Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Punctul Static de Functionare La Tranzistoare Bipolare
Punctul Static de Functionare La Tranzistoare Bipolare
Tranzistoarele bipolare sunt dispozitive semiconductoare cu două joncţiuni formate printr-o succesiune de 3 zone
pnp sau npn. Zona din mijloc a tranzistorului se numeşte bază (B) şi este realizată cu următoarele proprietăţi: este foarte
îngustă (de ordinul micronilor sau chiar zecimi de micron) şi are o dopare cu impurităţi mult mai mică decât regiunile
laterale. O zonă extremă, cu cea mai mare dopare cu impurităţi se numeşte emitor (E). Cealaltă zonă extremă se numeşte
colector (C).
Cele două joncţiuni ale unui tranzistor se numesc joncţiunea emitorului, respectiv joncţiunea colectorului. La
funcţionarea în regiunea activă (în care se manifestă proprietăţile de amplificare ale tranzistorului), joncţiunea emitorului
este polarizată în sens direct, iar joncţiunea colectorului în sens invers.
În schemele de amplificare, precum şi în alte circuite electronice, tranzistorul este tratat ca un cuadripol activ, având
două borne de intrare şi două borne de ieşire. Dar tranzistorul are numai trei borne (terminale). Rezultă că, pentru a fi
utilizat într-un anumit circuit, de exemplu de amplificare, este necesar ca o bornă a tranzistorului să fie comună atât
circuitului de intrare cât şi circuitului de ieşire. În funcţie de electrodul folosit ca bornă comună, tranzistorul are trei
conexiuni posibile: bază comună (BC), emitor comun (EC) şi colector comun (CC).
Caracteristicile statice ale unui tranzistor exprimă legăturile dintre curenţii prin tranzistor şi tensiunile aplicate, în
regim staţionar. Dependenţele se pot exprima analitic, însă cel mai frecvent se dau sub formă grafică.
Principalele caracteristici ale tranzistoarelor sunt:
- familia caracteristicilor de ieşire, care dă dependenţa curentului din circuitul de ieşire în funcţie de tensiunea la bornele
de ieşire şi curentul din circuitul de intrare (ca parametru): iE = f(uE, ii);
- familia caracteristicilor de intrare reprezintă dependenţa curentului din circuitul de intrare ca funcţie de tensiunea de
intrare şi tensiunea de la bornele de ieşire (ca parametru): ii = f'(ui, uE);
Pentru reprezentarea completă a caracteristicilor tranzistorului bipolar, se dau uneori, într-o diagramă cu patru
cadrane, patru familii de caracteristici. Pe lângă cele două familii prezentate (cele de ieşire şi cele de intrare) se mai dau
şi două familii pentru caracteristici de transfer:
- iC = f3 (iB , uCB );
- uEB = f4 (uCB ,iB);
Caracteristicile tranzistorului depind de schema de conectare. In circuitele electronice, cea mai utilizată schemă de
conexiune a tranzistorului bipolar este EC. In această conexiune, familiile caracteristicilor de ieşire şi de intrare
reprezintă dependenţele:
- iC = f (uCE ,iB);
- iB = g (uBE , uCE);
Pentru a stabili dependenţa curentului de ieşire iC în funcţie de curentul de intrare iB , folosim relaţiile:
iC =αN iE + ICB0
iB =(1 - αN ) iE - ICB0
N
In care N se numeşte factor de amplificare static în curent al tranzistorului, în conexiunea EC. Cum αN
1N
este foarte apropiat ca valoare de 1 (α N = 0,98, …, 0,998), factorul βN este relativ mare, între 30 şi 1000. Creşterea
tensiunii aplicate invers în circuitul colectorului produce o uşoară creştere a factorului α N .Aceasta provoacă însă o
modificare mult mai pronunţată a lui βN .
Regiunea de saturaţie a caracteristicii de ieşire este situată în cadranul I. In această regiune, caracteristicile de ieşire
ale tranzistorului sunt foarte apropiate. Pentru scări obişnuite, regiunea de saturaţie se reduce practic la o dreaptă, cu
înclinaţie apropiată de 90º, numită dreaptă de saturaţie.
Regiunea de blocare (tăiere), corespunde situaţiilor de polarizare inversă a joncţiunii emitor - bază. Riguros, regimul de
tăiere se obţine pentru iB = - ICB0.
Dacă se consideră situaţia în care emitorul şi colectorul îşi inversează rolurile, caracteristicile se extind în cadranul
III (tranzistor inversat). Apare regiunea activă inversă.
Pentru conexiunea EC se poate da o reprezentare în patru cadrane prin introducerea a două familii de caracteristici
de transfer:
Concentraţiile purtătorilor minoritari din cele trei regiuni ale tranzistorului bipolar depind exponenţial (T 3/2) de
temperatura cristalului. Această particularitate determină o influenţă importantă a temperaturilor joncţiunilor asupra
caracteristicilor statice ale tranzistorului. Dintre efectele cele mai importante menţionăm:
- creşterea curentului de colector iC cu temperatura, având ca efect deplasarea spre în sus a curbelor din familia
caracteristicilor de ieşire. O influenţă deosebită o are creşterea substanţială cu temperatura a curentului de purtători
minoritari ICB0 . La tranzistoarele cu Si, curentul rezidual este extrem de mic, de ordinul nA, astfel că ponderea sa,
chiar la temperaturi ridicate, este mai mică decât la tranzistoarele cu Ge.
- micşorarea tensiunii emitor - bază (pentru iE = ct sau iB = ct), având ca efect modificarea caracteristicilor de intrare, atât
în schema BC, cât şi în EC.
Presupunem că sunt date caracteristicile de ieşire ale tranzistorului (ca în Fig. 3) iC = f (uCE ,iB) precum şi mărimile
EC, RB şi rezistenţa de sarcină (de colector). Se pune problema determinării punctului static de funcţionare, definit prin
mărimile iB0 , iC0 şi uCE0. În acest scop, se scrie legea a II-a a lui Kirchhoff pe circuitul de colector şi pe circuitul de
alimentare a bazei.
EC = RC iC + uCE
EC = RB iB + uBE
Deoarece |uBE |<< EC , putem scrie: EC ≅ RB iB
Pentru deducerea punctului static de funcţionare în schema din Fig. 2, se rezolvă grafic sistemul:
iC = f (uCE ,iB)
EC = RC iC + uCE
EC ≅ RB iB
Din ultima ecuaţie a sistemului rezultă imediat:
iB0 ≅ EC / RB
In planul caracteristicilor de ieşire se face reprezentarea grafică a dreptei statice de sarcină (ecuaţia EC = RC iC + uCE).
Intersecţia dreptei statice de sarcină cu caracteristica corespunzătoare curentului iB0, determină punctul static de
funcţionare M, de coordonate uCE0 , iC0 .
De asemenea, dacă se dă tensiunea EC şi punctul static de funcţionare, se pot calcula rezistenţele RC şi RB care să
asigure punctul static de funcţionare dat.
S-a arătat că variaţia temperaturii produce modificarea caracteristicilor statice ale tranzistoarelor. Considerând
modificarea temperaturii la o valoare mai ridicată, punctul static de funcţionare se modifică din M în M' (Fig. 3).
Curentul de colector creşte, iar |uCE |scade. O cerinţă importantă impusă circuitului de polarizare a tranzistorului, care nu
este îndeplinită de schema din Fig. 2, este asigurarea stabilităţii punctului static de funcţionare la variaţia temperaturii.
Ţinând seama de influenţa temperaturii asupra curentului rezidual ICB0, tensiunii uEB (corespunzătoare unui curent iE
= const.) şi asupra factorului βN , precum şi de efectul acestor mărimi asupra curentului de colector exprimat de relaţia:
se obţine variaţia totală a curentului de colector, prin diferenţierea relaţiei şi trecerea la diferenţe finite:
iC iC i
iC I CB 0 | U EB | C N
I CB 0 | U EB | N
sau:
iC S I I CB 0 SU | U EB | S N , unde
sunt factorii de sensibilitate ai curentului de colector, în raport cu ICB0 , |UEB| şi βN. Micşorarea variaţiei ΔiC , la
modificarea temperaturii, se realizează cu ajutorul unor scheme de polarizare a tranzistorului, care asigură stabilizarea
termică a punctului static de funcţionare.
5. Desfasurarea lucrarii
A) Circuitul de test
R 2
2
4
JP1 5k6
C 2
1
3
2
1u
J9
J10
R 4 R 3
1
J11 18k 2 .2 m e g 2
1
J1
Q 1
C 1
1 1 2
2
1u
Q 2N 2222
R 5 R 1 C 3
PO T 1k5 22u
2
2
J6 J7 J8
0
1
1
0 0 0 0
Fig. 4
B) Circuite de polarizare
R 1 R 2 V1
15V
18K 5 .6 K
Q 1
Q 2N 2222
R 3
1 .5 K
0 0
Fig. 5
Fig. 6
b) Se alimenteaza de la sursa V CC=15V. Se masoara tensiunea pe rezistenta din emitor (V EM) si tensiunea intre
colector si masa (VCM). Se deduce VCE si iC ;
c) Se repeta punctele B.1 c si d pentru noua configuratie de circuit. Rezultatele se sistematizeaza in Tabelul 1. Se
compara rezultatele obtinute cu cele din paragraful B.1 ;
Fig. 7
b) Se repeta masuratorile pentru noua configuratie ;
- Sa asigure punctul static de functionare cerut (Ic ,Vce) specificat la o temperatura ambianta data ;
- Sa asigure stabilitatea p.s.f. la variatia parametrilor tranzistorului cu temperatura si datorita dispersiei de
fabricatie a parametrilor ;
a) Rezistenta de intare
Pentru a calcula rezistenta de intrare se seteaza analiza Small-signal transfer function din meniul urmator:
La intrarea circuitului se introduce o sursa de excitatie in c.c care sa nu modifice PSF al circuitului.Astfel
se va calcula rezistenta de intrare la I_I1.
Rezultatele simularii sunt :
***SMALL-SIGNAL CHARACTERISTICS
V(OUT)/I_I1 = -9.378E+05
INPUT RESISTANCE AT I_I1 = 3.997E+03
OUTPUT RESISTANCE AT V(OUT) = 5.182E+03
Vcc
R b R c 15
{R } 5 .6 k
out 0
Q 1
C 1
1u
Q 2N 2222
V2
VO FF = 0
VAM PL = 1
FR EQ = 1k R e
1 .5 k
0 0
15V
10V
5V
0V
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
V(Q1:c)
Time
3.0mA
2.0mA
1.0mA
0A
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
IC(Q1)
Time
b) Analiza parametrica in functie de amplitudinea sursei de la intrare
Aceasta analiza ne permite sa vedem influenta circuitului asupra semnalului de iesire la variatii ale
amplitudinii semnalului aplicat la intrare
Circuitul pentru analiza :
Vcc
R b R c 15
2m eg 5 .6 k
out
Q 1
C 1
0
1u
Q 2N 2222
V2
VO FF = 0
V A M P L = {A }
FR EQ = 1k
0 0
15V
10V
5V
0V
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
V(OUT)
Time
3.0mA
2.0mA
1.0mA
0A
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
IC(Q1)
Time
b) Analiza de temperatura
Circuitul pentru simularea analizei
v cc
R b1 R c1
2m eg 5 .6 k
o u t1
Q 2
C 2
1u
Q 2N 2222
VO FF = 0 V3
VAM PL = 100m
F R EQ = 1k
0 0
Analiza s-a efectuat pentru -40 -20, 0, 20, 37, 50, 100 grade Celsius.
15.00
14.98
14.96
14.94
-40° -20° 0° 20° 40° 60° 80° 100°
max(v(out1))
Temperature
2.6744m
2.6743m
2.6742m
2.6741m
-40° -20° 0° 20° 40° 60° 80° 100°
max(- I(Rc1))
Temperature
a) Rezistenta de intrare
Circuitul pentru simularea analizei :
V1
R b R c 15
18k 5 .6 k
out
Q 1 0
I1 Q 2N 2222
0Adc
R e
1 .5 k
0 0
Rezultatele analizei :
**** SMALL-SIGNAL CHARACTERISTICS
V(OUT)/I_I1 = 1.095E+03
INPUT RESISTANCE AT I_I1 = 1.148E+03
OUTPUT RESISTANCE AT V(OUT) = 1.114E+03
Vcc
R b R c 15
{R } 5 .6 k
out 0
Q 1
C 1
1u
Q 2N 2222
V2
VO FF = 0
VAM PL = 1
F R EQ = 1k R e
1 .5 k
0 0
a) Rezultatele analizei parametrice in functie de rezistenta din baza:
16V
12V
8V
4V
0V
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
V(OUT)
Time
3.0mA
2.0mA
1.0mA
0A
-1.0mA
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
IC(Q1)
Time
b) Analiza parametrica in functie de amplitudinea sursei de la intrare
Vcc
R b R c 15
2 .2 m e g 5 .6 k
out
C 1
Q 1 0
V
1u
Q 2N 2222
V2
VO FF = 0
V A M P L = {A }
FR EQ = 1k R 3
1 .5 k
0 0
12V
10V
8V
6V
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
V(OUT)
Time
15
10
0
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
IC(Q1)
Time
c) Analiza de temperatura
R b1 R c1
2 .2 m e g 5 .6 k
o u t1
Q 2
C 2
1u
Q 2N 2222
VO FF = 0 V3
VAM PL = 100m
R 4
F R EQ = 1k
1 .5 k
0 0
Analiza s-a efectuat pentru -40 -20, 0, 20, 37, 50, 100 grade Celsius.
12
11
10
8
-40° -20° 0° 20° 40° 60° 80° 100°
max(v(out1))
Temperature
1.4m
1.2m
1.0m
0.8m
0.6m
-40° -20° 0° 20° 40° 60° 80° 100°
max(-I(Rc1))
Temperature
a) Rezistenta de intrare
Circuitul pentru simularea analizei :
V1
R b1 R c 15
18k 5 .6 k
out 0
Q 1
Q 2N 2222
I1
0Adc
R b2 R e
4 .7 k 1 .5 k
0 0 0
Rezultatele simularii :
**** SMALL-SIGNAL CHARACTERISTICS
V(OUT)/I_I1 = -1.344E+04
INPUT RESISTANCE AT I_I1 = 3.668E
OUTPUT RESISTANCE AT V(OUT) = 5.581E+03
out
C 1
Q 1 0
V
1u
Q 2N 2222
V2
VO F F = 0
VAM PL = 1
FR EQ = 1k
R b2 R e
4 .7 k 1 .5 k
0 0 0
12V
8V
4V
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
V(OUT)
Time
2.0mA
1.0mA
0A
-1.0mA
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
IC(Q1)
Time
out 0
Q 1
C 1
1u
Q 2N 2222
V2
VO FF = 0
V A M P L = {A }
F R EQ = 1k R b2 R e
4 .7 k 1 .5 k
0 0 0
7.2V
7.0V
6.8V
6.6V
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
V(OUT)
Time
1.50mA
1.45mA
1.40mA
1.35mA
0s 0.5ms 1.0ms 1.5ms 2.0ms 2.5ms 3.0ms 3.5ms 4.0ms 4.5ms 5.0ms
IC(Q1)
Time
d) Analiza de temperatura
Circuitul pentru simularea analizei
v cc
R b3 R c1
20k 5 .6 k
o u t1
Q 2
C 2
1u
Q 2N 2222
VO FF = 0 V3
VAM PL = 100m
R b4 R e1
FR EQ = 1k
4 .7 k 1 .5 k
0 0 0
Analiza s-a efectuat pentru -40 -20, 0, 20, 37, 50, 100 grade Celsius.
7.6
7.2
6.8
-40° -20° 0° 20° 40° 60° 80° 100°
max(v(out1))
Temperature
1.60m
1.55m
1.50m
1.45m
1.40m
-40° -20° 0° 20° 40° 60° 80° 100°
max(-I(Rc1))
Temperature
BIBLIOGRAFFIE:
3) Serban Lungu, Niculae – Corvin Palaghita - ”Dispozitive si circuite electronice : indrumator de laborator”,
Institutul Politehnic Cluj – Napoca, 1983
4) http://www.utgjiu.ro/ing/down/dce1-lucrarea06.pdf