor de fiabilitate i economice aduse sistemului.
Cel mai utilizat procedeu n scopul detectrii defectelor este cel al testelor de
diagnoz. Testul de diagnoz presupune introducerea unor seturi de semnale la
intrrile sistemului pentru care sunt cunoscute semnalele corecte de la ieirile
acestuia. O neconcordan ntre semnalele de ieire ale sistemului testat i
semnalele corecte de ieire ale aceluiai sistem evideniaz prezena unui anumit
defect.
Aceast tehnic presupune att detectarea defectului ct i izolarea sa pentru
a nu se propaga alte defecte n sistem. Detectarea defectelor se face n etape,
pornind de la detectarea elementului defect al sistemului pn la detectarea
componentei defecte a elementului acelui sistem.
n urma etapei de localizare a defectelor, una sau mai multe componente ale
sistemului vor fi considerate defecte i deci trebuie avute n vedere msuri de


78
reparare. Repararea poate fi o reparare propriu-zis sau o reparare prin
reconfigurarea sistemului.
Tehnicile de reconfigurare pot fi:
Manuale toate aciunile sunt realizate de factori externi(umani). Aceste
tehnici constau n modificarea manual a conexiunilor ntre componente
sau nlocuirea componentelor defecte;
Dinamice aciunile de reconfigurare sunt realizate de ctre sistem dar
prin instruciuni date din afara sistemului;
Spontane aciunile sunt iniializate i realizate de ctre sistem.
Ultimele dou tehnici de reconfigurare au ca scop automatizarea aciunii
manuale, prin utilizarea diferitelor forme de reele de comutaie(v. Fig. 4-1).

Fig. 4-1. Reea de comutaie (redundan dinamic)

Comutatorul prezint interfee cu ambele componente de comutat.
Problemele de care trebuie inut cont in vederea unei reconfigurri a
sistemului sunt urmtoarele:
- Dac erorile de proiectare nu sunt considerate eseniale atunci elementul
de rezerv poate fi din punct de vedere constructiv identic cu cel defect. n
cazul n care se dorete eliminarea erorilor de proiectare atunci elementul
redundant trebuie s fie diferit de elementul de baz;
- Pentru obinerea unui avantaj major din prezena rezervelor, se adopt
soluia ca toate componentele s fie funcionale, inclusiv rezervele. n
acest caz, dac o component se defecteaz, aceasta este nlturat din
sistem, iar sarcina ei este preluat de alt component. Aceast operare
va conduce la degradarea lent a serviciilor asigurate de sistem(reducerea
capacitilor de tolerare a defectelor). Un exemplu n acest sens poate fi
cel potrivit cruia pentru comanda unei nave spaiale, din proiectare, sunt
prevzute patru calculatoare identice, care pot fi reduse i la unul singur,
pierzndu-se astfel facilitile asigurate de funcionarea celor patru
calculatoare i deci reducerea capacitii de toleran a defectelor;
- Trebuie avut n vedere dimensiunea unitilor nlocuibile care influeneaz
efortul localizrii defectelor. S-a constatat c unitile mari permit
localizarea defectelor mai uor, dar impun o redundan mai mare, deci un
MTBF mare, dar necesit o reea de comutaie mai complex;
- La conceperea sistemului trebuie avut n vedere ca sistemul de comutaie
s nu fie activat n mod accidental, aceasta putnd fi controlat de un
mecanism de tip password;
- Un sistem prevzut cu reconfigurare dinamic sau spontan trebuie s
poat fi reconfigurat i manual;
Restul sistemului
Comutator
Rezerv
Component
defect


79
- Pentru facilitatea mentenanei manuale este necesar prevederea unei
culegeri de date privind comportarea eronat a sistemului.
Cea mai simpl strategie de reconfigurare a sistemului este plasarea
componentelor ntr-o configuraie stand-by (structur redundant de comutaie).
Configuraia stand-by presupune utilizarea unor modele identice din punct de
vedere funcional, unul sau o parte din ele fiind active, realiznd funcia sistemului,
celelalte fiind n ateptare, urmnd a fi comutate, atunci cnd unul din modulele
active se va defecta. Astfel, tolerana defectului este explicit: la ieirea modulului
defect apar semnale eronate care sunt detectate i corectate prin nlocuirea
modulului defect, n mod automat, cu module aflate n ateptare(v. Fig. 4-2).

Fig. 4-2. Exemplu de sistem reconfigurabil

4.2.2.2. Sisteme autotestabile

Baza implementrii toleranei dinamice a defectelor o constituie procedeul
autotestrii funcionrii sistemului. Acesta poate fi implementat att la nivelul
elementelor sistemului ct i la nivelul ntregului sistem.
Funcia de autotestabilitate este inclus sistemelor autoreparabile sau
sistemelor reconfigurabile.
Dac notm cu A mulimea semnalelor de ieire ale unui sistem i cu B
mulimea semnalelor de ieire la apariia defectrii, mulimi disjuncte ntre ele,
problema autotestrii se pune prin cutarea apartenenei semnalelor de ieire, la una
din mulimile A sau B, atunci cnd sistemul funcioneaz posibil ca semnalul de ieire
chiar la apariia unui defect s fac parte din mulimea A. Sistemele la care se
previne acest lucru sunt sistemele total autotestabile.
Sistemele tolerante la defectri i autotestabile care asigur o nalt fiabilitate
n funcionare comport dou tipuri de ieiri: o ieire de date i, respectiv, una
Monitor
Bar alimentare 1
Pompa 1
Comutator
Bar alimentare 2
Pompa 2


80
indicatoare de defect, care poate declana oprirea sistemului. n continuare se vor
defini conform [4] o serie de indicatori caracteristici pentru astfel de sisteme.
Securitatea sistemului reprezint probabilitatea ca la ieirea acestuia s nu
apar o informaie eronat (informaia dat de sistem este eronat i semnalul de
STOP nu a aprut).

S = 1- Pr 4-1

Fiabilitatea sistemului reprezint probabilitatea de a executa corect misiunea
sa pe durata afectat acesteia (informaia dat de sistem este corect i semnalul
STOP nu a aprut).

R = Pr 4-2

Disponibilitatea sistemului reprezint probabilitatea ca acesta s fie disponibil
la un moment dat (semnalul STOP nu a aprut).

A = Pr 4-3

Credibilitatea sistemului reprezint probabilitatea ca informaia dat s fie
corect, condiionat de faptul ca sistemul s fie disponibil (informaia este corect /
sistemul este disponibil).

C = Pr 4-4

Definiia dat aici pentru disponibilitate nu implic faptul c semnalele de ieire
funcionale sunt corecte, ci numai cerina ca semnalul de STOP s nu apar.
Semnalele de ieire vor fi corecte dac securitatea sistemului este perfect. n
aceasta const diferena dintre definiia dat disponibilitii pentru sistemele
reparabile i definiia dat aici pentru sistemele nereparabile; n cazul definiiei
clasice se subnelegea c sistemul funcioneaz corect dac este disponibil.

4.2.3. Aspecte privind fiabilitatea sistemelor tolerante la defectri

n proiectarea sistemelor se urmrete realizarea unui maxim de fiabilitate a
sistemului prin folosirea sistemelor tolerante la defectri, altfel spus prin asigurarea
unei anumite structuri redundante a sistemului. Realizarea maximului de fiabilitate a
sistemului este o problem complex legat de muli factori dar n primul rnd de
cost. Astfel, sistemele intolerante la defectri (sisteme care au o schem logic de
fiabilitate de tip serie), pentru a atinge un nivel nalt de fiabilitate trebuie s se
utilizeze componente cu fiabilitate foarte bun. Aceste sisteme, conduc la costuri
mari i de aceea pentru realizarea unei nalte fiabiliti, n multe cazuri, se prefer
realizarea schemelor cu structur redundant.
Apare necesitatea practic a comparrii performanelor de fiabilitate ale
sistemelor cu structur redundant n raport cu cele ale sistemelor neredundante.


81
Indicatorii de fiabilitate folosii la compararea sistemelor redundante i a
sistemelor neredundante sunt: funcia de fiabilitate R(t), media timpului de
funcionare m(t), numrul mediu de defectri (t).
O alt metod care face posibil compararea diferitelor structuri redundante
presupune evidenierea att a mbuntirii fiabilitii sistemului prin utilizarea
redundanei, ct i a creterii a costului acestuia ca urmare a introducerii unor
elemente suplimentare n sistem. Acestea pot servi ca baz de comparaie ntre cele
dou structuri. Aceast metod propune utilizarea indicilor logaritmici de mbuntire
a fiabilitii i a indicilor costului i eficienei.
Pentru a putea utiliza aceast metod se introduc ipotezele:
Elementele sunt independente din punct de vedere al probabilitii
de defectare;
Numrul de componente al structurii neredundante este acelai cu
numrul de componente crora lise va asigura redundana..
Pe baza celor enunate considerm un sistem cu structur neredundant
format din K subsisteme identice din punct de vedere al fiabilitii avnd funcia de
fiabilitate notat cu R
n
(t) i un sistem cu structur redundant format din acelai
numr de subsisteme avnd funcia de fiabilitate notat cu R
r
(t).
Pentru a permite evaluarea mbuntirii fiabilitii unui sistem prin aplicarea
redundanei, se compar valorile numerice ale unui indice de cretere a fiabilitii.
Acest indice trebuie s fie independent de mrimea sistemului i s fie sensibil la
schimbri mici n valoarea funciei de fiabilitate n jurul lui 1.
Indicele de cretere al fiabilitii poate fi definit n mai multe feluri. Astfel:
Indicele de cretere al fiabilitii se definete ca fiind raportul funciilor de fiabilitate
pentru sistemul redundant i pentru sistemul neredundant

n
r
n
r
R
R
R
) t ( R
) t ( R
I = = 4-5

Indicele de cretere al fiabilitii se poate defini i ca raport ntre funcia de
nonfiabilitate pentru sistemul redundant i funcia de nonfiabilitate pentru sistemul
neredundant.

r
n
r
n
F
R
R
F
F
I
= =
1
1
4-6

Se poate observa c n expresiile (4-5) i (4-6) cei doi indici sunt dependeni
de numrul de elemente al sistemului i deci contravine ipotezelor stabilite.
Indicele de cretere al fiabilitii definit ca raportul dintre media timpului de bun
funcionare pentru sistemul redundant i media timpului de bun funcionare
pentru sistemul neredundant.

n
r
m
m
m
I = 4-7


82
Deoarece media timpului de bun funcionare este:

=
0
dt ) t ( R m 4-8

rezult c i acest indice contravine ipotezei potrivit creia indicele de mbuntire a
fiabilitii nu trebuie s depind de mrimea sistemului.
Indicele de cretere al fiabilitii se mai poate defini i ca raportul ntre ratele de
defectare pentru sistemul cu structur neredundant i cel cu structur
redundant.

r
n
I
4-9

Deoarece

dt
) t ( dR
) t ( R
) t (
1
= 4-10

rezult c acest indice este independent de dimensiunea sistemului, dar nu este
sensibil la variaiile lui R
r
n jurul lui 1.
Indicele logaritmic de mbuntire a fiabilitii

r
n
log
R ln
R ln
I = = 4-11

Dezvoltnd n serie logaritmul rezult:

....
F
F
....
F
F
) F ln(
) F ln(
R ln
R ln
r
r
n
n
r
n
r
n
+ +
+ +
=
= =
2
2
1
1
2
2
4-12
Pentru F
n
, F
r
<<1 rezult

)
F F
(
F
F
r n
r
n
2
1

+ 4-13

Fa de toi ceilali indici de mbuntire a fiabilitii prezentai anterior,
indicele respect cele dou ipoteze, este i independent de numrul elementelor
sistemului i este i sensibil la variaii mici ale funciei de fiabilitate.
Aplicarea redundanei este adeseori limitat de considerente tehnologice i
economice. Astfel, pentru evaluarea acestor limitri devine necesar introducerea
indicelui de cost.

t neredondan sistemului costul
redondant sistemul costul
I
c
= 4-14


83

Noiunea de cost este privit aici n sens larg, ca un parametru a cror
cretere evideniaz dezavantajul mrimii gradului redundanei.
n scopul evalurii eficienei utilizrii tehnicilor de redundan se poate utiliza
indicele de eficien E, definit astfel:

c
I cost de indicele
i fiablitati a crestere de logaitmic indicele
E

= = 4-15

4.3. Fiabilitatea releelor

n general, indicaiile de fiabilitate date de fabricanii de componente
electronice n foile de catalog sunt insuficiente, cci chiar daca informaii exista, cel
puin parial, ele nu pot fi utilizate nici pentru comparaii, nici pentru calcule de
evaluare a fiabilitii sistemelor n care aceste componente sunt materia prima.
Conform celor artate n [3] minimul de informaii care ar trebui puse la
dispoziie ar fi: tipul i caracteristicile releului, numele fabricantului, condiiile de
exploatare (utilizare normala), i de stres (in ncercare), durata specifica de utilizare,
tipuri de defectri, dimensiunea lotului ncercat, comportarea la control. Un exemplu
n acest sens este ca rata de defectare a elementelor de contact ale unui releu s fie
nsoite i de condiiile climatice, sarcinile electrice, frecventa acestora, criteriile de
defectare utilizate etc.
Pana n prezent, o parte din ncercrile efectuate pe elemente de contact
(relee, selectoare) se refera la durata de viata; aceste elemente au fost acionate n
condiii apropiate de cele de exploatare normala, poziiile lor de contact au fost
ncrcate cu ajutorul circuitelor electrice tipice i valorile caracteristice au fost
msurate la intervale de timp bine definite. Sfritul duratei de viata a intervenit n
momentul n care parametrii de comanda sau cei ai elementelor de contact nu mai
corespundeau valorilor stabilite. Dezavantajul acestei metode de ncercare este
acela ca nu se poate depista nicio defectare n funcie de numrul de acionari. O
metoda accelerat nu poate fi utilizata.
Pentru relee durata de viata este ncheiata atunci cnd un parametru al
releului ajunge sa depeasc n mod continuu domeniul valorilor premise.
Impunerea unei durate de via de 25 ani, depinde de tipul i mrimea sarcinii
comutate prin contact (tensiune, curent, sarcina rezistiva sau capacitive), cat i de
criteriile de defectare acceptate i de condiiile mediului nconjurtor. Aceasta explica
de ce nu este pertinent sa se indice pentru un releu o durata de viata, cci mai ales
numrul de comutri determina durata de viata. Comportamentul specific (si, deci,
fizica defectrilor) este foarte complicat, cci sarcinile electrice sunt determinante n
ceea ce privete defectrile [3].
S-a ajuns la concluzia ca este suficient sa se utilizeze rezultatele msurrilor
calitii contactelor dup fiecare acionare, n timp ce restul parametrilor principali
sunt msurai doar dup anumite intervale de timp. Criteriul de defectare este
rezistenta de contact de trecere; adic se controleaz sigurana i calitate
contactelor (nchise i deschise). Aceasta a forat fabricanii sa utilizeze instalaii de
control i de ncercri de fiabilitate cu care se poate obine rata de defectare.


84
Determinarea condiiilor climatice se dovedete mult mai dificila, att pentru
temperatura i umiditatea aerului, cat i pentru numrul i dimensiunea particulelor
de praf i pentru cantitatea de gaz vtmtor, gaci generarea i msurarea unor
astfel de particule i a atmosferei coninnd gaz nociv sunt foarte scumpe [3]. Pentru
relee, cheltuielile provin i din numrul mare de parametrii, care joaca un rol n
determinarea fiabilitii (cum ar fi rezistenta la contact, capacitatea de comutare,
tensiunea de comanda etc.). Pentru fiecare parametru al releului se pot determina
criteriile de defectare; astfel, de exemplu, se tie ca sarcina de comutare influeneaz
sensibil durata de viata, de aceea trebuie sa se indice un interval de timp n care este
valabila o anumita fiabilitate. De asemenea, valoarea prezisa a fiabilitii va fi lipsita
de semnificaie, daca se obine dintr-o ncercare de fiabilitate pe contacte, deschise,
fr sa se defineasc condiiile specifice climatice; fiabilitate obinuta prin ncercri de
laborator nu va concorda cu cea obinuta n condiii practice, normale de exploatare.
Defectrile timpurii joaca un rol secundar n cazul releelor cci n cea mai
mare parte ele sunt descoperite chiar la fabricant, cu ajutorul ncercrilor.
Valoarea tipic a ratei de defectare, care depinde foarte mult de ncrcarea
contactelor se situeaz ntre 10
5
i 10
9
defectri pe releu i comutare, aceste valori
plaseaz releul printre cele mai fiabile componente n funcie de ncrcare.
Defectarea releelor poate fi clasific astfel:
- defectri aleatoare: ntreruperii bobinei, spargerea resortului;
- defectri de uzur: frecarea punctului de sprijin de lamela: migrarea de
material n regiunea punctelor de contact
- Trebuie fcut diferena ntre defect i defectare, deoarece pot s apar
defecte izolate dar care s nu conduc la defectarea releului.
Defectul este definit ca o deviaie inadmisibila a unui parametru al releului.
Aceasta conduce la problemele urmtoare:
o S se indice un procedeu care sa permit o distincie intre defectele
sporadice i defectele care conduc la defectri aleatoare i de
uzura;
o Sa se determine, ncepnd de la ce frecventa a acestui tip de
defecte se poate vorbi de o defectare; astfel, un criteriu de defectare
va fi definit de o frecventa a defectelor;
o Uzura conduce la o frecventa mare a defectare, dar reciproca nu
este valabila, cci o frecventa mare a defectelor poate fi provocata
i de o defectare aleatoare; de aceea, este necesar sa se clasifice
defectrile ulterioare n defectri aleatoare i defectri de uzura, de
exemplu studiind n detaliu fiecare defectare. Conform [3] Kupec i
Frauendorfer au artat ca trebuie sa se nlocuiasc releul daca este
vorba despre o defectare aleatoare; din contra, daca este vorba
despre o defectare sporadica, nu trebuie sa se nlocuiasc releul.
De aceea, cazul aplicaiei este decisiv i utilizatorul trebuie sa aib
libertatea sa aleag daca va trata sau nu n aceeai maniera rata de
defectare aleatoare i ratele defectelor.
Ca o concluzie la cele artate, pentru a satisface criteriile economice i de
fiabilitate, este nevoie s cunoatem comportarea n timp a releelor i ratelor
respective de defectare. Astfel de informaii se gsesc rareori n foaia de catalog i
sunt dificil, daca nu imposibil, de obinut, astfel nct singura cale de a ti mai mult
este sa se efectueze ncercrile de fiabilitate necesara.


85
4.4. Fiabilitatea conectoarelor i optocuploarelor

Conectorul este elementul ce realizeaz conectarea electrica i mecanica a
doua sau mai multe conductoare. Aceasta poate ndeplini urmtoarele funciuni
unitare:
- Realizarea unui contact electric uor de desfcut,
- Realizarea unui cuplri mecanice uor de desfcut,
- Prevederea posibilitilor de a conecta ali conductori,
- Izolarea parilor bune conductoare de electricitate,
- Realizarea stabilitii mecanice,
- Prevederea posibilitilor de fixare.
Evaluarea acestor funcii unitare depinde de utilizarea respectiva i de forma
de execuie a conductorului. Dei s-ar prea ca unele funcii sunt importante, iar
altele neimportante, totui funcionarea generala ireproabila este garantata numai
daca toate funciile unitare sunt realizate n proporia corecta. De aceea forma de
realizare a elementelor de contact ca i materialele utilizate i acoperirile galvanice
capt o importanta deosebita.
n domeniul instalaiilor electrice i de automatizare utilizarea conductoarelor i
deci a contoarelor este foarte mare. De aceea, profilul specificaiilor tehnice ale
conectoarelor trebuie sa fie [3].
Calitatea contactului: depinde de rezistenta de trecere
Fiabilitate: depinde de defectrile timpurii, de cele de uzura, de cele de
funcionare, de influenta mediului nconjurtor.
Curentul de funcionare: n funcie de temperatura mediului, e determinat de
materialul izolant corp, materialul de contact resort elastic, fora de contact,
diametrul de contact.
Realizarea contactului din punct de vedere mecanic: raportul dintre forele de
elasticitate i cele de forfecare (toleranta sistemului).
Tehnica de conectare: conexiune prin lipire manuala, prin lipire cu imersie,
conexiune prin presare fr sudare, tehnica press in.
Specificaii pentru conectoare pentru conductori optici (fibre optice):
construcie stabile, componente normate, montaj simplu, vaporizare redusa,
rezistenta la aciunea mediului, protecia suprafeei fibrelor, conectare
frecventa i reproductibila.
Gradul de adecvare a unui metal nobil drept material de contact se poate
stabili definitiv numai pentru conductoarele comerciale. Cercetrile efectuate timp de
un deceniu de firma ITT au artat ca scderea forei de contact n timpul vieii are o
alura logaritmica.
Din punctual de vedere al utilizatorului, un plan de ncercri pentru calificarea
unui conductor trebuie sa conin urmtoarele grupe de caracteristici: caracteristici
ale produsului, caracteristici de funcionare, caracteristici de utilizare, caracteristici de
comportare n funcionare.
Fiecare dintre aceste grupe poate fi mprit n elemente bine definite; n
acest sens se poate face deosebirea dintre caracteristicile de estimare i
caracteristicile de ncercare.
a) Caracteristici ale produsului
n aceasta grupa sunt reunite caracteristicile pe care le furnizeaz
productorul pe baza seleciei materialelor i tehnologiei aplicate pentru a asigura


86
produsului comportarea ulterioara. Dintre acestea fac parte: materialele folosite,
prelucrarea (examinarea optica a capsulei i a parilor de contact), suprafeele
(jonciunile intre materiale, porozitatea materialelor de contact, impurificrile, ungerea
contactelor), construcia straturilor (in zonele de contact i conectare).
b) Caracteristici de funcionare
Aceasta grupa cuprinde caracteristicile importante pentru funcionare:
caracteristicile mecanice de funcionare (dimensiuni i tolerante, posibilitatea de
ncruciare, forele totale de conectare i traciune, fora de contact, sarcina statica
axiala, etc.), caracteristicile electrice de funcionare (devaluarea, rezistenta de
trecere, curentul de funcionare, rezistenta la tensiune).
c) Caracteristici de prelucrare
Aceasta grupa de caracteristicile este deosebit de importanta i cuprinde
caracteristicile ce determina manipularea, montarea i capacitatea de conectare:
caracteristicile de manipulare, modularitatea i rezistenta mecanica a conexiunii;
caracteristica de montaj, momentul maxim de traciune admisibil la nurubare sau
fixare; capacitatea de conectare nurubare, presare, lipire, prindere n cleme.
d) Caracteristici de comportare n funcionare
Caracteristici de introducere n montaj: domeniul temperaturilor de transport i
pstrare, domeniul de temperatura la funcionare, cicluri de conectare-deconectare,
inflamabilitate, stres la umiditate, influente n cursul funcionarii, solicitri mecanice
(vibraii, acceleraii, ocuri), solicitri electrice (ncrcarea electrica de durata,
supratensiune) solicitri climatice (frig, cldura, umezeala, nisip i praf, ocuri
termice, variaii de temperatura, mucegai).
nlocuirea conectoarelor mecanice cu cele optoelectronice, acolo unde este
posibil acest lucru, a influenat foarte mult concepia diferitelor circuite electronice din
componenta IEA.
Aa cum se arata n [3], preul avantajos, viteza mare (de adresare) i
fiabilitate buna a componentelor au contribuit la acest fapt i la fabricarea lor n
masa.
Sub numele de componente optoelectronice se neleg, n general,
componentele a cror putere luminoasa se transforma n putere electrica (sau
invers).
Diodele cu emisie luminoasa (LED) au cucerit sub diferite forme constructive,
domenii din ce n ce mai largi de utilizare. Acest fapt se datoreaz unei serii de
avantaje fata de alte surse de lumina, printre care, n special, robustee, fiabilitate i
viata ndelungata ca i viteza de comutaie i compatibilitatea cu circuitele integrate.
Producerea luminii n semiconductoare se bazeaz pe o recombinare radiativa
a electronilor i golurilor. Energia eliberata n urma recombinrii este emisa i sub
forma de fotoni. Desigur ca pentru excitare e nevoie ca numrul electronilor i
golurilor sa fie mrit peste concentraia lor de echilibru. Forma cea mai simpl a
excitrii continue este cea realizata prin intermediul unei jonciune pn; ca urmare
astfel de surse semiconductoare de lumina au fost numite diode emitoare de
lumina.
Problemele de fiabilitate ale fotoemitoarelor sunt cu totul diferite de cele ale
fotoreceptoarelor. Materialele constitutive ale emitoarelor sunt combinaii chimice
relative noi ale elementelor din subgrupele principale III i IV ale sistemului periodic.
Aceste diode tehnice care trebuie corelate cu structura materialelor i proceselor de
fabricaie se reflecta n nivelul fiabilitii lor.


87
mbuntirile realizate n ultimul timp (tehnologia, proiectare, construcia i
ncapsularea LED-urilor) au dus, toate, la mrirea duratei de viata a LED-urilor GaAs.
Utilizarea tehnologiei planare a dus i ea la creterea duratei de viata a LED-urilor
GaAsP i GaAs (dopat cu Zn). n general, n prezent probabilitatea defectrii unui
LED e comparabila cu a oricrei componente de siliciu, dar fiabilitatea sa e
influenata nc n mare msura de procesul de fabricaie.
Deoarece tehnologiile utilizate la fabricarea LED-urilor sunt asemntoare
celor pentru semiconductoarele de siliciu, e de ateptat ca LED-urile sa aiba o
fiabilitate asemntoare acestora. Comparativ cu alte surse de lumina LED-urile
prezint mai multe avantaje relative de fiabilitate, cum ar fi durate lungi de viata,
rezistenta la ocuri i vibraii, ca i o compatibilitate cu circuitele integrate, ca urmare
a tensiunii mici de funcionare, de numai 2V. Alte avantaje sunt: domeniul mare de
temperaturi de funcionare, temperatura sczuta de funcionare, dimensiunile mici i
funcionarea fiabila n condiii severe de mediu. Toate acestea sunt realizabile n
practica daca diodele sunt corect proiectate, fabricate i montate. De asemenea,
proiectantul de componente optoelectronice trebuie sa tie ca puterea de emisie a
unei componente poate fi influenata pe termen lung de degradarea unor parametric.
n general, fiabilitatea unei componente optoelectronice depinde de doi factori
diferii variabili: caracteristicile de fiabilitate ale structurilor LED-urilor i cele ale
capsulelor. Aceti doi factori sunt interdependeni, deoarece o defectare a capsulei
(chiar daca nu e catastrofala) poate duce fie la o defectare, fie la degradarea
componentei.
Din punct de vedere teoretic, un LED ar trebui sa aib o viata fr sfrit, ca i
oricare alta jonciune pn. n practica, n condiii normale de solicitare, durata de viata
preliminata poate atinge 1000000 ore. Scderea lenta n timp a luminii emise este o
proprietate cunoscuta.
Contrar presupunerilor iniiale nu se poate prevedea o dependenta intre
degradarea unui LED i curentul direct de stres, I
FS
. Acest fapt duce la concluzia ca
poate fi observat un mecanism analog celui al unei rezistente ohmice n paralel cu
jonciunea pn i a crei valoare depinde de densitatea de curent a LED-ului i de
timpul de trecere al acestuia. Rezistenta parazita se formeaz lent la valori mici ale
curentului i mai repede la cureni mari. Desigur, valoarea ei este invers
proporionala cu curentul i cu timpul.
In mod ciudat, se pare ca temperatura jonciunii influeneaz degradarea doar
n mica msura i dimpotriv, temperatura mediului joaca un rol hotrtor.
Ctigul de luminiscenta al LED-urilor GaP e determinat n principal de
defectele cristalului, care duc la recombinri neradiative.
Pentru a evalua fiabilitatea unei capsule se utilizeaz metode de testare
privind sudabilitatea, ciclarea termica, ocurile mecanice i termice i rezistenta la
umiditate pentru diferite niveluri de stres. Aceste ncercri servesc la determinarea
condiiilor extreme de microclimat. Daca materialul capsulei e impermeabil la apa,
dup cca 100 ore, majoritatea capsulelor din plastic sunt complet saturate la interior
cu vapori de apa. O umiditate ridicata duce la defectri fie prin corodarea metalizrii,
fie prin cureni reziduali. Din acest motiv, ncercrile accelerate la umiditate sunt
considerate distructive.
Oboseala termica e i ea considerata ca un factor limitativ pentru
componentele ncapsulate n plastic. n [3], este artat ca e foarte obinuita o rata de
defectare de cca 5% dup 50 cicluri termice (-55
o
C la 125
o
C) sau dup ocuri
termice repetate de la 0
o
C la 100
o
C. Capsulele suprasolicitate (temperaturi mai mari


88
dect cele de regim) sufer defectri catastrofale. Cauzele de defectare sunt analoge
celor constatate n privina circuitelor integrate ncapsulate n plastic, numai ca
materialele plastice utilizate pentru componentele optoelectronice sunt supuse unor
solicitri mai mari.
Un tip de defectare specifica LED-urilor n capsule de plastic este apariia
bulelor de aer. Deoarece indicii de refracie ai aerului i materialului plastic sunt
diferii, acest defect se poate traduce prin pierderi de lumina.
Tipul cel mai frecvent de defectare a LED-urilor ncapsulate n plastic este cel
produs de sudurile i conexiunile interne.
S-a artat ca ciclarea termica la putere disipata maxima e cel mai eficient test
standard de fiabilitate, deoarece produce defectrile cele mai asemntoare celor
constatate n practica (se aplica tensiunea continua U
F
la valoarea limita maxima a
puterii injectate i la intervale de alternare de 3 minute).
Toate tipurile de defecte observate (in afara de plastic delamination) au fost
puse n evidenta prin testul de cicluri de putere (power cycle test). n mod obinuit,
componentele sunt supuse la cca 10000 cicluri termice n timp de 1000 ore. Celalalt
tip de test (ncercare ciclica pasiva) permite temperatura mai nalte, pe o plaja mai
larga, dar se executa de obicei 5-10 cicluri.
ncercrile n impulsuri de curent (pana la 1000 A/cm
2
) efectuate de Texas
Instruments nu au dus la defectri, ceea ce a impus concluzia ca defectrile depind
de puterea medie disipata i de condiiile de funcionare n cursul ciclrilor. Pentru a
putea determina diversele compatibiliti structurate ale materialelor plastice, se
utilizeaz adesea ocurile termice (lichid-lichid). n general, controalele electrice
finale ale LED-urilor urmresc direct I
F
, tensiunea directa U
F
i intensitatea luminii,
toate msurrile posibile fcndu-se conform foii de catalog. La o temperatura a
mediului de +40
o
C, rata de defectare este de 4080 FIT.

4.5. Fiabilitatea memoriilor semiconductoare

Progresele rapide din ultimii ani din domeniul tehnologiei memoriilor
semiconductoare (creterea capacitailor de memorie datorita densitii mrite de
integrare) a avut drept urmare o scdere a costurilor ceea ce a permis utilizarea din
ce n ce mai mult a acestora. Tipurile de memorii semiconductoare:
RAM Random Access Memory
ROM Read Only Memory
PROM Programmable ROM
EPROM Erosable PROM
EEPROM Electrically Erosable PROM
Memoriile de lucru ale micro, mini i macrocalculatoarelor sunt echipate n
mod predominant cu memorii semiconductoare scris citit (RAM - Random Access
Memory)
Conform [Revista Electronica Azi], memoriile RAM realizate n conformitate cu
cerinele pieei comerciale au devenit din ce n ce mai mici i mai des folosite. Au fost
puse la punct pentru aplicaii: comerciale, modul de memorare ce aveau
caracteristicile de performante necesare n sistemele industriale integrate. Astfel,
primul modul de memorie ce a migrat ctre domeniul industrial a fost SIMM-ul urmat
apoi de DIMM-uri (small outline dual n line module).


89
Avantajele componentelor nalt integrate se reflecta mai ales n costurile i
ratele de defectare mai mici. Aa cum este arata n [3], densitile tot mai mari de
integrare sunt greu de realizat, astfel nct costurile realizrii unei astfel de
exemplare fr defecte sunt mari. Concepiile cele mai recente recomanda utilizarea
unei pari din circuitele de memorie potenial defecte i luarea de masuri
suplimentare la nivelul circuitului pentru a tolera aceste defecte de fabricaie. La baza
acestor concepii se afla marile avantaje ale circuitelor nalt integrate: gabarit redus, o
mare economie de costuri i un timp redus de operare.
In ceea ce privete fiabilitatea memoriilor semiconductoare, dei numrul de
tranzistoare de memorie aproape se dubleaz, acesta sta n loc fata de integrarea
crescnda deoarece modelele de memorie au o rata de defectare pe durata mare de
10
-7
h
1
. Defectrile timpurii n primele 10000 h de funcionare sunt n domeniul
procentelor, astfel nct modulele de memorie trebuie supuse, n timpul fabricaiei,
unei solicitri mari de intensitate a cmpului i temperaturii.
Avnd n vedere cauzele defectrilor memoriilor semiconductoare (defecte de
oxid, contaminare, defecte de cristal, etc.) utilizatorul poate mbunti rata de
defectare a acestora prin masuri de testare, de selecie i condiii de funcionare.
n continuare voi prezenta o serie de date de fiabilitate[3].
Este necesar sa se fac deosebire intre valorile extrapolate rezultate din
testele accelerate de durata de viata i defectrile operaionale. n cadrul testelor cu
comprimarea timpului, componentele sunt evaluate de obicei din punct de vedere al
specificaiilor lor, adic abaterea unui singur parametru, poate necritic, e considerata
defectare. La nivelul sistemului insa (in funcie de proiectul sistemului), sunt tolerate
chiar abateri mai mari ale parametrilor. Aceasta explica rata de defectare
operaionala, a crei valoare e de 2-3 ori mai mica dect cea extrapolata [3].
Rate de defectare pe timpul ndelungat (25 de ani) a memoriilor
semiconductoare digitale depind n principal de tipul de memorie, de productorul i
de condiiile de montare, atingnd valori intre 0% i 0,01% / 1000 ore la 40
0
C i la
nivelul de ncredere 60%. Aceleai valori le atinge i rata de defectare soft a
memoriilor complexe de scriere citire.
n cazul memoriilor reprogramabile, fiabilitatea se refera i la numrul de
cicluri de programare, astfel nct nu trebuie depite 10000 de cicluri [3].
n fata de nceput a memoriilor RAM de 16k s-a stabilit prin intermediul unui
test amplu de durata de viata o cota de defectare/test de 73/6456 = 1,13%
[Fiabilitatea componentelor electronice]. Analizele de defecte efectuate au fost n
evidenta 4 principale cauze de defectare: structuri de protecie de intrare defecte,
defecte de ferestre de contact, ntreruperea traseelor de aluminiu i degradarea
contactelor Nail Head la nivelul Au-Al. mbuntirile ntreprinse relativ la design,
proces tehnologic i control au redus, respectiv eliminat, aceste rate de defectare,
astfel ca la un nou ciclu de teste au rezultat doar 14/4693 = 0,3% defectri; nu s-au
mai constatat puncte critice de defectare.

4.6. Fiabilitatea microprocesoarelor

Progresele tehnologice din domeniul memoriilor semiconductoare au fcut
posibila, in 1970, apariia unor produse noi, microprocesoarele.
Aa cum am prezentat in [3], microprocesoarele prezint aceleai tipuri de
defecte ca si memoriile semiconductoare, deoarece au aceleai metode de fabricaie


90
si moduri de funcionare apropiate. Se constata in plus si unele erori cauzate de
desfurarea programului:
- defectri ce depind de succesiunea instruciunilor,
- pierderea datelor la ntrerupere,
- executarea defectuoasa a comenzilor la ntreruperi multiple.
Aceste erori depind de condiiile de exploatare, cum ar fi temperatura,
tensiunea de alimentare, etc. si de aceea sunt foarte greu de localizat, astfel nct o
testare cuprinztoare a funciunilor microprocesoarelor e deosebit de greu de
realizat.
Daca se observa rata e defectare a unui anumit microcomputer timp de civa
ani, se constata uor continua mbuntire a fiabilitii componentelor: cu trecerea
timpului, fabricantul stpnete mai bine procesul de fabricaie, astfel nct numrul
surselor de defecte se micoreaz. Aceste curbe cu aspect de funcie exponeniala
sunt numite adesea curbe de nvare. Constanta de timp a acestei funcii ce
descrie matematic mbuntirea depinde de priceperea si cheltuiala puse in joc de
productor. Pentru fiecare nou produs trebuie parcurs din nou acest proces de
nvare. Pentru memoriile semiconductoare se cunosc azi metode care ofer o buna
probabilitate pentru descoperirea lipsurilor.
Pentru microprocesoarele nu s-a atins nc att de departe, deoarece
diversitatea lor permite mai multe moduri de funcionare.
Modelele utilizate pentru previziunile de fiabilitate sunt pana acum neadecvate
si nici nu se poate propune un model mai bun, deoarece lipsesc elementele de calcul
corespunztoare [3].
Este artat faptul ca fiabilitatea proprie a microprocesoarelor este foarte mare
fata de cea a memoriilor semiconductoare sau a altor circuite integrate.
Trebuie cunoscut faptul ca in privina testelor, nu au fost gsite nc metodele
si nici mijloacele de testare adecvata a microprocesoarelor.
Experiena ultimilor ani a pus in evidenta existenta unui fenomen asemntor
celui de pattern sensitivity al memoriilor semiconductoare; anumite comenzi care
sunt executate corect in timpul unei secvene pot duce la o defectare daca ele se
repeta de mai multe ori intr-un ciclu. Deosebit de neplcuta este si iteration
sensitivity. In acest sens, s-a stabilit pentru microprocesoare ca timpul de execuie a
diferitelor comenzi depinde de succesiunea acestora si poate atinge valori
neavantajos de mari. Aceasta se explica in mod evident prin faptul ca, la cele mai
multe circuite, timpul de propagare depinde de numrul de comutri la care a fost
supus in cele 10-10 s precedente. Astfel, de exemplu, o capacitate se poate ncarc
printr-o dioda parazitara, ionii pot migra in oxid sau se poate un efect termic [3] .
Alte dificulti:
- Lipsa unei scheme de testare echivalente a circuitului.
- Chiar in cazul unor scheme cunoscute, utilizarea acestora e foarte delicata,
deoarece ipotezele clasice de defectare (scurtcircuit, circuit deschis)
explica doar o mica parte din defectri
- Microprocesorul este doar un element al sistemului, de aceea testarea sa e
dependenta de testarea celorlalte elemente (memorie, interfaa).
O serie de rezultate de fiabilitate rezultate in urma unor cercetri ndelungate
au condus la urmtoarele concluzii [3]:
Rata de defectare depinde de mai muli parametrii, dintre care cei mai
importani sunt: temperatura, tensiunea de alimentare, tehnica de
prencrcare, criteriul de defectare si nivelul de ncredere. Deoarece


91
operarea cu aceti parametrii poate duce la rezultate foarte diferite, e
absolut necesar ca utilizatorul sa aib cunotine avansate de fiabilitate si
sa interpreteze corect ratele de defectare date in raportul de fiabilitate.
Tehnica de prencrcare dinamica a circuitelor VLSI este preferabila celei
statice pentru testele de durata de viata, deoarece corectrile si
ntreruperile repetate ale modurilor interne simuleaz mai bine utilizarea
reala.
Masurile electrice trebuie sa cuprind programe e testare cu secvene de
exploatare in condiiile cele mai proaste si impulsuri de clock. Criteriile
bun/ru trebuie sa fie definite pentru fiecare circuit pe baza parametrilor de
c.c, c.a. si timp dai de ctre productor in foaia de catalog.
Microprocesoarele care nu satisfac condiiile testului respectiv sunt
selecionate dup modurile de defectare, apoi are loc o nregistrare a
datelor si o analiza a defectelor pentru a putea determina mecanismul
specific de defectare.
Calculul factorilor de accelerare si al ratelor de defectare trebuie fcut in
funcie de temperatura jonciunii (si nu a mediului ambiant), deoarece
aceasta metoda tradiionala e utilizata in toate datele de fiabilitate MOS.
Statistica ratelor de defectare ale unui sistem oglindete comportarea sa la
montare, de care depinde defectarea sa totala brusca. Rata de defectare
totala se refera si la circuitele integrate pentru care a fost constatata
degradarea unui parametru, care insa nu modifica puterea sistemului.
Se cunosc 4 clase generale de circuite integrate LSI: microprocesoare,
circuite periferice, RAM si ROM. In cursul testelor de fiabilitate nu s-au pus
in evidenta diferene importante intre aceste clase ci doar unele
mecanisme de defectare specifice energiei de activare diferite. Diferenele
daca exista - nu se datoreaz designului, layoutului, complexitii sau
densitii de integrare ale acestor 4 clase de circuite.
Ratele de defectare ale capsulelor de plastic si ceramice sunt comparabile
celor din ceramica fiind ceva mai mici (de exemplu, 1,4 x 10
-7
h
-1
fata de 1,7
x 10
-7
h
-1
, cu o sensibilitate mai mare a capsulelor de plastic la umiditate si
coroziune.
Testele de ciclare termica a dus la concluzia ca nu sunt mult mai proaste
capsulele de 40 pini dect cele c 14 pini.

4.7. Fiabilitatea software-ului

Software-ul este utilizat din ce n ce mai mult pentru comanda i
supravegherea instalaiilor electrice i de automatizare. Daca n cazul hardware-ului
exista fisa de fabricaie, la software nu exista aceste fise, aa ca dup conceperea
lui, acesta poate fi multiplicat fr greeala n oricte exemplare. n cazul software-
ului, odat pus la punct, nu vor mai exista probleme de defectare, de uzura sau de
mbtrnire.
Cu toate acestea, software-ul pentru comanda microprocesoarelor nu lucreaz
totdeauna ireproabil, el coninnd adesea defecte ascunse care pentru
determinarea lor n faza de concepere sunt necesare cheltuieli mari.


92
Software-ul cade n pana datorita prezentei unei erori, care pleac de la
simple greeli de codare i pana la erori fundamentale de concepie (proiectare). Pe
msura ce aceste erori sunt remediate, fiabilitatea software-ului creste.
n [8] sunt prezentate, conform standardului IEEE 982.2/1988, o serie de tipuri
de erori:
- eroarea (error), care este o greeala umana (o misiune sau
interpretare greita) avnd drept rezultat un program incorect;
- neregula (fault), care reprezint accidental intern aprut ca urmare a
erorii umane i care face ca sistemul sa nu funcioneze corect;
- defectul (defect), care consta intr-o anomalie din sistemul software
datorata neregulilor cauzate de erori umane;
- cderea (failure), care este manifestarea vizibila a defectului prin care o
unitate funcionala nu-si poate ndeplini funcia n limitele specificate.
Considernd acelai standard, o clasificare a defectelor software-ului sunt [8]:
Defecte de specificare, datorate convertirii eronate a cerinelor
beneficiarului cum ar fi:
- incompatibilitatea intre ansamblul specificaiilor i cerinele
beneficiarului;
- probleme de interfaare harware-software-utilizator;
- descrierea incorecta a funcionarii;
Defecte de proiectare, care sunt localizate la nivelul algoritmilor, logicii
sau structurilor de date cum ar fi:
- probleme de interfatare harware-software-utilizator;
- comunicare interprocesual defectuoasa (sincronizare i transfer
incorect);
- definirea greita a structurilor de date;
- controlul logic defectuos la nivelul modulelor;
- verificri incorecte de identificare a defectelor;
- nerespectarea standardelor de proiectare.
Defecte de implementare (codare), care se pot datora:
- logicii (srirea etapelor, neglijarea limitelor, etc);
- calculului (erori de semn, ecuaii incorecte, etc.)
- prelucrrii incorecte adatelor (iniializare, accesare, stocare, etc.)
- interfarii defectuoase intre module (apelarea incorecta a subrutinelor).
Defecte de documentare, care se refera la greeli din documentaia
produselor software.
Defecte induse de operator, prin aplicarea incorecta a procedurii sau
introducerea greita a datelor.
Defecte datorate instrumentelor de testare software i hardware.
Si n acest domeniu s-a impus n ultima vreme asigurarea calitii, care se
ocupa n special de masurile preventive privind calitatea software-ului de-a lungul
tuturor fazelor de viata ale acestuia.
Dezvoltarea unui departament specific care sa se ocupe de asigurarea calitii
software-ului are la baza urmtoarele motivaii [11]:
- Standardul ANSI/IEEE 730, 1981 recunoscut la nivel nalt
- Costurile mari de realizare a software-ului pot fi redusa cu ajutorul
asigurrii calitii software-ului, prin gsirea erorilor nc n fazele de
test i proiectare


93
- Cerinele clienilor care doresc sa utilizeze software fr erori, avnd n
vedere experienele neplcute
Problema asigurrii calitii software-ului este o problema de previziune.
Astfel se pune problema determinrii creterii fiabilitii software-ului dup
remedierea erorilor, ce include estimarea fiabilitii curente a programului plecnd de
la datele de defectare anterioare.
Conform [7] abordrile n domeniul fiabilitii software-ului se clasifica n doua
categorii:
rezultnd din extinderea, n cazul software-ului, a tehnicilor utilizate n
cazul fiabilitii hardware-ului;
specifice software-ului, innd cont de complexitatea interna a
programelor, comportarea lor dinamica i eventual, de datele
psihometrie referitoare la activitatea de programare.
In mod uzual, prin analogie cu cazul sistemelor hardware, se definete
fiabilitatea software-ului ca fiind probabilitatea ca un produs de software sa
funcioneze fr erori, o perioada de timp data, pe sistemul pe care a fost conceput.
Pe baza aceleiai analogii harware-software, pot fi utilizai ca principali
indicatori de fiabilitate ai software-ului:
- funcia de fiabilitate a software-ului, R
s
(t) (probabilitatea de a nu
apare erori de software n intervalul (0,t));
- rata erorilor de software, z
s
(t);
- timpul mediu intre erorile de software, TMIE.
De remarcat faptul ca datorita numeroaselor deosebiri existente intre
conceptele fundamentale din domeniile harware-ului i software-ului, analogia
fiabilistic intre cele doua domenii este posibila doar intre anumite limite.
Transpunerea identica n domeniul software-ului a unor concepte i modele de
fiabilitate dezvoltate iniial pentru sistemele hardware caracteristica n special unor
cercetri timpurii privind fiabilitatea sistemelor software a condus la unele
interpretri eronate, fiind de altfel rspunztoare pentru scepticismul cu care au fost
i sunt privite unele modele fiabilistice bazate pe analogia harware-software.
Intr-adevr, erorile unui program nu pot fi considerate echivalente defectrilor
dintr-un sistem material i de aceea modelele fiabilistice specifice hardware-ului nu
pot fi transpuse ntocmai n domeniul software-ului.
Erorile de software nu pot privite ca mrimi care apar la intervale de timp
aleatoare, deoarece nu exista ca n hardware un mecanism fizic de generare a
defectare de software, iar o eroare o data corectata nu mai reapare. Astfel un
program nu se va defecta datorita trecerii timpului sau uzurii fizice, iar n copiile
suplimentare ale unui program nu vor fi introduce imperfeciuni sau variaii
(exceptnd posibilitatea introducerii unei categorii de erori de copiere, uor de testat).
O abordare mai recenta privete conceptul de fiabilitate a software-ului prin
prisma calitii serviciilor pe care produsul de software le ofer utilizatorului. Din
acest punct de vedere fiabilitatea software-ului poate fi definit ca probabilitatea ca
rularea programului va conduce la datele de ieire corecte, pentru o mulime de date
de intrare corecte.
Aceasta definiie este valoroasa prin aceea ca permite reliefarea influentei pe
care o pot avea diferitele mulimi de date de intrare, corespunztoare diferitelor
utilizri ale produsului de software, asupra fiabilitii programului. Poate fi astfel
modelata comportarea unor programe, a cror structura face ca unele pri ale
programului dei conin erori sa fie foarte rar utilizate (doar n anumite aplicaii,


94
deci pentru anumite mulimi de date de intrare); dei aceste erori nu vor afecta
funcionarea programului pentru majoritatea utilizatorului (ceea ce ar putea crea
impresia falsa ca produsul de software este perfect fiabil), ele vor putea fi totui
activate pentru anumite mulimi de date corespunztoare unei utilizri date.
Astfel de erori pot fi critice, n special n cazul sistemelor de mare rspundere
funcionala (cum sunt cele militare). De exemplu, o eroare software n procedura de
comunicaii legate de declanarea unei anumite componente a unui sistem de
aprare trebuie considerata critica i va conduce ca un ntreg programul sa fie
considerat inacceptabil, chiar daca restul produsului de software nu conine nici o
eroare.
Din cele de mai sus rezult c pentru o definire ct mai complet a
conceptului de fiabilitate a software-ului trebuie avut n vedere ct de critice sunt
erorile de software, ca i costul penalizrilor datorate acestora.

5. MANAGEMENTUL FIABILITII

95


5.1. Evoluia conceptuala de la controlul calitii la
managementul fiabilitii

Calitatea este definite de ctre standardul ISO 8402 ca fiind mulimea de
proprieti i caracteristici ale unui produs sau serviciu, care ii confer capacitatea de
a satisface exigentele explicite sau implicite.
Termenul de calitate provine din cuvntul latin quails care indica felul de a fi,
ceea ce presupune diferenierea specifica din interiorul claselor de produse prin
caracteristici calitative (v. Fig. 5-1).

Fig. 5-1. Clase de caracteristici ale unui produs

Calitatea unui produs este determinate de ansamblul caracteristicilor care se
pot observa, ncerca i msura.
Calitatea unui produs este o noiune complexa care incluse factori de
concepie, fabricatei i utilizare. Estimarea calitii se poate face cu o relaie de forma
[8]

Q = q
u
x q
c
x q
f
5-1

Unde: q
u
reprezint calitatea de utilizare definite de cerinele beneficiarului; q
c
este
calitatea concepiei, fiind un indicator al caracteristicilor calitative realizabile prin
documentaia tehnica; q
f
reprezint calitatea fabricaiei, fiind un indicator al nivelului
de conformitate de conformitate a produciei n raport cu documentaia tehnica.
Interdependenta intre calitatea concepiei i calitatea fabricaiei se reprezint
n triunghiul calitii din Fig. 5-2.

Producator

Beneficiar

Societate
Produs
Tipologie

Calitative

Nesemnificative
Caracteristici
CALITATE


96

Fig. 5-2. Triunghiul calitii produselor

Progresul n activitatea de asigurare a calitii se desfoar n spirala
conform figurii de mai jos [53].

Fig. 5-3. Spirala progresului n activitatea de asigurare a calitii

Ciclul de viata reprezint perioada de timp n care produsul (entitatea) se afla
pe piaa, ncepnd cu introducerea i sfrind cu retragerea. Curba ciclului de viata
definete un produs n funcie de vrsta comerciala mprit n mai multe faze (v.
Fig. 5-4):
- I lansare;
- II dezvoltare;
- III maturitate;
- IV declinul

Cerinele
beneficiarului
i societii
Caracteristici de
calitate din
documentaia
tehnic
Caracteristici
calitative ale
produsului finit
Calitatea
fabricaiei
Calitatea
produsului
Calitatea
produsului
Proiectare / Dezvoltare
(aprovizionare, utilizare
echipamente de lucru i a
dispozitivelor de msur
i control a proceselor
Cercetare, concepie i definire
Desfacerea
produselor
(vnzri)
Fabricare i instalare
(controlul de calitate ce se
refer la: probe, ncercri,
inspecie, controlul
procesului de producie)
Cercetare
Funcionare i
mentenan


97

Fig. 5-4. Ciclul de via

Curba ciclul de viata are forme depinznd de natura produselor i
caracteristicile pieei de desfacere, dar poate fi descrisa de relaia[8]:

( )
bt a
e Kt t Y

= 5-2

in care: Y (t) reprezint vnzrile la momentul t; K este constanta care depinde de
pia; a i b sunt parametrii specifici produsului.
Declinul produsului datorita nvechirii, se determina cu relaia:

n n n v
I C C + 5-3

n care: C
V
este costul realizrii produsului aflat n fabricaie; C
n
reprezint costul
realizrii produselor noi; I este investiia pentru schimbarea produciei; reprezint un
coeficient al eficientei economice.
Cuvntului calitate i s-a atribuit o varietate de sensuri n afara de sensul
cuprins n sfera noiunii de capacitate de a satisface exigente explicite i implicite.
De aceea este necesar sa identificam care sunt noiunile pe care le cuprinde:
- performanta, care se refera la caracteristicile de utilizare din perspectiva
produsului i a utilizatorului;
- fiabilitatea, care exprima prin indicatori specifici probabilitatea de buna
funcionare a produsului;
- conformitatea, care arata concordanta caracteristicilor produsului sau
serviciilor cu standardele n vigoare;
- durabilitatea, care exprima durata de viata a produsului;
- capabilitatea de a furniza service (Serviceability), care este definite prin
viteza, competenta i uurina de reparare a produsului;
- estetica, care reflecta preferinele subiective ale clienilor, exprimate de
simurile umane (vz, miros, auz, pipit);
- calitatea perceputa, care se bazeaz pe reputaia anterioara a unor firme.
Ani
Vnzri
Decalaj
Produs n fabricaie Produs nou
A B A B
I II III IV
Viaa comercial


98

Managementul calitii se bazeaz pe urmtoarele principii:
- Coordonarea de ctre un lider (lidership) a strategiei de mbuntire a
calitii;
- Orientarea spre client, pentru satisfacerea nevoilor curente i viitoare;
- Implicarea abilitaii i ideilor novatoare ale salariailor pentru atingerea
obiectivelor calitii;
- Abordarea bazata pe conceptul de proces, considerat ca un ansamblu de
activitatea corelate pentru transformarea elementelor de intrare n proces
n elemente de ieire, pe baza unor resurse i a unor constrngeri;
- Abordarea manageriala pe baza de sistem pentru identificarea, nelegerea
i coordonarea proceselor corelate pentru mbuntirea eficacitii i
eficientei;
- mbuntirea continua a calitii trebuie sa fie obiectivul permanent;
- Abordarea deciziilor pe baza de fapte exprimate prin date i informaii;
- Relaii reciproc avantajoase cu furnizorii.

Managementul calitii cuprinde urmtoarele niveluri de evoluie:
Inspecia (I), conform ISO 9000:2000, reprezint evaluarea conformitii prin
observare i judecare, nsoita de msurare, ncercare sau comparare ca un calibru.
Controlul calitii (QC), conform ISO 9000:2000, reprezint acea parte a
managementului concentrata pe ndeplinirea cerinelor calitii. Apar astfel primele
elemente de planificare a calitii prin specificaii tehnice (desene de execuie,
parametri tehnologici, metodologia de testare) i respectiv de control statistic a
produselor.
Asigurarea calitii (AQ) conform ISO 9000:2000, reprezint acea parte a
managementului concentrate pe furnizarea ncrederii ca cerinele calitii vor fi
ndeplinite. Se utilizeaz un sistem de management al calitii care urmrete
conformitatea i creterea uniformitii pe baza controlului statistic, costurilor calitii
i analiza defectelor.
Managementul calitii totale (TQM), conform ISO 8402:2000, reprezint
modul de management al calitii unei organizaii, bazat pe participarea tuturor
membrilor acesteia i care vizeaz un succes pe termen lung prin satisfcea
clientului i avantaje pentru membrii organizaiei i pentru societate.
Controlul calitii stabilete conformitatea produselor cu specificaiile tehnice
(desene de execuie, contract) prin: estimarea calitii, autocontrolul, controlul n lan
i controlul statistic.
Estimarea calitii se poate face prin: metoda comparrii indicatorilor sintetici,
metoda ponderrii defectelor, diagrama Pareto, fiselor de frecventa, diagramelor
(arbore, cauza-efect, de corelare, de relaii, de afinitate, de decizii de aciune) sau
prin grafice i histograme.
Controlul calitii este o verificare a conformitii unui produs cu prescripiile
impuse de documentaia tehnica.
Controlul calitii nu se reduce la rolul pasiv de depistare, constatare i
nregistrare a defectelor, ci are i rolul activ de a influenta activitatea de producie
pentru prevenirea defectelor.
Controlul de calitatea se refera la materialele utilizate, dispozitivele
tehnologice, aparate de msura i control, standurile de ncercri, produsele finite
(piese, subansambluri) i modul de asamblare a acestora, disciplina tehnologica,
capabilitatea procesului, documentaia tehnica.


99
Capabilitatea unui proces reprezint capacitatea acestuia de a se ncadra n
limitele specificate n documentaie. Aceasta se msoar prin compararea cmpului
de mprtiere i cel de toleranta.
Controlul se poate face unitar pentru fiecare produs (100% sau bucata cu
bucata), pentru seriile mici sau prin sondaj la seriile mari.
Controlul prin sondaj poate fi empiric sau statistic (pe baza teoriei
probabilitilor i statisticii matematice).
Controlul calitii se realizeaz pe baza unui plan de control care stabilete
tipul controlului, mrimea eantionului, schema de prelevare i criterii de acceptare.
n funcie de etapa de fabricaie a produselor controlate deosebim:
- controlul de fabricaie (intermediar), care are ca scop supravegherea i
reglajul procesorului de fabricaie pentru a fi meninut sau adus intre
limitele prescrise;
- controlul de recepie (final) pentru acceptarea sau respingerea unui lot de
produse finite.
Controlul se realizeaz cu aparate de msura i control (AMC), standuri,
dispozitive i verificatoare (SDV), care trebuie sa aib o precizie de trei ori mai mare
dect cmpul de tolerante a caracteristicii controlate.
Deosebim urmtoarele metode de control a calitatii produselor:
- autocontrolul, efectuat pentru fiecare operaie de ctre muncitorul care a
realizat-o;
- controlul n lan, care presupune ca fiecare executant sa controleze nti
operaia anterioara i daca aceasta este corect efectuata sa realizeze
propria operaie i autocontrolul. Metoda se aplica pentru procesele de
fabricaie la banda cnd pentru realizarea unui produs lucreaz mai muli
muncitori;
- controlul volant, care se face pentru urmrirea respectrii tehnologiilor i a
capabilitii mainilor i utilajelor, scondu-se din funciune acele maini
care nu respecta parametrii din documente;
- controlul n puncte fixe pentru repere, subansamble sau operaii se
stabilete de ctre tehnolog n punctele cele mai importante pentru
obinerea performantelor produselor finite. De obicei se controleaz
parametrii care nu pot fi verificai la produsul finit pe baza metodei
ponderrii defectelor;
- controlul final, care se face pentru produsele finite n mod unitar sau prin
sondaj, pe baza metodelor statistice.
Controlul statistic se aplica produselor fabricate n serie, printr-un proces
tehnologic automatizat, avnd o pondere importanta n producia ntreprinderii.
Controlul se calitate se realizeaz pe baza de msurare sau pe baza de
atribute (bun-defect, satisfacator-nesatisfacator).
Conform [3], prin termenul de asigurare a calitii se nelege ansamblul
activitilor organizatorice i tehnice menite sa asigure calitatea proiectelor i a
realizrii produselor respective, innd seama i de considerentele economice. n
afara de eforturile dedicate automatizrii produciei, trebuie sa se acorde suficienta
atenie i domeniului asigurrii calitii. Astfel, pe lng proiectarea automatizata a
controlului, se urmrete sa se accelereze procesul de control, mai ales n sectoarele
realizrii controlului i prelucrrii datelor obinute. Prelucrarea datelor se realizeaz
parial prin programe de prelucrare statistica ajutate de microcalculatoare, care
furnizeaz imediat rezultatele controlului.


100
Prin fiabilitate se nelege probabilitatea cu care un produs i exercita
ireproabil funcia prevzuta, pe o durata de timp, n condiiile prescrise de solicitare.
Studiile de cercetare i dezvoltare din ultimele doua decenii au contribuit la o cretere
constanta a interesului pentru fiabilitate. Introducerea microelectronicii a dus la o
scdere a preturilor dar i la mbuntirea fiabilitii i a disponibilitii sistemelor
electronice. Progresele ulterioare n aceasta direcie depind de un personal calificat,
care sa neleag factorii ce influeneaz fiabilitatea componentelor i posibilitile de
specificare, msurare i mbuntire a fiabilitii ca i problema ntreinerii i
disponibilitii.

5.2. Cerine actuale i perspective
5.2.1. Managementul fiabilitii n sens restrns

n conformitate cu [63], fiabilitatea reprezint aptitudinea unei entiti de a
ndeplini o cerina funcional n condiiile date i de-a lungul unui interval de timp
dat.
Aa cum am artat n capitolul 3.1 se utilizeaz i noiunile de fiabilitate n
sens restrns i fiabilitate n sens larg.
Fiabilitatea n sens restrns se bazeaz pe definiia enunata mai sus, iar
fiabilitatea n sens larg combina pe lng fiabilitatea n sens restrns i noiunile de
disponibilitate, mentenabilitate i logistica de mentenan
Cererea pieii pentru un produs s-a schimbat n mod corespunztor i va varia
din ce n ce mai mult n funcie de satisfacerea cerinelor referitoare la putere,
calitate, fiabilitate i pre, indicnd totodat i ordinea ca i ponderea fiecruia dintre
criteriile individuale menionate. Preul, orict ar fi de important, e pus n mod
contient pe ultimul loc, deoarece un sistem insuficient elaborat, cu perioade lungi de
defectare i care n mod curent cere cheltuieli de reparare, produce o mrire de
cteva ori a costurilor, daca se neglijeaz cerinele de fiabilitate i respectarea lor la
conceperea sistemului.
Activitile dedicate satisfacerii cerinelor necesare de fiabilitate sunt
cuprinztoare i costisitoare. Ele influeneaz organizarea ntreprinderii i impun n
cursul exploatrii unele masuri, care anterior, nu erau cunoscute n toata importanta
lor. Responsabilitatea pentru calitate i fiabilitate aparine ntregii ntreprinderi. Acest
principiu constituie baza pentru structura organizatorica i comunicarea obligatorie
dintre diferitele sectoare responsabile. Fiecare dintre principalele compartimente ale
ntreprinderii are de ndeplinit o sarcina bine determinata, de exemplu:
- compartimentul de proiectare: dezvoltarea i elaborarea planificata de noi
prototipuri.
- sectorul de desfacere: vnzarea rapida i profitabila a produciei disponibile.
Pentru realizarea asigurrii n toate fazele a calitii i fiabilitii unui produs
este necesara nfiinarea unui serviciu independent, subordonat direct conducerii
ntreprinderii. Sarcina acestuia este de a elabora cu toate sectoarele ntreprinderii, de
la proiectare pana la desfacere i de a le furniza informaii i cunotine specifice
referitoare la calitate i fiabilitate. [3]
n [3] se arata ca aa cum serviciul de asigurarea calitii are i sarcina de a
informa conducerea ntreprinderii asupra calitii i fiabilitii, att a produselor aflate
n fabricaie cat i a celor aflate n fisa de cercetare, crearea unor grupe de fiabilitate
n interiorul sectoarelor de activitate nu ar fi utila. Se arata ca nfiinarea unui


101
compartiment de fiabilitate independent i subordonat direct conducerii firmei ar fi
mult mai eficienta. Acest compartiment ar avea ca sarcina, pe lng schimbul de
informaii referitoare la fiabilitate i elaborarea i mbuntirea metodei colarizrii
de fiabilitate, s.a.
Este foarte posibil ca existenta grupelor de fiabilitate n diverse sectoare sa fie
utila, dar toate acestea trebuie reprezentate n fata conducerii firmei printr-un singur
departament centralizat care va avea i rolul de a rezolva problemele de fiabilitate ce
nu pot rezolvate la nivelul grupelor.
Colaborarea compartimentului de fiabilitate cu celelalte compartimente are loc
n mod normal prin rolul consultativ i de supraveghere pe care l are. Trebuie sa fie
activ mai ales n acele cazuri n care unele funciuni care intra n domeniul altor
compartimente influeneaz puternic fiabilitatea produsului, fr ca prin aceasta
responsabilitatea primara a sectoarelor respective sa fie supusa unor presiuni
externe. Compartimentul de fiabilitate va aproba sau respinge, cu ocazia controalelor
curente, aspectele cu implicaii asupra fiabilitii.
n [3] este propusa o schema de organizare a asigurrii calitii (v. Fig. 5-5)

Fig. 5-5. Schema de organizare a asigurrii calitii (AQ)

n felul acesta, conductorul asigurrii calitii e subordonat direct directorului
i are acelai rol n luarea deciziilor manageriale ca i ceilali efi de compartimente.
Subordonarea directa garanteaz independenta controlului calitii i fiabilitii.
n [3] se presupune ca activitatea din departamentul de fiabilitate sa fie
organizata dup un program de fiabilitate care trebuie privit ca o activitate
complementara pe lng activitatea normala de fiabilitate.
Punctele cele mai importante ale unui program de fiabilitate sunt:
- echilibrul (sau un compromis acceptabil) intre fiabilitate i capabilitatea de
putere, intre costuri i timp,
- stabilirea unei configuraii funcionale i fizice a sistemului n funcie de
cerinele de fiabilitate,
- minimizarea riscurilor tehnice, economice i de amnare prin lucrrile de
fiabilitate efectuate n fazele de proiectare i fabricaie,
- controlul succesiunii modificrilor (introduse n cursul fazelor de proiectare
i fabricaie) n funcie de fiabilitatea viitorului sistem,
- eforturile pentru realizarea probabilitii de succes economic,
- conducerea i controlul eforturilor de fiabilitate ale tuturor furnizorilor
intermediari,
- supravegherea tuturor deciziilor care pot influenta programul de fiabilitate,
Conductorul AQ
Control de
intrare
Control de
proces
Control
final
Asigurarea
fiabilitii


102
- controlul tuturor lucrrilor de fiabilitate ale viitorului sistem i buna
funcionare,
- colaborarea strnsa intre toate sectoarele implicate, trebuie avut n vedere
permanent i factorul uman.
Fiecare nou pas al programului trebuie n mod curent verificat, observndu-se
raportul intre ceea ce s-a realizat i ceea ce se urmrete.
Un program de fiabilitate trebuie sa cuprind cel puin cinci etape:
- Studii preliminare de fiabilitate a diferitelor soluii, pentru a putea decide
asupra variantei finale a proiectului respectiv.
- Studiul amnunit al variantei finale; specificaii determinate de scopul
urmrit.
- Testarea primului prototip; compararea rezultatelor testelor cu cele ale
studiului detaliat; la o buna corelare se poate trece la producia de serie, n
timp ce n cazul unei insuficiente corelri sunt necesare modificri ale
concepiei n zona critica a proiectului.
- Calificarea fiabilitii produsului nainte de intrarea n fabricaie de serie
- Instituirea unui sistem de culegere a informaiilor referitoare la defectrile
produsului (mai ales n cazul produselor cu perioada de garanie).
O problema de mare importanta ce trebuie rezolvata de departamentul de
fiabilitate este garantarea unei fiabiliti ridicate.
Defectarea elementelor se datoreaz:
- defectelor de fabricaie
- defectelor ce decurg din exploatarea sa
Este de reinut faptul ca, dup statisticile americane, 70% din defectrile
componentelor semiconductoare se datoreaz utilizrii incorecte.
Fiabilitatea este criteriul de decizie pentru o entitate care a ndeplinit toate
cerinele de calitate. Nu trebuie uitat ca utilizatorul poate avea o contribuie
importanta att n prelungirea cat i n scurtarea vieii entitii.
In trecut, proiectanii de sisteme impuneau condiii de calitate mai drastice
pentru a mari certitudinea ca elementele constructive satisfac specificaiile din
certificatul de garanie. Astzi, proiectanii cer teste acceptabile, care ntregesc
controlul de calitate, pentru a se asigura ca specificaiile productorului nu sunt
valabile doar iniial, la controalele de intrare si, mai ales, mai trziu, dup un timp mai
lung de exploatare.
Pn nu demult, factorii care influeneaz cumprarea unui echipament sau
dispozitiv, se aflau n urmtorul raport: pre 30%, serviciu 30% i calitate 40%. Azi,
aceste proprieti s-au schimbat astfel: pre 25%, serviciu 30%, calitate 25% i
fiabilitate 25%, astfel ca fiabilitatea i calitatea realizeaz un total de 50% [3].

5.2.2. Managementul mentenabilitii

Aa cum am artat n capitolul anterior, pentru definirea noiunii de fiabilitate n
sens larg, este nevoie i de alte noiuni printre care i mentenabilitatea.
Conceptul de mentenan a unui sistem tehnic, n general, include
multitudinea aciunilor tehnice i organizatorice privind testarea (probe, msurri i
verificri profilactice), ntreinerea i repararea subansamblurilor acestuia n scopul
meninerii n stare de funcionare, sau readucerii lui n stare de indisponibilitate n
stare operant la niveluri de siguran i/sau de securitate ct mai performante.


103
Operaiile de mentenan efectuate la o instalaie industrial sunt de tip
preventiv i de tip corectiv.
Lucrrile executate n scop preventiv au ca obiect prentmpinarea apariiei
strilor de defect, precum i diminuarea riscului de a surveni asemenea stri.
Mentenana preventiv are n vedere, deci, un ansamblu de intervenii ciclice
ce se realizeaz la intervale precizate de timp i care cuprind: aciuni de inspecie,
diagnoz, verificri, ntreinere, revizii tehnice i reparaii.
Mentenana corectiv constituie totalitatea operaiilor ntreprinse asupra unei
instalaii n scopul eliminrii unor stri de funcionare corespunztoare din punct de
vedere al siguranei i/sau securitii, lichidrii strilor incidentale sau de avarie i
readucerii sistemului tehnic la capacitatea funcional nominal.
Rezult aadar, c n timp ce aciunile de mentenan preventiv au un
caracter determinist, cele corective au o natura aleatoare.
Se poate afirma, deci, c obiectivul fundamental al aciunilor de mentenan
este acela de a asigura echipamentul tehnic respectiv ansamblul condiiilor necesare
pentru ca acesta s poat fi capabil de a realiza o stare operant n conformitate cu
cerinele impuse; aadar, sistemul tehnic va trebui s nregistreze niveluri ct mai
performante ale fiabilitii i mentenabilitii, precum i ale mrimii cumulative a
acestora disponibilitatea.
Mentenabilitatea unui sistem tehnic exprim o msur a mentenanei i
semnific sub aspect calitativ aptitudinea acestuia de a fi exploatat, de a fi
ntreinut i de a fi reparat ntr-un interval de timp dat i n condiii, de asemenea,
impuse; cantitativ, mentenabilitatea este definit de probabilitate ca apariia unei stri
de defect, instalaia respectiv s poat fi readus n stare operant n limitele de
timp i n condiiile anterior stabilite. Expresia mentenabilitii unui sistem tehnic este
dat de relaia:

t
e 1 ) t ( M

= 5-4

unde M(t) reprezint mentenabilitatea sistemului tehnic;
rata de restabilire a instalaiei, mrimea egal cu inversul timpului mediu
de indisponibilitate aleatoare (de avarie), MTTR
Referindu-ne la sistemele tehnice moderne de mare complexitate, obinerea
unui nivel performant de disponibilitate implic realizarea simultan a unor valori ct
mai ridicate ale fiabilitii i mentenabilitii acestor sisteme. Dac R(t) i M(t)
reprezint fiabilitatea, respectiv mentenabilitatea unei instalaii, disponibilitatea sa
A(t), este dat de expresia:

) t ( M )) t ( R 1 ( ) t ( R ) t ( A + = 5-5

Scrisa sub forma

)] t ( M 1 )][ t ( R 1 [ 1 ) t ( A = 5-6

aceasta relaie nu evideniaz nicidecum efectul redundant al celor dou mrimi
asupra disponibilitii; i aceasta datorit faptului c probabilitile R(t) i M(t) sunt
asociate unor evenimente a cror realizare simultan este imposibil.
Micorarea numrului cderilor (defectrilor) sistemului i diminuarea totodat
a timpilor de mentenan conduce la o cretere a timpului mediu de funcionare i o


104
scdere a timpului mediu de avariere, fapt ce acioneaz favorabil asupra
disponibilitii pe termen lung.

MTTR MTBF
MTBF
) t ( A
+
= 5-7

Realizarea unui nivel de fiabilitate ct mai ridicat pentru o instalaie industrial
se poate soluiona prin diverse moduri, astfel:
- prin mrirea fiabilitii modulelor componente ale sistemului aflat n
funciune, aceasta putndu-se obine ca urmare a adoptrii unor strategii
optime de mentenan n sensul reparrii componentelor sistemului la un
nalt nivel calitativ i/sau prin nlocuirea anumitor module mai puin fiabile,
cu altele avnd niveluri ridicate de fiabilitate;
- adoptarea redundanei, fie pentru componentele sistemului, parial sau
total, fie la nivel de sistem;
- diminuarea complexitii sistemului tehnic.
Tendina de adoptare a unor structuri redundante trebuie corelat pe de o
parte cu posibilitatea diminurii timpilor lucrrilor de mentenan, iar pe de alt parte
cu cerinele de a se realiza sisteme tehnice ct mai flexibile. Aceast caracteristic a
unor instalaii moderne flexibilitatea are n vedere capacitatea unui sistem de a se
adapta din punct de vedere structural i de a realiza ntr-un interval de timp stabilit
starea de funcionarea optimal, corespunztoare unor modificri impuse
elementelor de intrare. Spre exemplu, realizarea ntr-un timp ct mai redus a unei
variate game tipodimensionale de anumite produse necesit att schimbri ce
afecteaz natura resurselor, calitatea i cantitatea acestora, ct i o adaptare a
structurii sistemului pentru a rspunde n condiii de eficien maxim unei alte funcii
obiectiv a sistemului. Adaptarea structural s-ar putea obine i prin soluia
multiplicrii modulelor componente i interconexiunilor lor; o astfel de concepie
modular constituit din elemente, n majoritate interanjabile, asigur o mare
operativitate n adaptarea sistemelor respective de a opera n ipostaze diverse.
De asemenea, n scopul realizrii unui nivel de disponibilitate ct mai ridicat
pentru un sistem tehnic, evideniem i faptul c una dintre multiplele ci de
mbuntire a mentenanei sistemului se dovedete a fi i o bun accesibilitate,
nsuire care evideniaz rapiditatea interveniei omului asupra elementului defect, fie
pentru a-l repara, fie pentru a-l nlocui.

5.2.3. Managementul mentenanei

Mentenabilitatea unui sistem reprezint caracteristica acestuia de a fi uor
meninut readus n stare de bun funcionare, ntr-un interval de timp ct mai redus.
Ansamblul activitilor legate de meninerea sau readucerea sistemului n
stare de bun funcionare formeaz mentenana sistemului.
Scopul principal al activitilor de mentenana const n asigurarea unei
disponibiliti a sistemului ct mai ridicate.
Activitile de mentenan pot fi corective atunci cnd au ca scop repararea
sistemului, adic restabilirea strii de bun funcionare dup producerea unei
defeciuni, sau preventive atunci cnd au ca scop prevenirea sistemului adic
meninerea acestuia n stare de funcionare o durat de timp ct mai ndelungata.


105
5.2.3.1. Mentenana corectiv

Aceast strategie const n nlocuirea componentei atunci cnd ea se
defecteaz i este specific sistemelor care sunt supravegheate continuu pe durata
de funcionare. n acest caz, defectarea componentei conduce la starea de defectare
a sistemului uor de recunoscut.
Pentru un element simplu sau un sistem cu intensiti de defectare i reparare
constante, i respectiv , indisponibilitatea este:

t ) (
e ) t ( U
+
+
= 5-8

care pentru t devine

+
= =

U ) t ( U lim
t
5-9

n Fig. 5-6 se poate vedea graficul funciei de indisponibilitate pentru cazul
nceperii mentenanei n momentul apariiei defectului.

Fig. 5-6. Variaia indisponibilitii n timp

Din relaia (5-8), se constat c pentru durate de timp mai mari dect
+
5 3..
fa de
momentul punerii n funciune a sistemului, indisponibilitatea devine independent de
timp i tinde ctre o valoare staionara,
+

Cum de regul duratele de bun funcionare (MTBF) sunt cu mult mai mari ca
duratele de restabilire (MTTR) expresia (
+
= =

U ) t ( U lim
t

5-9) capt forma:

U(t)
+

t


106
>> =
= pentru , MTTR ) t ( U 5-10

care poate fi interpretat astfel: coeficientul de indisponibilitate este n cel mai
defavorabil caz egal cu raportul dintre intensitile de defectare i reparare.

5.2.3.2. Mentenana preventiv

Aceasta strategie const n nlocuirea periodic a componentei la intervale de
timp planificate apriori. Strategia este caracteristic, n special, sistemelor care nu
sunt operaionale continuu sau sunt operaionale continuu dar sunt solicitate
intermitent aa cum este i cazul sistemelor antiefracie sau de protecie la incendiu.
De asemenea, aceast strategie se aplic i n cazul elementelor
caracterizate de uzura (mbtrnirea) n timp, ca de exemplu elemente hidraulice
(filtre, diafragme, etc.) sau electrice (condensatori electrolitici, becuri cu
incandescent, etc.).
n Fig. 5-7 este prezentat forma idealizat pentru variaia n timp a
intensitilor de defectare a elementelor caracterizate de perioada de mbtrnire.

Fig. 5-7. Graficul strategiei de mentenan preventiv

n intervalul (0, T
u
) rata de defectare este constant n timp ca apoi s
creasc rapid pentru t > T
u
.
Considernd c duratele T
u
sunt distribuite dup legea normal (Gaussian)
cu abaterea , se constat c dac nlocuirea elementului se face la momentul T
M
=
T
u
2 atunci mai exist probabilitatea ca doar 2,3% din elemente s se defecteze
t

0
+ m
0
M
T
m
1
=
3T
u
2T
u
T
0
T
u
T
M
P(T
u
)
T
u

T
u
-2 T
u
T
u
+2


107
nainte de nlocuire. Dac se adopt T
M
= T
u
3 atunci probabilitatea ca elementele
s fie n stare de defect nainte de nlocuire se va reduce foarte mult i va fi de 0,1%.
Ca urmare, dac durata normal de via a componentei T
u
este mult mai
mic dect durata de viat T a sistemului, atunci rezult c nlocuirea acesteia
nainte de a ajunge n domeniul uzurii ( >>
0
) este economic avantajoas.

5.2.3.3. Mentenana preventiv curent

Strategia este caracteristic elementelor mecanice i const n efectuarea la
intervale periodice de operaii curente, ca de exemplu nlocuirea unsorilor i
lubrifianilor, gresarea (ungerea) lagrelor, ajustarea jocurilor libere ale axelor n
micare etc. pentru reducerea uzurii componentelor i implicit de cretere a
momentului T
u
de intrare n regiunea de uzura pronunat (mbtrnire) caracterizat
de >>
0
.
n Fig. 5-8 este prezentat explicativa pentru strategia de mentenan
preventiv curent.

Fig. 5-8. Graficul strategiei de mentenan preventiv curent

Dup cum se poate constata din Fig. 5-8, se observ c momentul T
u
se
mrete cu T
u
n cazul aplicrii acestui tip de mentenan. Urmtoarele operaii de
ntreinere trebuie efectuate nainte de a se atinge momentele T
u
+ T
u
; T
u
+ 2T
u

.a.m.d. De asemenea este necesar ca intervalul dintre dou operaii consecutive de
mentenan curent T
Mc
s fie egal cu T
u
.

5.2.3.4. Testarea curent periodic

Strategia const n efectuarea, la intervale de timp periodice, de msurtori i
ncercri specifice, n scopul depistrii eventualelor defeciuni care pot aprea n
condiiile n care sistemul este solicitat. Acest tip de strategie este caracteristic, n
special, sistemelor de protecie sau de tip stand by pentru detectarea defectelor
t

T
u
+ T
u
T
u
T
M
T
M
T
u
T
u
T
u
+ 2T
u


108
neevidente de tip periculoase care conduc la nefuncionarea sistemului atunci
cnd sunt ntrunite condiiile de pericol.
Considernd intervalul, T
T
, dintre dou testri succesive i o rat constant de
defectare asociat defectelor neevidente rezult probabilitatea de defectare la
momentul t, de forma:

t
e ) t ( Q

=1 5-11

Admitem c dup testare i verificare sistemul este ca i nou ceea ce
nseamn Q = 0
n funcie de valoarea maxim admis pentru funcia de nonfiabilitate a
sistemului pentru aceste dou tipuri de defectri, se poate determina intervalul, T
T
,
dintre dou testri succesive din relaia:

T
T
max
e Q

=1 5-12

unde T
T
reprezint intervalul dintre dou testri succesive;
Pentru exemplificare considerm un sistem cu = 0,2 ani
-1
i Q
max
= 0,001

rezult intervalul T
T
dintre testri succesive ca fiind egal cu 0,1 ani.
n Fig. 5-9 se poate vedea variaia probabilitii de defectare n timp.

Fig. 5-9. Graficul testrii curente periodice

Trebuie fcut precizarea ca dac durata medie a efecturii testrii, MTT, este
ridicat se pot ntlni situaii n care indisponibilitatea sistemului datorat verificrilor
este mai mare dect indisponibilitatea cauzat de defectul n sine.
Pentru exemplul anterior rezult o indisponibilitate
3
10 5 0
2
1

= , Q ) t ( U
max

dac MTT este sczut.
t
Q(t)
T
T
T
T
T
T
MTT

MTT

MTT


109
Daca MTT = 1 zi, la aceeai periodicitate a verificrilor, rezult un numr de
10 zile/an n care instalaia nu este operant ca urmare a operaiilor de testare. n
acest caz avem o indisponibilitate mai mare dect cea produs de defectul n sine.

5.2.3.5. Costurile mentenanei

n cele mai multe aplicaii practice, alegerea uneia sau alteia dintre strategiile
de mentenan se face pe baza costurilor implicate de acestea. Pentru utilizatorii de
sisteme tehnice este important costul pe durata de viat (de folosire) a sistemului
respectiv. Costul total pe durata de utilizare a sistemului, C
T
, const din: costul iniial
de cumprare C
P
; costul de instalare, C
I
; costul de verificare i punere n funciune,
C
V
; i costul de reparare pe durata de viat a echipamentului, C
M
. n cele ce urmeaz
se va analiza costul de reparare, C
M
.
Dac se consider c durata de viat a sistemului este T(ani) i rata de
defectare este ani
-1
, atunci numrul total de defectri n aceast perioad este T.
Pentru strategia de tip corectiv, dac considerm durata medie de restabilire,
MTTR, atunci durata medie total de nefuncionare n intervalul (0,T) este T(MTTR).
Costul total al defeciunilor n intervalul (0, T) este format din urmtoarele
componente:
- C
mat.
costul mediu al materialelor / operaiei de reparare;
- C
man.
costul manoperei / or;
- C
prod.
costul de producie nerealizat / or, ca urmare a nefuncionrii
sistemului;
si rezult pentru strategia de tip mentenan corectiv un cost total, C
TC
, egal cu:

T )] MTTR )( C C ( C [ C
C . prod . man . mat CT
+ + = 5-13

Pentru strategia de tip preventiv, dac se consider T
P
intervalul dintre dou
operaii succesive de mentenan preventiv rezult o frecven de mentenan
P
T
m
1
= .
Considernd o valoare medie a timpului de mentenan, MTM, aferent unei
operaii de mentenana preventiv rezult o durat medie total de nefuncionare a
sistemului n intervalul (0, T) egal cu mT(MTM).
Dac se consider:
- C
MAT.
costul mediu al materialelor / operaiei de reparare;
- C
MAN.
costul manoperei / or;
- C
PROD.
costul de producie nerealizat / or, ca urmare a nefuncionrii
sistemului;
rezult pentru acest tip de strategie de mentenan un cost total, C
TP
, egal cu:

mT )] MTM )( C C ( C [ C
. PROD . MAN . MAT CP
+ + = 5-14

n practic, n mod frecvent sunt asociate cele dou tipuri de mentenan
deoarece existena celei de-a doua component conduce la o scdere a ratei de
defectare globale a sistemului.


110
Pentru c aplicarea celor dou tipuri de strategii s fie rentabil i economic
este necesar ndeplinirea condiiei:

T )] MTTR )( C C ( C [
mT )] MTM )( C C ( C [ T )] MTTR )( C C ( C [
P . prod . man . mat
. PROD . MAN . MAT C . prod . man . mat
+ + <
< + + + + +
5-15

n relaia (5-15) s-au folosit notaii distincte pentru intensitile de defectare
deoarece este posibil ca n condiiile mentenanei preventive
P
s fie mai mic dect
C
n condiiile mentenanei corective.
Dac consideram C
mat.
= C
MAT.
; C
prod.
= C
PROD.
i MTTR MTM atunci expresia
(5-15) devine:

C P
m < + 5-16

de unde rezult c:

m
C P
< 5-17

ceea ce nseamn c aplicarea strategiei pentru a fi rentabil din punct de vedere
economic, trebuie s ndeplineasc condiia rezultat n relaia (5-17).
De asemenea relaia (5-15) este ndeplinita i atunci cnd are loc inegalitatea:

) MTM )( C C ( C ) MTTR )( C C ( C
. PROD . MAN . MAT . prod . man . mat
+ + >> + + 5-18

care pentru C
mat.
C
MAT.
i MTTR >> MTM sau C
prod.
>> C
PROD.
devine:

) MTM )( C C ( ) MTTR )( C C (
. PROD . MAN . prod . man
+ >> + 5-19

5.2.3.6. Mentenana bazat pe fiabilitate

Mentenana bazat pe fiabilitate(RCM Reliability Centered Mantenance) (v.
Fig. 5-10) reprezint o concepie de utilizare a feedback-ului din exploatarea
instalaiilor n domeniul mentenanei predictive bazate pe principiile calculelor
fiabilistice.
Alturi de activitile de diagnosticare on-line, mentenana bazat pe fiabilitate
urmrete optimizarea strategiilor de mentenan n condiii tehnico-economice date.
Scopurile principale ale mentenanei bazat pe fiabilitate sunt:
- mbuntirea sau cel puin meninerea n limite acceptabile a fiabilitii
respectiv a disponibilitii instalaiilor;
- formalizarea i structurarea analizelor pentru selectarea sarcinilor de
mentenan;
- optimizarea resurselor de mentenan prin alocarea acestora funcie de
eficien.


111

Fig. 5-10. Organigrama mentenanei bazat pe fiabilitate (RCM Reliability Centered Mantenance)
MENTENANA CORECTIV
FEEDBACK
DIN EXPLOATARE
MENTENANA PREVENTIV
MENTENANA PREDICTIV MENTENANA BAZAT PE FIABILITATE
DETERMINAREA
FRECVENEI I
CONINUTULUI
ACIUNILOR DE
MENTENAN
- CONDIII
MENTENANA
PLANIFICAT
Reducerea duratelor de
reparaii
Reducerea duratelor de
nlocuire
Diagnoz Preliminri statistico-
probabilistice
Ateliere Spaii de acces
i de lucru, mic
mecanizare
Pregtire
personal
Optimizarea
stocurilor de
echipament
e de rezerv
i intervenii
prin metode
probabilistic
Posibiliti de
transport,
acces i
montaj
Aparate,
dispozitive
Laboratoar
e
Personal
specializat
Optimizarea
intervalelor de
intervenie
Personal
specializat
ORGANIZAREA MENTENANEI


112
Avnd n vedere msurile eficiente de cretere a fiabilitii i mentenabilitii
este necesar un feedback organizat corespunztor, aplicarea metodelor analitice ale
RCM fiind condiionat de existena datelor statistice credibile, obinute din urmrirea
instalaiilor i echipamentelor. Aceste lucru se poate face n cadrul unui sistem
informaional unitar de culegere i prelucrare a informaiei asupra comportrii n
exploatare. n aceste condiii metodele analitice pot deveni mult mai eficiente n
stabilirea strategiilor de mentenan.
n prezent echipamentele sunt supuse acelorai aciuni de mentenan
preventiv, indiferent de nivelul de redundan prevzut n scheme. n unele cazuri
acest aspect poate fi discutabil deoarece, att consecinele unei defectri, ct i
efectele rezultate, pot fi diferite, funcie de nivelul de redundan din schem,
prevzut la echipamentul respectiv.
n analiza mentenanei bazat pe fiabilitate este foarte important luarea n
considerare a modurilor de defectare a unei entiti.
n prezent, stabilirea strategiilor de mentenan se face fie neinnd seama de
aspectele specifice legate de modurile de defectare, fie n mod intuitiv, bazat pe o
experien de exploatare care nu ine seama de evenimentele nregistrate la o
entitate pn la o aciune de mentenan. Astfel, n normele specifice privind
planificarea mentenanei preventive, nu se regsesc elemente care s in seama de
evenimentele aleatoare (numr i tip de defecte) produse n intervalul dintre dou
aciuni de mentenan.
Pe lng faptul c o entitate poate prezenta mai multe moduri de defectare ale
elementelor componente, aceste elemente pot prezenta diferite legi de repartiie ale
duratelor de funcionare ntre defecte. Se mai constat c interveniile n cazul unor
evenimente aleatoare pot influena condiiile planificate iniial pentru aciunile de
mentenan preventiv.

5.2.4. Managementul riscului

Evoluia i rspndirea sistemelor tehnice complexe a cror defectare are
impact puternic asupra societii i mediului nconjurtor au amplificat preocuprile
de evaluare i cuantificare a riscului.
Lund n considerare cele prezentate n [54] i [8] noiunea de risc poate fi
interpretata n multe feluri.
Conform DEX, riscul reprezint posibilitatea de a ajunge intr-o primejdie, de a
avea de nfruntat un necaz sau de suportat o paguba; pericol posibil.
In BBC Enghish-Romanian Dictionary, riscul este asimilat primejdiei; daca
exista riscul sa se ntmple ceva, acesta poate fi neplcut sau cu consecine
periculoase.
Dicionarul Merriam Webster Collegiate este mai generos i mai specific:
posibilitatea pierderii sau o primejdie, dar i gradul de probabilitate a unei astfel de
pierderi (acesta este un element nou n definitii uzuale).
Ediia cea mai recenta a Illustrated Oxford Dictionary (2008, Dorling/Oxford,
Univ. Press, Litera International, Bucureti Chiinu, pagina 709) definete riscul ca
posibilitatea apariiei unei primejdii, pierderi, accident.
Dicionarul Webster (ediia 2002) avanseaz conceptul de management al
riscului (MR) i de manager de risc. MR este vzut ca tehnica estimrii, prevenirii i


113
reducerii pierderilor accidentale care pot sa apar intr-o afacere, prin luarea unor
masuri de sigurana (de ex. asigurri ).
Se poate sesiza ca noiunea de risc este un eveniment nesigur, care poate sa
aib loc daca acioneaz factorii de risc sau poate sa nu aib loc.
Conform [54] i [8] se desprind tipuri diferite de riscuri, n funcie de domeniul
pe care l consideram. Astfel, pentru o anume organizaie este important studierea
riscului economic, n cadrul deduciei statistice este importanta studierea diferitelor
riscuri statistice: riscurile productorului i ale consumatorului, riscurile tehnice, riscul
Taguchi i un index care apare n practica SPC (Statistical Process Control), riscul
mentenanei.
Evaluarea riscului se realizeaz similar ca n cazul fiabilitii, la nivelul
elementelor, sistemelor i la nivelul decizional.
Defectarea elementelor se datoreaz factorilor interni (oboseala materialului,
coroziunea, mbtrnirea, uzura) i factori externi cu aciune critica sau catastrofala
(cutremure, inundaii, trsnet, vnt, etc.)
Riscurile productorului () i riscurile consumatorului () sunt de fapt nite
erori pe care le facem n luarea deciziilor privind ipotezele fundamentale. O ipoteza
este definita ca o afirmaie (presupunere) despre un fenomen anume, proces,
situaie, etc, aceasta putnd fi adevrat sau nu.
Analiza statistica lucreaz cu probe luate la ntmplare, iar concluzia se
bazeaz exclusiv pe aceste probe. Probele ar putea sprijini ipoteza propusa iniial
(N
0
) sau ar putea susine o ipoteza alternativa (N
1
).
Deci exista doua tipuri de erori [54]:

= Prob{respinge H
o
/ daca H
0
este adevrat} 5-20

= Prob{accepta H
o
/ daca H
1
este adevrat} 5-21

Acestea se numesc: eroare de Tip unu () i eroare de Tip doi () - vezi detalii
Blinshke i Murthy, 2000, pag. 157-162.
Aceti autori atrag atenia ca erorile Tip 1 i Tip 2 sunt posibilitatea efecturii
acestui tip de greeli adic respingei H
0
(cnd H
o
este adevrat) i nu respingei
H
o
(cnd H
1
alternativa, este adevrata).
De fapt, = (n;
t
) i = (n;
t
) - ele depind de dimensiunea probei folosite
i de valoarea reala a parametrului () pe baza cruia se face ipoteza.
n [54] este artat ca daca luam n considerare standardele americane MIL
STD 105D; MIL STD 414 sau echivalentul lor ISO, ISO 2859 i ISO 3951, cele doua
riscuri i au nivele fixe de 5% i 10%.
n concluzie nu putem sa modificam n sensul diminurii, dect riscul
neacceptrii.
Acest risc este exprimat ca 1-P
a
(p) unde P
a
(p) este probabilitatea acceptrii
lotului care depinde de fracia defecta (sau neconforma) p. Daca p este mai mare,
atunci valoarea acceptata (AQL- Nivelul Acceptabil de Calitate) n acest caz riscul de
neacceptare este mai ridicat.
Un alt element important din documentele menionate mai sus este aa
numitul LQ / Calitate Limitata adic valoarea lui p pe care suntem gata s-o acceptam
cu o mica probabilitate ( n 10% din cazuri, n cea mai buna situaie).
Daca p=p
o
>AQL, riscul de neacceptare creste pe msura ce (p) se apropie de
valoarea LQ.


114
Putem spune ca managementul acestui risc trebuie sa acioneze asupra
micorrii defectrilor.
n [54] este ridicata i problema existentei erorii de tip III, introdusa de Raiffa,
care se refera la existenta unei probleme false. Se arata ca Raiffa nu a stabilit clar ce
nelege printr-o problema falsa: este o problema prost neleasa (impropriu/greit
formulata) sau falsitatea se refera la scopul/obiectivul stabilit de autoritatea
responsabila.
n sprijinul afirmaiei lui Raiffa vin i Malita i Zidaroiu care afirma ca acest tip
de eroare se ateapt sa aib o ncrctur specifica comparata cu cele doua tipuri
anterioare de erori clasice
Ei mai susin ca principala sursa de eroare de tip III este lipsa de comunicare
dintre analist i factorul de decizie. Aceasta comunicare trebuie sa fie bidirecionala:
de la unitatea decizionala la analist/ experimentator i invers, pentru a verifica daca
intr-adevr am detectat problema care trebuia!
n [54] este artat ca Irina Isaic-Maniu a dat o interpretare riscului bazndu-
se pe indicatorii principali din teoria fiabilitii.
Astfel, este artat ca ceea ce noi am numit funcia de non fiabilitate (v.
Cap.3.1) sau funcia de repartiie a variabilei aleatoare t
f
i se numete risc tehnic

F(t) = 1 R(t) = 1-p(t
f
t) = P(t
f
<t) 5-22

Unde: F(t) risc tehnic (probabilitatea ca sistemul sa funcioneze
mai slab dect timpul dorit)
R(t) funcia de fiabilitate.
Este introdusa noiunea de pericol de eec( hazard) (h(t)) care reprezint de
fapt rata de defectare a sistemului.

( )
) (
) (
) (
) (
) ( 1
) (
t R
t dR
t R
t dF
t F
t f
t h = =
= 5-23

Conform [8] managementul riscului face parte din planificarea mentenanei
preventive. Astfel, managementul riscului ia n considerare numrul i tipul defectelor
produse aleator n intervalul dintre doua aciuni de mentenan.
Voi considera cazul a doua elemente legate n serie pentru care legea de
variaie a defectelor de funcionare intre defecte este cea exponeniala.
Consideram ca ratele de defectare a elementelor sunt definite, atunci rata de
defectare a sistemului este:

) ( ) ( ) (
2 1
t t t
e
+ = 5-24

Introducem ipoteza ca la un moment K din intervalul (0, t) apare o defectare
datorita defectrii elementului 2, iar sistemul este readus n stare de funcionare prin
aciune de mentenan corectiv.
Vom scrie expresia riscului n intervalul (0, t)

e
t
t R t F
) (
0
2 1
1 ) , 0 ( 1 ) (
+
= = 5-25


115
respectiv (k, t
1
)

e
k t
t k R t k F
) )( (
1 1 1
1 2 1
1 ) , ( 1 ) , (
+
= =

5-26

unde: F
0
risc iniial
F
1
risc pe intervalul (x, t
1
)
t durata intervalelor de mentenan propuse
x durata la care apare o intervenie de mentenan
t
1
durata intervalelor de mentenan n urma apariiei evenimentului X.
Astfel se poate determina valoarea t
1
(t
1
>t) pentru care a fost acceptat riscul
iniial r
0
n condiiile n care t = t
1
x.
n stabilirea valorilor de risc admisibile n funcionarea instalaiilor se utilizeaz
probabilitatea apriori pentru programarea unor aciuni de mentenan cu risc r
0
de
defectare la un anumit interval t, respectiv probabilitatea aposteorii pentru stabilirea
intervalelor dintre aciunile de mentenan preventive, astfel nct riscul iniial sa nu
fie depit.
Un alt aspect ce nu trebuie neglijat, n evaluarea riscului este eroarea umana
[8]. Aa cum este artat, eroarea umana este la originea a (20-90%) din accidentele
majore.
Acest lucru impune analiza fiabilitii umane n calculul riscului i evidenierea
factorilor de modelare a performantelor umane.
Erorile umane pot fi:
- erori individuale (neintenionate / intenionate)
- erori manageriale.
Dup modul de producere:
- erori bazate pe ndemnare
- erori bazate pe reguli
- erori bazate pe cunotine.
Factorii de modelare a performantei la apariia erori sunt [8]:
- factori fiziologici (starea de sntate, oboseala) care produc alterarea
simurilor determinnd scpri bazate pe ndemnare.
- factori psihologici (lipsa experienei sau a cunotinelor, atitudinea,
temperamentul), care conduc la erori de identificare i de interpretare.
- factori filozofici care se refera la aspectul subiectiv.
Conform [8] probabilitatea erorilor umane se calculeaz conform relaiei:

5 4 3 2 1
K K K K K P
eu
= 5-27

n care: P
eu
probabilitatea erorilor umane
K
1
rata erorii de baza n funcie de tipul de activitate
K
2
coeficientul ce tine seama de timpul disponibil pentru ndeplinirea
activitii
K
3
coeficientul ce tine seama de caracteristicile operatorului i de
nivelul de pregtire
K
4
coeficientul ce tine seama de starea de nelinite a operatorului
K
5
coeficientul ce tine seama de caracteristicile ergonomice ale
mediului


116
Pentru clarificarea celor prezentate n capitolul 5.2.3.6, utiliznd noiunile
prezentate n capitolul curent, propun s analizm o entitate oarecare ce poate
prezenta trei moduri de defectare distincte i dac consecinele acestora sunt
aceleai, ea poate fi modelat printr-un echivalent format din trei elemente legate n
serie, fiecare element corespunznd unui mod de defectare (v. Fig. 5-11.). Fiecare
element este caracterizat de o rat de defectare
1
(t),
2
(t) i
3
(t) ce pot corespunde
unor legi de repartiie diferite: exponenial, Weilull,etc.

Fig. 5-11. Echivalentul unei entiti ce prezint trei moduri de defectare diferite

n cazul prezentat, rata de defectare echivalent a entitii va fi:

) t ( ) t ( ) t ( ) t (
e 3 2 1
+ + =

iar funcia de fiabilitate a entitii este:

=

t
e
dx ) x (
e ) t ( R
0

Echivalarea elementelor cu ratele de defectare
1
(t),
2
(t) i
3
(t) cu un
element cu rata de defectare
e
(t) este posibil numai n cazul n care modurile de
defectare ale elementelor au consecine identice.
Pentru un calcul complet al strategiei de mentenan trebuie stabilite valorile
de risc admisibile n funcionarea instalaiilor. Pentru aceasta trebuie avute n vedere
dou tipuri de probabiliti i anume:
- probabiliti apriori;
- probabiliti aposteriori.
Probabilitatea apriori este utilizat la planificarea unor aciuni de mentenan
la un anumit interval de timp T, n condiiile admiterii unui risc r
0
de defectare pe un
interval (0, t) de timp.
Probabilitatea aposteriori permite ca pe baza unei experiene ctigate, s se
ia decizii privind intervalele ntre aciunile de mentenan preventiv, astfel nct
riscul iniial asumat s nu fie depit.
Considerm o entitate pentru care este stabilit un interval de timp pentru
aciunea de mentenan T aa cum este prezentat n Fig. 5-12, se poate determina
riscul iniial acceptat.

1
(t)
2
(t)
3
(t)


117

Fig. 5-12. Repartizarea aciunilor de mentenan n timp pentru o entitate

Riscul acceptat se pate calcula astfel[44]:

) T ( R ) T ( F r
0 0 0
1 = = 5-28

Considernd c la un momente dat t
1
se produce un defect care necesit o
aciune de mentenan corectiv, se poate determina adaptarea politicii de
mentenan preventiv, pe baza experienei ctigate (aposteriori). Astfel se poate
determina riscul de defectare pe intervalul (t
1
, T) n condiiile apariiei unui defect la
momentul t
1
< T prin relaia[44]:

) T , t ( R ) T , t ( F r
1 1 1 1 1
1 = = 5-29

Se poate determina astfel timpul T pentru care riscul iniial acceptat n
condiiile n care aciunea de mentenan preventiv s-a fcut la intervale de timp T
este egal cu riscul pe intervalul (t
1
, T), n condiiile apariiei unui defect n momentul t
1

i a efecturii unei mentenane corective la momentul respectiv.
t
T t
1

0
r
1

r
0

6. CONTRIBUII LA OPTIMIZAREA INSTALAIILOR ELECTRICE I DE AUTOMATIZARE

118

6. CONTRIBUII LA OPTIMIZAREA INSTALAIILOR ELECTRICE I
DE AUTOMATIZARE

6.1. Consideraii asupra unor insuficiene ale teoriei actuale

Actualele modele matematice pentru aprecierea i evaluarea numeric a
fiabilitii sistemelor au fost elaborate la nceputul celei de a doua jumti a secolului
trecut ca urmare a unor cerine impuse de necesitatea adoptrii unor decizii majore
privind implementarea automatizrii instalaiilor din domeniile militar, energetic i
aerospaial. Depind repede aceste domenii astzi necesitatea asigurrii unei
fiabiliti optime se regsete practic n toate domeniile vieii economice.
Cu toate acestea, dup o perioad de entuziasm i dezvoltare rapid, datorit
unor succese remarcabile n optimizarea deciziilor n dezvoltarea cunoaterii n acest
domeniu a sczut n timp ce , paradoxal, fiabilitatea elementelor componente ct i a
sistemelor tehnice a crescut!
Cauzele acestui fenomen sunt multiple i nu fac obiectul investigaiei noastre.
Trebuie s remarcm faptul c modelele matematice elaborate cu mai mult de
jumtate de secol n urm i parial prezentate n capitolele precedente prezint
unele incoerene cu cerinele impuse de necesitile dezvoltrii tiinei i tehnologiei
n secolul XXI, manifestate uneori chiar sub forma unor paradigme i paradoxuri.
Vom prezenta pe scurt cteva dintre acestea iar n capitolul urmtor vom propune
cteva soluii de rezolvare.

6.1.1. Limitarea utilizrii funciei de fiabilitate

Vom considera cazul cel mai simplu al repartiiei exponeniale ceea ce nu
micoreaz cu nimic generalitatea concluziei.
Conform relaiilor (3-42) i (3-54) n acest caz funcia de fiabilitate
e e
m
t
t
t R

= =

) ( . Pentru m t = 7 , 0 rezult 5 , 0 49658 , 0 ) (
7 , 0
< = =

e
t R . Rezult c
pentru valori ale duratei medii de funcionare fr defeciuni (m = MTTF) sau pentru
valori ale duratei medii de bun funcionare (m=MTBF) funcia de fiabilitate respectiv
probabilitatea sau ansa de funcionare este mai mic dect riscul de defectare
50342 , 0 ) 7 , 0 ( ) / ( = = F m t F .
Situaia este valabil i pentru celelalte distribuii statistice, difer puin doar
valoarea lui t pentru care apare acest paradox!
Mai mult dect att, paradoxul este cunoscut de zeci de ani i explicaiile care
s-au dat nu sunt satisfctoare. De exemplu, n lucrarea [66] se afirm c funcia de
fiabilitate trebuie utilizat numai pentru valori mici ale duratei de utilizare fat de
durata medie de funcionare fr defectare. Au trecut de atunci peste 40 de ani i
funcia de fiabilitate nu a fost nlocuit! Consecinele sunt astzi directe asupra
supraevalurii riscurilor tehnice cu implicaii economice grave rezultate pe baza
analizelor de risc.


119
6.1.2. Paradigma distribuiei exponeniale a sistemelor fr uzur

Distribuia exponenial este foarte frecvent utilizat datorit simplitii relaiilor
de calcul care rezult n acest caz i aproximrii relativ satisfctoare a indicatorilor
de fiabilitate chiar n cazuri n care rata de defectare nu este riguros constant.
Absena uzurii se definete prin relaia 0 x t, ; ) ( ) , ( = + x R x t t R [67 p. 31] i
se demonstreaz [68] c exist o singur funcie de repartiie a timpului de
funcionare pn la defectare care verific aceast relaie de definiie a absenei
uzurii
e
t
t F

=

1 ) ( .
Relaia de mai sus conduce la concluzia c media duratei de funcionare
rmase este aceeai indiferent de vrsta sistemului, rezultat greu de acceptat.
Distribuia exponenial se caracterizeaz i printr-o dispersie mare a timpului
de funcionare (egal cu media) ceea ce conduce la o diversitate mare a sistemelor
individuale [67].
Se poate spune c s-a creat chiar o paradigm a distribuiei exponeniale
conform creia matematicienii cred c ea corespunde unor realiti fizice iar inginerii
i fizicienii o consider un instrument matematic riguros fundamentat (i binevenit!).

6.1.3. Contractarea i dilatarea duratei de via a sistemelor

n cazul celui mai simplu sistem compus din mai mult de un singur element,
sistemul cu dou elemente identice din punct de vedere al fiabilitii, n cazul
distribuiei exponeniale rezult pentru structura fiabilistic de tip serie o durat de
via egal cu jumtate din durata de via a unui singur element iar pentru structura
fiabilistic de tip paralel rezult o durat de via cu 50% mai mare dect n cazul
unui singur element. Aceste rezultate nu numai c sunt contrare posibilitii noastre
de nelegere dar sunt i n contradicie cu experiena cotidian. Cu toate acestea ele
stau la baza teoriei fiabilitii sistemelor i corespund nu numai distribuiei
exponeniale sistemelor compuse din dou elemente ci i tuturor distribuiilor i
tuturor tipurilor de structuri utilizate, cu coreciile numerice corespunztoare fiecrui
caz n parte.

6.1.4. Defectare sau degradare

Teoria actual este elaborat pornind de la conceptul de defectare folosit n
sensul de trecere (tranziie) a sistemului din starea de satisfacere a cerinelor date n
starea de nesatisfacere a acestora (a cel puin uneia dintre ele). De fapt scderea
fiabilitii unui sistem n timp nu are drept cauz principal defectarea ci degradarea.
Este adevrat c teoria actual a fost elaborat ca urmare a necesitii
reducerii numrului de defectri ale instalaiilor de automatizare cu care au fost
echipate navele din flota S.U.A. dup cel de al doilea rzboi mondial i creterii n
acest fel a durate operaionale a acestora ntr-un interval de timp dat. Din acest punct
de vedere teoria actual i-a atins scopul. Mai mult dect att, n ultimele decenii
evenimentele de tip defectare au devenit tot mai rare datorit att optimizrii fiabilitii
ct i progresului tehnologic i pieei concurente.


120
Caracteristicile sau indicatorii numerici pentru evaluarea fiabilitii, cum sunt
funcia de fiabilitate i rata de defectare se ntlnesc tot mai rar pe pia, n
contractele economice i n normativele de fiabilitate. Locul lor a fost luat de durata
de via creia i se asociaz i durata de restabilire n cazul sistemelor reparabile.
Dezvoltarea analizelor i politicilor de mentenan a contribuit de asemenea la
ameliorarea i optimizarea fiabilitii.
O problem foarte important a rmas ns nerezolvat la nivelul cerinelor
actuale e problema evalurii duratei de via pe baza conceptului de degradare, nu
numai pe baza conceptului de defectare ca n prezent. Dac defectrile pot fi i au i
fost diminuate, minimizate sau uneori chiar eliminate, degradarea nu poate fi
nlturat! Ea poate fi doar controlat i previzionat pentru a se putea aciona n
consecin.
n [67 p. 227,231] se afirm c fenomenele de defectare sunt supuse
principiului creterii entropiei care se manifest n domeniul fiabilitii prin creterea
continu a probabilitii de defectare. n continuare autorii susin c principiul
creterii entropiei nu poate conduce direct la previziuni de utilitate practic, dar
fundamenteaz singurul enun absolut cert al teoriei fiabilitii, inevitabilitatea
defectrii oricrui sistem.
n capitolul urmtor vom arta c cele afirmate n citatul de mai sus nu sunt
adevrate dect n parte. n mod curent, PRINCIPIUL CRETERII ENTROPIEI
POATE CONDUCE DIRECT LA PREVIZIUNI DE MARE UTILITATE PRACTIC n
analiza i optimizarea fiabilitii.

6.2. Soluii propuse pentru evitarea paradoxurilor i
completarea teoriei actuale
6.2.1. Necesitatea i posibilitatea introducerii unor noi caracteristici
numerice pentru evaluarea fiabilitii: viabilitatea, entropia i
riscul
6.2.1.1. Viabilitatea

A fost introdus n anul 2004 n lucrarea [64] n scopul determinrii duratei de
via a sistemelor. Viabilitatea sau funcia de viabilitate, cum poate fi numit prin
analogie cu funcia de fiabilitate, este o funcie de durata de via rmas a unui
sistem. Spre deosebire de funcia de fiabilitate R(t) unde t este un interval de timp (0,
t) sau (t
1
, t
2
) cu 0 < t
1
, t
2
MTTF (sau MTBF), argumentul funciei de viabilitate a fost
notat cu
rmas
= k unde este durata (medie) total de via iar k este durata de
via trecut (realizat). O alt deosebire fa de intervalul t caracteristic funciei de
fiabilitate este aceea c intervalul k nu se msoar, n general, n uniti de timp
calendaristic ci n pai temporali [37] sau CUANTE DE TIMP [64]. Mai multe detalii
asupra acestor noiuni sunt prezentate n 6.2.3.
Funcia de viabilitate (viabilitatea) a fost notat n lucrarea de referin cu
p(
ramas
) iar ulterior autorul a adoptat n cercetrile sale notaia w( k). Din
consideraii legate de entropie (v. subcapitolul 6.2.1.2) expresia analitic adoptat i
care s-a dovedit foarte util n aplicaii este:
e
k
ramas
k w k w p

= = =

1
) ( ) , ( ) ( 6-1


121
n [64] sunt prezentate graficele de variaie pentru diferite valori ale lui
ramas
.
Este remarcat faptul c pentru k = 1 funcia de viabilitate pentru t = m unde
m este durata medie de mplinire a cerinelor date (MTTF, MTBF, etc., dup caz).
Aceast valoare este egal cu inversul numrului lui Euler respectiv
e
1
, valoare
care joac un rol fundamental n TES (teoria entropic a sistemelor)!
6.2.1.2. Entropia

A fost formalizat pn acum n mai mult de 30 de feluri specifice diferitelor
domenii ale tiinei. O caracteristic a acestor formalisme, cu excepia diversitilor,
este cea a duratei de via relativ scurte. Nici unul din formalismele elaborate pn
n anul 1999 pentru entropie nu a reuit s ndeplineasc cerina de a fi guvernatorul
fenomenelor din natur cum a afirmat marele fizician L. Landau, laureat al premiului
Nobel.
Cea mai mare longevitate au avut-o formalismele lui Clausisu (1865),
Boltzmann (1870). Entropia informaional a fost definit n lucrrile lui Fischer
(1925), Hartley (1928) i Schannon & Wiener (1948) conform [72]. i durata de via
a acestora se pare c i-a atins limita ntruct frecvena utilizrii acestora s-a
micorat.
n lucrarea [30] autorul propune un nou formalism matematic pentru entropie:

p p S ln = 6-2

unde S este entropia iar p probabilitatea strii n care se afl sistemul considerat.
Principala deosebire ntre acest formalism i cel al lui Schannon
(

=
i
i i
p p S log ) const n faptul c pentru formalismul p p S ln = autorul
postoleaz, prin definiie, lipsa de aditivitate n sensul c dou entropii nu pot fi
aditive. De altfel este evident faptul c dac un sistem se compune din dou
elemente care au entropiile
1 1
lnp p i
2 2
lnp p , entropia sistemului nu poate fi
2 2 1 1
ln ln p p p p deoarece aceast sum nu se mai poate scrie sub forma p p ln .
Acest lucru era posibil n cazul entropiei lui Boltzmann W k S ln = deoarece
2 1 2 1
ln ln ln W W k W k W k = + rezultnd necesitatea ca n acest caz
2 1
W W W
sistem
= unde k este constanta lui Boltzmann iar W probabilitatea
termodinamic, un numr ntreg pozitiv nerestricionat ca interval de valori, cum
este probabilitatea matematic cuprins ntre zero i unu. Trebuie ns subliniat
faptul c Boltzmann a avut o contribuie de maxim importan n acest domeniu,
postulnd pentru prima dat faptul c entropia trebuie s fie o funcie de
probabilitate! Atunci cnd a propus formalismul W k S ln = trecuser puini ani de
cnd J.C.Maxwell a afirmat c entropia unui sistem este suma entropiilor prilor
sale. Doar c Maxwell se referea probabil la entropia n sensul lui Clausius, care a
fost elaborat cu peste zece ani nainte. Boltzmann nu a avut de ales: care funcie de
probabilitate ndeplinea cerina lui Maxwell? Evident, logaritmul.
Mai trebuie remarcat faptul c toate cele trei entropii (Clausius, Boltzmann i
Schannon) au fost elaborate nainte de a se defini riguros probabilitatea (1933,
Kolmogorov).


122
Au mai trecut aproape 70 de ani pn la apariia formalismului pentru entropia
din relaia ( p p S ln = 6-2) care se pare c satisface
toate cerinele impuse pentru a fi aplicat cu succes n foarte multe domenii pentru
modelarea matematic a evoluiei fenomenelor.
O alt deosebire fa de entropia lui Schannon este baza logaritmului.
Schannon a folosi baza 2 ceea ce limiteaz i complic dezvoltrile matematice.
Utilizarea logaritmului natural conduce la o proprietate matematic care
simplific formulele i calculele: n cazul entropiei maxime valoarea funciei
( p p p f S ln ) ( = = ) este egal cu valoarea argumentului (p), ambele fiind egale cu
intervalul numrului lui Euler
e
1
.
Acest fapt, asociat cu cel remarcat n ultimul paragraf din 6.2.1.1 ofer
posibilitatea elaborrii unui model matematic simplu i foarte eficient pentru
soluionarea multor probleme nerezolvate pn n prezent sau rezolvate
nesatisfctor, ntre care analiza i optimizarea instalaiilor electrice i de
automatizare ocup un loc central.
Se tie c n natur totul este n continu schimbare. Schimbarea nseamn
evoluie. Evoluia n natur are loc ireversibil n sensul creterii entropiei. Orice lucru
are un nceput i un sfrit. Sfritul evoluiei oricrui lucru are loc cnd entropia
ajunge la valoarea maxim.
Acesta este ideea fundamental a modelului evoluiei bazat pe creterea
entropiei.
Prima form a modelului a fost prezentat n comunicarea prof. Al. Stamatiu la
Conferina Facultii de Instalaii Bucureti din luna noiembrie 1999 intitulat
Entropie i fiabilitate.
n anul 2002 folosirea modelului a condus la conceptul de modelare entropic
iar dezvoltrile ulterioare au consacrat, ncepnd cu anul 2004 conceptul de teorie
entropic a sistemelor (TES).
Pentru detalii se pot consulta lucrrile autorului referenia pe pentru perioada
1999 2008.
Esenial pentru aplicaii este modelul denumit graf entropic canonic elaborat i
comunicat n anul 2008 n [65]. Modelul este prezentat n Fig. 6-1

Fig. 6-1. Graful entropic canonic n cazul unui proces

e
) 1 (
1

e 1 2
1
e
1
e
k
e
1

2
1
e
1
1
1
= e e
0 0 0 0 0
1
Pasul 1 2 k k+1 -2 -1
1
e
(k) (1) (0) (-2) (-1)
1


123

6.2.1.3. Riscul

Aa cum am prezentat n capitolul 5.2.4, n prezent riscul este definit prin
funcia de nonfiabilitate.

) ( 1 ) ( t R t F =

i este considerat n filozofia riscului ca risc tehnic.
Unii specialiti sunt de prere c riscul F(t) ar trebui multiplicat cu valoarea
daunelor produse de defectare rezultnd o estimare financiar a riscului. n acest fel
s-ar putea diferenia un risc de defectare a unui aparat electrocasnic de acelai risc,
ca valoare a probabilitii de defectare a unei bariere de cale ferat sau a unei
centrale nucleare.
n scopul optimizrii instalaiilor electrice i de automatizare este suficient
evaluarea riscului calculat cu(5-22).
Cu toate acestea, experiena ne arat c, evalund fiabilitatea prin durata de
via rmas i nu cea realizat, fapt care se pare c constituie adevrata noastr
cerin (!), riscul ar putea fi evaluat prin complementarea funciei de viabilitate. Dac
notm acest risc cu r avem:

e
k
k w k r

= =

1
1 ) ( 1 ) ( 6-3

mai mult dect att, evalund ntr-un numr de cazuri caracteristicile numerice w, s,
F(t) i r(-k) se constat c exist inegalitile:

S k r t F > > ) ( ) ( 6-4

iar diferenele ntre r(-k) i S sunt foarte mici, putem spune chiar neglijabile, cu
excepia ultimilor pai ai evoluiei sistemului.
Un risc mai mic poate nsemna importante ctiguri financiare att pentru
furnizor ct i pentru consumator. La nivelul furnizorului, n cazul instalaiilor electrice
i de automatizare nseamn reducerea costurilor produsului prin evitarea
supradimensionrilor i micorarea redundanei necesare n faza de proiectare ct i
posibilitatea acordrii unei garanii pe o durat mai mare. La nivelul consumatorului
poat s scad preul de achiziie al produsului iar un termen de garanie mai mare
este un alt avantaj important.
innd seama i de faptul c durata de via este determinat strict de
valoarea entropiei maxime consider c aprecierea nivelului de risc prin valoarea
entropiei poate constitui o opiune foarte important.
n orice caz cercetrile in aceast direcie trebuie continuate, o diminuare a
riscului la valoarea entropiei i nu a nonfiabilitii ca n prezent putnd avea i
implicaii favorabile nebnuite n prezent pentru protecia mediului!


124
6.2.2. Un nou punct de vedere asupra structurilor redundante n
instalaiile electrice i de automatizare

Pentru analiz vom considera o structur de tip paralel format din dou
elemente identice din punct de vedere al fiabilitii (v. Fig. 6-2)

Fig. 6-2. Structura de tip paralel cu elemente identice

Pornind de la durata medie de via a fiecrui element m = 5 ani, aceast
valoare corespunznd cu valoarea lui din definiia viabilitii, putem ntocmi Tabelul
6-1 n care vom analiza riscul i entropia pentru fiecare element n parte lund n
considerare cele prezentate n subcapitolul precedent.

Tabelul 6-1. Calculul numrului de pai pentru sistemul
redundant compus din dou elemente identice
ELEMENT SISTEM
k
el
(n - k)
el

w(n-k)
el

= e
(-1/n-k)

S
el
=
- w
el*
lnw
el

w(n-k)
sist

= 2*w
el
-
(w
el
)
2

S
sist
=
- w
sist*
lnw
sist

n
ramas sist
=
-1/lnw
sist
=
(n - k)
sist

k
sist

0 1 2 3 4 5 6 7
0 5 0.81873 0.16375 0.96714 0.03231
1 4 0.77880 0.19470 0.95107 0.04771
2 3 0.71653 0.23884 0.91965 0.07704
3 2 0.60653

0.30327

0.84518 0.14216
4 1 0.36788 0.36788 0.60042

0.30629

1.96 0
5 0 - - 0.35299 0.36757 0.96 1


125
Analiznd rezultatele din coloana 2 i coloana 3 ale tabelului ne indic faptul
c dup patru pai urmeaz pasul de tranziie, ns cazul fiecruia dintre cele dou
elemente considerate separat, nu n cadrul unui sistem. n termenii teoriei actuale a
fiabilitii acest caz corespunde redundanei pasive care nu face obiectul
investigaiei privind optimizarea fiabilitii ci trebuie analizat n cadrul optimizrii
mentenanei.
n cazul redundanei active cele dou elemente constituie mpreun un sistem.
Starea operaional caracterizeaz sistemul i nu fiecare element luat n parte.
Starea de ndeplinire a cerinelor caracterizeaz de asemenea sistemul a crui
cerin este exprimat ca necesitatea de a fi n stare de satisfacere a cerinelor cel
puin unul din cele dou elemente. Probabilitatea sistemului de a se afla n stare de
satisfacere a cerinelor (viabilitatea) este egal dup patru pai cu 0,6004 (n cazul
specific al sistemului analizat), mai mare dect probabilitatea fiecrui element dac
ar fi considerat separat. Entropia corespunztoare acestei probabiliti (ea decide,
legea creterii entropiei este lege fundamental) este 0,30629, mai mic dect
entropia maxim e
-1
. Sistemul i poate continua existena. Ct de mult? Ct i
permite entropia! Conform relaiei:

sistem sistem
w ln / 1 =

rezult

pasi 9 , 1 6004 , 0 ln / 1 =
sistem ramas
.

Entropia dup nc un pas, cnd rmn numai 0,9 pai, este egal cu
0,36757, valoare mai mic dect S
max
. am putea spune c i dup nc un pas
entropia permite continuarea existenei n stare de satisfacere a cerinelor. Dar,
rezultatul din coloana 4 ne interzice acest lucru deoarece viabilitatea sistemului a
sczut de la 0,6004 la 0,35299 < e
-1
. curba de variaie entropiei funcie de viabilitate
ne arat c aceast scdere a probabilitii nu se poate face dect prin trecerea prin
valoarea
e
1
cnd entropia ajunge la valoarea maxim.
Concluzia este c dup cei 4 pai (n timp element) pasul care urmeaz se
divide de fapt n doi pai , unul n stare de satisfacere a cerinelor (pn la S
max
) i
urmtorul de tranziie de stare!
Rezult, n pai element, o durat de via a sistemului de 4 + 1 = 5 pai plus
pasul de tranziie, cu un pas mai mult dect ar fi fcut fiecare element n parte.
Acest lucru rezult i din Fig. 6-3 n care am reprezentat grafic variaia funciei
de viabilitate i a entropiei att pentru un element ct i pentru ntreg sistemul
redundant funcie de numrul de pai rmai.


126

Fig. 6-3. Graficul caracteristicilor unui sistem redundant compus din doua elemente identice

Explicaia fizic poate fi faptul c n cazul redundanei active solicitrile fizice
la care e supus fiecare element sunt mai reduse dect dac fiecare element ar fi
considerat separat.
Se mai pot pune ntrebri asupra nivelului reducerii acestor solicitri i asupra
dimensiunii unui pas al sistemului raportat la un pas al elementului. Rspunsurile
0
.
0
0
0
0
0
0
.
2
0
0
0
0
0
.
4
0
0
0
0
0
.
6
0
0
0
0
0
.
8
0
0
0
0
1
.
0
0
0
0
0
1
.
2
0
0
0
0
5
4
3
2
1
0
N
u
m
a
r
u
l

d
e

p
a
s
i

r
a
m
a
s
i
w ( nnn n - k ) , S
V
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

e
l
e
m
e
n
t
E
n
t
r
o
p
i
e

e
l
e
m
e
n
t
V
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

s
i
s
t
e
m
E
n
t
r
o
p
i
e

s
i
s
t
e
m
V
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

e
l
e
m
e
n
t
E
n
t
r
o
p
i
e

e
l
e
m
e
n
t
V
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

s
i
s
t
e
m
E
n
t
r
o
p
i
e

s
i
s
t
e
m


127
sunt evident legate de fiecare caz n parte i pentru a fi gsite este necesar s
apelm la principiile i rezultatele fizicii cuantice!
n fizica cuantic probabilitatea ca un sistem s se afle ntr-o anumit stare
este o caracteristic a energiei sistemului.
n fizica cuantic energie i durata de via sunt mrimi complementare, la fel
ca spaiu i viteza conform principiului de incertitudine (Heisenberg, 1927).
n [69] autorul precizeaz c trstura definitorie care difereniaz modul de a
raiona CLASIC de cel CUANTIC este PRINCIPIUL DE INCERTITUDINE.
n concluziile lucrrii [65] n care, dup cele cunoscute de mine, s-a introdus
pentru prima dat conceptul de CUANT de TIMP, definit i utilizat n graful
entropic canonic, se afirm c teoria entropic a sistemelor este o teorie acord c u
principiile teoriei relativitii n sensul c nu folosete noiunea de timp absolut, cu un
timp propriu pentru fiecare proces, format din cuante determinate de schimbri. Mai
mult, evoluia procesului nu este legat de nici un sistem de referin.
Este o teorie n acord i cu principiile teoriei cuantice nu numai prin
introducerea i a cuantei de timp ci i n ce privete principiul incertitudinii al lui
Heisenberg
Se mai pot pune eventual sub semnul ntrebrii cele prezentate aici datorit
faptului c teoria cuantic este considerat deseori ca o teorie specific fenomenelor
care au loc n ceea ce numim domeniul macroscopic. n concluziile prezentate n [37]
autorul afirm c cele prezentate pot fi aplicate att n domeniul macroscopic ct i
n cel microscopic.
innd seama de aceste consideraii rspunsul la cele dou ntrebri de mai
sus poate face obiectul dezvoltrii unor cercetri n aceast direcie.

6.2.3. Despre cuanta de timp. Aplicaii n evaluarea fiabilitii

n [37] autorul afirm c este natural i esenial s se pun ntrebarea ct
este de mare un pas temporal? Rspunsul poate fi surprinztor: ct dorim noi s fie
de mare!
Denumirea de pas temporal a fost aleas de autor dup sugestia
matematicianului american Martin Gutzwiller care afirm, fr alte detalii, c: se pare
c modelarea fenomenelor naturale se poate face numai n pai temporali, cel puin
n ceea ce privete punctul de vedere Lagrange asupra naturii (Gutzwiller,C.M
Chaos in Classical nd Quantum Mechanics, New York, Inc., 1990).
n lucrarea [63] autorul nlocuiete noiunea de pas temporal cu cea de
CUNAT DE TIMP artnd c nu este vorba de o discretizare a timpului aa cum se
procedeaz n diferitele modele matematice cu timp discret sau n teoriile mai
recente n care s-a introdus unitatea de timp numit cronos sau timp Planck, de
dimensiune foarte mic. n TES trebuie folosit cuantificarea timpului n uniti
naturale sau conforme cu cerinele problemei sau fenomenului studiat. Ele pot fi
diferite i n cadrul aceluiai fenomen. Mai mult dect att, n sistemele redundante
(organismul uman poate fi cel mai semnificativ exemplu) CUANTELE DE TIMP SE
SUCCED CU NECESITATE. Ele, pe lng faptul c DIFER CA DIMENSIUNE DE
LA UN ELEMENT (sau subsistem) LA ALTUL, SE POT SUPRAPUNE. Acest fapt
este esenial.


128
In [64] cuanta de timp a fost definit ca interval ntre dou schimbri. ntruct
afirmaia autorului din [63] referitoare la mrimea pasului temporal (ct dorim noi s
fie de mare) autorul a ales mrimea unei cuante de timp egal cu unu! Acest fapt a
permis realizarea modelului matematic numit grafic entropic canonic prezentat n
subcapitolul 6.2.1.2.

6.3. Optimizarea unor soluii privind instalaiile electrice i de
automatizare

6.3.1. Optimizarea unei structuri de tip serie

Pentru schema din Fig. 6-4 se cere s se analizeze posibilitatea creterii
duratei de via i scderii riscului de defectare a alimentrii motorului

Fig. 6-4. Circuit de alimentare motor electric

Componentele sistemului sunt: B bar, S separator, I ntreruptor, C
cablu, M motor electric, pentru care cunoatem:

B
=
1
= 0,0330610
-8
s
-1

B
=
1
= 165610
-8
s
-1

S
=
2
= 0,0083410
-8
s
-1

S
=
2
= 153810
-8
s
-1

I
=
3
= 0,0433410
-8
s
-1

I
=
3
= 155210
-8
s
-1

C
=
4
= 0,35510
-8
s
-1
/km
C
=
4
= 10310
-8
s
-1
/km

Lungimea traseului de cablu se consider egal cu 1km.

Soluie:
Cu relaia
=
=
4
1
1
i
i
m
din teoria actual rezult m = 63.168 ore = 7,2ani.

Aceast valoare corespunde cu valoarea lui din definiia viabilitii respectiv
e
k
k w
) / 1 (
) , (

=

dac alegem pasul ani 1 , 0 = , putem astfel ntocmi 9-1 (v. Anexe) i
graficul din Fig. 6-5
B
M
C
I
S


129

Fig. 6-5. Graficul caracteristicilor unei structuri de tip serie

0
.
0
0
0
0
0
0
.
2
0
0
0
0
0
.
4
0
0
0
0
0
.
6
0
0
0
0
0
.
8
0
0
0
0
1
.
0
0
0
0
0
1
.
2
0
0
0
0
7
.
2
6
.
9
6
.
6
6
.
3
6
5
.
7
5
.
4
5
.
1
4
.
8
4
.
5
4
.
2
3
.
9
3
.
6
3
.
3
3
2
.
7
2
.
4
2
.
1
1
.
8
1
.
5
1
.
2
0
.
9
0
.
6
0
.
3
N
u
m
a
r
u
l

d
e

p
a
s
i

r
a
m
a
s
R ( t ) , w ( nnn n - k ) , r ( t ) , S
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
a
f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
a
e
n
t
r
o
p
i
a

v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
i
i
e
n
t
r
o
p
i
a

f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
i
i
r
i
s
c

f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
r
i
s
c

v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
a
f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
a
e
n
t
r
o
p
i
a

f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
i
i
e
n
t
r
o
p
i
a

v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
i
i
r
i
s
c

v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
r
i
s
c

f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e


130
Din analiza tabelului 9-1 (v. Anexe) i graficului din Fig. 6-5 se constat c
riscul calculat cu funcia de viabilitate este cu 27% pn la 38% mai mic dect cel
calculat cu metodologia actual, cu excepia primilor douzeci de pai (0,1ani/pas, n
cazul nostru) n care metodologia actual presupune o probabilitate iniial egal cu
unu ceea ce nu poate fi luat n considerare. n modelarea matematic modern
(procese stohastice finite) dintr-o stare cu probabilitate unu nu se mai poate iei, nu
se mai poate evolua.
nainte de ultimul pas riscurile calculate prin cele dou metode devin egale n
acest caz .
O alt constatare ne ofer compararea valorilor din coloanele 5 i 7 ale
tabelului 9-1 (v. Anexe). Se observ c riscul crete cu creterea entropiei astfel
nct chiar entropia poate fi considerat un indicator de risc, n mod deosebit pentru
valori mici ale entropiei.
n cele ce urmeaz, datele oferite de 9-1 (v. Anexe) sunt concludente i n
ceea ce privete posibilitatea renunrii la analiza paralel a riscului oferit de
metodologia actual i cel oferit de funcia de viabilitate astfel nct o vom folosi
numai pe cea din urm.
Aceste observaii i constatri, dei foarte interesante i importante nu conduc
n totalitate la rezolvarea problemei optimizrii schemei din Fig. 6-4
Scopul nostru este s gsim soluia optim, respectiv cea mai bun fiabilitate
cu cele mai mici costuri.
Funcie de destinaia instalaiei trebuie determinat durata de via necesar.
9-1 (v. Anexe) ne ofer riscul pentru diferite durate de via, limitate la valoarea
maxim de 7,2ani. Soluia cea mai bun este cea n care duratele de via ale tuturor
elementelor instalaiei sunt aproximativ egale (!) i egale la rndul lor cu durata de
via cerut de client.
Exist dou cazuri posibile:
a) durata de via calculat este inferioar duratei cerute
b) durata de via calculat este superioar duratei cerute
n cazul a) conform metodologiilor actuale se apeleaz la:
a1. nlocuirea elementelor de fiabilitate necorespunztoare cu elemente
cu fiabilitate mai bun
a2. asigurarea unor elemente redundante pentru elementele cu durat
de via necorespunztoare
a3. prevederea n programele de mentenan a nlocuirii elementelor cu
durat de via necorespunztoare dup o durat de utilizare la care
riscul multiplicat cu pierderile financiare impune msura necesar.
Una din noutile pe care ni le ofer prezenta lucrare este aceea c soluia de
la punctul a2 nu este satisfctoare pentru creterea duratei de via. Acest fapt va
rezulta din calculele prezentate n exemplele din 6.3.2 i 6.3.3.
n cazul b), problema este rezolvat fiind necesar eventual n plus o analiz
de risc.


131
6.3.2. Optimizarea unei structuri de tip paralel

Elementul component al instalaiei din Fig. 6-4 cu cea mai mic durat de via
este cablul C care are cea mai mare rat de defectare
C
=
4
= 0,35510
-8
s
-1
.
Aplicnd relaia
2
2
2
+
= m durata de via rezult egal cu 8,93 ani (n cazul
repartiiei exponeniale a timpului de funcionare fr defectare).
n consecin vom analiza n continuare cum anume se modific durata de
via a acestei componente n cazul n care montm nc un cablu n paralel cu cel
existent, identic din punct de vedere al fiabilitii cu cel existent (v. Fig. 6-6)

Fig. 6-6. Asigurarea redundanei elementului cu cea mai mic durat de via

n cazul aplicrii metodologiei actuale rezult o cretere a duratei de via la
13,4 ani prin asigurarea acestei redundane.
Procednd ca n exemplul anterior ntocmim Tabelul 9-2 (v. Anexe) i graficul
din Fig. 6-7

B
M
C
1
I
S
C
2


132

Fig. 6-7. Graficul caracteristicilor unei structuri de tip paralel

0
.
0
0
0
0
0
0
.
2
0
0
0
0
0
.
4
0
0
0
0
0
.
6
0
0
0
0
0
.
8
0
0
0
0
1
.
0
0
0
0
0
1
.
2
0
0
0
08
.
9
3
8
.
6
3
8
.
3
3
8
.
0
3
7
.
7
3
7
.
4
3
7
.
1
3
6
.
8
3
6
.
5
3
6
.
2
3
5
.
9
3
5
.
6
3
5
.
3
3
5
.
0
3
4
.
7
3
4
.
4
3
4
.
1
3
3
.
8
3
3
.
5
3
3
.
2
3
2
.
9
3
2
.
6
3
2
.
3
3
2
.
0
3
1
.
7
3
1
.
4
3
1
.
1
3
1
.
9
1
.
6
1
.
3
1
.
0
N
u
m
a
r

d
e

p
a
s
i

r
a
m
a
s
i
w ( nnn n - k ) , r ( t ) , S
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
1

v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

2
r
i
s
c

1
r
i
s
c

2
e
n
t
r
o
p
i
e

1
e
n
t
r
o
p
i
e

2
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

1

c
a
b
l
u
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

2

c
a
b
l
u
r
i
r
i
s
c

1

c
a
b
l
u
r
i
s
c

2

c
a
b
l
u
r
i
e
n
t
r
o
p
i
e

1

c
a
b
l
u
e
n
t
r
o
p
i
e

2

c
a
b
l
u
r
i


133
Analiznd datele din Tabelul 9-2 (v. Anexe) i graficul din Fig. 6-7 se constat
c riscul calculat ca funcie de viabilitate este mai mic n acest caz cu de la
aproximativ 9,5 ori pentru cablurile noi pn la 1,5 ori nainte de sfritul duratei de
viat. Reducerea raportului dintre riscul de defectare al unui cablu raportat la riscul
de defectare a sistemului de dou cabluri scade de la cca. 9,5 cu cte aproximativ o
unitate pn la cca. 1,5 naintea ultimului pas (1pas = 0,1ani n exemplul nostru) pe
care l-ar avea de fcut un singur cablu.
n acest caz, fa de cazul elementelor serie, calculul funciei de viabilitate din
coloana 2 se face pe baza relaiei

2
) ) ( ( ) ( 2 ) (
element element paralel
k w k w k w =

pn n momentul n care unul din elementele sistemului atinge durata de via foarte
apropiat de durata maxim. n acest moment are loc tranziia din starea de
satisfacere a cerinelor n stare de nesatisfacere a cerinelor, pentru un singur
element (cablu). Sistemul i continu funcionarea, dar viabilitatea sistemului nu mai
poate fi determinat funcie de viabilitatea elementelor, i de aceea n continuare se
calculeaz numrul de pai rmas, pornind de la viabilitatea sistemului n momentul
declanrii tranziiei (egal cu 0,61405), pasi 21 =
ramas
. Pornind de la acest numr
de pai se calculeaz viabilitatea sistemului pn n momentul tranziiei, la fel ca n
situaia precedent.
i n acest caz, compararea valorilor din coloanele 5 i 7 conduce la concluzia
c ENTROPIA POATE FI UTILIZAT I CA INDICATOR DE RISC!
Durata de via a sistemului compus din dou cabluri n paralel, aa cum era
de ateptat, conform teoremelor stabilite anterior, conform i cu intuiia i experiena
noastr i contrar rezultatelor oferite de teoria actual a fiabilitii sistemelor, sunt
foarte puin diferite (cu o diferen de 11 pai n favoarea sistemului redundant, ceea
ce nseamn 1,1ani). Avantajul, foarte important, al redundanei const n
REDUCEREA RISCULUI DE DEFECTARE i nu n creterea duratei de via!

6.3.3. Optimizarea redundanei totale. Cazul unei duble alimentri cu
energie electric

Acest tip de redundan se ncadreaz la fel ca i redundana prevzut
pentru elementul cu cea mai mare nonfiabilitate din paragraful precedent, n
categoria a2 a msurilor de cretere a fiabilitii. Acest caz trebuie tratat datorit
importanei sale n proiectarea instalaiilor electrice i frecvenei cu care este ntlnit
n practic. Este cazul cunoscut n ingineria electric sub denumirea de dubl
alimentare.
Schema electric se ntlnete sub forma din Fig. 6-8.


134

Fig. 6-8. Alimentarea dubl pentru un motor electric

n exemplul din capitolul 6.3.1am calculat datele pentru un circuit, astfel nct
avem doar de adugat datele pentru ansamblul celor dou circuite care i acest caz
se ncadreaz n tipul paralel.
Datele sunt prezentate n Tabelul 9-3 (v. Anexe), iar n Fig. 6-9 am reprezentat
grafic caracteristicile alimentrii duble ce asigur o redundan total circuitului din
Fig. 6-4.

B
1
M
C
1
I
1
S
1
B
2
C
2
I
2
S
2


135

Fig. 6-9. Graficul caracteristicilor unei structuri cu redundan total

0
.
0
0
0
0
0
0
.
2
0
0
0
0
0
.
4
0
0
0
0
0
.
6
0
0
0
0
0
.
8
0
0
0
0
1
.
0
0
0
0
0
1
.
2
0
0
0
0
7
.
2
6
.
9
6
.
6
6
.
3
6
5
.
7
5
.
4
5
.
1
4
.
8
4
.
5
4
.
2
3
.
9
3
.
6
3
.
3
3
2
.
7
2
.
4
2
.
1
1
.
8
1
.
5
1
.
2
1
.
8
6
1
.
5
6
1
.
2
6
0
.
9
6
0
.
6
6
0
.
3
6
N
u
m
a
r

d
e

p
a
s
i

r
a
m
a
s
i
w ( nnn n - k ) , r ( t ) , S
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

a
l
i
m
e
n
t
a
r
e

s
i
m
p
l
a
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

a
l
i
m
e
n
t
a
r
e

d
u
b
l
a
r
i
s
c

a
l
i
m
e
n
t
a
r
e

d
u
b
l
a
r
i
s
c

a
l
i
m
e
n
t
a
r
e

s
i
m
p
l
a
e
n
t
r
o
p
i
e

a
l
i
m
e
n
t
a
r
e

s
i
m
p
l
a
e
n
t
r
o
p
i
e

a
l
i
m
e
n
t
a
r
e

d
u
b
l
a
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

a
l
i
m
.

s
i
m
p
l
a
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

a
l
i
m
.

d
u
b
l
a
r
i
s
c

a
l
i
m
.

s
i
m
p
l
a
r
i
s
c

a
l
i
m
.

d
u
b
l
a
e
n
t
r
o
p
i
e

a
l
i
m
.

d
u
b
l
a
e
n
t
r
o
p
i
e

a
l
i
m
.

s
i
m
p
l
a


136
Din graficul de mai sus i din Tabelul 9-3 (v. Anexe) se constat c riscul
calculat cu funcia de viabilitate este mult mai mic i n acest caz pe ntreaga durat
de via, de la de peste 7 ori la nceputul funcionrii pn la de 1,7 ori spre sfritul
duratei de via.
i n acest caz rezult c avantajul redundanei const n REDUCEREA
RISCULUI i nu n creterea duratei de via.
Un aspect foarte important al calculelor prezentate n Tabelul 9-3 este cel
referitor la valoarea viabilitii (col 3) pentru structura paralel dup ce structura serie
i-a epuizat durata. Astfel, n pasul 62 (col. 1) are loc tranziia din strile de
satisfacere a cerinelor n starea de nesatisfacere a cerinelor, datorit degradrii,
pentru alimentarea simpl (prin divizarea pasului 62 n doi pai limitai de entropia
maxim). O consecin asupra calculelor este faptul c viabilitatea din coloana 3 nu
mai poate fi determinat funcie de viabilitatea din coloana 2 deoarece aceasta nu
mai exist! Pentru a calcula ce se ntmpl n continuare cu alimentarea dubl
aceasta trebuie tratat ca o alimentare simpl: pornind de la viabilitatea egal cu
0,60042 se determin numrul de pai rmas pasi 96 , 1 60042 , 0 ln / 1 = =
ramas
i se
calculeaz situaia dup fiecare pas pn la tranziie, la fel ca n calculele precedente
pentru un singur element.
Ca i n cazul precedent, durata de via a sistemului cu dubl alimentare fa
de durata de via sistemului de alimentare simpl crete cu un numr de 11 pai
ceea ce nseamn o cretere de 1,1 ani.

6.3.4. Optimizarea unei instalaii electrice de tip n = 3, = 1

Acest tip de sistem face parte din categoria sistemelor redundante pentru care
avem un numr de 3 elemente din care 1 este necesar a fi n funcionare pentru
asigurarea cerinelor de funcionare. Acest sistem se ntlnete n cazul alimentrilor
cu energie electric a instalaiilor electrice i de automatizare vitale.
Schema logic de fiabilitate pentru acest caz este prezentat n Fig. 6-10

Fig. 6-10. Schema logic de fiabilitate pentru o instalaie de tipul n = 3, = 1

n continuare vom analiza cazul n care toate elementele sunt identice din
punct de vedere al fiabilitii i au durata medie de funcionare a fiecrui element
egal cu m = 5 ani. Pentru determinarea duratei de via n utiliznd metodologia
actual, se aplic formula
element sistem
m m =
=
6
11
6
11
i rezult o durat de via a

sistemului de 9,16 ani.


137
Pornind de la aceste date de intrare, i de la faptul c un pas este 0,1 ani, am
ntocmit Tabelul 9-4 (v. Anexe) i graficul din Fig. 6-11, n care am analizat care este
evoluia sistemului utiliznd metodologia de calcul propus n capitolul 6.2.1

Fig. 6-11. Graficul caracteristicilor unei instalaii electrice de tip n = 3, = 1

0
.
0
0
0
0
0
0
.
2
0
0
0
0
0
.
4
0
0
0
0
0
.
6
0
0
0
0
0
.
8
0
0
0
0
1
.
0
0
0
0
0
1
.
2
0
0
0
0
5
4
.
7
4
.
4
4
.
1
3
.
8
3
.
5
3
.
2
2
.
9
2
.
6
2
.
3
2
1
.
7
1
.
4
1
.
1
3
.
2
2
.
9
2
.
6
2
.
3
2
.
0
1
.
7
1
.
4
1
.
1
0
.
8
0
.
5
N
u
m
a
r

d
e

p
a
s
i

r
a
m
a
s
i
w ( nnn n - k ) , S
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

1

e
l
e
m
e
n
t
e
n
t
r
o
p
i
e

1

e
l
e
m
e
n
t
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

s
i
s
t
e
m
e
n
t
r
o
p
i
e

s
i
s
t
e
m
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

1

e
l
e
m
e
n
t
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

s
i
s
t
e
m
e
n
t
r
o
p
i
e

s
i
s
t
e
m
e
n
t
r
o
p
i
e

1

e
l
e
m
e
n
t


138
Din analiza graficului din Fig. 6-11i a tabelului Tabelul 9-4 (v. Anexe), se
observ c dac utilizm ca indicator de risc entropia, aceasta este mult mai redus
n cazul aplicrii acestei redundane dect pentru cazul unui singur element, ceea ce
confirm faptul c redundana este o msur ce reduce foarte mult RISCUL.
Aa cum am vzut n exemplele precedente n care am analizat sisteme
redundante, i n acest caz, evoluia sistemului analizat prin funcia de viabilitate se
calculeaz cu relaia
3 2
) ( ) ( 3 ) ( 3 ) (
element element element sistem
k w k w k w k w + =
pn n momentul apariie tranziie, adic pn la pasul 40 ceea ce corespunde unei
durate de via de 4 ani, pentru un element. n momentul tranziiei, entropia unui
singur element atingnd valoarea maxim de 0,36788, elementul trece din starea de
ndeplinire a cerinelor funcionale n starea de nendeplinire a cerinelor funcionale.
Din acest pas, funcionarea sistemului continu, nc 24 de pai numai c formula de
calcul a viabilitii va lua n considerare numrul de pai rmai (coloana 6) i nu cei
parcuri pn n prezent. Astfel c formula de calcul pentru funcia de viabilitate va fi
e
sistem
k
sistem
k w
) /( 1
) (

=

. (v. coloana 4). Se constat c dup parcurgerea celor 24
de pai sistemul atinge entropia maxim i nceteaz asigurarea cerinei funcionale.
Utiliznd metodologia propus, se constat o durat de via a sistemului de
aproximativ 6,4 ani, fat de 9,16 ani rezultai din teoria actual.

6.3.5. Optimizarea unei instalaii electrice de distribuie de tipul n = 3,
= 2

Un alt exemplu de sistem redundant este cel format dintr-un numr de 3
elemente din care 2 trebuie s fie n stare de funcionare pentru ndeplinirea
cerinelor de funcionare.
Plecnd de la acest lucru vom analiza n continuare un post de transformare
format din 3 transformatoare identice din punct de vedere al fiabilitii din care sunt
suficiente s funcioneze doar 2. n acest caz, schema logic de fiabilitate este cea
fin Fig. 6-12

Fig. 6-12. Schema logic de fiabilitate pentru un post de transformare de tip n = 3, = 2

tiind c toate cele trei transformatoare sunt identice din punct de vedere al
fiabilitii i fiecare are durata medie de funcionare egal cu m = 5 ani.
Utiliznd metodologia de calcul propus n lucrare putem calcula viabilitatea
sistemului, entropia sistemului i riscul sistemului.
TR1
TR2
TR3


139
n Tabelul 9-5 (v. Anexe) i graficul din Fig. 6-13, am analizat care este evoluia
sistemului fat de cea a unui singur element utiliznd metodologia de calcul propus
n capitolul 6.2.1.

Fig. 6-13. Graficul caracteristicilor unui post de transformare
cu transformatoare identice de tip n = 3, = 1
0
.
0
0
0
0
0
0
.
1
0
0
0
0
0
.
2
0
0
0
0
0
.
3
0
0
0
0
0
.
4
0
0
0
0
0
.
5
0
0
0
0
0
.
6
0
0
0
0
0
.
7
0
0
0
0
0
.
8
0
0
0
0
0
.
9
0
0
0
0
1
.
0
0
0
0
0
5
4
.
8
4
.
6
4
.
4
4
.
2
4
3
.
8
3
.
6
3
.
4
3
.
2
3
2
.
8
2
.
6
2
.
4
2
.
2
2
1
.
8
1
.
6
1
.
4
1
.
2
1
N
u
m
a
r

d
e

p
a
s
i

r
a
m
a
s
i
w ( nnn n - k ) , S , r ( t )
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

1

e
l
e
m
e
n
t
e
n
t
r
o
p
i
e

1

e
l
e
m
e
n
t
r
i
s
c

1

e
l
e
m
e
n
t
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

s
i
s
t
e
m
e
n
t
r
o
p
i
e

s
i
s
t
e
m
r
i
s
c

s
i
s
t
e
m
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

1

e
l
e
m
e
n
t
e
n
t
r
o
p
i
e

1

e
l
e
m
e
n
t
r
i
s
c

1

e
l
e
m
e
n
t
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e

s
i
s
t
e
m
e
n
t
r
o
p
i
e

s
i
s
t
e
m
r
i
s
c

s
i
s
t
e
m


140
Aa cum am vzut n exemplele precedente n care am analizat sisteme
redundante, i n acest caz, evoluia sistemului, analizat prin funcia de viabilitate,
se calculeaz cu relaia
3 2
) ( 2 ) ( 3 ) (
element element sistem
k w k w k w = , iar pentru
evoluia unui singur element cu relaia
e
k
el
k w

=

/ 1
) ( .
Analiznd graficul din Fig. 6-13 i a tabelului Tabelul 9-5 (v. Anexe), se observ
c funcia de viabilitate a sistemului este mai mare dect funcia de viabilitate a unui
singur element, iar riscul n cazul sistemului este mai mic dect riscul unui singur
element. Se mai poate observa, c n acest caz, entropia maxim se atinge aproape
n acelai timp att pentru un singur element ct i pentru ntreg sistemul, instalaia
parcurgnd 4+1 pai, dup care nceteaz capacitatea de asigurare a cerinei
funcionale.
i n acest caz se observ c redundana sistemului are ca scop reducerea
riscului de defectare a instalaiei, cu consecine economice importante.

6.3.6. Optimizarea schemei de automatizare pentru pornirea stea-
triunghi a unui motor trifazat

O alt aplicaie interesant este optimizarea unei instalaii de automatizare
pentru pornire stea-triunghi a unui motor electric trifazat.
n de mai jos este prezentat schema desfurat pentru pornirea stea-
triunghi a unui motor electric trifazat.

k2 k2
k1
k3
dt
o
p
k2
e4
e5
M
e1..e3
e4
k1=kL
k3=k
k2=kY
1
2
3
N
PE
K2 Dt K1
K3
k1


141
Fig. 6-14. Schema desfurat electric pentru pornirea stea-triunghi a unui motor trifazat

n continuare voi analiza caracteristicile acestui sistem plecnd de duratele de
via ale elementelor componente:

- bobinele contactoarelor m
K1
= m
K2
= m
K3
= 10 * 10
6
cicluri
- contactele contactoarelor m
k1
= m
k2
= m
k3
= 3 * 10
6
cicluri
- butoanele cu revenire (ON/OFF) m
O
m
P
= 2 * 10
6
cicluri
- bobinele contactoarelor m
K1
= m
K2
= m
K3
= 3 * 10
6
cicluri
- bobina releului de timp m
Dt
= 1 * 10
8
cicluri
- contactele releului de timp m
dt
= 3 * 10
6
cicluri
Duratele de via ale elementelor componente din schema de automatizare
sunt preluate din cataloagele firmei Schneider Electric Romnia [78] ,[79] i [80].
Pentru aplicarea metodei actuale pentru determinarea duratei de via a
instalaiei de automatizare pentru pornirea stea-triunghi a unui motor electric trifazat,
este necesar ntocmirea schemei logice de fiabilitate(v. Fig.6-15)

Fig.6-15 . Schema logic de fiabilitate pentru schema de automatizare din Fig. 6-14

O observaie ce trebuie fcut este legat de faptul c n calculul duratei de
via a schemei de automatizare au fost luate n considerare numai elementele ce
compun strict partea de automatizare a acesteia i nu elementele ce protejeaz
schema, ele putnd fi analizate separat pentru un alt scop (o alt cerin funcional).
De aceea n schema logic de fiabilitate nu sunt incluse sigurana fuzibil e5 i
contactul normal nchis al releului termic e4.
Utiliznd relaia
=
=
13
1
1
i
i
m
din teoria actual rezult c durata medie de via a

schemei de automatizare este m = 293272,332 cicluri.
Dac considerm un numr de 20 cicluri/zi, durata medie de funcionare va fi:
m = 14663,616 zile = 40,17 ani. Aa cum am vzut i din exemplele precedente,
aceast valoare corespunde cu valoarea lui din definiia viabilitii. Dac alegem
pasul an 1 = , putem ntocmi i graficul din Fig. 6-16

P O K1 K2 K3 k1 k1
k2 k2 k2 k3 Dt dt


142

Fig. 6-16. Graficul caracteristicilor schemei de automatizare
a pornirii stea-triunghi a unui motor electric trifazat
0
.
0
0
0
0
0
0
.
2
0
0
0
0
0
.
4
0
0
0
0
0
.
6
0
0
0
0
0
.
8
0
0
0
0
1
.
0
0
0
0
0
1
.
2
0
0
0
04
0
.
1
7
3
8
.
2
3
6
.
1
7
3
4
.
1
7
3
2
.
1
7
3
0
.
1
7
2
8
.
1
7
2
6
.
1
7
2
4
.
1
7
2
2
.
1
7
2
0
.
1
7
1
8
.
1
7
1
6
.
1
7
1
4
.
1
7
1
2
.
1
7
1
0
.
1
7
8
.
1
7
6
.
1
7
4
.
1
7
2
.
1
7
0
.
1
7
N
u
m
a
r

d
e

p
a
s
i

r
a
m
a
s
i
R ( t ) , w ( nnn n - k ) , r ( t ) , S
f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
a
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
a
r
i
s
c

f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
r
i
s
c

v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
e
n
t
r
o
p
i
e

f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
e
n
t
r
o
p
i
e

v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
a
v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
a
r
i
s
c

f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
e
n
t
r
o
p
i
e

f
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
r
i
s
c

v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
e
n
t
r
o
p
i
e

v
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e


143
Din analiza tabelului Tabelul 9-6 (v. Anexe) i graficului din Fig. 6-16 se
constat c riscul calculat cu funcia de viabilitate este cu 4% pn la 40% mai mic
dect cel calculat cu metodologia actual, cu excepia primilor doi pai (1an/pas, n
cazul nostru) n care metodologia actual presupune o probabilitate iniial egal cu
unu ceea ce nu poate fi luat n considerare. n modelarea matematic modern
(procese stohastice finite) dintr-o stare cu probabilitate unu nu se mai poate iei, nu
se mai poate evolua.
nainte de ultimul pas riscul calculat cu metoda propus n lucrare crete
foarte mult, comparativ cu riscul calculat prin metodologia actual.
O alt constatare ne ofer compararea curbelor de variaie a riscului calculat
cu funcia de fiabilitate i curba entropiei calculat tot cu funcia de viabilitate (vezi i
coloanele 5 i 7 din Tabelul 9-6 (v. Anexe)). Se observ c riscul crete cu creterea
entropiei, diferenele fiind mici, aproape neglijabile, astfel nct entropia poate fi
considerat un indicator de risc.
Unul din scopurile noastre este s gsim soluia optim, respectiv cea mai
bun fiabilitate cu cele mai mici costuri. Aa cum am afirmat n exemplul din
subcapitolul 6.3.1, soluia cea mai bun este ca duratele de via ale elementelor
componente ale instalaiei s fie aproximativ egale i egale la rndul lor cu durata de
via cerut de client. n exemplul prezentat, este ndeplinit cerina ca duratele de
via a elementelor componente s fie aproximativ egale, rmnnd ca aceasta s
fie egal i cu durata de via cerut de client.
Acest exemplu vine n sprijinul susinerii propunerii ca entropia, calculat cu
funcia de viabilitate, s poat fi considerat ca indicator de risc.

6.4. Creterea fiabilitii instalaiilor prin rezervare

Rezervarea se ntlnete foarte des n natur, plantele i animalele fiind un
exemplu n acest sens prin aceea c la defectarea, ncetarea din via, a unui numr
relativ mare de celule vii, activitatea vital continu s se desfoare. Se poate
spune c durata medie de via a organismului viu este mai mare dect durata medie
de via a celulelor separate din care este constituit, iar acest fapt se poate obine,
numai prin rezervare. Aspectele rezervrii n natur sunt insuficient studiate n
prezent. Se poate aprecia c aprofundarea acestor probleme va oferii noi soluii
pentru rezolvarea calitativ superioar a unor probleme tehnice complexe.
n cazul instalaiilor i in special n cazul instalaiilor electrice i de
automatizare cu scheme logice de fiabilitate de tipul paralel existent un nivel de
rezervare ce rezult imediat din schema electric dac se precizeaz condiiile
necesare pentru asigurarea strii de funcionare a instalaiei electrice. n cazul
instalaiilor electrice i de automatizare mai complexe, a cror schem logic de
fiabilitate nu este i nici nu se poate reduce la o schem cu structuri numai de tipul
serie sau paralel, dei existena rezervrii este uneori evident, nivelul de rezervare
este mai dificil de determinat, fiind necesar s se analizeze toate strile posibile ale
instalaiei electrice sau, n cazurile n care condiiile specifice ale problemei permit, s
se utilizeze procedeul grupurilor de defectare. n astfel de cazuri schema logic de
fiabilitate are o rezervare intrinsec al crui nivel trebuie determinat i care este de
obicei diferit funcie de punctul din schem i de modul n care se definete cerina
funcionala a instalaiei electrice.
Rezervarea unei instalaii electrice i de automatizare poate fi total sau


144
pariala. Un exemplu clasic n acest sens l constituie dou transformatoare electrice
de for, fiecare putnd asigura 100% puterea solicitata de consumatori. Dac aceste
transformatoare sunt racordate la aceeai sursa de energie electric, avem de a face
cu o rezervare pariala (numai a transformatoarelor) iar dac sunt racordate la surse
de alimentare diferite, rezervarea instalaiei de alimentare cu energie electrica a
consumatorilor este total.
n Fig. 6-17 este reprezentat o schem logic de fiabilitate cu rezervare
total, iar n Fig. 6-18 este reprezentat o schem logic de fiabilitate cu rezervare
parial.

Fig. 6-17. Schema logic de fiabilitate cu rezervare total

Fig. 6-18. Schema logic de fiabilitate cu rezervare parial

O form aparte de rezervare este rezervarea autonom care const n
prevederea unor instalaii independente pentru realizarea unei funcii specificate.
Rezervarea autonom se utilizeaz n cazurile n care realizarea unei anumite
funciuni de ctre o instalaie electric are o importan deosebit de mare( msurarea
i controlul unor parametrii n centrala nuclear). n acest caz se prevd mai multe
instalaii de msurare complet separate pentru aceiai parametrii, fiecare instalaie
avnd traductoare, nregistratoare i surse de alimentare proprii, toate instalaiile fiind
permanent n funciune.
n Fig. 6-19 a), b) i c) i n Fig. 6-20 sunt reprezentate pentru comparaie
diferite variante posibile de scheme logice de fiabilitate cu rezervare total sau
parial.

a)
1 2 n
n 2 1
1 2 3 4
4 2
1 2 m
n
2
1


145

b)

c)

Fig. 6-19. Scheme logice de fiabilitate cu rezervare total

Fig. 6-20. Schem logic de fiabilitate cu rezervare parial

n cazul funcionarii fr restabilire, funcia de fiabilitate R
s
(t) a schemei din
Fig. 6-19 se poate exprima n funcie de fiabilitate elementelor componente cu
ajutorul relaiei:

n
m
i
i s
t R t R
(
=

=1
) ( 1 1 ) ( 6-5
1
2
b a = m - b
b
a
b
a


146
Pentru cazul n = 2 avem:
2
1
) ( 1 1 ) (
(
=

=
m
i
i s
t R t R 6-6

n mod analog, pentru schema din Fig. 6-19.a) se obine funcia de fiabilitate:

2
b
1 j
2
j
a
1 i
i s
} )] t ( R [ 1 { ) t ( R 1 1 1 ) t ( R
=

= =
6-7

Pentru schema din Fig. 6-19.c) funcia de fiabilitate are forma:

= =
)
(
(
=
a
i
b
j
j i s
) t ( R ) t ( R ) t ( R
1
2
1
1 1 6-8

In cazul n care elementele din schem se supun funcie exponeniale atunci
relaiile (6-5), (6-7) i (6-8) devin:

2
1
1 1
|
|
|
\
|

=
=

m
i
i
t
s
e ) t ( R 6-9

( )
2
1
2
1 1 1 1
1
|
|
|
\
|
(
=

=

=
b
j
t
t
s
j
m
i
i
e e ) t ( R 6-10

(
(
(
|
|
|
\
|

=
= =

2
1 1
1 1
b
j
j
m
i
i
t
t
s
e e ) t ( R 6-11

Pentru schema din Fig. 6-20 funcia de fiabilitate este:

|
|
|
\
|
(
(
=

= =
2
1 1
1 1 1 1
b
j
j
a
i
i s
) t ( R ) t ( R ) t ( R 6-12

iar pentru elementele cu fiabilitate exponenial

(
(
(
|
|
|
\
|

=
= =

2
1 1
1 1 1 1
b
j
j
a
i
i
t
t
s
e e ) t ( R 6-13


147

Se observ c valorare funciei de fiabilitate din relaia (6-11) este mai mic
dect cea din relaia (6-10) dar mai mare dect cea corespunztoare schemelor din
figurile Fig. 6-19.a) i Fig. 6-20.
Din analiza funciilor de fiabilitate rezult c schema din Fig. 6-19.b)
realizeaz cea mai mare creterea de fiabilitate cu cheltuieli minime.
Valorare funciei de fiabilitate din relaia (6-13) este mai mic dect cea din
relaia (6-10) dar mai mare dect cea din relaia (6-9).
Pentru instalaii electrice care funcioneaz cu restabilire este foarte util s se
analizeze fiabilitatea instalaiei electrice, lundu-se n considerare trei tipuri distincte
de rezervare cunoscute n literatura de specialitate sub denumirea de rezervare
activ, semiactiv i pasiv.
Rezerva activa este cea care se afla n aceleai condiii de funcionare, de
solicitare, ca i elementul rezervat. Rezerva activ preia n timp neglijabil funcia
elementului de baz (exemplu: anclanarea automat a rezervei AAR). Aceasta se
justific pentru situaii n care sunt exigene mari n ceea ce privete sigurana n
funcionare.
Rezerva semiactiv este supus la solicitri mai reduse dect elementul
rezervat, se afl n aa zise condiii de lucru uurate. Exemple clasice de rezervare
semiactiv sunt cazurile In care o pomp este pregtit pentru preluarea funciei n
cazul n care elementul de baz se avariaz, pornirea unui grup generator Diesel
pentru meninerea n funciune a serviciilor interne n cazul n care alimentarea
acestora de la sursa de baz este compromis datorit unor stri de avarie. n aceste
condiii, intensitatea de defectare a elementului n rezerv este mai mic dect
intensitatea sa de defectare n condiii normale de exploatare. Dac n cazul rezervei
active intensitatea de defectarea a elementului de rezerv este , n cazul rezervei
semiactive < . Acest avantaj al acestui tip de rezervare este diminuat uneori de
dezavantajul datorat duratei relativ mari de comutare a rezervei.
Rezerva pasiv constituie o rezerv nepregtit pentru intrarea n funciune
imediat n mod operativ. n cazul rezervei pasive se considera = 0. Tranziia de la
starea de ateptare la starea operant necesit un interval de timp pn la realizarea
parametrilor regimului nominal, uneori chiar de ordinul orelor.
Un exemplu n acest sens poate fi pornirea unui cazan de ap fierbinte pentru
furnizarea energiei termice n reeaua de termoficare.
Stri posibile ale unei instalaii compus din dou elemente din care unul este
rezerva semiactiv a celuilalt sunt descrise n Tabelul 6-2

Tabelul 6-2
Elementul
Starea
1 2 Starea sistemului
1 F R
sa
F
2 F D F
3 D F F
4 D D D
5 R
sa
F F


148
unde F reprezint starea de funcionare;
D starea de defect;
R
sa
starea de rezerv semiactiv.
Evident, mulimile strilor de funcionare i de defect ale sistemului vor fi:

F = {1,2,3,5}
D = {4}

Considernd elementele identice cu intensitatea de defectare n starea de
funcionare i n starea de rezerv semiactiv i intensitatea de restabilire ,
rezult graful intensitilor de tranziie prezentat n Fig. 6-21.

Fig. 6-21. Graful intensitilor de tranziie

Aplicnd procedeul de modelare a funcionrii instalaiilor prin procese
stohastice de tip Markov prezentat n capitolul 3.3.5.1, rezult sistemul:

=
=
=
n
i
i
ij i
p
q p
1
1
0

n acest caz
1
0
0 0
0 2 0
0 0
0 0
0 0
5 4 3 2 1
5 4 3 2 1
= + + + +
=
+

+
+
+
p p p p p
) ' ( '
) (
) (
' ) ' (
p p p p p

1
3
2
4
5


149
sau
1
0
0 2
0
0
0
5 4 3 2 1
5 3
4 3 2
5 4 3 1
5 4 2 1
2 1
= + + + +
= +
= +
= + + +
= + + +
= + +
p p p p p
p ) ' ( p
p p p
p ' p p ) ( p
p p p ) ( p '
p p ) ' (

Alegnd patru din primele cinci i a asea ecuaie (pentru compatibilitate) se
gsete:

2
4
2 2 + + +
+
=
) )( ' (
) ' (
p

si rezulta disponibilitatea sistemului

2
4
2 2
2
1 1
+ + +
+ +
= = = =

) )( ' (
) ' (
p p p A
R l
l
F k
k
6-14

respectiv numrul mediu de defectri conform [1]

t ) p p ( t ) p p p (0p
t ) p q p q p q p q ( t p q ) t (
1
F k D l
k kl
5 2 5 3 2
5 54 3 34 2 24 1 14
0 + = + + + =
= + + + = =

Din sistemul de ecuaii de mai sus se gsete c:

4 3 2
2
p p p
= +

rezult

t
) )( ' (
) ' (
) t (
2
2 2
2
+ + +
+
= 6-15

n consecin se pot determina parametrii echivaleni ai sistemului format,
astfel:

+ +
+
=
=
'
) ' (
At
) t (
e
6-16

=
= 2
1
1
1
A
A
A
e e
e
6-17


150

Trebuie remarcat faptul c:
pentru < se obine cazul rezervei active, iar relaia (6-16) devine:

+
=
2
2
2
e
6-18

pentru = 0 se obine cazul rezervei pasive i relaia (6-16) devine:

+
=
2
e
6-19

Se constata ca pentru
e
nu are importan felul de rezervare (
e
nu depinde
de ) ceea ce era de ateptat.
Dintre cele trei tipuri de rezervare, cei mai buni indicatori de fiabilitate, conform
relaiilor de mai sus, se obin n cazul rezervei pasive, urmat de rezerva semiactiv
i activ. Aceast concluzie este ns valabil numai n cazul n care durata de
intrare n funciune a rezervei pasive sau semiactive poate fi neglijat ca influen
asupra indicatorilor de fiabilitate, respectiv asupra daunelor produse la consumatori
prin nonfiabilitate. n cazurile n care durata de intrare n funciune a rezervei nu
poate fi neglijat, trebuie determinat durata medie total de manevre prin nmulirea
numrului mediu de ntreruperi n urma manevrelor cu durata medie a unei manevre.
Numrul mediu de ntreruperi n urma manevrelor se poate determina la fel ca
numrul mediu de ntreruperi urmate de restabilire prin reparare sau nlocuire, (t),
prin nsumare, n acest caz, a produselor dintre probabilitile absolute ale strilor din
care se face trecerea, n starea n care se revine prin manevr cu instalaiile de
tranziie corespunztoare. n acest fel se poate stabili pentru fiecare caz n parte,
care tip de rezervare este mai avantajos.

6.5. Optimizarea sistemelor complexe. Comparaie ntre
metodele aproximative simplificate i metodele clasice de
calcul al fiabilitii

Instalaiile moderne reprezint ansambluri de elemente funcionale
interconectate cu o multitudine de legturi care conduc la caracterizarea acestor
instalaii prin niveluri ridicate de complexitate.
Referindu-ne la fiabilitatea instalaiilor n general, nc din faza de cercetare
proiectare, indicatorii de fiabilitate fac obiectul unor analize n scopul optimizrii
soluiilor. Fiabilitatea unei instalaii moderne nregistreaz valori ridicate datorit, pe
de o parte, fiabilitii mari a modulelor constituente ale instalaiei i pe de alt parte
realizrii unor scheme tehnologice cu structuri fiabilistice adecvate.
Calculul probabilitii de funcionare a acestor instalaii necesit de regul
rezolvarea unui numr mare de ecuaii, ceea ce se poate dovedi uneori incomod
chiar i pentru calculatoarele electronice. De aceea, pentru reducerea timpului de
calcul se folosesc deseori metode aproximative simplificate [27], [1], [12].


151
n cele ce urmeaz ne vom referi la metode aproximative simplificate pentru
determinarea funciei de fiabilitate pentru instalaii complexe, datorit rezultatelor
interesante pe care acestea le ofer, comparativ cu metoda clasic a soluiei
generale.
n scopul simplificrii i clarificrii ideilor voi considera dou exemple.
Primul exemplu este cel al uneia din cele mai simple i cunoscute structuri
pentru o instalaie tehnologic complex, structura de tip punte a crei schem logic
de fiabilitate este prezentat n Fig. 6-22.

Fig. 6-22 Schema logic de fiabilitate de tip punte

Pentru simplitatea analizei, se consider c elementele ce alctuiesc schema
logic de fiabilitate au aceeai probabilitate de funcionare fr defectare, altfel spus
sunt identice din punct de vedere al fiabilitii.
Metoda soluiei generale (SG1) pentru analiza fiabilitii instalaiilor fr
restabilire, presupune descrierea tuturor strilor posibile prin care poate trece
sistemul, innd seama de strile de funcionare sau de defect a elementelor
componente ale instalaiei. Funcia de fiabilitate a sistemului rezult prin nsumarea
probabilitilor strilor de funcionare din mulimea strilor posibile [1].
Astfel n Tabelul 6-3 se poate vedea analiza strii sistemului n funcie de
starea fiecrui element n parte.
Tabelul 6-3
Elementul

Starea
1 2 3 4 5
Starea
sistemului
Probabilitatea
strii
0 F F F F F F R
1
R
2
R
3
R
4
R
5

1 D F F F F F Q
1
R
2
R
3
R
4
R
5

2 F D F F F F R
1
Q
2
R
3
R
4
R
5

3 F F D F F F R
1
R
2
Q
3
R
4
R
5

4 F F F D F F R
1
R
2
R
3
Q
4
R
5

5 F F F F D F R
1
R
2
R
3
R
4
Q
5

6 D D F F F D Q
1
Q
2
R
3
R
4
R
5

7 D F D F F F Q
1
R
2
Q
3
R
4
R
5

8 D F F D F F Q
1
R
2
R
3
Q
4
R
5

1
2
3
4
5


152
Elementul

Starea
1 2 3 4 5
Starea
sistemului
Probabilitatea
strii
9 D F F F D F Q
1
R
2
R
3
R
4
Q
5

10 F D D F F F R
1
Q
2
Q
3
R
4
R
5

11 F D F D F F R
1
Q
2
R
3
Q
4
R
5

12 F D F F D F R
1
Q
2
R
3
R
4
Q
5

13 F F D D F F R
1
R
2
Q
3
Q
4
R
5

14 F F D F D F R
1
R
2
Q
3
R
4
Q
5

15 F F F D D D R
1
R
2
R
3
Q
4
Q
5

16 D D D F F D Q
1
Q
2
Q
3
R
4
R
5

17 D D F D F D Q
1
Q
2
R
3
Q
4
R
5

18 D D F F D D Q
1
Q
2
R
3
R
4
Q
5

19 D F D D F F Q
1
R
2
Q
3
Q
4
R
5

20 D F D F D D Q
1
R
2
Q
3
R
4
Q
5

21 D F F D D D Q
1
R
2
R
3
Q
4
Q
5

22 F D D D F D R
1
Q
2
Q
3
Q
4
R
5

23 F D D F D F R
1
Q
2
Q
3
R
4
Q
5

24 F D F D D D R
1
Q
2
R
3
Q
4
Q
5

25 F F D D D D R
1
R
2
Q
3
Q
4
Q
5

26 D D D D F D Q
1
Q
2
Q
3
Q
4
R
5

27 D D D F D D Q
1
Q
2
Q
3
R
4
Q
5

28 D D F D D D Q
1
Q
2
R
3
Q
4
Q
5

29 D F D D D D Q
1
R
2
Q
3
Q
4
Q
5

30 F D D D D D R
1
Q
2
Q
3
Q
4
Q
5

31 D D D D D D Q
1
Q
2
Q
3
Q
4
Q
5

Conform relaiei:

=
F k
k e
P t R
) (
) (
funcia de fiabilitate a instalaiei este:

) ( 2 ) ( 5 ) ( 2 ) ( 2 ) (
5 4 3 2
1
t R t R t R t R t R
SG e
+ + = 6-20


153
Este cunoscut c metoda grupurilor de defectare (GD) este un procedeu
specific pentru analiza fiabilitii instalaiilor complexe. Eficiena acestui procedeu
const n aplicarea unei ipoteze simplificatoare conform creia se pot neglija
probabilitile ca ntr-un interval de timp mic, dar finit, s fie n stare de defect mai
mult de dou elemente ale schemei.
Aplicarea acestui procedeu de calcul presupune ntocmirea matricei grupurilor
de defectare aa cum este prezentat n Tabelul 6-4 i ntocmirea schemei
echivalente de calcul prezentat n Fig. 6-23.

Tabelul 6-4
1 2 3 4 5
1 X
2
3
4 X
5

Fig. 6-23. Schema echivalent de calcul aferent schemei din Fig. 6-22

Aplicarea relaiilor pentru determinarea funciei de fiabilitate a instalaiei aa
cum este artat n [29], conduce la funcia de fiabilitate a instalaiei de forma:

) ( ) ( 4 ) ( 4 ) (
4 3 2
t R t R t R t R
GD e
+ = 6-21

Metoda drumurilor extremale (DE) presupune analiza schemei logice de
fiabilitate a instalaiei i determinarea traseelor minime ale acestei scheme.
Aplicnd aceast metod, drumurile extremale aferente schemei logice de
fiabilitate din Fig. 6-22 sunt:
d
1
: 1 4;
d
2
: 1 3 5;
d
3
: 2 5;
d
4
: 2 3 4.
1
2
4
5


154
Conform [27], aplicarea acestei metode conduce la urmtoarea form a
funciei de fiabilitate a instalaiei:

) ( 2 ) ( 5 ) ( 2 ) ( 2 ) (
5 4 3 2
t R t R t R t R t R
DE e
+ + = 6-22

Metoda alternativ la metoda soluiei generale, care a fost elaborat de ctre
colectivul de Fiabilitate al Catedrei de Electrotehnic din cadrul UTCB sub
conducerea dl. prof. univ. dr. ing. Alexandru STAMATIU. Aceast metod o voi numi
metoda simplificat a soluie generale sau soluia general 2 (SG2).
Metoda a fost obinut prin aplicarea ipotezei neglijrii probabilitii ca la un
moment dat s fie n stare de defect mai mult de dou elemente ale schemei [42].
Este o metod care reduce numrul de stri care trebuie luate n considerare
n analiza de fiabilitate, reducerea fiind cu att mai mare cu ct numrul elementelor
relevante ale instalaiei este mai mare. Astfel, dac pentru un sistem compus din 5
elemente reducerea numrului de stri care trebuie analizate este de 50%(aa cum
se poate observa din Tabelul 6-3, pentru un sistem compus din 7 elemente
reducerea este de 77%, pentru un sistem compus din 8 elemente reducerea este de
85% iar pentru 10 elemente reducerea este de 94% .a.m.d. ceea ce constituie un
avantaj considerabil.
Relaia de calcul pentru exemplul considerat aplicnd acest procedeu este:

) ( 8 ) ( 11 ) ( 4 ) (
3 4 5
2
t R t R t R t R
SG e
+ = 6-23

Obinerea celor patru relaii de calcul a funciei de fiabilitate a instalaiei prin
cele patru metode diferite de calcul presupune clarificarea urmtoarelor aspecte:
- Cunoscnd faptul c metoda soluiei generale (SG1) este considerat ca
metoda exact, rezultatele oferite de celelalte metode pot fi utilizate n
calculele de proiectare i optimizare a instalaiilor?
- Dac rspunsul la ntrebarea de mai sus este afirmativ trebuie precizate
condiiile (restriciile) n care poate fi utilizat fiecare metod aproximativ.
- Pe baza experienei i a clarificrii celor de mai sus este util i necesar s se
elaboreze unele recomandri cu referire la cazurile n care este mai eficient
folosirea uneia sau alteia dintre cele patru metode.
n acest scop am ntocmit Tabelul 9-7 (v. Anexe) n care sunt prezentate
valorile funciei de fiabilitate echivalent, obinut conform relaiilor (6-20), (6-21), (6-
22) i (6-23) corespunztor celor patru metode, pentru valori ale variabilei
independente R(t) cuprinse n intervalul [0,8; 0,999]. n ultima coloan sunt
prezentate valorile erorii relative de aproximaie n % ntre valorile obinute prin
metoda grupurilor de defectare fa de metoda exact a soluiei generale. Se
observ c aceste erori sunt neglijabile n calculele ingineriei fiabilitii instalaiilor,
fiind practic nule pentru fiabilitatea elementelor componente mai mare dect 0,99,
sub 0,2% pentru domeniul [0,9; 0,99] ajungnd la 1,1236% pentru fiabilitatea
elementelor componente egal cu 0,8, valoare mult sub cele uzuale.
n detaliu aceste aspecte sunt reflectate n figurile Fig. 9-1, Fig.9-2 i Fig.9-3 n
care sunt reprezentate grafic funciile de fiabilitate echivalente pentru cele patru
metode i trei intervale de valori [0,8; 0,9], [0,9; 0,99] i [0,99; 0,999].


155
n Fig. 9-4 este prezentat graficul variaiei erorii relative de aproximare n cazul
determinrii funciei echivalente de fiabilitate pentru structura din Fig. 6-22 prin
procedeul grupurilor de defectare. Nu am considerat necesar s analizez acest
aspect i pentru soluia oferit de metoda SG2 deoarece n acest caz este evident c
SG2 ofer o aproximare pesimist fa de SG1 n toate cazurile, iar nivelul erorii
rezult din graficele din figurile Fig. 9-1, Fig.9-2 i Fig.9-3.
Un alt exemplu este cel al unei scheme de alimentare cu energie electric a
unui consumator, schem cu o structur de asemenea complex, este prezentat n
Fig. 6-24.

Fig. 6-24. Schema tehnologic de alimentare cu energie electric a unui consumator

Ca i n exemplul precedent, vom aplica cele patru metode de calcul pentru
determinarea funciei de fiabilitate a instalaiei, iar pentru simplificarea analizei voi
considera c elementele sunt identice din punct de vedere al fiabilitii.
Aplicnd metoda soluiei generale (SG1),analiznd toate strile posibile prin
care trece sistemul, conform celor artate n [29], funcia de fiabilitate a instalaiei
este:

5 3
1
) ( ) ( 2 ) ( t R t R t R
SG e
= 6-24

Metoda grupurilor de defectare (GD), presupune simplificarea schemei
tehnologice cu ajutorul relaiilor de echivalen dup care prin ntocmirea matricei
grupurilor de defectare se poate alctui schema logic de fiabilitate. n urma
transfigurrilor care pot simplifica si mai mult aceast schem logic de fiabilitate i
aplicnd formulele de calcul prezentate n [1] i [28], rezult funcia de fiabilitate de
forma:

5 3
) ( ) ( 2 ) ( t R t R t R
GD e
= 6-25

M
C
1

1

S
3
S
2

S
1

B
2

B
1

S
4

1


156
Pentru a utiliza metoda drumurilor extremale (DE), trebuie alctuit schema
logic de fiabilitate (v. Fig. 6-25.) identic din punct de vedere al interconexiunilor
elementelor componente cu cea funcional din Fig. 6-24.

Fig. 6-25.Schema logic de fiabilitate aferent metodei drumurilor extremale

Se analizeaz drumurile extremale i astfel rezult:

d
1
: B
1
S
2
1;
d
2
: B
2
S
3
1.

Aa cum este artat n [29], funcia de fiabilitate a instalaiei este:

5 3
) ( ) ( 2 ) ( t R t R t R
DE e
= 6-26

Aplicarea metodei soluiei generale simplificate (SG2) conduce la analiza a
numai 22 de stri posibile a instalaiei din totalul de 64 de stri aa cum au trebuit
analizate n cazul metodei soluiei generale (SG1). Se poate constata ore ducere a
volumului de calcul considerabil n cazul acestei metode.
Pentru exemplificare n continuare am prezentat n Tabelul 6-5 analiza strilor
sistemului n funcie de starea elementelor.

Tabelul 6-5
Elementul
Starea
B
1
B
2
S
1
S
2
S
3
1
Starea
sistemului
Probabilitatea
strii
0 F F F F F F F R
1
R
2
R
3
R
4
R
5
R
6

1 D F F F F F F Q
1
R
2
R
3
R
4
R
5
R
6

2 F D F F F F F R
1
Q
2
R
3
R
4
R
5
R
6

3 F F D F F F F R
1
R
2
Q
3
R
4
R
5
R
6

4 F F F D F F F R
1
R
2
R
3
Q
4
R
5
R
6

5 F F F F D F F R
1
R
2
R
3
R
4
Q
5
R
6

6 F F F F F D D R
1
R
2
R
3
R
4
R
5
Q
6

7 D D F F F F D Q
1
Q
2
R
3
R
4
R
5
R
6

8 D F D F F F F Q
1
R
2
Q
3
R
4
R
5
R
6

B
2
S
1
S
3

B
1
1
S
2


157
Elementul
Starea
B
1
B
2
S
1
S
2
S
3
1
Starea
sistemului
Probabilitatea
strii
9 D F F D F F F Q
1
R
2
R
3
Q
4
R
5
R
6

10 D F F F D F D Q
1
R
2
R
3
R
4
Q
5
R
6

11 D F F F F D D Q
1
R
2
R
3
R
4
R
5
Q
6

12 F D D F F F F R
1
Q
2
Q
3
R
4
R
5
R
6

13 F D F D F F D R
1
Q
2
R
3
Q
4
R
5
R
6

14 F D F F D F F R
1
Q
2
R
3
R
4
Q
5
R
6

15 F D F F F D D R
1
Q
2
R
3
R
4
R
5
Q
6

16 F F D D F F F R
1
R
2
Q
3
Q
4
R
5
R
6

17 F F D F D F F R
1
R
2
Q
3
R
4
Q
5
R
6

18 F F D F F D D R
1
R
2
Q
3
R
4
R
5
Q
6

19 F F F D D F D R
1
R
2
R
3
Q
4
Q
5
R
6

20 F F F D F D D R
1
R
2
R
3
Q
4
R
5
Q
6

21 F F F F D D D R
1
R
2
R
3
R
4
Q
5
Q
6

tiind c funcia de fiabilitate a sistemului rezult prin nsumarea
probabilitilor strilor de funcionare din mulimea strilor posibile, rezult c:

4 5 6
2
) ( 6 ) ( 7 ) ( 2 ) ( t R t R t R t R
SG e
+ = 6-27

Datorit faptului c trei metode folosite n analiza instalaiei din Fig. 6-24 au
avut ca rezultat aceeai expresie a funciei de fiabilitate, n Tabelul 9-8 (v. Anexe)
sunt prezentate valorile funciei de fiabilitate echivalent obinute prin metoda soluiei
generale (SG1) i metoda soluiei generale simplificate (SG2), pentru valori ale
variabilei independente R(t) cuprinse n acelai interval [0,8; 0,999] ca i n exemplul
anterior. n ultima coloan a tabelului am prezentat valorile erorii relative de
aproximative ntre cele dou metode de calcul.
Similitudinea formulelor determinate prin metoda soluiei generale, metoda
grupurilor de defectare i metoda drumurilor extremale, permit ca eroarea relativ de
aproximare fa de metoda soluiei generale simplificat, prezentat n Tabelul 9-8 ,
s fie aceeai n cazul analizei acestei metode cu celelalte dou.
Aceste aspecte sunt reflectate i n graficele din figurile Fig. 9-5, Fig. 9-6 i Fig.
9-7 n care sunt reprezentate grafic funciile de fiabilitate echivalente pentru cele dou
metode de calcul i trei intervale de valori [0,8; 0,9]; [0,9; 0,99] i [0,99; 0,999].
n Fig. 9-8 este prezentat graficul variaiei erorii relative de aproximare n cazul
determinrii funciei echivalente de fiabilitate pentru structura din Fig. 6-24 prin
metoda exact a soluiei generale i prin metoda simplificat a soluiei generale.


158
6.6. Optimizarea sistemelor utiliznd metoda multiplicatorilor
Lagrange

Este un caz particular important i de foarte mare utilitate n problemele de
optimizare din ingineria sistemelor al metodei generale de determinare a maximelor
sau minimelor funciilor de mai multe variabile. Se refera la valorile maxime sau
minime ale unei funcii supuse la legturi.

Fie
) ,..., , (
2 1 n
x x x f y =
6-28

o funcie de n variabile care sunt legate intre ele prin una sau mai multe relaii de
forma:

0 ) ,..., , (
0 ) ,..., , (
0 ) ,..., , (
2 1
2 1 2
2 1 1
=
=
=
n p
n
n
x x x
x x x
x x x
M
6-29

astfel nct daca ecuaiile (6-29) ar fi rezolvate n funcie de n-p dintre variabile, y ar fi
o funcie de numai n-p variabile independente, de exemplu x
p+1
, x
p+2
,, x
p+n
.
Se pot determina valorile maxime i minime ale lui y fr a rezolva sistemul (6-
29).
Teoria completa a acestei probleme este prezentata n [55, pp . 312 321].
Se demonstreaz ca soluia problemei se poate obine relative simplu
determinnd valorile maxime sau minime ale funciei auxiliare.

=
+ =
p
k
n k k n n
x x x x x x f x x x F
1
2 1 2 1 2 1
) ,..., , ( ) ,..., , ( ) ,..., , ( 6-30
prin anularea diferenialei totale.
) ,..., , (
2 1 n
x x x F este o funcie de n variabile independente iar
1
,
2
, ,
3
, sunt
parametrii introdui de noi, numii multiplicatorii lui Lagrange.
Se obin n ecuaii:

= =
) ,... 2 , 1 ( 0 n i
x x
f
x
F
i
k
k
i i
6-31

care mpreuna cu ecuaiile (
0 ) ,..., , (
0 ) ,..., , (
0 ) ,..., , (
2 1
2 1 2
2 1 1
=
=
=
n p
n
n
x x x
x x x
x x x
M

6-29) de legtura formeaz un sistem de n+p ecuaii cu n+p necunoscute,
respectiv valorile lui x
1
, x
2
, , x
n
corespunztoare maximului sau minimului funciei y
i valorile parametrilor
1
,
2
, ,
p.


159

Exemplu
Sa se gseasc maximul funciei
=
=
n
i
i i
p p H
1
2
log cu condiia
=
=
n
i
i
p
1
1
Fie

= =
+ =
n
i
n
i
i i i
p p p F
1 1
2
log
Derivnd pe F n raport cu p
1
, p
2
, , p
n
i anulnd derivatele obinem sistemul
de ecuaii
) ,..., 2 , 1 ( , 0 log log
2 2
n i e p
i
= = + +
sau
) ,..., 2 , 1 ( , log log
2
n i e p
i
= =
ceea ce ne arata ca extremele (aici maximele) corespund la p
i
egale intre ele.
ntruct
=
=
n
i
i
p
1
1 rezult
n
p p p
n
1
...
2 1
= = = =

si entropia maxima a sistemului va fi

n H
2 max
log =

adic entropia maxima a sistemului cu un numr finit de stri este egala cu logaritmul
numrul de stri i corespund unor stri echiprobabile.

7. CONCLUZII

160

7. CONCLUZII

Principala concluzie care rezult din teza de doctorat este faptul c principalul
obiectiv exprimat explicit n capitolul 2 al lucrrii o nou abordare a problemei
evalurii duratei de funcionare a fost realizat. Aceast afirmaie este confirmat n
special de consideraiile i soluiile teoretice din capitolele 6.1 si 6.2 i de contribuiile
la optimizarea unor soluii privind instalaiile electrice i de automatizare cuprinse n
capitolul 6.3.
Principalul obiectiv al lucrrii se pare c a fost chiar depit ntruct
introducerea noului formalism matematic pentru exprimarea riscului, bazat pe funcia
de viabilitate n locul funciei de fiabilitate, prin implicaiile sale economice, conduce la
o nou abordare teoretic (i practic) a nsi problemei fiabilitii sistemelor i nu
numai a duratei de funcionare. Durata de funcionare, pentru care n lucrare s-a
propus denumirea de durat de via, dup modelul din fizic, este doar una din
caracteristicile fiabilitii, chiar dac este cea mai important. Fa de cerinele
actuale ale pieei, caracteristica de risc a ctigat foarte mult ca importan n
ultimele dou decenii.
n prezenta tez de doctorat se folosesc pentru prima dat n aplicaii noile
concepte de cuant de timp i viabilitate elaborate i publicate n anul 2004 i
modelul matematic numit graf entropic canonic elaborat i publicat n anul 2008. Cu
ajutorul acestora s-au evoluat durata de via i riscul n aplicaiile din capitolul 6.3 i
s-a confirmat faptul c principiul creterii entropiei poate conduce direct la previziuni
de mare utilitate practic.
Noua abordare a problemei fiabilitii a condus la nlturarea paradoxurilor
care rezult n conformitate cu teoria actual, prezente n capitolul 6.1. Rezultatele
oferite de noua abordare sunt n acord perfect att cu datele experimentale ct i cu
modul nostru de gndire n ceea ce privete sistemele redundante.
Noua abordare nlocuiete evenimentul defectare, piesa de baz a teoriei
actuale cu evenimentul degradare. Se poate obiecta faptul c degradarea este un
proces i nu un eveniment. Prima parte a acestei afirmaii este adevrat. n
modelele bazate pe cuantificarea (nu discretizarea!) timpului procesul de degradare

7. CONCLUZII

161
nu mai este continuu, ci compus dintr-un sir de evenimente, de degradri
succesive.
Noua abordare a condus, ca rezultat al cercetrii realizate n scopul elaborrii
tezei de doctorat i nu ca un obiectiv prestabilit, i la o noua filozofie a riscului. Riscul
tehnic, legat ca formalism matematic de funcia de fiabilitate a unui sistem, a fost
nlocuit cu un nou formalism n care pur si simplu funcia de fiabilitate a fost nlocuit
cu funcia de viabilitate. Au rezultat valori ale riscului mult mai reduse pe durata
evoluiei sistemului, indiferent de structura sa, cu excepia valorilor iniiale.
Comparnd n reprezentrile grafice oferite de programul de calculator, elaborat in
acest scop, curbele de risc i variaia entropiei, s-a constatat c exist aproape o
coinciden pentru prima parte a duratei de via ntre riscul calculat cu ajutorul
viabilitii i entropie. Cu ct sistemul parcurge o durat mai mare din durata sa total
de via, entropia este depita din ce n ce mai mult ca valoare de valorile riscului.
Acest aspect, repetat n cazul fiecrei structuri de sistem analizat, conduce la
posibilitatea formulrii ipotezei exprimrii matematice a riscului prin entropie. Din
punct de vedere fizic aceasta ipoteza este mai plauzibila dect cea folosita n
formalizarea actual a riscului tehnic ca funcie de nonfiabilitate datorita faptului ca
entropia este asociat cu dezordinea, dezorganizarea, degradarea, noiuni care pot fi
mai apropiate de cauza riscului dect nonfiabilitatea. Se propune pentru acest
formalism matematic prin care riscul coincide cu entropia, denumirea de risc
entropic. Este o ipotez de lucru care nu trebuie neglijat n cercetrile viitoare.
O nou teorie, o nou abordare a unei probleme, orict de solid ar fi suportul
pe care este construit, nu poate fi adoptat fr a se rspunde la o ntrebare
natural: ce se ntmpl cu vechea sau actuala teorie (a fiabilitii instalaiilor
electrice i de automatizare n cazul nostru)? Rspunsul este n acest caz simplu i
clar: teoria actual trebuie modificat n prile sale care conduc la rezultate
paradoxale sau chiar absurde. Pornind de la definiia fiabilitii care rmne evident
neschimbat (altfel ar fi vorba de teorii care se refer la lucruri diferite) trebuie
modificate acele caracteristici de fiabilitate i acele modele matematice care sunt
sursa neajunsurilor prezentate n capitolul 6.1. de fapt trebuie renunat la
continuitatea timpului! Acest lucru se poate face relativ simplu prin nlocuirea
derivatelor n raport cu timpul cu diferene finite. Este cazul definiiei ratei de
defectare. Noiunea de intensitate de defectare i pierde semnificaia. Funcia de

7. CONCLUZII

162
fiabilitate se poate scrie i pentru timp discontinuu i, dup caz, poate fi nlocuit cu
funcia de viabilitate. Durata medie de funcionare se nlocuiete cu durata de via
care nu se mai poate determina ca integral n raport cu timpul de la zero la infinit a
funciei de fiabilitate .a.m.d. Noiunea de infinit trebuie de asemenea evitat. Toate
aceste modificri pot constitui subiectul unei alte teze de doctorat!
Din actuala tez de doctorat se desprind i alte aspecte de mare importan
care pot face obiectul unor cercetri tiinifice viitoare:
- aplicaiile prezentate n capitolul 6 necesit date de intrare n modelul
entropic sub forma unui vector al probabilitilor iniiale. Cum se pot
determina aceste probabiliti? O surs foarte bun o constituie actualele
bnci de date pentru rata de defectare. n unele cazuri probabilitile se pot
determina i direct, pe baza datelor statistice existente pentru diferite
mrimi fizice. Problema poate fi aprofundat.
- Corespondena ntre cuantele de timp i unitile de timp calendaristic
trebuie analizat pornind de la exemple cunoscute rezolvate prin cele dou
metode. Din rezultatele obinute in tez i prezentate n anexe se pare c
ar putea exista un grad de nederminare n aceast coresponden,
determinat de mrimea cuantei de timp.
- ntr-o tez de doctorat precedent, n acelai domeniu al fiabilitii,
prezentat n cadrul Catedrei de Electrotehnic n anul 2003, a fost tratat
problema variaiei ratei de defectare echivalente i a funciei de fiabilitate
pentru o schem complex, pe durate mari de timp. Nu s-a putut determina
durata medie de funcionare. Problema poate fi reluat i rezolvat
- Problemele de fiabilitate, de durat de via, apar pretutindeni. Metodele
de determinare a duratei de via i a riscului prezentate i validate de
prezenta tez de doctorat i pot gsi aplicaii imediate n multe alte
domenii dintre care nu trebuie omise instalaiile energetice, instalaiile
termice, instalaiile de alimentare cu ap, fizica, termodinamica la echilibru,
electrotehnica, biologia, seismologia, protecia i conservarea mediului .a.
Toate aceste deschideri spre noi investigaii se pot aduga la obiectivele
propuse i realizate n aceast lucrare.

8. SINTEZA PRINCIPALELOR CONTRIBUII ORIGINALE

163


Am efectuat o selecie a metodelor i modelelor matematice utilizate n
optimizarea instalaiilor electrice i de automatizare
Dintre metodele de optimizare mult folosite n trecut pentru optimizarea
instalaiilor electrice i de automatizare unele trebuie abandonate ntruct nu i-au
mai gsit aplicaii suficiente n practica actual cum sunt de exemplu programarea
matematic, att liniar ct i cea neliniar, dinamic sau discret, metoda iteraiilor
succesive care-i pstreaz importana in proiectare mai mult pentru dimensionare
dect pentru optimizare, metoda servirii n mas, utilizat mult n trecut pentru
optimizarea redundanei pasive care n prezent este pe cale de reducere pn la
eliminare .a.
Am contribuit la Introducerea unei metode alternative la metoda soluiei
generale, numit metoda simplificat a soluie generale i notat (SG2)
n ceea ce privete utilizarea metodelor aproximative de calcul a fiabilitii
instalaiilor, n subcapitolul 6.5 am realizat o comparaie ntre patru metode de calcul
a funciei de fiabilitate i anume metoda soluiei generale(SG1), metoda grupurilor de
defectare (GD), metoda determinrii drumurilor extremale (DE) i metoda soluiei
generale simplificat (SG2), aplicnd aceste metode pe dou exemple de calcul.
Precizez c metoda soluiei generale simplificat este o metod de calcul elaborat
de Colectivul de Fiabilitate din cadrul Catedrei de Electrotehnic.
Din exemplele prezentate am desprins urmtoarele concluzii:
Toate cele patru metode sunt utilizate n calculul fiabilitii
schemelor de instalaii complexe.
Metodele aproximative reprezentate de soluiile notate GD i SG2
sunt i pentru structuri cu componente cu valori ale funciei de
fiabilitate pentru intervalul de timp cerut de clieni mai mici de 0,99.
Aceste metode se pot utiliza cu precauia evalurii, n unele cazuri a
erorii relative aa cum s-a procedat n aceast lucrare.
n timp ce GD se poate utiliza practic n orice situaie, innd seama
de concluziile de mai sus SG2 este o metod foarte util atunci
cnd numrul de elemente relevante ale schemei este relativ mic
(nu mai mare dect 7 elemente).
Comparnd volumul de calcul n toate cele patru variante rezult c
metoda grupurilor de defectare este mai avantajoas datorit
simplitii i rapiditii calculelor, n comparaie cu metoda soluiei
generale exacte dar i a metodei soluiei generale reduse.
Varianta redus a metodei soluiei generale este mai avantajoas
dect varianta exact a aceleiai metode datorit diminurii
numrului de stri posibile de analizat ale sistemului. Astfel, pentru
un sistem compus din 5 elemente reducerea numrului de stri care
trebuie analizate este de 50%, pentru un sistem compus din 7


164
elemente reducerea este de 77%, pentru un sistem compus din 8
elemente reducerea este de 85% iar pentru 10 elemente reducerea
este de 94% .a.m.d.
Ca o concluzie general, att procedeul grupurilor de defectare ct i
metoda soluiei generale n varianta redus prezentat n aceast lucrare sunt
instrumente de utilitate deosebite pentru calculele necesare n problemele de
proiectare i optimizare a fiabilitii.
Am fcut o analiz critic a unor neajunsuri, paradoxuri n teoria actual a
fiabilitii instalaiilor electrice i de automatizare:
Paradoxul funciei de fiabilitate care pentru valori mai mari de 0,7 din
durata de viat este mai mic de 0,5.
Nu este de acceptat ca dup trecerea unei perioade de 30% din durata
de via a unui sistem s avem probabilitatea de a fi n stare de satisfacere a
cerinelor funcionale mai mic dect probabilitatea de nesatisfacere a cerinelor
funcionale.
Durata de viaa a unui sistem compus din n elemente legate n serie s fie
de n ori mai mic dect a oricrui element, ceea ce este absurd
Durata de via a unui sistem format din dou elemente n paralel crete
cu 50% fa de durata de viaa a unui singur element, rezultat neconfirmat de
practic
Am utilizat noiunea de viabilitate ca indicator pentru evaluarea fiabilitii
n capitolul 6.2.1.1 am prezentat noiunea de viabilitate sau funcia de
viabilitate cum poate fi numit prin asociere cu funcia de fiabilitate. Diferena ntre
funcia de fiabilitate i cea de viabilitate este c funcia de fiabilitate are ca argument
un interval de timp t MTTF (sau MTBF) iar funcia de viabilitate are ca argument
diferena ntre durata medie total de via () i durata de via trecut (k). expresia
analitic adoptat este
e
k
k w

1
) ( .
Am conceput matricei de analiz a viabilitii, riscului i entropiei
n toate exemplele de aproximare abordate n capitolul 6.3, am ntocmit
matrici de analiz a viabilitii, riscului i entropiei funcie de numrul de pai rmai
de parcurs pentru un element al sistemului respectiv pentru ntreg sistemul. Pe baza
acestor matrici am ntocmit grafice pentru analiza caracteristicilor numerice rezultate.
Am elaborat matrici de analiz a viabilitii, riscului i entropiei att pentru sisteme de
tip serie ct i pentru structuri de tip redundant
Am aplicat grafului entropic canonic la determinarea pasului n care are loc
tranziia din clasa strilor recurente n starea absorbant
Aa cum se vede din analizele fcute n problemele de optimizare din
capitolul 6.3, exist un pas n care are loc tranziia din clasa strilor recurente n
starea absorbant. Aplicarea graful entropic canonic prezentat n capitolul 6.2.1.2, n
toate problemele analizate, m-a condus la determinarea pasului n care are loc
aceast tranziie.


165
Optimizarea instalaiilor electrice i de automatizare prin studierea
viabilitii, duratei de via i a riscului pentru:
Prima aplicaie este cea din capitolul 6.3.1 unde am considerat o
structur de tip serie respectiv o instalaie de alimentare cu energie electric a unui
motor, pentru care cunoatem ratele de defectare ale elementelor componente.
Aplicnd metoda clasic de determinare a duratei medii de funcionare au rezultat
7,2 ani. Utiliznd formulele de calcul propuse i un pas de ani 1 , 0 = , am ntocmit 9-1
(v. Anexe) i graficul din Fig. 6-5. Am constatat c riscul calculat cu funcia de
viabilitate este cu 27% pn la 38% mai mic dect cel calculat cu metodologia
actual, cu excepia primilor douzeci de pai (0,1ani/pas, n cazul nostru) n care
metodologia actual presupune o probabilitate iniial egal cu unu ceea ce nu poate
fi luat n considerare.
Comparnd valorile din coloanele 5 i 7 ale tabelului 9-1 (v. Anexe) am
observat c riscul crete cu creterea entropiei astfel nct chiar entropia poate fi
considerat un indicator de risc, n mod deosebit pentru valori mici ale entropiei.
Plecnd de la instalaia de alimentare cu energie din exemplul
anterior, n capitolul 6.3.2 am analizat ce se ntmpl n cazul asigurrii unei
redundane pariale pentru cel mai puin fiabil element i anume cablul de alimentare.
Astfel, a rezultat o schem de tipul paralel cu dou elemente identice din punct de
vedere al fiabilitii. Analiznd datele din Tabelul 9-2 (v. Anexe) i graficul din Fig. 6-7
am constatat c riscul calculat ca funcie de viabilitate este mai mic n acest caz cu
de la aproximativ 9,5 ori pentru cablurile noi pn la 1,5 ori nainte de sfritul duratei
de viat. Reducerea raportului dintre riscul de defectare al unui cablu raportat la
riscul de defectare a sistemului de dou cabluri scade de la cca. 9,5 cu cte
aproximativ o unitate pn la cca. 1,5 naintea ultimului pas (1pas = 0,1ani n
exemplul nostru) pe care l-ar avea de fcut un singur cablu.
n acest caz, se poate observa c dup ce unul din elementele sistemului
atinge durata de via foarte apropiat de durata maxim are loc tranziia din starea
de satisfacere a cerinelor n stare de nesatisfacere a cerinelor, pentru un singur
element (cablu), dar sistemul i continu funcionarea, dar viabilitatea sistemului nu
mai poate fi determinat funcie de viabilitatea elementelor, i de aceea n continuare
se calculeaz numrul de pai rmas, pornind de la viabilitatea sistemului n
momentul declanrii tranziiei i apoi se calculeaz viabilitatea sistemului pn n
momentul tranziiei.
Concluziile desprinse din analiza acestui sistem sunt c entropia poate fi
utilizat i ca indicator de risc, iar avantajul redundanei nu este n creterea duratei
de via ci n scderea riscului de defectare.
Dac n exemplul anterior am analizat redundana parial n
urmtorul capitol 6.3.3 am analizat ce se ntmpl n cazul asigurrii unei redundane
totale pentru instalaia de alimentare cu energie electric a unui motor, cunoscut i
ca alimentarea dubl.
n acest caz am analizat care este variaia indicatorilor propui (viabilitate,
risc i entropie) att pentru alimentarea simpl ct i pentru alimentare dubl.
Ca i n cazul precedent concluzia care se desprinde este c redundana
total are marele avantaj de a reduce riscul de defectare.


166
Dou aplicaii interesante sunt prezentate n capitolul 6.3.4 i
capitolul 6.3.5, aplicaii ce fac parte din instalaiile de tip (n ) redundante n care n
= 3 i = 1 respectiv n = 3 i = 2. Plecnd de ipoteza c durata de via a unui
element este de 5 ani i alegnd un pas de 0,1 ani, au fost ntocmite tabele de calcul
pentru indicatorii de fiabilitate propui spre analiz. n ambele cazuri, din analiza
graficelor i tabelelor de calcul rezult c dac utilizm ca indicator de risc entropia,
aceasta este mult mai redus n cazul aplicrii acestei redundane dect pentru cazul
unui singur element, ceea ce confirm faptul c redundana este o msur ce reduce
foarte mult RISCUL
Ultima aplicaie ce ia n discuie studierea viabilitii, duratei de via
i a riscului este cea prezentat n capitolul 6.3.6 i anume optimizarea unei instalaii
de automatizare pentru pornirea stea-triunghi a unui motor electric trifazat. Calculele
au pornit de la valori reale ale duratei de funcionare pentru elementele componente
ale schemei de automatizare, date preluate din cataloagele unei firme de prestigiu n
domeniul instalaiilor electrice. Astfel, calculnd durata medie de funcionare a
sistemului i introducnd ipoteza c vor exista 20 de cicluri de funcionare pe zi, a
rezultat o durat de via calculat cu metoda actual de 40,17 ani. Lund n
considerare un pas ca fiind egal cu 1 an, am ntocmit curbele de variaie ale riscului,
viabilitii i entropiei sistemului
Si n acest caz am constatat c riscul crete cu creterea entropiei, diferenele
fiind mici, aproape neglijabile, astfel nct entropia poate fi considerat un indicator
de risc.
Am elaborat o nou formul de calcul a riscului bazat pe funcia de
viabilitate. Utilizarea noiunii de risc calculat astfel ar avea influene importante
asupra costurilor.
n capitolul 5.2.4 am prezentat c riscul este definit prin funcia de
nonfiabilitate ) ( 1 ) ( t R t F = i este numit risc tehnic. n capitolul 6.2.1.3 am artat c
dac evalum fiabilitatea prin durata de via rmas, riscul ar putea fi evaluat prin
complementarea funciei de viabilitate, pentru care avem
e
k
k w k r

= =

1
1 ) ( 1 ) ( .
Am propus ca entropia calculat pe baza funciei de viabilitate s fie
utilizat ca indicator de risc. Acest indicator se poate numi risc entropic.
n capitolul 6.2.1.2 am prezentat un nou formalism matematic pentru
entropie p p S ln = . Acest formalism l-am utilizat n toate aplicaiile de optimizare a
instalaiilor electrice i de automatizare din capitolul 6.3. Din analizele graficelor (v.
Fig. 6-5, Fig. 6-7, Fig. 6-9, Fig. 6-11, Fig. 6-13 i Fig. 6-16) i a tabelelor din anex (v.
9-1, Tabelul 9-2, Tabelul 9-3, Tabelul 9-4, Tabelul 9-5 i Tabelul 9-6) am observat c
riscul crete odat cu creterea entropiei astfel nct entropia s poat fi considerat
un indicator de risc.
Am utilizat MATLAB-ul pentru determinarea duratei de via a unui proces
utiliznd lanuri Markov finite omogene
n capitolul 3.3.5.2.3 am prezentat dou aplicaii pentru determinarea
duratei de via a unui proces utiliznd ca pachet de programe MATLAB.


167
Aplicaiile au la baz un proces stochastic de tip Markov finit omogen.
Avnd n vedere c TOOLBOX-urile MATLAB-ului nu pun la dispoziie funcii pentru
calculul lanurilor Markov cu timp discret, am ntocmit programe de calcul pentru cele
dou aplicaii.
Primul program de calcul determin durata de pai (durata de via) a
procesului pornind de la egalitatea probabilitilor de tranziie ntre stri
2
1
) , ( = j i p i
determin c durata de via este de 2 pai.
Cel de al doilea program de calcul determin durata de pai (durata de
via) a procesului pentru diverse probabiliti de tranziie ntre stri pornind de la
1 , 0 ) , ( = j i p i pn la 9 , 0 ) , ( = j i p cu un pas de 0,1. Rezultatele afiate de programul
de calcul sunt prezentate i grafic n Fig. 3-14
Am introdus noiunea de degradare care poate fi folosit independent sau
n asociere cu cea de defectare n optimizarea instalaiilor electrice i de
automatizare
n capitolul 6 am introdus noiunea de degradare, noiune ce explic mai
bine scderea n timp a fiabilitii unei instalaii electrice de automatizare dect
noiunea de defectare utilizat de teoria actual.
Am pus n eviden corespondena ntre cuantele de timp ale elementelor
i cele ale structurii fiabilistice (sistemului) analizat
Am utilizat rata de defectare determinat prin teoria actual pentru
determinarea probabilitilor iniiale necesare n aplicaiile grafului entropic canonic
n aplicaiile de optimizare a instalaiilor electrice i de automatizare
prezentate n capitolul 6.3 am plecat de la cunoaterea ratei de defectare a
elementelor componente determinate prin teoria actual. Astfel, cunoscnd ratele de
defectare ale elementelor am determinat duratele medii de funcionare ale acestora.
Practic, durata medie de funcionare este aceeai cu durata de via din definiia
viabilitii i astfel, prin aplicarea formulei viabilitii am determinat probabilitatea
iniial necesar n aplicaiile grafului entropic canonic.

9. ANEXE

168
9. ANEXE
Tabelul 9-1. Principalele caracteristici numerice ale schemei din Fig. 6-4

k n nn n - k R(t) w(n nn n-k) 1 - R(t) 1- w(n nn n-k) -R(t)lnR(t) - w(n nn n-k)lnw(n nn n-k)
0 1 2 3 4 5 6 7
0 7.2 1.00000 0.87032 0 0.12968 0 0.12088
0.1 7.1 0.98621 0.86862 0.01379 0.13138 0.01370 0.12234
0.2 7 0.97260 0.86688 0.02740 0.13312 0.02702 0.12384
0.3 6.9 0.95919 0.86508 0.04081 0.13492 0.03997 0.12537
0.4 6.8 0.94596 0.86324 0.05404 0.13676 0.05255 0.12695
0.5 6.7 0.93291 0.86135 0.06709 0.13865 0.06479 0.12856
0.6 6.6 0.92004 0.85940 0.07996 0.14060 0.07667 0.13021
0.7 6.5 0.90735 0.85740 0.09265 0.14260 0.08822 0.13191
0.8 6.4 0.89484 0.85535 0.10516 0.14465 0.09943 0.13365
0.9 6.3 0.88250 0.85323 0.11750 0.14677 0.11031 0.13543
1 6.2 0.87032 0.85104 0.12968 0.14896 0.12088 0.13727
1.1 6.1 0.85832 0.84880 0.14168 0.15120 0.13113 0.13915
1.2 6 0.84648 0.84648 0.15352 0.15352 0.14108 0.14108
1.3 5.9 0.83481 0.84409 0.16519 0.15591 0.15073 0.14307
1.4 5.8 0.82329 0.84163 0.17671 0.15837 0.16008 0.14511
1.5 5.7 0.81194 0.83909 0.18806 0.16091 0.16915 0.14721
1.6 5.6 0.80074 0.83646 0.19926 0.16354 0.17794 0.14937
1.7 5.5 0.78969 0.83375 0.21031 0.16625 0.18646 0.15159
1.8 5.4 0.77880 0.83095 0.22120 0.16905 0.19470 0.15388
1.9 5.3 0.76806 0.82805 0.23194 0.17195 0.20268 0.15624
2 5.2 0.75747 0.82505 0.24253 0.17495 0.21041 0.15866
2.1 5.1 0.74702 0.82195 0.25298 0.17805 0.21788 0.16117
2.2 5 0.73671 0.81873 0.26329 0.18127 0.22511 0.16375
2.3 4.9 0.72655 0.81540 0.27345 0.18460 0.23209 0.16641
2.4 4.8 0.71653 0.81194 0.28347 0.18806 0.23884 0.16915
2.5 4.7 0.70665 0.80835 0.29335 0.19165 0.24536 0.17199
2.6 4.6 0.69690 0.80462 0.30310 0.19538 0.25166 0.17492
2.7 4.5 0.68729 0.80074 0.31271 0.19926 0.25773 0.17794

9. ANEXE

169
0 1 2 3 4 5 6 7
2.8 4.4 0.67781 0.79670 0.32219 0.20330 0.26359 0.18107
2.9 4.3 0.66846 0.79250 0.33154 0.20750 0.26924 0.18430
3 4.2 0.65924 0.78813 0.34076 0.21187 0.27468 0.18765
3.1 4.1 0.65015 0.78356 0.34985 0.21644 0.27992 0.19111
3.2 4 0.64118 0.77880 0.35882 0.22120 0.28497 0.19470
3.3 3.9 0.63234 0.77382 0.36766 0.22618 0.28982 0.19842
3.4 3.8 0.62361 0.76862 0.37639 0.23138 0.29448 0.20227
3.5 3.7 0.61501 0.76317 0.38499 0.23683 0.29896 0.20626
3.6 3.6 0.60653 0.75747 0.39347 0.24253 0.30327 0.21041
3.7 3.5 0.59816 0.75148 0.40184 0.24852 0.30739 0.21471
3.8 3.4 0.58991 0.74519 0.41009 0.25481 0.31134 0.21917
3.9 3.3 0.58178 0.73858 0.41822 0.26142 0.31513 0.22381
4 3.2 0.57375 0.73162 0.42625 0.26838 0.31875 0.22863
4.1 3.1 0.56584 0.72428 0.43416 0.27572 0.32221 0.23364
4.2 3 0.55804 0.71653 0.44196 0.28347 0.32552 0.23884
4.3 2.9 0.55034 0.70834 0.44966 0.29166 0.32867 0.24426
4.4 2.8 0.54275 0.69967 0.45725 0.30033 0.33168 0.24988
4.5 2.7 0.53526 0.69048 0.46474 0.30952 0.33454 0.25573
4.6 2.6 0.52788 0.68071 0.47212 0.31929 0.33726 0.26181
4.7 2.5 0.52060 0.67032 0.47940 0.32968 0.33983 0.26813
4.8 2.4 0.51342 0.65924 0.48658 0.34076 0.34228 0.27468
4.9 2.3 0.50634 0.64741 0.49366 0.35259 0.34459 0.28148
5 2.2 0.49935 0.63474 0.50065 0.36526 0.34677 0.28852
5.1 2.1 0.49246 0.62115 0.50754 0.37885 0.34883 0.29578
5.2 2 0.48567 0.60653 0.51433 0.39347 0.35076 0.30327
5.3 1.9 0.47897 0.59078 0.52103 0.40922 0.35258 0.31094
5.4 1.8 0.47237 0.57375 0.52763 0.42625 0.35427 0.31875
5.5 1.7 0.46585 0.55531 0.53415 0.44469 0.35586 0.32665
5.6 1.6 0.45943 0.53526 0.54057 0.46474 0.35733 0.33454
5.7 1.5 0.45309 0.51342 0.54691 0.48658 0.35870 0.34228

9. ANEXE

170
0 1 2 3 4 5 6 7
5.8 1.4 0.44684 0.48954 0.55316 0.51046 0.35995 0.34967
5.9 1.3 0.44068 0.46337 0.55932 0.53663 0.36111 0.35644
6 1.2 0.43460 0.43460 0.56540 0.56540 0.36217 0.36217
6.1 1.1 0.42860 0.40289 0.57140 0.59711 0.36312

0.36626

6.2 1 0.42269 0.36788 0.57731 0.63212 0.36398 0.36788
6.3 0.9 0.41686 0.32919 0.58314 0.67081 0.36475 0.36577
6.4 0.8 0.41111 0.28650 0.58889 0.71350 0.36543 0.35813
6.5 0.7 0.40544 0.23965 0.59456 0.76035 0.36602 0.34236
6.6 0.6 0.39985 0.18888 0.60015 0.81112 0.36653 0.31479
6.7 0.5 0.39433 0.13534 0.60567 0.86466 0.36695 0.27067
6.8 0.4 0.38890 0.08208 0.61110 0.91792 0.36729 0.20521
6.9 0.3 0.38353 0.03567 0.61647 0.96433 0.36755 0.11891
7 0.2 0.37824 0.00674 0.62176 0.99326 0.36773 0.03369

9. ANEXE

171

Tabelul 9-2.Principalele caracteristici numerice ale asigurrii
unei redundane 100% pentru cablul din Fig. 6-6

VIABILITATE RISCUL ENTROPIA
k
n nn n

-

k

w
1
(
n nn n
-
k
)

=

w
c
a
b
l
u
(
n nn n
-
k
)

w
2
(
n nn n
-
k
)

=

w
2
c
a
b
l
u
r
i

p
a
r
a
l
e
l
(
n nn n
-
k
)

=

2
*
w
1
(
n nn n
-
k
)
-
w
1
(
n nn n
-
k
)
2

1

-

w
1
(
n nn n
-
k
)

1

-

w
2
(
n nn n
-
k
)

-

w
1
(
n nn n
-
k
)
l
n
w
1
(
n nn n
-
k
)

-

w
2
(
n nn n
-
k
)
l
n
w
2
(
n nn n
-
k
)

n nn n
r
a
m
a
s

p
a
r
a
l
e
l

=

-
1
/
l
n
w
2

=

(
n nn n

-

k
)
p
a
r
a
l
e
l

k
p
a
r
a
l
e
l

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0 8.93 0.89406 0.98878 0.10594 0.01122 0.10012 0.01116
0.1 8.83 0.89293 0.98854 0.10707 0.01146 0.10112 0.01140
0.2 8.73 0.89177 0.98829 0.10823 0.01171 0.10215 0.01164
0.3 8.63 0.89059 0.98803 0.10941 0.01197 0.10320 0.01190
0.4 8.53 0.88938 0.98776 0.11062 0.01224 0.10426 0.01216
0.5 8.43 0.88814 0.98749 0.11186 0.01251 0.10535 0.01243
0.6 8.33 0.88688 0.98720 0.11312 0.01280 0.10647 0.01271
0.7 8.23 0.88559 0.98691 0.11441 0.01309 0.10760 0.01300
0.8 8.13 0.88426 0.98660 0.11574 0.01340 0.10877 0.01331
0.9 8.03 0.88291 0.98629 0.11709 0.01371 0.10995 0.01362
1 7.93 0.88152 0.98596 0.11848 0.01404 0.11116 0.01394
1.1 7.83 0.88011 0.98563 0.11989 0.01437 0.11240 0.01427
1.2 7.73 0.87865 0.98527 0.12135 0.01473 0.11367 0.01462
1.3 7.63 0.87716 0.98491 0.12284 0.01509 0.11496 0.01497
1.4 7.53 0.87564 0.98453 0.12436 0.01547 0.11629 0.01535
1.5 7.43 0.87407 0.98414 0.12593 0.01586 0.11764 0.01573
1.6 7.33 0.87247 0.98374 0.12753 0.01626 0.11903 0.01613
1.7 7.23 0.87083 0.98331 0.12917 0.01669 0.12045 0.01655
1.8 7.13 0.86914 0.98288 0.13086 0.01712 0.12190 0.01698
1.9 7.03 0.86741 0.98242 0.13259 0.01758 0.12339 0.01743
2 6.93 0.86563 0.98194 0.13437 0.01806 0.12491 0.01789
2.1 6.83 0.86380 0.98145 0.13620 0.01855 0.12647 0.01838
2.2 6.73 0.86192 0.98093 0.13808 0.01907 0.12807 0.01888

9. ANEXE

172
k
n nn n

-

k

w
1
(
n nn n
-
k
)

=

w
c
a
b
l
u
(
n nn n
-
k
)

w
2
(
n nn n
-
k
)

=

w
2
c
a
b
l
u
r
i

p
a
r
a
l
e
l
(
n nn n
-
k
)

=

2
*
w
1
(
n nn n
-
k
)
-
w
1
(
n nn n
-
k
)
2

1

-

w
1
(
n nn n
-
k
)

1

-

w
2
(
n nn n
-
k
)

-

w
1
(
n nn n
-
k
)
l
n
w
1
(
n nn n
-
k
)

-

w
2
(
n nn n
-
k
)
l
n
w
2
(
n nn n
-
k
)

n nn n
r
a
m
a
s

p
a
r
a
l
e
l

=

-
1
/
l
n
w
2

=

(
n nn n

-

k
)
p
a
r
a
l
e
l

k
p
a
r
a
l
e
l

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
2.3 6.63 0.85999 0.98040 0.14001 0.01960 0.12971 0.01941
2.4 6.53 0.85801 0.97984 0.14199 0.02016 0.13140 0.01996
2.5 6.43 0.85597 0.97926 0.14403 0.02074 0.13312 0.02053
2.6 6.33 0.85387 0.97865 0.14613 0.02135 0.13489 0.02112
2.7 6.23 0.85171 0.97801 0.14829 0.02199 0.13671 0.02175
2.8 6.13 0.84948 0.97734 0.15052 0.02266 0.13858 0.02240
2.9 6.03 0.84718 0.97665 0.15282 0.02335 0.14049 0.02308
3 5.93 0.84482 0.97592 0.15518 0.02408 0.14247 0.02379
3.1 5.83 0.84238 0.97516 0.15762 0.02484 0.14449 0.02453
3.2 5.73 0.83986 0.97436 0.16014 0.02564 0.14657 0.02531
3.3 5.63 0.83726 0.97352 0.16274 0.02648 0.14871 0.02613
3.4 5.53 0.83458 0.97263 0.16542 0.02737 0.15092 0.02699
3.5 5.43 0.83180 0.97171 0.16820 0.02829 0.15319 0.02789
3.6 5.33 0.82893 0.97074 0.17107 0.02926 0.15552 0.02883
3.7 5.23 0.82596 0.96971 0.17404 0.03029 0.15793 0.02983
3.8 5.13 0.82289 0.96863 0.17711 0.03137 0.16041 0.03087
3.9 5.03 0.81971 0.96749 0.18029 0.03251 0.16296 0.03197
4 4.93 0.81641 0.96629 0.18359 0.03371 0.16560 0.03313
4.1 4.83 0.81299 0.96503 0.18701 0.03497 0.16832 0.03435
4.2 4.73 0.80944 0.96369 0.19056 0.03631 0.17113 0.03565
4.3 4.63 0.80575 0.96227 0.19425 0.03773 0.17403 0.03701
4.4 4.53 0.80192 0.96076 0.19808 0.03924 0.17702 0.03846
4.5 4.43 0.79793 0.95917 0.20207 0.04083 0.18012 0.03999
4.6 4.33 0.79378 0.95747 0.20622 0.04253 0.18332 0.04161
4.7 4.23 0.78946 0.95567 0.21054 0.04433 0.18663 0.04333
4.8 4.13 0.78495 0.95376 0.21505 0.04624 0.19006 0.04516

9. ANEXE

173
k
n nn n

-

k

w
1
(
n nn n
-
k
)

=

w
c
a
b
l
u
(
n nn n
-
k
)

w
2
(
n nn n
-
k
)

=

w
2
c
a
b
l
u
r
i

p
a
r
a
l
e
l
(
n nn n
-
k
)

=

2
*
w
1
(
n nn n
-
k
)
-
w
1
(
n nn n
-
k
)
2

1

-

w
1
(
n nn n
-
k
)

1

-

w
2
(
n nn n
-
k
)

-

w
1
(
n nn n
-
k
)
l
n
w
1
(
n nn n
-
k
)

-

w
2
(
n nn n
-
k
)
l
n
w
2
(
n nn n
-
k
)

n nn n
r
a
m
a
s

p
a
r
a
l
e
l

=

-
1
/
l
n
w
2

=

(
n nn n

-

k
)
p
a
r
a
l
e
l

k
p
a
r
a
l
e
l

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
4.9 4.03 0.78025 0.95171 0.21975 0.04829 0.19361 0.04710
5 3.93 0.77534 0.94953 0.22466 0.05047 0.19729 0.04918
5.1 3.83 0.77021 0.94719 0.22979 0.05281 0.20110 0.05139
5.2 3.73 0.76483 0.94470 0.23517 0.05530 0.20505 0.05374
5.3 3.63 0.75921 0.94202 0.24079 0.05798 0.20915 0.05627
5.4 3.53 0.75330 0.93914 0.24670 0.06086 0.21340 0.05897
5.5 3.43 0.74711 0.93605 0.25289 0.06395 0.21782 0.06186
5.6 3.33 0.74060 0.93271 0.25940 0.06729 0.22240 0.06497
5.7 3.23 0.73374 0.92911 0.26626 0.07089 0.22716 0.06832
5.8 3.13 0.72652 0.92521 0.27348 0.07479 0.23212 0.07192
5.9 3.03 0.71890 0.92098 0.28110 0.07902 0.23726 0.07581
6 2.93 0.71085 0.91639 0.28915 0.08361 0.24261 0.08001
6.1 2.83 0.70233 0.91139 0.29767 0.08861 0.24817 0.08456
6.2 2.73 0.69329 0.90593 0.30671 0.09407 0.25395 0.08950
6.3 2.63 0.68371 0.89996 0.31629 0.10004 0.25996 0.09486
6.4 2.53 0.67351 0.89340 0.32649 0.10660 0.26621 0.10070
6.5 2.43 0.66264 0.88619 0.33736 0.11381 0.27269 0.10707
6.6 2.33 0.65104 0.87823 0.34896 0.12177 0.27942 0.11404
6.7 2.23 0.63863 0.86941 0.36137 0.13059 0.28638 0.12166
6.8 2.13 0.62533 0.85962 0.37467 0.14038 0.29358 0.13003
6.9 2.03 0.61103 0.84870 0.38897 0.15130 0.30100 0.13923
7 1.93 0.59563 0.83649 0.40437 0.16351 0.30862 0.14935
7.1 1.83 0.57900 0.82276 0.42100 0.17724 0.31639 0.16051
7.2 1.73 0.56100 0.80728 0.43900 0.19272 0.32428 0.17283
7.3 1.63 0.54145 0.78974 0.45855 0.21026 0.33218 0.18642
7.4 1.53 0.52017 0.76977 0.47983 0.23023 0.33998 0.20142

9. ANEXE

174
k
n nn n

-

k

w
1
(
n nn n
-
k
)

=

w
c
a
b
l
u
(
n nn n
-
k
)

w
2
(
n nn n
-
k
)

=

w
2
c
a
b
l
u
r
i

p
a
r
a
l
e
l
(
n nn n
-
k
)

=

2
*
w
1
(
n nn n
-
k
)
-
w
1
(
n nn n
-
k
)
2

1

-

w
1
(
n nn n
-
k
)

1

-

w
2
(
n nn n
-
k
)

-

w
1
(
n nn n
-
k
)
l
n
w
1
(
n nn n
-
k
)

-

w
2
(
n nn n
-
k
)
l
n
w
2
(
n nn n
-
k
)

n nn n
r
a
m
a
s

p
a
r
a
l
e
l

=

-
1
/
l
n
w
2

=

(
n nn n

-

k
)
p
a
r
a
l
e
l

k
p
a
r
a
l
e
l

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
7.5 1.43 0.49693 0.74692 0.50307 0.25308 0.34751 0.21795
7.6 1.33 0.47148 0.72067 0.52852 0.27933 0.35450 0.23608
7.7 1.23 0.44352 0.69033 0.55648 0.30967 0.36059 0.25582
7.8 1.13 0.41273 0.65512 0.58727 0.34488 0.36525 0.27708
7.9 1.03 0.37875 0.61405 0.62125 0.38595

0.36772

0.29946 2.1 0

w(n-k)
el
=
e
(-1/(n-
k)
sistem
)

8 2.0 - 0.59889 - 0.40111 - 0.30704 2.0 0.1
8.1 1.9 0.58252 - 0.41748 - 0.31479 1.9 0.2
8.2 1.8 0.56482 - 0.43518 - 0.32265 1.8 0.3
8.3 1.7 0.54560 - 0.45440 - 0.33056 1.7 0.4
8.4 1.6 0.52469 - 0.47531 - 0.33840 1.6 0.5
8.5 1.5 0.50188 - 0.49812 - 0.34599 1.5 0.6
8.6 1.4 0.47690 - 0.52310 - 0.35312 1.4 0.7
8.7 1.3 0.44948 - 0.55052 - 0.35943 1.3 0.8
8.8 1.2 0.41930 - 0.58070 - 0.36444 1.2 0.9
8.9 1.1 0.38601 - 0.61399 -

0.36744

1.1 1
9 1.0 0.34923 - 0.65077 - 0.36740 1.0 1.1
9.1 0.9 0.30859 - 0.69141 - 0.36282 0.9 1.2
9.2 0.8 0.26385 - 0.73615 - 0.35155 0.8 1.3

9. ANEXE

175

Tabelul 9-3. Principalele caracteristici numerice ale unei duble alimentri

ALIMENTARE SIMPLA ALIMENTARE DUBLA
k

n nn n

-

k

w
(
n nn n
-
k
)

=

e
(
-
1
/
n nn n
-
k
)

r
(
t
)

=

1
-
w
(
n nn n
-
k
)

S

=

-

w
(
n nn n
-
k
)
*
l
n
w
(
n nn n
-
k
)

w
(
n nn n
-
k
)
s
i
s

=

e
(
-
1
/
n nn n
-
k
)

r
(
t
)
s
i
s

=

1
-
w
(
n nn n
-
k
)

S
s
i
s

=

-

w
(
n nn n
-
k
)
*
l
n
w
(
n nn n
-
k
)

n nn n
r
a
m
a
s

s
i
s
t

=
-
1
/
l
n
w
s
i
s
t

=

(
n nn n

-

k
)
s
i
s
t

k
s
i
s
t

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0 7.2 0.87032 0.12968 0.12088 0.98318 0.01682 0.01667
0.1 7.1 0.86862 0.13138 0.12234 0.98274 0.01726 0.01711
0.2 7 0.86688 0.13312 0.12384 0.98228 0.01772 0.01756
0.3 6.9 0.86508 0.13492 0.12537 0.98180 0.01820 0.01804
0.4 6.8 0.86324 0.13676 0.12695 0.98130 0.01870 0.01853
0.5 6.7 0.86135 0.13865 0.12856 0.98078 0.01922 0.01904
0.6 6.6 0.85940 0.14060 0.13021 0.98023 0.01977 0.01957
0.7 6.5 0.85740 0.14260 0.13191 0.97967 0.02033 0.02013
0.8 6.4 0.85535 0.14465 0.13365 0.97908 0.02092 0.02070
0.9 6.3 0.85323 0.14677 0.13543 0.97846 0.02154 0.02131
1 6.2 0.85104 0.14896 0.13727 0.97781 0.02219 0.02194
1.1 6.1 0.84880 0.15120 0.13915 0.97714 0.02286 0.02260
1.2 6 0.84648 0.15352 0.14108 0.97643 0.02357 0.02329
1.3 5.9 0.84409 0.15591 0.14307 0.97569 0.02431 0.02401
1.4 5.8 0.84163 0.15837 0.14511 0.97492 0.02508 0.02476
1.5 5.7 0.83909 0.16091 0.14721 0.97411 0.02589 0.02555
1.6 5.6 0.83646 0.16354 0.14937 0.97326 0.02674 0.02638
1.7 5.5 0.83375 0.16625 0.15159 0.97236 0.02764 0.02725
1.8 5.4 0.83095 0.16905 0.15388 0.97142 0.02858 0.02817
1.9 5.3 0.82805 0.17195 0.15624 0.97043 0.02957 0.02912
2 5.2 0.82505 0.17495 0.15866 0.96939 0.03061 0.03013
2.1 5.1 0.82195 0.17805 0.16117 0.96830 0.03170 0.03119

9. ANEXE

176
k

n nn n

-

k

w
(
n nn n
-
k
)

=

e
(
-
1
/
n nn n
-
k
)

r
(
t
)

=

1
-
w
(
n nn n
-
k
)

S

=

-

w
(
n nn n
-
k
)
*
l
n
w
(
n nn n
-
k
)

w
(
n nn n
-
k
)
s
i
s

=

e
(
-
1
/
n nn n
-
k
)

r
(
t
)
s
i
s

=

1
-
w
(
n nn n
-
k
)

S
s
i
s

=

-

w
(
n nn n
-
k
)
*
l
n
w
(
n nn n
-
k
)

n nn n
r
a
m
a
s

s
i
s
t

=
-
1
/
l
n
w
s
i
s
t

=

(
n nn n

-

k
)
s
i
s
t

k
s
i
s
t

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
2.2 5 0.81873 0.18127 0.16375 0.96714 0.03286 0.03231
2.3 4.9 0.81540 0.18460 0.16641 0.96592 0.03408 0.03349
2.4 4.8 0.81194 0.18806 0.16915 0.96463 0.03537 0.03473
2.5 4.7 0.80835 0.19165 0.17199 0.96327 0.03673 0.03605
2.6 4.6 0.80462 0.19538 0.17492 0.96182 0.03818 0.03744
2.7 4.5 0.80074 0.19926 0.17794 0.96029 0.03971 0.03891
2.8 4.4 0.79670 0.20330 0.18107 0.95867 0.04133 0.04046
2.9 4.3 0.79250 0.20750 0.18430 0.95695 0.04305 0.04211
3 4.2 0.78813 0.21187 0.18765 0.95511 0.04489 0.04387
3.1 4.1 0.78356 0.21644 0.19111 0.95316 0.04684 0.04573
3.2 4 0.77880 0.22120 0.19470 0.95107 0.04893 0.04771
3.3 3.9 0.77382 0.22618 0.19842 0.94884 0.05116 0.04982
3.4 3.8 0.76862 0.23138 0.20227 0.94646 0.05354 0.05208
3.5 3.7 0.76317 0.23683 0.20626 0.94391 0.05609 0.05448
3.6 3.6 0.75747 0.24253 0.21041 0.94118 0.05882 0.05706
3.7 3.5 0.75148 0.24852 0.21471 0.93824 0.06176 0.05982
3.8 3.4 0.74519 0.25481 0.21917 0.93507 0.06493 0.06277
3.9 3.3 0.73858 0.26142 0.22381 0.93166 0.06834 0.06595
4 3.2 0.73162 0.26838 0.22863 0.92797 0.07203 0.06937
4.1 3.1 0.72428 0.27572 0.23364 0.92398 0.07602 0.07306
4.2 3 0.71653 0.28347 0.23884 0.91965 0.08035 0.07704
4.3 2.9 0.70834 0.29166 0.24426 0.91494 0.08506 0.08134
4.4 2.8 0.69967 0.30033 0.24988 0.90980 0.09020 0.08600
4.5 2.7 0.69048 0.30952 0.25573 0.90420 0.09580 0.09106
4.6 2.6 0.68071 0.31929 0.26181 0.89806 0.10194 0.09656
4.7 2.5 0.67032 0.32968 0.26813 0.89131 0.10869 0.10256

9. ANEXE

177
k

n nn n

-

k

w
(
n nn n
-
k
)

=

e
(
-
1
/
n nn n
-
k
)

r
(
t
)

=

1
-
w
(
n nn n
-
k
)

S

=

-

w
(
n nn n
-
k
)
*
l
n
w
(
n nn n
-
k
)

w
(
n nn n
-
k
)
s
i
s

=

e
(
-
1
/
n nn n
-
k
)

r
(
t
)
s
i
s

=

1
-
w
(
n nn n
-
k
)

S
s
i
s

=

-

w
(
n nn n
-
k
)
*
l
n
w
(
n nn n
-
k
)

n nn n
r
a
m
a
s

s
i
s
t

=
-
1
/
l
n
w
s
i
s
t

=

(
n nn n

-

k
)
s
i
s
t

k
s
i
s
t

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
4.8 2.4 0.65924 0.34076 0.27468 0.88388 0.11612 0.10910
4.9 2.3 0.64741 0.35259 0.28148 0.87568 0.12432 0.11625
5 2.2 0.63474 0.36526 0.28852 0.86658 0.13342 0.12409
5.1 2.1 0.62115 0.37885 0.29578 0.85647 0.14353 0.13270
5.2 2 0.60653 0.39347 0.30327 0.84518 0.15482 0.14216
5.3 1.9 0.59078 0.40922 0.31094 0.83254 0.16746 0.15259
5.4 1.8 0.57375 0.42625 0.31875 0.81831 0.18169 0.16408
5.5 1.7 0.55531 0.44469 0.32665 0.80225 0.19775 0.17677
5.6 1.6 0.53526 0.46474 0.33454 0.78402 0.21598 0.19077
5.7 1.5 0.51342 0.48658 0.34228 0.76324 0.23676 0.20622
5.8 1.4 0.48954 0.51046 0.34967 0.73943 0.26057 0.22321
5.9 1.3 0.46337 0.53663 0.35644 0.71203 0.28797 0.24183
6 1.2 0.43460 0.56540 0.36217 0.68032 0.31968 0.26205
6.1 1.1 0.40289 0.59711 0.36626 0.64346 0.35654 0.28370
6.2 1 0.36788 0.63212

0.36788

0.60042 0.39958 0.30629 1.96 0.0

w(n-k)
sis

= e
(-1/(n-
k)ramas)

6.3 1.86 0.58418 0.41582 0.31402 1.86 0.1
6.4 1.76 0.56661 0.43339 0.32188 1.76 0.2
6.5 1.66 0.54756 0.45244 0.32979 1.66 0.3
6.6 1.56 0.52682 0.47318 0.33764 1.56 0.4
6.7 1.46 0.50420 0.49580 0.34527 1.46 0.5
6.8 1.36 0.47945 0.52055 0.35245 1.36 0.6
6.9 1.26 0.45228 0.54772 0.35886 1.26 0.7
7 1.16 0.42239 0.57761 0.36403 1.16 0.8

9. ANEXE

178
k

n nn n

-

k

w
(
n nn n
-
k
)

=

e
(
-
1
/
n nn n
-
k
)

r
(
t
)

=

1
-
w
(
n nn n
-
k
)

S

=

-

w
(
n nn n
-
k
)
*
l
n
w
(
n nn n
-
k
)

w
(
n nn n
-
k
)
s
i
s

=

e
(
-
1
/
n nn n
-
k
)

r
(
t
)
s
i
s

=

1
-
w
(
n nn n
-
k
)

S
s
i
s

=

-

w
(
n nn n
-
k
)
*
l
n
w
(
n nn n
-
k
)

n nn n
r
a
m
a
s

s
i
s
t

=
-
1
/
l
n
w
s
i
s
t

=

(
n nn n

-

k
)
s
i
s
t

k
s
i
s
t

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
7.1 1.06 0.38942 0.61058 0.36726 1.06 0.9
7.2 0.96 0.35299 0.64701

0.36757

0.96 1.0
7.3 0.86 0.31275 0.68725 0.36353 0.86 1.1
7.4 0.76 0.26841 0.73159 0.35302 0.76 1.2
7.5 0.66 0.21994 0.78006 0.33308 0.66 1.3
7.6 0.56 0.16785 0.83215 0.29956 0.56 1.4
7.7 0.46 0.11391 0.88609 0.24745 0.46 1.5
7.8 0.36 0.06233 0.93767 0.17299 0.36 1.6
7.9 0.26 0.02146 0.97854 0.08245 0.26 1.7
8 0.16 0.00195 0.99805 0.01219 0.16 1.8

9. ANEXE

179
Tabelul 9-4. Principalele caracteristici numerice ale
unei instalaii electrice de tip n = 3, = 1

ELEMENT SISTEM
k
e
l

(

-

k
)

e
l

w
(
-
k
)
e
l

=

e
(
-
1
/
n
-
k
)

S
e
l

=

-

w
e
l
*
l
n
w
e
l

w
(
-
k
)
s
i
s
t

=

3
*
w
e
l
-
3
*
(
w
e
l
)
2
+
(
w
e
l
)
3

S
s
i
s
t

=

-

w
s
i
s
t
*
l
n
w
s
i
s
t

n
r
a
m
a
s

s
i
s
t

=

-
1
/
l
n
w
s
i
s
t

=

(

-

k
)
s
i
s
t

k
s
i
s
t

0 1 2 3 4 5 6 7
0 5 0.81873 0.16375 0.99404 0.00594
0.1 4.9 0.81540 0.16641 0.99371 0.00627
0.2 4.8 0.81194 0.16915 0.99335 0.00663
0.3 4.7 0.80835 0.17199 0.99296 0.00701
0.4 4.6 0.80462 0.17492 0.99254 0.00743
0.5 4.5 0.80074 0.17794 0.99209 0.00788
0.6 4.4 0.79670 0.18107 0.99160 0.00837
0.7 4.3 0.79250 0.18430 0.99107 0.00889
0.8 4.2 0.78813 0.18765 0.99049 0.00947
0.9 4.1 0.78356 0.19111 0.98986 0.01009
1 4 0.77880 0.19470 0.98918 0.01076
1.1 3.9 0.77382 0.19842 0.98843 0.01150
1.2 3.8 0.76862 0.20227 0.98761 0.01231
1.3 3.7 0.76317 0.20626 0.98672 0.01319
1.4 3.6 0.75747 0.21041 0.98573 0.01416
1.5 3.5 0.75148 0.21471 0.98465 0.01523
1.6 3.4 0.74519 0.21917 0.98346 0.01641
1.7 3.3 0.73858 0.22381 0.98213 0.01771
1.8 3.2 0.73162 0.22863 0.98067 0.01914
1.9 3.1 0.72428 0.23364 0.97904 0.02074
2 3 0.71653 0.23884 0.97722 0.02252
2.1 2.9 0.70834 0.24426 0.97519 0.02450
2.2 2.8 0.69967 0.24988 0.97291 0.02672
2.3 2.7 0.69048 0.25573 0.97035 0.02921

9. ANEXE

180
ELEMENT SISTEM
k
e
l

(

-

k
)

e
l

w
(
-
k
)
e
l

=

e
(
-
1
/
n
-
k
)

S
e
l

=

-

w
e
l
*
l
n
w
e
l

w
(
-
k
)
s
i
s
t

=

3
*
w
e
l
-
3
*
(
w
e
l
)
2
+
(
w
e
l
)
3

S
s
i
s
t

=

-

w
s
i
s
t
*
l
n
w
s
i
s
t

n
r
a
m
a
s

s
i
s
t

=

-
1
/
l
n
w
s
i
s
t

=

(

-

k
)
s
i
s
t

k
s
i
s
t

0 1 2 3 4 5 6 7
2.4 2.6 0.68071 0.26181 0.96745 0.03201
2.5 2.5 0.67032 0.26813 0.96417 0.03518
2.6 2.4 0.65924 0.27468 0.96043 0.03877
2.7 2.3 0.64741 0.28148 0.95616 0.04286
2.8 2.2 0.63474 0.28852 0.95127 0.04753
2.9 2.1 0.62115 0.29578 0.94562 0.05287
3 2 0.60653 0.30327 0.93908 0.05902
3.1 1.9 0.59078 0.31094 0.93147 0.06613
3.2 1.8 0.57375 0.31875 0.92256 0.07436
3.3 1.7 0.55531 0.32665 0.91206 0.08395
3.4 1.6 0.53526 0.33454 0.89962 0.09516
3.5 1.5 0.51342 0.34228 0.88480 0.10830
3.6 1.4 0.48954 0.34967 0.86699 0.12374
3.7 1.3 0.46337 0.35644 0.84547 0.14193
3.8 1.2 0.43460 0.36217 0.81925 0.16333
3.9 1.1 0.40289 0.36626 0.78711 0.18843
4 1 0.36788

0.36788

0.74742 0.21760 3.4 0.0

w(n-k)
sist.

= e
(-1/(n-
k)
sistem
)

4.1 3.3 - - 0.74092 0.22217 3.3 0.1
4.2 3.2 - - 0.73409 0.22693 3.2 0.2
4.3 3.1 - - 0.72688 0.23187 3.1 0.3
4.4 3.0 - - 0.71928 0.23700 3.0 0.4
4.5 2.9 - - 0.71125 0.24234 2.9 0.5
4.6 2.8 - - 0.70276 0.24789 2.8 0.6

9. ANEXE

181
ELEMENT SISTEM
k
e
l

(

-

k
)

e
l

w
(
-
k
)
e
l

=

e
(
-
1
/
n
-
k
)

S
e
l

=

-

w
e
l
*
l
n
w
e
l

w
(
-
k
)
s
i
s
t

=

3
*
w
e
l
-
3
*
(
w
e
l
)
2
+
(
w
e
l
)
3

S
s
i
s
t

=

-

w
s
i
s
t
*
l
n
w
s
i
s
t

n
r
a
m
a
s

s
i
s
t

=

-
1
/
l
n
w
s
i
s
t

=

(

-

k
)
s
i
s
t

k
s
i
s
t

0 1 2 3 4 5 6 7
4.7 2.7 - - 0.69375 0.25366 2.7 0.7
4.8 2.6 - - 0.68419 0.25966 2.6 0.8
4.9 2.5 - - 0.67402 0.26590 2.5 0.9
5 2.4 - - 0.66319 0.27237 2.4 1.0
5.1 2.3 - - 0.65163 0.27908 2.3 1.1
5.2 2.2 - - 0.63926 0.28603 2.2 1.2
5.3 2.1 - - 0.62600 0.29322 2.1 1.3
5.4 2.0 - - 0.61176 0.30063 2.0 1.4
5.5 1.9 - - 0.59641 0.30824 1.9 1.5
5.6 1.8 - - 0.57985 0.31601 1.8 1.6
5.7 1.7 - - 0.56192 0.32389 1.7 1.7
5.8 1.6 - - 0.54245 0.33179 1.6 1.8
5.9 1.5 - - 0.52126 0.33960 1.5 1.9
6 1.4 - - 0.49812 0.34715 1.4 2.0
6.1 1.3 - - 0.47278 0.35417 1.3 2.1
6.2 1.2 - - 0.44496 0.36032 1.2 2.2
6.3 1.1 - - 0.41432 0.36506 1.1 2.3
6.4 1.0 - - 0.38050

0.36767

1.0 2.4
6.5 0.9 - - 0.34314 0.36703 0.9 2.5
6.6 0.8 - - 0.30188 0.36157 0.8 2.6
6.7 0.7 - - 0.25648 0.34899 0.7 2.7
6.8 0.6 - - 0.20700 0.32603 0.6 2.8
6.9 0.5 - - 0.15420 0.28828 0.5 2.9
7 0.4 - - 0.10033 0.23068 0.4 3.0

9. ANEXE

182

Tabelul 9-5. Principalele caracteristici numerice ale unui post
de transformatoare cu transformatoare identice de tip n = 3, = 2

ELEMENT 2 ELEMENTE SERIE SISTEM
k
e
l

(

-

k
)

e
l

w
(
-
k
)
e
l

=

e
(
-
1
/
n
-
k
)

S
e
l

=

-

w
e
l
*
l
n
w
e
l

(

-

k
)

2

e
l
.

s
e
r
i
e

w
(
-
k
)
e
l

=

e
(
-
1
/
n
-
k
)

S
e
l

=

-

w
e
l
*
l
n
w
e
l

w
(
-
k
)
s
i
s
t

=

3
*
(
w
e
l
)
2
-
2
*
(
w
e
l
)
3

S
s
i
s
t

=

-

w
s
i
s
t
*
l
n
w
s
i
s
t

n
r
a
m
a
s

s
i
s
t

=

-
1
/
l
n
w
s
i
s
t

=

(
n
-

k
)
s
i
s
t

k
s
i
s
t

0 1 2 3 1 2 3 4 5 6 7
0 5 0.81873 0.16375 5 0.67032 0.26813 0.91334 0.08279
0.1 4.9 0.81540 0.16641 4.9 0.66487 0.27138 0.91035 0.08551
0.2 4.8 0.81194 0.16915 4.8 0.65924 0.27468 0.90720 0.08836
0.3 4.7 0.80835 0.17199 4.7 0.65342 0.27805 0.90388 0.09134
0.4 4.6 0.80462 0.17492 4.6 0.64741 0.28148 0.90039 0.09447
0.5 4.5 0.80074 0.17794 4.5 0.64118 0.28497 0.89671 0.09776
0.6 4.4 0.79670 0.18107 4.4 0.63474 0.28852 0.89282 0.10122
0.7 4.3 0.79250 0.18430 4.3 0.62806 0.29212 0.88870 0.10486
0.8 4.2 0.78813 0.18765 4.2 0.62115 0.29578 0.88435 0.10869
0.9 4.1 0.78356 0.19111 4.1 0.61397 0.29950 0.87974 0.11272
1 4 0.77880 0.19470 4 0.60653 0.30327 0.87486 0.11696
1.1 3.9 0.77382 0.19842 3.9 0.59880 0.30708 0.86967 0.12144
1.2 3.8 0.76862 0.20227 3.8 0.59078 0.31094 0.86417 0.12616
1.3 3.7 0.76317 0.20626 3.7 0.58243 0.31483 0.85830 0.13115
1.4 3.6 0.75747 0.21041 3.6 0.57375 0.31875 0.85206 0.13641
1.5 3.5 0.75148 0.21471 3.5 0.56472 0.32270 0.84541 0.14197
1.6 3.4 0.74519 0.21917 3.4 0.55531 0.32665 0.83830 0.14786
1.7 3.3 0.73858 0.22381 3.3 0.54550 0.33060 0.83071 0.15408
1.8 3.2 0.73162 0.22863 3.2 0.53526 0.33454 0.82257 0.16066
1.9 3.1 0.72428 0.23364 3.1 0.52458 0.33844 0.81385 0.16763
2 3 0.71653 0.23884 3 0.51342 0.34228 0.80449 0.17501
2.1 2.9 0.70834 0.24426 2.9 0.50175 0.34603 0.79443 0.18282
2.2 2.8 0.69967 0.24988 2.8 0.48954 0.34967 0.78359 0.19110

9. ANEXE

183
k
e
l

(

-

k
)

e
l

w
(
-
k
)
e
l

=

e
(
-
1
/
n
-
k
)

S
e
l

=

-

w
e
l
*
l
n
w
e
l

(

-

k
)

2

e
l
.

s
e
r
i
e

w
(
-
k
)
e
l

=

e
(
-
1
/
n
-
k
)

S
e
l

=

-

w
e
l
*
l
n
w
e
l

w
(
-
k
)
s
i
s
t

=

3
*
(
w
e
l
)
2
-
2
*
(
w
e
l
)
3

S
s
i
s
t

=

-

w
s
i
s
t
*
l
n
w
s
i
s
t

n
r
a
m
a
s

s
i
s
t

=

-
1
/
l
n
w
s
i
s
t

=

(
n
-

k
)
s
i
s
t

k
s
i
s
t

0 1 2 3 1 2 3 4 5 6 7
2.3 2.7 0.69048 0.25573 2.7 0.47676 0.35316 0.77190 0.19985
2.4 2.6 0.68071 0.26181 2.6 0.46337 0.35644 0.75927 0.20910
2.5 2.5 0.67032 0.26813 2.5 0.44933 0.35946 0.74560 0.21888
2.6 2.4 0.65924 0.27468 2.4 0.43460 0.36217 0.73079 0.22920
2.7 2.3 0.64741 0.28148 2.3 0.41913 0.36446 0.71470 0.24006
2.8 2.2 0.63474 0.28852 2.2 0.40289 0.36626 0.69721 0.25146
2.9 2.1 0.62115 0.29578 2.1 0.38582 0.36745 0.67816 0.26338
3 2 0.60653 0.30327 2 0.36788

0.36788

0.65738 0.27577 2.4 0.0

w(n-
k)
sist
=
e
(-1/(n-
k)
sistem
)

3.1 1.9 0.59078 0.31094 2.3 - - 0.64541 0.28260 2.3 0.1
3.2 1.8 0.57375 0.31875 2.2 - - 0.63260 0.28968 2.2 0.2
3.3 1.7 0.55531 0.32665 2.1 - - 0.61885 0.29698 2.1 0.3
3.4 1.6 0.53526 0.33454 2.0 - - 0.60406 0.30450 2.0 0.4
3.5 1.5 0.51342 0.34228 1.9 - - 0.58811 0.31219 1.9 0.5
3.6 1.4 0.48954 0.34967 1.8 - - 0.57087 0.32003 1.8 0.6
3.7 1.3 0.46337 0.35644 1.7 - - 0.55217 0.32793 1.7 0.7
3.8 1.2 0.43460 0.36217 1.6 - - 0.53185 0.33581 1.6 0.8
3.9 1.1 0.40289 0.36626 1.5 - - 0.50970 0.34350 1.5 0.9
4 1 0.36788

0.36788

1.4 - - 0.48547 0.35082 1.4 1.0
4.1 - - 1.3 0.45890 0.35745 1.3 1.1
4.2 - - 1.2 - - 0.42967 0.36296 1.2 1.2
4.3 - - 1.1 - - 0.39746 0.36672 1.1 1.3

9. ANEXE

184
k
e
l

(

-

k
)

e
l

w
(
-
k
)
e
l

=

e
(
-
1
/
n
-
k
)

S
e
l

=

-

w
e
l
*
l
n
w
e
l

(

-

k
)

2

e
l
.

s
e
r
i
e

w
(
-
k
)
e
l

=

e
(
-
1
/
n
-
k
)

S
e
l

=

-

w
e
l
*
l
n
w
e
l

w
(
-
k
)
s
i
s
t

=

3
*
(
w
e
l
)
2
-
2
*
(
w
e
l
)
3

S
s
i
s
t

=

-

w
s
i
s
t
*
l
n
w
s
i
s
t

n
r
a
m
a
s

s
i
s
t

=

-
1
/
l
n
w
s
i
s
t

=

(
n
-

k
)
s
i
s
t

k
s
i
s
t

0 1 2 3 1 2 3 4 5 6 7
4.4 - - 1.0 - - 0.36188

0.36783

1.0 1.4
4.5 - - 0.9 - - 0.32256 0.36497 0.9 1.5
4.6 - - 0.8 - - 0.27920 0.35621 0.8 1.6
4.7 - - 0.7 - - 0.23168 0.33881 0.7 1.7
4.8 - - 0.6 - - 0.18035 0.30891 0.6 1.8
4.9 - - 0.5 - - 0.12658 0.26162 0.5 1.9
5 - - 0.4 - - 0.07387 0.19247 0.4 2.0

9. ANEXE

185

Tabelul 9-6. Principalele caracteristici numerice ale schemei de automatizare
pentru pornirea stea-triunghi a unui motor electric trifazat

k - k R(t) w(-k) 1 - R(t) 1 - w(-k) - R(t)lnR(t) - w(-k)lnw(-k)
0 1 2 3 4 5 6 7
0.0 40.17 1.00000 0.97541 0 0.02459 0 0.02428
1.0 39.17 0.97541 0.97479 0.02459 0.02521 0.02428 0.02489
2.0 38.2 0.95143 0.97414 0.04857 0.02586 0.04737 0.02552
3.0 37.17 0.92804 0.97346 0.07196 0.02654 0.06931 0.02619
4.0 36.17 0.90522 0.97273 0.09478 0.02727 0.09014 0.02689
5.0 35.17 0.88296 0.97197 0.11704 0.02803 0.10990 0.02764
6.0 34.17 0.86125 0.97116 0.13875 0.02884 0.12864 0.02842
7.0 33.17 0.84008 0.97030 0.15992 0.02970 0.14639 0.02925
8.0 32.17 0.81942 0.96939 0.18058 0.03061 0.16319 0.03013
9.0 31.17 0.79928 0.96843 0.20072 0.03157 0.17908 0.03107
10.0 30.17 0.77963 0.96740 0.22037 0.03260 0.19408 0.03206
11.0 29.17 0.76046 0.96630 0.23954 0.03370 0.20824 0.03313
12.0 28.17 0.74176 0.96512 0.25824 0.03488 0.22159 0.03426
13.0 27.17 0.72352 0.96386 0.27648 0.03614 0.23415 0.03548
14.0 26.17 0.70573 0.96251 0.29427 0.03749 0.24596 0.03678
15.0 25.17 0.68838 0.96105 0.31162 0.03895 0.25705 0.03818
16.0 24.17 0.67146 0.95947 0.32854 0.04053 0.26745 0.03970
17.0 23.17 0.65495 0.95776 0.34505 0.04224 0.27717 0.04134
18.0 22.17 0.63884 0.95590 0.36116 0.04410 0.28626 0.04312
19.0 21.17 0.62314 0.95386 0.37686 0.04614 0.29474 0.04506
20.0 20.17 0.60782 0.95163 0.39218 0.04837 0.30262 0.04718
21.0 19.17 0.59287 0.94917 0.40713 0.05083 0.30994 0.04951
22.0 18.17 0.57829 0.94645 0.42171 0.05355 0.31672 0.05209
23.0 17.17 0.56408 0.94342 0.43592 0.05658 0.32297 0.05495
24.0 16.17 0.55021 0.94003 0.44979 0.05997 0.32873 0.05813
25.0 15.17 0.53668 0.93621 0.46332 0.06379 0.33400 0.06171
26.0 14.17 0.52348 0.93186 0.47652 0.06814 0.33882 0.06576

9. ANEXE

186
k - k R(t) w(-k) 1 - R(t) 1 - w(-k) - R(t)lnR(t) - w(-k)lnw(-k)
0 1 2 3 4 5 6 7
27.0 13.17 0.51061 0.92688 0.48939 0.07312 0.34321 0.07038
28.0 12.17 0.49806 0.92112 0.50194 0.07888 0.34717 0.07569
29.0 11.17 0.48581 0.91436 0.51419 0.08564 0.35072 0.08186
30.0 10.17 0.47387 0.90635 0.52613 0.09365 0.35390 0.08912
31.0 9.17 0.46222 0.89668 0.53778 0.10332 0.35670 0.09778
32.0 8.17 0.45085 0.88480 0.54915 0.11520 0.35916 0.10830
33.0 7.17 0.43977 0.86982 0.56023 0.13018 0.36127 0.12131
34.0 6.17 0.42896 0.85038 0.57104 0.14962 0.36307 0.13782
35.0 5.17 0.41841 0.82413 0.58159 0.17587 0.36456 0.15941
36.0 4.17 0.40812 0.78678 0.59188 0.21322 0.36575 0.18868
37.0 3.17 0.39809 0.72946 0.60191 0.27054 0.36667 0.23011
38.0 2.17 0.38830 0.63076 0.61170 0.36924 0.36732 0.29067
39.0 1.17 0.37875 0.42541 0.62125 0.57459 0.36772

0.36360

40.0 0.17 0.36944 0.00279 0.63056 0.99721 0.36788 0.01640

9. ANEXE

187

Tabelul 9-7. Valorile funciei echivalente de fiabilitate
obinute prin metodele SG1, GD, DE i SG2

R(t)
Metoda solutiei
generale (SG1)
Re(t)SG1=2R(t)
2
+2R(t)
3
5R(t)
4
+2R(t)
5
Procedeul grupurilor
de defectare (GD)
Re(t)GD=4R(t)
2
-
-4R(t)
3
+R(t)
4
Metoda drumurilor
extremale (DE)
Re(t)DE=2R(t)
2
+2R(t)
3
-
-5R(t)
4
+2R(t)
5
Metoda solutiei
generale (SG2)
Re(t)SG2=4R(t)
5
-
-11R(t)
4
+8R(t)
3
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 GD
R
=

0.8 0.911360000 0.921600000 0.911360000 0.901120000 1.12360
0.801 0.912253839 0.922366239 0.912253839 0.902141438 1.10851
0.802 0.913143350 0.923128954 0.913143350 0.903157747 1.09354
0.803 0.914028528 0.923888138 0.914028528 0.904168917 1.07870
0.804 0.914909364 0.924643789 0.914909364 0.905174939 1.06398
0.805 0.915785852 0.925395901 0.915785852 0.906175803 1.04938
0.806 0.916657985 0.926144468 0.916657985 0.907171501 1.03490
0.807 0.917525756 0.926889488 0.917525756 0.908162023 1.02054
0.808 0.918389158 0.927630954 0.918389158 0.909147361 1.00631
0.809 0.919248185 0.928368863 0.919248185 0.910127507 0.99219
0.81 0.920102830 0.929103210 0.920102830 0.911102450 0.97819
0.811 0.920953087 0.929833990 0.920953087 0.912072184 0.96432
0.812 0.921798949 0.930561198 0.921798949 0.913036700 0.95056
0.813 0.922640410 0.931284831 0.922640410 0.913995989 0.93692
0.814 0.923477464 0.932004883 0.923477464 0.914950044 0.92340
0.815 0.924310103 0.932721351 0.924310103 0.915898856 0.91000
0.816 0.925138324 0.933434229 0.925138324 0.916842418 0.89672
0.817 0.925962118 0.934143513 0.925962118 0.917780722 0.88356
0.818 0.926781480 0.934849199 0.926781480 0.918713761 0.87051
0.819 0.927596405 0.935551283 0.927596405 0.919641527 0.85758
0.82 0.928406886 0.936249760 0.928406886 0.920564013 0.84477
0.821 0.929212918 0.936944626 0.929212918 0.921481211 0.83207
0.822 0.930014495 0.937635876 0.930014495 0.922393115 0.81949
0.823 0.930811612 0.938323506 0.930811612 0.923299718 0.80703
0.824 0.931604262 0.939007513 0.931604262 0.924201012 0.79468
0.825 0.932392441 0.939687891 0.932392441 0.925096992 0.78244
0.826 0.933176143 0.940364636 0.933176143 0.925987651 0.77033
0.827 0.933955363 0.941037745 0.933955363 0.926872982 0.75832
0.828 0.934730096 0.941707213 0.934730096 0.927752979 0.74643
0.829 0.935500336 0.942373036 0.935500336 0.928627636 0.73466
0.83 0.936266079 0.943035210 0.936266079 0.929496947 0.72299
0.831 0.937027319 0.943693731 0.937027319 0.930360907 0.71144
0.832 0.937784051 0.944348594 0.937784051 0.931219508 0.70001
0.833 0.938536272 0.944999796 0.938536272 0.932072747 0.68868
0.834 0.939283975 0.945647333 0.939283975 0.932920617 0.67747
0.835 0.940027157 0.946291201 0.940027157 0.933763113 0.66637
0.836 0.940765813 0.946931395 0.940765813 0.934600230 0.65538
0.837 0.941499938 0.947567912 0.941499938 0.935431963 0.64450
0.838 0.942229527 0.948200748 0.942229527 0.936258307 0.63373
0.839 0.942954578 0.948829898 0.942954578 0.937079258 0.62308
0.84 0.943675085 0.949455360 0.943675085 0.937894810 0.61253
0.841 0.944391044 0.950077129 0.944391044 0.938704959 0.60209
0.842 0.945102451 0.950695201 0.945102451 0.939509700 0.59176
0.843 0.945809302 0.951309573 0.945809302 0.940309031 0.58154
0.844 0.946511593 0.951920241 0.946511593 0.941102946 0.57143
0.845 0.947209321 0.952527201 0.947209321 0.941891441 0.56143

9. ANEXE

188
R(t)
Metoda solutiei
generale (SG1)
Re(t)SG1=2R(t)
2
+2R(t)
3
5R(t)
4
+2R(t)
5
de defectare (GD)
Re(t)GD=4R(t)
2
-
-4R(t)
3
+R(t)
4
Metoda drumurilor
extremale (DE)
Re(t)DE=2R(t)
2
+2R(t)
3
-
-5R(t)
4
+2R(t)
5
Metoda solutiei
generale (SG2)
Re(t)SG2=4R(t)
5
-
-11R(t)
4
+8R(t)
3
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 GD
R
=

0.846 0.947902481 0.953130449 0.947902481 0.942674514 0.55153
0.847 0.948591070 0.953729981 0.948591070 0.943452159 0.54174
0.848 0.949275084 0.954325795 0.949275084 0.944224374 0.53206
0.849 0.949954521 0.954917886 0.949954521 0.944991156 0.52248
0.85 0.950629375 0.955506250 0.950629375 0.945752500 0.51302
0.851 0.951299644 0.956090884 0.951299644 0.946508405 0.50365
0.852 0.951965326 0.956671785 0.951965326 0.947258866 0.49439
0.853 0.952626415 0.957248949 0.952626415 0.948003882 0.48524
0.854 0.953282911 0.957822372 0.953282911 0.948743450 0.47619
0.855 0.953934808 0.958392051 0.953934808 0.949477566 0.46725
0.856 0.954582106 0.958957982 0.954582106 0.950206230 0.45841
0.857 0.955224800 0.959520162 0.955224800 0.950929438 0.44967
0.858 0.955862888 0.960078587 0.955862888 0.951647189 0.44104
0.859 0.956496367 0.960633254 0.956496367 0.952359480 0.43250
0.86 0.957125235 0.961184160 0.957125235 0.953066310 0.42407
0.861 0.957749490 0.961731301 0.957749490 0.953767678 0.41575
0.862 0.958369128 0.962274674 0.958369128 0.954463581 0.40752
0.863 0.958984147 0.962814275 0.958984147 0.955154019 0.39939
0.864 0.959594546 0.963350102 0.959594546 0.955838991 0.39137
0.865 0.960200322 0.963882151 0.960200322 0.956518494 0.38344
0.866 0.960801474 0.964410418 0.960801474 0.957192529 0.37562
0.867 0.961397998 0.964934901 0.961397998 0.957861095 0.36789
0.868 0.961989894 0.965455596 0.961989894 0.958524191 0.36026
0.869 0.962577159 0.965972500 0.962577159 0.959181817 0.35273
0.87 0.963159791 0.966485610 0.963159791 0.959833973 0.34530
0.871 0.963737790 0.966994923 0.963737790 0.960480658 0.33797
0.872 0.964311154 0.967500435 0.964311154 0.961121872 0.33073
0.873 0.964879880 0.968002145 0.964879880 0.961757616 0.32359
0.874 0.965443969 0.968500047 0.965443969 0.962387891 0.31655
0.875 0.966003418 0.968994141 0.966003418 0.963012695 0.30960
0.876 0.966558226 0.969484421 0.966558226 0.963632031 0.30274
0.877 0.967108393 0.969970887 0.967108393 0.964245900 0.29598
0.878 0.967653917 0.970453533 0.967653917 0.964854301 0.28932
0.879 0.968194798 0.970932359 0.968194798 0.965457236 0.28275
0.88 0.968731034 0.971407360 0.968731034 0.966054707 0.27627
0.881 0.969262625 0.971878534 0.969262625 0.966646715 0.26989
0.882 0.969789570 0.972345878 0.969789570 0.967233262 0.26359
0.883 0.970311869 0.972809389 0.970311869 0.967814349 0.25739
0.884 0.970829521 0.973269064 0.970829521 0.968389978 0.25128
0.885 0.971342526 0.973724901 0.971342526 0.968960151 0.24527
0.886 0.971850884 0.974176896 0.971850884 0.969524872 0.23934
0.887 0.972354594 0.974625047 0.972354594 0.970084141 0.23350
0.888 0.972853657 0.975069352 0.972853657 0.970637962 0.22775
0.889 0.973348072 0.975509807 0.973348072 0.971186337 0.22209
0.89 0.973837840 0.975946410 0.973837840 0.971729270 0.21652
0.891 0.974322960 0.976379158 0.974322960 0.972266762 0.21104
0.892 0.974803434 0.976808049 0.974803434 0.972798819 0.20564
0.893 0.975279261 0.977233080 0.975279261 0.973325442 0.20033
0.894 0.975750442 0.977654248 0.975750442 0.973846636 0.19511
0.895 0.976216977 0.978071551 0.976216977 0.974362404 0.18998
0.896 0.976678868 0.978484986 0.976678868 0.974872751 0.18492
0.897 0.977136115 0.978894551 0.977136115 0.975377679 0.17996

9. ANEXE

189
R(t)
Metoda solutiei
generale (SG1)
Re(t)SG1=2R(t)
2
+2R(t)
3
5R(t)
4
+2R(t)
5
de defectare (GD)
Re(t)GD=4R(t)
2
-
-4R(t)
3
+R(t)
4
Metoda drumurilor
extremale (DE)
Re(t)DE=2R(t)
2
+2R(t)
3
-
-5R(t)
4
+2R(t)
5
Metoda solutiei
generale (SG2)
Re(t)SG2=4R(t)
5
-
-11R(t)
4
+8R(t)
3
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 GD
R
=

0.898 0.977588718 0.979300243 0.977588718 0.975877194 0.17508
0.899 0.978036680 0.979702060 0.978036680 0.976371299 0.17028
0.9 0.978480000 0.980100000 0.978480000 0.976860000 0.16556
0.901 0.978918680 0.980494060 0.978918680 0.977343301 0.16093
0.902 0.979352722 0.980884237 0.979352722 0.977821207 0.15638
0.903 0.979782126 0.981270529 0.979782126 0.978293722 0.15191
0.904 0.980206894 0.981652935 0.980206894 0.978760853 0.14752
0.905 0.980627028 0.982031451 0.980627028 0.979222604 0.14322
0.906 0.981042528 0.982406075 0.981042528 0.979678982 0.13899
0.907 0.981453398 0.982776805 0.981453398 0.980129991 0.13484
0.908 0.981859639 0.983143639 0.981859639 0.980575638 0.13077
0.909 0.982261252 0.983506575 0.982261252 0.981015929 0.12678
0.91 0.982658240 0.983865610 0.982658240 0.981450870 0.12287
0.911 0.983050605 0.984220742 0.983050605 0.981880468 0.11903
0.912 0.983438349 0.984571970 0.983438349 0.982304729 0.11527
0.913 0.983821474 0.984919290 0.983821474 0.982723659 0.11159
0.914 0.984199984 0.985262701 0.984199984 0.983137266 0.10798
0.915 0.984573879 0.985602201 0.984573879 0.983545557 0.10444
0.916 0.984943163 0.985937787 0.984943163 0.983948540 0.10098
0.917 0.985307840 0.986269458 0.985307840 0.984346221 0.09760
0.918 0.985667910 0.986597212 0.985667910 0.984738608 0.09428
0.919 0.986023378 0.986921047 0.986023378 0.985125709 0.09104
0.92 0.986374246 0.987240960 0.986374246 0.985507533 0.08787
0.921 0.986720518 0.987556950 0.986720518 0.985884087 0.08477
0.922 0.987062197 0.987869015 0.987062197 0.986255379 0.08174
0.923 0.987399286 0.988177153 0.987399286 0.986621418 0.07878
0.924 0.987731788 0.988481362 0.987731788 0.986982213 0.07589
0.925 0.988059707 0.988781641 0.988059707 0.987337773 0.07307
0.926 0.988383047 0.989077987 0.988383047 0.987688107 0.07031
0.927 0.988701811 0.989370398 0.988701811 0.988033224 0.06762
0.928 0.989016003 0.989658874 0.989016003 0.988373133 0.06500
0.929 0.989325628 0.989943412 0.989325628 0.988707844 0.06244
0.93 0.989630689 0.990224010 0.989630689 0.989037367 0.05995
0.931 0.989931190 0.990500667 0.989931190 0.989361712 0.05753
0.932 0.990227135 0.990773381 0.990227135 0.989680889 0.05516
0.933 0.990518529 0.991042151 0.990518529 0.989994908 0.05286
0.934 0.990805377 0.991306975 0.990805377 0.990303779 0.05063
0.935 0.991087683 0.991567851 0.991087683 0.990607514 0.04845
0.936 0.991365451 0.991824777 0.991365451 0.990906124 0.04633
0.937 0.991638686 0.992077753 0.991638686 0.991199619 0.04428
0.938 0.991907393 0.992326776 0.991907393 0.991488010 0.04228
0.939 0.992171578 0.992571846 0.992171578 0.991771310 0.04034
0.94 0.992431245 0.992812960 0.992431245 0.992049530 0.03846
0.941 0.992686399 0.993050117 0.992686399 0.992322681 0.03664
0.942 0.992937046 0.993283316 0.992937046 0.992590775 0.03487
0.943 0.993183191 0.993512556 0.993183191 0.992853825 0.03316
0.944 0.993424839 0.993737834 0.993424839 0.993111844 0.03151
0.945 0.993661997 0.993959151 0.993661997 0.993364842 0.02990
0.946 0.993894669 0.994176503 0.993894669 0.993612835 0.02836
0.947 0.994122862 0.994389890 0.994122862 0.993855834 0.02686
0.948 0.994346582 0.994599312 0.994346582 0.994093852 0.02542
0.949 0.994565834 0.994804765 0.994565834 0.994326903 0.02402

9. ANEXE

190
R(t)
Metoda solutiei
generale (SG1)
Re(t)SG1=2R(t)
2
+2R(t)
3
5R(t)
4
+2R(t)
5
de defectare (GD)
Re(t)GD=4R(t)
2
-
-4R(t)
3
+R(t)
4
Metoda drumurilor
extremale (DE)
Re(t)DE=2R(t)
2
+2R(t)
3
-
-5R(t)
4
+2R(t)
5
Metoda solutiei
generale (SG2)
Re(t)SG2=4R(t)
5
-
-11R(t)
4
+8R(t)
3
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 GD
R
=

0.95 0.994780625 0.995006250 0.994780625 0.994555000 0.02268
0.951 0.994990961 0.995203765 0.994990961 0.994778157 0.02139
0.952 0.995196848 0.995397308 0.995196848 0.994996389 0.02014
0.953 0.995398294 0.995586880 0.995398294 0.995209708 0.01895
0.954 0.995595303 0.995772477 0.995595303 0.995418129 0.01780
0.955 0.995787884 0.995954101 0.995787884 0.995621668 0.01669
0.956 0.995976043 0.996131748 0.995976043 0.995820337 0.01563
0.957 0.996159786 0.996305419 0.996159786 0.996014153 0.01462
0.958 0.996339121 0.996475112 0.996339121 0.996203130 0.01365
0.959 0.996514055 0.996640826 0.996514055 0.996387284 0.01272
0.96 0.996684595 0.996802560 0.996684595 0.996566630 0.01184
0.961 0.996850749 0.996960313 0.996850749 0.996741184 0.01099
0.962 0.997012523 0.997114085 0.997012523 0.996910961 0.01019
0.963 0.997169926 0.997263874 0.997169926 0.997075978 0.00942
0.964 0.997322965 0.997409680 0.997322965 0.997236251 0.00869
0.965 0.997471648 0.997551501 0.997471648 0.997391796 0.00801
0.966 0.997615983 0.997689336 0.997615983 0.997542629 0.00735
0.967 0.997755977 0.997823186 0.997755977 0.997688769 0.00674
0.968 0.997891640 0.997953049 0.997891640 0.997830231 0.00615
0.969 0.998022978 0.998078924 0.998022978 0.997967033 0.00561
0.97 0.998150001 0.998200810 0.998150001 0.998099193 0.00509
0.971 0.998272717 0.998318707 0.998272717 0.998226727 0.00461
0.972 0.998391135 0.998432615 0.998391135 0.998349655 0.00415
0.973 0.998505263 0.998542531 0.998505263 0.998467994 0.00373
0.974 0.998615109 0.998648457 0.998615109 0.998581761 0.00334
0.975 0.998720684 0.998750391 0.998720684 0.998690977 0.00297
0.976 0.998821995 0.998848332 0.998821995 0.998795658 0.00264
0.977 0.998919052 0.998942280 0.998919052 0.998895825 0.00233
0.978 0.999011865 0.999032234 0.999011865 0.998991496 0.00204
0.979 0.999100442 0.999118194 0.999100442 0.999082690 0.00178
0.98 0.999184794 0.999200160 0.999184794 0.999169427 0.00154
0.981 0.999264929 0.999278130 0.999264929 0.999251727 0.00132
0.982 0.999340857 0.999352105 0.999340857 0.999329609 0.00113
0.983 0.999412589 0.999422084 0.999412589 0.999403094 0.00095
0.984 0.999480134 0.999488066 0.999480134 0.999472202 0.00079
0.985 0.999543502 0.999550051 0.999543502 0.999536953 0.00066
0.986 0.999602703 0.999608038 0.999602703 0.999597368 0.00053
0.987 0.999657748 0.999662029 0.999657748 0.999653468 0.00043
0.988 0.999708647 0.999712021 0.999708647 0.999705274 0.00034
0.989 0.999755411 0.999758015 0.999755411 0.999752807 0.00026
0.99 0.999798050 0.999800010 0.999798050 0.999796090 0.00020
0.99 0.999802087 0.999803990 0.999802087 0.999800185 0.00019
0.99 0.999806084 0.999807929 0.999806084 0.999804238 0.00018
0.99 0.999810039 0.999811829 0.999810039 0.999808249 0.00018
0.99 0.999813953 0.999815688 0.999813953 0.999812217 0.00017
0.991 0.999817826 0.999819508 0.999817826 0.999816143 0.00017
0.991 0.999821658 0.999823288 0.999821658 0.999820028 0.00016
0.991 0.999825449 0.999827027 0.999825449 0.999823870 0.00016
0.991 0.999829198 0.999830727 0.999829198 0.999827669 0.00015
0.991 0.999832907 0.999834387 0.999832907 0.999831427 0.00015
0.991 0.999836575 0.999838007 0.999836575 0.999835143 0.00014
0.991 0.999840201 0.999841586 0.999840201 0.999838816 0.00014

9. ANEXE

191
R(t)
Metoda solutiei
generale (SG1)
Re(t)SG1=2R(t)
2
+2R(t)
3
5R(t)
4
+2R(t)
5
de defectare (GD)
Re(t)GD=4R(t)
2
-
-4R(t)
3
+R(t)
4
Metoda drumurilor
extremale (DE)
Re(t)DE=2R(t)
2
+2R(t)
3
-
-5R(t)
4
+2R(t)
5
Metoda solutiei
generale (SG2)
Re(t)SG2=4R(t)
5
-
-11R(t)
4
+8R(t)
3
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 GD
R
=

0.991 0.999843787 0.999845126 0.999843787 0.999842448 0.00013
0.991 0.999847332 0.999848626 0.999847332 0.999846037 0.00013
0.991 0.999850835 0.999852085 0.999850835 0.999849585 0.00013
0.992 0.999854298 0.999855505 0.999854298 0.999853090 0.00012
0.992 0.999857719 0.999858885 0.999857719 0.999856554 0.00012
0.992 0.999861100 0.999862225 0.999861100 0.999859975 0.00011
0.992 0.999864440 0.999865525 0.999864440 0.999863355 0.00011
0.992 0.999867739 0.999868784 0.999867739 0.999866693 0.00010
0.992 0.999870996 0.999872004 0.999870996 0.999869989 0.00010
0.992 0.999874213 0.999875184 0.999874213 0.999873243 0.00010
0.992 0.999877389 0.999878324 0.999877389 0.999876455 0.00009
0.992 0.999880524 0.999881424 0.999880524 0.999879625 0.00009
0.992 0.999883619 0.999884483 0.999883619 0.999882754 0.00009
0.993 0.999886672 0.999887503 0.999886672 0.999885841 0.00008
0.993 0.999889685 0.999890483 0.999889685 0.999888886 0.00008
0.993 0.999892656 0.999893423 0.999892656 0.999891889 0.00008
0.993 0.999895587 0.999896323 0.999895587 0.999894851 0.00007
0.993 0.999898477 0.999899183 0.999898477 0.999897771 0.00007
0.993 0.999901326 0.999902002 0.999901326 0.999900650 0.00007
0.993 0.999904134 0.999904782 0.999904134 0.999903486 0.00006
0.993 0.999906902 0.999907522 0.999906902 0.999906281 0.00006
0.993 0.999909629 0.999910222 0.999909629 0.999909035 0.00006
0.993 0.999912314 0.999912882 0.999912314 0.999911747 0.00006
0.994 0.999914960 0.999915502 0.999914960 0.999914418 0.00005
0.994 0.999917564 0.999918082 0.999917564 0.999917046 0.00005
0.994 0.999920128 0.999920622 0.999920128 0.999919634 0.00005
0.994 0.999922651 0.999923121 0.999922651 0.999922180 0.00005
0.994 0.999925133 0.999925581 0.999925133 0.999924685 0.00004
0.994 0.999927574 0.999928001 0.999927574 0.999927148 0.00004
0.994 0.999929975 0.999930381 0.999929975 0.999929569 0.00004
0.994 0.999932335 0.999932721 0.999932335 0.999931950 0.00004
0.994 0.999934655 0.999935021 0.999934655 0.999934289 0.00004
0.994 0.999936934 0.999937281 0.999936934 0.999936586 0.00003
0.994 0.999939172 0.999939501 0.999939172 0.999938843 0.00003
0.995 0.999941369 0.999941681 0.999941369 0.999941058 0.00003
0.995 0.999943526 0.999943821 0.999943526 0.999943232 0.00003
0.995 0.999945642 0.999945921 0.999945642 0.999945364 0.00003
0.995 0.999947718 0.999947981 0.999947718 0.999947455 0.00003
0.995 0.999949753 0.999950001 0.999949753 0.999949506 0.00002
0.995 0.999951748 0.999951981 0.999951748 0.999951515 0.00002
0.995 0.999953701 0.999953921 0.999953701 0.999953482 0.00002
0.995 0.999955615 0.999955820 0.999955615 0.999955409 0.00002
0.995 0.999957488 0.999957680 0.999957488 0.999957295 0.00002
0.995 0.999959320 0.999959500 0.999959320 0.999959139 0.00002
0.996 0.999961112 0.999961280 0.999961112 0.999960943 0.00002
0.996 0.999962863 0.999963020 0.999962863 0.999962705 0.00002
0.996 0.999964573 0.999964720 0.999964573 0.999964426 0.00001
0.996 0.999966244 0.999966380 0.999966244 0.999966107 0.00001
0.996 0.999967873 0.999968000 0.999967873 0.999967746 0.00001
0.996 0.999969463 0.999969580 0.999969463 0.999969345 0.00001
0.996 0.999971011 0.999971120 0.999971011 0.999970902 0.00001
0.996 0.999972520 0.999972620 0.999972520 0.999972419 0.00001

9. ANEXE

192
R(t)
Metoda solutiei
generale (SG1)
Re(t)SG1=2R(t)
2
+2R(t)
3
5R(t)
4
+2R(t)
5
de defectare (GD)
Re(t)GD=4R(t)
2
-
-4R(t)
3
+R(t)
4
Metoda drumurilor
extremale (DE)
Re(t)DE=2R(t)
2
+2R(t)
3
-
-5R(t)
4
+2R(t)
5
Metoda solutiei
generale (SG2)
Re(t)SG2=4R(t)
5
-
-11R(t)
4
+8R(t)
3
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 GD
R
=

0.996 0.999973988 0.999974080 0.999973988 0.999973895 0.00001
0.996 0.999975415 0.999975500 0.999975415 0.999975330 0.00001
0.997 0.999976802 0.999976880 0.999976802 0.999976724 0.00001
0.997 0.999978149 0.999978220 0.999978149 0.999978077 0.00001
0.997 0.999979455 0.999979520 0.999979455 0.999979390 0.00001
0.997 0.999980721 0.999980780 0.999980721 0.999980662 0.00001
0.997 0.999981946 0.999982000 0.999981946 0.999981893 0.00001
0.997 0.999983132 0.999983180 0.999983132 0.999983083 0.00000
0.997 0.999984276 0.999984320 0.999984276 0.999984233 0.00000
0.997 0.999985381 0.999985420 0.999985381 0.999985342 0.00000
0.997 0.999986445 0.999986480 0.999986445 0.999986410 0.00000
0.997 0.999987469 0.999987500 0.999987469 0.999987438 0.00000
0.998 0.999988453 0.999988480 0.999988453 0.999988425 0.00000
0.998 0.999989396 0.999989420 0.999989396 0.999989372 0.00000
0.998 0.999990299 0.999990320 0.999990299 0.999990278 0.00000
0.998 0.999991162 0.999991180 0.999991162 0.999991143 0.00000
0.998 0.999991984 0.999992000 0.999991984 0.999991968 0.00000
0.998 0.999992766 0.999992780 0.999992766 0.999992753 0.00000
0.998 0.999993508 0.999993520 0.999993508 0.999993497 0.00000
0.998 0.999994210 0.999994220 0.999994210 0.999994200 0.00000
0.998 0.999994872 0.999994880 0.999994872 0.999994864 0.00000
0.998 0.999995493 0.999995500 0.999995493 0.999995487 0.00000
0.999 0.999996075 0.999996080 0.999996075 0.999996069 0.00000
0.999 0.999996616 0.999996620 0.999996616 0.999996611 0.00000
0.999 0.999997117 0.999997120 0.999997117 0.999997113 0.00000
0.999 0.999997577 0.999997580 0.999997577 0.999997575 0.00000
0.999 0.999997998 0.999998000 0.999997998 0.999997996 0.00000

9. ANEXE

193

Fig. 9-1. Funcia de fiabilitate echivalenta Re(t) obinuta prin metodele SG1, GD, DE, SG2 pentru
R(t)= 0,8 - 0,9

0
.
8
9
9
9
0
.
9
1
9
9
0
.
9
3
9
9
0
.
9
5
9
9
0
.
9
7
9
9
0
.
9
9
9
9
0
.
8
0
0
0
.
8
0
3
0
.
8
0
6
0
.
8
0
9
0
.
8
1
2
0
.
8
1
5
0
.
8
1
8
0
.
8
2
1
0
.
8
2
4
0
.
8
2
7
0
.
8
3
0
0
.
8
3
3
0
.
8
3
6
0
.
8
3
9
0
.
8
4
2
0
.
8
4
5
0
.
8
4
8
0
.
8
5
1
0
.
8
5
4
0
.
8
5
7
0
.
8
6
0
0
.
8
6
3
0
.
8
6
6
0
.
8
6
9
0
.
8
7
2
0
.
8
7
5
0
.
8
7
8
0
.
8
8
1
0
.
8
8
4
0
.
8
8
7
0
.
8
9
0
0
.
8
9
3
0
.
8
9
6
0
.
8
9
9
R
(
t
)
R e ( t )
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.
s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

v
a
r
.
I
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

g
r
u
p
u
r
i
l
o
r

d
e

d
e
f
e
c
t
a
r
e
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.
s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

v
a
r
.
I
I
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.
d
r
u
m
u
r
u
l
o
r

e
x
t
r
e
m
a
l
e

9. ANEXE

194

Fig.9-2. Funcia de fiabilitate echivalenta Re(t) obinuta prin metodele SG1, GD, DE, SG2 pentru
R(t)= 0,9 - 0,99
0
.
9
7
4
9
0
.
9
7
9
9
0
.
9
8
4
9
0
.
9
8
9
9
0
.
9
9
4
9
0
.
9
9
9
9
0
.
9
0
.
9
0
3
0
.
9
0
6
0
.
9
0
9
0
.
9
1
2
0
.
9
1
5
0
.
9
1
8
0
.
9
2
1
0
.
9
2
4
0
.
9
2
7
0
.
9
3
0
.
9
3
3
0
.
9
3
6
0
.
9
3
9
0
.
9
4
2
0
.
9
4
5
0
.
9
4
8
0
.
9
5
1
0
.
9
5
4
0
.
9
5
7
0
.
9
6
0
.
9
6
3
0
.
9
6
6
0
.
9
6
9
0
.
9
7
2
0
.
9
7
5
0
.
9
7
8
0
.
9
8
1
0
.
9
8
4
0
.
9
8
7
0
.
9
9
R
(
t
)
R e ( t )
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

v
a
r
.
I
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

g
r
u
p
u
r
i
l
o
r

d
e

d
e
f
e
c
t
a
r
e
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

v
a
r
.

I
I
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

d
r
u
m
u
r
i
l
o
r

e
x
t
r
e
m
a
l
e

9. ANEXE

195

Fig.9-3. Funcia de fiabilitate echivalenta Re(t) obinuta prin metodele SG1, GD, DE, SG2 pentru
R(t)= 0,99 - 0,999
0
.
9
9
9
7
4
9
9
9
0
.
9
9
9
7
9
9
9
9
0
.
9
9
9
8
4
9
9
9
0
.
9
9
9
8
9
9
9
9
0
.
9
9
9
9
4
9
9
9
0
.
9
9
9
9
9
9
9
9
0
.
9
9
0
0
.
9
9
0
0
.
9
9
1
0
.
9
9
1
0
.
9
9
1
0
.
9
9
2
0
.
9
9
2
0
.
9
9
2
0
.
9
9
2
0
.
9
9
3
0
.
9
9
3
0
.
9
9
3
0
.
9
9
4
0
.
9
9
4
0
.
9
9
4
0
.
9
9
4
0
.
9
9
5
0
.
9
9
5
0
.
9
9
5
0
.
9
9
6
0
.
9
9
6
0
.
9
9
6
0
.
9
9
7
0
.
9
9
7
0
.
9
9
7
0
.
9
9
7
0
.
9
9
8
0
.
9
9
8
0
.
9
9
8
0
.
9
9
9
0
.
9
9
9
R
(
t
)
R e ( t )
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

v
a
r
.

I
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

g
r
u
p
u
r
i
l
o
r

d
e

d
e
f
e
c
t
a
r
e
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

v
a
r
.
I
I
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

d
r
u
m
u
r
i
l
o
r

e
x
t
r
e
m
a
l
e

9. ANEXE

196

Fig. 9-4. Eroarea relativa de aproximare, in %, in cazul determinrii funciei de fiabilitate pentru
structura din Fig. 6-22 prin metoda (procedeul) grupurilor de defectare

0
.
0
0
0
.
2
0
0
.
4
0
0
.
6
0
0
.
8
0
1
.
0
0
1
.
2
0
0
.
8
0
0
0
.
8
0
9
0
.
8
1
8
0
.
8
2
7
0
.
8
3
6
0
.
8
4
5
0
.
8
5
4
0
.
8
6
3
0
.
8
7
2
0
.
8
8
1
0
.
8
9
0
0
.
8
9
9
0
.
9
0
8
0
.
9
1
7
0
.
9
2
6
0
.
9
3
5
0
.
9
4
4
0
.
9
5
3
0
.
9
6
2
0
.
9
7
1
0
.
9
8
0
0
.
9
8
9
0
.
9
9
1
0
.
9
9
2
0
.
9
9
3
0
.
9
9
4
0
.
9
9
4
0
.
9
9
5
0
.
9
9
6
0
.
9
9
7
0
.
9
9
8
0
.
9
9
9
R
(
t
)
ddd d
R
( % )
E
r
o
a
r
e
a

r
e
l
a
t
i
v
a

9. ANEXE

197

Tabelul 9-8. Valorile funciei echivalente de fiabilitate
obinute prin metodele SG1, GD, DE i SG2

R(t)
Metoda solutiei generale
SG1
Re(t)
SG1
=2R(t)
3
-R(t)
5
SG2
Re(t)
SG2
=2R(t)
6
-7R(t)
5
+6R(t)
4

0.8 0.696320000 0.688128000 1.17647
0.801 0.698111676 0.690011643 1.16028
0.802 0.699902685 0.691894231 1.14422
0.803 0.701693001 0.693775734 1.12831
0.804 0.703482597 0.695656120 1.11253
0.805 0.705271447 0.697535358 1.09690
0.806 0.707059524 0.699413418 1.08139
0.807 0.708846801 0.701290269 1.06603
0.808 0.710633251 0.703165879 1.05081
0.809 0.712418846 0.705040217 1.03571
0.81 0.714203560 0.706913252 1.02076
0.811 0.715987365 0.708784953 1.00594
0.812 0.717770234 0.710655287 0.99126
0.813 0.719552139 0.712524224 0.97671
0.814 0.721333052 0.714391733 0.96229
0.815 0.723112947 0.716257780 0.94801
0.816 0.724891794 0.718122336 0.93386
0.817 0.726669567 0.719985367 0.91984
0.818 0.728446237 0.721846843 0.90595
0.819 0.730221777 0.723706732 0.89220
0.82 0.731996157 0.725565000 0.87858
0.821 0.733769350 0.727421618 0.86509
0.822 0.735541327 0.729276552 0.85172
0.823 0.737312059 0.731129770 0.83849
0.824 0.739081519 0.732981241 0.82539
0.825 0.740849678 0.734830932 0.81241
0.826 0.742616506 0.736678811 0.79956
0.827 0.744381975 0.738524845 0.78684
0.828 0.746146055 0.740369002 0.77425
0.829 0.747908719 0.742211250 0.76179
0.83 0.749669936 0.744051557 0.74945
0.831 0.751429677 0.745889888 0.73723
0.832 0.753187913 0.747726213 0.72514
0.833 0.754944614 0.749560498 0.71318
0.834 0.756699752 0.751392711 0.70134
0.835 0.758453295 0.753222818 0.68962
0.836 0.760205215 0.755050788 0.67803
0.837 0.761955481 0.756876586 0.66656
0.838 0.763704063 0.758700181 0.65521
0.839 0.765450932 0.760521539 0.64399
0.84 0.767196058 0.762340626 0.63288
100
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 SG2
R

=

9. ANEXE

198
R(t)
SG1
Re(t)
SG1
=2R(t)
3
-R(t)
5
SG2
Re(t)
SG2
=2R(t)
6
-7R(t)
5
+6R(t)
4

0.841 0.768939409 0.764157411 0.62190
0.842 0.770680955 0.765971859 0.61103
0.843 0.772420667 0.767783938 0.60029
0.844 0.774158513 0.769593615 0.58966
0.845 0.775894463 0.771400855 0.57915
0.846 0.777628486 0.773205625 0.56876
0.847 0.779360551 0.775007893 0.55849
0.848 0.781090627 0.776807624 0.54834
0.849 0.782818683 0.778604786 0.53830
0.85 0.784544688 0.780399344 0.52838
0.851 0.786268610 0.782191265 0.51857
0.852 0.787990418 0.783980515 0.50888
0.853 0.789710081 0.785767060 0.49930
0.854 0.791427567 0.787550867 0.48984
0.855 0.793142844 0.789331902 0.48049
0.856 0.794855881 0.791110131 0.47125
0.857 0.796566645 0.792885520 0.46212
0.858 0.798275105 0.794658035 0.45311
0.859 0.799981228 0.796427642 0.44421
0.86 0.801684982 0.798194307 0.43542
0.861 0.803386336 0.799957996 0.42674
0.862 0.805085255 0.801718674 0.41816
0.863 0.806781709 0.803476308 0.40970
0.864 0.808475664 0.805230864 0.40135
0.865 0.810167087 0.806982306 0.39310
0.866 0.811855946 0.808730601 0.38496
0.867 0.813542208 0.810475714 0.37693
0.868 0.815225840 0.812217610 0.36901
0.869 0.816906808 0.813956256 0.36119
0.87 0.818585079 0.815691617 0.35347
0.871 0.820260621 0.817423658 0.34586
0.872 0.821933398 0.819152345 0.33836
0.873 0.823603379 0.820877643 0.33095
0.874 0.825270529 0.822599517 0.32365
0.875 0.826934814 0.824317932 0.31646
0.876 0.828596201 0.826032855 0.30936
0.877 0.830254656 0.827744249 0.30237
0.878 0.831910144 0.829452081 0.29547
0.879 0.833562631 0.831156315 0.28868
0.88 0.835212083 0.832856916 0.28198
0.881 0.836858466 0.834553850 0.27539
0.882 0.838501745 0.836247081 0.26889
0.883 0.840141885 0.837936575 0.26249
0.884 0.841778852 0.839622296 0.25619
0.885 0.843412610 0.841304209 0.24998
0.886 0.845043126 0.842982279 0.24387
100
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 SG2
R

=

9. ANEXE

199
R(t)
SG1
Re(t)
SG1
=2R(t)
3
-R(t)
5
SG2
Re(t)
SG2
=2R(t)
6
-7R(t)
5
+6R(t)
4

0.887 0.846670364 0.844656472 0.23786
0.888 0.848294288 0.846326750 0.23194
0.889 0.849914863 0.847993081 0.22611
0.89 0.851532055 0.849655428 0.22038
0.891 0.853145827 0.851313755 0.21474
0.892 0.854756145 0.852968028 0.20920
0.893 0.856362972 0.854618211 0.20374
0.894 0.857966272 0.856264269 0.19838
0.895 0.859566010 0.857906167 0.19310
0.896 0.861162149 0.859543868 0.18792
0.897 0.862754654 0.861177337 0.18282
0.898 0.864343489 0.862806540 0.17782
0.899 0.865928616 0.864431439 0.17290
0.9 0.867510000 0.866052000 0.16807
0.901 0.869087604 0.867668187 0.16332
0.902 0.870661391 0.869279964 0.15866
0.903 0.872231325 0.870887297 0.15409
0.904 0.873797368 0.872490148 0.14960
0.905 0.875359485 0.874088482 0.14520
0.906 0.876917637 0.875682263 0.14088
0.907 0.878471787 0.877271457 0.13664
0.908 0.880021898 0.878856026 0.13248
0.909 0.881567934 0.880435935 0.12841
0.91 0.883109855 0.882011148 0.12441
0.911 0.884647625 0.883581630 0.12050
0.912 0.886181206 0.885147344 0.11666
0.913 0.887710559 0.886708254 0.11291
0.914 0.889235648 0.888264325 0.10923
0.915 0.890756434 0.889815520 0.10563
0.916 0.892272878 0.891361803 0.10211
0.917 0.893784943 0.892903139 0.09866
0.918 0.895292591 0.894439491 0.09529
0.919 0.896795781 0.895970824 0.09199
0.92 0.898294477 0.897497100 0.08877
0.921 0.899788639 0.899018285 0.08561
0.922 0.901278228 0.900534342 0.08254
0.923 0.902763206 0.902045234 0.07953
0.924 0.904243533 0.903550926 0.07660
0.925 0.905719170 0.905051381 0.07373
0.926 0.907190078 0.906546564 0.07093
0.927 0.908656218 0.908036438 0.06821
0.928 0.910117550 0.909520966 0.06555
0.929 0.911574034 0.911000113 0.06296
0.93 0.913025631 0.912473842 0.06044
0.931 0.914472300 0.913942117 0.05798
0.932 0.915914003 0.915404901 0.05558
100
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 SG2
R

=

9. ANEXE

200
R(t)
SG1
Re(t)
SG1
=2R(t)
3
-R(t)
5
SG2
Re(t)
SG2
=2R(t)
6
-7R(t)
5
+6R(t)
4

0.933 0.917350699 0.916862159 0.05326
0.934 0.918782347 0.918313854 0.05099
0.935 0.920208907 0.919759950 0.04879
0.936 0.921630340 0.921200410 0.04665
0.937 0.923046604 0.922635198 0.04457
0.938 0.924457658 0.924064277 0.04255
0.939 0.925863463 0.925487612 0.04059
0.94 0.927263978 0.926905165 0.03870
0.941 0.928659160 0.928316901 0.03686
0.942 0.930048970 0.929722783 0.03507
0.943 0.931433366 0.931122774 0.03335
0.944 0.932812306 0.932516839 0.03167
0.945 0.934185750 0.933904940 0.03006
0.946 0.935553656 0.935287041 0.02850
0.947 0.936915982 0.936663106 0.02699
0.948 0.938272686 0.938033098 0.02554
0.949 0.939623727 0.939396981 0.02413
0.95 0.940969063 0.940754719 0.02278
0.951 0.942308650 0.942106274 0.02148
0.952 0.943642449 0.943451611 0.02022
0.953 0.944970415 0.944790693 0.01902
0.954 0.946292507 0.946123483 0.01786
0.955 0.947608681 0.947449945 0.01675
0.956 0.948918896 0.948770042 0.01569
0.957 0.950223109 0.950083738 0.01467
0.958 0.951521276 0.951390997 0.01369
0.959 0.952813355 0.952691782 0.01276
0.96 0.954099302 0.953986056 0.01187
0.961 0.955379075 0.955273783 0.01102
0.962 0.956652630 0.956554927 0.01021
0.963 0.957919923 0.957829451 0.00944
0.964 0.959180910 0.959097318 0.00872
0.965 0.960435549 0.960358492 0.00802
0.966 0.961683796 0.961612936 0.00737
0.967 0.962925606 0.962860615 0.00675
0.968 0.964160935 0.964101491 0.00617
0.969 0.965389739 0.965335528 0.00562
0.97 0.966611974 0.966562690 0.00510
0.971 0.967827596 0.967782940 0.00461
0.972 0.969036560 0.968996242 0.00416
0.973 0.970238821 0.970202558 0.00374
0.974 0.971434335 0.971401854 0.00334
0.975 0.972623057 0.972594092 0.00298
0.976 0.973804941 0.973779236 0.00264
0.977 0.974979943 0.974957250 0.00233
0.978 0.976148018 0.976128097 0.00204
100
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 SG2
R

=

9. ANEXE

201
R(t)
SG1
Re(t)
SG1
=2R(t)
3
-R(t)
5
SG2
Re(t)
SG2
=2R(t)
6
-7R(t)
5
+6R(t)
4

0.979 0.977309120 0.977291740 0.00178
0.98 0.978463203 0.978448144 0.00154
0.981 0.979610223 0.979597272 0.00132
0.982 0.980750133 0.980739088 0.00113
0.983 0.981882888 0.981873554 0.00095
0.984 0.983008441 0.983000636 0.00079
0.985 0.984126748 0.984120297 0.00066
0.986 0.985237760 0.985232500 0.00053
0.987 0.986341434 0.986337209 0.00043
0.988 0.987437721 0.987434387 0.00034
0.989 0.988526575 0.988524000 0.00026
0.99 0.989607950 0.989606010 0.00020
0.9901 0.989715674 0.989713791 0.00019
0.9902 0.989823324 0.989821496 0.00018
0.9903 0.989930897 0.989929124 0.00018
0.9904 0.990038396 0.990036677 0.00017
0.9905 0.990145818 0.990144152 0.00017
0.9906 0.990253166 0.990251551 0.00016
0.9907 0.990360438 0.990358873 0.00016
0.9908 0.990467634 0.990466119 0.00015
0.9909 0.990574754 0.990573288 0.00015
0.991 0.990681799 0.990680380 0.00014
0.9911 0.990788768 0.990787396 0.00014
0.9912 0.990895662 0.990894335 0.00013
0.9913 0.991002479 0.991001196 0.00013
0.9914 0.991109221 0.991107982 0.00013
0.9915 0.991215887 0.991214690 0.00012
0.9916 0.991322477 0.991321321 0.00012
0.9917 0.991428991 0.991427875 0.00011
0.9918 0.991535428 0.991534353 0.00011
0.9919 0.991641790 0.991640753 0.00010
0.992 0.991748076 0.991747076 0.00010
0.9921 0.991854285 0.991853322 0.00010
0.9922 0.991960418 0.991959491 0.00009
0.9923 0.992066475 0.992065583 0.00009
0.9924 0.992172455 0.992171597 0.00009
0.9925 0.992278359 0.992277534 0.00008
0.9926 0.992384187 0.992383394 0.00008
0.9927 0.992489938 0.992489177 0.00008
0.9928 0.992595613 0.992594882 0.00007
0.9929 0.992701211 0.992700510 0.00007
0.993 0.992806732 0.992806060 0.00007
0.9931 0.992912177 0.992911533 0.00006
0.9932 0.993017545 0.993016929 0.00006
0.9933 0.993122836 0.993122247 0.00006
0.9934 0.993228050 0.993227487 0.00006
100
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 SG2
R

=

9. ANEXE

202
R(t)
SG1
Re(t)
SG1
=2R(t)
3
-R(t)
5
SG2
Re(t)
SG2
=2R(t)
6
-7R(t)
5
+6R(t)
4

0.9935 0.993333188 0.993332649 0.00005
0.9936 0.993438249 0.993437734 0.00005
0.9937 0.993543233 0.993542742 0.00005
0.9938 0.993648139 0.993647671 0.00005
0.9939 0.993752969 0.993752523 0.00004
0.994 0.993857722 0.993857297 0.00004
0.9941 0.993962397 0.993961993 0.00004
0.9942 0.994066995 0.994066612 0.00004
0.9943 0.994171516 0.994171152 0.00004
0.9944 0.994275960 0.994275615 0.00003
0.9945 0.994380326 0.994379999 0.00003
0.9946 0.994484615 0.994484306 0.00003
0.9947 0.994588827 0.994588534 0.00003
0.9948 0.994692961 0.994692684 0.00003
0.9949 0.994797018 0.994796757 0.00003
0.995 0.994900997 0.994900751 0.00002
0.9951 0.995004898 0.995004666 0.00002
0.9952 0.995108722 0.995108504 0.00002
0.9953 0.995212468 0.995212263 0.00002
0.9954 0.995316136 0.995315944 0.00002
0.9955 0.995419727 0.995419547 0.00002
0.9956 0.995523240 0.995523071 0.00002
0.9957 0.995626674 0.995626517 0.00002
0.9958 0.995730031 0.995729885 0.00001
0.9959 0.995833310 0.995833174 0.00001
0.996 0.995936511 0.995936384 0.00001
0.9961 0.996039633 0.996039516 0.00001
0.9962 0.996142678 0.996142569 0.00001
0.9963 0.996245644 0.996245544 0.00001
0.9964 0.996348532 0.996348440 0.00001
0.9965 0.996451342 0.996451257 0.00001
0.9966 0.996554074 0.996553996 0.00001
0.9967 0.996656727 0.996656656 0.00001
0.9968 0.996759302 0.996759237 0.00001
0.9969 0.996861798 0.996861739 0.00001
0.997 0.996964216 0.996964162 0.00001
0.9971 0.997066555 0.997066506 0.00000
0.9972 0.997168815 0.997168772 0.00000
0.9973 0.997270997 0.997270958 0.00000
0.9974 0.997373100 0.997373066 0.00000
0.9975 0.997475125 0.997475094 0.00000
0.9976 0.997577070 0.997577043 0.00000
0.9977 0.997678937 0.997678913 0.00000
0.9978 0.997780725 0.997780704 0.00000
0.9979 0.997882434 0.997882416 0.00000
0.998 0.997984064 0.997984048 0.00000
100
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 SG2
R

=

9. ANEXE

203
R(t)
SG1
Re(t)
SG1
=2R(t)
3
-R(t)
5
SG2
Re(t)
SG2
=2R(t)
6
-7R(t)
5
+6R(t)
4

0.9981 0.998085615 0.998085601 0.00000
0.9982 0.998187087 0.998187075 0.00000
0.9983 0.998288479 0.998288469 0.00000
0.9984 0.998389793 0.998389785 0.00000
0.9985 0.998491027 0.998491020 0.00000
0.9986 0.998592182 0.998592176 0.00000
0.9987 0.998693258 0.998693253 0.00000
0.9988 0.998794254 0.998794250 0.00000
0.9989 0.998895171 0.998895168 0.00000
0.999 0.998996008 0.998996006 0.00000

100
Re(t)
Re(t) Re(t)
SG1
SG1 SG2
R

=

9 . A N E X E

2 0 4

F i g . 9 - 5 . F u n c i a d e f i a b i l i t a t e e c h i v a l e n t a R e ( t ) o b i n u t a p r i n m e t o d e l e S G 1 , i S G 2 p e n t r u
R ( t ) = 0 , 8 - 0 , 9

0
.
5
9
9
9
0
.
6
4
9
9
0
.
6
9
9
9
0
.
7
4
9
9
0
.
7
9
9
9
0
.
8
4
9
9
0
.
8
9
9
9
0
.
9
4
9
9
0
.
9
9
9
9
0.800
0.803
0.806
0.809
0.812
0.815
0.818
0.821
0.824
0.827
0.830
0.833
0.836
0.839
0.842
0.845
0.848
0.851
0.854
0.857
0.860
0.863
0.866
0.869
0.872
0.875
0.878
0.881
0.884
0.887
0.890
0.893
0.896
0.899
R
(
t
)
Re(t)
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

(
S
G
1
)
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

(
S
G
2
)

9. ANEXE

205

Fig. 9-6. Funcia de fiabilitate echivalenta Re(t) obinuta prin metodele SG1 i SG2 pentru
R(t)= 0,9 - 0,99

0
.
8
4
9
9
0
.
8
6
9
9
0
.
8
8
9
9
0
.
9
0
9
9
0
.
9
2
9
9
0
.
9
4
9
9
0
.
9
6
9
9
0
.
9
8
9
9
0
.
9
0
0
0
.
9
0
3
0
.
9
0
6
0
.
9
0
9
0
.
9
1
2
0
.
9
1
5
0
.
9
1
8
0
.
9
2
1
0
.
9
2
4
0
.
9
2
7
0
.
9
3
0
0
.
9
3
3
0
.
9
3
6
0
.
9
3
9
0
.
9
4
2
0
.
9
4
5
0
.
9
4
8
0
.
9
5
1
0
.
9
5
4
0
.
9
5
7
0
.
9
6
0
0
.
9
6
3
0
.
9
6
6
0
.
9
6
9
0
.
9
7
2
0
.
9
7
5
0
.
9
7
8
0
.
9
8
1
0
.
9
8
4
0
.
9
8
7
0
.
9
9
0
R
(
t
)
R e ( t )
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

s
o
l
u
t
i
e

g
e
n
e
r
a
l
e

(
S
G
1
)
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

(
S
G
2
)

9. ANEXE

206

Fig. 9-7. Funcia de fiabilitate echivalenta Re(t) obinuta prin metodele SG1 i SG2 pentru
R(t)= 0,9 - 0,99

0
.
9
8
9
3
0
.
9
9
1
3
0
.
9
9
3
3
0
.
9
9
5
3
0
.
9
9
7
3
0
.
9
9
9
3
0
.
9
9
0
0
.
9
9
0
0
.
9
9
1
0
.
9
9
1
0
.
9
9
1
0
.
9
9
2
0
.
9
9
2
0
.
9
9
2
0
.
9
9
2
0
.
9
9
3
0
.
9
9
3
0
.
9
9
3
0
.
9
9
4
0
.
9
9
4
0
.
9
9
4
0
.
9
9
4
0
.
9
9
5
0
.
9
9
5
0
.
9
9
5
0
.
9
9
6
0
.
9
9
6
0
.
9
9
6
0
.
9
9
7
0
.
9
9
7
0
.
9
9
7
0
.
9
9
7
0
.
9
9
8
0
.
9
9
8
0
.
9
9
8
0
.
9
9
9
0
.
9
9
9
R
(
t
)
R e ( t )
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

(
S
G
1
)
R
e
(
t
)
-
m
e
t
.

s
o
l
u
t
i
e
i

g
e
n
e
r
a
l
e

(
S
G
2
)

9. ANEXE

207

Fig. 9-8. Eroarea relativa de aproximare, in %, in cazul determinrii funciei de fiabilitate pentru
instalaia din Fig. 6-24 prin metoda soluiei generale simplificata

0
.
0
0
0
.
2
0
0
.
4
0
0
.
6
0
0
.
8
0
1
.
0
0
1
.
2
0
0 . 8 0 0
0 . 8 0 8
0 . 8 1 6
0 . 8 2 4
0 . 8 3 2
0 . 8 4 0
0 . 8 4 8
0 . 8 5 6
0 . 8 6 4
0 . 8 7 2
0 . 8 8 0
0 . 8 8 8
0 . 8 9 6
0 . 9 0 4
0 . 9 1 2
0 . 9 2 0
0 . 9 2 8
0 . 9 3 6
0 . 9 4 4
0 . 9 5 2
0 . 9 6 0
0 . 9 6 8
0 . 9 7 6
0 . 9 8 4
0 . 9 9 0
0 . 9 9 1
0 . 9 9 2
0 . 9 9 3
0 . 9 9 3
0 . 9 9 4
0 . 9 9 5
0 . 9 9 6
0 . 9 9 7
0 . 9 9 7
0 . 9 9 8
0 . 9 9 9
R
(
t
)
ddd d R
( % )
E
r
o
a
r
e
a

r
e
l
a
t
i
v
a

10. BIBLIOGRAFIE

208

10. BIBLIOGRAFIE

[1]. Stamatiu, Al. Fiabilitatea Instalaiilor, Editura MatrixRom, Bucureti, 1998
[2]. Petrescu, E., Voda, V.Gh. Necesitatea ntamplrii sau lumea riscului
statistic, Editura Printech, Bucureti, 2009
[3]. Bjenescu, T.I. Fiabilitatea componentelor electronice, Editura Tehnic,
Bucureti, 1996
[4]. Ctuneanu, V. M., Bacivarof, A. Structuri electronice de nalt fiabilitate
Tolerana la defectri, Editura militar, Bucureti, 1989
[5]. Ctuneanu, V. M., Popeniu, F. Optimizarea fiabilitii sistemelor, Editura
Academiei, Bucureti, 1989
[6]. Niu, V.I., Ionescu, C. Fiabilitate n energetic, Editura Didactic i
Pedagogic, Bucureti, 1980
[7]. Ctuneanu, V. M., Bacivarof, I. C. Fiabilitatea sistemelor de telecomunicaii,
Editura militar, Bucureti, 1985
[8]. Ciobanu, L. Fiabilitate, diagnoz i elemente de calimetrie, Editura
MatrixRom, Bucureti, 2008
[9]. Bendea, G. Fiabilitatea sistemelor electrice din centralele termoelectrice,
Editura MatrixRom, Bucureti, 2002
[10]. Petrescu, E., Voda, V.Gh. Managementul fiabilitii, Editura ASAB,
Bucureti, 2008
[11]. Bjenescu, T.I. Fiabilitatea sistemelor tehnice, Editura MatrixRom, Bucureti,
2003
[12]. Pages, M. Gondran Fiabilite des systmes, Editeur Paris, 1979;
[13]. erbu, T. Fiabilitatea i Riscul instalaiilor. Elemente de teorie i calcul,
Editura MatrixRom, Bucureti, 2000
[14]. Isaic, Al., Vod, V. Gh. Fiabilitatea ans i risc, Editura Tehnic, Bucureti,
1986
[15]. Mihoc, Gh., Micu, N. Elemente de teoria probabilitilor i statistic, Editura
Didactic i Pedagogic, 1969, Bucureti;
[16]. Mihoc, Gh., Muja Aneta, Diatu, E. Bazele matematice ale teoriei fiabilitii,
Editura Dacia, Cluj Napoca, 1976
[17]. Niu, V. I. - Fiabilitatea instalaiilor energetice, Editura Academia R.S.R.,
Bucureti, 1973
[18]. Mihoc, Gh., Micu, N. Teoria probabilitilor i statistic matematic, Editura
Didactic i Pedagogic, Bucureti, 1980

10. BIBLIOGRAFIE

209
[19]. Mihoc, Gh., Ciucu, G., Craiu, V. - Teoria probabilitilor i statistic
matematic, Editura Didactic i Pedagogic, Bucureti, 1970
[20]. Stamatiu, Al. Optimizarea schemelor de instalaii electrice la consumatorii
industriali, Tez de doctorat, U.T.C.B., 1987, Bucureti;
[21]. Stamatiu, Al. - Unele consideraii asupra ingineriei fiabilitii instalaiilor
redundante, Simpozion SIEAR, 1994, Bucureti;
[22]. Stamatiu, Al. Relaii aproximative pentru calculul indicatorilor de fiabilitate ai
schemelor electrice de distribuie la consumatori industriali,
Buletinul tiinific I.C.B., nr. 3-4, 1979, Bucureti;
[23]. Catunenu, V.M., Popentiu, Fl. - Evaluarea fiabilitii sistemelor noncoerente,
Calitate, Fiabilitate, Metrologie, volumul XXXVI, nr. 2-3, 1989;
[24]. Andreas Asigurarea mentenabilitii produselor, Calitatea, Fiabilitate,
Metrologie, volumul XXXVI, nr. 2-3, 1989
[25]. Stamatiu, Al., Badea, E. Unele consideraii asupra analizei fiabilitii
instalaiilor cu i fr restabilire, Conferina de Instalaii Electrice i
Automatizri, volumul 2, Sinaia, 2000
[26]. Popovici, A. A. Proiectarea securitii sistemelor complexe, Editura tiinific
i Enciclopedic, Bucureti,1988.
[27]. Crlan, M. Probleme de optimum n ingineria sistemelor tehnice, Editura
Academiei Romne, Bucureti, 1994
[28]. Badea, E. Stadiul actual al teoriei fiabilitii, Referat de doctorat, Bucureti,
2001
[29]. Badea, E. Metode de proiectare pe baza optimizrii fiabilitii i
mentenabilitii, Referat de doctorat, Bucureti, 2003
[30]. Stamatiu, Al. Entropie i fiabilitate, Conferina Facultii de Instalaii,
Universitatea Tehnic de Construcii Bucureti, Bucureti, 24 - 26
noiembrie1999;
[31]. Stamatiu, Al. Schimbare i entropie, A VII-a Conferin a Facultii de
Instalaii, Universitatea Tehnic de Construcii Bucureti, Bucureti,
29 30 noiembrie 2000;
[32]. Stamatiu, Al. Implicaii ale legii entropiei n analiza fiabilitii sistemelor, The
7th International Conference on Quality, Reliability, Maintainability
CCF 2000, Proceedings of CCF 2000(I), Sinaia, Romnia, 27-29
Septembrie 2000;
[33]. Stamatiu, Al. Entropia maxima Soluii pentru evaluarea schimbrii
entropice. A VIII-a Conferin a Facultii de Instalaii, Universitatea
Tehnic de Construcii Bucureti, vol. III, Bucureti, 28 30
noiembrie 2001;
[34]. Centea, O. Elemente de teoria i calculul fiabilitii, Institutul de Construcii
Bucureti, 1984;

10. BIBLIOGRAFIE

210
[35]. Burlacu, G., Bandrabur, C., Dne, N., Duminic, T. Fiabilitatea i
mentenabilitatea sistemelor tehnice, Editura MatrixRom, Bucureti,
2005
[36]. Stamatiu, Al. Considerations on Maximum Entropy, World Energy Council,
Regional Energy Forum, Neptun-Olimp, Romnia, 2002;
[37]. Stamatiu, Al. Metode entropice pentru evaluarea fiabilitii sistemelor, The
8th International Conference on Quality, Reliability, Maintainability
CCF 2002, Proceedings of CCF 2002, Sinaia, Romnia, 18-20
Septembrie 2002;
[38]. Stamatiu, Al., Ivan, N. Un nou model entropic pentru analiza fiabilitii
sistemelor redundante, A XXXVII-a Conferin Naional de
Instalaii, Sinaia, 1 4 octombrie 2002;
[39]. Stamatiu, Al., Badea, E. Aplicaii ale modelrii entropice n fiabilitatea
instalaiilor energetice, A XXXVII-a Conferin Naional de
Instalaii, Sinaia, 1 4 octombrie 2002;
[40]. Stamatiu, Al., Ivan, N., Badea, E. - Contribuii la evaluarea MTTF prin modelul
degradrii entropice, A VIII-a Conferin a Facultii de Instalaii,
Universitatea Tehnic de Construcii Bucureti, vol. III, Bucureti,
28 30 noiembrie 2001;
[41]. Ionescu, C. Gh. Optimizarea fiabilitii instalaiilor hidraulice din cadrul
sistemelor de alimentare cu ap, Editura MatrixRom, Bucureti,
2004
[42]. Stamatiu, Al., Badea, E., Ivan, N. Unele soluii practice pentru analiza
fiabilitii schemelor de instalaii complexe cu componente de
nalt fiabilitate, A IX a Conferin a Facultii de Instalaii,
Bucureti, 27 29 noiembrie 2002;
[43]. Vlad Aurelia Stadiul actual al teoriei fiabilitii si mentenabilitii, Referat
doctorat, Bucureti, 1998
[44]. Vlad Aurelia Fiabilitatea i mentenabilitatea instalaiilor, Referat doctorat,
Bucureti, 1999
[45]. Vlad Aurelia Managementul fiabilitii, Referat doctorat, Bucureti, 1999
[46]. Georgescu Roegen N. The Entropy Law and the Economic Process,
Harvard University Press, traducere n limba romn, 1971;
[47]. Kemeny, J.G., Snell, J.L. Finite Markov chains. Princeton, Van
Nostrand,1960;
[48]. Brown, R.E., Marshall, M.W. - The Cost of Reability, Transmission &
Distributions World, December 2001,Primedia Publication, 2001.
[49]. Iordache, Gh. Ingineria calitii. Fiabilitate, Editura MatrixRom, Bucureti,
2007
[50]. Bacivarof, I. Ingineria sigurana n funcionare n perspectiva mileniului trei,
Asigurarea Calitii, nr. 9, ianuarie - martie, 1997
[51]. Baicu, F. Elemente de fiabilitate, Editura Victor, Bucureti, 2005

10. BIBLIOGRAFIE

211
[52]. Dinu, Gh., Vod, Gh. V. Despre informaie, entropie i aplicaii n
managementul calitii, Calitatea acces la succes, nr.4, 2008
[53]. Juran, J.M., Gryna jr., F.M. Calitatea produselor Tratat practic de
planificare, proiectare, realizare i control, Editura tehnic,
Bucureti, 1973
[54]. Vod, V.Gh. Some comment son statistical risk, Reliability & Risk Analysis:
Theory & Application, USA, martie, 2009
[55]. Ciornescu, N. Curs de algebr i analiz matematic, Editura tehnic,
Bucureti, 1955
[56]. Iosifescu, M. Lanuri Markov finite i aplicaii, Editura tehnic, Bucureti,
1977
[57]. Onicescu, O., Mihoc, Gh. Calculul probabilitilor, Fundaia pentru literatur
i art Regele Carol al II-lea, 1939
[58]. Mihoc, Gh., Muja, A., Diatcu, E. Bazele matematice ale teoriei fiabilitii,
Editura Dacia, Cluj-Napoca, 1976
[59]. Feller, W. An Introduction to Probability Theory and Its Applications, vol. I,
third ed., John Wiley & Sons, 2003
[60]. Stamatiu, Al. Consideraii asupra posibilitii modelrii entropice a unor
fenomene naturale, Studies of Applied Thermodynamics, nr. 2,
Editura Politehnica Press, Bucureti, 2005
[61]. Niu, V.I, Ionescu, C. Fiabilitate n energetic, Editura didactic i
pedagogic, Bucureti, 1980
[62]. Malide, C. Evoluia sistemelor embedded: tehnologiile comerciale migreaz
spre lumea embedded, Rev. Electronica Azi, nr.4, Editura
Eurostandard Press 2000, martie, 2001
[63]. CEI IEC 50 (191) Norme internaionale, Vocabulaire Electrotehnique
International, chapiter 191: Sret de fonctionnement et qualit de
service, Premire dition, 1990-12
[64]. Stamatiu, Al. Bazele unei teorii entropice a sistemelor. Aplicaii n fiabilitate,
Proceedings of the 9
th
International Conference, september 29
th

october 1
st
, Sinaia Romnia, 2004
[65]. Stamatiu, Al. Asupra necesitii redefinirii cuantei de timp, A 11-a Conferin
Internaional de Calitate i Fiabilitate CCF, Sinaia, 2008 i
republicat la A 43-a Conferin Naional de instalaii, Sinaia, 2008
[66]. Gnedenko, B.V., Beleaev, I.K., Soloviev, A.D. Metode matematice n teoria
siguranei n funcionare, Editura Tehnic Bucureti, 1968
[67]. Ctuneanu, V.M., Mihalache, A. Bazele teoretice ale fiabilitii, Editura
Academiei, Bucureti, 1983
[68]. Barlow, R.E., Proschan, F. Statistical Theory of Reliability, John Wilwy, New
York, 1965

10. BIBLIOGRAFIE

212
[69]. Green, B. The Elegent Univers, Vintage Books a division of Random House,
Inc., New York, 2003, tradus n l. romn, Editura Humanitas,
Bucureti, 2008
[70]. Isaic, M. Al. Metoda Weibull. Aplicaii, Editura Academiei, Bucureti, 1983
[71]. Stamatiu, Al. The optimising of electrical drivers supply networks, The 2-nd
International Conference on Electrical Drivers, Braov, 1988
[72]. Radcenco, V. Oteorie termodinamic a interaciunilor fizice, Editura
Academiei Romne, Bucureti, 2001
[73]. Badea, E. Onou metod pentru evaluarea riscului tehnic al instalaiilor,
Buletinul tiinific UTCB, 2010
[74]. Badea, E. Evaluarea duratei de via a instalaiilor cu ajutorul grafului
entropic canonic, Conferina Facultii de Instalaii, martie,
Bucureti, 2010
[75]. Badea, E. Consideraii asupra posibilitii determinrii duratei de via a
instalaiilor complexe cu ajutorul lanurilor Markov finite, Conferina
Facultii de Instalaii, martie, Bucureti, 2010
[76]. Richard, E. B., Mike, W. M. The Cost of Reliability, Transmission &
Distribution World, december, U.S.A., 2001
[77]. xxx Motor starter solutions. Control and protection components, Catalog
Telemecanique, Schneider Electric Romania, 2008/2009
[78]. xxx Zelio Time timing relays, Catalog Telemecnique, Schneider Electric
Romania, 2008/2009
[79]. xxx www.schneider-electric.ro
[80]. xxx www.thomsonscientific.com

Tezaeb

Încărcat de

Informații document

Titlu original

Drepturi de autor

Formate disponibile

Partajați acest document

Partajați sau inserați document

Opțiuni de partajare

Vi se pare util acest document?

Este necorespunzător acest conținut?

Drepturi de autor:

Formate disponibile

Tezaeb

Încărcat de

Drepturi de autor:

Formate disponibile

MINISTERUL EDUCAIEI, CERCETRII,

reprezint funcia lui Euler de spea doua cunoscut din analiza

are repartiie normal cu parametrii m = 0 i = 1.

= pentru , MTTR ) t ( U 5-10

din teoria actual rezult m = 63.168 ore = 7,2ani.

i rezult o durat de via a

din teoria actual rezult c durata medie de via a

S-ar putea să vă placă și